JPS63233382A - スキュー検出装置 - Google Patents
スキュー検出装置Info
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- JPS63233382A JPS63233382A JP62299037A JP29903787A JPS63233382A JP S63233382 A JPS63233382 A JP S63233382A JP 62299037 A JP62299037 A JP 62299037A JP 29903787 A JP29903787 A JP 29903787A JP S63233382 A JPS63233382 A JP S63233382A
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- skew
- pulse
- circuit
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、2つの入力パルスの立上り、もしくは立下り
の時間ずれ、即ちタイミングスキューを検出するスキュ
ー検出装置に係り、特に複数の試験ピンを有する集積回
路試験装置等において、複数の試験ビンから発生される
パルス信号間のタイミングスキューの検出等に適したス
キュー検出装置に関する。
の時間ずれ、即ちタイミングスキューを検出するスキュ
ー検出装置に係り、特に複数の試験ピンを有する集積回
路試験装置等において、複数の試験ビンから発生される
パルス信号間のタイミングスキューの検出等に適したス
キュー検出装置に関する。
(従来技術)
集積回路の動作速度の向上とともに、集積回路試験装置
には試験タイミングの高精度化が要求されており、集積
回路試験装置が発生する複数の試験用パルス信号の間で
生ずるタイミングスキューを補正することが必要であり
、そのため、高精度。
には試験タイミングの高精度化が要求されており、集積
回路試験装置が発生する複数の試験用パルス信号の間で
生ずるタイミングスキューを補正することが必要であり
、そのため、高精度。
高時間分解能なタイミングスキュー検出装置が必要にな
っている。
っている。
従来技術においては、スキュー情報の取り込みを行うラ
ッチ回路に外部から印加するストローブ信号を介して、
2つの被測定パルス信号のタイミングを別個に検出して
スキューの有無を判定していた。第11図は集積回路試
験装置等で用いられている従来のスキュー検出装置の一
例を示す回路ブロック図である。この回路では、タイミ
ングの比較を行う第1.第2のパルス信号a、bのうち
、まず第1のパルス信号aだけをコンパレータ20に加
え、例えば第1のパルス信号aの中間レベルに設定した
基準信号Cとの電圧レベルを比較し、比較結果を保持す
るために次段に接続したラッチ回路21において、タイ
ミング信号源25から印加するストローブ信号dの印加
タイミングをストローブタイミング制御回路26によっ
て連続的に変化させ、ラッチ回路21の出力端eの電圧
がローからハイにもしくはハイからローに変化するレベ
ル遷移タイミングを探り出し、このときのストローブタ
イミングを該パルス信号aの立上り、もしくは立下りタ
イミングを検出し、続いて第2のパルス信号すの中間レ
ベルに基準信号Cを設定し直した後に、スイッチ22を
切り換えて第2のパルス信号すをコンパレータ20に加
え、第1のパルス信号aのレベル遷移タイミングでラッ
チ回路21にストローブ信号dを印加してコンパレータ
20の出力結果を保持し、このときにラッチ回路21の
出力端eの論理レベルがロー、もしくはハイであればス
キュー有りと判断し、中間レベルであればスキュー無し
と判断していた。即ち、ラッチ回路21に外部から印加
するストローブ信号dを介して、2つのパルス信号a、
bのタイミングスキューを検出していた。
ッチ回路に外部から印加するストローブ信号を介して、
2つの被測定パルス信号のタイミングを別個に検出して
スキューの有無を判定していた。第11図は集積回路試
験装置等で用いられている従来のスキュー検出装置の一
例を示す回路ブロック図である。この回路では、タイミ
ングの比較を行う第1.第2のパルス信号a、bのうち
、まず第1のパルス信号aだけをコンパレータ20に加
え、例えば第1のパルス信号aの中間レベルに設定した
基準信号Cとの電圧レベルを比較し、比較結果を保持す
るために次段に接続したラッチ回路21において、タイ
ミング信号源25から印加するストローブ信号dの印加
タイミングをストローブタイミング制御回路26によっ
て連続的に変化させ、ラッチ回路21の出力端eの電圧
がローからハイにもしくはハイからローに変化するレベ
ル遷移タイミングを探り出し、このときのストローブタ
イミングを該パルス信号aの立上り、もしくは立下りタ
イミングを検出し、続いて第2のパルス信号すの中間レ
ベルに基準信号Cを設定し直した後に、スイッチ22を
切り換えて第2のパルス信号すをコンパレータ20に加
え、第1のパルス信号aのレベル遷移タイミングでラッ
チ回路21にストローブ信号dを印加してコンパレータ
20の出力結果を保持し、このときにラッチ回路21の
出力端eの論理レベルがロー、もしくはハイであればス
キュー有りと判断し、中間レベルであればスキュー無し
と判断していた。即ち、ラッチ回路21に外部から印加
するストローブ信号dを介して、2つのパルス信号a、
bのタイミングスキューを検出していた。
又、ラッチ回路21が中間レベルを出力できない場合に
は、例えばラッチ回路21の出力eとストローブ信号d
の論理積でパルス信号を発生する波形整形回路23と、
波形整形回路23の出力信号fをクロック入力とするカ
ウンタ24を付加し、第2のパルス信号を複数回加え、
カウンタ24が計数した数が第2のパルス信号すを加え
た回数の半分、即ちスキューの検出を行った回数の半分
になった場合をスキュー無しと判断していた。
は、例えばラッチ回路21の出力eとストローブ信号d
の論理積でパルス信号を発生する波形整形回路23と、
波形整形回路23の出力信号fをクロック入力とするカ
ウンタ24を付加し、第2のパルス信号を複数回加え、
カウンタ24が計数した数が第2のパルス信号すを加え
た回数の半分、即ちスキューの検出を行った回数の半分
になった場合をスキュー無しと判断していた。
(発明が解決しようとする問題点)
上記の如く、従来技術においては、出力タイミングを任
意に設定できるラッチストローブ信号源やストローブタ
イミングを制御する回路が必要なため、装置の小型化が
困難であった。また、2つのパルス信号間のスキューを
一回のラッチストローブで直接検出することができない
ため、スキューを検出するまでに多大な時間を要する、
ストローブ信号のダイナミックなジッタが検出精度低下
要因となり高精度化に適さない、といった問題も有して
いた。
意に設定できるラッチストローブ信号源やストローブタ
イミングを制御する回路が必要なため、装置の小型化が
困難であった。また、2つのパルス信号間のスキューを
一回のラッチストローブで直接検出することができない
ため、スキューを検出するまでに多大な時間を要する、
ストローブ信号のダイナミックなジッタが検出精度低下
要因となり高精度化に適さない、といった問題も有して
いた。
(発明の目的)
本発明は従来の問題点を解決し、ラッチ回路のストロー
