JPH0367146A - 軸受の寿命診断装置 - Google Patents
軸受の寿命診断装置Info
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- JPH0367146A JPH0367146A JP1204142A JP20414289A JPH0367146A JP H0367146 A JPH0367146 A JP H0367146A JP 1204142 A JP1204142 A JP 1204142A JP 20414289 A JP20414289 A JP 20414289A JP H0367146 A JPH0367146 A JP H0367146A
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- Japan
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- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 4
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 241000208125 Nicotiana Species 0.000 description 1
- 235000002637 Nicotiana tabacum Nutrition 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、軸受が発生するAEを検出するAEセンサ
と、このAEセンサからのAE倍信号基準値と比較し、
AE倍信号上記基準値を越えたときに信号を出力する比
較手段とを備え、上記比較手段からの信号に基づいて上
記軸受が寿命であるか否かを判別するようにした軸受の
寿命診断装置に関する。
と、このAEセンサからのAE倍信号基準値と比較し、
AE倍信号上記基準値を越えたときに信号を出力する比
較手段とを備え、上記比較手段からの信号に基づいて上
記軸受が寿命であるか否かを判別するようにした軸受の
寿命診断装置に関する。
〈従来の技術〉
従来、軸受の寿命診断装置としては軸受が発生するAE
を検出するAEセンサと、このAEセンサからのAE倍
信号基準値と比較し、AE倍信号上記基準値を越えたと
きに信号を出力する比較手段とを備え、上記比較手段か
らの信号の単位時間当たりの発生数、すなわち発生レー
トを算出して、例えば、第3図に示すように、この算出
した発生レートが一定のしきいレートSLを越えたとき
に、軸受は寿命に至ったと判別するようにしたものがあ
る。
を検出するAEセンサと、このAEセンサからのAE倍
信号基準値と比較し、AE倍信号上記基準値を越えたと
きに信号を出力する比較手段とを備え、上記比較手段か
らの信号の単位時間当たりの発生数、すなわち発生レー
トを算出して、例えば、第3図に示すように、この算出
した発生レートが一定のしきいレートSLを越えたとき
に、軸受は寿命に至ったと判別するようにしたものがあ
る。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかしながら、」−記従来の軸受の寿命診断装置は、上
記の如く、比較手段からの信号の発生レートが一定のし
きいレートを越えたときに、軸受は寿命に至ったと判別
するようにしているので、下記の理由で軸受の寿命を安
全側に診断できないという問題があった。それは、発生
レートが一定のしきいレートを越入たときに、軸受は寿
命に至ったと判別するだけでは、軸受が、比較手段から
の信号がしきいレート以下の発生レートとなるようなA
Eを発生しながら寿命に至るような場合(第3図の(i
ii))に、軸受が寿命に至ったと判別することができ
ず、致命的なダメージを軸受使用機器に与えてしまう。
記の如く、比較手段からの信号の発生レートが一定のし
きいレートを越えたときに、軸受は寿命に至ったと判別
するようにしているので、下記の理由で軸受の寿命を安
全側に診断できないという問題があった。それは、発生
レートが一定のしきいレートを越入たときに、軸受は寿
命に至ったと判別するだけでは、軸受が、比較手段から
の信号がしきいレート以下の発生レートとなるようなA
Eを発生しながら寿命に至るような場合(第3図の(i
ii))に、軸受が寿命に至ったと判別することができ
ず、致命的なダメージを軸受使用機器に与えてしまう。
そこで、この発明の目的は、寿命をより安全側に診断す
ることができる軸受の寿命診断装置を提供することにあ
る。
