JPH0370385U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例を示す要部斜視図、
第２図と第３図は同一実施例を示す装着状態の要
部断面図である。 図中、１はベース部材、２は凹状部、３は貫通
孔、４は接触片、５は湾曲部、６は押圧棒、７は
鍔、８はバネ、９はプリント基板、１０はＩＣ、
１１は電極脚である。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 電気製品のプリント基板に取付けるＩＣに
   あつて、同ＩＣに取付けられた複数個の電極脚と
   、同電極脚に当接する接触片を設けた測定装置に
   於いて、前記ＩＣを覆う凹状部を形成したベース
   部材を設け、同凹状部内と外側とに繋がる前記接
   触片を備え、前記凹状部内に突出した前記接触片
   を湾曲形成して連接し、前記外側に突出した前記
   接触片を千鳥状に配設し、前記電極脚に前記接触
   片を当接し、前記ベース部材の外側に突出した前
   記接触片に測定プローブを当接して前記ＩＣを測
   定して成ることを特徴とするＩＣ測定装置。 (2) 前記凹状部の側面に貫通する押圧棒を設け
   、前記凹状部内の同押圧棒にバネを捲回して設け
   、前記ＩＣに前記凹状部を被せ、前記ＩＣの側端
   に前記押圧棒を当接して成る請求項(1)記載のＩ
   Ｃ測定装置。 (3) 前記押圧棒にＵ字状を形成したバネの二辺
   を嵌挿して成る請求項(1)または(2)記載のＩＣ測
   定装置。 (4) 前記接触片が弾性を有する金属製から成る
   請求項(1)，(2)または(3)記載のＩＣ測定装置。 (5) 前記バネが弾性を有する金属製または樹脂
   製から成る請求項(1)，(2)，(3)または(4)記載の
   ＩＣ測定装置。 (6) 前記ベース部材が絶縁材料から成る請求項(
   1)，(2)，(3)，(4)または(5)記載のＩＣ測定装置
   。