JPH038356A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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JPH038356A
JPH038356A JP1143765A JP14376589A JPH038356A JP H038356 A JPH038356 A JP H038356A JP 1143765 A JP1143765 A JP 1143765A JP 14376589 A JP14376589 A JP 14376589A JP H038356 A JPH038356 A JP H038356A
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cells
cell
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Satoshi Tanoi
聡 田野井
Yasuhiro Ono
恭裕 大野
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Oki Electric Industry Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/90Bond pads, in general
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/90Bond pads, in general
    • H10W72/931Shapes of bond pads
    • H10W72/932Plan-view shape, i.e. in top view

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  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体基板上の中央に、複数の基本セルから
なる内部アレイを形成し、ざらにその内部アレイの周辺
に複数の入/出力バッファセルを形成したゲートアレイ
、特にその入/出力バッファセルの配置と、その入/出
力バッファセル上に配置、形成される電源/グランド配
線に関するものである。
(従来の技術) 従来、このよう々分野の技術としては、特開昭59−1
39646号公報(文献1)、及び特開昭61−199
647号公報(文献2)等に記載されるものがあった。
従来、ゲートアレイにおいて、多数の基本セルからなる
内部アレイのゲート数を大容量化した場合、それに対応
して充分な数の入/出力バッファセル(以下、I10セ
ルという)を、決められたチップサイズ内に設けること
が非常に困難であった。このような問題を解決するため
に、前記文献1等において、例えば第2図及び第3図に
示すような技術が記載されている。以下、その構成を図
を用いて説明する。
第2図は、従来のゲートアレイのセル配置を示す概略の
平面図である。
このゲートアレイは、半導体基板(以下、チップという
)1を備え、そのチップ1の主面の中央部には、多数の
基本セルが配列されて成る内部アレイ2が形成されてい
る。ざらに、内部アレイ2の周囲には、l10tル3−
1〜3−n、4−1〜4−m、5−1〜5−n、6−1
〜6−mが規則的に配列、形成され、その最外周に、l
10tル3−1〜3−n・・・・・・と対応する複数の
ポンディングパッド(以下、単にパッドという)7が設
けられている。各I10セル3−1〜3−n、4−1〜
4−m、5−1〜5−n、6−1〜6−m内には、それ
ぞれトランジスタ等の回路素子が配置され、それらの回
路素子をユーザ等の要求に応じて適宜配線することで、
入力バッフ7回路、出力バッファ回路、人出力バッフ7
回路等の具体的な機能を有するいわゆる論理マクロセル
が実現される。
この種のゲートアレイでは、チップ1の4隅のチップコ
ーナ部1aにおいて、l10tル3−nと4−1.4−
mと5−1.5−nと6−1.6−mと3−1とでそれ
ぞれ挟まれた領域に、無用なスペース(空間)が形成さ
れる。このような無用なスペースのチップコーナ部1a
は、チップサイズの大型化をta<原因になる。そこで
