JPH0368744A - 磁性薄膜 - Google Patents
磁性薄膜Info
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- JPH0368744A JPH0368744A JP20245189A JP20245189A JPH0368744A JP H0368744 A JPH0368744 A JP H0368744A JP 20245189 A JP20245189 A JP 20245189A JP 20245189 A JP20245189 A JP 20245189A JP H0368744 A JPH0368744 A JP H0368744A
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- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
- C23C14/3414—Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01F10/14—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition being metals or alloys containing iron or nickel
-
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F41/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
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- H01F41/18—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates by cathode sputtering
- H01F41/183—Sputtering targets therefor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈イ〉産業上の利用分野
本発明は、磁性薄膜に関し、特に、高周波磁気特性に優
れる磁性薄膜に関する。
れる磁性薄膜に関する。
本発明は、また、記録媒体、磁気ヘッド及び磁心に利用
され、高周波磁気特性に優れる磁性薄膜に関し、特に、
例えば8IIIIlビデオテープレコーダ(VTR)、
ディジタルオーディオテープレコーダ(DAT) 、高
密度ディジタルデイスプレィ及び高密度データシステム
(ODD ”)等の高密度記録再生用の薄膜ヘッド、ま
た、メタルインギャプ(旧G)ヘッド、磁気抵抗(MR
)ヘッド等の磁気ヘッド用として、或は垂直磁気記録媒
体の下地用の磁性薄膜として、また、スイッチング電源
の高周波領域で使用される電子機器の磁心として利用さ
れる磁性薄膜に関する。
され、高周波磁気特性に優れる磁性薄膜に関し、特に、
例えば8IIIIlビデオテープレコーダ(VTR)、
ディジタルオーディオテープレコーダ(DAT) 、高
密度ディジタルデイスプレィ及び高密度データシステム
(ODD ”)等の高密度記録再生用の薄膜ヘッド、ま
た、メタルインギャプ(旧G)ヘッド、磁気抵抗(MR
)ヘッド等の磁気ヘッド用として、或は垂直磁気記録媒
体の下地用の磁性薄膜として、また、スイッチング電源
の高周波領域で使用される電子機器の磁心として利用さ
れる磁性薄膜に関する。
(口〉従来技術
磁気記録分野における磁性材料の進歩は目覚ましく、高
密度化のため現在磁性薄膜を利用した記録媒体、磁気ヘ
ッドの研究が活発である。また電子機器の小型化高性能
化のため動作周波数は次第に高周波化に向かっており、
使用される磁心材料も薄膜化する傾向にある。
密度化のため現在磁性薄膜を利用した記録媒体、磁気ヘ
ッドの研究が活発である。また電子機器の小型化高性能
化のため動作周波数は次第に高周波化に向かっており、
使用される磁心材料も薄膜化する傾向にある。
高周波領域で使用される材料としては、現在フェライト
が最も広く使用されている。しかし、フェライトは飽和
磁束密度が低く高密度記録用としては不適当であり、ま
た、超高周波領域では透磁率が大幅に低下する。
が最も広く使用されている。しかし、フェライトは飽和
磁束密度が低く高密度記録用としては不適当であり、ま
た、超高周波領域では透磁率が大幅に低下する。
そこで、高密度記録用の磁気ヘッドとして飽和磁束密度
