JPH038308A - インダクタンス素子の導通検査方法 - Google Patents
インダクタンス素子の導通検査方法Info
- Publication number
- JPH038308A JPH038308A JP1143730A JP14373089A JPH038308A JP H038308 A JPH038308 A JP H038308A JP 1143730 A JP1143730 A JP 1143730A JP 14373089 A JP14373089 A JP 14373089A JP H038308 A JPH038308 A JP H038308A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inductance element
- inductance
- continuity
- testing
- detection coil
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Housings And Mounting Of Transformers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、各種電子機器等に利用されるインダクタンス
素子の導通検査方法に関するものである。
素子の導通検査方法に関するものである。
従来の技術
従来のインダクタンス素子の導通検査方法は、第４図に
示すようにインダクタンス素子１１を配線、接合した帯
状の連続した一対の金属端子１０の片方を切シ離した状
態で、切り礁された金属端子１０と連続した金属端子１
ｏに検出ビン１２を当てて検出する方法であった。
示すようにインダクタンス素子１１を配線、接合した帯
状の連続した一対の金属端子１０の片方を切シ離した状
態で、切り礁された金属端子１０と連続した金属端子１
ｏに検出ビン１２を当てて検出する方法であった。
発明が解決しようとする課題
従来のインダクタンス素子の導通検査方法は検出ビン１
２の接触面、金属端子１ｏの表面状態の影響を受は易く
、又一方の金属端子１０を切り離しているため後工程で
の位置精度にも影響を与えていた。
２の接触面、金属端子１ｏの表面状態の影響を受は易く
、又一方の金属端子１０を切り離しているため後工程で
の位置精度にも影響を与えていた。
本発明は、このような従来の欠点を除去するもので検出
ビンを使用しない非接触方法にして且つ、金属端子を切
り離すことなく、導通倹肴を行うことを目的とするもの
である。
ビンを使用しない非接触方法にして且つ、金属端子を切
り離すことなく、導通倹肴を行うことを目的とするもの
である。
課題を解決するだめの手段
上記課題を解決するために本発明は個々の被検管インダ
クタンス素子の高周波磁芯を磁路の一部とした磁性体に
巻回した検出コイルのインダクタンスを測定して被倹査
インダクタンス素子の導通状態を検査する構成としたも
のである。
クタンス素子の高周波磁芯を磁路の一部とした磁性体に
巻回した検出コイルのインダクタンスを測定して被倹査
インダクタンス素子の導通状態を検査する構成としたも
のである。
作用
上記手段によると検出コイルのインダクタンスを測定し
て判定するため、波検査インダクタンス素子への凄触部
分を必要としなく、又、検出コイルの磁路の一部を波検
査インダクタンス素子が通り抜ける構成となっているた
め、連続的な供給。
て判定するため、波検査インダクタンス素子への凄触部
分を必要としなく、又、検出コイルの磁路の一部を波検
査インダクタンス素子が通り抜ける構成となっているた
め、連続的な供給。
倹姪が可１走となり高速化が実現可能となる。
実施例
以下１本発明の一実施例を第１図〜第３図を用いて説明
する。第１図は本発明の一実施例を示す検出部の斜視図
である。日の字型の中央磁脚の一部にギャップ１１Ｌを
設けた磁性体１に巻線を施して検出コイル２としこの磁
性体１のギャップ１＆の中を一対のフープ状の金属端子
３を共通の電極端子として並列に配線、接合された被険
査インダクタンス素子４が通過する時、−時的に被検査
インダクタンス素子４の高周波磁心４ａは検出コイル２
を巻回した磁性体１の磁路内のギャップ１ａに位；置し
閉磁路となる構成となっている。第２図はその時の検出
コイ／Ｉ／２及び被検査インダクタンス素子４の断面図
である。
する。第１図は本発明の一実施例を示す検出部の斜視図
である。日の字型の中央磁脚の一部にギャップ１１Ｌを
設けた磁性体１に巻線を施して検出コイル２としこの磁
性体１のギャップ１＆の中を一対のフープ状の金属端子
３を共通の電極端子として並列に配線、接合された被険
査インダクタンス素子４が通過する時、−時的に被検査
インダクタンス素子４の高周波磁心４ａは検出コイル２
を巻回した磁性体１の磁路内のギャップ１ａに位；置し
閉磁路となる構成となっている。第２図はその時の検出
コイ／Ｉ／２及び被検査インダクタンス素子４の断面図
である。
第３図は本発明の一実施例での測定回路図の例である。
発振器６より入力された単一高周波信号により、検出コ
イ／Ｌ／２の磁路内にある被険盆インダクタンス素子４
には、電磁誘導による起電力が発生し、導通品の場合に
逆起電流が流れるが、非導通品の場合は、逆起電流が流
れない。この逆起電流による逆磁束６の有無により、検
出コイル２のＬ値が変化する。この変化を利用して、検
出コイル２とコンデンサ９のＬ−ｃ直列共振回路等によ
り、電圧変換し増幅検波部７、電圧判定部８により計測