、前記文献1の技術では、縦方向のl10tル4−1〜
4−m、6−1〜6−mの上下にオーバラップ部4−1
a、4−ma、6−1a、6−maが生じるように、I
10セルをずらして配置している。これにより、オーバ
ラップ部4−1a、4−ma。
6−1a、6−maの面積弁だけ、チップコーナ部1a
の無用なスペースを有効に利用でき、限られたチップサ
イズにおいてl10tル3−1〜3−n・・・・・・の
数を増加できる。
ところで、前記チップコーナ部1aのスペースには、l
10tル3−1〜3−n・・・・・・は存在しないが、
複数の電源/グランド配線が設けられている。この状態
を第3図に示す。
第3図は、第2図のチップコーナ部付近の一構成例を示
す拡大平面図である。
各l10tル3−1〜3−n内には、トランジスタで構
成される入力バッファ回路や出力バッフ7回路がそれぞ
れ設けられており、それらの各トランジスタに電源を供
給するために、それらのトランジスタの上層位置に、回
路の目的別に複数の電源配線(以下、vCC配線という
)Vla、Vlb、V2a、V2b及び7ランド配線(
以下、GND配線という)Gla、G1 b、G2a、
G2bがチップ1の周辺にリング状に形成されている。
例えば、第3図の上方右端のl10tル3−nにおいて
、そのl10tル3−n内に設けられる入力バッファ回
路に対する電源供給のために、VCCCC配線a及びG
ND配線配線G1膜けられ、同じく内部に設けられる出
力バッファに対する電源供給のために、vCCCC配線
a及びGND配線配線G2段けられている。
l10tル3−1〜3−n・・・・・・においては、前
記の論理マクロセルのための配線(各トランジスタ間の
配線)も存在する。この論理マクロセルの配線は、トラ
ンジスタ間の接続に用いられるため、A、l!等の第1
層目の金属配線で形成されるのが一般的であって、この
ような論理マクロセルの配線とのクロスを避けるために
、VCCCC配線a。
Vlb、V2a、V2b及びGND配線配線G1膜1 
b、G2a、G2bは第2層目の金属配線により形成さ
れる。
なお、第3図にむいてGND配線配線G1膜線幅はWl
、l10tル4−1のオーバラップ部4−18の長さは
Lである。また、各I10セル3−n、4−1.4−2
・・・・・・には、それらを内部アレイ2に接続するた
めの第1層目金属配線による引出し線p、Q、rがそれ
ぞれ設けられている。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上記構成のゲートアレイでは、次のよう
な課題があった。
(1) 第3図において、通常、vCCCC配線a・・
・・・・及びGND配線配線G1膜・・・・の各配線は
、ノイズ対策のために分離して設けられるのが普通であ
る。即ち、出力バッフ7回路用のGND配線G2aと入
力バッフ7回路用のGND配線配線G1酸、分離して設
けられ、グランド引出し線となるパッド7のところで電
気的に接続される。このようにすれば、I10セル3−
1〜3−n内の多数の出力バッフ7回路が同時にスイッ
チして、その出力バッフ7回路用のGND配線G2aに
大きなノイズが生じても、I10セル3−1〜3−n・
・・・・・内の入力バッファ回路用のGND配線Gla
の電位は安定であり、それらの入力回路の誤動作を防止
することができる。
前記のGND引出し線とは、例えば特定の■10セル3
− (n−1>の−面に、第1層金属膜が形成され、第
2層目金属配線であるGND配線Gla、G2aとクロ
スする部分に、適宜、スルーホールが設けられると共に
、前記第1層金属膜が、それに対応するパッド7まで延
設されたいわゆるGNDセルによって実現される。同様
に、VCCセルの構成も、これに準じたものである。こ
のようなGNDセルやCCセルは、入出力機能を持たず
、単に引出し線としUlN能する。
このようなGNDセル及びCCセルルは、種々の需要に
対応するために、チップ1内のいずれの110セル3−
1〜3−n・・・・・・にも設けることができ、かつユ
ーザ等の所望するパッドを電源供給パッドとできること
が必要である。従って、ノイズ対策とユーザ要求等への
対応のために、例えばGND配線についていえば、I1
0セル3−nのGND配線GlaがI10セル4−1の