ブ信号を外部から供給する必要がなく、かつ2つのパル
ス信号のタイミングスキューを一回のラッチストローブ
で直接検出することができる、簡単でかつ高精度なスキ
ュー検出装置を提供することを目的とする。
ブ信号を外部から供給する必要がなく、かつ2つのパル
ス信号のタイミングスキューを一回のラッチストローブ
で直接検出することができる、簡単でかつ高精度なスキ
ュー検出装置を提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段)
上記の目的を達成するために、本発明は互いに独立な2
つの入力パルス信号の電圧レベルを個々に正規化する2
つのレベル変換回路と、前記2つのレベル変換回路の出
力端子間の電位差を検出する差動増幅回路と、一方の入
力パルス信号の少なくとも立上りの信号変化をもとに単
一のパルス波を整形するパルス整形回路と、前記パルス
整形回路が出力する一方のパルス信号をストローブ信号
に用い、ストローブ信号印加時の前記差動増幅回路の相
補出力電圧を取り込み、リセット信号が印加されるまで
保持する2つのラッチ回路とを備えてなることを特徴と
する。
つの入力パルス信号の電圧レベルを個々に正規化する2
つのレベル変換回路と、前記2つのレベル変換回路の出
力端子間の電位差を検出する差動増幅回路と、一方の入
力パルス信号の少なくとも立上りの信号変化をもとに単
一のパルス波を整形するパルス整形回路と、前記パルス
整形回路が出力する一方のパルス信号をストローブ信号
に用い、ストローブ信号印加時の前記差動増幅回路の相
補出力電圧を取り込み、リセット信号が印加されるまで
保持する2つのラッチ回路とを備えてなることを特徴と
する。
本発明におけるスキュー検出装置では、2つの被測定パ
ルス信号の電圧レベルを正規化した後に、両信号間の電
圧レベル差を差動増幅回路で直接検出し、一方の被測定
パルス信号の立上り、もしくは立下りと同期して生成し
たストローブパルスで前記差動増幅回路の検出結果をラ
ッチ回路に取り込み保持する。従って、ストローブのた
めの信号源を新たに必要とせず、パルスが入力される毎
にリアルタイムでタイミングスキューを検出することが
できる。
ルス信号の電圧レベルを正規化した後に、両信号間の電
圧レベル差を差動増幅回路で直接検出し、一方の被測定
パルス信号の立上り、もしくは立下りと同期して生成し
たストローブパルスで前記差動増幅回路の検出結果をラ
ッチ回路に取り込み保持する。従って、ストローブのた
めの信号源を新たに必要とせず、パルスが入力される毎
にリアルタイムでタイミングスキューを検出することが
できる。
次に本発明の実施例について説明する。なお、実施例は
一つの例示であって、本発明の精神を逸脱しない範囲で
、種々の変更あるいは改良を行いうろことは言うまでも
ない。
一つの例示であって、本発明の精神を逸脱しない範囲で
、種々の変更あるいは改良を行いうろことは言うまでも
ない。
(実施例)
第1図は本発明におけるスキュー検出装置の一例を示す
回路ブロック図であり、la、 lbは入力信号レベル
変換回路、2はスキュー検出用差動増幅回路、3a、
3bはスキュー情報保持用ラッチ回路、4はストローブ
/リセットパルス生成回路すなわちパルス整形回路、5
は接続切換スイッチ、6はANDゲート、7はNAND
ゲート、8はインバータ、9は遅延回路、a、bは被測
定パルス信号、gはレベル変換回路用基準信号、h、
tはレベル変換回路の出力、J、には差動増幅回路の
出力、m、nはラッチ回路の入力、0はラッチストロー
ブ信号、pはラッチリセット信号、q、rはラッチ回路
の出力、Wはセレクトデータを示す。また第2図は第1
図の回路において、立上り時のスキューを検出する場合
の回路動作を説明する要部波形図である。第1図、第2
図に基づいて、以下に各構成要素の機能と動作を説明す
る。
回路ブロック図であり、la、 lbは入力信号レベル
変換回路、2はスキュー検出用差動増幅回路、3a、
3bはスキュー情報保持用ラッチ回路、4はストローブ
/リセットパルス生成回路すなわちパルス整形回路、5
は接続切換スイッチ、6はANDゲート、7はNAND
ゲート、8はインバータ、9は遅延回路、a、bは被測
定パルス信号、gはレベル変換回路用基準信号、h、
tはレベル変換回路の出力、J、には差動増幅回路の
出力、m、nはラッチ回路の入力、0はラッチストロー
ブ信号、pはラッチリセット信号、q、rはラッチ回路
の出力、Wはセレクトデータを示す。また第2図は第1
図の回路において、立上り時のスキューを検出する場合
の回路動作を説明する要部波形図である。第1図、第2
図に基づいて、以下に各構成要素の機能と動作を説明す
る。
入力信号レベル変換回路1a、 lbは、振幅や電圧レ
ベルの異なる2つの被測定パルス信号a、bの論理ロー
レベル同志、及び論理ハイレベル同志を同一レベルに変
換する機能を有するものである。
ベルの異なる2つの被測定パルス信号a、bの論理ロー
レベル同志、及び論理ハイレベル同志を同一レベルに変
換する機能を有するものである。
第3図は本発明におけるスキュー検出装置の構成要素で
あるレベル変換回路の一実施例を示す。
あるレベル変換回路の一実施例を示す。
図において、Q1〜Q3はnpn トランジスタ、R1
−R3は抵抗、aは被測定パルス信号、gはレベル変換
回路用基準信号、hはレベル変換回路の出力、V cc
はプルアップ電源、V 1111はプルダウン電源、■
c、はゲート電流制御用電源を示す。
−R3は抵抗、aは被測定パルス信号、gはレベル変換
回路用基準信号、hはレベル変換回路の出力、V cc
はプルアップ電源、V 1111はプルダウン電源、■
c、はゲート電流制御用電源を示す。
例えば一方の被測定パルス信号aがCM L (Cur
rent Mode Logic )レベルで、他方の
被測定パルス信号すが信号aと振幅の異なるLCML
(LouLevel Current Mode Lo
gic)しくルのときには、第3図に示したような1弯
ツタ結合型のレベル変換回路を適用し、該レベル変換回
路に与える基準信号g、を、入力される被測定パルス信
号aの中間レベルに設定することにより、ハイレベルは
V ccに、ローレベルは Vcc (Vcs Vbe V*、)X R1/
R2に変換される。但しV−はプルアンプ用電源電位
、■、、はプルダウン用電源電位、Vk、は定電流源用
トランジスタQ3のベース−エミッタ間電圧、そして■
。はトランジスタQ3のベース電位を各々表す、従って
、V ee+ v@@i vcsの各電位とR1゜R2
の各抵抗値を例えばLCML回路に用いられるそれらと
同一の値に設定しておけば、両波測定パルス信号とも同
一のLCMLレベルに変換することができる。従って該
レベル変換回路の出力信号りとiの間ではパルスの立上
り、及び立下りのずれ、即ちスキューによってのみ電圧
レベル差が生じる。
rent Mode Logic )レベルで、他方の
被測定パルス信号すが信号aと振幅の異なるLCML
(LouLevel Current Mode Lo
gic)しくルのときには、第3図に示したような1弯
ツタ結合型のレベル変換回路を適用し、該レベル変換回
路に与える基準信号g、を、入力される被測定パルス信
号aの中間レベルに設定することにより、ハイレベルは
V ccに、ローレベルは Vcc (Vcs Vbe V*、)X R1/
R2に変換される。但しV−はプルアンプ用電源電位