の高い磁性薄膜が嘱望され、N 1−Fe系合金、Fe
−5i−AI系合金及びCo系のアモルファス合金等の
磁性薄膜が実用化されつつある。
の高い磁性薄膜が嘱望され、N 1−Fe系合金、Fe
−5i−AI系合金及びCo系のアモルファス合金等の
磁性薄膜が実用化されつつある。
(ハ〉発明が解決しようとする問題点
しかし、前記Ni−Fe系合金は前記Fe−5i−^1
系合金及びCo系のアモルファス合金に比べて磁気特性
が劣っている。また、Fe−5i−^1系合金は、最適
な条件下では優れた磁気特性を有する磁性薄膜を得るこ
とができるが、再現法に問題がある。
系合金及びCo系のアモルファス合金に比べて磁気特性
が劣っている。また、Fe−5i−^1系合金は、最適
な条件下では優れた磁気特性を有する磁性薄膜を得るこ
とができるが、再現法に問題がある。
また、Co系アモルファス合金は、薄膜の状態では優れ
た特性を有するが、薄膜磁気ヘッドを製造する際の加熱
過程で磁気特性が劣化するので問題がある。
た特性を有するが、薄膜磁気ヘッドを製造する際の加熱
過程で磁気特性が劣化するので問題がある。
さらに以上のいずれの材料も、MHz以上の高周波領域
では著しく透磁率が低下するという問題がある。
では著しく透磁率が低下するという問題がある。
これらの問題を解決するために現在精力的な研究が続け
られているが、まだ成功には至っていない 本発明者らは、先に、従来の薄膜ヘッド等の磁性材料に
おける高周波領域での問題を解消することを目的として
、高飽和磁束密度及び熱安定性の見地より金属系の結晶
質磁性薄膜について多くの実験を行い、殊に、75乃至
82重量%ニッケル鉄(Ni−Fe)合金に、各種元素
を添加したターゲットを用いて成膜した結晶質磁性薄膜
について、高周波領域における透磁率を調査して、先に
、組成が、ニッケル(Ni)75〜82重量%、ニオブ
(Nb)及びタンタル(丁a)の一種類又は二種類の合
計が1〜8重量%、モリブデン(No)2重量%以下並
びに残余が実質的に鉄Feと不可避的不純物の組成より
なることを特徴とする高周波磁気特性に優れる磁性薄膜
を発明したく特願昭62−284461号参照。)。
られているが、まだ成功には至っていない 本発明者らは、先に、従来の薄膜ヘッド等の磁性材料に
おける高周波領域での問題を解消することを目的として
、高飽和磁束密度及び熱安定性の見地より金属系の結晶
質磁性薄膜について多くの実験を行い、殊に、75乃至
82重量%ニッケル鉄(Ni−Fe)合金に、各種元素
を添加したターゲットを用いて成膜した結晶質磁性薄膜
について、高周波領域における透磁率を調査して、先に
、組成が、ニッケル(Ni)75〜82重量%、ニオブ
(Nb)及びタンタル(丁a)の一種類又は二種類の合
計が1〜8重量%、モリブデン(No)2重量%以下並
びに残余が実質的に鉄Feと不可避的不純物の組成より
なることを特徴とする高周波磁気特性に優れる磁性薄膜
を発明したく特願昭62−284461号参照。)。
これらの発明に続いて、本発明者らは、更に、高飽和磁
束密度、熱安定性及び再現性の見地より、75乃至83
重量%ニッケルー鉄(Ni−Fe)合金基材に、各種元
素を添加したターゲットを用いて成膜した結晶性磁性薄
膜について、更に多くの実験を行い、高周波域の透磁率
を調査して、特に、組成が、コバルト2重量%以下、ニ
ッケルがコバルトとの合計量で75〜83重量%、ニオ
ブ及びタンタルの一種類又は二種類以上が総量で1〜8
重量%、モリブデン、バナジウム、クロム、タングステ
ン及び銅(Cu)の何れか一種類又は二種類以上が総量
で0.01〜2重量%、さらに、チタン、ジルコニウム
及びハフニウムの何れか一種類又は二種類以上が総量で
0.01〜2重量%、残余の鉄並びに少量の不純物とか
らなる磁性薄膜が、高周波域迄高い透磁率を維持し、か
つ再現性よく製造できることを発明した。(特願昭63
−66283号参照、)そして、更に先に発明したNi
−Fe−Nb系合金の耐食性改善に鋭意検討の結果、組
成がコバルト2重量%以下、ニッケルがコバルトとの合
計量で73〜82重量%、ニオブ及びタンタルの一種又
は二種類が総量で1〜8重量%、モリブデン、バナジウ
ム、クロム、タングステン及び銅のいずれか一種又は二
種以上が総量で0.01〜2重量%、チタン、ジルコニ
ウム、及びハフニウムのいずれか一種又は二種以上が総
量で0.01〜2%、さらに銀、金、ルテニウム、ロジ
ウム、パラジウム及び白金のいずれか一種又は二種以上
が総量でo、ooi〜2重量%並びに残余の鉄及び少量