GND配線Glbに、GND配線G2aがG2bにそれ
ぞれ接続され、かつGND配線配線G1酸lbとGND
配線G2a、G2bとは分離されている。同様に、vC
C配線ViaとVlb、V2aとv2bとはそれぞれ接
続されている。
つまり、チップコーナ部分1aにおいて、横方向のI1
0セル3−1〜3−nの各vCC配線V1a、V2a及
びGND配線配線G1酸2aと、縦方向のI10セル4
−1〜4−mの各VCC配線Vlb、V2b及びGND
配線G1b、G2bとは、それぞれ供給対象の回路(入
力バラフッ回路炉出力バッファ回路等)別にそれぞれ接
続されている。このように、各vCC配線V1a、V2
a・・・・・・及びGND配線配線G1酸2a・・・・
・・は、チップ1の周辺にリング状に設けられ、インピ
ーダンスを低下するために、vCCセル或いはGNDセ
ルによってのみ、各vCC配線同志、または各GND配
線同志が相互に接続されることが望ましい。
ここで、VCCCC配線a・・・・・・及びGND配線
配線G1酸・・・・をリング状に設けるという条件を守
ると、第3図に示される例えばI10セル4−1のオー
バラップ部4−1aの長ざLは、最も内側のGND配線
配線G1酸いはCCCC配線a)の幅W1より大きくで
きず、仮にL>Wlとすると、第4図(a)、(b)に
示すような不都合が生ずる。
第4図(a)、(b)は、L>Wlとした場合の第2図
のチップコーナ部付近の配線パターン例を示す拡大平面
図である。なお、第4図中のW2はVCCCC配線aの
配線幅である。
4図(a)の配線パターンでは、各vCC配線1a、V
2a−’−”’及びGND配線配線G1酸2a・・・・
・・は、全てI10セル4−1の境界まで延設されてい
る。このため、例えばvCCCC配線aとVlbのよう
に、チップコーナ部1aにおいて配線の切断が生じてし
まい、vCC配線Via。
V2a・・・・・・及びGND配線配線G1酸2a・・
・・・・をリング状に設けることが不可能であった。そ
のため、チップ1の各4辺毎にVCCセル或いはGND
セルを設ける必要が生じ、例えばユーザの様々な要求に
対応することが困難であった。
一方、第4図(b)においては、各VCC配線V 1 
a、 V 2 a・−・−及びGND配線配線G1酸2
計・・・・・の幾つかが、I10セル4−1の境界に至
らず、途中で折れ曲がった形状となっている。そのため
、vCCCC配線a・・・・・・及びGND配線配線G
1酸・・・・に、配線の切断は生じないが、例えばI1
0セル4−1の一部に電源電位vCCやGND電位等が
供給されない領域Eが生ずることとなる。
これに対して、チップコーナ部1a以外のI10セル3
−1〜3−n、5−1〜5−nにおいては、前記の領域
Eにおいても、vCC配線Vla・・・・・・及びGN
D配線G1a・・・・・・が設けられている。このよう
なことから、論理マクロセル配線において、前記の領域
Eに配置された素子に電源電位■CCもしくはグランド
電位の供給の必要な論理マクロセルは、チップコーナ部
1aに配置できなくなるという問題が生じるのである。
以上のように、従来の構成では、I10セル4−1のオ
ーバラップ部4−1aの長さLをL>Wlにしようとす
ると、本来ゲートアレイの特徴である種々のユーザ要求
に対応できるという、いわゆる設計の自由度(フレキシ
ビリティ)を損なうという問題が生ずる。
なお、前記文献1に記載された■CCCC配線a・・・
・・・及びGND配線Gla・・・・・・は、チップコ
ーナ部1aにおいて45°の角度で2回折り曲げられた
形状となっているが、この場合も、GND配線G1a・
・・・・・の一つがチップコーナ部1aで切断され、そ
のコーナ部1aの例えばI10セル41においてのみ、
vCCCC配線a、Vlb及びGND配線G1a、Gl
bがその上方の位置に存在しないという領域も生じてい
る。
(2) 限られたチップサイズでI10セル31〜3−
n・・・・・・の数を増大するための提案として、前記
文献1の他にも、チップコーナ部1aに、トランジスタ
の配置が他のI10セルと異なるコナ部専用のI10セ
ルを設けるといった技術が、前記文献2等に記載されて
いる。ところが、このような技術においても、チップコ
ーナ部1aには限られた論理マクロセルしか配置できず
