JPH0375502A - 積層体のエッジ検出装置 - Google Patents
積層体のエッジ検出装置Info
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- JPH0375502A JPH0375502A JP21243889A JP21243889A JPH0375502A JP H0375502 A JPH0375502 A JP H0375502A JP 21243889 A JP21243889 A JP 21243889A JP 21243889 A JP21243889 A JP 21243889A JP H0375502 A JPH0375502 A JP H0375502A
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明の２枚の板ガラスをオートクレーブ処理前の不透
明な中間膜を介して重ね合わせた積層ガラスなど、透明
板と不透明膜を重合わせた積層体のエツジ検出装置に関
する。
明な中間膜を介して重ね合わせた積層ガラスなど、透明
板と不透明膜を重合わせた積層体のエツジ検出装置に関
する。
２枚の板ガラスをポリビニールブチラールなどの中間膜
を介して重ね合わせた積層ガラスのエツジを正確に検出
することは、タフキングロール等により、予備接着する
前などにおいて、はみ出した中間膜を自動的に適切量切
断する際であっても、位置決めをして、エツジを検出す
ることなく、切断するようにしていたので、適切な方法
がなかった。
を介して重ね合わせた積層ガラスのエツジを正確に検出
することは、タフキングロール等により、予備接着する
前などにおいて、はみ出した中間膜を自動的に適切量切
断する際であっても、位置決めをして、エツジを検出す
ることなく、切断するようにしていたので、適切な方法
がなかった。
しいて挙げれば実開昭５４−４４５８８号などにレーザ
ー光源を板ガラスに照射してその透過光によって傷など
の欠点を検出することを目的としてガラスエツジ部分に
おいて透過光が急激に変化するということが開示されて
いる。また、本出願人が特願昭６３−１０８３７号とし
て出願した、レーザー光をガラスエツジ部のシーミング
部分に照射してその反射光によってエツジを検出する装
置がある。
ー光源を板ガラスに照射してその透過光によって傷など
の欠点を検出することを目的としてガラスエツジ部分に
おいて透過光が急激に変化するということが開示されて
いる。また、本出願人が特願昭６３−１０８３７号とし
て出願した、レーザー光をガラスエツジ部のシーミング
部分に照射してその反射光によってエツジを検出する装
置がある。
しかしながら、いずれも単板ガラスのエッジを検出する
装置であって、本発明の対象物すなわち透明板と透光性
不透明膜を重ね合わせた積層体に応用しても、前者にあ
っては不透明部分で透過光が拡散してしまい測定不能で
あり、後者にあっては、光源側の板ガラスエツジの検出
は可能であるが、反光源側の板ガラスエツジは中間膜が
介在しているので不可能である。
装置であって、本発明の対象物すなわち透明板と透光性
不透明膜を重ね合わせた積層体に応用しても、前者にあ
っては不透明部分で透過光が拡散してしまい測定不能で
あり、後者にあっては、光源側の板ガラスエツジの検出
は可能であるが、反光源側の板ガラスエツジは中間膜が
介在しているので不可能である。
本発明はこのような点に鑑みてなされたもので、板ガラ
スなどの透明板と、合わせ処理を行なう前のポリビニー
ルブチラール膜なとの透光性不透明膜を重ね合わせた積
層体のエツジを確実に検出できる装置を提供することを
目的とする。
スなどの透明板と、合わせ処理を行なう前のポリビニー
ルブチラール膜なとの透光性不透明膜を重ね合わせた積
層体のエツジを確実に検出できる装置を提供することを
目的とする。
本発明は、透明板と透光性不透明膜を重ね合わせた積層
体のエツジ検出装置において、一定方向の光を該積層体
エツジに照射する光源と、該エツジ部を透過した光を受
光するセンサーと、センサーとエツジ間に設けられ、前
記不透明膜に生じた影像をセンサーに結像させる凸レン
ズと、前記センサーの出力の変化により積層体エツジを
演算する画像処理装置を具備せしめたことを特徴とする
。
体のエツジ検出装置において、一定方向の光を該積層体
エツジに照射する光源と、該エツジ部を透過した光を受
光するセンサーと、センサーとエツジ間に設けられ、前
記不透明膜に生じた影像をセンサーに結像させる凸レン
ズと、前記センサーの出力の変化により積層体エツジを