の不純物とからなることを特徴とする磁性薄膜が高周波
域迄高い透磁率を維持し、耐食性が良好で、かつ再現性
よく製造できることを発明した。(特願昭83−797
41号参照、)シかし、これらいずれの磁性薄膜もNi
含有が多いために飽和磁束密度が7.000〜8,0O
OGと低いことが欠点であった。
束密度、熱安定性及び再現性の見地より、75乃至83
重量%ニッケルー鉄(Ni−Fe)合金基材に、各種元
素を添加したターゲットを用いて成膜した結晶性磁性薄
膜について、更に多くの実験を行い、高周波域の透磁率
を調査して、特に、組成が、コバルト2重量%以下、ニ
ッケルがコバルトとの合計量で75〜83重量%、ニオ
ブ及びタンタルの一種類又は二種類以上が総量で1〜8
重量%、モリブデン、バナジウム、クロム、タングステ
ン及び銅(Cu)の何れか一種類又は二種類以上が総量
で0.01〜2重量%、さらに、チタン、ジルコニウム
及びハフニウムの何れか一種類又は二種類以上が総量で
0.01〜2重量%、残余の鉄並びに少量の不純物とか
らなる磁性薄膜が、高周波域迄高い透磁率を維持し、か
つ再現性よく製造できることを発明した。(特願昭63
−66283号参照、)そして、更に先に発明したNi
−Fe−Nb系合金の耐食性改善に鋭意検討の結果、組
成がコバルト2重量%以下、ニッケルがコバルトとの合
計量で73〜82重量%、ニオブ及びタンタルの一種又
は二種類が総量で1〜8重量%、モリブデン、バナジウ
ム、クロム、タングステン及び銅のいずれか一種又は二
種以上が総量で0.01〜2重量%、チタン、ジルコニ
ウム、及びハフニウムのいずれか一種又は二種以上が総
量で0.01〜2%、さらに銀、金、ルテニウム、ロジ
ウム、パラジウム及び白金のいずれか一種又は二種以上
が総量でo、ooi〜2重量%並びに残余の鉄及び少量
の不純物とからなることを特徴とする磁性薄膜が高周波
域迄高い透磁率を維持し、耐食性が良好で、かつ再現性
よく製造できることを発明した。(特願昭83−797
41号参照、)シかし、これらいずれの磁性薄膜もNi
含有が多いために飽和磁束密度が7.000〜8,0O
OGと低いことが欠点であった。
本発明はこの問題を解消することを目的としている。
(ニ)問題点を解決するための手段及び作用。
本発明は、従来の磁性薄膜の改良に関するもので、高周
波領域で高い透磁率を有し、さらに高い飽和磁束密度を
有する、新規な磁性r!I膜を提供することを目的とし
ている。
波領域で高い透磁率を有し、さらに高い飽和磁束密度を
有する、新規な磁性r!I膜を提供することを目的とし
ている。
本発明者らは、先に発明したNi−Fe−Nb系合金薄
膜のMHz帯域に於ける高い透磁率は、Nb添加による
結晶粒の微細化および結晶粒の配向度の向上による局所
異方性の著しい低減に起因することを明らかにした。
膜のMHz帯域に於ける高い透磁率は、Nb添加による
結晶粒の微細化および結晶粒の配向度の向上による局所
異方性の著しい低減に起因することを明らかにした。
結晶粒微細化、配向度の向上による局所異方性の低減は
磁歪(λ)の小さい組成域で大きな効果が期待されるの
で、本発明では飽和磁束密度が高く且つλの小さいNi
−Fe系の組成範囲について鋭意検討した。
磁歪(λ)の小さい組成域で大きな効果が期待されるの
で、本発明では飽和磁束密度が高く且つλの小さいNi
−Fe系の組成範囲について鋭意検討した。
その結果、コバルト2重量%以下でニッケルとコバルト
の合計量が40〜55重量%のλの小さい範囲で、13
,000ガウス以上の飽和磁束密度と高い透磁率が得ら
れることを見出した。
の合計量が40〜55重量%のλの小さい範囲で、13
,000ガウス以上の飽和磁束密度と高い透磁率が得ら
れることを見出した。
そして、先の発明と同様にNb添加によって、高い透磁
率が得られた薄膜には局所異方性の減少が認められた。
率が得られた薄膜には局所異方性の減少が認められた。
さらに、本発明者らは、モリブデン、バナジウム、クロ
ム、タングステン、及び銅の添加による磁気特性の向上
、磁気特性の再現性に及ぼすチタン、ジルコニウム及び
ハフニウムの効果、銀、金、ルテニウム、ロジウム、パ
ラジウム及び白金による耐食性改善効果など、先に発明
したNi−Fe−Nb系の場合と同じ効果のあることを
見出した。
ム、タングステン、及び銅の添加による磁気特性の向上
、磁気特性の再現性に及ぼすチタン、ジルコニウム及び
ハフニウムの効果、銀、金、ルテニウム、ロジウム、パ