ることができる軸受の寿命診断装置を提供することにあ
る。
く課題を解決するための手段〉
上記目的を達成するため、この発明は、軸受の寿命診断
は、比較回路が出力する信号の発生レートのみではなく
、発生レートとこの発生レートの積分値である総発生数
に基づいて行えば寿命診断がより安全側に行えることに
着目してなされた。
は、比較回路が出力する信号の発生レートのみではなく
、発生レートとこの発生レートの積分値である総発生数
に基づいて行えば寿命診断がより安全側に行えることに
着目してなされた。
すなわち、この発明は、軸受が発生ずるAEを検出する
AEセンサと、このAEセンサからのAE倍信号基準値
と比較し、AE倍信号上記基準値を越えたときに信号を
出力する比較手段とを備え、上記比較手段からの信号に
基づいて上記軸受が寿命であるか否かを判別するように
した軸受の寿命診断装置において、上記比較手段からの
信号の発生レートを算出して、この算出した発生レート
のしきいレートに対するレート比を算出するレート比算
出手段と、上記比較手段からの信号の総発生数を算出し
て、この算出した総発生数のしきい総発生数に対する総
発生数比を算出する総発生数比算出手段と、上記レート
比算出手段で算出したレート比と上記総発生数比算出手
段で算出した総発生数比とに基づいて判断値を作成する
判断値作成手段と、上記判断値と基準値とを比較して、
上記判断値が基準値を越えたときに軸受は寿命に至った
ことを表す信号を出力する判別手段とを備えたことを特
徴としている。
AEセンサと、このAEセンサからのAE倍信号基準値
と比較し、AE倍信号上記基準値を越えたときに信号を
出力する比較手段とを備え、上記比較手段からの信号に
基づいて上記軸受が寿命であるか否かを判別するように
した軸受の寿命診断装置において、上記比較手段からの
信号の発生レートを算出して、この算出した発生レート
のしきいレートに対するレート比を算出するレート比算
出手段と、上記比較手段からの信号の総発生数を算出し
て、この算出した総発生数のしきい総発生数に対する総
発生数比を算出する総発生数比算出手段と、上記レート
比算出手段で算出したレート比と上記総発生数比算出手
段で算出した総発生数比とに基づいて判断値を作成する
判断値作成手段と、上記判断値と基準値とを比較して、
上記判断値が基準値を越えたときに軸受は寿命に至った
ことを表す信号を出力する判別手段とを備えたことを特
徴としている。
く作用〉
上記レート比算出手段は、上記比較手段からAE倍信号
上記基準値を越えたときに出力される信号の単位時間当
たりの発生数、すなわち発生レートを算出する(第3図
参照)。そしてさらに、この算出した発生レートのしき
いレートに対するレート比を算出する。一方、上記総発
生数比算出手段は、上記比較手段からの上記信号の総発
生数を算出する(第4図参照)。そしてさらに、この算
出した総発生数のしきい総発生数に対する総発生数比を
算出する。この総発生数比算出手段で算出した総発生数
比と上記レート比算出手段で算出した上記レート比とに
基づいて、上記判断値作成手段は、軸受の寿命を判断す
るための判断値を作成する。
上記基準値を越えたときに出力される信号の単位時間当
たりの発生数、すなわち発生レートを算出する(第3図
参照)。そしてさらに、この算出した発生レートのしき
いレートに対するレート比を算出する。一方、上記総発
生数比算出手段は、上記比較手段からの上記信号の総発
生数を算出する(第4図参照)。そしてさらに、この算
出した総発生数のしきい総発生数に対する総発生数比を
算出する。この総発生数比算出手段で算出した総発生数
比と上記レート比算出手段で算出した上記レート比とに
基づいて、上記判断値作成手段は、軸受の寿命を判断す
るための判断値を作成する。
上記判別手段は、この判断値作成手段が作成した判断値
と基準値とを比較し、判断値が基準値を越えたときに軸
受は寿命に至ったことを示す信号を出力する。
と基準値とを比較し、判断値が基準値を越えたときに軸
受は寿命に至ったことを示す信号を出力する。
このように、上記レート比と総発生数比とに基づいて判
別値を作成して、この判別値が基準値を越えたときに軸
受は寿命に至ったと判別するから、レート比と総発生数
の両者に基づいて寿命を判断でき、したかって、従来に
くらべてはるかに安全側に軸受が寿命に至ったか否かを
診断することができる。そして、軸受が比較手段からの
信号の発生レートがしきい発生レートを越えるような異
常なAEを発生したり、総発生数がしきい発生数をこえ
るような多くのAEを発生たときはただちに軸受は異常
