JPH0376713B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0376713B2 JPH0376713B2 JP58117672A JP11767283A JPH0376713B2 JP H0376713 B2 JPH0376713 B2 JP H0376713B2 JP 58117672 A JP58117672 A JP 58117672A JP 11767283 A JP11767283 A JP 11767283A JP H0376713 B2 JPH0376713 B2 JP H0376713B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coil
- transient response
- circuit
- ideal
- voltage waveform
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、電磁弁コイル、モータコイル、発電
機コイル、トランス等の各種のコイルの良否を判
定する装置に係り、特に各種コイルのレアーシユ
ート（層間短絡）、誤結線、捲数誤差を迅速にか
つ正確に判別し得る判定装置に関する。
機コイル、トランス等の各種のコイルの良否を判
定する装置に係り、特に各種コイルのレアーシユ
ート（層間短絡）、誤結線、捲数誤差を迅速にか
つ正確に判別し得る判定装置に関する。
従来、コイルの良否を判定するにはＱメータに
より行うことが知られるところである。即ち、判
定すべきコイルにコンデンサを接続し、該コイル
の自己インダクタンスをＬ、抵抗分をＲとし、又
コンデンサの容量をＣとしたときωoL／Ｒ＝１／
ωoCRで定まるＱの値を計測して、判別してい
た。しかしながら、従来のＱメータによる方式で
は、計測されたＱの値によりレアーシユートや捲
数誤差等の不具合の発生を判別することは容易な
ことではなく、計測者の勘に頼つているのが現状
で、迅速かつ正確な判定を期待できず、判定作業
の能率も悪いといつた欠点があつた。更に近年コ
イルスコープなるものも使用されるに至つている
が、該コイルスコープは、良品のコイルと計測す
べきコイルとの過渡応答特性をスコープ面に映像
させて目視により比較し、これにより計測すべき
コイルの良否を判定しているが、コイルの良否を
判定するに際して、該判定すべきコイルの他に、
良品のコイルをもその都度選定して接続しなけれ
ばならず、判定作業が煩瑣であるばかりか、目視
により良否を判定するものであるから、製造工程
等自動ライン中に組込んで自動的に良品の判定を
行うことができず、作業能率が悪いといつた問題
もあつた。
より行うことが知られるところである。即ち、判
定すべきコイルにコンデンサを接続し、該コイル
の自己インダクタンスをＬ、抵抗分をＲとし、又
コンデンサの容量をＣとしたときωoL／Ｒ＝１／
ωoCRで定まるＱの値を計測して、判別してい
た。しかしながら、従来のＱメータによる方式で
は、計測されたＱの値によりレアーシユートや捲
数誤差等の不具合の発生を判別することは容易な
ことではなく、計測者の勘に頼つているのが現状
で、迅速かつ正確な判定を期待できず、判定作業
の能率も悪いといつた欠点があつた。更に近年コ
イルスコープなるものも使用されるに至つている
が、該コイルスコープは、良品のコイルと計測す
べきコイルとの過渡応答特性をスコープ面に映像
させて目視により比較し、これにより計測すべき
コイルの良否を判定しているが、コイルの良否を
判定するに際して、該判定すべきコイルの他に、
良品のコイルをもその都度選定して接続しなけれ
ばならず、判定作業が煩瑣であるばかりか、目視
により良否を判定するものであるから、製造工程
等自動ライン中に組込んで自動的に良品の判定を
行うことができず、作業能率が悪いといつた問題
もあつた。
そこで、本発明は、上記事情に鑑み、近年各種
の分野に利用されるに至つているマイクロコンピ
ユータを効果的に応用することで、コイルの良否
の判定結果を直読し得て、何等熟練を要すること
なく迅速にかつ正確に判定でき、作業能率の向上
を図り得る各種コイルの判定装置を提供すること
を目的とする。
の分野に利用されるに至つているマイクロコンピ
ユータを効果的に応用することで、コイルの良否
の判定結果を直読し得て、何等熟練を要すること
なく迅速にかつ正確に判定でき、作業能率の向上
を図り得る各種コイルの判定装置を提供すること
を目的とする。
本発明は、上記目的を達成すべく、判定すべき
コイルにサージ電圧を供与するサージ電圧発生回
路と、該コイルの理想的な過渡応答波形がデイジ
タル符号化されて予め記憶されたマイクロコンピ
ユータとを有し、マイクロコンピユータが前記サ
ージ電圧の供与により判定すべきコイルに生ずる
過渡応答波形をデイジタル符号化した後、予め記
憶された理想的なコイルの過渡応答波形における
デイジタル符号と比較演算をし、該演算結果を出
力する各種コイルの判定装置を特徴とするもので
ある。
コイルにサージ電圧を供与するサージ電圧発生回
路と、該コイルの理想的な過渡応答波形がデイジ
タル符号化されて予め記憶されたマイクロコンピ
ユータとを有し、マイクロコンピユータが前記サ
ージ電圧の供与により判定すべきコイルに生ずる
過渡応答波形をデイジタル符号化した後、予め記
憶された理想的なコイルの過渡応答波形における
デイジタル符号と比較演算をし、該演算結果を出
力する各種コイルの判定装置を特徴とするもので
ある。
以下、本発明に係る各種コイルの判定装置の一
