JPH0381205B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0381205B2 JPH0381205B2 JP57085142A JP8514282A JPH0381205B2 JP H0381205 B2 JPH0381205 B2 JP H0381205B2 JP 57085142 A JP57085142 A JP 57085142A JP 8514282 A JP8514282 A JP 8514282A JP H0381205 B2 JPH0381205 B2 JP H0381205B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- reflected
- record carrier
- light
- objective lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光ビームを記録担体に微小スポツト
光として照射して、情報の記録あるいは再生を行
う光学的記録再生装置の光学装置に関するもので
ある。
光として照射して、情報の記録あるいは再生を行
う光学的記録再生装置の光学装置に関するもので
ある。
光学的記録再生装置としては、ビデオデイスク
装置等が実用化されているが、これらの装置にお
ける記録担体上に記録される信号要素（信号ピツ
ト）の大きさは幅5μ、長さ0.6〜1μのピツト状か
らなり、これを読みだす為には、放射線光源から
出射する放射線を微小のスポツトとして信号ピツ
トに照射して、信号ピツトと作用した影響を検出
器で電気的信号に変換して情報再生を行なう。第
１図は従来の光学的記録再生装置の一般的な光学
系の例である。
装置等が実用化されているが、これらの装置にお
ける記録担体上に記録される信号要素（信号ピツ
ト）の大きさは幅5μ、長さ0.6〜1μのピツト状か
らなり、これを読みだす為には、放射線光源から
出射する放射線を微小のスポツトとして信号ピツ
トに照射して、信号ピツトと作用した影響を検出
器で電気的信号に変換して情報再生を行なう。第
１図は従来の光学的記録再生装置の一般的な光学
系の例である。
放射線光源１より出射する放射線ビーム２は、
カツプリングレンズ３で平行光束となり、偏光ビ
ームスプリツター４、四分の一波長板５を透過し
て対物レンズ６により記録担体７の記録部又は予
じめ情報の記録された情報信号部８上へ集光され
る。記録部又は情報信号部８で反射された放射線
ビームは再び往路と同じ経路をもどり、四分の一
波長板５を透過して、偏光ビームスプリツター４
で反射され、収束用のレンズ９を透過して放射線
検出器１１へ入射する。この時、放射線ビームの
一部をナイフエツジ１０で遮へいしてやると、放
射線検出器１１上へ入射する放射線ビームのパタ
ーンが、対物レンズ６と記録担体上の記録部又は
情報信号部８との距離の変化に応じて変化する。
これはいわゆるナイフエツジ法又はフーコー法と
呼ばれる位置誤差検出の原理であり、例えば特開
昭52−42742号に詳述してある。かかる光学系の
欠点として、光学系の全体構成がＴ字型のものと
なりコンパクトな設計としにくいという事があげ
られる。
カツプリングレンズ３で平行光束となり、偏光ビ
ームスプリツター４、四分の一波長板５を透過し
て対物レンズ６により記録担体７の記録部又は予
じめ情報の記録された情報信号部８上へ集光され
る。記録部又は情報信号部８で反射された放射線
ビームは再び往路と同じ経路をもどり、四分の一
波長板５を透過して、偏光ビームスプリツター４
で反射され、収束用のレンズ９を透過して放射線
検出器１１へ入射する。この時、放射線ビームの
一部をナイフエツジ１０で遮へいしてやると、放
射線検出器１１上へ入射する放射線ビームのパタ
ーンが、対物レンズ６と記録担体上の記録部又は
情報信号部８との距離の変化に応じて変化する。
これはいわゆるナイフエツジ法又はフーコー法と
呼ばれる位置誤差検出の原理であり、例えば特開
昭52−42742号に詳述してある。かかる光学系の
欠点として、光学系の全体構成がＴ字型のものと
なりコンパクトな設計としにくいという事があげ
られる。
通常収束用レンズ９の焦点距離は、およそ10mm
以上は必要である。従つて光学系を簡単な筒状に
仕上げる事は困難となる。
以上は必要である。従つて光学系を簡単な筒状に
仕上げる事は困難となる。
本発明は、かかる問題を解決せんとするもので
