JPH0369203B2 - - Google Patents

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JPH0369203B2
JPH0369203B2 JP57132975A JP13297582A JPH0369203B2 JP H0369203 B2 JPH0369203 B2 JP H0369203B2 JP 57132975 A JP57132975 A JP 57132975A JP 13297582 A JP13297582 A JP 13297582A JP H0369203 B2 JPH0369203 B2 JP H0369203B2
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JP
Japan
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attenuator
conductors
resistance
resistance attenuator
center
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP57132975A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5925401A (ja
Inventor
Fumikazu Suzuki
Mamoru Ando
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
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Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP13297582A priority Critical patent/JPS5925401A/ja
Publication of JPS5925401A publication Critical patent/JPS5925401A/ja
Publication of JPH0369203B2 publication Critical patent/JPH0369203B2/ja
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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P1/00Auxiliary devices
    • H01P1/22Attenuating devices
    • H01P1/227Strip line attenuators

Landscapes

  • Non-Reversible Transmitting Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、特に超高周波信号帯域においても
充分な減衰特性が得られる分布定数形の抵抗減衰
器に関するものである。
薄膜を利用した抵抗体は、分布定数形の回路に
形成するのが容易であり、かつ、その周波数特性
も良好であるから、直流からマイクロ波領域に至
るまで一定の減衰特性を持つ抵抗減衰器として実
用化されている。
第1図はかかる抵抗減衰器の1エレメントを斜
視図で示したもので、1は薄板状の誘電材基板、
2は該誘電材基板1の裏面に形成されているアー
ス導体である。3,4は該誘電材基板1の表面に
形成されている第1,第2の中心導体で、該第
1,第2の中心導体3,4の中間部には薄膜等で
形成されている抵抗体5が挾接されており、さら
に該抵抗体5は前記裏面のアース導体2と電気的
に接続されていて、所望間隔を維持して帯状に形
成された第1,第2のアース導体6,7と連接し
ている。10は、この第1,第2のアース導体
6,7の所望間隔の中央部に前記第1,第2の中
心導体3,4が配置され、かつ平行に形成されて
なる抵抗減衰器である。
したがつて、抵抗体5は、その左右の側辺が第
1,第2の中心導体3,4と接続されると同時に
上下の側辺がアース導体2にも接しているので、
等価的にはT形の抵抗減衰器を構成していると考
えることができる。
このような構造の抵抗減衰器は、誘電材基板1
を介在して第1,第2の中心導体3,4と、アー
ス導体2がストリツプラインを構成しているの
で、抵抗体5の分布抵抗をストリツプラインの特
性インピーダンスとマツチングするように定める
と、直流からマイクロ波領域に至るまで一定の特
性を持たせるように設計することができる。
しかしながら、このような抵抗減衰器に同軸ケ
ーブル等を接続する場合、又は切換え接片を配置
する場合に問題が発生する。
例えば、第2図に示すように第2の中心導体4
に、同軸ケーブル8の心線9を接続(半田付け)
すると、該接続部分はアース導体2に対して容量
が増加する。
すると、増加した容量は前記した特性インピー
ダンスに対し容量リアクタンス成分となり、接合
部分のインピーダンスが低下し、不整合の要因と
なる。
そのため、マイクロ波帯域では抵抗体5による
所定の減衰特性が得られない。
又、第3図は第1図に示したような抵抗減衰器
10をアース導体筐11内で複数個縦続接続し、
可変抵抗減衰器を構成したもので、アース導体筐
11の外側に付設されている励磁コイル12,1
2に流す電流によつて磁性体で形成されている中
心導体13,13を励磁するように構成されてい
る。この図で14,14は前記抵抗減衰器10と
同様な構成で形成されているスルー素子(抵抗体
5を除去して減衰量が零とされていて、第1,第
2の中心導体3,4が連続している)を示し、抵
抗減衰器10、スルー素子14には図示した極性
に着磁したマグネツト15が配置されている。そ
こで、前記励磁コイル12に直流電流を流すと、
磁性体で構成されている中心導体13,13の先
端が異なつた磁極となり、抵抗減衰器10側か、
又はスルー素子14側に吸い付けられる。
例えば、中心導体13,13が図示した磁極に
励磁されると、中心導体13,13は点線で示す
ように抵抗減衰器10の第1,第2の中心導体
3,4に接触し、入力端子Taの信号は、抵抗減
衰器10,10を通過して減衰され出力端子Tb
から所定の減衰をうけて出力される。
このように抵抗減衰器10が使用される場合
も、中心導体13,13が抵抗減衰器10の第