実施例を図面に基づき説明する。ます、判定装置
の原理を第１図及び第２図について説明すれば、
第１図に示す如く、自己インダクタンスL1と抵
抗分R1とを有する判定されるべきコイルLXに、
浮遊容量をも含めて容量が既知のコンデンサCSを
付加し、該回路にスイツチSW1を介してデイスチ
ヤージ用のコンデンサC0を接続する。コンデン
サC0には予め所定の電圧ESをチヤージしておく。
そして、スイツチSW1を投入すれば、コンデンサ
C0の電圧ESがスイツチSW1を経て、コンデンサ
CSとコイルLXとに供与され、該コイルLXの両端
には、第２図に示す如き過渡応答電圧波形が生ず
る。前記コイルLXとコンデンサCSとがR1 2＜4L1
＜CSなる条件の満たして振動的ならば、第２図に
おける過渡応答電圧波形の振動周波数ｆはｆ≒1/
２π√1 Sとなる。又第２図において、互いに隣
り合う波高のピーク値の比をとれば、E2／E1＝
E3／E2＝ｅ−π／2Qとなる。但し、Ｑ＝ωL1／R1で ある。従つて、過渡応答波形からＱとインダクタ
ンスL1とを求めることができ、コイルLXの良否
を判定できる。例えば所定の捲数に対して、相違
する場合、所謂捲数違いの時には、インダクタン
スL1が相違することから所定の捲数のコイルに
対し前記振動周波数ｆが変化をする。コイルLX
がレアーシユートしている時にあつては、インダ
クタンスの変化はもとより、コイルLX内でのエ
ネルギーの損失が生ずることから、過渡応答波形
が大きく変化する。つまり、過渡応答波形を観測
すれば、コイルLXの良品を判定できることにな
る。
実施例を図面に基づき説明する。ます、判定装置
の原理を第１図及び第２図について説明すれば、
第１図に示す如く、自己インダクタンスL1と抵
抗分R1とを有する判定されるべきコイルLXに、
浮遊容量をも含めて容量が既知のコンデンサCSを
付加し、該回路にスイツチSW1を介してデイスチ
ヤージ用のコンデンサC0を接続する。コンデン
サC0には予め所定の電圧ESをチヤージしておく。
そして、スイツチSW1を投入すれば、コンデンサ
C0の電圧ESがスイツチSW1を経て、コンデンサ
CSとコイルLXとに供与され、該コイルLXの両端
には、第２図に示す如き過渡応答電圧波形が生ず
る。前記コイルLXとコンデンサCSとがR1 2＜4L1
＜CSなる条件の満たして振動的ならば、第２図に
おける過渡応答電圧波形の振動周波数ｆはｆ≒1/
２π√1 Sとなる。又第２図において、互いに隣
り合う波高のピーク値の比をとれば、E2／E1＝
E3／E2＝ｅ−π／2Qとなる。但し、Ｑ＝ωL1／R1で ある。従つて、過渡応答波形からＱとインダクタ
ンスL1とを求めることができ、コイルLXの良否
を判定できる。例えば所定の捲数に対して、相違
する場合、所謂捲数違いの時には、インダクタン
スL1が相違することから所定の捲数のコイルに
対し前記振動周波数ｆが変化をする。コイルLX
がレアーシユートしている時にあつては、インダ
クタンスの変化はもとより、コイルLX内でのエ
ネルギーの損失が生ずることから、過渡応答波形
が大きく変化する。つまり、過渡応答波形を観測
すれば、コイルLXの良品を判定できることにな
る。
本発明は、以上の原理を利用したもので、第３
図に示す如く良否が判定されるべきコイルLXに
サージ電圧発生回路１が接続されており、更にコ
イルLXには過渡応答電圧波形を検出して、デイ
ジタル符号化をした後、記憶するデイジタルメモ
リ２が接続され、該デイジタル符号化された過渡
応答電圧波形と、理想的な良品のコイルのデイジ
タル符号化された過渡応答電圧波形とをマイクロ
コンピユータ３が比較演算をし、該演算結果を出
力するようになつている。前記デイジタルメモリ
２はマイクロコンピユータ３に組込まれたものを
使用し、又コイルLXには第１図に示す如きコン
デンサCSが接続されることは勿論である。デイジ
タルメモリ２は、第４図に示す如く、過渡応答電
圧波形を所定個数、例えば50個の比較判定点をプ
ロツトしてデイジタル符号化をし、該デイジタル
符号を記憶しておく。一方、マイクロコンピユー
タ３にも、理想的なコイルのデイジタル符号化さ
れた過渡応答電圧波形が予め記憶されており、該
デイジタル符号化においても、判定されるべきコ
イルLXの過渡応答電圧波形をデイジタル符号化
する際の第４図に示す如き時間軸（横軸）に対し
同一時に過渡応答電圧波形をプロツトし、デイジ
タル符号化することは勿論である。マイクロコン
ピユータに理想的なコイルのデイジタル符号化さ
れた過渡応答電圧波形を記憶させるには、第３図
に示すコイルLXに代えて良品のコイルを接続し
て行えばよく、又複数の良品のコイルの過渡応答
電圧波形を計測して、その平均値を内部に記憶さ
せることもできる。マイクロコンピユータ３は理
想的なコイルの過渡応答電圧波形と、判定すべき
コイルLXの過渡応答電圧波形とを比較演算し、
該演算結果を表示装置にて表示させる他に、プリ
ンターにてプリントアウトし、更には、前記理想
的なコイルの過渡応答電圧波形と判定すべきコイ
ルLXの過渡応答電圧波形とを、同時にC.R.T
（cathode−ray−tube）に映像し、直視により判
定できるようにもなつている。前記第４図に示す
理想とする良品のコイルの過渡応答電圧波形WO
に対し一定の許容幅Ｔを持たせ、該幅Ｔ内に、判
定すべきコイルLXの過渡応答電圧波形が位置す
ると良品と判定し、位置しない時は不良品と判定
するようになつている。
図に示す如く良否が判定されるべきコイルLXに
サージ電圧発生回路１が接続されており、更にコ