であると診断できるのはもちろんのこと、従来では診断
できなかったようなしきいレート以下の発生レートで徐
々に寿命に至るような場合でも確実に寿命に至ったと判
別することができる。
別値を作成して、この判別値が基準値を越えたときに軸
受は寿命に至ったと判別するから、レート比と総発生数
の両者に基づいて寿命を判断でき、したかって、従来に
くらべてはるかに安全側に軸受が寿命に至ったか否かを
診断することができる。そして、軸受が比較手段からの
信号の発生レートがしきい発生レートを越えるような異
常なAEを発生したり、総発生数がしきい発生数をこえ
るような多くのAEを発生たときはただちに軸受は異常
であると診断できるのはもちろんのこと、従来では診断
できなかったようなしきいレート以下の発生レートで徐
々に寿命に至るような場合でも確実に寿命に至ったと判
別することができる。
〈実施例〉
以下、この発明を図示の実施例により詳細に説明する。
第1図において、lはAEセンサ、2はプリアンプ、3
はバンドパスフィルター、4はメインアンプ、5は比較
回路、6はカウンタ、7はコンピュータ、8は表示回路
である。
はバンドパスフィルター、4はメインアンプ、5は比較
回路、6はカウンタ、7はコンピュータ、8は表示回路
である。
上記AEセンサlは図示しない軸受あるいはこの軸受を
支持する図示しないケース等に装着され、上記軸受がそ
の使用とともに微視的クラックの発生あるいは微視的ク
ラックの進展等に起因してAEを発生すればこの発生し
たAEを確実に検出してAE倍信号を出力する。AEセ
ンサlで検出されたAE倍信号は、プリアンプ2で増幅
された後、バントハスフィルター3に入力されて、この
バンドパスフィルター3によりたとえばその夏50〜4
00KHzの周波数成分のみが通過させられる。
支持する図示しないケース等に装着され、上記軸受がそ
の使用とともに微視的クラックの発生あるいは微視的ク
ラックの進展等に起因してAEを発生すればこの発生し
たAEを確実に検出してAE倍信号を出力する。AEセ
ンサlで検出されたAE倍信号は、プリアンプ2で増幅
された後、バントハスフィルター3に入力されて、この
バンドパスフィルター3によりたとえばその夏50〜4
00KHzの周波数成分のみが通過させられる。
バンドパスフィルター3を通過したAE倍信号メインア
ンプ4により増幅された後、比較回路5に入力される。
ンプ4により増幅された後、比較回路5に入力される。
比較回路5は、メインアンプ4からのAE倍信号lを基
準値Aと比較し、AE倍信号lが基準値Aを越えたとき
に越えたことを示す信号すをカウンタ6へ送出する。カ
ウンタ6は、比較回路5からの信号すの発生数をカウン
トする。そして、カウント結果としてのトータルカウン
トCTを示すカウント信号Cをコンピュータ7に入力す
る。コンピュータ7は、第2図に示すような処理を行う
。すなわち、まず、上記カウンタ6からのカウント信号
CのトータルカウントCT、Lきいレートとしてのレー
トカウントしきい値SLおよびしきい総発生数としての
トータルカウントしきい値STの設定を行い(ステップ
S2)、次いで、上記トータルカウントCTをTCとし
て記憶する(ステップS2)。そして、単位時間経過後
再びカウンタ6からのトータルカウントCTを受けて(
ステップS3)、発生レートとしてのレートカウントC
Lを算出する(ステップS4)。レートカウントCLは
その時点でのトータルカウントCTから記憶していたC
T(TC)を減じて算出する(CL=CT−TC)。次
いで、設定しである上記レートカウントしきい値SLに
対するレートカウントCLの比すなわちレート比(CL
/SL)と、上記トータルカウントしきい値STに対す
るトータルカウントCTの比すなわちトータルカウント
比(CT/ST)を算出し、さらにこの算出したレート
比(CL/SL)およびトータルカウント比(CT/S
T)を二乗することによって重み付けをする(ステッ
プS5、RD=(OL/SL)”、TD=(CT/ST
)”)。そして、上記重み付けしたr(DとTDの和の
平方根を算出して判断値りを求める(ステップS6、D
=(RD+TD)’°5)。そして、判断値Dh41以
上ならば軸受が寿命であることを示す寿命信号dを寿命
表示回路8に人力して(ステップS7)、この寿命表示
回路8に軸受は寿命であることを表示させる。一方、判
断値りが1未満であれば再びステップS2に戻り、再び
上述の処理、つまり軸受の寿命診断を行う。そして、判
断値りが1以上になったときに、軸受が寿命であること
を示す寿命信号dを寿命表示回路8に人力する。
準値Aと比較し、AE倍信号lが基準値Aを越えたとき
