JPH037982B2 - - Google Patents
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- JPH037982B2 JPH037982B2 JP56215606A JP21560681A JPH037982B2 JP H037982 B2 JPH037982 B2 JP H037982B2 JP 56215606 A JP56215606 A JP 56215606A JP 21560681 A JP21560681 A JP 21560681A JP H037982 B2 JPH037982 B2 JP H037982B2
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- Japan
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- frame memory
- self
- processing device
- diagnosis
- image
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
- G06F11/2236—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors
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- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Processing Or Creating Images (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Image Input (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は画像処理装置の自己診断方法、特に複
数のフレームメモリによつて種々の画像処理を行
なう装置の各フレームメモリの異常を簡単に診断
することのできる自己診断方法に関するものであ
る。
数のフレームメモリによつて種々の画像処理を行
なう装置の各フレームメモリの異常を簡単に診断
することのできる自己診断方法に関するものであ
る。
テレビカメラなどによつて撮像された画像情報
をデジタル信号として二次元的に記憶可能なフレ
ームメモリが周知であり、種々の画像処理に用い
られている。この種の画像処理装置としては、各
種製造工程における検査装置として用いることが
でき、たとえば連続製造工程でのワークの有無を
検出するために用いられまた金型その他の外形を
基準形状と比較する検査装置としても用いられて
いる。さらに、車両の組立て工程においては、こ
の装置がヘツドライトの光軸測定にも実用化さ
れ、検査車両のヘツドライトをモニタスクリーン
に照射し、これをモニタテレビカメラによつて撮
像し、この時のビームパターンを基準画像と比較
して、その面積、周囲長或いは重心位置などから
光軸ずれが検査され、このような光軸測定を検査
者の目視によることなく行え、且つ検査工程を自
動化することができる利点を有する。
をデジタル信号として二次元的に記憶可能なフレ
ームメモリが周知であり、種々の画像処理に用い
られている。この種の画像処理装置としては、各
種製造工程における検査装置として用いることが
でき、たとえば連続製造工程でのワークの有無を
検出するために用いられまた金型その他の外形を
基準形状と比較する検査装置としても用いられて
いる。さらに、車両の組立て工程においては、こ
の装置がヘツドライトの光軸測定にも実用化さ
れ、検査車両のヘツドライトをモニタスクリーン
に照射し、これをモニタテレビカメラによつて撮
像し、この時のビームパターンを基準画像と比較
して、その面積、周囲長或いは重心位置などから
光軸ずれが検査され、このような光軸測定を検査
者の目視によることなく行え、且つ検査工程を自
動化することができる利点を有する。
しかしながら、このような画像処理装置におい
ては、フレームメモリが電気的なシヨートなどに
より所望の作動が得られなくなる場合があり、こ
のような異常を適確に診断する装置が望まれてい
た。特に、前述した車両の光軸測定などにおいて
は、大量の車両を最終検査にて測定するので、フ
レームメモリの異常発生時には、光軸不整の車両
が出荷されることとなり極めて大きな問題となる
ので、装置の自己診断を手軽に行なうことが要望
されていた。
ては、フレームメモリが電気的なシヨートなどに
より所望の作動が得られなくなる場合があり、こ
のような異常を適確に診断する装置が望まれてい
た。特に、前述した車両の光軸測定などにおいて
