JPH0375571A - 交流電流測定法 - Google Patents
交流電流測定法Info
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- JPH0375571A JPH0375571A JP21059889A JP21059889A JPH0375571A JP H0375571 A JPH0375571 A JP H0375571A JP 21059889 A JP21059889 A JP 21059889A JP 21059889 A JP21059889 A JP 21059889A JP H0375571 A JPH0375571 A JP H0375571A
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- conductors
- alternating current
- conductor
- distance
- voltage
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野コ
本発明は、交流電流測定法に関するものである。
［従来の技術］
交流電流測定法としては、電流変成器方式、シャント方
式等があるが、本発明はシャント方式の交流電流測定法
の改良に関、するものである。
式等があるが、本発明はシャント方式の交流電流測定法
の改良に関、するものである。
従来のシャント方式による交流電流測定法は、第４図に
示すように、導体１に電流Ｉを流し、該導体１における
距離ｑを隔てた任意の２点Ａ、 ８間の電圧Ｖを測定
し、既知の２点Ａ、 ８間（間隔ｑ）の抵抗Ｒより電
流■をＩ＝Ｖ／Ｒから求める方法である。
示すように、導体１に電流Ｉを流し、該導体１における
距離ｑを隔てた任意の２点Ａ、 ８間の電圧Ｖを測定
し、既知の２点Ａ、 ８間（間隔ｑ）の抵抗Ｒより電
流■をＩ＝Ｖ／Ｒから求める方法である。
［発明が解決しようとする課題］
しかしながら、従来のシャント方式による交流電流測定
法は、交流電流の実効値の測定に使用されていたため、
電圧と電流との位相差問題等に十分な配慮がなされてい
ないのが現状であった。従来のシャント方式で位相情報
を含む電流情報を正確に測定するためには、第４図に示
す導体１におけるインダクタンスを別途測定しておき、
位相補正、インピーダンス補正を行う必要がある。また
、正弦波交流以外の交流電流を測定するためには、極め
て複雑な補正方法または補正計算が必要となる等の問題
点があった。
法は、交流電流の実効値の測定に使用されていたため、
電圧と電流との位相差問題等に十分な配慮がなされてい
ないのが現状であった。従来のシャント方式で位相情報
を含む電流情報を正確に測定するためには、第４図に示
す導体１におけるインダクタンスを別途測定しておき、
位相補正、インピーダンス補正を行う必要がある。また
、正弦波交流以外の交流電流を測定するためには、極め
て複雑な補正方法または補正計算が必要となる等の問題
点があった。
本発明の目的は、インダクタンス分を低減し、商用周波
数及びその近傍の周波数では事実上補正なしで精度の高
い電流測定を行うことができる交流電流測定法を提供す
ることにある。
数及びその近傍の周波数では事実上補正なしで精度の高
い電流測定を行うことができる交流電流測定法を提供す
ることにある。
［課題を解決するための手段］
上記の目的を達成するための本発明の手段を説明すると
、本発明の交流電流測定法は、導体を互いに近接させて
平行に配置し、且つ前記近接させた導体に値が等しく方
向が互いに反対の交流電流を流し、いずれか一方の側の
前記導体の任意の２点間の電圧を測定し、その測定値か
ら前記導体に流れる交流電流の値を求めることを特徴と
する。
、本発明の交流電流測定法は、導体を互いに近接させて
平行に配置し、且つ前記近接させた導体に値が等しく方
向が互いに反対の交流電流を流し、いずれか一方の側の
前記導体の任意の２点間の電圧を測定し、その測定値か
ら前記導体に流れる交流電流の値を求めることを特徴と
する。
［作用］
このような測定法をとると、インダクタンスによる影響
を可及的に小さくして交流電流の測定が行える。
を可及的に小さくして交流電流の測定が行える。
［実施例コ
以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する
。
。
第１図及び第２図に示すように、本実施例の交流電流測
定法は、導体ＩＡ、ＩＢを互いに近接させて平行に配置
し、且つこれら接近させた導体１Ａ、ＩＢに値が等しく
方向が互いに反対の交流電流Ｉが流せるように短絡部１
０等の手段を設け、いずれか一方の側の導体９例えば導
体ＩＢにおける距離ｑを隔てた任意の２点Ａ、 ８間
の電圧を測定し、その測定値から該導体ＩＢに流れる交
流電流■の値を求める。
定法は、導体ＩＡ、ＩＢを互いに近接させて平行に配置
し、且つこれら接近させた導体１Ａ、ＩＢに値が等しく
方向が互いに反対の交流電流Ｉが流せるように短絡部１
０等の手段を設け、いずれか一方の側の導体９例えば導
体ＩＢにおける距離ｑを隔てた任意の２点Ａ、 ８間
の電圧を測定し、その測定値から該導体ＩＢに流れる交
流電流■の値を求める。
原理の説明を簡明にするため、長さｑ、半径ａの棒状の
導体１Ａの例について説明すれば、インダクタンスＬは
次式により表わされる。
導体１Ａの例について説明すれば、インダクタンスＬは
次式により表わされる。
Ｌ＝（μｏＱ／８π）＋
（μｏＱ／２π）（Ｊ２ｎ （２ｇ／ａ）−１）・・・
（１） （１）式で、右辺の第１項は導体ＩＡに交流電流■を流
した時の導体１Ａの内部磁界によるもので、半径ａの大
小に無関係な一定値で、交流電流の流れる物体自体の存
在によるもので、その値を増減することは不可能である
。
（１） （１）式で、右辺の第１項は導体ＩＡに交流電流■を流
した時の導体１Ａの内部磁界によるもので、半径ａの大
小に無関係な一定値で、交流電流の流れる物体自体の存
在によるもので、その値を増減することは不可能である
。
（１）式で、右辺の第２項は導体ＩＡの外部磁界による
もので、この項を小さくすることを本発明者等は検討し
た結果、本発明の構成によれば半径ａ、 ｂの２本の