に越えたことを示す信号すをカウンタ6へ送出する。カ
ウンタ6は、比較回路5からの信号すの発生数をカウン
トする。そして、カウント結果としてのトータルカウン
トCTを示すカウント信号Cをコンピュータ7に入力す
る。コンピュータ7は、第2図に示すような処理を行う
。すなわち、まず、上記カウンタ6からのカウント信号
CのトータルカウントCT、Lきいレートとしてのレー
トカウントしきい値SLおよびしきい総発生数としての
トータルカウントしきい値STの設定を行い(ステップ
S2)、次いで、上記トータルカウントCTをTCとし
て記憶する(ステップS2)。そして、単位時間経過後
再びカウンタ6からのトータルカウントCTを受けて(
ステップS3)、発生レートとしてのレートカウントC
Lを算出する(ステップS4)。レートカウントCLは
その時点でのトータルカウントCTから記憶していたC
T(TC)を減じて算出する(CL=CT−TC)。次
いで、設定しである上記レートカウントしきい値SLに
対するレートカウントCLの比すなわちレート比(CL
/SL)と、上記トータルカウントしきい値STに対す
るトータルカウントCTの比すなわちトータルカウント
比(CT/ST)を算出し、さらにこの算出したレート
比(CL/SL)およびトータルカウント比(CT/S
T)を二乗することによって重み付けをする(ステッ
プS5、RD=(OL/SL)”、TD=(CT/ST
)”)。そして、上記重み付けしたr(DとTDの和の
平方根を算出して判断値りを求める(ステップS6、D
=(RD+TD)’°5)。そして、判断値Dh41以
上ならば軸受が寿命であることを示す寿命信号dを寿命
表示回路8に人力して(ステップS7)、この寿命表示
回路8に軸受は寿命であることを表示させる。一方、判
断値りが1未満であれば再びステップS2に戻り、再び
上述の処理、つまり軸受の寿命診断を行う。そして、判
断値りが1以上になったときに、軸受が寿命であること
を示す寿命信号dを寿命表示回路8に人力する。
このコンピュータ7とカウンタ6によりレート比算出手
段および総発生数比算出手段は構成される。
段および総発生数比算出手段は構成される。
そして、コンピュータ7により判断値作成手段および判
別手段は構成される。
別手段は構成される。
このように、カウンタ6から送られるカウント結果とし
てのカウント信号C(トータルカウントCT)と予め設
定のレートカウントしきい値SLおよびトータルカウン
トしきい値STに基づいて、レート比(CL/S L)
およびトータルカウント比(CT/ST)を算出し、こ
の算出したレート比(CL/SL)およびトータルカウ
ント比(CT/ST)に基づいて、 D−((CL/SL)”+(CT/ST)’)’・5・
・・■より判断値りを求め、この判断値りが1(基準値
)以上である場合に、つまり、 D=((CL/SL)”+(CT/ST)”)’・5≧
1が成立する場合に、軸受は寿命であると判断する。
てのカウント信号C(トータルカウントCT)と予め設
定のレートカウントしきい値SLおよびトータルカウン
トしきい値STに基づいて、レート比(CL/S L)
およびトータルカウント比(CT/ST)を算出し、こ
の算出したレート比(CL/SL)およびトータルカウ
ント比(CT/ST)に基づいて、 D−((CL/SL)”+(CT/ST)’)’・5・
・・■より判断値りを求め、この判断値りが1(基準値
)以上である場合に、つまり、 D=((CL/SL)”+(CT/ST)”)’・5≧
1が成立する場合に、軸受は寿命であると判断する。
したがって、カウント信号Cが示すトータルカウントC
Tの単位時間当たりの増加数、すなわちレートカウント
CLが、レートカウントしきい値SLより小さくなるよ
うなAEを発生しながら寿命に至り、従来では寿命であ
ると診断することができなかったようなケースでも、判
断値りを算出する上記式■がレートカウントCLだけで
なくトータルカウントCTもパラメータとして含むため
、トータルカウントCTが増加して、判断値りがl以」
二になった時点で、軸受は寿命であると診断することが
できる(第5図参照、図中O印にて寿命であると判別さ
れる)。もちろん、上記レートカウントしきい値SLお
よびトータルカウントしきい値STは誤診のないよう適
宜な値が選ばれ設定される。
Tの単位時間当たりの増加数、すなわちレートカウント
CLが、レートカウントしきい値SLより小さくなるよ
うなAEを発生しながら寿命に至り、従来では寿命であ
ると診断することができなかったようなケースでも、判
断値りを算出する上記式■がレートカウントCLだけで
