JPS608760A - 各種コイルの判定装置 - Google Patents

各種コイルの判定装置

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JPS608760A
JPS608760A JP58117672A JP11767283A JPS608760A JP S608760 A JPS608760 A JP S608760A JP 58117672 A JP58117672 A JP 58117672A JP 11767283 A JP11767283 A JP 11767283A JP S608760 A JPS608760 A JP S608760A
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transient response
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response voltage
circuit
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章 石塚
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 不発明は、電磁弁コイル、モータコイル、発tkLeコ
イル、トランス等の各種のコイルの良否を判定する装置
に係り、特に各種コイルのレアーシュート(層間短絡)
、誤結線、捲数誤差を迅速にかつ正確に判別し得る判定
装置に関する。
従来、コイルの良否を判定するにはQメータにより行う
ことが知られるところである。即ち、判定すべきコイル
にコンデンサを接続し、該コイルの自己インダクタンス
なL、抵抗分をRとし、又コンデンサの容量をCとした
ときuoL/R=]/1.cJocRで定まるQの値を
計測して、判別していた。しかしながら、従来のQメー
タによる方式では、計測されたQの値によりレアーシュ
ートや捲数誤差等の不具合の発生を判別することは答易
なことではな(、計測者の勘に頼っているのが現状で、
迅速でかつ正確な判定を期待できず、判定作業の能率も
悪いといった欠点があった。更に近年コイルスコープな
るものも使用されるに至っているが、該コイルスコープ
は、良品のコイルと計測すべきコイルとの過渡応答性a
をスコープ面に映像させて目視により比較し、これによ
り計測すべきコイルの良否を判定しているが、コイルの
良否を判定するに際して、該判定すべきコイルの他に、
良品のコイルをもその都度選定して接続しなければなら
ず、判定作業が煩瑣であるはかりか、目視により良否を
判定するものであるから、製造工程等自動ライ・ン中に
組込んで自動的に良品の判定を行うことができす、作業
能率が悪いといった問題もあった。
そこで、本発明は、上記事情に鑑み、近年各種の分野に
利用されるに至っているマイクロコンピュータを効果的
に応用することで、コイルの良否の判定結果を直読し得
て、何等熟練を要することなく迅速にかつ正確に判定で
き、作業能率の向上を図り得る各種コイルの判定装置を
提供することを目的とする。
本発明は、上記目的を達成すべく、判定すべきコイルに
サージ電圧を供与するサージ電圧発生回路と、該コイル
の理想的な過渡応答波形がディジタル符号化されて予め
記憶されたマイクロコンピュータトを有し、マイクロコ
ンピュータが前記サージ電圧の供与により判定すべきコ
イルに生ずる過渡応答波形欠ディジタル符号化しに後、
予め記憶された理想的なコイルの過渡応答波形における
ディジタル符号と比較演算をし、該演算結果を出力する
各種コイルの判定装置を特徴とするものである。
以下、本発明に係る各種コイルの判定装置の一実施例を
図面に基づき説明する。ます、判定装置の原理を第1図
及び第2図について説明すれば、第1図に示す如く、自
己インダクタンスL、と抵抗分R1とを有する判定され
るべきコイルLXに、浮遊容量をも含めて容量が既知の
コンデンサCs を付加し、該回路にスイッチSW1を
介してディスチャージ用のコンデンサC0を接続する。
コンデンサC8には予め所定の電圧FJSをチャージし
