JPH0369130A - Resin-sealed type semiconductor device - Google Patents
Resin-sealed type semiconductor deviceInfo
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- JPH0369130A JPH0369130A JP1205928A JP20592889A JPH0369130A JP H0369130 A JPH0369130 A JP H0369130A JP 1205928 A JP1205928 A JP 1205928A JP 20592889 A JP20592889 A JP 20592889A JP H0369130 A JPH0369130 A JP H0369130A
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/721—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors
- H10W90/726—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
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- Wire Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は樹脂封止型半導体装置に関し、特にリード構造
に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a resin-sealed semiconductor device, and particularly to a lead structure.
従来、この種の樹脂封止型半導体装置は、集積回路が形
成された半導体チップの入出力端子である電極パッドに
金のはんだバンプを形成し、このはんだバンプに薄い金
属板で形成されたリードフレームのリードを接続し、こ
のリードフレームに接続された半導体チップを樹脂封止
して、その外郭体を形成していた。Conventionally, this type of resin-sealed semiconductor device has been made by forming gold solder bumps on electrode pads, which are the input/output terminals of a semiconductor chip on which an integrated circuit is formed, and attaching leads formed from a thin metal plate to the solder bumps. The leads of the frame were connected, and the semiconductor chip connected to the lead frame was sealed with a resin to form its outer body.
また、この樹脂封止型半導体装置に使用されるリードフ
レームは、薄い金属板、例えば、0.0Q7mmの銅板
から製作されていた。さらに、樹脂外郭体より突出する
リードフレームのリードを外力より保護するために、こ
の外郭体の内部周囲にキャリアリングと称する樹脂枠が
設けられていた。Further, the lead frame used in this resin-sealed semiconductor device was made from a thin metal plate, for example, a 0.0Q7 mm copper plate. Further, in order to protect the leads of the lead frame protruding from the resin outer shell from external forces, a resin frame called a carrier ring was provided around the inside of the outer shell.
しかしながら、上述した従来の樹脂封止型半導体装置で
は、リードフレームの板厚が薄いので、例えば、プリン
ト回路基板に実装するときにり−ドが曲るという欠点が
ある。また、実装後にも、機械的外力により、リードが
折れたり、樹脂外郭体より脱落したりするという欠点も
ある。さらに、キャリアリングのような樹脂枠を必要と
し、このため、樹脂封止金型の構造が複雑になるばかり
か、このためにコストが上昇するといった欠点もある。However, in the above-mentioned conventional resin-sealed semiconductor device, since the lead frame is thin, there is a drawback that, for example, the lead bends when mounted on a printed circuit board. Further, even after mounting, there is a drawback that the leads may break or fall off from the resin shell due to external mechanical force. Furthermore, a resin frame such as a carrier ring is required, which not only complicates the structure of the resin sealing mold but also increases costs.
このうえ、半導体チップの電極パッドに形成されるバン
プの材質が金であるという非常に高価の金属を使用して
いる欠点もある。Furthermore, there is also the disadvantage that the material of the bumps formed on the electrode pads of the semiconductor chip is gold, which is a very expensive metal.
本発明の目的は、かかる欠点を解決した樹脂封止型半導
体装置を提供することである。An object of the present invention is to provide a resin-sealed semiconductor device that solves these drawbacks.
本発明の樹脂封止型半導体装置は、入出力端子である電
極パッド上に形成されたはんだバンプを有する半導体チ
ップと、このはんだバンプに接続される薄い板厚の内部
リードとこの内部リードの板厚より厚い板厚であるとと
もに前記はんだバンプより低い融点のはんだで被覆され
た外部リードとをもち、かつ、前記内部リードと前記外
部リードとの間に突起あるいは穴を有するリードフレー
ムを備え構成される。The resin-sealed semiconductor device of the present invention includes a semiconductor chip having solder bumps formed on electrode pads serving as input/output terminals, a thin internal lead connected to the solder bump, and a plate of the internal lead. The lead frame has an outer lead that is thicker than the solder bump and is coated with a solder having a melting point lower than that of the solder bump, and has a protrusion or a hole between the inner lead and the outer lead. Ru.
〔実施例〕 次に、本発明について図面を参照して説明する。〔Example〕 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.