、■、、はプルダウン用電源電位、Vk、は定電流源用
トランジスタQ3のベース−エミッタ間電圧、そして■
。はトランジスタQ3のベース電位を各々表す、従って
、V ee+ v@@i vcsの各電位とR1゜R2
の各抵抗値を例えばLCML回路に用いられるそれらと
同一の値に設定しておけば、両波測定パルス信号とも同
一のLCMLレベルに変換することができる。従って該
レベル変換回路の出力信号りとiの間ではパルスの立上
り、及び立下りのずれ、即ちスキューによってのみ電圧
レベル差が生じる。
入力信号レベル変換回路1a、 lbの出力レベル差を
次段の差動増幅回路2によって増幅すると、差動増幅回
路2の出力端j、kには第2図のごとくスキューが生じ
ている間だけ、相補的に増幅されたパルス信号が得られ
る。
次段の差動増幅回路2によって増幅すると、差動増幅回
路2の出力端j、kには第2図のごとくスキューが生じ
ている間だけ、相補的に増幅されたパルス信号が得られ
る。
第4図は本発明の構成要素であるラッチ回路の一実施例
を示す0図において、Q4〜Qllはnpnトランジス
タ、V e(はプルアップ電源、V amはプルダウン
電源、V cmはゲート電流制御用電源、R4−R6は
抵抗、m、nは差動入力、qは出力、VはLCML回路
第2レベル用基準信号を示す。
を示す0図において、Q4〜Qllはnpnトランジス
タ、V e(はプルアップ電源、V amはプルダウン
電源、V cmはゲート電流制御用電源、R4−R6は
抵抗、m、nは差動入力、qは出力、VはLCML回路
第2レベル用基準信号を示す。
しかして差動増幅回路2の次段に接続される2つのラッ
チ回路3a、 3bに、例えば第4図に示した差動増幅
型のラッチ回路3を適用し、差動増幅回路2のJ、kを
、ラッチ回路の入力端m、nに極性が逆になるように各
々接続する。そして、被測定パルス信号a、bのうちの
一方の立上りと同期させてラッチ回路3a、 3bにス
トローブ信号Oを加えれば、パルス信号a、bの間で生
じているスキューの極性に応じてラッチ回路3a、 3
bの出力は相補的に論理ローレベルもしくは論理ハイレ
ベルに固定される。たとえば上記の例に従って、第1図
のラッチ回路部に第4図のラッチ回路を導入し、立上り
時のスキューを検出する番場合、第2図のごとく、被測
定パルス信号a(レベル変換回路1aの出力h)の立上
りのタイミングが被測定パルス信号b〔レベル変換回路
tbの出力l〕のそれに比して遅い場合にはラッチ回路
3aの出力qが論理ハイレベルとなり、逆の場合にはラ
ッチ回路3bの出力rが論理ハイレベルとなる。
チ回路3a、 3bに、例えば第4図に示した差動増幅
型のラッチ回路3を適用し、差動増幅回路2のJ、kを
、ラッチ回路の入力端m、nに極性が逆になるように各
々接続する。そして、被測定パルス信号a、bのうちの
一方の立上りと同期させてラッチ回路3a、 3bにス
トローブ信号Oを加えれば、パルス信号a、bの間で生
じているスキューの極性に応じてラッチ回路3a、 3
bの出力は相補的に論理ローレベルもしくは論理ハイレ
ベルに固定される。たとえば上記の例に従って、第1図
のラッチ回路部に第4図のラッチ回路を導入し、立上り
時のスキューを検出する番場合、第2図のごとく、被測
定パルス信号a(レベル変換回路1aの出力h)の立上
りのタイミングが被測定パルス信号b〔レベル変換回路
tbの出力l〕のそれに比して遅い場合にはラッチ回路
3aの出力qが論理ハイレベルとなり、逆の場合にはラ
ッチ回路3bの出力rが論理ハイレベルとなる。
一方、被測定パルス信号a及びbの間にスキューが生じ
ていなければ、差動増幅回路の出力@j。
ていなければ、差動増幅回路の出力@j。
kはともに中間レベルのままでパルス信号は生成されな
いため、ラッチ回路3a、 3bの出力q、rは第2図
のごとく、ともにストローブ信号0が印加される前に確
定していた状態のままである。従って、ストローブ信号
0を印加する以前に例えば第1図に示したリセット端子
pにリセット信号を加えてラッチ回路3aと3bの出力
q、rをともに論理ローレベルに設定しておけば、スト
ローブ信号印加後も同一の論理ローレベルに固定される
。
いため、ラッチ回路3a、 3bの出力q、rは第2図
のごとく、ともにストローブ信号0が印加される前に確
定していた状態のままである。従って、ストローブ信号
0を印加する以前に例えば第1図に示したリセット端子
pにリセット信号を加えてラッチ回路3aと3bの出力
q、rをともに論理ローレベルに設定しておけば、スト
ローブ信号印加後も同一の論理ローレベルに固定される
。
従ってラッチ回路3aと3bの出力レベルが互いに相補
的であるかどうかでスキューのを無が判定でき、さらに
ラッチ回路3aと3bのいずれの出力が論理ハイレベル
になっているかでスキューの極性、即ち2つの被測定パ
ルス信号a、bのどちらの位相が進んでいるかも判断で
きる。
的であるかどうかでスキューのを無が判定でき、さらに
ラッチ回路3aと3bのいずれの出力が論理ハイレベル
になっているかでスキューの極性、即ち2つの被測定パ
ルス信号a、bのどちらの位相が進んでいるかも判断で
きる。
立下り時のスキューは被測定パルス信号a、 bのう
ちの一方の被測定パルス信号の立下りと同期させたスト
ローブ信号を加えることにより、上述した立上り時のス
キューと同様に検出できる。
ちの一方の被測定パルス信号の立下りと同期させたスト
ローブ信号を加えることにより、上述した立上り時のス
キューと同様に検出できる。
スキューの検出に必要となる、被測定パルス信号の立上
り、及び立下りと同期のとれたストローブ信号は、例え
ば第1図に示したストローブ/リセットパルス生成回路
4を設置することによって自己生成でき、外部から供給
する必要はない。このストローブ/リセットパルス生成
回路はANDゲート6、NANDゲート7、インバータ
8及び遅延回路9からなり、被測定パルス信号aと、こ
の信号aをインバータ8で反転し遅延回路9で必要な時
間δtだけ遅延した信号とAND、およびNANDをと
ることによって、各々被測定パルス信号の立上り、立下
りに同期した2つのパルス信号を生成でき、一方をスト
ローブ信号に、他方をリセット信号に用いれば、常に被
測定パルス信号と同期したストローブ/リセット信号が
得られる。
り、及び立下りと同期のとれたストローブ信号は、例え
ば第1図に示したストローブ/リセットパルス生成回路
4を設置することによって自己生成でき、外部から供給
する必要はない。このストローブ/リセットパルス生成
回路はANDゲート6、NANDゲート7、インバータ
8及び遅延回路9からなり、被測定パルス信号aと、こ
の信号aをインバータ8で反転し遅延回路9で必要な時
間δtだけ遅延した信号とAND、およびNANDをと
ることによって、各々被測定パルス信号の立上り、立下
りに同期した2つのパルス信号を生成でき、一方をスト
ローブ信号に、他方をリセット信号に用いれば、常に被
測定パルス信号と同期したストローブ/リセット信号が
得られる。
このストローブ/リセットパルス生成回路において得ら
れるパルス幅は、上記遅延時間δtで決まるので、使用
するラッチ回路のストローブパルスに対する応答特性に
応じてδtを設定すればよい。
れるパルス幅は、上記遅延時間δtで決まるので、使用
するラッチ回路のストローブパルスに対する応答特性に
応じてδtを設定すればよい。
