JPS627609B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS627609B2
JPS627609B2 JP56104694A JP10469481A JPS627609B2 JP S627609 B2 JPS627609 B2 JP S627609B2 JP 56104694 A JP56104694 A JP 56104694A JP 10469481 A JP10469481 A JP 10469481A JP S627609 B2 JPS627609 B2 JP S627609B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photodetector
beam splitter
quarter
light
objective lens
Prior art date
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Expired
Application number
JP56104694A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS586534A (ja
Inventor
Tetsuo Hosomi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP56104694A priority Critical patent/JPS586534A/ja
Publication of JPS586534A publication Critical patent/JPS586534A/ja
Publication of JPS627609B2 publication Critical patent/JPS627609B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、記録媒体上に記録された情報を光学
的に再生する光学的再生装置の光学装置に関する
ものである。
光学的再生装置としてはすでに公知のように、
ビデオデイスク、ドキユメントフアイル、PCM
オーデイオデイスク等、多岐にわたつての応用が
考えられているが、従来かかる再生装置を小型軽
量化する上でもつとも望まれているものの1つ
に、光学系からなる信号、ピツクアツプ系の小型
軽量化であつた。現在一般的に使用されているガ
スレザ及びイオンレーザを使用した記録再生装置
又は再生専用の装置に於ては、レーザの大きさが
数十センチメートルないし1メートル以上におよ
ぶ事がしばしばあり、重量的にも数百グラムない
し数キログラムとなり軽量化を望むべくもない。
しかるに最近の半導体技術の進歩により半導体レ
ーザを使用して光学系を小型化する事が可能とな
つた。以下図を用いて従来の代表的な光学系の1
例の説明を行なう。
第1図は半導体レーザを使用した光学系で良く
知られた方式の1つである。半導体レーザ1より
出射する光ビームは偏光ビームスプリツター2を
透過してカツプリングレンズ3に入射されて平行
ビームとなる。平行ビームは四分の一波長板4を
透過して対物レンズ5により、ほゞ光の回析限界
にまで収束されて、情報信号のある記録媒体(光
デイスク)6を照射する。情報信号により変調反
射された光ビームは再び対物レンズ5、四分の一
波長4、カツプリングレンズ3を透過して、今度
は偏光ビームスプリツター2により直角な方向へ
反射される。偏光ビームスプリツター2のこの方
向の出射面は、バイプリズム状となつており、こ
れを通過する光ビームは分割されて、光検出器7
に入射する。光検出器は、四分割状で情報信号の
結像面内に位置しており、バイプリズムで分割さ
れた光ビームは、四分割光検出器の(7の1)と
(7の2)の境界線上及び(7の3)と(7の
4)の境界線上に入射する。この方式は、フーコ
方式又はナイフエツジ方式と総称される光デイス
ク位置を検出するものであり、光検出器の出力を
回路的に 〔(7の1)+(7の4)〕−〔(7の2) +(7の3)〕 とする事により光デイスク6と対物レンズ5の間
隔誤差により、第2図のような検出信号を得る事
ができる。従つて、この検出信号で光デイスクの
位置を制御するいわゆるフオーカシングサーボを
行なう事ができる。また、光ビームをフアーフイ
ールドで分割しているので、回路的に 〔(7の1)+(7の2)〕−〔(7の3) +(7の4)〕 とする事により情報トラツクと集光位置との関係
を示すトラツキング誤差信号を得る事ができる。
従つてこの検出信号で光デイスクの情報トラツク
位置を制御するいわゆるトラツキングサーボを行
なう事ができる。かかるフオーカシングサーボ及
びトラツキングサーボを行う為の機構としては、
例えば特開昭53−120403号に開示してある方法を
用いる事ができるので機構の説明は省略する。
上述のような方式の欠点として、第2図からも
明らかなごとく光デイスクと対物レンズとの間隔
に応じて誤差信号の得られるダイナミツクレンジ
が、光デイスクと対物レンズ間隔の大きくなる方
向で極端に狭い事である。例えば対物レンズの開
口数(N.A.)を0.5、カツプリングレンズの開口
数を0.15とすると光学系の倍率は3.3倍程度とな
る。偏光ビームスプリツター2と光検出器7の距
離は、小型とした光学系に於ては、およそ数ミリ
以下のオーダであるから、フオーカシングのダイ
ナミツクレンジは(1/3.32)、即ち約10分の一
となり数百ミクロン以下のオーダとなる。実際の
問題として小型化する光学系に於ては偏光ビーム
スプリツターと光検出器との距離は短かければ短
かい程小型軽量化を実現しやすくなる。かかる事
を考慮して光学系の設計を行なうと実際のフオー
カシングダイナミツクレンジは200μ以下とな
り、実用上かなりの問題が生じてくる。
以上の点から偏光ビームスプリツターと光検出
器の間を大きくすると望ましい特性を得る事が推
察される。
本発明は、光検出器と偏光ビームスプリツター
の距離を大きくする為に、偏光ビームスプリツタ
ーより出射する光ビームを再び偏光ビームスプリ
ツター内を透過させて、偏光ビームスプリツター
の他端面近傍に設けた光検出器へ入射させようと
したものである。このような光学系の方式に類似
のものとして、本発明者による特願昭54−160979
及び特願昭55−146166号ががある。
本発明と前記先願発明との基本的なちがいは、
先願発明では平行光ビーム中に偏光ビームスプリ
ツターが挿入されており、光学系の小型化という
点では、本発明による方法ほど効率よくできない