なくトータルカウントCTもパラメータとして含むため
、トータルカウントCTが増加して、判断値りがl以」
二になった時点で、軸受は寿命であると診断することが
できる(第5図参照、図中O印にて寿命であると判別さ
れる)。もちろん、上記レートカウントしきい値SLお
よびトータルカウントしきい値STは誤診のないよう適
宜な値が選ばれ設定される。
このように、この軸受の寿命診断装置によれば、軸受の
寿命を従来に比べてより安全側に診断することができる
。
寿命を従来に比べてより安全側に診断することができる
。
上記実施例ではレート比(CL/SL)およびトータル
カウント比(CT/ST)に基づいて、D=((CL/
SL)’+(CT/ST)”)’−’より判断値りを作
成するようにしたが、判断値りは上記式によって作成す
るものに限らず、正確な軸受の寿命診断ができるよう、
レート比(CL/SL)およびトータルカウント比(C
T/ST)に適宜な重み付けをした式により作成するの
はいうまでもない。そしてもちろん、判断値りの判断基
準値はlに限らない。また、レート比算出手段および総
発生数比算出手段はカウンタ6とコンピュータ7により
構成するものに限らず、また、判断値作成手段および判
別手段はコンピュータ7により構成するものに限らない
のはいうまでもない。
カウント比(CT/ST)に基づいて、D=((CL/
SL)’+(CT/ST)”)’−’より判断値りを作
成するようにしたが、判断値りは上記式によって作成す
るものに限らず、正確な軸受の寿命診断ができるよう、
レート比(CL/SL)およびトータルカウント比(C
T/ST)に適宜な重み付けをした式により作成するの
はいうまでもない。そしてもちろん、判断値りの判断基
準値はlに限らない。また、レート比算出手段および総
発生数比算出手段はカウンタ6とコンピュータ7により
構成するものに限らず、また、判断値作成手段および判
別手段はコンピュータ7により構成するものに限らない
のはいうまでもない。
〈発明の効果〉
このように、この発明の軸受の寿命診断装置は、従来の
判別手段からの信号の発生レートをしきいレートと比較
するだけで軸受の寿命診断を行うのと異なり、判別手段
からの信号の発生レートおよび総発生数をレート比算出
手段および総発生数比算出手段とにより夫々算出し、さ
らに、上記レート比算出手段により上記発生レートとし
きいレートとのレート比を算出する一方、上記総発生数
比算出手段により上記総発生数としきい総発生数との総
発生数比を算出し、この得られたレート比と総発生数比
とに基づいて判別値を作成して、この判別値が基準値を
越えたときに軸受は寿命に至ったと判別する。したがっ
て、この発明の軸受の寿命診断装置によれば、従来にく
らべてはるかに安全側に軸受が寿命に至ったか否かを診
断することができる。そして、軸受が比較手段からの信
号の発生レートがしきい発生レートを越えるような異常
なAEを発生したり、総発生数がしきい発生数をこえる
ような多くのAEを発生たときはただちに軸受は異常で
あると診断できるのはもちろんのこと、従来では診断で
きなかったようなしきいレート以下の発生レートで徐々
に寿命に至るような場合でも確実に寿命に至ったと判別
することができる。
判別手段からの信号の発生レートをしきいレートと比較
するだけで軸受の寿命診断を行うのと異なり、判別手段
からの信号の発生レートおよび総発生数をレート比算出
手段および総発生数比算出手段とにより夫々算出し、さ
らに、上記レート比算出手段により上記発生レートとし
きいレートとのレート比を算出する一方、上記総発生数
比算出手段により上記総発生数としきい総発生数との総
発生数比を算出し、この得られたレート比と総発生数比
とに基づいて判別値を作成して、この判別値が基準値を
越えたときに軸受は寿命に至ったと判別する。したがっ
て、この発明の軸受の寿命診断装置によれば、従来にく
らべてはるかに安全側に軸受が寿命に至ったか否かを診
断することができる。そして、軸受が比較手段からの信
号の発生レートがしきい発生レートを越えるような異常
なAEを発生したり、総発生数がしきい発生数をこえる
ような多くのAEを発生たときはただちに軸受は異常で
あると診断できるのはもちろんのこと、従来では診断で
きなかったようなしきいレート以下の発生レートで徐々
に寿命に至るような場合でも確実に寿命に至ったと判別
することができる。
第1図はこの発明の軸受の寿命診断装置の一実施例を示
すブロック図、第2図は第1図のコンピュータが行う処
理を説明するフローチャート、第3図は従来の軸受の寿
命診断装置では寿命を診断することができない場合の説