イルLXには過渡応答電圧波形を検出して、デイ
ジタル符号化をした後、記憶するデイジタルメモ
リ２が接続され、該デイジタル符号化された過渡
応答電圧波形と、理想的な良品のコイルのデイジ
タル符号化された過渡応答電圧波形とをマイクロ
コンピユータ３が比較演算をし、該演算結果を出
力するようになつている。前記デイジタルメモリ
２はマイクロコンピユータ３に組込まれたものを
使用し、又コイルLXには第１図に示す如きコン
デンサCSが接続されることは勿論である。デイジ
タルメモリ２は、第４図に示す如く、過渡応答電
圧波形を所定個数、例えば50個の比較判定点をプ
ロツトしてデイジタル符号化をし、該デイジタル
符号を記憶しておく。一方、マイクロコンピユー
タ３にも、理想的なコイルのデイジタル符号化さ
れた過渡応答電圧波形が予め記憶されており、該
デイジタル符号化においても、判定されるべきコ
イルLXの過渡応答電圧波形をデイジタル符号化
する際の第４図に示す如き時間軸（横軸）に対し
同一時に過渡応答電圧波形をプロツトし、デイジ
タル符号化することは勿論である。マイクロコン
ピユータに理想的なコイルのデイジタル符号化さ
れた過渡応答電圧波形を記憶させるには、第３図
に示すコイルLXに代えて良品のコイルを接続し
て行えばよく、又複数の良品のコイルの過渡応答
電圧波形を計測して、その平均値を内部に記憶さ
せることもできる。マイクロコンピユータ３は理
想的なコイルの過渡応答電圧波形と、判定すべき
コイルLXの過渡応答電圧波形とを比較演算し、
該演算結果を表示装置にて表示させる他に、プリ
ンターにてプリントアウトし、更には、前記理想
的なコイルの過渡応答電圧波形と判定すべきコイ
ルLXの過渡応答電圧波形とを、同時にC.R.T
（cathode−ray−tube）に映像し、直視により判
定できるようにもなつている。前記第４図に示す
理想とする良品のコイルの過渡応答電圧波形WO
に対し一定の許容幅Ｔを持たせ、該幅Ｔ内に、判
定すべきコイルLXの過渡応答電圧波形が位置す
ると良品と判定し、位置しない時は不良品と判定
するようになつている。
これを第５図に示す回路図に基づき詳細に説明
すれば、予め理想とする良品コイルの過渡応答電
圧波形の入力信号を入力端子１０から増幅器１
１，１２、信号ホールド回路１３を介してアナロ
グ−デイジタル変換回路（以下Ａ／Ｄ変換回路と
称す）１４に入力させ、該Ａ／Ｄ変換回路１４に
て過渡応答波形を所定の個数だけプロツトしてデ
イジタル信号に変換した後、バツフアー回路１５
を介してランダムアクセスメモリ（以下RAMと
称す）の所定の番地に記憶させておき、又前記上
下限の許容幅Ｔを設定器１６にて設定しておく。
プロツト数は、発振器１７からANDゲート１８
を経て入力される発振周波数の分周率を、スイツ
チSW5にて自由に設定できるようになつている。
分周回路１９からの分周信号はワンシヨツトマル
チバイブレータ２０を介してＡ／Ｄ変換回路１４
に入力される。この理想とする良品のコイルのデ
イジタル符号化された過渡応答電圧波形をRAM
に記憶させる方式は後述する判定すべきコイル
LXの過渡応答電圧波形をRAMに記憶させる場合
と同一で、RAMに記憶させるべき番地が相違す
るだけである。
すれば、予め理想とする良品コイルの過渡応答電
圧波形の入力信号を入力端子１０から増幅器１
１，１２、信号ホールド回路１３を介してアナロ
グ−デイジタル変換回路（以下Ａ／Ｄ変換回路と
称す）１４に入力させ、該Ａ／Ｄ変換回路１４に
て過渡応答波形を所定の個数だけプロツトしてデ
イジタル信号に変換した後、バツフアー回路１５
を介してランダムアクセスメモリ（以下RAMと
称す）の所定の番地に記憶させておき、又前記上
下限の許容幅Ｔを設定器１６にて設定しておく。
プロツト数は、発振器１７からANDゲート１８
を経て入力される発振周波数の分周率を、スイツ
チSW5にて自由に設定できるようになつている。
分周回路１９からの分周信号はワンシヨツトマル
チバイブレータ２０を介してＡ／Ｄ変換回路１４
に入力される。この理想とする良品のコイルのデ
イジタル符号化された過渡応答電圧波形をRAM
に記憶させる方式は後述する判定すべきコイル
LXの過渡応答電圧波形をRAMに記憶させる場合
と同一で、RAMに記憶させるべき番地が相違す
るだけである。
次にコイルLXの良否を判定するには、まず、
動作開始信号が、ライン２１，２２よりORゲー
ト２３，２４を介してフリツプフロツプ２５〜２
７及びカウンタ２８，２９に入力され、該フリツ
プフロツプ２５〜２７及びカウンタ２８，２９が
動作され、又ライン３０よりORゲート３１を介
してカウンタ３２に入力され、該カウンタ３２の
動作が準備される。しかも、図示しないがリセツ
ト信号をRAM及びカウンタ３２が受けて、前回
の判定動作時において、RAMに記憶されたコイ
ルLXの過渡応答電圧波形を消却されると共に、
カウンタ３２の内容をも消去されるようになつて
いる。次に、動作信号発生回路３３からORゲー
ト３４に動作信号が入力されると、フリツプフロ
ツプ２６，２７を介してORゲート３５に入力さ
れる。ORゲート３５に入力された動作信号は、
インバータ３８を介して分周回路１９に供与され
て、動作可能に設定すると共に、ANDゲート１
８を開き、発振器１７の出力がANDゲート１８
及び分周回路１８を介し、更にワンシヨツトマル
チバイブレータ２０を経てＡ／Ｄ変換回路１４に
供与される。従つて、Ａ／Ｄ変換回路１４は判定
すべきコイルLXの過渡応答電圧波形、即ちアナ
ログ信号をワンシヨツトマルチバイブレータ２０