てお(。そして、スイッチSWIを投入すれば、コンデ
ンサCoの電圧ESがスイッチSW、を経て、コンデン
サC5とコイルLXとに供与され、該コイルLxの両端
には、第2図に示す如き過渡応答電圧波形が生ずる。前
記コイルしXとコンデンサC5とが垢2 (4L、 (
Csなる条件ケ満たして振動的ならば、第2図における
過渡応答電圧波形の振動周波数fはf−]/2π白−5
となる。又第2図において、互=ωL+/Rsである。
従って、過渡応答波形からQとインダクタンスL1とを
めることができ、コイルLxの良否な判定できる。例え
ば所定の捲数に対し、て、相違する場合、所謂捲数違い
の時には、インダクタンスL1が相違することから所定
の捲数のコイルに対し前記振動周波数fが変化をする。
コイルLxがレアーシュートしている時にあっては、イ
ンダクタンスの変化はもとより、コイルLx内でのエネ
ルギーの損失が生ずることから、過渡応答波形が太き(
変化する。つまり、過渡応答波形を観測すれば、コイル
Lxの良品を判定できることになる。
本発明は、以上の原理を利用したもので、第3図に示す
如(良否が判定されるべきコイルLxにサージ電圧発生
回路1が接続されており、更にコイルLxには過渡応答
電圧波形を検出して、ディジタル符号化をした後、記憶
するディジタルメモリ2が接続され、該ディジタル符号
化された過渡応答電圧波形と、理想的な良品のコイルの
ディジタル符号化された過渡応答電圧波形とをマイクロ
コンピュータ3が比較演算をし、該演算結果を出力する
ようになっている。
前記ディジタルメモリ2はマイクロコンピュータ3に組
込まれたものを使用し、又コイルLxには第1図に示す
如きコンデンサCsが接続されることは勿論である。デ
ィジタルメモリ2は、第4図に示す如く、過渡応答電圧
波形を所定個数、例えば50個の比較判定点をプロット
してディジタル符号化をし、該ディジタル符号を記憶し
ておく。一方、マイクロコンピュータ3にも、理想的な
コイルのディジタル符号化された過渡応答電圧波形が予
め記憶されており、該ディジタル符号化においても、判
定されるべきコイルLxの過渡応答電圧波形をディジタ
ル符号化する際の第4図に示す如き時間軸(横軸)に対
し同一時に過渡応答電圧波形をプロットし、ディジタル
符号化することは勿論である。マイクロコンピユータに
理想的なコイルのディジタル符号化された過渡応答電圧
波形を記憶させるには、第3図に示すコイルLxに代え
て良品のコイルを接続して行えばよく、又複数の良品の
コイルの過渡応答電圧波形を計測して、その平均値を内
部に記憶させることもできる。マイクロコンピュータ3
は理想的なコイルの過渡応答電圧波形と、判足すべきコ
イルLxの過渡応答電圧波形とを比較演算し、該演算結
果を表示装置にて表示させる他に、プリンターにてプリ
ント了ウドし、更には、前記理想的なコイルの過渡応答
電圧波形と判足すべきコイルLxの過渡応答電圧波形と
を、同時にC,R,T (cathode −ray 
−tube )に映像し、直視により判定できるように
もなっている。前記第4図に示す理想とする良品のコイ
ルの過渡応答電圧波形Woに対し一定の許容幅Tを持た
せ、該幅T内に、判定すべきコイルLxの過渡応答電圧
波形が位置すると良品と判定し、位置しない時は不良品
と判定するようになっている。
これを第5図に示す回路図に基づき詳細に説明すれは、
予め理想とする良品コイルの過渡応答電圧波形の入力(
i号を入力端子10から増幅器11,12、信号ホール
ド回路13を介してアナログ−ディジタル変換回路(以
下A/D変換回路と称す)14に入力させ、該A/D変
換回路14にて過渡応答波形を所定の個数だけプロット
してディジタル信号に変換した後、バッファー回路15
を弁してランダムアクセスメモリ(以下RAMと称す)
の所定の番地に記憶させておき、又前記上下限の許容幅
Tを設定器16にて設定しておく。プロット数は、発振
器17からANDゲート18を経て入力される発振周波
数の分局率を、 スイッチ5W11にて自由に設定でき
るようになっている。分周回路19からの分周信号はワ
ンショットマルチバイブレータ20を介してA/D変換