第1図及び第2図は本発明の一実施例を示す樹脂封止型
半導体装置の縦断面図及び横断面図である。本発明の樹
脂封止型半導体装置においては、同図に示すように、そ
のリードフレーム3の外部リード3aの厚さを内部リー
ド3bより厚さより厚くし、この外部リード3aと内部
リード3bの境目に幅を拡げるように突起6と穴5を設
けたことである。1 and 2 are a longitudinal sectional view and a transverse sectional view of a resin-sealed semiconductor device showing an embodiment of the present invention. In the resin-sealed semiconductor device of the present invention, as shown in the figure, the outer leads 3a of the lead frame 3 are made thicker than the inner leads 3b, and the boundary between the outer leads 3a and the inner leads 3b is The protrusion 6 and the hole 5 are provided to increase the width.
このリードフレーム3の外部リードの板厚をより厚くす
ることによって、外部リード3aの剛性を高くし、また
、突起6及び穴6を設けることによって樹脂封止後に外
部リードが脱落しないようにしたことである。By increasing the thickness of the external leads of this lead frame 3, the rigidity of the external leads 3a is increased, and by providing projections 6 and holes 6, the external leads are prevented from falling off after resin sealing. It is.
また、はんだバンプにおいては、安価で、接続の信頼性
が高い90%S n −10%pbの材料で製作したこ
とである。さらに、リードフレーム3の60%S n
−40%pbのはんだで被覆されている。ここで、前述
のリードフレーム3の外部リード3aの厚さを、例えば
、0.15mmとし、内部リード3bの厚さを、例えば
、0.035mmとしたことである。Furthermore, the solder bumps are made of a material of 90%S n -10%PB, which is inexpensive and has high connection reliability. Furthermore, 60%S n of lead frame 3
- Coated with 40% PB solder. Here, the thickness of the external lead 3a of the lead frame 3 described above is, for example, 0.15 mm, and the thickness of the internal lead 3b is, for example, 0.035 mm.
このリードフレームの製作に関しては、例えば、0.1
5mm板厚の銅箔をプレス型により打抜くと同時に内部
リードの部分を圧延する。次に、薄く圧延された内部リ
ード部をエツチング加工法で成形し、所要の内部リード
の形状を得る。このようにして得られたリードフレーム
に電解めっき法により60%5n−40%pbのはんだ
を被覆する。Regarding the production of this lead frame, for example, 0.1
A 5 mm thick copper foil is punched out using a press die, and at the same time the inner lead portion is rolled. Next, the thinly rolled inner lead portion is formed by an etching process to obtain the desired shape of the inner lead. The lead frame thus obtained is coated with 60% 5N-40% PB solder by electrolytic plating.
このようにして得られたリードフレームを使用して組立
られた半導体装置をプリント回路基板に実装するときは
、半導体装置をプリント回路基板に搭載し、190℃程
度に低温で加熱し、はんだをリフローして接続できるの
で、はんだバンプは再溶融することなく、安定した接続
を維持する。When mounting a semiconductor device assembled using the lead frame thus obtained on a printed circuit board, the semiconductor device is mounted on the printed circuit board, heated at a low temperature of about 190°C, and the solder is reflowed. The solder bumps maintain a stable connection without remelting.
第3図及び第4図は本発明の他の実施例を示す樹脂封止
型半導体装置の縦断面図及び横断面図である。本発明の
他の実施例での樹脂封止型半導体装置においては、同図
に示すように、リードフレームを厚さの異なる二枚の金
属板より、内部り−ド3dど外部リード3Cとを製作し
たことである。FIG. 3 and FIG. 4 are a longitudinal cross-sectional view and a cross-sectional view of a resin-sealed semiconductor device showing another embodiment of the present invention. In a resin-sealed semiconductor device according to another embodiment of the present invention, as shown in the figure, the lead frame is made of two metal plates with different thicknesses, and the internal leads 3d and external leads 3C are connected to each other. It was manufactured.
また、外部リード3Cの一端は折り曲げられ、脱落防止
機構を具備している。ここで、外部リード3cは、板厚
が0.15mmで、その表面を60%S n −40%
pbのはんだで被覆する。また、内部リード3dは、板
厚は、0.035mmで、その表面は90%S n −
10%pbのはんだで被覆されている。その他は、前述
の実施例と同じである。Further, one end of the external lead 3C is bent and provided with a mechanism to prevent falling off. Here, the external lead 3c has a plate thickness of 0.15 mm, and its surface is 60%S n -40%
Cover with pb solder. Further, the internal lead 3d has a plate thickness of 0.035 mm, and its surface is 90%S n -
It is coated with 10% PB solder. The rest is the same as the previous embodiment.