からの信号を受けて、第４図に示す如く所定個数
プロツトし、デイジタル符号化する。該デイジタ
ル信号はデータバス３９及びバツフアー回路１５
を経てRAM内に一旦記憶される。次に、RAM
内からバツフアー回路１５を介しデータバス３９
を経て、加算器４０及び減算器４１のそれぞれ
に、理想とするコイルの過渡応答電圧波形のデイ
ジタル信号と許容幅Ｔとを加算して良品としての
上限値を算出し、一方減算器４１は逆にデイジタ
ル信号から許容幅Ｔを減算して良品として下限値
を算出する。これにより上下限を持つ許容幅Ｔを
算出する。つまり理想とする良品のコイルと捲数
が同じであつてレアーシユート等の不具合いがな
い状態でも抵抗分の相違により、理想とする過渡
応答電圧波形に対してやや異なる過渡応答電圧波
形となり、斯様なコイルLXも不良品とすること
は好ましくないため、一定の許容幅Ｔを持たせた
ものである。加算器４０及び減算器４１を各演算
結果はそれぞれ比較回路４２，４３に供与され
る。各比較回路４２，４３にはRAMから判定す
べきコイルLXのデイジタル符号化された過渡応
答電圧波形もデータバス４４を経て入力される。
従つて各比較回路４２，４３は、加算器４０及び
減算器４１の演算結果と判定すべきコイルLXの
デイジタル符号化された過渡応答電圧波形とを比
較する。該比較値はORゲート４５及びフリツプ
フロツプ４６を介しカウンタ２８に入力されて、
各カウンタ２８，２９を動作可能に設定すると同
時に、ANDゲート４７を経てカウンタ２８，２
９に入力され、該カウンタ２８，２９は判定すべ
きコイルLXのデイジタル符号化された過渡応答
電圧波形が許容幅Ｔを越えた数を計数し、スイツ
チ回路４８，４９を介して前記フリツプフロツプ
２５に供与する。フリツプフロツプ２５は、動作
開始信号が入力された後、ORゲート３５からワ
ンシヨツトマルチバイブレータ５０及びORゲー
ト２３を介し動作信号が入力されて動作状態を保
持し、かつ加算器４０及び減算器４１の演算結果
がORゲート５１を介して入力され、該演算結果
と共にカウンタ２８，２９の計数値を受けて、コ
イルLXの各種の状態を表示装置５２にて表示す
る。即ち、判定すべきコイルLXのデイジタル符
号化された過渡応答電圧波形のプロツトされた箇
所が連続して所定数以上、例えば２個以上許容幅
Ｔを越えた時に発光ダイオードD1が発光して表
示し、又判定すべきコイルLXのデイジタル符号
化された過渡応答電圧波形の全判定過程におい
て、許容幅Ｔを越えた個数の総和が、所定以上に
達した時、例えば10個以上に達した場合には発光
ダイオードD2が発光して表示する。各発光ダイ
オードD1，D2の何れかが発光すると、ORゲート
５３を経て発光ダイオードD3が発光ダイオード
D3を発光させて表示すると共に、出力端子５４
からNG信号を出力して、前記の如き判定動作が
停止するようになつている。若しくは、前記NG
信号をコイル自動製造ライン中に組込まれた排出
装置に送込んで、該排出装置を動作させ、これに
より前記の如くして計測された不良品のコイルを
コイル自動製造ライン中から排出するようになつ
ている。又判定動作に誤りが生じた時には発光ダ
イオードD4が発光して表示する。又上下限の何
れかを越えた時に、この越える態様に応じ発光す
る発光ダイオードをそれぞれ設けておけば不良品
の原因をも表示できる。一連の判定動作が終了す
ると、図示しない終了回路、若しくはワンシヨツ
トマルチバイプレータ６９から終了信号が出力さ
れ、該終了信号をフリツプフロツプ２５が受けて
発光ダイオードD5を発光させて表示する。更に、
RAMからデータバス４４，５５を経て判定すべ
きコイルLXのデイジタル符号化された過渡応答
電圧波形が、ラツチ回路５６及び出力回路５７を
介しC.R.Tに供与され、一方理想とするコイルの
デイジタル符号化された過渡応答電圧波形をも、
RAMからバツフアー回路１５及びデータバス５
８を介し、更にラツチ回路５９と出力回路６０を
経てC.R.Tに供与されるようになつている。従つ
てC.R.Tはそれぞれの過渡応答電圧波形を同時に
映像させて、コイルLXの良否を直読できるよう
になつている。前記フリツプフロツプ２７にはレ
ベル感度調整回路６１が介在されており、該レベ
ル感度調整回路６１は、レベル調整用の可変抵抗
VR1を備えた比較回路６２と、インバータ６３が
組み込まれたスローブ選定スイツチSW2とからな
つてレベルセンストリガパルスを生ぜしめてい
る。インバータ６３とスローブ選定スイツチSW2
とは、判定すべきコイルLXの過渡応答電圧波形
の開始点が立上がりら開始する時と、立下がりか
ら開始する時とを選択するためのものである。フ
リツプフロツプ２６とORゲート３５との間には
遅延回路６４とフリツプフロツプ６５とが介在さ
れており、該遅延回路６４及びフリツプフロツプ
６５はＡ／Ｄ変換回路１４やRAM等の各回路相
互間において、回路動作の安定化を図るべく、
ORゲート３４に動作信号が入力された時点より
遅延させてORゲート３５を開かせるためのもの
である。ANDゲート３６にはＡ／Ｄ変換回路１
４からインバータ６６及びワンシヨツトマルチバ
イブレータ６７を経て信号が供与されるようにな
つており、斯様な信号の供与は、Ａ／Ｄ変換回路
１４による判定すべきコイルLXの過渡応答電圧
波形を一定の時間関係をもつてプロツトし、デイ
ジタル符号化に対応させて、RAMに対するデー
タの書き込み乃至読み出し時の時間的なサイクル
動作を制御し、つまりインバータ３７を経て
RAMに信号が入力される毎に、RAMの内容を