、それによって設計の自由度が損なわれるという問題が
あった。
本発明は前記従来技術が持っていた課題として、ノイズ
に強く、設計の自由度が大きく、しかも限られたチップ
サイズにおいて充分な数のI10セルを有するゲートア
レイを得ることが困難である点について解決したゲート
アレイを提供するものである。
(課題を解決するための手段) 本発明は、前記課題を解決するために、チップ(半導体
基板)の−主面中央に形成された複数の基本セルからな
る内部アレイと、前記内部アレイの周辺に規則的に配列
、形成された複数のI10セルと、前記I10セル上の
第2層目の位置に、リング状に配設された複数のVCC
/GND配線とを、備えたゲートアレイにおいて、前記
複数のVCC/GND配線の一部を、前記チップのコー
ナ部において、第1層目金属配線と第2層目金属配線と
によって上下に分離して並走状態に形成したものである
(作 用) 本発明によれば、以上のようにゲートアレイを構成した
ので、コーナ部における第1層目金属配線と第2層目金
属配線とは、その配線間をスルーホール等を介して接続
することにより、コーナ部におけるスペースの関係上切
断せざるを得ないVCC配線やGND配線を、コーナ部
においてリング状に接続することを可能にさせ、それに
よって110セルの設置個数をより増大させる働きがあ
る。さらに第1層目金属配線と第2層目金属配線は、コ
ーナ部におけるスペースの有効利用を図り、vCCセル
やGNDセルの形成位置の制限を解除する働きがあると
共に、その第1層目金属配線と第2層目金属配線とがノ
イズ吸収用のバイパス・コンデンサとして機能する。従
って、前記課題を解決できるのである。
(実施例) 第1図は、本発明の実施例を示すもので、ゲートアレイ
におけるチップコーナ部付近の拡大平面図である。
この実施例のゲートアレイは、その全体が例えば第2図
のような構成をしており、その第2図のチップコーナ部
付近の拡大図が第1図に示されている。
第1図に示すように、チップ(半導体基板)11の一主
面中央には、0MO3(相補型MOSトランジスタ)等
で構成される多数の基本セルが配列されて成る内部アレ
イ12が形成されている。
ざらに、内部アレイ12の周囲には、バイポーラトラン
ジスタ等で構成されるI10セル13−(n−1)、1
3−n、14−1.14−2・・・・・・が規則的に配
列され、その外周に、I10セル13− (n−1)、
 13−n、 14−1.14−2・・・・・・と対応
する複数のパッド17・・・・・・が設けられている。
各110セル13− (n−1> 、 13−n、 1
4−1.14−2・・・・・・内には、バイポーラトラ
ンジスタ等の回路素子が配置され、それらの回路素子を
ユーザ等の要求に応じて適宜配線することで、入力バッ
ファ回路、出力バッフ7回路及び入出力バッフ7回路等
の論理マクロセルが実現される。
なお、第1図では、各110セル13−(n−1)、1
3−n、14−1.14−2・・・・・・と対応する各
パッド17は、それぞれ1個のみ設りられているが、特
に1個に限定されるものではなく、2個あるいは3個等
のように複数個設けてもよい。
チップコーナ部118において、縦方向のR端のI10
セル14−1は、横方向の最端のI10セル13−n側
に、長ざLのオーバラップ部14−1aが生じるように
その■/′0セル13−n側にずらして配置されている
。各I/′0セル13−n、14−1.14−2・・・
・・・の内側には、内部アレイ12どの接続のための第
1層金属膜で形成された引出し電極P、Q、R・・・・
・・がそれぞれ形成されている。横方向のI10セル1
3−(n−1>。
13−n・・・・・・の上には、幅W11のGND配線
G11a、G12aと幅W12のvCCCC配線1a、
V12aが交互に配置されている。また、縦方向のI1
0セル14−1.14−2・・・・・・の上には、GN
D配線G11b、G12bとVCCk!線V11 b、
V12bとが交互に配置されている。
これらのGND配線Gl 1a、G12a、G11b、
G12b及びVCCCC配線1a、V12a、 Vl 
1 b、 V 12bハ、A、ll等からなる第2層目
金属配線で形成され、GND配線G11aとG1 lb
、G12aとG12b、ざらにvCCCC配線2aとV