ラジウム及び白金による耐食性改善効果など、先に発明
したNi−Fe−Nb系の場合と同じ効果のあることを
見出した。
即ち、本発明は、組成が、重量比でコバルト2%以下、
ニッケルがコバルトとの合計量で40〜55%、ニオブ
及びタンタルの一種以上が総量で0.5〜5.5%、残
余が実質的に鉄と不可避的不純物成分の組成よりなるこ
とを特徴とする高周波磁気特性に優れる磁性薄膜にあり
、また本発明は、組成が重量比でコバルト2%以下、ニ
ッケルがコバルトとの合計量で40〜55%、ニオブ及
びタンタルの一種以上が総量で0.5〜5.5%、モリ
ブデン、バナジウム、クロム、タングステン及び銅のい
ずれか一種又は二種以上が総量で0.1〜2%、チタン
、ジルコニウム及びハフニウムのいずれか一種又は二種
以上を総量で0.001〜0.5%、残余が実質的に鉄
と不可避的不純物成分の組成よりなることを特徴とする
高周波磁気特性に優れる磁性薄膜にあり、さらに、本発
明は、組成が重量比でコバルト2%以下、ニッケルがコ
バルトとの合計量で40〜55%、ニオブ及びタンタル
の一種以上が総量で0.5〜5.5%、銀、金、ルテニ
ウム、ロジウム、パラジウム及び白金のいずれか一種又
は二種類以上を総量でo、oot〜2%、残余が実質的
に鉄と不可避的不純物成分の組成よりなることを特徴と
する高周波磁気特性に優れる磁性薄膜にあり、更に加え
て、本発明は、組成が、重量比で、コバルト2%以下、
ニッケルがコバルトとの合計量で40〜55%、ニオブ
及びタンタルの一種以上が総量で0.5〜5.5%、モ
リブデン、バナジウム、クロム、タングステン及び銅の
いずれか一種又は二種以上が総量で011〜2%、チタ
ン、ジルコニウム及びハフニウムのいずれか一種又は二
種以上を総量で0.001〜0.5%、銀、金、ルテニ
ウム、ロジウム、パラジウム及び白金のいずれか−種又
は二種類以上を総量で0.001〜2%、残余が実質的
に鉄と不可避的不純物成分の組成よりなることを特徴と
する高周波磁気特性に優れる磁性薄膜にある。
ニッケルがコバルトとの合計量で40〜55%、ニオブ
及びタンタルの一種以上が総量で0.5〜5.5%、残
余が実質的に鉄と不可避的不純物成分の組成よりなるこ
とを特徴とする高周波磁気特性に優れる磁性薄膜にあり
、また本発明は、組成が重量比でコバルト2%以下、ニ
ッケルがコバルトとの合計量で40〜55%、ニオブ及
びタンタルの一種以上が総量で0.5〜5.5%、モリ
ブデン、バナジウム、クロム、タングステン及び銅のい
ずれか一種又は二種以上が総量で0.1〜2%、チタン
、ジルコニウム及びハフニウムのいずれか一種又は二種
以上を総量で0.001〜0.5%、残余が実質的に鉄
と不可避的不純物成分の組成よりなることを特徴とする
高周波磁気特性に優れる磁性薄膜にあり、さらに、本発
明は、組成が重量比でコバルト2%以下、ニッケルがコ
バルトとの合計量で40〜55%、ニオブ及びタンタル
の一種以上が総量で0.5〜5.5%、銀、金、ルテニ
ウム、ロジウム、パラジウム及び白金のいずれか一種又
は二種類以上を総量でo、oot〜2%、残余が実質的
に鉄と不可避的不純物成分の組成よりなることを特徴と
する高周波磁気特性に優れる磁性薄膜にあり、更に加え
て、本発明は、組成が、重量比で、コバルト2%以下、
ニッケルがコバルトとの合計量で40〜55%、ニオブ
及びタンタルの一種以上が総量で0.5〜5.5%、モ
リブデン、バナジウム、クロム、タングステン及び銅の
いずれか一種又は二種以上が総量で011〜2%、チタ
ン、ジルコニウム及びハフニウムのいずれか一種又は二
種以上を総量で0.001〜0.5%、銀、金、ルテニ
ウム、ロジウム、パラジウム及び白金のいずれか−種又
は二種類以上を総量で0.001〜2%、残余が実質的
に鉄と不可避的不純物成分の組成よりなることを特徴と
する高周波磁気特性に優れる磁性薄膜にある。
本発明の磁性薄膜において、コバルト(CO)は2重量
%以下含有される。ニッケル(Ni)は該ニッケルと前
記2重量%以下のコバルトとの合計が40〜55重量%
の範囲で磁歪が小さくなるように含有される。
%以下含有される。ニッケル(Ni)は該ニッケルと前
記2重量%以下のコバルトとの合計が40〜55重量%
の範囲で磁歪が小さくなるように含有される。
この範囲外では、得られる磁性薄膜の透磁率、飽和磁束
密度が範囲内のものに比して共に低下する。また、本発
明において、コバルトの含有量が2重量%以下であれば
、透磁率に大きな影響を及ぼさずに飽和磁束密度及びキ
ュリー温度の上昇に寄与するので好ましい。
