JPH0378005B2 - - Google Patents
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- JPH0378005B2 JPH0378005B2 JP58221364A JP22136483A JPH0378005B2 JP H0378005 B2 JPH0378005 B2 JP H0378005B2 JP 58221364 A JP58221364 A JP 58221364A JP 22136483 A JP22136483 A JP 22136483A JP H0378005 B2 JPH0378005 B2 JP H0378005B2
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- JP
- Japan
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- transistor
- circuit
- switching transistor
- negative feedback
- voltage
- Prior art date
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
- H03K17/082—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit
- H03K17/0822—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit in field-effect transistor switches
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- Electronic Switches (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はMOSトランジスタ、とりわけ自動車
のランプ回路におけるスイツチング用MOSトラ
ンジスタを保護するために、ゲート電位を制限し
て負荷電流を制限するとともに、ソース電位を監
視し、所定値からの偏差に応じて、1つの制御入
力端子と2つの負荷接続端子とを有する電位によ
り導通制御可能なスイツチ要素にてMOSトラン
ジスタを阻止させることによつてMOSトランジ
スタを通る負荷電流をしや断するようにしたトラ
ンジスタ保護装置に関する。
のランプ回路におけるスイツチング用MOSトラ
ンジスタを保護するために、ゲート電位を制限し
て負荷電流を制限するとともに、ソース電位を監
視し、所定値からの偏差に応じて、1つの制御入
力端子と2つの負荷接続端子とを有する電位によ
り導通制御可能なスイツチ要素にてMOSトラン
ジスタを阻止させることによつてMOSトランジ
スタを通る負荷電流をしや断するようにしたトラ
ンジスタ保護装置に関する。
例えば自動車のランプ回路に使用される大電流
用電子スイツチはランプ回路中に直列に挿入され
ているトランジスタでもつて動作する。このトラ
ンジスタは、過剰容量のトランジスタを使用する
のを避けようとするならば、適当な手段によつて
過負荷から保護されなければならない。したがつ
て、ランプ回路における電流はランプ回路におい
て短絡が発生したときにも最大値を越えないよう
にすべきである。
用電子スイツチはランプ回路中に直列に挿入され
ているトランジスタでもつて動作する。このトラ
ンジスタは、過剰容量のトランジスタを使用する
のを避けようとするならば、適当な手段によつて
過負荷から保護されなければならない。したがつ
て、ランプ回路における電流はランプ回路におい
て短絡が発生したときにも最大値を越えないよう
にすべきである。
一方ではトランジスタのベース電位をツエナー
ダイオードにより制限してエミツタ・コレクタ間
のトランジスタ電流を制限し、他方ではトランジ
スタのコレクタ電位を監視し、ランプ回路の短絡
時にトランジスタを保護するようにした回路が知
られている(西独特許出願公開第3015831号公
報)。この回路はランプ回路中の抵抗でもつて動
作し、この抵抗はこれにおける電圧降下がトラン