は、大量の車両を最終検査にて測定するので、フ
レームメモリの異常発生時には、光軸不整の車両
が出荷されることとなり極めて大きな問題となる
ので、装置の自己診断を手軽に行なうことが要望
されていた。
従来、光軸測定に用いられる画像処理装置で
は、装置の診断を行なうため診断用の正しく光軸
調整された車両を検査し、この検査結果が正常で
あればフレームメモリも正常であると診断するダ
ミー検査が考えられていたが実際上、このような
実車両による診断は連続的な検査工程遂行時には
ほとんど不可能であつた。
は、装置の診断を行なうため診断用の正しく光軸
調整された車両を検査し、この検査結果が正常で
あればフレームメモリも正常であると診断するダ
ミー検査が考えられていたが実際上、このような
実車両による診断は連続的な検査工程遂行時には
ほとんど不可能であつた。
また、従来の他の診断方法としては、画像処理
装置に診断用の別個の画像処理装置を接続して診
断作用を行なうことも提案されているが、この方
法によれば、診断の都度装置をたとえば光軸測定
から切り離す必要があり、実用的でないという欠
点があつつた。
装置に診断用の別個の画像処理装置を接続して診
断作用を行なうことも提案されているが、この方
法によれば、診断の都度装置をたとえば光軸測定
から切り離す必要があり、実用的でないという欠
点があつつた。
本発明は従来の課題に鑑みなされたものであ
り、その目的は、簡単な構造で特別な診断機構を
付加することなく確実に画像処理装置の自己診断
を行なうことのできる改良された自己診断方法を
提供することにある。
り、その目的は、簡単な構造で特別な診断機構を
付加することなく確実に画像処理装置の自己診断
を行なうことのできる改良された自己診断方法を
提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明は、、複数
のフレームメモリにそれぞれ画像情報を記憶さ
せ、該画像情報を基準画像と比較して所定の画像
処理を行なう画像処理装置において、任意の１個
のフレームメモリに自己診断用の基準パターンを
書き込み、該基準パターンを他のフレームメモリ
に転送し、転送されたフレームメモリからの基準
パターンを再び読み出して通常の処理プログラム
に従つて前記入力した基準パターンと比較解析
し、画像処理装置の画像処理を行ない、装置の自
己診断を行なうことを特徴とする。
のフレームメモリにそれぞれ画像情報を記憶さ
せ、該画像情報を基準画像と比較して所定の画像
処理を行なう画像処理装置において、任意の１個
のフレームメモリに自己診断用の基準パターンを
書き込み、該基準パターンを他のフレームメモリ
に転送し、転送されたフレームメモリからの基準
パターンを再び読み出して通常の処理プログラム
に従つて前記入力した基準パターンと比較解析
し、画像処理装置の画像処理を行ない、装置の自
己診断を行なうことを特徴とする。
以下図面に基づいて本発明の好適な実施例を説
明する。
明する。
第１図には本発明に用いられる画像処理装置を
車両前照灯の光軸測定に利用した実施例装置が示
されており、３個のフレームメモリ１０，１２，
１４が用いられ、各フレームメモリ１０，１２，
１４はそれぞれ右側及び左側の前照灯のビーム画
像を記憶し、またフレームメモリ１４は検査車両
の据付位置を記憶する。前記各フレームメモリ１
０，１２，１４に所定の画像情報を供給するため
３台のテレビカメラ１６，１８，２０が設けら
れ、それぞれテレビカメラ１６，１８は検査車両
の前照灯から照射されるモニタスクリーン用のビ
ームパターンを撮像し、またテレビカメラ２０は
検査車両の据付状態を撮像する。各テレビカメラ
１６，１８，２０の画像情報はアナログ信号であ
るため、これがそれぞれAD変換器２２，２４，
２６によつてデジタル信号に変換され、切替スイ
ツチ部２８に供給される。
車両前照灯の光軸測定に利用した実施例装置が示
されており、３個のフレームメモリ１０，１２，
１４が用いられ、各フレームメモリ１０，１２，
１４はそれぞれ右側及び左側の前照灯のビーム画
像を記憶し、またフレームメモリ１４は検査車両
の据付位置を記憶する。前記各フレームメモリ１
０，１２，１４に所定の画像情報を供給するため
３台のテレビカメラ１６，１８，２０が設けら
れ、それぞれテレビカメラ１６，１８は検査車両
の前照灯から照射されるモニタスクリーン用のビ
ームパターンを撮像し、またテレビカメラ２０は
検査車両の据付状態を撮像する。各テレビカメラ
１６，１８，２０の画像情報はアナログ信号であ
るため、これがそれぞれAD変換器２２，２４，
２６によつてデジタル信号に変換され、切替スイ
ツチ部２８に供給される。
前記切替スイツチ部２８は処理装置３０からの