密度が範囲内のものに比して共に低下する。また、本発
明において、コバルトの含有量が2重量%以下であれば
、透磁率に大きな影響を及ぼさずに飽和磁束密度及びキ
ュリー温度の上昇に寄与するので好ましい。
ニオブ及びタンタルは非常に性質の近い元素であり、本
発明の場合にも局所異方性を低減する同じ作用を有して
いる。したがって、本発明においては、ニオブ及びタン
タルはニオブ及びタンタルのいずれか一種を使用するこ
とができ、しかし、その双方を組み合わせて一緒に使用
することもできる0本発明の磁性薄膜におけるニオブ及
び/又はタンタルの含有量については、その増加に伴っ
て磁性薄膜の高周波領域における透磁率は高くなるが、
5.5重量%以上では飽和磁束密度が低下するとともに
透磁率を著るしく低下させるので、上限を5.5重量%
とするのが好ましく、また0、5重量%以下ではそれら
の効果が少ないので、下限を0.5重量%とするのが好
ましい。
発明の場合にも局所異方性を低減する同じ作用を有して
いる。したがって、本発明においては、ニオブ及びタン
タルはニオブ及びタンタルのいずれか一種を使用するこ
とができ、しかし、その双方を組み合わせて一緒に使用
することもできる0本発明の磁性薄膜におけるニオブ及
び/又はタンタルの含有量については、その増加に伴っ
て磁性薄膜の高周波領域における透磁率は高くなるが、
5.5重量%以上では飽和磁束密度が低下するとともに
透磁率を著るしく低下させるので、上限を5.5重量%
とするのが好ましく、また0、5重量%以下ではそれら
の効果が少ないので、下限を0.5重量%とするのが好
ましい。
モリブデン(No) 、バナジウム(V)、クロム(C
r) 、タングステン(旧及び!771(Cu)につい
ての添加は、これら単独での効果はないが、Nb又はT
aと同時に或はNb及びTaと同時に添加した場合には
、Nb又はTaの単独の効果並びにNb及びTaの共存
時の効果をさらに増加する作用があり、また薄膜の耐食
性を向上させる効果がある。しかし、多量に添加すると
飽和磁束密度を低下させるので、モリブデン(No)、
バナジウム(■〉、クロム(Cr)、タングステン(旧
及び銅(Cu)を含有させる場合、これらの元素の中の
一種類の元素を含有させるときは、当該元素の量は、共
に、2重量%以下とさせるのが好ましい。しかし、これ
ら元素を組み合わせて含有させるときにおいても、それ
らの元素の合計含有量の上限は2重量%とするのが好ま
しい。またこれら元素について、いずれの場合でも、そ
の含有量が0.1重量%以下では効果が期待できないの
で、その含有量の下限は0.1重量%とするのが好まし
い。
r) 、タングステン(旧及び!771(Cu)につい
ての添加は、これら単独での効果はないが、Nb又はT
aと同時に或はNb及びTaと同時に添加した場合には
、Nb又はTaの単独の効果並びにNb及びTaの共存
時の効果をさらに増加する作用があり、また薄膜の耐食
性を向上させる効果がある。しかし、多量に添加すると
飽和磁束密度を低下させるので、モリブデン(No)、
バナジウム(■〉、クロム(Cr)、タングステン(旧
及び銅(Cu)を含有させる場合、これらの元素の中の
一種類の元素を含有させるときは、当該元素の量は、共
に、2重量%以下とさせるのが好ましい。しかし、これ
ら元素を組み合わせて含有させるときにおいても、それ
らの元素の合計含有量の上限は2重量%とするのが好ま
しい。またこれら元素について、いずれの場合でも、そ
の含有量が0.1重量%以下では効果が期待できないの
で、その含有量の下限は0.1重量%とするのが好まし
い。
チタン(Ti)、ジルコニウム(Zr)及びハフニウム
(Hf)はターゲットの結晶粒微細化、ガス含有量の低
減に効果があるので、これ等元素を含有するターゲット
を用いると、磁気特性の優れた磁性IJIIを安定して
得ることができ好ましい。このような効果は各元素を単
独或いは二種類以上を、総量で0.001%以上含有さ
せることにより現われるが、0.5%以上になると、飽
和磁束密度を低下させるので、その含有量の範囲は、0
.001〜0.5重量%とするのが好ましい。
(Hf)はターゲットの結晶粒微細化、ガス含有量の低
減に効果があるので、これ等元素を含有するターゲット
を用いると、磁気特性の優れた磁性IJIIを安定して
得ることができ好ましい。このような効果は各元素を単
独或いは二種類以上を、総量で0.001%以上含有さ
せることにより現われるが、0.5%以上になると、飽