ジスタのエミツタ・ベース間の電圧降下を合わせ
るとツエナーダイオードの閾値電圧を越え得るよ
うに選定されている。
ダイオードにより制限してエミツタ・コレクタ間
のトランジスタ電流を制限し、他方ではトランジ
スタのコレクタ電位を監視し、ランプ回路の短絡
時にトランジスタを保護するようにした回路が知
られている(西独特許出願公開第3015831号公
報)。この回路はランプ回路中の抵抗でもつて動
作し、この抵抗はこれにおける電圧降下がトラン
ジスタのエミツタ・ベース間の電圧降下を合わせ
るとツエナーダイオードの閾値電圧を越え得るよ
うに選定されている。
しかし、ランプ回路中の抵抗は望ましくない電
力損失を生じさせる。
力損失を生じさせる。
本発明の目的は、トランジスタおよび負荷イン
ピーダンスを除けば負荷回路中において他の抵抗
なしですませながらもトランジスタを常に過負荷
から保護し、短絡時にも保護することができるよ
うにすることにある。その際にMOSトランジス
タを使用することを前提としている。
ピーダンスを除けば負荷回路中において他の抵抗
なしですませながらもトランジスタを常に過負荷
から保護し、短絡時にも保護することができるよ
うにすることにある。その際にMOSトランジス
タを使用することを前提としている。
この目的は本発明によれば、特許請求の範囲第
1項に記載された構成により達成される。
1項に記載された構成により達成される。
投入直後にはランプの白熱コイルは非常に小さ
な抵抗を有し、その抵抗は加熱にともなつて増大
する。それによつて最初は、保護すべきMOSト
ランジスタにおけるドレイン・ソース電流として
制限されるべき高い電流が流れる。
な抵抗を有し、その抵抗は加熱にともなつて増大
する。それによつて最初は、保護すべきMOSト
ランジスタにおけるドレイン・ソース電流として
制限されるべき高い電流が流れる。
本発明によればランプ回路中の電流制限抵抗な
しですますことができ、それにもかかわらずドレ
イン・ソース電流は所定値を上回らないようにす
ることができる。MOSトランジスタを非常に大
きなドレイン・ソース電流に対して設計する必要
もなくなる。
しですますことができ、それにもかかわらずドレ
イン・ソース電流は所定値を上回らないようにす
ることができる。MOSトランジスタを非常に大
きなドレイン・ソース電流に対して設計する必要
もなくなる。
本発明を実施するためには、ゲートの負荷回路
との間に接続されてMOSトランジスタのゲート
電位を制限するツエナーダイオードと、MOSト
ランジスタにおけるソース電位の所定値からの偏
差に応じてMOSトランジスタを通る負荷電流を
阻止する第2トランジスタとを備えた装置が好ま
しい。
との間に接続されてMOSトランジスタのゲート
電位を制限するツエナーダイオードと、MOSト
ランジスタにおけるソース電位の所定値からの偏
差に応じてMOSトランジスタを通る負荷電流を
阻止する第2トランジスタとを備えた装置が好ま
しい。
この装置は本発明によれば次のように構成され
ている。すなわち、ツエナーダイオードがMOS
トランジスタのゲート・ソース間に電圧制限のた
めに接続されていて、ソース電位監視のための第
3のトランジスタがMOSトランジスタのソース
と接続されていて、第3のトランジスタのエミツ
タはアースされていて、第3のトランジスタのコ
レクタは、接続線分岐を介して第1の時限要素と
結合されていて順方向にある第1のダイオードを
介して第2のトランジスタのベースと接続されて
いるバツテリー端子と接続されていて、この第2
のトランジスタはエミツタをアースされコレクタ
をMOSトランジスタのゲートの供給線の接続さ
れており、ソース電位監視のために演算増幅器が
それの両入力端子を介してMOSトランジスタの
ドレインもしくはソースと接続されていて、それ
の出力端子は、第2の時限要素と結合されていて
順方向にある第2のダイオードを介して同様にエ
ミツタをアースされコレクタをMOSトランジス
タのゲートの供給線と接続された第2のトランジ
スタのベースと接続されているバツテリー端子と
接続されている。
ている。すなわち、ツエナーダイオードがMOS
トランジスタのゲート・ソース間に電圧制限のた