指令によつて前記供給されたデジタル信号の画像
情報をそれぞれ対応する前述したフレームメモリ
１０，１２，１４に供給して所定のビーム画像及
び車両画像をデジタル値として記憶する。
指令によつて前記供給されたデジタル信号の画像
情報をそれぞれ対応する前述したフレームメモリ
１０，１２，１４に供給して所定のビーム画像及
び車両画像をデジタル値として記憶する。
前記各フレームメモリ１０，１２，１４に記憶
された画像情報は処理装置３０に供給され、所定
の基準画像と比較され、この時の車両の据付状態
に応じた補正が行なわれて基準画像との比較値が
所定の許容範囲にある場合に検査車両の光軸が正
しく設定されていることを判断し、また許容範囲
外にある場合にその調整が行なわれる。通常、基
準画像との比較はビーム画像の面積、周囲長及び
重心をパラメータとして行ない、瞬時に光軸検査
を行なうことができる。
された画像情報は処理装置３０に供給され、所定
の基準画像と比較され、この時の車両の据付状態
に応じた補正が行なわれて基準画像との比較値が
所定の許容範囲にある場合に検査車両の光軸が正
しく設定されていることを判断し、また許容範囲
外にある場合にその調整が行なわれる。通常、基
準画像との比較はビーム画像の面積、周囲長及び
重心をパラメータとして行ない、瞬時に光軸検査
を行なうことができる。
本発明においては、前述した画像処理装置の基
体的な処理プログラムを用いて自己診断を行なう
ことを特徴とし、このために、処理装置３０が自
己診断モードを選択した場合には、処理装置３０
から任意に選択されたいずれか１つのフレームメ
モリ、実施例においてはフレームメモリ１０また
は１２のいずれか一方に基準パターン情報１００
が供給され、これがいずれかの選択されたフレー
ムメモリ１０，１２に記憶される。
体的な処理プログラムを用いて自己診断を行なう
ことを特徴とし、このために、処理装置３０が自
己診断モードを選択した場合には、処理装置３０
から任意に選択されたいずれか１つのフレームメ
モリ、実施例においてはフレームメモリ１０また
は１２のいずれか一方に基準パターン情報１００
が供給され、これがいずれかの選択されたフレー
ムメモリ１０，１２に記憶される。
本実施例においては、前記基準パターン情報１
００としては、前述した通常の光軸測定に用いら
れる基準画像が好適であり、第２図にはこの基準
画像がビーム形状として示されており、このよう
な基準パターン情報１００がデジタル信号として
供給される。
００としては、前述した通常の光軸測定に用いら
れる基準画像が好適であり、第２図にはこの基準
画像がビーム形状として示されており、このよう
な基準パターン情報１００がデジタル信号として
供給される。
次に、前述したフレームメモリ１０，１２に記
憶された基準パターンは他のいずれかのフレーム
メモリ１２，１４に順次転送され、通常の処理作
用が行なわれる。基準パターンの転送のため、本
実施例においては、前記切替スイツチ部２８が有
用であり、処理装置３０からの指令によつて所定
の切替作用が選択されると、前記たとえばフレー
ムメモリ１０に記憶されている基準パターンは順
次他のフレームメモリ１２，１４に順次正しく転
送される。
憶された基準パターンは他のいずれかのフレーム
メモリ１２，１４に順次転送され、通常の処理作
用が行なわれる。基準パターンの転送のため、本
実施例においては、前記切替スイツチ部２８が有
用であり、処理装置３０からの指令によつて所定
の切替作用が選択されると、前記たとえばフレー
ムメモリ１０に記憶されている基準パターンは順
次他のフレームメモリ１２，１４に順次正しく転
送される。
そして、この転送されたフレームメモリたとえ
ば１２の基準パターンは再び処理装置３０によつ
て通常の処理作用と同様に、実施例においては通
常の光軸測定と同様のプログラム処理によつてフ
レームメモリ１０に書き込んだ基準パターンとの
比較が行なわれ、これが所定許容範囲にある場合
にフレームメモリ１０から１２に到り系が正常で
あると判断され、またこの比較値が許容値を外れ
ているとこの系になんらかの異常があることが判
定される。実施例における許容基準値は、通常の
光軸測定におけるよりも厳しく設定され、これに
より、装置の異常を適確に検査することが可能と
なる。
ば１２の基準パターンは再び処理装置３０によつ
て通常の処理作用と同様に、実施例においては通
常の光軸測定と同様のプログラム処理によつてフ
レームメモリ１０に書き込んだ基準パターンとの
比較が行なわれ、これが所定許容範囲にある場合
にフレームメモリ１０から１２に到り系が正常で
あると判断され、またこの比較値が許容値を外れ
ているとこの系になんらかの異常があることが判
定される。実施例における許容基準値は、通常の