演算する画像処理装置を具備せしめたことを特徴とする
。
第１図に示すように、一定方向の光を積層体エツジ部に
照射すると光源側透明板のシーミング部に影Ｓ１を生じ
、不透明膜に影像Ｓ２として投影される。また、反光源
側透明板には、不透明膜が透光性であるので、減光はさ
れるが、シーミング部分に影Ｓ”を生ずる。本発明者ら
はこれらの影に着目することにより積層体のエツジ検出
が可能であることを見出したもので、受光センサーとの
間に凸レンズを介在させ、影像Ｓ２、Ｓ“を受光センサ
ーに結像させるような位置に配設して、受光センサーの
出力が急激に低下するところを積層体のエツジとして検
出するもので光源側は勿論、反光源側の透明板のエツジ
も検出することができる。
照射すると光源側透明板のシーミング部に影Ｓ１を生じ
、不透明膜に影像Ｓ２として投影される。また、反光源
側透明板には、不透明膜が透光性であるので、減光はさ
れるが、シーミング部分に影Ｓ”を生ずる。本発明者ら
はこれらの影に着目することにより積層体のエツジ検出
が可能であることを見出したもので、受光センサーとの
間に凸レンズを介在させ、影像Ｓ２、Ｓ“を受光センサ
ーに結像させるような位置に配設して、受光センサーの
出力が急激に低下するところを積層体のエツジとして検
出するもので光源側は勿論、反光源側の透明板のエツジ
も検出することができる。
なお、透明板にシーミングが施されていると影が明確に
なり好ましいが、シーミングされていない場合であって
も端面に、一定方向の光を平行でなく傾斜して照射させ
ると端面の影が生ずるので同様に検出することができる
。
なり好ましいが、シーミングされていない場合であって
も端面に、一定方向の光を平行でなく傾斜して照射させ
ると端面の影が生ずるので同様に検出することができる
。
以下、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明の好適な実施例を示す概略構成と受光セ
ンサーの出力を示す図である。
ンサーの出力を示す図である。
上は、透明板２．２”としての２枚の略四辺形の板ガラ
スをオートクレーブ処理をする前のポリビニールブチラ
ールなどの中間膜と呼ばれる透光性不透明膜３を介して
重ね合わせた積層体である。
スをオートクレーブ処理をする前のポリビニールブチラ
ールなどの中間膜と呼ばれる透光性不透明膜３を介して
重ね合わせた積層体である。
エツジ検出装置工はハロゲン入りタングステン電球など
の光源５と、凸レンズ６・と受光センサー７を一体の構
成とし、先端に１０１ｉφの穴を有するフード（図示し
ない〉を外乱光を遮断する目的で装着したＩＴＶカメラ
と、画像処理装置８とから構成され、積層体との距離は
、光源５を１．０〜２ｍ、Ｉ ＴＶカメラを１０Ｃ１１
前後とする。
の光源５と、凸レンズ６・と受光センサー７を一体の構
成とし、先端に１０１ｉφの穴を有するフード（図示し
ない〉を外乱光を遮断する目的で装着したＩＴＶカメラ
と、画像処理装置８とから構成され、積層体との距離は
、光源５を１．０〜２ｍ、Ｉ ＴＶカメラを１０Ｃ１１
前後とする。
また、透光性不透明膜３のはみ出し量が大きく垂直に垂
れ下る場合など、エツジの検出が困難となるめで必要に
応じ下方からはみ出し部分に空気を吹きつける空気源な
どを付加すればよい。
れ下る場合など、エツジの検出が困難となるめで必要に
応じ下方からはみ出し部分に空気を吹きつける空気源な
どを付加すればよい。
次に作動を説明する。
タッキングロールにより予備接着する前の工程において
、図示しない位置決め装置により位置決めされた積層ガ
ラスは第１図に示すように配設される。光＋！１５が点
灯して、ＩＴＶカメラの焦点を透光性不透明膜に合わせ
ると作用の項で説明した原理により透明板状体２と２°
のエツジは、それぞれ受光センサーの出力の２ケ所にお
ける極小部Ｍ、Ｍ″として示され、この出力を画像処理
装置８により演算してエツジを検出する。
、図示しない位置決め装置により位置決めされた積層ガ
ラスは第１図に示すように配設される。光＋！１５が点
灯して、ＩＴＶカメラの焦点を透光性不透明膜に合わせ
ると作用の項で説明した原理により透明板状体２と２°
のエツジは、それぞれ受光センサーの出力の２ケ所にお
ける極小部Ｍ、Ｍ″として示され、この出力を画像処理
装置８により演算してエツジを検出する。
この結果から明らかなように、本発明は２枚の透明板の
エツジを同時に検出できるので板ずれも演算することが
できる。この板ずれが許容範囲を超えていれば次工程に
は送らず不良品として処理される。この板ずれが許容範