順次書き込み若しくは読み出し、又RAMに対す
るカウンタ３２の内容の供与動作を制御するため
のものである。RAMへの書き込み及び読み出し
は図示しない制御回路から出力される書き込み及
び読み出し信号がライン７８に入力されて行われ
る。又該書き込み及び読み出し信号はバツフアー
回路１５にも入力されて、バツフアー回路１５の
信号伝達方向が制御されるようになつている。
AND回路３６の出力信号は遅延回路７０及びワ
ンシヨツトマルチバイブレータ７１を介しAND
ゲート４７に入力されて、該ANDゲート４７を
比較回路４２，４３の比較演算に対しタイミング
をとるべく開かせ、又フリツプフロツプ４６を動
作させるべくなつている。更に、加算器４０及び
減算器４１にはそれぞれの入力が零の時、出力値
が零となるようオフセツトスイツチ回路７２が介
在されている。前記フリツプフロツプ２６，２
７，６５及びカウンタ２８，２９は一連の判定動
作が終了するとワンシヨツトマルチバイブレータ
６９からORゲート２４を介して終了信号が入力
されて、これによりリセツトされる。
動作開始信号が、ライン２１，２２よりORゲー
ト２３，２４を介してフリツプフロツプ２５〜２
７及びカウンタ２８，２９に入力され、該フリツ
プフロツプ２５〜２７及びカウンタ２８，２９が
動作され、又ライン３０よりORゲート３１を介
してカウンタ３２に入力され、該カウンタ３２の
動作が準備される。しかも、図示しないがリセツ
ト信号をRAM及びカウンタ３２が受けて、前回
の判定動作時において、RAMに記憶されたコイ
ルLXの過渡応答電圧波形を消却されると共に、
カウンタ３２の内容をも消去されるようになつて
いる。次に、動作信号発生回路３３からORゲー
ト３４に動作信号が入力されると、フリツプフロ
ツプ２６，２７を介してORゲート３５に入力さ
れる。ORゲート３５に入力された動作信号は、
インバータ３８を介して分周回路１９に供与され
て、動作可能に設定すると共に、ANDゲート１
８を開き、発振器１７の出力がANDゲート１８
及び分周回路１８を介し、更にワンシヨツトマル
チバイブレータ２０を経てＡ／Ｄ変換回路１４に
供与される。従つて、Ａ／Ｄ変換回路１４は判定
すべきコイルLXの過渡応答電圧波形、即ちアナ
ログ信号をワンシヨツトマルチバイブレータ２０
からの信号を受けて、第４図に示す如く所定個数
プロツトし、デイジタル符号化する。該デイジタ
ル信号はデータバス３９及びバツフアー回路１５
を経てRAM内に一旦記憶される。次に、RAM
内からバツフアー回路１５を介しデータバス３９
を経て、加算器４０及び減算器４１のそれぞれ
に、理想とするコイルの過渡応答電圧波形のデイ
ジタル信号と許容幅Ｔとを加算して良品としての
上限値を算出し、一方減算器４１は逆にデイジタ
ル信号から許容幅Ｔを減算して良品として下限値
を算出する。これにより上下限を持つ許容幅Ｔを
算出する。つまり理想とする良品のコイルと捲数
が同じであつてレアーシユート等の不具合いがな
い状態でも抵抗分の相違により、理想とする過渡
応答電圧波形に対してやや異なる過渡応答電圧波
形となり、斯様なコイルLXも不良品とすること
は好ましくないため、一定の許容幅Ｔを持たせた
ものである。加算器４０及び減算器４１を各演算
結果はそれぞれ比較回路４２，４３に供与され
る。各比較回路４２，４３にはRAMから判定す
べきコイルLXのデイジタル符号化された過渡応
答電圧波形もデータバス４４を経て入力される。
従つて各比較回路４２，４３は、加算器４０及び
減算器４１の演算結果と判定すべきコイルLXの
デイジタル符号化された過渡応答電圧波形とを比
較する。該比較値はORゲート４５及びフリツプ
フロツプ４６を介しカウンタ２８に入力されて、
各カウンタ２８，２９を動作可能に設定すると同
時に、ANDゲート４７を経てカウンタ２８，２
９に入力され、該カウンタ２８，２９は判定すべ
きコイルLXのデイジタル符号化された過渡応答
電圧波形が許容幅Ｔを越えた数を計数し、スイツ
チ回路４８，４９を介して前記フリツプフロツプ
２５に供与する。フリツプフロツプ２５は、動作
開始信号が入力された後、ORゲート３５からワ
ンシヨツトマルチバイブレータ５０及びORゲー
ト２３を介し動作信号が入力されて動作状態を保
持し、かつ加算器４０及び減算器４１の演算結果
がORゲート５１を介して入力され、該演算結果
と共にカウンタ２８，２９の計数値を受けて、コ
イルLXの各種の状態を表示装置５２にて表示す
る。即ち、判定すべきコイルLXのデイジタル符
号化された過渡応答電圧波形のプロツトされた箇
所が連続して所定数以上、例えば２個以上許容幅
Ｔを越えた時に発光ダイオードD1が発光して表
示し、又判定すべきコイルLXのデイジタル符号
化された過渡応答電圧波形の全判定過程におい
て、許容幅Ｔを越えた個数の総和が、所定以上に
達した時、例えば10個以上に達した場合には発光
ダイオードD2が発光して表示する。各発光ダイ
オードD1，D2の何れかが発光すると、ORゲート
５３を経て発光ダイオードD3が発光ダイオード
D3を発光させて表示すると共に、出力端子５４
からNG信号を出力して、前記の如き判定動作が
停止するようになつている。若しくは、前記NG
信号をコイル自動製造ライン中に組込まれた排出
装置に送込んで、該排出装置を動作させ、これに
より前記の如くして計測された不良品のコイルを
コイル自動製造ライン中から排出するようになつ
ている。又判定動作に誤りが生じた時には発光ダ
イオードD4が発光して表示する。又上下限の何