ある。
ある。
以下本発明の１実施例を第２図に基づいて説明
する。
する。
放射線光源２を出射する放射線ビームは、カツ
プリングレンズ１３によりカツプリングされ、偏
ビームスプリツター１４、四分の一波長板１５を
通過して対物レンズ１６により記録担体１７上の
記録部又は情報信号部１８上へ集光される。記録
部又は情報信号部１８で反射された放射線ビーム
は、再び往路と同じ経路をもどり、対物レンズ１
６、四分の一波長板１５を透過して、偏光ビーム
スプリツター１４で反射され、ナイフエツジ２１
でその一部が遮断されミラー１９上へ入射する。
ミラー１９は放射線光軸の垂直な平面に対して微
小な角度を有するように設定してある。従つてミ
ラー１９で反射された放射線ビームは、こんどは
図中破線で示すようにミラー１９へ入射してくる
経路を逆にたどるが、その経路の放射線光軸は往
路とは一定の角度をなしている。故にミラー１９
により反射され再び偏光ビームスプリツター、四
分の一波長板、対物レンズを介し最初の入射ビー
ムとはわずかに離れた記録担体面上を経過し、対
物レンズ、四分の一波長板、偏光ビームスプリツ
タ、カツプリングレンズを経た放射線ビームは、
放射線光源１２の出射面内にあり、少し離れた所
に存在する放射線検出器２０へ入射し、この検出
器２０により位置誤差検出信号が得られる。
プリングレンズ１３によりカツプリングされ、偏
ビームスプリツター１４、四分の一波長板１５を
通過して対物レンズ１６により記録担体１７上の
記録部又は情報信号部１８上へ集光される。記録
部又は情報信号部１８で反射された放射線ビーム
は、再び往路と同じ経路をもどり、対物レンズ１
６、四分の一波長板１５を透過して、偏光ビーム
スプリツター１４で反射され、ナイフエツジ２１
でその一部が遮断されミラー１９上へ入射する。
ミラー１９は放射線光軸の垂直な平面に対して微
小な角度を有するように設定してある。従つてミ
ラー１９で反射された放射線ビームは、こんどは
図中破線で示すようにミラー１９へ入射してくる
経路を逆にたどるが、その経路の放射線光軸は往
路とは一定の角度をなしている。故にミラー１９
により反射され再び偏光ビームスプリツター、四
分の一波長板、対物レンズを介し最初の入射ビー
ムとはわずかに離れた記録担体面上を経過し、対
物レンズ、四分の一波長板、偏光ビームスプリツ
タ、カツプリングレンズを経た放射線ビームは、
放射線光源１２の出射面内にあり、少し離れた所
に存在する放射線検出器２０へ入射し、この検出
器２０により位置誤差検出信号が得られる。
かかる光学系を使用するとミラー１９は、偏光
ビームスプリツター１４に近接して設置できるの
でほぼ筒状の光学系とする事が可能であり、光学
系のコンパクト化を計る上で非常に有効なものと
なる。このような基本的な光学系を用いて、様々
な位置検出の方法を得る事ができる。
ビームスプリツター１４に近接して設置できるの
でほぼ筒状の光学系とする事が可能であり、光学
系のコンパクト化を計る上で非常に有効なものと
なる。このような基本的な光学系を用いて、様々
な位置検出の方法を得る事ができる。
すなわち、第２図に示すナイフエツジ２１の代
りにミラー１９の前面に情報信号検出及び情報ト
ラツク追従の為の放射線検出装置２１ａを挿入す
る事ができる。この検出器として情報トラツク追
従の為の二分割された放射線検出器を用いて、検
出器の分離線を情報トラツクと平行とすること
で、いわゆる情報トラツクのフアーフイールド検
出によりトラツキングサーボを行なう事ができ
る。即ち情報信号の検出は記録担体で一度反射し
たビームの和を検出することで従来と同様の再生
信号を得る事ができる。トラツキング信号を得る
方法は２通りある。記録担体で一度反射した光を
受光して、従来通りのフアーフイールド誤差信号
検出を得ることができる。記録担体で、二度反射
させた光を受光してフアーフイールド誤差信号検
出を得る為には、二度目に記録担体にあてる光ビ
ームを同一トラツク上に配置する必要がある。同
一トラツク上で反射された光ビームは、放射線光
源１２、近傍に配置した少なくともトラツクと平
行方向に二分割された光検出器２０上に入射さ
れ、フアーフイールドトラツク誤差信号を得るこ
とができる。
りにミラー１９の前面に情報信号検出及び情報ト
ラツク追従の為の放射線検出装置２１ａを挿入す
る事ができる。この検出器として情報トラツク追
従の為の二分割された放射線検出器を用いて、検