光軸測定におけるよりも厳しく設定され、これに
より、装置の異常を適確に検査することが可能と
なる。
第３図には第１図の自己診断作用が示されてい
る。この自己診断は各検査車両の光軸検査に先立
つてその都度行なつても或いは１日１回などの適
当な間隔で行なつてもよい。処理装置３０が自己
診断モードを選択すると、まず、実施例において
はフレームメモリ１０（No.１）へ処理装置３０か
ら基準パターン情報１００の書き込みが行なわ
れ、第２図のような光軸検査に用いられる基準パ
ターンが記憶される。
る。この自己診断は各検査車両の光軸検査に先立
つてその都度行なつても或いは１日１回などの適
当な間隔で行なつてもよい。処理装置３０が自己
診断モードを選択すると、まず、実施例において
はフレームメモリ１０（No.１）へ処理装置３０か
ら基準パターン情報１００の書き込みが行なわ
れ、第２図のような光軸検査に用いられる基準パ
ターンが記憶される。
次に、このパターンが切替スイツチ２８を介し
てフレームメモリ１０からフレームメモリ１２
（No.２）へ転送される。
てフレームメモリ１０からフレームメモリ１２
（No.２）へ転送される。
そして、処理装置３０はフレームメモリ１２の
データ解析、すなわち、所定の画像処理プログラ
ムに従つた処理、実施例においては、フレームメ
モリ１２の記憶画像を所定の基準画像と比較する
処理が行なわれる。
データ解析、すなわち、所定の画像処理プログラ
ムに従つた処理、実施例においては、フレームメ
モリ１２の記憶画像を所定の基準画像と比較する
処理が行なわれる。
フレームメモリ１０から１２へ至る系が正常で
ある場合には、フレームメモリ１２の記憶してい
る画像は処理装置３０の基準画像と同一であるた
め、両者はほとんど完全に合致し、これによつ
て、「OK」なる判定が行なわれる。この時の判
定許容範囲は通常の光軸検査時よりは厳しく設定
することが好適である。
ある場合には、フレームメモリ１２の記憶してい
る画像は処理装置３０の基準画像と同一であるた
め、両者はほとんど完全に合致し、これによつ
て、「OK」なる判定が行なわれる。この時の判
定許容範囲は通常の光軸検査時よりは厳しく設定
することが好適である。
一方、前記判定が「NG」となつた時には、フ
レームメモリ１２の記憶しているパターンが処理
装置３０の基準画像と異なる場合であり、これは
フレームメモリ１０から１２に至る系によつて情
報の歪みが生じたことを示し、この系のいずれか
に異常があることを示している。
レームメモリ１２の記憶しているパターンが処理
装置３０の基準画像と異なる場合であり、これは
フレームメモリ１０から１２に至る系によつて情
報の歪みが生じたことを示し、この系のいずれか
に異常があることを示している。
以上のようにフレームメモリ１０から１２に至
る系の自己診断が完了すると、次に切替スイツチ
部２８はフレームメモリ１０の基準パターン情報
１００を次のフレームメモリ１４（No.３）へ転送
し、同様の判定を行なう。
る系の自己診断が完了すると、次に切替スイツチ
部２８はフレームメモリ１０の基準パターン情報
１００を次のフレームメモリ１４（No.３）へ転送
し、同様の判定を行なう。
以上の２回の繰返し自己診断が全て「OK」で
あれば、フレームメモリ群は正常であると判断さ
れ、自己診断が終了するが、いずれかの段階で異
常が認められた場合には、それぞれ第３図で示し
た段階にて各フレームメモリの異常が判別され、
また前記２回の繰返し自己診断によつても常に異
常を示す場合には、さらに処理装置３０はフレー
ムメモリ１２（No.２）へ基準パターン情報１００
の書き込みを行ない、これをさらに切替スイツチ
２８によつてフレームメモリ１４へ転送し前記と
同様の自己診断を行ない、異常発生箇所を明確に
する。
あれば、フレームメモリ群は正常であると判断さ
れ、自己診断が終了するが、いずれかの段階で異
常が認められた場合には、それぞれ第３図で示し
た段階にて各フレームメモリの異常が判別され、
また前記２回の繰返し自己診断によつても常に異
常を示す場合には、さらに処理装置３０はフレー
ムメモリ１２（No.２）へ基準パターン情報１００
の書き込みを行ない、これをさらに切替スイツチ
２８によつてフレームメモリ１４へ転送し前記と
同様の自己診断を行ない、異常発生箇所を明確に
する。
以上のようにして、本発明によれば、極めて単
時間の自己診断で且つなんらの付属装置を接続す
ることなく、処理装置３０に設けられている画像
処理プログラムをそのまま利用して装置の自己診
断を行なうことができ、また複数回の自己診断に
よつて異常箇所を確定することも可能となる。
時間の自己診断で且つなんらの付属装置を接続す
ることなく、処理装置３０に設けられている画像