囲内にあるときには、別のエツジ検出装置を併用するこ
とにより、複数のエツジを検出して、この結果から略四
辺形の積層ガラス輪郭を演算、はみ出している中間膜は
ロボツト等により駆動される切断刃により自動的に切断
される。このとき、積層ガラスのエツジが正確に演算さ
れるので、切断刃と積層ガラスエツジが接触してエツジ
破損、切断刃の損傷等が生ずることがない。
エツジを同時に検出できるので板ずれも演算することが
できる。この板ずれが許容範囲を超えていれば次工程に
は送らず不良品として処理される。この板ずれが許容範
囲内にあるときには、別のエツジ検出装置を併用するこ
とにより、複数のエツジを検出して、この結果から略四
辺形の積層ガラス輪郭を演算、はみ出している中間膜は
ロボツト等により駆動される切断刃により自動的に切断
される。このとき、積層ガラスのエツジが正確に演算さ
れるので、切断刃と積層ガラスエツジが接触してエツジ
破損、切断刃の損傷等が生ずることがない。
その後、タッキングロールで予備接着、オートクレーブ
で本接着され、中間膜は透明となり合わせガラスが得ら
れる。
で本接着され、中間膜は透明となり合わせガラスが得ら
れる。
以上、好適な実施例により説明したが本発明はこれに限
定されるものではなく、種々の応用が可能である。
定されるものではなく、種々の応用が可能である。
積層体については、板ガラスとポリビニールブチラール
の組み合わせ以外にも、透明板としてはポリカーボネー
ト等の各種の透明樹脂板、透光性不透明膜としてはエチ
レン−酢ビポリマーなども使用することができ、この場
合に実施例の３層構造以外にも、２層あるいはその辺の
多層構造としてもよい。
の組み合わせ以外にも、透明板としてはポリカーボネー
ト等の各種の透明樹脂板、透光性不透明膜としてはエチ
レン−酢ビポリマーなども使用することができ、この場
合に実施例の３層構造以外にも、２層あるいはその辺の
多層構造としてもよい。
光源については各種の電球のほかレーザー光源を使用す
ることができる。電球を使用する場合には少なくとも１
ｍ以上離して点光源と見做しうるようにするか、光源と
の距離が焦点距離となるように凸レンズを介在させ、積
層体へ平行光線で照射するようにしてもよい。
ることができる。電球を使用する場合には少なくとも１
ｍ以上離して点光源と見做しうるようにするか、光源と
の距離が焦点距離となるように凸レンズを介在させ、積
層体へ平行光線で照射するようにしてもよい。
また、凸レンズと受光センサーの組み合せとしてはＩＴ
Ｖカメラ以外にもイメージセンサ−を使用したものであ
ってもよい。
Ｖカメラ以外にもイメージセンサ−を使用したものであ
ってもよい。
本発明のエツジ検出装置は光源として一般の電球、受光
センサーも汎用品を使用するもので、精密な駆動装置を
必要とするものではないので、安価で、簡便であり、し
かも透明板と透光性不透明膜を重ね合わせた積層体のエ
ツジを正確に検出することができるものである。
センサーも汎用品を使用するもので、精密な駆動装置を
必要とするものではないので、安価で、簡便であり、し
かも透明板と透光性不透明膜を重ね合わせた積層体のエ
ツジを正確に検出することができるものである。
第１図は本発明の好適な実施例を示す概略構成と受光セ
ンサーの出力を示す図である。 土−積層体 ３−透光性不透明膜 ５−光源 ７−受光センサー ２．２°−透明板 ニーエツジ検出装置 ６−凸レンズ ８−画像処理装置 第１図
ンサーの出力を示す図である。 土−積層体 ３−透光性不透明膜 ５−光源 ７−受光センサー ２．２°−透明板 ニーエツジ検出装置 ６−凸レンズ ８−画像処理装置 第１図
Claims (1)
- 透明板と透光性不透明膜を重ね合わせた積層体のエッジ
検出装置において、一定方向の光を該積層体エッジに照
射する光源と、該エッジ部を透過した光を受光するセン
サーと、センサーとエッジ間に設けられ、前記不透明膜
に生じた影像をセンサーに結像させる凸レンズと、前記
センサーの出力の変化により積層体エッジを演算する画
像処理装置を具備せしめたことを特徴とする積層体のエ
ッジ検出装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21243889A JPH0375502A (ja) | 1989-08-18 | 1989-08-18 | 積層体のエッジ検出装置 |