明図、第4図はAEの総発生数に基づく軸受の寿命診断
の説明図、第5図は本発明の軸受の寿命診断装置で安全
に寿命を診断することができる説明図である。 l・・AEセンサ、5・・・比較回路、6・・・カウン
タ、7・・・コンピュータ、a、a、・AE倍信、 b・・・比較回路からの信号、d・・・寿命信号、CL
・・・レートカウント(発生レート)、CT・・・トー
タルカウント(総発生数)、CL/SL・・・レート比
、D・・・判断値、SL・・・レートカウントしきい値
(しきいレート)、ST・・・トータルカウントしきい
値 (しきい総発生数)、 CT/ST・・・トータルカウント比(総発生数比)。 特 許 出 願 人 光洋精工株式会社代 理 人
弁理士 前動 葆 はか1名第2図 第3図 第4図 LIFE (%)
すブロック図、第2図は第1図のコンピュータが行う処
理を説明するフローチャート、第3図は従来の軸受の寿
命診断装置では寿命を診断することができない場合の説
明図、第4図はAEの総発生数に基づく軸受の寿命診断
の説明図、第5図は本発明の軸受の寿命診断装置で安全
に寿命を診断することができる説明図である。 l・・AEセンサ、5・・・比較回路、6・・・カウン
タ、7・・・コンピュータ、a、a、・AE倍信、 b・・・比較回路からの信号、d・・・寿命信号、CL
・・・レートカウント(発生レート)、CT・・・トー
タルカウント(総発生数)、CL/SL・・・レート比
、D・・・判断値、SL・・・レートカウントしきい値
(しきいレート)、ST・・・トータルカウントしきい
値 (しきい総発生数)、 CT/ST・・・トータルカウント比(総発生数比)。 特 許 出 願 人 光洋精工株式会社代 理 人
弁理士 前動 葆 はか1名第2図 第3図 第4図 LIFE (%)
Claims (1)
- (1)軸受が発生するAEを検出するAEセンサと、こ
のAEセンサからのAE信号を基準値と比較し、AE信
号が上記基準値を越えたときに信号を出力する比較手段
とを備え、上記比較手段からの信号に基づいて上記軸受
が寿命であるか否かを判別するようにした軸受の寿命診
断装置において、 上記比較手段からの信号の発生レートを算出して、この
算出した発生レートのしきいレートに対するレート比を
算出するレート比算出手段と、上記比較手段からの信号
の総発生数を算出して、この算出した総発生数のしきい
総発生数に対する総発生数比を算出する総発生数比算出
手段と、上記レート比算出手段で算出したレート比と上
記総発生数比算出手段で算出した総発生数比とに基づい
て判断値を作成する判断値作成手段と、上記判断値と基
準値とを比較して、上記判断値が基準値を越えたときに
軸受は寿命に至ったことを表す信号を出力する判別手段
とを備えたことを特徴とする軸受の寿命診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1204142A JP2885839B2 (ja) | 1989-08-04 | 1989-08-04 | 軸受の寿命診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1204142A JP2885839B2 (ja) | 1989-08-04 | 1989-08-04 | 軸受の寿命診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0367146A true JPH0367146A (ja) | 1991-03-22 |
| JP2885839B2 JP2885839B2 (ja) | 1999-04-26 |
Family
ID=16485532
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1204142A Expired - Fee Related JP2885839B2 (ja) | 1989-08-04 | 1989-08-04 | 軸受の寿命診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2885839B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013511051A (ja) * | 2009-11-17 | 2013-03-28 | スネクマ | 航空機の機械部品の疲労を測定するシステムおよび方法、ならびに航空機メンテナンス方法 |
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