処理プログラムをそのまま利用して装置の自己診
断を行なうことができ、また複数回の自己診断に
よつて異常箇所を確定することも可能となる。
以上説明したように、本発明では、画像処理装
置の異常を自動的に自己診断し、また自己診断時
間も極めて短縮できるので、手軽に且つ高頻度で
診断作用を行なうことができ、特に車両の光軸測
定装置などに用いれば、検査の信頼性を著しく向
上することができるなど種々の利点を奏すること
ができる。
置の異常を自動的に自己診断し、また自己診断時
間も極めて短縮できるので、手軽に且つ高頻度で
診断作用を行なうことができ、特に車両の光軸測
定装置などに用いれば、検査の信頼性を著しく向
上することができるなど種々の利点を奏すること
ができる。
第１図は本発明に係る自己診断方法が適応され
た車両の光軸測定装置を示す概略構成図、第２図
は第１図に用いられる基準パターン情報を示す説
明図、第３図は第１図の作用を示すフローチヤー
ト図である。 １０，１２，１４……フレームメモリ、１６，
１８，２０……テレビカメラ、２８……切替スイ
ツチ部、３０……処理装置、１００……基準パタ
ーン情報。
た車両の光軸測定装置を示す概略構成図、第２図
は第１図に用いられる基準パターン情報を示す説
明図、第３図は第１図の作用を示すフローチヤー
ト図である。 １０，１２，１４……フレームメモリ、１６，
１８，２０……テレビカメラ、２８……切替スイ
ツチ部、３０……処理装置、１００……基準パタ
ーン情報。
Claims (1)
- １ 複数のフレームメモリにそれぞれ画像情報を
記憶させ、該画像情報を基準画像と比較して所定
の画像処理を行なう画像処理装置において、任意
の１個のフレームメモリに自己診断用の基準パタ
ーンを書き込み、該基準パターンを他のフレーム
メモリに転送し、転送されたフレームメモリから
の基準パターンを再び読み出して通常の処理プロ
グラムに従つて前記入力した基準パターンと比較
解析し、画像処理装置の画像処理を行ない、装置
の自己診断を行なうことを特徴とする画像処理装
置の自己診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56215606A JPS58115700A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 画像処理装置の自己診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56215606A JPS58115700A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 画像処理装置の自己診断方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58115700A JPS58115700A (ja) | 1983-07-09 |
| JPH037982B2 true JPH037982B2 (ja) | 1991-02-04 |
Family
ID=16675208
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56215606A Granted JPS58115700A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 画像処理装置の自己診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58115700A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63123169A (ja) * | 1986-11-12 | 1988-05-26 | Fujitsu Ltd | 画像入力結合ユニツト |
| JP2921718B2 (ja) * | 1991-07-05 | 1999-07-19 | ファナック株式会社 | 産業用視覚センサにおける画像処理方法 |
| US6356671B1 (en) | 1991-07-05 | 2002-03-12 | Fanuc Ltd. | Image processing method for an industrial visual sensor |
-
1981
- 1981-12-28 JP JP56215606A patent/JPS58115700A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58115700A (ja) | 1983-07-09 |
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