この実施例では、内部リードと外部リードとをそれぞれ
板厚の異なる銅箔をプレス加工して製作出来るので、前
述の実施例のように銅箔の一部を均一の板厚に圧延する
工程が不要になり、この実施例は、前述の実施例より製
造上有利である。In this embodiment, the internal leads and external leads can be manufactured by pressing copper foils with different thicknesses, so there is no need to roll a part of the copper foil to a uniform thickness as in the previous embodiment. This embodiment has manufacturing advantages over the previous embodiment.
以上説明したように本発明は、はんだバンプを成形する
はんだとプリント回路基板に実装する外部リードのはん
だとを融点の異なるはんだを用い、外部リードの板厚を
内部リードの板厚より厚くし、外部リードと内部リード
との境目に突起あるいは穴を設けることによって、外部
リードが曲がったり、脱落したりすることがない安価な
樹脂封止型半導体装置が得られるという効果がある。As explained above, the present invention uses solder for forming solder bumps and solder for external leads mounted on a printed circuit board with different melting points, and that the external leads are made thicker than the internal leads. By providing a projection or a hole at the boundary between the external lead and the internal lead, an inexpensive resin-sealed semiconductor device can be obtained in which the external lead does not bend or fall off.
第1図及び第2図は本発明の一実施例を示す樹脂封止型
半導体装置の縦断面図及び横断面図、第3図及び第4図
は本発明の他の実施例を示す樹脂封止型半導体装置の縦
断面図及び横断面図である。
1・・・半導体チップ、2・・・はんだバンプ、3・・
・リードフレーム、3a、3 c −外部リード、3b
、3C・・・内部リード、4・・・樹脂外郭体、5・・
・穴、6・・・突起。1 and 2 are longitudinal and transverse sectional views of a resin-sealed semiconductor device showing one embodiment of the present invention, and FIGS. 3 and 4 are resin-sealed semiconductor devices showing another embodiment of the present invention. FIG. 2 is a vertical cross-sectional view and a cross-sectional view of a stop type semiconductor device. 1... Semiconductor chip, 2... Solder bump, 3...
・Lead frame, 3a, 3c - External lead, 3b
, 3C...Internal lead, 4...Resin outer shell, 5...
・Hole, 6...Protrusion.
Claims (1)
プを有する半導体チップと、このはんだバンプに接続さ
れる薄い板厚の内部リードとこの内部リードの板厚より
厚い板厚であるとともに前記はんだバンプより低い融点
のはんだで被覆された外部リードとをもち、かつ、前記
内部リードと前記外部リードとの間に突起あるいは穴を
有するリードフレームを備えることを特徴とする樹脂封
止型半導体装置。A semiconductor chip having solder bumps formed on electrode pads serving as input/output terminals, an internal lead having a thin plate thickness connected to the solder bump, and a plate having a thickness thicker than that of the internal lead, and the solder bump. 1. A resin-sealed semiconductor device comprising a lead frame having an outer lead coated with a solder having a lower melting point and a protrusion or hole between the inner lead and the outer lead.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1205928A JP2765083B2 (en) | 1989-08-08 | 1989-08-08 | Resin-sealed semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1205928A JP2765083B2 (en) | 1989-08-08 | 1989-08-08 | Resin-sealed semiconductor device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0369130A true JPH0369130A (en) | 1991-03-25 |
| JP2765083B2 JP2765083B2 (en) | 1998-06-11 |
Family
ID=16515061
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1205928A Expired - Lifetime JP2765083B2 (en) | 1989-08-08 | 1989-08-08 | Resin-sealed semiconductor device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2765083B2 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0629149U (en) * | 1991-10-15 | 1994-04-15 | 新電元工業株式会社 | Resin-sealed semiconductor device |
| US5939776A (en) * | 1996-05-17 | 1999-08-17 | Lg Semicon Co., Ltd. | Lead frame structure having non-removable dam bars for semiconductor package |
-
1989
- 1989-08-08 JP JP1205928A patent/JP2765083B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0629149U (en) * | 1991-10-15 | 1994-04-15 | 新電元工業株式会社 | Resin-sealed semiconductor device |
| US5939776A (en) * | 1996-05-17 | 1999-08-17 | Lg Semicon Co., Ltd. | Lead frame structure having non-removable dam bars for semiconductor package |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2765083B2 (en) | 1998-06-11 |
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