めに接続されていて、ソース電位監視のための第
3のトランジスタがMOSトランジスタのソース
と接続されていて、第3のトランジスタのエミツ
タはアースされていて、第3のトランジスタのコ
レクタは、接続線分岐を介して第1の時限要素と
結合されていて順方向にある第1のダイオードを
介して第2のトランジスタのベースと接続されて
いるバツテリー端子と接続されていて、この第2
のトランジスタはエミツタをアースされコレクタ
をMOSトランジスタのゲートの供給線の接続さ
れており、ソース電位監視のために演算増幅器が
それの両入力端子を介してMOSトランジスタの
ドレインもしくはソースと接続されていて、それ
の出力端子は、第2の時限要素と結合されていて
順方向にある第2のダイオードを介して同様にエ
ミツタをアースされコレクタをMOSトランジス
タのゲートの供給線と接続された第2のトランジ
スタのベースと接続されているバツテリー端子と
接続されている。
ツエナーダイオードによるゲート電位の制限に
より、ドレイン・ソース電流がこのツエナーダイ
オードの選定により定められた値を上回ることが
ないようにすることができる。
より、ドレイン・ソース電流がこのツエナーダイ
オードの選定により定められた値を上回ることが
ないようにすることができる。
既に投入直後にランプ中に短絡が存在すると
き、それはソース電位の監視によつて速やかに検
出される。この監視はインバータとして動作する
第3のトランジスタにより行なわれる。第3のト
ランジスタは導通状態においてバツテリー電位を
アースに導く。しかし、MOSトランジスタのソ
ース電位は第3トランジスタのベース電位を、そ
のソース電位の低いときに第3のトランジスタを
阻止するように制御し、それによつてバツテリー
電位が別のスイツチング過程のために利用される
ようになる。動作様式がよく知られている第1の
時限要素が短時間後に、例えば30μsec後にこの監
視を行なう。
き、それはソース電位の監視によつて速やかに検
出される。この監視はインバータとして動作する
第3のトランジスタにより行なわれる。第3のト
ランジスタは導通状態においてバツテリー電位を
アースに導く。しかし、MOSトランジスタのソ
ース電位は第3トランジスタのベース電位を、そ
のソース電位の低いときに第3のトランジスタを
阻止するように制御し、それによつてバツテリー
電位が別のスイツチング過程のために利用される
ようになる。動作様式がよく知られている第1の
時限要素が短時間後に、例えば30μsec後にこの監
視を行なう。
付加的にMOSトランジスタにおける電圧降下
の監視が演算増幅器により行なわれる。演算増幅
器の出力信号が別のスイツチング過程のために利
用され得るバツテリー電位のための導線を接続す
る。第2の時限要素がこの監視を103〜104倍だけ
大きい時間間隔後に、例えば100msec後に行な
う。この電圧降下の監視は小さな欠陥を速やかに
かつ問題なしに検知する利点をもたらす。
の監視が演算増幅器により行なわれる。演算増幅
器の出力信号が別のスイツチング過程のために利
用され得るバツテリー電位のための導線を接続す
る。第2の時限要素がこの監視を103〜104倍だけ
大きい時間間隔後に、例えば100msec後に行な
う。この電圧降下の監視は小さな欠陥を速やかに
かつ問題なしに検知する利点をもたらす。
バツテリー電位が第2のトランジスタに第3の
トランジスタまたは演算増幅器の出力端から導か
れたとき、第2のトランジスタは導通してMOS
トランジスタのゲートをアースに導く。これによ
つてランプ回路中におけるMOSトランジスタが
しや断される。これにより、第2のトランジスタ
のベースにもはや電位が加わらなくなれば第2の
トランジスタがランプ回路の拘束状態を遅れなし
に再び解除する。
トランジスタまたは演算増幅器の出力端から導か
れたとき、第2のトランジスタは導通してMOS
トランジスタのゲートをアースに導く。これによ
つてランプ回路中におけるMOSトランジスタが
しや断される。これにより、第2のトランジスタ
のベースにもはや電位が加わらなくなれば第2の
トランジスタがランプ回路の拘束状態を遅れなし
に再び解除する。
時限要素は公知の動作様式に構成されていて、