れかを越えた時に、この越える態様に応じ発光す
る発光ダイオードをそれぞれ設けておけば不良品
の原因をも表示できる。一連の判定動作が終了す
ると、図示しない終了回路、若しくはワンシヨツ
トマルチバイプレータ６９から終了信号が出力さ
れ、該終了信号をフリツプフロツプ２５が受けて
発光ダイオードD5を発光させて表示する。更に、
RAMからデータバス４４，５５を経て判定すべ
きコイルLXのデイジタル符号化された過渡応答
電圧波形が、ラツチ回路５６及び出力回路５７を
介しC.R.Tに供与され、一方理想とするコイルの
デイジタル符号化された過渡応答電圧波形をも、
RAMからバツフアー回路１５及びデータバス５
８を介し、更にラツチ回路５９と出力回路６０を
経てC.R.Tに供与されるようになつている。従つ
てC.R.Tはそれぞれの過渡応答電圧波形を同時に
映像させて、コイルLXの良否を直読できるよう
になつている。前記フリツプフロツプ２７にはレ
ベル感度調整回路６１が介在されており、該レベ
ル感度調整回路６１は、レベル調整用の可変抵抗
VR1を備えた比較回路６２と、インバータ６３が
組み込まれたスローブ選定スイツチSW2とからな
つてレベルセンストリガパルスを生ぜしめてい
る。インバータ６３とスローブ選定スイツチSW2
とは、判定すべきコイルLXの過渡応答電圧波形
の開始点が立上がりら開始する時と、立下がりか
ら開始する時とを選択するためのものである。フ
リツプフロツプ２６とORゲート３５との間には
遅延回路６４とフリツプフロツプ６５とが介在さ
れており、該遅延回路６４及びフリツプフロツプ
６５はＡ／Ｄ変換回路１４やRAM等の各回路相
互間において、回路動作の安定化を図るべく、
ORゲート３４に動作信号が入力された時点より
遅延させてORゲート３５を開かせるためのもの
である。ANDゲート３６にはＡ／Ｄ変換回路１
４からインバータ６６及びワンシヨツトマルチバ
イブレータ６７を経て信号が供与されるようにな
つており、斯様な信号の供与は、Ａ／Ｄ変換回路
１４による判定すべきコイルLXの過渡応答電圧
波形を一定の時間関係をもつてプロツトし、デイ
ジタル符号化に対応させて、RAMに対するデー
タの書き込み乃至読み出し時の時間的なサイクル
動作を制御し、つまりインバータ３７を経て
RAMに信号が入力される毎に、RAMの内容を
順次書き込み若しくは読み出し、又RAMに対す
るカウンタ３２の内容の供与動作を制御するため
のものである。RAMへの書き込み及び読み出し
は図示しない制御回路から出力される書き込み及
び読み出し信号がライン７８に入力されて行われ
る。又該書き込み及び読み出し信号はバツフアー
回路１５にも入力されて、バツフアー回路１５の
信号伝達方向が制御されるようになつている。
AND回路３６の出力信号は遅延回路７０及びワ
ンシヨツトマルチバイブレータ７１を介しAND
ゲート４７に入力されて、該ANDゲート４７を
比較回路４２，４３の比較演算に対しタイミング
をとるべく開かせ、又フリツプフロツプ４６を動
作させるべくなつている。更に、加算器４０及び
減算器４１にはそれぞれの入力が零の時、出力値
が零となるようオフセツトスイツチ回路７２が介
在されている。前記フリツプフロツプ２６，２
７，６５及びカウンタ２８，２９は一連の判定動
作が終了するとワンシヨツトマルチバイブレータ
６９からORゲート２４を介して終了信号が入力
されて、これによりリセツトされる。
前記フリツプフロツプ２６，２７には、外部か
らのマニユアル操作が可能に、外部スタートスイ
ツチ回路７３，７４が介在されている。即ち外部
スタートスイツチ回路７３はパルスコード発振回
路７５及びOR回路３４を介してフリツプフロツ
プ２６に接続されており、又外部スタートスイツ
チ回路７４はパルスコード発生回路７６、ワンシ
ヨツトマルチバイブレータ７７及び内部自動動作
と外部手動動作の切換スイツチSW3を介してフリ
ツプフロツプ２７が接続されるようになつてい
る。外部スタートスイツチ回路７３及びパルスコ
ード発生回路７５は前記動作信号発生回路３３と
同一の機能を呈し、又外部スタートスイツチ回路
７４、パルスコード発生回路７６及びワンシヨツ
トマルチバイブレータ７７は、前記レベル感度調
整回路６１と同一の機能を呈するものである。
尚、VR3は増幅器１２から出力されるレベル値を
可変させるものである。
らのマニユアル操作が可能に、外部スタートスイ
ツチ回路７３，７４が介在されている。即ち外部
スタートスイツチ回路７３はパルスコード発振回
路７５及びOR回路３４を介してフリツプフロツ
プ２６に接続されており、又外部スタートスイツ
チ回路７４はパルスコード発生回路７６、ワンシ
ヨツトマルチバイブレータ７７及び内部自動動作
と外部手動動作の切換スイツチSW3を介してフリ
ツプフロツプ２７が接続されるようになつてい
る。外部スタートスイツチ回路７３及びパルスコ
ード発生回路７５は前記動作信号発生回路３３と
同一の機能を呈し、又外部スタートスイツチ回路
７４、パルスコード発生回路７６及びワンシヨツ
トマルチバイブレータ７７は、前記レベル感度調
整回路６１と同一の機能を呈するものである。
尚、VR3は増幅器１２から出力されるレベル値を
可変させるものである。
次に、第６図乃至第９図に示す如く、判定すべ
きコイルLXの不良をC.R.Tにて観測した状態につ
いて説明すれば、第６図乃至第９図において、８
０は理想とする良品のコイルの過渡応答電圧波形
である。更に第６図乃至第９図において、第２図
及び第４図と同様に、縦軸が電圧、横軸が時間を
示している。判定すべきコイルLXが良品である