上記ANDをとることによって生成したパルス信号をス
トローブ信号に用いれば、立上り時のタイミングスキュ
ーが検出でき、NANDで生成したパルス信号をストロ
ニブ信号に用いれば、立下り時のタイミングスキューが
検出できる0例えば第1図に示したように、切換スイッ
チ5を付加し、ストローブ/リセットパルス生成回路が
生成する2つのパルス信号とラッチ回路のストローブ入
力0、リセット入力pとの接続をセレクトデータWに応
じて切り換えることにより、被測定パルス信号の立上り
時のスキューと立下り時のスキューのどちらでも検出す
ることができる。
トローブ信号に用いれば、立上り時のタイミングスキュ
ーが検出でき、NANDで生成したパルス信号をストロ
ニブ信号に用いれば、立下り時のタイミングスキューが
検出できる0例えば第1図に示したように、切換スイッ
チ5を付加し、ストローブ/リセットパルス生成回路が
生成する2つのパルス信号とラッチ回路のストローブ入
力0、リセット入力pとの接続をセレクトデータWに応
じて切り換えることにより、被測定パルス信号の立上り
時のスキューと立下り時のスキューのどちらでも検出す
ることができる。
さらに、このストローブ/リセットパルス生成回路は、
リセット信号を被測定パルス信号の1周期の中で自動生
成できるため、被測定パルス信号が繰返し信号であって
も特別な制御信号を外部から印加することなく、個々の
立上り、あるいは立下りのエツジ毎にリアルタイムでス
キューを検出することができる。第5図は本発明におけ
るスキュー検出装置の他の実施例を示す回路ブロック図
である0図において10a、10bはカウンタ回路を示
し、それら以外の符号は全て第1図と同一のものを示す
、しかして上記の場合、例えば第5図に示すごとく、ラ
ッチ回路の出力q、rを各々クロック信号とするカウン
タ10a、10bを接続することにより、正方向のスキ
ュー検出回数と負方向のスキュー検出回数を個々に記憶
することができる。
リセット信号を被測定パルス信号の1周期の中で自動生
成できるため、被測定パルス信号が繰返し信号であって
も特別な制御信号を外部から印加することなく、個々の
立上り、あるいは立下りのエツジ毎にリアルタイムでス
キューを検出することができる。第5図は本発明におけ
るスキュー検出装置の他の実施例を示す回路ブロック図
である0図において10a、10bはカウンタ回路を示
し、それら以外の符号は全て第1図と同一のものを示す
、しかして上記の場合、例えば第5図に示すごとく、ラ
ッチ回路の出力q、rを各々クロック信号とするカウン
タ10a、10bを接続することにより、正方向のスキ
ュー検出回数と負方向のスキュー検出回数を個々に記憶
することができる。
従うて、被測定パルス信号の繰返し回数との間で統計的
にスキューの有無、並びにスキューの極性を判断するこ
とも可能なため、波形のジッタが問題となるような微小
時間領域でも高精度にスキュ−を検出することができる
。
にスキューの有無、並びにスキューの極性を判断するこ
とも可能なため、波形のジッタが問題となるような微小
時間領域でも高精度にスキュ−を検出することができる
。
第6図は本発明におけるスキュー検出装置の他の実施例
を示す回路ブロック図である。 11はNORゲート、
12はセット/リセットフリップフロップ、13はアッ
プ/ダウンカウンタ、14はスキュー検出回路、SはN
ORゲートの出力、Uはセット/リセットフリップフロ
ップの出力、x、yは各々セット/リセットフリップフ
ロップのセット入力、リセット入力を示し、それら以外
の符号は全て第1図と同一のものを示す、しかしてラッ
チ回路3a、 3bの出力q、rを入力とするNORゲ
ート11と、ラッチ回路3aの出力qをセット入力、ラ
ッチ回路3bの出力rをリセット入力とするセット/リ
セットフリップフロップ12と、クロックの立上りのエ
ツジでカウント動作を行うアップ/ダウンカウンタ13
とを付加し、NORゲート11の出力S、及びセット/
リセットフリップフロップ12の出力Uを各々アップ/
ダウンカウンタ13のクロック入力、及びアップ/ダウ
ン制御信号入力としている。
を示す回路ブロック図である。 11はNORゲート、
12はセット/リセットフリップフロップ、13はアッ
プ/ダウンカウンタ、14はスキュー検出回路、SはN
ORゲートの出力、Uはセット/リセットフリップフロ
ップの出力、x、yは各々セット/リセットフリップフ
ロップのセット入力、リセット入力を示し、それら以外
の符号は全て第1図と同一のものを示す、しかしてラッ
チ回路3a、 3bの出力q、rを入力とするNORゲ
ート11と、ラッチ回路3aの出力qをセット入力、ラ
ッチ回路3bの出力rをリセット入力とするセット/リ
セットフリップフロップ12と、クロックの立上りのエ
ツジでカウント動作を行うアップ/ダウンカウンタ13
とを付加し、NORゲート11の出力S、及びセット/
リセットフリップフロップ12の出力Uを各々アップ/
ダウンカウンタ13のクロック入力、及びアップ/ダウ
ン制御信号入力としている。
例えば、アップ/ダウン制御信号がハイレベルのときに
カウントアツプ、ローレベルのときにカウントダウンを
行う場合には、正方向のスキューでカウントアツプ、負
方向のスキューでカウントダウンが行われる。従ってこ
の場合、スキュー検出動作の開始前にアップ/ダウンカ
ウンタ13を予めリセットして、出力データをゼロに設
定しておけば、該アップ/ダウンカウンタの出力データ
が正の値なら正方向のスキューが多く、出力データが負
の値なら負方向のスキューが多いことがわかる。
カウントアツプ、ローレベルのときにカウントダウンを
行う場合には、正方向のスキューでカウントアツプ、負
方向のスキューでカウントダウンが行われる。従ってこ
の場合、スキュー検出動作の開始前にアップ/ダウンカ
ウンタ13を予めリセットして、出力データをゼロに設
定しておけば、該アップ/ダウンカウンタの出力データ
が正の値なら正方向のスキューが多く、出力データが負
の値なら負方向のスキューが多いことがわかる。
出力データがゼロなら正、負両方向のスキューが同数で
あるか、ともにゼロであることを示す。出力データの極
性は符号ビットに割当てられている最上位ビットを見れ
ばわかるので、被測定信号のバタン数、言い換えればス
キュー検出回数に関係なくスキューの極性を出力データ
の最上位1ピントのみで判定することが可能である。ま
た、この回路ではスキューの大きさが被測定パルス信号
が存するジッタ量と同程度に小さくなると、カウンタの
出力データの絶対値は全測定回数から減少し始め、スキ
ューの大きさが小さくなるにつれカウンタの出力データ
はゼロに近づく、従って被測定パルス信号が有するジッ
タ量より小さいスキューに対しては、カウンタの出力デ
ータの絶対値でスキューの大小を判断することも可能で
ある。
あるか、ともにゼロであることを示す。出力データの極
性は符号ビットに割当てられている最上位ビットを見れ
ばわかるので、被測定信号のバタン数、言い換えればス
キュー検出回数に関係なくスキューの極性を出力データ
の最上位1ピントのみで判定することが可能である。ま
た、この回路ではスキューの大きさが被測定パルス信号
が存するジッタ量と同程度に小さくなると、カウンタの
出力データの絶対値は全測定回数から減少し始め、スキ
ューの大きさが小さくなるにつれカウンタの出力データ
はゼロに近づく、従って被測定パルス信号が有するジッ