することができる。
イ／Ｌ／２の磁路内にある被険盆インダクタンス素子４
には、電磁誘導による起電力が発生し、導通品の場合に
逆起電流が流れるが、非導通品の場合は、逆起電流が流
れない。この逆起電流による逆磁束６の有無により、検
出コイル２のＬ値が変化する。この変化を利用して、検
出コイル２とコンデンサ９のＬ−ｃ直列共振回路等によ
り、電圧変換し増幅検波部７、電圧判定部８により計測
することができる。
発明の効果
以上詳述したように本発明により、被検査インダクタン
ス素子４の導通状態を非農触で検出することができ、高
速で長寿命、更には安価な設備による生産性の向上を実
現することができる。
ス素子４の導通状態を非農触で検出することができ、高
速で長寿命、更には安価な設備による生産性の向上を実
現することができる。
第１図・は本発明のインダクタンス素子の導通検査方法
の一実施例の斜視図、第２図は被倹査インダクタンス素
子が演出コイルの磁路内に来た時の＃面図、第３図は測
定回路図の一例を示す電気的、ＢＪ路図、第４図は従来
のインダクタンス素子の導通検査方法を示す斜戊図であ
る。 １・・・・・・磁性体、１１Ｌ・・・・・・ギャップ、
２・・・・・・検出コイル、３・・・・・金属４子、４
・・・・・・被検査インダクタンス素子、４＆・・・・
・・高周伎磁心、６・・・・・・発振器、６・・・・・
・逆磁束、了・・・・・・増幅検波部、８・・・・・・
電圧判定部。
の一実施例の斜視図、第２図は被倹査インダクタンス素
子が演出コイルの磁路内に来た時の＃面図、第３図は測
定回路図の一例を示す電気的、ＢＪ路図、第４図は従来
のインダクタンス素子の導通検査方法を示す斜戊図であ
る。 １・・・・・・磁性体、１１Ｌ・・・・・・ギャップ、
２・・・・・・検出コイル、３・・・・・金属４子、４
・・・・・・被検査インダクタンス素子、４＆・・・・
・・高周伎磁心、６・・・・・・発振器、６・・・・・
・逆磁束、了・・・・・・増幅検波部、８・・・・・・
電圧判定部。
Claims (3)
- （１）フープ状に連続した一対の金属端子に、それぞれ
並列に配線、接合した複数のインダクタンス素子に対し
、個々の被検査インダクタンス素子の高周波磁芯を磁路
の一部として閉磁路を構成する磁性体を配し、この磁性
体に巻線した検査コイルにより、前記磁性体のギャップ
部を通過するインダクタンス素子の金属端子への電気的
接続状態を検出するインダクタンス素子の導通検査方法
。 - （２）被測定インダクタンス素子の電気的接続状態の検
出を、検出コイルのインダクタンス値の変化により行う
請求項１記載のインダクタンス素子の導通検査方法。 - （３）被測定インダクタンス素子の電気的接続状態の検
出を、検出コイルのＱ値の変化により行う請求項１記載
のインダクタンス素子の導通検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1143730A JPH038308A (ja) | 1989-06-06 | 1989-06-06 | インダクタンス素子の導通検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1143730A JPH038308A (ja) | 1989-06-06 | 1989-06-06 | インダクタンス素子の導通検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH038308A true JPH038308A (ja) | 1991-01-16 |
| JPH0553287B2 JPH0553287B2 (ja) | 1993-08-09 |
Family
ID=15345674
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1143730A Granted JPH038308A (ja) | 1989-06-06 | 1989-06-06 | インダクタンス素子の導通検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH038308A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000058330A (ja) * | 1998-08-12 | 2000-02-25 | Ricoh Co Ltd | 差動トランスの検査装置 |
| JP2007163196A (ja) * | 2005-12-12 | 2007-06-28 | Nissan Motor Co Ltd | コイルの試験装置 |
-
1989
- 1989-06-06 JP JP1143730A patent/JPH038308A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000058330A (ja) * | 1998-08-12 | 2000-02-25 | Ricoh Co Ltd | 差動トランスの検査装置 |
| JP2007163196A (ja) * | 2005-12-12 | 2007-06-28 | Nissan Motor Co Ltd | コイルの試験装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0553287B2 (ja) | 1993-08-09 |
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