ならば、前記過渡応答電圧波形８０と重合し、あ
るいは過渡応答電圧波形８０に対し前記許容幅Ｔ
内に過渡応答電圧波形が現われる。判定すべきコ
イルLXがレアーシユートを生じていると、第６
図に示す如く過渡応答電圧波形８０に対し、判定
すべきコイルLXの過渡応答電圧波形８１の電圧
レベルが低く、かつ過渡応答の周期が短かく、つ
まり、振動周波数が高くなる。捲線数が異なる時
には、第７図に８２で示す如く、自己インダクタ
ンスが相違するために過渡応答の振動周波数が変
化をし、例えば巻数が多いと、振動周波数が低く
なる。又コイルLXの端子間で短絡すると第８図
に８３で示す如く電圧で現われず、更にコイル
LXが断線している状態では、第９図に８４で示
す如く、コイルLXの端子間に電圧のみが現われ
て、電流が流れないことから振動する過渡応答を
呈しなさい。
きコイルLXの不良をC.R.Tにて観測した状態につ
いて説明すれば、第６図乃至第９図において、８
０は理想とする良品のコイルの過渡応答電圧波形
である。更に第６図乃至第９図において、第２図
及び第４図と同様に、縦軸が電圧、横軸が時間を
示している。判定すべきコイルLXが良品である
ならば、前記過渡応答電圧波形８０と重合し、あ
るいは過渡応答電圧波形８０に対し前記許容幅Ｔ
内に過渡応答電圧波形が現われる。判定すべきコ
イルLXがレアーシユートを生じていると、第６
図に示す如く過渡応答電圧波形８０に対し、判定
すべきコイルLXの過渡応答電圧波形８１の電圧
レベルが低く、かつ過渡応答の周期が短かく、つ
まり、振動周波数が高くなる。捲線数が異なる時
には、第７図に８２で示す如く、自己インダクタ
ンスが相違するために過渡応答の振動周波数が変
化をし、例えば巻数が多いと、振動周波数が低く
なる。又コイルLXの端子間で短絡すると第８図
に８３で示す如く電圧で現われず、更にコイル
LXが断線している状態では、第９図に８４で示
す如く、コイルLXの端子間に電圧のみが現われ
て、電流が流れないことから振動する過渡応答を
呈しなさい。
尚、本発明は、コイルLXの過渡応答波形を
RAMに記憶させることなく、前記の如くして比
較回路４２，４３により良品のコイルのそれと比
較することもでき、又コイルLXの良否を判定す
る耐圧試験にもそのまま利用でき、又、溶接電流
波形を前記の如く判定することで、溶接状態の良
否をも計測し得る。
RAMに記憶させることなく、前記の如くして比
較回路４２，４３により良品のコイルのそれと比
較することもでき、又コイルLXの良否を判定す
る耐圧試験にもそのまま利用でき、又、溶接電流
波形を前記の如く判定することで、溶接状態の良
否をも計測し得る。
以上の如く、本発明に係る各種コイルの判定装
置によれば、各種コイルのレアーシユート、捲数
の相違、断線等の不良を理想的なコイルの基準波
形に対して判定すべきコイルの過渡応答波形をデ
イジタル的に比較し、解析することから、良品、
不良品の判別を自動的になし得て、自動製造ライ
ンに組み込むのに頗る好適であり、かつコイルの
過渡応答波形自体を計測して良否の判定資料とす
ることから、過渡応答波形のピーク値と周期とで
良否を判断するものに比較して、過渡応答波形の
ピークからゼロクロスの点までの波形の部分にお
いても比較し得て、特に巻線抵抗や巻線状態など
の各種条件に応じて曲率な異なる過渡応答波形も
良否の判定要素として取り込むことができるの
で、コイルの良否の判定が極めて高精度化し得
て、近年の高品質性の要望も充分満たし得ること
ができる等多大な効果を有する。
置によれば、各種コイルのレアーシユート、捲数
の相違、断線等の不良を理想的なコイルの基準波
形に対して判定すべきコイルの過渡応答波形をデ
イジタル的に比較し、解析することから、良品、
不良品の判別を自動的になし得て、自動製造ライ
ンに組み込むのに頗る好適であり、かつコイルの
過渡応答波形自体を計測して良否の判定資料とす
ることから、過渡応答波形のピーク値と周期とで
良否を判断するものに比較して、過渡応答波形の
ピークからゼロクロスの点までの波形の部分にお
いても比較し得て、特に巻線抵抗や巻線状態など
の各種条件に応じて曲率な異なる過渡応答波形も
良否の判定要素として取り込むことができるの
で、コイルの良否の判定が極めて高精度化し得
て、近年の高品質性の要望も充分満たし得ること
ができる等多大な効果を有する。
図面は本発明に係る各種コイルの判定装置の一
実施例を示し、第１図は判定装置の原理を説明す
るための回路図、第２図は第１図における過渡応
答の電圧波形図、第３図は本発明の判定装置のブ
ロツク図、第４図は第３図において得られた過渡
応答電圧波形をデイジタル符号化をする際のプロ
ツト状態を示す波形図、第５図は第３図の判定装
置の回路図、第６図乃至第９図は判定すべきコイ
ルの不良状態を示すC.R.Tによる波形図である。 LX……判定すべきコイル、L1……コイルLXの
自己インダクタンス、R1……コイルLXの抵抗分、
CO，CS……コンデンサ、SW1……スイツチ、１
……サージ電圧発生回路、２……デイジタルメモ
リ、３……マイクロコンピユータ。
実施例を示し、第１図は判定装置の原理を説明す
るための回路図、第２図は第１図における過渡応
答の電圧波形図、第３図は本発明の判定装置のブ
ロツク図、第４図は第３図において得られた過渡
応答電圧波形をデイジタル符号化をする際のプロ
ツト状態を示す波形図、第５図は第３図の判定装
置の回路図、第６図乃至第９図は判定すべきコイ
ルの不良状態を示すC.R.Tによる波形図である。 LX……判定すべきコイル、L1……コイルLXの