タ量より小さいスキューに対しては、カウンタの出力デ
ータの絶対値でスキューの大小を判断することも可能で
ある。
次いで、本発明のさらに他の実施例について説明する。
第7図は本発明におけるスキュー検出装置の他の実施例
を示す回路ブロック図であり、la、 lbは入力信号
レベル変換回路、2はスキュー検出用差動増幅回路、3
a、 3bはスキュー情報保持用ラッチ回路、4”はス
トローブパルス生成回路、5°は接続切換スイッチであ
る。また第8図は第7図の回路において、立上り時のス
キューを検出する場合の回路動作を説明する要部波形図
である。第7図。
を示す回路ブロック図であり、la、 lbは入力信号
レベル変換回路、2はスキュー検出用差動増幅回路、3
a、 3bはスキュー情報保持用ラッチ回路、4”はス
トローブパルス生成回路、5°は接続切換スイッチであ
る。また第8図は第7図の回路において、立上り時のス
キューを検出する場合の回路動作を説明する要部波形図
である。第7図。
第8図に基づいて、以下に各構成要素の機能と動作を説
明する。
明する。
入力信号レベル変換回路1a、 lbは、振幅や電圧レ
ベルの異なる2つの被測定パルス信号a、bの論理ロー
レベル同志、及び論理ハイレベル同志を同一レベルに変
換する機能を有するものである。
ベルの異なる2つの被測定パルス信号a、bの論理ロー
レベル同志、及び論理ハイレベル同志を同一レベルに変
換する機能を有するものである。
第1図の実施例と同様に、例えば一方の被測定パルス信
号aがCM L (Current M’ode Lo
gic)レベルで、他方の被測定パルス信号すが信号a
と振幅の異なるL CM L (Lou Level
Current Mode Logic)レベルのとき
には、第3図に示したようなエミッタ結合型のレベル変
換回路を適用し、両波測定パルス信号a、bとも同一の
LCMLレヘルに変換することができる。従って該レベ
ル変換回路の出力信号りとiの間ではパルスの立上り、
及び立下りのずれ、即ちスキューによってのみ電圧レベ
ル差が生じる。
号aがCM L (Current M’ode Lo
gic)レベルで、他方の被測定パルス信号すが信号a
と振幅の異なるL CM L (Lou Level
Current Mode Logic)レベルのとき
には、第3図に示したようなエミッタ結合型のレベル変
換回路を適用し、両波測定パルス信号a、bとも同一の
LCMLレヘルに変換することができる。従って該レベ
ル変換回路の出力信号りとiの間ではパルスの立上り、
及び立下りのずれ、即ちスキューによってのみ電圧レベ
ル差が生じる。
入力信号レベル変換回路1a、 lbの出力レベル差を
次段の差動増幅回路2によって増幅すると、差動増幅回
路2の出力端J、 kには第8図のごとくスキューが生
じている間だけ、相補的に増幅されたパルス信号が得ら
れる。
次段の差動増幅回路2によって増幅すると、差動増幅回
路2の出力端J、 kには第8図のごとくスキューが生
じている間だけ、相補的に増幅されたパルス信号が得ら
れる。
差動増幅回路2の次段に接続される2つのラッチ回路3
a、 3bに、例えば第4図に示した差動増幅型のラッ
チ回路3を適用し、差動増幅回路2の出力j、kを、ラ
ッチ回路3の入力端m、nに極性が逆になるように各々
接続する。第1図の実施例と同様に、第7図のラッチ回
路部に第4図のラッチ回路を導入し、立上り時のスキュ
ーを検出する場合、第8図のごとく、被測定パルス信号
a(レベル変換回路1aの出力h)の立上りのタイミン
グが被測定パルス信号b(レベル変換回路1bの出力i
)のそれに比して遅い場合にはラッチ回路3aの出力q
が論理ハイレベルとなり、逆の場合にはラッチ回路3b
の出力rが論理ハイレベルとなる。
a、 3bに、例えば第4図に示した差動増幅型のラッ
チ回路3を適用し、差動増幅回路2の出力j、kを、ラ
ッチ回路3の入力端m、nに極性が逆になるように各々
接続する。第1図の実施例と同様に、第7図のラッチ回
路部に第4図のラッチ回路を導入し、立上り時のスキュ
ーを検出する場合、第8図のごとく、被測定パルス信号
a(レベル変換回路1aの出力h)の立上りのタイミン
グが被測定パルス信号b(レベル変換回路1bの出力i
)のそれに比して遅い場合にはラッチ回路3aの出力q
が論理ハイレベルとなり、逆の場合にはラッチ回路3b
の出力rが論理ハイレベルとなる。
一方、被測定パルス信号a及びbの間にスキューが生じ
ていなければ、差動増幅回路の出力端j。
ていなければ、差動増幅回路の出力端j。
kはともに中間レベルのままでパルス信号は生成されな
いため、ラッチ回路3a、 3bの出力q、rは第8図
のごとく、ともにストローブ信号0が印加される前に確
定していた状態のままである。従って、ストローブ信号
0を印加する以前に例えば第7図の中で示したリセット
端子pにリセット信号を加えてラッチ回路3a、 3b
の出力q、rをともに論理ローレベルに設定しておけば
、ストローブ信号印加後も同一の論理ローレベルに固定
される。
いため、ラッチ回路3a、 3bの出力q、rは第8図
のごとく、ともにストローブ信号0が印加される前に確
定していた状態のままである。従って、ストローブ信号
0を印加する以前に例えば第7図の中で示したリセット
端子pにリセット信号を加えてラッチ回路3a、 3b
の出力q、rをともに論理ローレベルに設定しておけば
、ストローブ信号印加後も同一の論理ローレベルに固定
される。
従ってランチ回路3a、 3bの出力レベルが互いに相
補的であるかどうかでスキューの有無が判定でき、さら
にラッチ回路3aと3bのいずれの出力が論理ハイレベ
ルになっているかでスキューの極性、即ち2つの被測定
パルス信号a、bのどちらかの位相が進んでいるかも判
断できる。
補的であるかどうかでスキューの有無が判定でき、さら
にラッチ回路3aと3bのいずれの出力が論理ハイレベ
ルになっているかでスキューの極性、即ち2つの被測定
パルス信号a、bのどちらかの位相が進んでいるかも判
断できる。
立下り時のスキューは被測定パルス信号a、 bのう
ちの一方の被測定パルス信号の立下りと同期させたスト
ローブ信号を加えることにより、上述した立上り時のス
キューと同様に検出できる。
ちの一方の被測定パルス信号の立下りと同期させたスト
ローブ信号を加えることにより、上述した立上り時のス
キューと同様に検出できる。
スキューの検出に必要となる、被測定パルス信号の立上
り、及び立下りと同期のとれたストローブ信号は、例え
ば第7図に示したストローブパルス生成回路4゛を設置
することによって自己生成でき、外部から供給する必要
はない、このストローブパルス生成回路4゛は第1図の
ストローブ/リセットパルス生成回路と同じ構成からな
り、各り被測定パルス信号a、bの立上り、立下りに同
期した2つのパルス信号を生成でき、いずれか一方をス
トローブ信号に用いれば、常に被測定パルス信号の立上
り、もしくは立下りと同期したストローブ信号が得られ
る。このストローブパルス生tCa路4°において得ら
れるパルス幅は、上記遅延時間δLで決まるので、使用
するラッチ回路めストローブパルスに対する応答特性に
応じてδtを設定すればよい、上記ANDをとることに
よって生成したパルス信号をストローブ信号に用いれば
、立上り時のタイミングスキューが検出でき、NAND
で生成したパルス信号をストローブ信号に用いれば、立