l 2bとが、それぞれチップコーナ部11aに沿って
折曲げられた形状に形成されて相互に接続され、チップ
外周にリング状に配置されている。
第2層目金属配線からなるGND配線G12a。
G12bの下方位置には、チップコーナ部11aにおい
て、そのGND配線G12a、G12bに沿って第1層
目金属配線からなるvCC配線20が形成されている。
そして、vCC配線11aは、チップコーナ部11aに
おけるI10セル13−nの端で、スルーホール21に
よってvCC配線20に接続され、さらにそのvCC配
線20がI10セル14−1の端で、スルーホール22
によってVCCCC配線’lbに接続されている。
第1層目金属配線からなるvCC配線20とその上に設
けられた第2層目金属配線からなるGND配線G12a
・・・・・・との間は、5i02等の中間絶縁膜によっ
て相互に絶縁されている。
本実施例では、チップコーナ部11aにおいて、GND
配線G11a、G12aとG11b、G12b、VCC
CC配線2aとv12bとをそれぞれ相互に接続する。
さらに、チップコーナ部11aにおいてスペース的に余
裕がないため、vCCCC配線1aとVllbとの切断
された箇所は、第1層目金属配線からなるvCC配線2
0によって相互に接続される。そのため、チップコーナ
部11aにおいてVCCCC配線1a、V12a−・・
・・・及びGND配線G11 a、 G12a・・・・
・・の切断が生ぜず、それによって制限を受けることな
く任意のI10セル13−(n−1)、 13−n、 
14−1.14−2・・・・・・の位置に、VCCセル
及びGNDセルを形成することができる。
マタ、各vCC配線V 11 a、 V 12 a・−
・・−・及びGND配線G11a、G’12a・・・・
・・は、いずれもI10セル13−n、14−1の境界
まで延設されており、チップコーナ部11aのI10セ
ル14−1に(7)み、ソノ上方にvCCCC配線1a
V12a・−・−及びGND配線Gl 1 a、 G1
2a・・・・・・の存在しない領域が生じるということ
がない。
ここで、I10セル14−1におけるオーバラップ部1
4−1 aの長ざLは、1=W11 +W12であり、
従来のもの(L=W1)より長くすることができる。即
ち、一般にW11キW12として設計されることから、
オーバラップ部14−1aの長ざLを従来の約2倍にで
きる。
以上のように、vCCCC配線1a、12a・・・・・
・及びGND配線Gl 1 a、 Gl 2a・・・・
・・の−部を、上下に並走する第1層目金属配線と第2
層目金属配線とで形成したので、チップコーナ部]1a
におけるスペースをより有効に利用でき、VCCセルや
GNDセルの配置、デツプコーナ部11aにおけるI1
0セル14−1に配置される論理マクロセルの種別等に
新たな制限の生ずることなく、I10セル配置のオーバ
ラップ部14−18の長さLを大きくすることができる
。そのため、設計の自由度を損なうことなく、限られた
チップサイズでも、より多くのI10セル13−(rl
−1>、13−n、14−1.14−2・・・・・・を
設けることが可能となる。
ざらに、中間絶縁膜を挟んでVCC配線20とGND配
線G12aとが一部並走するため、電源電位とグランド
間にノイズ吸収のバイパス・コンデンサを設けたことと
なり、ノイズに強いゲートアレイが得られる。
本発明においては、前記のオーバラップ部14−1aの
艮ざLをL>Wll +W12とすルコとも可能であり
、その−構成例を第5図に示す。
第5図は、本発明の伯の実施例を示すもので、ゲートア
レイにおけるチップコーナ部付近の拡大平面図であり、
第1図中の要素と共通の要素には同一の符号がされてい
る。
この実施例が、第1図と異なる点は、各110セル13
− (n−1>、13−n、14−1〜14−3・・・
・・・の上を走るvCCCC配線1a、V12a、Vl
lb、V12b及びGND配線G11a、G12a、G
1 lb、G12bとして、ざらにvCCCC配線3a
、V13bとGND配線G13a、G13bが追加され
、それに応じてI10セル13−n、14−1・・・・
・・の高さト1をより大きくした点と、ざらに第1B目
金属配線からなるVCC配線30を追加したことである
この実施例では、vCC配線ViaとVlbとが、第1
