JPH0378025B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 発明の技術分野 この発明は、デイジタル通信における受信デー
タの符号ひずみ評価方法に関するものであり、さ
らに詳しくいえば受信データのサンプリング点の
変化によるビツトエラーの発生時に、サンプリン
グ点とビツトエラーの有無から受信データのひず
みを評価するものである。

(b) 従来技術と問題点 データ受信回路の従来技術では、データビツト
の中央50％点でサンプリングする方法が多い。

このような場合の従来技術の一例を第２図に示
す。

第２図の１はサンプリング回路、２はサンプリ
ングクロツク発生回路、３は基準データ発生回
路、４は一致検出回路である。

端子５からの受信データはサンプリング回路１
に入力するとともに、サンプリングクロツク発生
回路２を動作させる。

サンプリング回路１はサンプリングクロツク発
生回路２からのサンプリングクロツクにより、受
信データの50％の点をサンプリングする。

基準データ発生回路３はサンプリング回路１の
出力を入力とし、受信データに同期した基準デー
タを発生する。

一致検出回路４はサンプリング回路１の出力と
基準データ発生回路３の出力を入力とし、ビツト
ごとに比較し受信データの中にエラーがあると、
エラーパルスを発生する。

次に、第２図各部の波形図を第３図に示す。

第３図アは受信データの波形であり、第３図イ
はサンプリングクロツク発生回路２の出力波形で
ある。

また、第３図ウはサンプリング回路１の出力波
形であり、第３図エは基準データ発生回路３の出
力波形である。

第３図オは一致検出回路４の出力であり、第３
図ウと第３図エを比較した結果、不一致点が１つ
あるので、第３図オではエラーパルスを１つ出し
ている。

第２図、第３図では受信データの中央50％の点
のデータをサンプリングデータとしている。しか
し、受信データの符号ひずみ成分の検出には、こ
のサンプリング点を変えて受信する必要がある。

第２図のような従来技術では、受信データのサ
ンプリング点を固定しているのでビツトエラーは
測定できるが、符号ひずみの評価は別の符号ひず
み測定器で測定しているのが現状である。特に、
データ信号速度が速くなると符号ひずみ測定器の
構成が複雑になり高価格となる。

また、従来技術では符号ひずみ測定とビツトエ
ラーを同時に測定できないという問題がある。

(c) 発明の目的 この発明は、ビツトエラーの測定だけでビツト
エラーと符号ひずみの両方を測定できるようにし
た符号ひずみ評価方法の提供を目的とする。

(d) 発明の実施例 まず、この発明による実施例の構成図を第１図
に示す。

第１図の７と８はサンプリング回路、９は基準
サンプリング回路、１２はサンプリングクロツク
発生回路、１４は一致検出回路であり、他の部分
は第２図と同じである。基準サンプリング回路
９、サンプリングクロツク発生回路１２および一
致検出回路１４はそれぞれ第２図のサンプリング
回路１、サンプリングクロツク発生回路２および
一致検出回路４と同じような動作をする。

したがつて、第１図は第２図にサンプリング回
路７，８を追加したものということができる。

前述のとおりサンプリング回路１は受信データ
の50％の点をサンプリングするが、サンプリング
回路７はサンプリング回路１のサンプリング点よ
りもプラス側にサンプリング点をセツトしたもの
である。

サンプリング回路８はサンプリング回路１のサ
ンプリング点よりもマイナス側にサンプリング点
をセツトするとともに、サンプリング回路７のサ
ンプリング点に対し対称の点にサンプリング点を
セツトする。例えば、サンプリング回路７のサン
プリング点を60％の点にした場合には、サンプリ
ング回路８のサンプリング点を40％にする。

同じように、サンプリング回路７のサンプリン
グ点を70％の点にした場合は、サンプリング回路
８のサンプリング点を30％にする。

なお、第１図のサンプリング回路７，８を１つ
にし、プラス側とマイナス側にサンプリング点を
切り換えるようにしてもよい。

次に、第１図の各部波形図を第４図に示す。

第４図アは受信データの波形であり、第４図イ
は第４図アの波形の中央を50％とし、この50％の
点からプラス側とマイナス側に10％ずつの点を示
したタイムスケール信号である。

第４図ウ〜第４図オはそれぞれサンプリングク
ロツク発生回路１２の出力波形である。

第４図ウはサンプリング回路７へ入力される＋
サンプリングクロツクであり、第４図エはサンプ
リング回路８へ入力される−サンプリングクロツ
クである。

また、第４図オは基準サンプリング回路９へ入
力される基準サンプリングクロツクであり、第４
図イの中央の点で立上るようになつている。第４
図オは第３図イと同じ波形である。

第４図カはサンプリング回路７の出力波形であ
り、第４図キはサンプリング回路８の出力波形で
ある。

また、第４図クは基準データ発生回路３の出力
波形であり、第４図ケは一致検出回路１４の出力
波形である。

第４図カ、第４図キおよび第４図クを比較した
結果、不一致点が１つあるので、第４図ケではエ
ラーパルスを１つ出している。

第１図と第４図から明らかなように、この発明
はサンプリングのタイミングを変えることによつ
て受信データに含まれる波形歪みを求めるように
したものであり、受信データは可変したタイミン
グでサンプリングされた後、基準データと比較
し、ビツトエラーとして測定する。

伝送波形の符号ひずみを考えるとき、任意の２
つの有意瞬間における論理的な時間間隔と、実際
の時間間隔の差の単位時間長に対する割合を符号
ひずみとして考えることができる。そして第４図
に示すようにサンプリングの際にそれぞれ−サン
プリングと＋サンプリングによつてデータをサン
プリングし、どちらか一方でも誤つているとエラ
ーとして処理する。

このような方法により、データに含まれる符号
ひずみをサンプリング点を変えることにより、ビ
ツトエラーの有無で評価できる。

(f) 発明の効果 この発明によれば、符号ひずみ評価とビツトエ
ラーが同時に測定でき、LAN等の伝送路の中で
もベースバンド伝送径の伝送品質を簡単に測定す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明による実施例の構成図、第２
図は従来技術の構成図、第３図は第２図各部の波
形図、第４図は第１図各部の波形図。 １……サンプリング回路、２……サンプリング
クロツク発生回路、３……基準データ発生回路、
４……一致検出回路、５……入力端子、６……出
力端子、７……サンプリング回路、８……サンプ
リング回路、９……基準サンプリング回路、１２
……サンプリングクロツク発生回路、１４……一
致検出回路。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 受信データの50％の点をサンプリングする第
   １のサンプリング回路と、サンプリングのための
   タイミングを発生するサンプリングクロツク発生
   回路と、第１のサンプリング回路出力を入力とし
   基準データを出力する基準データ発生回路と、第
   １のサンプリング回路出力と前記基準データ発生
   回路出力を入力とし出力の一致を検出する一致検
   出回路とをもつデータ受信回路において、 第１のサンプリング回路のサンプリング点に対
   しプラス側にサンプリング点をセツトする第２の
   サンプリング回路と、 第１のサンプリング回路のサンプリング点に対
   しマイナス側にセツトするとともに、第２のサン
   プリング回路のサンプリング点に対し対称の点に
   サンプリング点をセツトする第３のサンプリング
   回路を備え、 前記基準データ発生回路出力、第２のサンプリ
   ング回路出力および第３のサンプリング回路出力
   を前記一致検出回路に入力し、前記一致検出回路
   出力からエラーパルスを取り出すことを特徴とす
   る符号ひずみ評価方法。