下り時のタイミングスキューが検出できる0例えば第7
図に示したように、切換スイッチ5′を付加し、ストロ
ーブパルス生成回路4″が生成する2つのパルス信号の
いずれかとラッチ回路のストローブ入力0との接続をセ
レクトデータWに応じて切り換えることにより、被測定
パルス信号の立上り時のスキューと立下り時のスキュー
のどちらでも検出することができる。
り、及び立下りと同期のとれたストローブ信号は、例え
ば第7図に示したストローブパルス生成回路4゛を設置
することによって自己生成でき、外部から供給する必要
はない、このストローブパルス生成回路4゛は第1図の
ストローブ/リセットパルス生成回路と同じ構成からな
り、各り被測定パルス信号a、bの立上り、立下りに同
期した2つのパルス信号を生成でき、いずれか一方をス
トローブ信号に用いれば、常に被測定パルス信号の立上
り、もしくは立下りと同期したストローブ信号が得られ
る。このストローブパルス生tCa路4°において得ら
れるパルス幅は、上記遅延時間δLで決まるので、使用
するラッチ回路めストローブパルスに対する応答特性に
応じてδtを設定すればよい、上記ANDをとることに
よって生成したパルス信号をストローブ信号に用いれば
、立上り時のタイミングスキューが検出でき、NAND
で生成したパルス信号をストローブ信号に用いれば、立
下り時のタイミングスキューが検出できる0例えば第7
図に示したように、切換スイッチ5′を付加し、ストロ
ーブパルス生成回路4″が生成する2つのパルス信号の
いずれかとラッチ回路のストローブ入力0との接続をセ
レクトデータWに応じて切り換えることにより、被測定
パルス信号の立上り時のスキューと立下り時のスキュー
のどちらでも検出することができる。
第7図の回路構成では上述したように被測定パルス信号
の立上り、もしくは立下り毎にスキュー検出結果が得ら
れるNRZ信号(Non Return−to−Zer
o)が得られるが、例えば第9図に示す本発明の他の実
施例の如く、ANDゲート15a、15bによってラッ
チ回路の出力q、rの各々と被測定パルス信号とのAN
DをとることによってRZ倍信号Return−to−
Zero)出力q+、 r+を得ることも可能である。
の立上り、もしくは立下り毎にスキュー検出結果が得ら
れるNRZ信号(Non Return−to−Zer
o)が得られるが、例えば第9図に示す本発明の他の実
施例の如く、ANDゲート15a、15bによってラッ
チ回路の出力q、rの各々と被測定パルス信号とのAN
DをとることによってRZ倍信号Return−to−
Zero)出力q+、 r+を得ることも可能である。
この場合、信号q+、 、+を各々クロック信号とする
カウンタ10a、10bを接続することにより、正方向
のスキュー検出回数と負方向のスキュー検出回数を個々
に記憶することができる。従って、被測定パルス信号の
繰返し回数との間で統計的にスキューの有無、並びにス
キューの極性を判断することも可能なため、波形のジッ
タが問題となるような微/に時間領域でも高精度にスキ
ューを検出することができる。
カウンタ10a、10bを接続することにより、正方向
のスキュー検出回数と負方向のスキュー検出回数を個々
に記憶することができる。従って、被測定パルス信号の
繰返し回数との間で統計的にスキューの有無、並びにス
キューの極性を判断することも可能なため、波形のジッ
タが問題となるような微/に時間領域でも高精度にスキ
ューを検出することができる。
また、第10図は本発明の他の実施例であり、ラッチ回
路3a、 3bの出力q、rを入力とするORゲート1
1′と、ORゲート11’の出力Sと被測定パルス信号
aを入力とするANDゲー目6と、ラッチ回路3aの出
力qをセット入力、ラッチ回路3bの出力rをリセット
入力とするセット/リセットフリップフロップ12と、
クロックの立上りのエツジでカウント動作を行うアンプ
/ダウンカウンタ13とを付加し、ANDゲート16の
出力S°、及びセット/リセットフリップフロップ12
の出力Uを各々アップ/ダウンカウンタ13のクロック
入力、及びアップ/ダウン制御信号入力としている。A
NDゲート16の出力信号3゛は、正負いずれの極性で
もスキューが生じているときにはRZ倍信号なる。
路3a、 3bの出力q、rを入力とするORゲート1
1′と、ORゲート11’の出力Sと被測定パルス信号
aを入力とするANDゲー目6と、ラッチ回路3aの出
力qをセット入力、ラッチ回路3bの出力rをリセット
入力とするセット/リセットフリップフロップ12と、
クロックの立上りのエツジでカウント動作を行うアンプ
/ダウンカウンタ13とを付加し、ANDゲート16の
出力S°、及びセット/リセットフリップフロップ12
の出力Uを各々アップ/ダウンカウンタ13のクロック
入力、及びアップ/ダウン制御信号入力としている。A
NDゲート16の出力信号3゛は、正負いずれの極性で
もスキューが生じているときにはRZ倍信号なる。
しかして例えば、アップ/ダウン制御信号がハイレベル
のときにカウントアツプ、°ローレベルのときにカウン
トダウンを行う場合には、正方向のスキューでカウント
アツプ、負方向のスキューでカウントダウンが行われる
。従ってこの場合、第6図の実施例と同様に、スキュー
検出動作の開始前にアップ/ダウンカウンタ13を予め
リセットして、出力データをゼロに設定しておけば、該
アップ/ダウンカウンタの出力データが正の値なら正方
向のスキューが多く、出力データが負の値なら負方向の
スキューが多いことがわかる。出力データがゼロなら正
、負両方向のスキューが同数であるか、ともにゼロであ
ることを示す。出力データの極性は符号ビットに割当て
られている最上位ビットを見ればわかるので、被測定信
号のバタン数、言い換えればスキュー検出回数に関係な
くスキューの極性を出力データの最上位1ビツトのみで
判定することが可能である。また、本回路ではスキュー
の大きさが被測定パルス信号が有するジッタ量と同程度
に小さくなると、カウンタの出力データの絶対値は全測
定回数から減少し始め、スキューの大きさが小さくなる
につれカウンタの出力データはゼロに近づく、従って被
測定パルス信号が有するジッタ量より小さいスキューに
対しては、カウンタの出力データの絶対値でスキューの
大小を判断することも可能である。
のときにカウントアツプ、°ローレベルのときにカウン
トダウンを行う場合には、正方向のスキューでカウント
アツプ、負方向のスキューでカウントダウンが行われる
。従ってこの場合、第6図の実施例と同様に、スキュー
検出動作の開始前にアップ/ダウンカウンタ13を予め
リセットして、出力データをゼロに設定しておけば、該
アップ/ダウンカウンタの出力データが正の値なら正方
向のスキューが多く、出力データが負の値なら負方向の
スキューが多いことがわかる。出力データがゼロなら正
、負両方向のスキューが同数であるか、ともにゼロであ
ることを示す。出力データの極性は符号ビットに割当て
られている最上位ビットを見ればわかるので、被測定信
号のバタン数、言い換えればスキュー検出回数に関係な
くスキューの極性を出力データの最上位1ビツトのみで
判定することが可能である。また、本回路ではスキュー
の大きさが被測定パルス信号が有するジッタ量と同程度
に小さくなると、カウンタの出力データの絶対値は全測
定回数から減少し始め、スキューの大きさが小さくなる