その出力は最初アースされていて、予め与えられ
た時間の経過後バツテリー電位に置かれ、それに
よつてこの出力に接続されている線がフリーにさ
れる。
その出力は最初アースされていて、予め与えられ
た時間の経過後バツテリー電位に置かれ、それに
よつてこの出力に接続されている線がフリーにさ
れる。
第2の時限要素は第1の時演要素よりも103〜
104倍だけ大きい時限を実現する。これによつて、
まず保護すべきMOSトランジスタのソース電位
が検査され、その後でMOSトランジスタの電圧
降下の監視が開始される。保護すべきMOSトラ
ジスタのソース電位の監視は、既に投入時点で例
えばランプに短絡が存在するときに応答する。し
たがつて、その測定をMOSトランジスタの電圧
降得の監視の開始前に開始して、わずかの重大欠
陥を検知しようとするものである。
104倍だけ大きい時限を実現する。これによつて、
まず保護すべきMOSトランジスタのソース電位
が検査され、その後でMOSトランジスタの電圧
降下の監視が開始される。保護すべきMOSトラ
ジスタのソース電位の監視は、既に投入時点で例
えばランプに短絡が存在するときに応答する。し
たがつて、その測定をMOSトランジスタの電圧
降得の監視の開始前に開始して、わずかの重大欠
陥を検知しようとするものである。
ランプ回路の手動オン・オフのための機械的ス
イツチは保護すべきMOSトランジスタのゲート
の供給線に配置することが好ましい。ゲートに電
圧が印加されていないときには、MOSトランジ
スタは阻止されていて、ランプ回路はさや断され
ている。閉じられた導通状態においても望ましく
ない抵抗を有するスイツチをランプ回路中に挿入
する必要はない。ランプ回路にはランプのほかに
はMOSトランジスタがあるだけである。電界効
果トランジスタを使用する場合にはドレイン・ソ
ース電流が流れるだけで定常的なゲート電流は流
れない。したがつて、ランプ回路中における電力
損失は最小になる。
イツチは保護すべきMOSトランジスタのゲート
の供給線に配置することが好ましい。ゲートに電
圧が印加されていないときには、MOSトランジ
スタは阻止されていて、ランプ回路はさや断され
ている。閉じられた導通状態においても望ましく
ない抵抗を有するスイツチをランプ回路中に挿入
する必要はない。ランプ回路にはランプのほかに
はMOSトランジスタがあるだけである。電界効
果トランジスタを使用する場合にはドレイン・ソ
ース電流が流れるだけで定常的なゲート電流は流
れない。したがつて、ランプ回路中における電力
損失は最小になる。
本発明による装置の他の利点は、MOSトラン
ジスタが投入時点で既にランプ内に短絡が存在す
るときに保護されるというところにある。したが
つて、MOSトランジスタに対する過負荷保護の
ほかに投入直後にも機能検査が実行される。
ジスタが投入時点で既にランプ内に短絡が存在す
るときに保護されるというところにある。したが
つて、MOSトランジスタに対する過負荷保護の
ほかに投入直後にも機能検査が実行される。
以下、図示の実施例を参照しながら本発明をさ
らに詳細に説明する。
らに詳細に説明する。
図にはMOSトランジスタを過負荷から保護す
るための本発明による装置の実施例が示されてい
る。
るための本発明による装置の実施例が示されてい
る。
自動車ランプ回路においてはランプ4とMOS
電界効果トランジスタ1とが直列に接続されてい
る。ランプ4に並列に他のランプも接続すること
ができる。電圧供給は端子電位UBを有するバツ
テリーによつて行なわれる。例えば12ボルトの制
御電位U1が、抵抗5および6にて低減されて、
供給線7を介してMOS電界効果トランジスタ1
のゲート110に導かれる。供給線7中にはラン
プ4の手動によるオン・オフのための機械的スイ
ツチ8が挿入されている。
電界効果トランジスタ1とが直列に接続されてい
る。ランプ4に並列に他のランプも接続すること
ができる。電圧供給は端子電位UBを有するバツ
テリーによつて行なわれる。例えば12ボルトの制
御電位U1が、抵抗5および6にて低減されて、
供給線7を介してMOS電界効果トランジスタ1
のゲート110に導かれる。供給線7中にはラン
プ4の手動によるオン・オフのための機械的スイ