| US07/567,906 US5115142A (en) | 1989-08-18 | 1990-08-15 | Device for detecting edge of transparent sheet of laminated transparent and translucent sheet assembly |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21243889A JPH0375502A (ja) | 1989-08-18 | 1989-08-18 | 積層体のエッジ検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0375502A true JPH0375502A (ja) | 1991-03-29 |
Family
ID=16622608
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21243889A Pending JPH0375502A (ja) | 1989-08-18 | 1989-08-18 | 積層体のエッジ検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0375502A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007052360A1 (ja) * | 2005-11-07 | 2007-05-10 | Fujitsu Limited | 積層状態検査装置、積層状態検査方法および積層状態検出プログラム |
| JP2007278925A (ja) * | 2006-04-10 | 2007-10-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 回転角度検出装置 |
| JP2015176699A (ja) * | 2014-03-14 | 2015-10-05 | 株式会社豊田自動織機 | シート状物の積層装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61160004A (ja) * | 1985-01-09 | 1986-07-19 | Toshiba Corp | パタ−ンエツジ測定方法および装置 |
| JPS62200206A (ja) * | 1986-02-27 | 1987-09-03 | Toyo Denshi Kk | 透明フィルムのエッジ検出装置 |
-
1989
- 1989-08-18 JP JP21243889A patent/JPH0375502A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61160004A (ja) * | 1985-01-09 | 1986-07-19 | Toshiba Corp | パタ−ンエツジ測定方法および装置 |
| JPS62200206A (ja) * | 1986-02-27 | 1987-09-03 | Toyo Denshi Kk | 透明フィルムのエッジ検出装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007052360A1 (ja) * | 2005-11-07 | 2007-05-10 | Fujitsu Limited | 積層状態検査装置、積層状態検査方法および積層状態検出プログラム |
| US7561259B2 (en) | 2005-11-07 | 2009-07-14 | Fujitsu Limited | Lamination status inspecting apparatus, lamination status inspecting method, and recording medium storing lamination status detecting program |
| JP4691562B2 (ja) * | 2005-11-07 | 2011-06-01 | 富士通株式会社 | 積層状態検査装置、積層状態検査方法および積層状態検出プログラム |
| JP2007278925A (ja) * | 2006-04-10 | 2007-10-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 回転角度検出装置 |
| JP2015176699A (ja) * | 2014-03-14 | 2015-10-05 | 株式会社豊田自動織機 | シート状物の積層装置 |
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