和磁束密度を低下させるので、その含有量の範囲は、0
.001〜0.5重量%とするのが好ましい。
また、イツトリウム(Y)、ランタン(La)、セリウ
ム(Ce )等の希土類元素は、Ti、 Zr、 Hf
と同じ作用を有しているので、各元素単独又は二種類以
上の元素の総含有量が、0.5重量%以下であれば使用
することができる。銀(^g> 、金(^u〉、ルテニ
ウム(Ru)、ロジウム(Rh) 、パラジウム(Pd
)及び白金(pt)は、含有量が増加するほど耐食性向
上と共に透磁率も向上する。
ム(Ce )等の希土類元素は、Ti、 Zr、 Hf
と同じ作用を有しているので、各元素単独又は二種類以
上の元素の総含有量が、0.5重量%以下であれば使用
することができる。銀(^g> 、金(^u〉、ルテニ
ウム(Ru)、ロジウム(Rh) 、パラジウム(Pd
)及び白金(pt)は、含有量が増加するほど耐食性向
上と共に透磁率も向上する。
方飽和磁束を余り低下させないので多量に含有させるこ
とができるが、経済性の点から、銀(^g)、金(^u
)、ルテニウム(Ru)、ロジウム(Rh)、パラジウ
ム(Pd)及び白金(Pt)を含有させる場合、これら
元素の中の一種類の元素又は二種類以上の元素を含有さ
せるときは、当該元素の総含有量は、2重量%以下が好
ましく、また0、001重量%以下では効果が期待でき
ないので、その含有量の範囲は、o、oot%〜2重量
%とするのが好ましい。
とができるが、経済性の点から、銀(^g)、金(^u
)、ルテニウム(Ru)、ロジウム(Rh)、パラジウ
ム(Pd)及び白金(Pt)を含有させる場合、これら
元素の中の一種類の元素又は二種類以上の元素を含有さ
せるときは、当該元素の総含有量は、2重量%以下が好
ましく、また0、001重量%以下では効果が期待でき
ないので、その含有量の範囲は、o、oot%〜2重量
%とするのが好ましい。
以上のように、本発明の磁性薄膜は、組成が、コバルト
2重量%以下、ニッケルがコバルトとの合計量で40〜
55重量%、ニオブ及びタンタルの何れか一種類又は二
種類が総量で0.5〜5.5重量%、残余の鉄並びに少
量の不純物とからなる磁性薄膜、この組成に、さらに、
モリブデン、バナジウム、クロム、タングステン、銅、
の何れか一種類又は二種類以上が総量で0.1〜2重量
%、チタン、ジルコニウム及びハフニウムのいずれか一
種又は二種以上を総量で0.001〜0.5%含有させ
た磁性薄膜、また、以上の磁性薄膜の組成に、さらに、
銀、金、ルテニウム、ロジウム、パラジウム及び白金の
何れか一種類又は二種類以上を総量で0.001〜2重
量%含有させた磁性薄膜であるが、マンガン(Mn)、
ケイ素(Si) 、アルミニウム(^l)、カルシウム
(Ca )及びマグネシウム(Hg)等の脱酸剤につい
て単独で使用する場合は、0.5重量%以下の量で使用
でき、二種類以上の元素を組み合わせて一緒に使用する
場合は、合計量で1%以下であれば使用することができ
る。
2重量%以下、ニッケルがコバルトとの合計量で40〜
55重量%、ニオブ及びタンタルの何れか一種類又は二
種類が総量で0.5〜5.5重量%、残余の鉄並びに少
量の不純物とからなる磁性薄膜、この組成に、さらに、
モリブデン、バナジウム、クロム、タングステン、銅、
の何れか一種類又は二種類以上が総量で0.1〜2重量
%、チタン、ジルコニウム及びハフニウムのいずれか一
種又は二種以上を総量で0.001〜0.5%含有させ
た磁性薄膜、また、以上の磁性薄膜の組成に、さらに、
銀、金、ルテニウム、ロジウム、パラジウム及び白金の
何れか一種類又は二種類以上を総量で0.001〜2重
量%含有させた磁性薄膜であるが、マンガン(Mn)、
ケイ素(Si) 、アルミニウム(^l)、カルシウム
(Ca )及びマグネシウム(Hg)等の脱酸剤につい
て単独で使用する場合は、0.5重量%以下の量で使用
でき、二種類以上の元素を組み合わせて一緒に使用する
場合は、合計量で1%以下であれば使用することができ
る。
本発明における磁性薄膜は、真空蒸着法、スパッタ蒸着
法及びイオンブレーティング法等の薄膜堆積法により形
成することができる。しかし、アルゴン雰囲気でのスパ
ッタ蒸着法、即ちスパッタリング法により、適当な絶縁
材料上に成膜させることにより作製されるのが、操作が
簡単であるので好ましい。この場合、スパッタリングを
3〜25mTorr (3X 10−コル25X 10
−’Torr )の範囲に維持されたアルゴン圧力下で
行うと、磁気特性が優れた薄膜が得られるので好ましい
。