ツチ8が挿入されている。
3つの追加手段がドレイン・ソース間電流をラ
ンプ4における短絡時にも制限することによつて
MOS電界効果トランジスタ1を過負荷から保護
する。
ンプ4における短絡時にも制限することによつて
MOS電界効果トランジスタ1を過負荷から保護
する。
第1の追加手段として例えば6.2ボルトのツエ
ナーダイオード9がMOS電界効果トランジスタ
1のソース120とゲート110との間に接続さ
れている。これはゲート電位を制限し、それによ
りドレイン・ソース間電流を制限する。
ナーダイオード9がMOS電界効果トランジスタ
1のソース120とゲート110との間に接続さ
れている。これはゲート電位を制限し、それによ
りドレイン・ソース間電流を制限する。
第2の追加手段として、ランプ4における既に
投入時点で存在する短絡を検知するために、
MOS電界効果トランジスタ1のソース120が、
例えば3.6ボルトのツエナーダイオード11と抵
抗12とからなる分圧器10を介して、第3トラ
ンジスタ3のベース310と接続されている。第
3のトランジスタ3のコレクタ330には、例え
ば24ボルトのバツテリー電位UBから抵抗13に
おける制限によつて生じる固定の電位が導かれ
る。エミツタ320はアースされている。この固
定の電位は、第3のトランジスタ3のベース電位
が大きい間はアースに導かれる。そうでないとき
にはその電位は接続線14を介して第2のトラン
ジスタ2のベース210に導かれる。この接続線
14は第3のトランジスタ3のコレクタ330の
手前の分岐点15において始まりダイオード16
を含む。接続線14は第1の時限要素17によつ
て装置の投入後短期に、例えば30μsecでフリーに
される。
投入時点で存在する短絡を検知するために、
MOS電界効果トランジスタ1のソース120が、
例えば3.6ボルトのツエナーダイオード11と抵
抗12とからなる分圧器10を介して、第3トラ
ンジスタ3のベース310と接続されている。第
3のトランジスタ3のコレクタ330には、例え
ば24ボルトのバツテリー電位UBから抵抗13に
おける制限によつて生じる固定の電位が導かれ
る。エミツタ320はアースされている。この固
定の電位は、第3のトランジスタ3のベース電位
が大きい間はアースに導かれる。そうでないとき
にはその電位は接続線14を介して第2のトラン
ジスタ2のベース210に導かれる。この接続線
14は第3のトランジスタ3のコレクタ330の
手前の分岐点15において始まりダイオード16
を含む。接続線14は第1の時限要素17によつ
て装置の投入後短期に、例えば30μsecでフリーに
される。
第2のトランジスタ2のコレクタ230は
MOS電界効果トランジスタ1のゲート110の
供給線7に接続されている。第2のトランジスタ
2のエミツタ220はアースされている。第2の
トランジスタのベース210に接続されたアース
抵抗30は有り得るコレクタ・ベース間余剰電流
を吸収する。ベース210には電位が加わるとコ
レクタ230からエミツタ220へ電流が流れ
て、MOS電界効果トランジスタ1のゲート11
0の供給線がアースされる。したがつて、MOS
電界効果トランジスタ1は第2のトランジスタ2
のベース210に現われる電位によつてしや断さ
れる。
MOS電界効果トランジスタ1のゲート110の
供給線7に接続されている。第2のトランジスタ
2のエミツタ220はアースされている。第2の
トランジスタのベース210に接続されたアース
抵抗30は有り得るコレクタ・ベース間余剰電流
を吸収する。ベース210には電位が加わるとコ
レクタ230からエミツタ220へ電流が流れ
て、MOS電界効果トランジスタ1のゲート11
0の供給線がアースされる。したがつて、MOS
電界効果トランジスタ1は第2のトランジスタ2
のベース210に現われる電位によつてしや断さ
れる。
第3の追加手段として、MOS電界効果トラン
ジスタ1を通つて流れるドレイン・ソース間電流
を制限するために、演算増幅器19の第1の入力
端子18はソース120における電位を受け、そ
して第2の入力端子20は分圧回路21により分
圧されてドレイン130における電位を受ける。
この分圧回路21は2つの抵抗22,23からな