自己インダクタンス、R1……コイルLXの抵抗分、
CO，CS……コンデンサ、SW1……スイツチ、１
……サージ電圧発生回路、２……デイジタルメモ
リ、３……マイクロコンピユータ。
Claims (1)
- １ 判定すべきコイルにサージ電圧を供与するサ
ージ電圧発生回路と、該サージ電圧の供与により
良否を判定すべきコイルに生ずる過渡応答波形を
定間隔おきにサンプリングしてデイジタル符号に
変換した値及びコイルの理想的な過渡応答波形を
定間隔おきにサンプリングしてデイジタル符号に
変換した値のそれぞれを記憶する記憶部と、該記
憶部内の理想コイルにおける過渡応答波形のデイ
ジタル符号値に許容範囲の上限値と下限値とを演
算処理して許容幅を持つ基準値を算出する加減算
器と、該加減算器から出力される理想コイルを基
準とした許容幅を持つ基準値と上記記憶部内の良
否を判定すべきコイルに生ずる過渡応答波形のデ
イジタル符号値とを比較演算する比較回路と、該
比較回路の演算結果を出力し表示する出力部とか
ら成ることを特徴とする各種コイルの判定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58117672A JPS608760A (ja) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | 各種コイルの判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58117672A JPS608760A (ja) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | 各種コイルの判定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS608760A JPS608760A (ja) | 1985-01-17 |
| JPH0376713B2 true JPH0376713B2 (ja) | 1991-12-06 |
Family
ID=14717425
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58117672A Granted JPS608760A (ja) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | 各種コイルの判定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS608760A (ja) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61162755A (ja) * | 1985-01-14 | 1986-07-23 | Denshi Seigyo Group:Kk | インパルスコイル試験器 |
| JPH065247B2 (ja) * | 1985-02-08 | 1994-01-19 | 日本原子力研究所 | コイル系異常監視装置 |
| JPH0792016B2 (ja) * | 1986-06-09 | 1995-10-09 | 三菱電機株式会社 | 内燃機関用燃料噴射弁駆動回路の故障検出回路 |
| JP3661804B2 (ja) * | 1995-09-26 | 2005-06-22 | 富士電機システムズ株式会社 | 直流高速度真空遮断器 |
| JP3577912B2 (ja) * | 1997-09-30 | 2004-10-20 | 三菱電機株式会社 | 電子回路検査装置 |
| JP2000097982A (ja) * | 1998-09-21 | 2000-04-07 | Ikd:Kk | コイル試験評価装置 |
| JP4561019B2 (ja) * | 2001-09-05 | 2010-10-13 | 株式会社デンソー | 巻線異常検査方法 |
| JP5125483B2 (ja) * | 2007-12-21 | 2013-01-23 | 富士ゼロックス株式会社 | 処理システム |
| TWI470241B (zh) * | 2013-03-25 | 2015-01-21 | Chroma Ate Inc | 電性測試裝置 |
| TWI516773B (zh) * | 2013-03-25 | 2016-01-11 | 致茂電子股份有限公司 | 電性測試裝置及其方法 |
| CN104076253B (zh) * | 2013-03-29 | 2017-05-17 | 致茂电子(苏州)有限公司 | 电性测试装置 |
| JP6876382B2 (ja) * | 2016-05-26 | 2021-05-26 | 日置電機株式会社 | コイル試験装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5899669U (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-06 | 株式会社東芝 | 回転電機用電機子巻線の絶縁診断装置 |
-
1983
- 1983-06-29 JP JP58117672A patent/JPS608760A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS608760A (ja) | 1985-01-17 |
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