につれカウンタの出力データはゼロに近づく、従って被
測定パルス信号が有するジッタ量より小さいスキューに
対しては、カウンタの出力データの絶対値でスキューの
大小を判断することも可能である。
なお、以上説明した実施例において、第1図。
第5図および第6図の実施例はパルス数をカウントして
スキューの有無の評価に、また、第7図。
スキューの有無の評価に、また、第7図。
第8図、第9図および第1θ図の実施例はスキュー幅を
測定するのに適した実施例である。
測定するのに適した実施例である。
(発明の効果)
以上の説明から明らかな如く、本発明によれば、互いに
独立な2つの入力パルス信号の電圧レベルを個々に正規
化する2つのレベル変換回路と、前記2つのレベル変換
回路の出力端子間の電位差を検出する差動増幅回路と、
一方の入力パルス信号の少なくとも立上りの信号変化を
もとに単一のパルス波を整形するパルス整形回路と、前
記パルス整形回路が出力する一方のパルス信号をストロ
ーブ信号に用い、ストローブ信号印加時の前記差動増幅
回路の相補出力電圧を取り込み、リセット信号が印加さ
れるまで保持する2つのラッチ回路とを備えてなること
により従来のようにスキュー情報を保持するラッチ回路
のストローブ信号用として、信号源やストローブタイミ
ング制御回路を設置する必要がなく、かつ2つのパルス
信号間のタイミングスキューを直接実時間で検出するこ
とができる。また、本発明の構成要素であるストローブ
/リセットパルス生成回路あるいはストローブパルス生
成回路はわずか数個の論理ゲートで実現できるため、回
路規模にも問題にならない。例えばLCML回路で構成
した場合、カウンタ回路を付加しない基本構成では約5
0個のトランジスタと約15個の抵抗で実現でき、例え
ば10ビツトのカウンタを2つ付加してもトランジスタ
数は約700個程度で実現できるので、500ゲート規
模のマスクスライス1チツプで実現できる。また、被測
定パルス信号の立上り、あるいは立下りと同期してスト
ローブパルスを内部生成していることから、検出精度低
下要因となるラッチストローブタイミングのばらつきが
ほとんど除去できるため、高精度化が実現できる0例え
ば、本発明に超高速バイポーラプロセス技術S S T
(Super Self−alignedProce
ss Technology)を適用した場合、時間分
解能2ps、絶対精度±10 ps程度の性能を実現で
きる。
独立な2つの入力パルス信号の電圧レベルを個々に正規
化する2つのレベル変換回路と、前記2つのレベル変換
回路の出力端子間の電位差を検出する差動増幅回路と、
一方の入力パルス信号の少なくとも立上りの信号変化を
もとに単一のパルス波を整形するパルス整形回路と、前
記パルス整形回路が出力する一方のパルス信号をストロ
ーブ信号に用い、ストローブ信号印加時の前記差動増幅
回路の相補出力電圧を取り込み、リセット信号が印加さ
れるまで保持する2つのラッチ回路とを備えてなること
により従来のようにスキュー情報を保持するラッチ回路
のストローブ信号用として、信号源やストローブタイミ
ング制御回路を設置する必要がなく、かつ2つのパルス
信号間のタイミングスキューを直接実時間で検出するこ
とができる。また、本発明の構成要素であるストローブ
/リセットパルス生成回路あるいはストローブパルス生
成回路はわずか数個の論理ゲートで実現できるため、回
路規模にも問題にならない。例えばLCML回路で構成
した場合、カウンタ回路を付加しない基本構成では約5
0個のトランジスタと約15個の抵抗で実現でき、例え
ば10ビツトのカウンタを2つ付加してもトランジスタ
数は約700個程度で実現できるので、500ゲート規
模のマスクスライス1チツプで実現できる。また、被測
定パルス信号の立上り、あるいは立下りと同期してスト
ローブパルスを内部生成していることから、検出精度低
下要因となるラッチストローブタイミングのばらつきが
ほとんど除去できるため、高精度化が実現できる0例え
ば、本発明に超高速バイポーラプロセス技術S S T
(Super Self−alignedProce
ss Technology)を適用した場合、時間分
解能2ps、絶対精度±10 ps程度の性能を実現で
きる。
第1図は本発明におけるスキュー検出装置の一実施例を
示す回路ブロック図、第2図は第1図に示した回路の動
作を説明する要部波形図、第3図は本発明におけるスキ
ュー検出装置の構成要素であるレベル変換回路の一実施
例を示す図、第4図は本発明におけるスキュー検出装置
の一構成要素であるラッチ回路の一実施例を示す図、第
5図は本発明におけるスキュー検出装置の他の実施例を
示す回路ブロック図、第6図は本発明におけるスキュー
検出装置の他の実施例を示す回路ブロック図、第7図は
本発明におけるスキュー検出装置の他の実施例を示す回
路ブロック図、第8図は第7図に示した回路の動作を説
明する要部波形図、第9図および第1O図は本発明にお
けるスキュー検出装置の他の実施例を示す回路ブロック
図、第11図は従来のスキュー検出装置の一例を示す回
路プロッタ図を示す。 la、 lb・・・入力信号レベル変換回路2・・・・
・差動増幅回路 3・・・・・差動増幅型ラッチ回路 3a、 3b・・・ラッチ回路 4・・・・・ストローブ/リセントパルス生成回路 4′・・・・・ストローブパルス生成回路5.5゛・・
・接続切換スインチ ロ・・・・ ・ANDゲート 7・ ・・・・NANDゲート 8・・・・・インバータ 9・・・・・遅延回路 10a、10b・カウンタ回路 11・ ・・・ ・NORゲート 11′ ・・・・ORゲート 12・・・・・セ・ント/リセ・ントフリッフ゛フロン
ブ13・・・・・アンプ/ダウンカウンタ14・・・・
・スキュー検出回路本体 15a、15b −ANDNOゲ ート・ ・ ・・・ANDゲート 20・・・・・コンパレータ 21・・・・・ラッチ回路 22・・・・・切換スイッチ 23・・・・・波形整形用AND回路 24・・・・・カウンタ 25・・・・・ストローブ信号源 26・・・・・ス°トロープタイミング制御回路Ql−
Q3・npnトランジスタ R1〜R3・抵抗 Q4〜Qll・npn トランジスタ R4〜R6・抵抗 V eC・・・・プルアップ電源 V am・・・・プルダウン電源 ■c、・・・・ゲート電流制御用電源 特許出願人 日本電信電話株式会社 代理人 弁理士 高 山 敏1,1夫(外1名)”′
l5. 、’ @1図 第2図 第3図 第4図 第5 図 第6図 第7図 第8図
示す回路ブロック図、第2図は第1図に示した回路の動
作を説明する要部波形図、第3図は本発明におけるスキ
ュー検出装置の構成要素であるレベル変換回路の一実施
例を示す図、第4図は本発明におけるスキュー検出装置
の一構成要素であるラッチ回路の一実施例を示す図、第
5図は本発明におけるスキュー検出装置の他の実施例を
示す回路ブロック図、第6図は本発明におけるスキュー
検出装置の他の実施例を示す回路ブロック図、第7図は
本発明におけるスキュー検出装置の他の実施例を示す回
路ブロック図、第8図は第7図に示した回路の動作を説
明する要部波形図、第9図および第1O図は本発明にお
けるスキュー検出装置の他の実施例を示す回路ブロック
図、第11図は従来のスキュー検出装置の一例を示す回
路プロッタ図を示す。 la、 lb・・・入力信号レベル変換回路2・・・・