る。MOS電界効果トランジスタ1のドレイン1
30とソース120との間の電圧が所定値を上回
つたときには、もし接続線27が既に第2の時現
要素26によつても例えば装置投入後100msecで
フリーにされているならば、演算増幅器19は接
続線27をフリーにする。この接続線27はダイ
オード29を含み、例えば24ボルトのバツテリー
電位UBから抵抗28において低下させられて現
われる固定の電位が、同様に第2のトランジスタ
2のベース210に導かれる。
ジスタ1を通つて流れるドレイン・ソース間電流
を制限するために、演算増幅器19の第1の入力
端子18はソース120における電位を受け、そ
して第2の入力端子20は分圧回路21により分
圧されてドレイン130における電位を受ける。
この分圧回路21は2つの抵抗22,23からな
る。MOS電界効果トランジスタ1のドレイン1
30とソース120との間の電圧が所定値を上回
つたときには、もし接続線27が既に第2の時現
要素26によつても例えば装置投入後100msecで
フリーにされているならば、演算増幅器19は接
続線27をフリーにする。この接続線27はダイ
オード29を含み、例えば24ボルトのバツテリー
電位UBから抵抗28において低下させられて現
われる固定の電位が、同様に第2のトランジスタ
2のベース210に導かれる。
両時限要素17および26にはいずれも電位
U1およびUBが供給される。
U1およびUBが供給される。
演算増幅器34および35の反転入力端子には
それぞれ分圧回路により電位UBから得られる例
えば5ボルトの固定電位が印加されている。
それぞれ分圧回路により電位UBから得られる例
えば5ボルトの固定電位が印加されている。
その分圧回路は直列接続された2つの抵抗32
および33からなる。これらの抵抗32,33間
の接続点は演算増幅器34,35と電圧を安定化
するコンデンサ43とに接続されている。
および33からなる。これらの抵抗32,33間
の接続点は演算増幅器34,35と電圧を安定化
するコンデンサ43とに接続されている。
演算増幅器34,35の非反転入力端子におけ
る電位が反転入力端子における電位よりも小さい
間は、構成の公知の演算増幅器34,35の出力
端子45,46はアースされていて、したがつて
導線14,27は働きを阻止されている。
る電位が反転入力端子における電位よりも小さい
間は、構成の公知の演算増幅器34,35の出力
端子45,46はアースされていて、したがつて
導線14,27は働きを阻止されている。
電位U1はコンデンサ36および37を充電す
る。これらのコンデンサは100msecもしくは
30μsec後に充電されているように選定されてい
る。これらの時間間隔後にはそれぞれ演算増幅器
34,35の非反転入力端子に5ボルトよりも大
きい電位が現われるので、それらの演算増幅器の
出力端子45,46はもはやアースされてなく、
接続線14,27をフリーにする。
る。これらのコンデンサは100msecもしくは
30μsec後に充電されているように選定されてい
る。これらの時間間隔後にはそれぞれ演算増幅器
34,35の非反転入力端子に5ボルトよりも大
きい電位が現われるので、それらの演算増幅器の
出力端子45,46はもはやアースされてなく、
接続線14,27をフリーにする。
コンデンサ36,37の電荷はしや断毎に抵抗
31を介して放電される。
31を介して放電される。
コンデンサ36の充電は抵抗38を介して行な
われそしてそれの放電はダイオード39のみが接
続されている接続線を介して急速に行なわれる。
われそしてそれの放電はダイオード39のみが接
続されている接続線を介して急速に行なわれる。
コンデンサ37は抵抗40とこれに直列のダイ
オード41を介して充電され、そして例えば
100kΩの大きな抵抗42を介して時間的に遅れて
放電される。
オード41を介して充電され、そして例えば
100kΩの大きな抵抗42を介して時間的に遅れて
放電される。
ダイオード39および41はコンデンサ36お
よび37のための放電もしくは充電が行なわれる
経路となる接続線を定める。
よび37のための放電もしくは充電が行なわれる
経路となる接続線を定める。
図は本発明の一実施例を示す回路図である。