回路14に入力される。この理想とする良品のコイルの
ディジタル符号化された過渡応答電圧波形をRAMに記
憶させる方式は後述する判定すべきコイルLxの過渡応
答電圧波形をRAMに記憶させる場合と同一で、RAM
に記憶させるべき番地が相違するだけである。
次にコイルLxの良否を判定するには、まず、動作開始
信号が、ライン21.22よりORゲート23.24y
介してフリップフロップ25〜27及びカウンタ28,
29に入力され、該フリップフロップ25〜27及びカ
ウンタ28゜29が動作され、又ライン30よりORゲ
ート314介してカウンタ32に入力され、該カウンタ
32の動作が準備される。しかも、図示しないがリセッ
ト信号を)tAM及びカウンタ32が受けて、前回の判
定動作時において、)l、AMに記憶されたコイルLx
の過渡応答電圧波形を消却されると共に、カウンタ32
の内容をも消去されるようになっている。次に、動作信
号発生回路33からORゲート34に動作信号が入力さ
れると、フリップフロップ26.27’lk介し”C−
(JRゲート35に入力される。ORゲート35に入力
された動作信号は、インバータ38を介して分周回路1
9に供与されて、動作可能に設定すると共に、ANDゲ
ート18奢開き、発振器17の出力がANDゲート18
及び分周回路18を介し、更にワンショットマルチバイ
ブレータ20を経てA/I)変換回路14に供与される
。従って、A/D変換回路14は判定すべきコイルLx
の過渡応答゛邂圧波形、即ちアナログ信号をワンショッ
トマルチバイブレータ20からの信号ン受けて、第4図
に示す如く所定個数プロットし、ディジタル符号化する
。該ディジタル信号はデータバス39及びバッファー回
路15を経てRAM内に一旦記憶される。
次に、RAM内からバッファー回路15を介しデータバ
ス39を経て、BD算器4o及び減算器41のそれぞれ
に、理想とするコイルの過渡応答電圧波形のディジタル
信号と許容幅Tとを加算して良品としての上限値を算出
し、一方減算器41は逆にディジタル信号から許容幅T
を減算して良品とし又下限値を算出する。これにより上
下限を持つ許容幅Tを算出する。つまり埋想とする良品
のコイルと剤数が同じであってレアーシュート等の不具
合いがない状態でも抵抗外の相違により、理想とする過
渡応答電圧波形に対してやや異なる過渡応答電圧波形と
なり、斯様なコイルLxも不良品とすることは好ましく
ないため、一定の許容幅Tを持たせたものである。加算
器40及び減算器41の各演算結果はそれぞれ比較回路
42.43に供与される。
各比較回路42.43にはIt A Mから判定すべき
コイルLxのディジタル符号化されり過渡応答電圧波形
もデータバス44を経て入力される従って各比較回路4
2.43は、加算器40及び減算器41の演算結果と判
定すべぎコイルLxのディジタル符号化された過渡応答
電圧波形とを比較する。該比較値はORゲート45及び
フリッグフロング46ケ介しカウンタ28に入力されて
、各カウンタ28.29を動作可能に設定すると同時に
、ANIJゲート47を経てカウンタ28,29に入力
され、該カウンタ28.29は判定すべきコイルLxの
ディジタル符号化された過渡応答電圧波形が許容幅Tを
越えた数を計数し、スイッチ回路48.49を介して前
記フリップフロップ25に供与する。
フリップ70ツブ25は、動作開始信号が入力された後
、OR+ゲート35からワンショットマルチバイブレー
タ50及び0几ゲート23を介し動作信号が入力されて
動作状態を保持し、かつ加算器40及び減算器4】の演
算結果がORゲート51を介して入力され、該演算結果
と共にカウンタ28,29の計数値を受けて、コイルL
xの各種の状態を表示装置52にて表示する。即ち、判
定すべきコイルLxのディジタル符号化された過渡応答
電圧波形リプロットされた箇所が連続して所定数以上、
例妨げ2個以上許容幅Tを越えた時に発光ダイオードD
1が発光して表示し、又判定すべきコイルLxのディジ
タル符号化された過渡応答電圧波形の全判定過程におい
て、許容幅Tを越えた個数の総和が、所定以上に達した
時、例えば10個以上に達した場合には発光ダイオード