出器の分離線を情報トラツクと平行とすること
で、いわゆる情報トラツクのフアーフイールド検
出によりトラツキングサーボを行なう事ができ
る。即ち情報信号の検出は記録担体で一度反射し
たビームの和を検出することで従来と同様の再生
信号を得る事ができる。トラツキング信号を得る
方法は２通りある。記録担体で一度反射した光を
受光して、従来通りのフアーフイールド誤差信号
検出を得ることができる。記録担体で、二度反射
させた光を受光してフアーフイールド誤差信号検
出を得る為には、二度目に記録担体にあてる光ビ
ームを同一トラツク上に配置する必要がある。同
一トラツク上で反射された光ビームは、放射線光
源１２、近傍に配置した少なくともトラツクと平
行方向に二分割された光検出器２０上に入射さ
れ、フアーフイールドトラツク誤差信号を得るこ
とができる。
ミラー１９の前面に放射線検出器２１ａのごと
き放射線ビームの一部又は相当部分を切断する事
により破線にて示される復路のビームは、放射線
検出器２０へ入射する際に、対物レンズ１６と記
録部又は情報信号面１８との位置関係により放射
線光軸に関して焦点の前後で非対称の動向を示
す。従つて例えば、放射線検出器２０を二分割の
構成とすれば、対物レンズと記録部又は情報信号
面の位置検出の為の誤差信号が得られる。
き放射線ビームの一部又は相当部分を切断する事
により破線にて示される復路のビームは、放射線
検出器２０へ入射する際に、対物レンズ１６と記
録部又は情報信号面１８との位置関係により放射
線光軸に関して焦点の前後で非対称の動向を示
す。従つて例えば、放射線検出器２０を二分割の
構成とすれば、対物レンズと記録部又は情報信号
面の位置検出の為の誤差信号が得られる。
また、ミラー１９を一次元又は二次元の高次曲
面とする事ができる。例えばミラー１９を一次元
の二次曲面とすると復路をもどる破線で示される
放射線ビームには、非点収差が生じる。かかる場
合には、ナイフエツジ２１はなくても放射線検出
器２０を四分割の素子より構成すれば非点収差を
利用して対物レンズと記録部又は情報信号面の位
置検出の為の誤差信号を得る事ができる。非点収
差を利用して位置検出の為の誤差信号を得る方法
の原理は特公昭53−39123に明らかなので詳述は
省く。
面とする事ができる。例えばミラー１９を一次元
の二次曲面とすると復路をもどる破線で示される
放射線ビームには、非点収差が生じる。かかる場
合には、ナイフエツジ２１はなくても放射線検出
器２０を四分割の素子より構成すれば非点収差を
利用して対物レンズと記録部又は情報信号面の位
置検出の為の誤差信号を得る事ができる。非点収
差を利用して位置検出の為の誤差信号を得る方法
の原理は特公昭53−39123に明らかなので詳述は
省く。
さらに、本発明による特徴は、光学系をコンパ
クト化できるだけでなく、位置検出の為の感度が
上がることになる。即ち同一の放射線ビームを二
度記録担体上の極めて近傍で反射させることによ
つて、位置検出器に対するデイスクと対物レンズ
の相対位置変動に伴う反射光の収束位置が、従来
の１度だけデイスクに照射するものに比べ２倍変
化するため位置検出の感度は約２倍向上する。第
３図に検出誤差信号の様子を示す。実線は従来の
方法による検出出力であり、破線は本発明による
検出出力である。出力のピークは、記録担体を二
度通過する為の損失の為低下するが位置誤差零で
の勾配が検出感度を決めるので感度は、良好とな
つている。位置誤差のダイナミツクレンジは、ミ
ラー１９の曲率により任意に選択できるので問題
はない。
クト化できるだけでなく、位置検出の為の感度が
上がることになる。即ち同一の放射線ビームを二
度記録担体上の極めて近傍で反射させることによ
つて、位置検出器に対するデイスクと対物レンズ
の相対位置変動に伴う反射光の収束位置が、従来
の１度だけデイスクに照射するものに比べ２倍変
化するため位置検出の感度は約２倍向上する。第
３図に検出誤差信号の様子を示す。実線は従来の
方法による検出出力であり、破線は本発明による
検出出力である。出力のピークは、記録担体を二
度通過する為の損失の為低下するが位置誤差零で
の勾配が検出感度を決めるので感度は、良好とな
つている。位置誤差のダイナミツクレンジは、ミ
ラー１９の曲率により任意に選択できるので問題
はない。
本発明のもう一つの特徴として、放射線光源と
放射線検出器を一体としてモノリシツク構造とす
る事の可能性を示唆している。かかる構造を採用