1……MOSトランジスタ、2……制御可能な
スイツチ要素(第2のトランジスタ)、3……第
3のトランジスタ、4……ランプ、7……MOS
トランジスタのゲートの供給線、8……機械的ス
イツチ。
スイツチ要素(第2のトランジスタ)、3……第
3のトランジスタ、4……ランプ、7……MOS
トランジスタのゲートの供給線、8……機械的ス
イツチ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ランプ4を含む負荷電流回路を直流電圧源
UBに接続するスイツチング区間120,130
を有するMOSスイツチングトランジスタ1の保
護のための装置であつて、 (イ) スイツチングトランジスタ1に導通制御信号
を与える制御回路U1,8,5,7が備えられ、 (ロ) スイツチングトランジタを流れる電流のため
の制限装置9が備えられ、該制限装置は直接ゲ
ート110とソース120の間の電圧、したが
つて負荷電流回路内の電流を、持続的に許容さ
れる最大値を越える最高値に制限し、 (ハ) 導通制御状態においてスイツチングトランジ
スタ1に対する導通制御信号を無効にする遮断
トランジスタ2が備えられ、 (ニ) スイツチングトランジスタ1のスイツチング
区間における電圧が限界値を越えたとき、遮断
トランジスタ2の導通制御のための遮断信号を
供給する第1の負帰還回路19,21が備えら
れるようになつたものにおいて、 (ホ) 負荷電流回路における電圧降下が最小値以下
であるかぎり、遮断トランジスタ2の導通制御
のための遮断信号を供給する第2の負帰還回路
10,3が備えられ、 (ヘ) 両負帰還回路は減結合ダイオード16,29
を介して遮断トランジスタ2に接続され、 (ト) 負帰還回路の各々に時限要素26,17が対
応し、該時限要素はスイツチングトランジスタ
1に対する導通制御信号の開始とともに開始す
る阻止時間の間阻止信号を供給し、該阻止信号
により所属する負帰還回路の遮断信号が無効に
され、 (チ) 第2の負帰還回路10,3に所属する時限要
素17の阻止時間は他の時限要素26の阻止時
間よりも短い、 ことを特徴とするMOSトランジスタの保護装置。 2 第1の負帰還回路は演算増幅器19を含み、
該演算増幅器は一方で分圧器21を介して直流電
圧源UBに、他方においてはスイツチングトラン
ジスタ1のソース電極120に接続されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の装
置。 3 第2の負帰還回路トランジスタ3を含み、該
トランジスタの制御区間はツエナーダイオード1
1を介して負荷回路4に並列接続されていること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の装置。 4 各時限要素17;26は演算増幅器35;3
4を含み、該演算増幅器はその一方の入力により
直流電圧源UBに、また他方の入力によりRC素子
40,37;38,36を介してスイツチングト
ランジスタ1の制御回路7に接続されていること
を特徴とする特許請求の範囲第1項ないし第3項
のいずれか1つに記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
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| JPS59108423A JPS59108423A (ja) | 1984-06-22 |
| JPH0378005B2 true JPH0378005B2 (ja) | 1991-12-12 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP58221364A Granted JPS59108423A (ja) | 1982-11-24 | 1983-11-24 | Mosトランジスタの保護装置 |
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| JP (1) | JPS59108423A (ja) |
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