D!が発光して表示する。各発光ダイオードD1 ) 
D2の何れかが発光すると、ORゲート53を経て発光
ダイオードD、IE発光ダイオードD、を発光させて表
示すると共に、出力端子54からNG信号を出力して、
前記の如き判定動作が停止するようになっている。若し
くは、前記NG信号をコイル自動製造ライン中に組込ま
れた排出装置に送込んで、該排出装置を動作させ、これ
により前記の如くして計測されtこ不良品のコイルをコ
イル自動製造ライン中から排出するようになっている。
又判定動作に誤りが生じた時には発光ダイオードD4が
発光し゛て表示する。又上下限の何れかを越えた時に、
この越える態様に応じ発光する発光ダイオードをそれぞ
れ設けておけば不良品の原因をも表示できる。一連の判
定動作が終了すると、図示しない終了回路、若しくはワ
ンショットマルチバイブレータ69から終了11号が出
力され、該終了信号をフリップ70ツブ25が受けて発
光ダイオードDsを発光させて表示する。丈に、RAM
からデータバス44.55を経て判定すべきコイルLx
のディジタル符号化された過渡応答電圧波形が、ランチ
回路56及び出力回路57を介しC,R,Tに供与され
、一方理想とするコイルのディジタル符号化された過渡
応答電圧波形をも、RAMからバッファー回路】5及び
データバス58を介し、更にラッチ回路59と出力回路
60を経てC0几、Tに供与されるようになっている。
従ってC1几、Tはそれぞれの過渡応答電圧波形を同時
に映像させて、コイルLxの良否を直読できるようにな
っている。@記フリップフロップ27にはレベル感度牌
整回路61が介在されており、該レベル感度調整回路6
1は、レベル調整用の可変抵抗V几、を備えた比較回路
62と、インバータロ3が組み込まれたスロープ選定ス
イッチSW、とからなってレベルセンストリガパルスを
生ぜしめている。インバータ63とスロープ選定スイッ
チSW、とは、判定すべきコイルLxの過渡応答電圧波
形の開始点が立上がりから開始する時と、立下がりから
開始する時とを選択するためのものである。フリッダン
ロップ26とORゲート35との間には遅延回路64と
フリップ70ツブ65とが介在されており、該遅延回路
64及びフリップフロップ65はA/I)変換回路14
やRAM等の各回路相互間において、回路動作の安定化
を図るべく、0刊ゲート34に動作信号が入力された時
点より遅延させてORゲート35を開かせるためのもの
である。ANDゲート36にはA/D変換回路14から
インバータ66及びワンショットマルチバイブレータ6
7を経て信号が供与されるようになっており、斯様な信
号の供与は、A/1)変換回路14による判定すべきコ
イルLxの過渡応答電圧波形を一定の時間関係をもって
プロットし、ディジタル符号化に対応させて、几AMに
対するデータの書き込み乃至読み出し時の時間的なサイ
クル動作を制御し、つまりインバータ37を経てRAM
K信号が入力される毎に、RAMの内容を順次費き込み
若しくは読み出し、又RAMに対するカウンタ32の内
容の供与動作を制御するためのものである。
RA、 Mへの省き込み及び読み出しは図示しない制御
回路から出力されろ書き込み及び読み出し信号がライン
78に入力されて行われる。又該書き込み及び読み出し
信号はバッファー回路15にも入力されて、バッファー
回路」5の信号伝達方向が制御されるようになっている
AND回路36の出力信号は遅延回路70及びワンショ
ットマルチパイブレ〜り71を介しANDゲート47に
入力されて、該ANDゲート47を比較回路42.43
の比較演算に対しタイミングをとるべく開かせ、又フリ
ップフロップ46を動作させるべ(ブよつ又いる。更に
、加算器40及び減算器41にはそれぞれの入力が零の
時、出力値が零となるようオフセットスイッチ回路72
が介在されている。前記フリップフロップ26,27,
65及びカウンタ28゜29は一連の判定動作が終了す
るとワンショットマルチバイブレータ69からORゲー
ト24を介して終了信号が入力されて、これにより9セ
ツトされる。
前記フリップフロップ26.27には、外部からのマニ
ュアル操作が可能に、外部スタートスイッチ回路73.