導体ＩＡ、ＩＢが中心間隔ｄを隔てて存在する場合のイ
ンダクタンスＬは、Ｌ＝（μａＱ／８π）＋ （μｏｑ／２π）Ｊ２ｎ（ｄ−ｂ）／ａ ・・・（２
）となり、この（２）式でｄを（ａ＋ｂ）とすることに
より、第２項が消滅し、（１）式で右辺第２項を消去し
たものと同じになることを発見し、本発明の測定法が生
まれるに至ったものである。
もので、この項を小さくすることを本発明者等は検討し
た結果、本発明の構成によれば半径ａ、 ｂの２本の
導体ＩＡ、ＩＢが中心間隔ｄを隔てて存在する場合のイ
ンダクタンスＬは、Ｌ＝（μａＱ／８π）＋ （μｏｑ／２π）Ｊ２ｎ（ｄ−ｂ）／ａ ・・・（２
）となり、この（２）式でｄを（ａ＋ｂ）とすることに
より、第２項が消滅し、（１）式で右辺第２項を消去し
たものと同じになることを発見し、本発明の測定法が生
まれるに至ったものである。
本発明は導体の断面形状に関係なく成立させるものであ
る。
る。
実用上は、導体ＩＡ、ＩＢ間に絶縁層が必要であるが、
該絶縁層としては家庭用ラップフィルム（厚さ１５μｍ
）や変圧器巻線用絶縁皮膜等を使用することが可能であ
り、この厚みが導体ＩＡ、ＩＢ間に介在したとして計算
しても、（２）式の右辺第２項の値は消滅不可能な第■
項の値の０．４％以下となる（この場合、ａ＝ １．９
ｍｍ、 ｂ＝ ｆ、（１ｍｍとして計算した。）。
該絶縁層としては家庭用ラップフィルム（厚さ１５μｍ
）や変圧器巻線用絶縁皮膜等を使用することが可能であ
り、この厚みが導体ＩＡ、ＩＢ間に介在したとして計算
しても、（２）式の右辺第２項の値は消滅不可能な第■
項の値の０．４％以下となる（この場合、ａ＝ １．９
ｍｍ、 ｂ＝ ｆ、（１ｍｍとして計算した。）。
以上説明した原理の正否を検証するために、比抵抗の異
なる複数の資料について複数の測定方法によって実測し
た結果、本発明の原理が正しいことを確認した。
なる複数の資料について複数の測定方法によって実測し
た結果、本発明の原理が正しいことを確認した。
本発明はシャント方式を構成する複数の組を第３図の如
く−まとめにして主電流Ｉの出入口とするような複合構
成を取ると、この場合には、電圧測定点間の抵抗を１組
構酸の場合の電圧測定点間の抵抗より太き（取ることが
可能となり、インダクタンス分は同じでも抵抗分の増加
分により位相差を小さくすることができる。
く−まとめにして主電流Ｉの出入口とするような複合構
成を取ると、この場合には、電圧測定点間の抵抗を１組
構酸の場合の電圧測定点間の抵抗より太き（取ることが
可能となり、インダクタンス分は同じでも抵抗分の増加
分により位相差を小さくすることができる。
［発明の効果］
以上説明したように本発明に係る交流電流測定法によれ
ば、インダクタンス分を低減でき、インダクタンスに対
する特別な補正計算をしないで精度の高い交流電流の測
定が行える利点がある。本発明によれば、低インダクタ
ンスなシャント方式による交流電流測定が可能になり、
正確な位相情報を必要とする各種計測、例えば電力測定
等に多大な貢献が期待される。
ば、インダクタンス分を低減でき、インダクタンスに対
する特別な補正計算をしないで精度の高い交流電流の測
定が行える利点がある。本発明によれば、低インダクタ
ンスなシャント方式による交流電流測定が可能になり、
正確な位相情報を必要とする各種計測、例えば電力測定
等に多大な貢献が期待される。
第１図は本発明の測定原理を示す説明図、第２図は第１
図の右側面図、第３図は本発明の測定方法を実施する導
体構造の他の例を示す斜視図、第４図は従来の測定方法
を示す説明図である。 １．１Ａ、ＩＢ・・・導体、１Ｃ・・・短絡部。
図の右側面図、第３図は本発明の測定方法を実施する導
体構造の他の例を示す斜視図、第４図は従来の測定方法
を示す説明図である。 １．１Ａ、ＩＢ・・・導体、１Ｃ・・・短絡部。
Claims (1)
- 導体を互いに近接させて平行に配置し、且つ前記近接さ
せた導体に値が等しく方向が互いに反対の交流電流を流
し、いずれか一方の側の前記導体の任意の２点間の電圧
を測定し、その測定値から前記導体に流れる交流電流の
値を求めることを特徴とする交流電流測定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21059889A JPH0375571A (ja) | 1989-08-17 | 1989-08-17 | 交流電流測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21059889A JPH0375571A (ja) | 1989-08-17 | 1989-08-17 | 交流電流測定法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0375571A true JPH0375571A (ja) | 1991-03-29 |
Family
ID=16591978
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21059889A Pending JPH0375571A (ja) | 1989-08-17 | 1989-08-17 | 交流電流測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0375571A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007008024A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Anyk:Kk | パソコン用カレンダー装置 |
-
1989
- 1989-08-17 JP JP21059889A patent/JPH0375571A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007008024A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Anyk:Kk | パソコン用カレンダー装置 |
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