層目金属配線からなる■CC配線20で相互に接続され
ると共に、VCC配線Vl 2aとV12bとが、第1
層目金属配線からなるvCC配線30を介してコーナ部
11aで相互に接続されている。即ち、I10セル13
−nの境界において、vCCCC配線2aがスルーホー
ル31によってVCC配線30と接続され、I10セル
14−1の境界kJいr、VCC配線30がvCC配線
V12bとスルーホール32によって接続されている。
このような構成においても、VCC/GNDのリング配
線に、チップコーナ部11aにおいて切断が生じず、ま
た各vCC配線V11a、V12a・・・・・・及びG
ND配線G11 a、 Gl 2a・・・・・・とも、
I10セル13−n、14−1の境界に至るまで延設さ
れている。従って、I10セル14−1.14−2・・
・・・・の高さHが大きいほど、むしろチップコーナ部
11aのスペースを有効に利用してI10セル14−1
.14−2のオーバラップ部14aを大きくすることが
できる。そのため、より多くのI10セル13−(n−
1)、13−n、14−1〜14−3・・・・・・を設
けることが可能となる。
なお、本発明は図示の実施例に限定されず、例えばチッ
プ外周に設けられるvCC配線及びGND配線の本数を
他の数にしたり、その配線のチップコーナ部11aにお
ける形状を直角以外の角度等で相互に接続するようにし
たり、或いはそれらの変形に応じて第1層目金属配線か
らなるvCC配線20.30の数やその形状を変形する
等、種々の変形が可能である。
(発明の効果) 以上詳細に説明したように、本発明によれば、リング状
に配置されるVCC配線及びGND配線を、チップのコ
ーナ部において、第1層目金属配線と第2層目金属配線
とによって上下に分離して並走状態に形成したので、限
られたデツプサイズで、より多くのI10セルを設ける
ことができる。
さらに、コーナ部におけるスペースをより有効に利用で
きるため、VCCセルやGNDセルを配置する位置が制
限されず、それらのセルを任意の箇所に配置することが
可能となると共に、コーナ部に配置できる論理マクロセ
ルの種別等も制限されないので、設計の自由度がより向
上する。また、第1層目金属配線と第2層目金属配線と
は上下に分離して並走状態に形成されるので、その両前
線によってノイズ吸収用のバイパス・コンデンサと同様
の機能が生じ、ノイズに強いゲートアレイが得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示すゲートアレイにおけるチ
ップコーナ部付近の拡大平面図、第2図は従来のゲート
アレイのセル配置を示す概略の平面図、第3図は第2図
のチップコーナ部付近の拡大平面図、第4図(a)、(
b)は第2図のチップコーナ部付近の拡大平面図、第5
図は本発明の他の実施例を示すゲートアレイにおけるチ
ップコーナ部付近の拡大平面図である。 11・・・・・・半導体基板(チップ)、11a・・・
・・・チップコーナ部、12・・・・・・内部アレイ、
13−(nl)、13−n、14−1〜14−3・・・
・・・I10セル、14a、14−1a・・・・・・オ
ーバラップ部、17・・・・・・ホンディングパッド、
20.30・・−・・・VCC配線、21,22,31
.32・・・・・・スルーホール、Gl 1 a 〜G
13a、 G11 b−G13b−−・−・GND配線
、Vlla 〜V13a、V11b〜V13b・・・・
・・vCC配線。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 半導体基板の一主面中央に形成された複数の基本セルか
    らなる内部アレイと、 前記内部アレイの周辺に規則的に配列、形成された複数
    の入/出力バッファセルと、 前記入/出力バッファセル上の第2層目の位置に、リン
    グ状に配設された複数の電源/グランド配線とを、 備えたゲートアレイにおいて、 前記複数の電源/グランド配線の一部を、 前記半導体基板のコーナ部において、第1層目金属配線
    と第2層目金属配線とによって上下に分離して並走状態
    に形成したことを特徴とするゲートアレイ。
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