74が介在されている。即ち外部スタートスイッチ回路
73はパルスコード発振回路75及び0■モ回路34を
介してフリップフロップ26に接続されており、又外部
スタートスイッチ回路74はパルスコード発生回路76
.ワンショットマルチバイブレータ77及び内部自動動
作と外部手動動作の切換スイッチSWsを介してフリッ
プフロップ27が接続されるようになっている。外部ス
ター°トスイツチ回路73及びパルスコード発生回路7
5は前記動作信号発生回路33と同一の機能を呈し、又
外部スタートスイッチ回路74、パルスコード発生回路
76及びワンショットマルチバイブレータ77は、前記
レベル感度調整回路61と同一の機能を呈するものであ
る。尚、VB、は増幅器12から出力されるレベル値を
可変させるものである。
次に、第6図乃至第9図に示す如く、判定すべきコイル
Lxの不良なC1R,Tにて観測した状態について説明
すれば、第6図乃至第9図において、80は理想とする
良品のコイルの過渡応答電圧波形である。更に第6図乃
至第9図において、第2図及び第4図と同様に、縦軸が
電圧、横軸が時間を示している。判定すべきコイルLx
が良品であるならば、前記過渡応答電圧波形80と重合
し、あるいは過渡応答電圧波形80に対し前記許容幅T
内に過渡応答電圧波形が埃われる。判定すべきコイルL
xがレアーシュートを生じていると、第6図に示す如く
過渡応答電圧1波形80に対し、判定1−べきコイルL
xの過渡応答電圧波形81の電圧レベルが低(、かつ過
渡応答の周期が短かく、つまり、振動周波数が高くなる
。捲線数が異なる時には、第7図に82で示す如く、自
己インダクタンスが相違するために過渡応答の振動周波
数が変化をし、例えは巻数が多いと、振動周波数が低く
なる。又コイA/LXの端子間で短絡すると集8図に8
3′t″示す如く電圧が現われす、更にコイルLxが断
線している状態では、第9図に84で示す如く、コイル
Lxの端子間に電圧のみが現われて、電流が流れないこ
とから振動する過耐圧試験にもそのまま利用でき、又、
溶接電流波形を前記の如く判定することで、溶接状態の
良否をも計測し得る。
以上の如く、本発明に係る各種コイルの判定装置によれ
ば、各種コイルのレアーシュート、剤数の相違、断線等
の不良を理想的なコイルの基準波形に対して判定すべき
コイルの過渡応答波形tディジタル的に比較し、解析す
ることから、良品、不良品の判別を自動的になし得て、
自動製造ラインに組み込むのに頗る好適である等多大な
効果を有する。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明に係る%梱コイルの判定装置の一実施例を
示し、第1図は判定装置の原理を説明するための回路図
、第2図は第1図における過渡応答の電圧波形図、第3
図は本発明の判定装置のブロック図、第4図は第3図に
お(・て得られた過渡応答電圧波形をディジタル符号化
をする際のプロット状態を示す波形図、第5図は第3図
の判定装置の回路図、第6図乃至第9図は判定すべきコ
イルの不良状態を示すC8R,Tによる波形図である。 Lx・・・判定すべきコイル Ll °°°コイルLxの自己インダクタンス几、・・
・コイルLxの抵抗分 Co、Cs・・・コンデンサ 8W、・・・スイッチ ト・・サージ電圧発生回路 2・・・ディジタルメモリ 3・・・マイクロコンピュータ オ0図 81 オj3図 3 牙7図 ′)−9図 4

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 判定すべきコイルにサージ電圧を供与するサージ電圧発
    生回路と、該コイルの理想的な過渡応答波形がディジタ
    ル符号化されて予め記憶されたマイクロコンピュータと
    を有し、マイクロコンピュータが前記サージ電圧の供与
    により判定すべきコイルに生ずる過渡応答波形をディジ
    タル符号化した後、予め記憶された理想的なコイルの過
    渡応答波形におけるディジタル符号と比較演算をし、該
    演算結果を出力してなることを特徴とする各種コイルの
    判定装置。
JP58117672A 1983-06-29 1983-06-29 各種コイルの判定装置 Granted JPS608760A (ja)

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