・差動増幅回路 3・・・・・差動増幅型ラッチ回路 3a、 3b・・・ラッチ回路 4・・・・・ストローブ/リセントパルス生成回路 4′・・・・・ストローブパルス生成回路5.5゛・・
・接続切換スインチ ロ・・・・ ・ANDゲート 7・ ・・・・NANDゲート 8・・・・・インバータ 9・・・・・遅延回路 10a、10b・カウンタ回路 11・ ・・・ ・NORゲート 11′ ・・・・ORゲート 12・・・・・セ・ント/リセ・ントフリッフ゛フロン
ブ13・・・・・アンプ/ダウンカウンタ14・・・・
・スキュー検出回路本体 15a、15b −ANDNOゲ ート・ ・ ・・・ANDゲート 20・・・・・コンパレータ 21・・・・・ラッチ回路 22・・・・・切換スイッチ 23・・・・・波形整形用AND回路 24・・・・・カウンタ 25・・・・・ストローブ信号源 26・・・・・ス°トロープタイミング制御回路Ql−
Q3・npnトランジスタ R1〜R3・抵抗 Q4〜Qll・npn トランジスタ R4〜R6・抵抗 V eC・・・・プルアップ電源 V am・・・・プルダウン電源 ■c、・・・・ゲート電流制御用電源 特許出願人 日本電信電話株式会社 代理人 弁理士 高 山 敏1,1夫(外1名)”′
l5. 、’ @1図 第2図 第3図 第4図 第5 図 第6図 第7図 第8図
Claims (3)
- (1)互いに独立な2つの入力パルス信号の電圧レベル
を個々に正規化する2つのレベル変換回路と、前記2つ
のレベル変換回路の出力端子間の電位差を検出する差動
増幅回路と、一方の入力パルス信号の少なくとも立上り
の信号変化をもとに単一のパルス波を整形するパルス整
形回路と、前記パルス整形回路が出力する一方のパルス
信号をストローブ信号に用い、ストローブ信号印加時の
前記差動増幅回路の相補出力電圧を取り込み、リセット
信号が印加されるまで保持する2つのラッチ回路とを備
えてなることを特徴とするスキュー検出装置。 - (2)入力パルス信号の立上り、立下りの信号変化をも
とに立上り、立下りのタイミング毎にそれぞれ独立に単
一のパルス波を整形するパルス整形回路を備え、前記入
力パルスの立下りのタイミング毎に前記パルス整形回路
で整形されたパルス波をリセット信号として用いること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載のスキュー検出
装置。 - (3)外部から供給されるリセット信号を用いることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載のスキュー検出装
置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61-282103 | 1986-11-28 | ||
| JP28210386 | 1986-11-28 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63233382A true JPS63233382A (ja) | 1988-09-29 |
| JPH0738013B2 JPH0738013B2 (ja) | 1995-04-26 |
Family
ID=17648163
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62299037A Expired - Lifetime JPH0738013B2 (ja) | 1986-11-28 | 1987-11-27 | スキュー検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0738013B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5321632A (en) * | 1991-02-26 | 1994-06-14 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Method and apparatus for measuring the length of a transmission line in accordance with a reflected waveform |
| WO1997027493A1 (fr) * | 1996-01-23 | 1997-07-31 | Advantest Corporation | Comparateur pour dispositif testeur de semiconducteurs |
| JP2000171528A (ja) * | 1998-12-08 | 2000-06-23 | Samsung Electronics Co Ltd | テスタ |
-
1987
- 1987-11-27 JP JP62299037A patent/JPH0738013B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5321632A (en) * | 1991-02-26 | 1994-06-14 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Method and apparatus for measuring the length of a transmission line in accordance with a reflected waveform |
| EP0736773A3 (en) * | 1991-02-26 | 1996-10-16 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Transmission line length measurement method and apparatus |
| WO1997027493A1 (fr) * | 1996-01-23 | 1997-07-31 | Advantest Corporation | Comparateur pour dispositif testeur de semiconducteurs |
| GB2314712A (en) * | 1996-01-23 | 1998-01-07 | Advantest Corp | Comparator for semiconductor testing device |
| US6016566A (en) * | 1996-01-23 | 2000-01-18 | Advantest Corp. | Comparator for semiconductor testing device |
| GB2314712B (en) * | 1996-01-23 | 2000-07-05 | Advantest Corp | Comparator circuit for semiconductor test system |
| JP2000171528A (ja) * | 1998-12-08 | 2000-06-23 | Samsung Electronics Co Ltd | テスタ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0738013B2 (ja) | 1995-04-26 |
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