という点である。即ち、先願発明の方法に於て
は、平行光ビームを収束光ビームとする為に例え
ば凹面鏡状の反射ミラーを必要とした。従つて本
発明の実施例に示すような四分の一波長板上に蒸
着をほどこして全反射ミラーとする事などはでき
ないものである。
以下図をもつて本発明の1実施例を詳しく説明
する。
第3図は本発明の概略を示す図である。半導体
レーザ1を出射した光ビームは偏光ビームスプリ
ツター2を透過してカツプリングレンズ3、四分
の一波長板4を透過後、対物レンズ5により光の
回折限界まで収束されて光デイスク6の情報信号
を照射する。光ビームは、情報信号により変調さ
れ反射して再び対物レンズ5、四分の一波長板
4、カツプリングレンズ3を透過して、偏光ビー
ムスプリツター2で反射される。反射された光ビ
ームは第2の四分の一波長板10に入射して、一
部の光ビームは、その第2の四分の一波長板10
の裏面の略半分に蒸着により設けられた反射ミラ
ーもしくは別個に設けられた全反射ミラー11に
より反射されて、再度偏光ビームスプリツター2
を透過して二分割光検出器12上に入射する。前
記全反射ミラー11で反射されない残りの光ビー
ムは光検出器9に入射する。この光検出器9は、
図面に垂直な方向に二分割された光検出器とする
事ができる。すると光検出器9は、情報信号のフ
アーフイールドの位置に設定されているので、既
知の方法によつて、フアーフイールドのトラツキ
ング誤差信号を得る事ができる。また、光検出器
12に入射する光ビームは、フアーフイールドの
一部の光ビームを収束さて、二分割光検出器より
なる光検出器12の境界線上に入射される。光ビ
ームの一部が二分割光検出器の境界線上に入射す
るのであるから、前述のフーコ方式又はナイフエ
ツジ法と呼ばれるフオーカシングサーボの為の誤
差信号をこの光検出器12から得る事ができる。
このフオーカシングサーボのための誤差信号は、
第4図に示すように光デイスクの遠ざかる方向で
のダイナミツクレンジの大きくなつたものが得ら
れる。先程の計算例に従つて対物レンズの開口数
0.5、カツプリングレンズの開口数0.15として、
偏光ビームスプリツター2の大きさを5mm角、四
分の一波長板10の厚さ0.5mm程度として計算す
ると、およそ400μm以上のフオーカシングダイ
ナミツクレンジを取る事ができる。この値は、第
1図で示した例の値200μmの約2倍となつてお
り、かつ光学系の、横方向の大きさが1.5mm以上
も小さくなつている。この横方向の大きさは、特
に光学系を一体型としてフオーカシングサーボ、
トラツキングサーボ等を行う為の機構設計上でき
るだけ大きくならない事が望ましく、本発明によ
る方法の特徴が有効に作用するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の再生装置の光学系の一例を示す
構成図、第2図は同動作説明図、第3図は本発明
の1実施例を示す光学系の構成図、第4図は同動
作説明図である。 1……半導体レーザ、2……ビームスプリツタ
ー、3……カツプリングレンズ、4,10……四
分の一波長板、5……対物レンズ、6……デイス
ク、9,12……光検出器、11……反射板。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 光源よりの光をビームスプリツター、第1の
    四分の一波長板および対物レンズを介して記録媒
    体上に照射し、その記録媒体からの反射光を前記
    対物レンズ、四分の一波長を介して前記ビームス
    プリツターに照射して直角方向に反射せしめ、そ
    の反射光を第2の四分の一波長板を介して前記反
    射光の光束の一部を反射するミラーと第1の光検
    出器に照射し、前記ミラーによる反射光を前記第
    2の四分の一波長板とビームスプリツター2を介
    して第2の光検出器に照射し、前記第1の光検出
    器よりトラツキングサーボ用信号を、第2の光検
    出器よりフオーカシングサーボ用信号を得ること
    を特徴とする再生装置の光学装置。
JP56104694A 1981-07-03 1981-07-03 再生装置の光学装置 Granted JPS586534A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56104694A JPS586534A (ja) 1981-07-03 1981-07-03 再生装置の光学装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP56104694A JPS586534A (ja) 1981-07-03 1981-07-03 再生装置の光学装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS586534A JPS586534A (ja) 1983-01-14
JPS627609B2 true JPS627609B2 (ja) 1987-02-18

Family

ID=14387578

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56104694A Granted JPS586534A (ja) 1981-07-03 1981-07-03 再生装置の光学装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2523469B2 (ja) * 1984-03-26 1996-08-07 松下電器産業株式会社 光学記録再生ヘツド
JPS61287042A (ja) * 1985-06-12 1986-12-17 Pioneer Electronic Corp 光学式ピツクアツプ装置
JPH01133313U (ja) * 1988-03-07 1989-09-11
JPH02276031A (ja) * 1989-04-17 1990-11-09 Canon Inc 光学ヘッド
JP2014095642A (ja) * 2012-11-09 2014-05-22 Mitsutoyo Corp 干渉対物レンズ光学系及び当該干渉対物レンズ光学系を備えた光干渉測定装置

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JPS586534A (ja) 1983-01-14

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