1,第2の中心導体3,4に接触したとき、この
接触部分でアース導体2に対する容量が付加さ
れ、第2図で説明したように特にマイクロ波領域
で不整合が発生し、所定の減衰特性が得られない
という問題がある。
この発明は、かかる問題点を解消すべくなされ
たもので、その目的とするところは使用周波数帯
域を拡大した分布定数形の抵抗減衰器を提供する
ものである。
以下、この発明の一実施例について第4図で説
明する。
この図において、1〜7の符号は第1図と同一
部分を示す。第1〜第2の中心導体3,4の斜線
を施した部分は前述したように抵抗減衰器10に
同軸ケーブル8の心線9を接続する部分、又は可
変減衰器とした場合に中心導体13が当接する接
触部分を示す。
この発明では、第1,第2の中心導体3,4の
中間部に長さがlの第1,第2の狭窄部3a,4
bを設けてある。
続いて、この第1,第2の狭窄部3a,4aの
作用効果について説明する。通常、第1,第2の
中心導体3,4の寸法はマイクロストリツプライ
ンの中心導体として特性インピーダンスを決定し
ている。しかしながら、前述したように、第1,
第2の中心導体3,4の斜線を施した部分は、抵
抗減衰器10を実際に使用する際に同軸ケーブル
8の心線9、又は接片が接続されこの部分のアー
ス導体に対する容量が増加する。
そこで、この増加した容量リアクタンス成分を
相殺するため、第1,第2の中心導体3,4の一
部分を誘導性リアクタンスを得ることができる所
定長lだけ幅狭に形成し、第1,第2の狭窄部3
a,4aを設ける。すなわち、該第1,第2の狭
窄部3a,4aを設けると、この部分では誘電材
基板1の裏面に設けられたアース導体2との間の
容量が所定の特性インピーダンスに必要な容量成
分に対して減少したことになり、この部分が誘導
成分として作用する。
したがつて、外部から付加されることによつて
増加した斜線部分の容量リアクタンス成分と、前
記狭窄部3a,4aで付加された誘導リアクタン
ス成分が相殺されることによつて、所定の特性イ
ンピーダンスに整合される。
このとき、斜線を施した接合部分を含む長さL
と、第1の狭窄部3aの長さlの和(L+l)は
誘電材基板1の誘電率をεとすると、最大使用周
波数の波長λに対し、λ/4√以内とすること
が必要である。
なお、第2の狭窄部4aにおいても同様である
ことはいうまでもない。
第5図は外形寸法が6×8で構成され、中心導
体の幅が0.68mmに設定された抵抗減衰器に、所定
の整合インピーダンスを持つたケーブル等を接続
し、前記した狭窄部を設けない場合の第5図aに
示すAと、lは0.5mm、幅0.2mmの狭窄部を設けた
場合の第5図bに示すBの不整合減酢量〔dB〕
を測定した実験データを第5図cに示したもの
で、横軸は測定周波数(GHz)、縦軸は不整合減
衰量〔20log{ej(入射波)/ei(反射波)}〕である
この実験データから、従来の抵抗減衰器の特性
Aが測定周波数が高くなると不整合減衰量が低
下、つまり反射波の割合が大きくなるのに対し、
この発明の狭窄部を設けた抵抗減衰器の特性Bは
測定周波数が2〜10GHzに至るまで不整合減衰量
が前記したA特性に比べて多く得られている。特
に測定周波数が8〜10GHzの間で顕著であり、従
来の抵抗減衰器においては反射波の割合が増大し
ていることに比して、この発明の抵抗減衰器にお
いては反射派の割合が増加していないことが分か
る。
以上説明したように、この発明の分布定数形抵
抗減衰器は、第1,第2の中心導体の接続端部
に、誘電材基板の誘電率をε、使用周波数の波長
をλとするときに、λ/4√より小さい範囲内
に狭窄部を設け、この狭窄部によつて、抵抗減衰
器に他の回路が接続されたときに生じる特性イン
ピーダンスの不整合を是正するようにしているか
ら、その抵抗特性が広い範囲で一定になり、使用
周波数の上限を拡大することができるという効果
がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の分布定数形の抵抗減衰器の斜視
図、第2図は同軸ケーブル等に抵抗減衰器を接続
した場合の斜視図、第3図は抵抗減衰器を複数個
接続して切換接点により減衰量を可変としたとき
の可変減衰器の断面図、第4図はこの発明の抵抗
減衰器の斜視図、第5図a,b,cは従来の抵抗
減衰器と、この発明の抵抗減衰器と、両者の不整
合減衰量の比較データである。 図中、1は誘電材基板、2はアース導体、3,
4は第1,第2の中心導体、3a,4aは第1,
第2の狭窄部、5は可変抵抗体、6,7は第1,
第2のアース導体を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 裏面をアース導体とした薄板状の誘電材基板
    の表面に、帯状の第1,第2のアース導体を形成
    し、前記第1,第2のアース導体に挾接された薄
    膜抵抗体と、該薄膜抵抗体に連接する第1,第2
    の中心導体からなる抵抗減衰器において、前記誘
    電材基板の誘電率をε、最大使用周波数の波長を
    λとしたとき、前記第1,第2の中心導体の接続
    端部からλ/4√より小さい範囲内に、前記接
    続端部における容量性リアクタンスによつて生じ
    るインピーダンス不整合を改善するための狭窄部
    を設けたことを特徴とする抵抗減衰器。
JP13297582A 1982-07-31 1982-07-31 抵抗減衰器 Granted JPS5925401A (ja)

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JP13297582A JPS5925401A (ja) 1982-07-31 1982-07-31 抵抗減衰器

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JP13297582A JPS5925401A (ja) 1982-07-31 1982-07-31 抵抗減衰器

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JPS5925401A JPS5925401A (ja) 1984-02-09
JPH0369203B2 true JPH0369203B2 (ja) 1991-10-31

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