して一層のコンパクト化を計る事ができる。
放射線検出器を一体としてモノリシツク構造とす
る事の可能性を示唆している。かかる構造を採用
して一層のコンパクト化を計る事ができる。
第１図は従来提案されている光学系の代表的な
ナイフエツジ法（フーコー法）と呼ばれている位
置誤差検出法の一例を示す構成図、第２図は本発
明による光学系の１実施例を示す構成図、第３図
は、従来提案されている光学系及び本発明による
光学系からの位置誤差検出信号の特性を示す図で
ある。 １，１２…放射線光源、３，１３…カツプリン
グレンズ、４，１４…偏光ビームスプリツター、
５，１５…四分の一波長板、６，１６…対物レン
ズ、７，１７…記録担体、８，１８…記録面又は
情報信号面、９…レンズ、１０，２１…ナイフエ
ツジ、１１，２０，２１ａ…放射線検出器、１９
…ミラー。
ナイフエツジ法（フーコー法）と呼ばれている位
置誤差検出法の一例を示す構成図、第２図は本発
明による光学系の１実施例を示す構成図、第３図
は、従来提案されている光学系及び本発明による
光学系からの位置誤差検出信号の特性を示す図で
ある。 １，１２…放射線光源、３，１３…カツプリン
グレンズ、４，１４…偏光ビームスプリツター、
５，１５…四分の一波長板、６，１６…対物レン
ズ、７，１７…記録担体、８，１８…記録面又は
情報信号面、９…レンズ、１０，２１…ナイフエ
ツジ、１１，２０，２１ａ…放射線検出器、１９
…ミラー。
Claims (1)
- １ 放射線光源からの放射線ビームを偏光ビーム
スプリツタ、対物レンズを通して記録担体に収束
入射し、その記録担体からの反射光の一部、若し
くは反射光に非点収差をもたせ、かつ前記光束の
ビーム軸から若干傾斜して反射せしめ、のそ反射
光を前記ビームスプリツタを再度介して前記記録
担体上の前記入射ビーム位置と極めて近傍に照射
し、前記記録担体上からの再度の反射光を前記入
射経路とほぼ同じ経路を反射せしめ前記放射線光
源の近傍に設けられた少なくとも４分割された放
射線検出器に照射し、その放射線検出器の演算出
力として前記記録担体と対物レンズの相対位置に
応じた信号を得ることを特徴とする光学的記録再
生装置の光学装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57085142A JPS58200443A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | 光学的記録再生装置の光学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57085142A JPS58200443A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | 光学的記録再生装置の光学装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58200443A JPS58200443A (ja) | 1983-11-22 |
| JPH0381205B2 true JPH0381205B2 (ja) | 1991-12-27 |
Family
ID=13850406
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57085142A Granted JPS58200443A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | 光学的記録再生装置の光学装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58200443A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5771537A (en) * | 1980-10-20 | 1982-05-04 | Mitsubishi Electric Corp | Optical pickup device |
-
1982
- 1982-05-19 JP JP57085142A patent/JPS58200443A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58200443A (ja) | 1983-11-22 |
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