法及びイオンブレーティング法等の薄膜堆積法により形
成することができる。しかし、アルゴン雰囲気でのスパ
ッタ蒸着法、即ちスパッタリング法により、適当な絶縁
材料上に成膜させることにより作製されるのが、操作が
簡単であるので好ましい。この場合、スパッタリングを
3〜25mTorr (3X 10−コル25X 10
−’Torr )の範囲に維持されたアルゴン圧力下で
行うと、磁気特性が優れた薄膜が得られるので好ましい
。
本発明において、適当な絶縁物上に成膜された薄膜は5
μ−以下の厚さのものであり、単一層または絶縁物を介
して多量に71層されたものとすることができる。
μ−以下の厚さのものであり、単一層または絶縁物を介
して多量に71層されたものとすることができる。
本発明の磁性薄膜は、8 mmVTR、DAT 、tl
DD等の薄膜ヘッド等の種々の用途に使用することがで
き、また、特に、前記Ni−Fe合金薄膜に替えて種々
の用途に使用することもできる。例えば旧Gヘッドの中
間層として、フェライト上に本発明の磁性薄膜を形成す
ることによって、優れたHIGヘッドを製造することが
でき、また、例えば、HRヘッドのヨークとして、或は
、例えば、Co−Cr等の垂直磁気記録媒体の下地とし
て、種々の用途に有利に使用することができる。
DD等の薄膜ヘッド等の種々の用途に使用することがで
き、また、特に、前記Ni−Fe合金薄膜に替えて種々
の用途に使用することもできる。例えば旧Gヘッドの中
間層として、フェライト上に本発明の磁性薄膜を形成す
ることによって、優れたHIGヘッドを製造することが
でき、また、例えば、HRヘッドのヨークとして、或は
、例えば、Co−Cr等の垂直磁気記録媒体の下地とし
て、種々の用途に有利に使用することができる。
(ホ)実施例
以下、本発明の実施態様の例について説明するが、本発
明は、これら説明及び例示により何ら制限を受けるもの
ではない。
明は、これら説明及び例示により何ら制限を受けるもの
ではない。
以下、実施例の−について詳細に説明する。電解ニッケ
ル(Ni)、電解鉄(Fe)、金属ニオブ(Nb)及び
タンタル(Ta)並びに金属モリブデン(No)を原料
として用い、所定量配合し真空中で3 Kg溶解後、直
径601の金型に鋳込んだ、この鋳塊を熱間鍛造した後
機械加工により厚さ3I及び直径70 lのターゲット
を作製した。
ル(Ni)、電解鉄(Fe)、金属ニオブ(Nb)及び
タンタル(Ta)並びに金属モリブデン(No)を原料
として用い、所定量配合し真空中で3 Kg溶解後、直
径601の金型に鋳込んだ、この鋳塊を熱間鍛造した後
機械加工により厚さ3I及び直径70 lのターゲット
を作製した。
このターゲットを用い、3〜60 nTorrの圧力範
囲内のアルゴン雰囲気でDCマグネトロンスパッタリン
グ法、及びRFスパッタリング法によりガラス基板上に
3,000〜6,000 A 厚の薄膜を作成した。
囲内のアルゴン雰囲気でDCマグネトロンスパッタリン
グ法、及びRFスパッタリング法によりガラス基板上に
3,000〜6,000 A 厚の薄膜を作成した。
これ等の薄膜について、成膜の侭、200〜500℃の
範囲の温度で熱処理した。この熱処理した後の薄膜につ
いての磁気特性値を表−1に示した。
範囲の温度で熱処理した。この熱処理した後の薄膜につ
いての磁気特性値を表−1に示した。
この薄膜の磁気特性は、ターゲット組成、スパッタ条件
、熱処理条件によって著るしく影響を受けるが、表−1
の値はそれぞれの組成について得られた最良の特性値で
ある。
、熱処理条件によって著るしく影響を受けるが、表−1
の値はそれぞれの組成について得られた最良の特性値で
ある。
表−1に示されるように本発明合金はいずれも飽和磁束
密度(Bs)は13 KG以上と高く、しかも比較合金
に比べ実効透磁率(μeff)が改善されている。
密度(Bs)は13 KG以上と高く、しかも比較合金
に比べ実効透磁率(μeff)が改善されている。
(以下余白)
表−1
さらに、本発明に係る磁性薄膜は結晶質であるので熱安
定性に優れており、薄膜ヘッドの製造時に於ける加熱工
程で特製が劣化することはない。
定性に優れており、薄膜ヘッドの製造時に於ける加熱工
程で特製が劣化することはない。
(へン発明の効果
本発明に係る磁性薄膜は、高飽和磁束密度と優れた高周
波特性を有し、しかも熱安定性と耐食性にも優れている
。
波特性を有し、しかも熱安定性と耐食性にも優れている
。
したがって、例えば、8 m/mVTR,DAT及びI
(DDなとの高密度記録再生用の薄膜ヘッド用として、
また、例えば、HTGヘッド、MRヘッド等の磁気ヘッ
ド用として、或は、垂直磁気記録媒体の下地用として、
またスイッチング電源用等の高周波領域で使用される電
子機器の磁心として、また電源用として今後盤々必要と
なってくる超高周波領域で使用される磁性材料として非
常に有用であり、なかでも、高磁束密度が要求される場
合には非常に有用である。
(DDなとの高密度記録再生用の薄膜ヘッド用として、
また、例えば、HTGヘッド、MRヘッド等の磁気ヘッ
ド用として、或は、垂直磁気記録媒体の下地用として、
またスイッチング電源用等の高周波領域で使用される電
子機器の磁心として、また電源用として今後盤々必要と
なってくる超高周波領域で使用される磁性材料として非
常に有用であり、なかでも、高磁束密度が要求される場
合には非常に有用である。
Claims (4)
- (1) 組成が重量比でコバルト2%以下、ニッケルが
コバルトとの合計量で40〜55%、ニオブ及びタンタ
ルの一種以上が総量で0.5〜5.5%、残余が実質的
に鉄と不可避的不純物成分の組成よりなることを特徴と
する高周波磁気特性に優れる磁性薄膜。 - (2) 組成が重量比でコバルト2%以下、ニッケルが
コバルトとの合計量で40〜55%、ニオブ及びタンタ
ルの一種以上が総量で0.5〜5.5%、モリブデン、
バナジウム、クロム、タングステン及び銅のいずれか一
種又は二種以上が総量で0.1〜2%、チタン、ジルコ
ニウム及びハフニウムのいずれか一種又は二種以上を総
量で0.001〜0.5%、残余が実質的に鉄と不可避
的不純物成分の組成よりなることを特徴とする高周波磁
気特性に優れる磁性薄膜。 - (3) 組成が重量比でコバルト2%以下、ニッケルが
コバルトとの合計量で40〜55%、ニオブ及びタンタ
ルの一種以上が総量で0.5〜5.5%、銀、金、ルテ
ニウム、ロジウム、パラジウム及び白金のいずれか一種
又は二種類以上を総量で0.001〜2%、残余が実質
的に鉄と不可避的不純物成分の組成よりなることを特徴
とする高周波磁気特性に優れる磁性薄膜。 - (4) 組成が、重量比で、コバルト2%以下、ニッケ
ルがコバルトとの合計量で40〜55%、ニオブ及びタ
ンタルの一種以上が総量で0.5〜5.5%、モリブデ
ン、バナジウム、クロム、タングステン及び銅のいずれ
か一種又は二種以上が総量で0.1〜2%、チタン、ジ
ルコニウム及びハフニウムのいずれか一種又は二種以上
を総量で0.001〜0.5%、銀、金、ルテニウム、
ロジウム、パラジウム及び白金のいずれか一種又は二種
類以上を総量で0.001〜2%、残余が実質的に鉄と
不可避的不純物成分の組成よりなることを特徴とする高
周波磁気特性に優れる磁性薄膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20245189A JPH0368744A (ja) | 1989-08-04 | 1989-08-04 | 磁性薄膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20245189A JPH0368744A (ja) | 1989-08-04 | 1989-08-04 | 磁性薄膜 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0368744A true JPH0368744A (ja) | 1991-03-25 |
Family
ID=16457745
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20245189A Pending JPH0368744A (ja) | 1989-08-04 | 1989-08-04 | 磁性薄膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0368744A (ja) |
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|---|---|---|---|---|
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-
1989
- 1989-08-04 JP JP20245189A patent/JPH0368744A/ja active Pending
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