JPH0384484A - Magnetic sensor - Google Patents

Magnetic sensor

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Publication number
JPH0384484A
JPH0384484A JP1221030A JP22103089A JPH0384484A JP H0384484 A JPH0384484 A JP H0384484A JP 1221030 A JP1221030 A JP 1221030A JP 22103089 A JP22103089 A JP 22103089A JP H0384484 A JPH0384484 A JP H0384484A
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JP
Japan
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hall
magnetic sensor
voltage
terminals
current
Prior art date
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Pending
Application number
JP1221030A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshiro Yamamoto
俊郎 山本
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0384484A publication Critical patent/JPH0384484A/en
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 皇呈上坐旦里豆且 本発明は磁気センサ、より詳細にはVTRやプレーヤな
どの磁気テープの読取りヘッドやブラシレスのDDモー
タ制御あるいは精密機器の回転部などの角度検出に使用
されるホール効果を用いた高精度磁気センサに関する。
[Detailed Description of the Invention] The present invention relates to a magnetic sensor, and more specifically, to a magnetic sensor, and more particularly, to a magnetic tape read head of a VTR or player, a brushless DD motor control, or an angle of a rotating part of precision equipment. This invention relates to a high-precision magnetic sensor using the Hall effect used for detection.

藍監旦技歪 GaAsなとの半導体を用いたホール素子は、N極S極
を区別して検出でき、磁束密度に比例した信号が得られ
ることから、制御機器や自動車などの回転制御部品の角
度検出あるいはホールモータの制御などに第6図に示す
ようなホール素子11が多数配設された磁気センサが利
用されている。
Hall elements using strained GaAs semiconductors can distinguish between north and south poles and provide a signal proportional to magnetic flux density, so they can be used to detect angles of rotation control parts in control equipment and automobiles. A magnetic sensor including a large number of Hall elements 11 as shown in FIG. 6 is used for detection or control of a Hall motor.

この磁気センサは、電気的に半絶縁性である1−GaA
sの基板10にイオン注入を選択的に行なって、十字形
状のn−GaAs層を形成し、このn −GaAs層を
それぞれのホール素子(rl −GaAs層)11とし
て構成されている。
This magnetic sensor uses electrically semi-insulating 1-GaA
A cross-shaped n-GaAs layer is formed by selectively implanting ions into the s substrate 10, and each Hall element (rl-GaAs layer) 11 is constructed using this n-GaAs layer.

このような磁気センサは各ホール素子11に四個の端子
11n、Ita、 Vtn、 Vzrt (n= 1〜
3)を有し、それぞれ相対応する2組の端子工1..、
工2..を電流端子あるいはV rn* V anをホ
ール端子として、すなわち電流供給あるいはホール電圧
測定用の端子として用いている。たとえば、各ホール素
子のIlnとInnとの電流端子間に一定電流゛工を流
すと、ホール端子Vい−v2n間に、この素子に印加さ
れている磁界の磁束密度Bに比例した電圧が発生する。
Such a magnetic sensor has four terminals 11n, Ita, Vtn, Vzrt (n=1 to
3), and two sets of terminals corresponding to each other.1. .. ,
Engineering 2. .. is used as a current terminal, or Vrn*Van is used as a Hall terminal, that is, as a terminal for current supply or Hall voltage measurement. For example, when a constant current is applied between the current terminals Iln and Inn of each Hall element, a voltage proportional to the magnetic flux density B of the magnetic field applied to this element is generated between the Hall terminals V1 and V2n. do.

そして、この電圧をそれぞれの専用の電圧計で検出する
ようにしている。したがつて、前記各端子には外部の定
電流供給源やホール電圧測定計器とを接続するためのボ
ンディングバット12が接続され、これら多数のボンデ
ィングバット12が前記1−GaAsの基板10上に形
成されている。
This voltage is then detected by a dedicated voltmeter for each. Therefore, each terminal is connected to a bonding bat 12 for connecting an external constant current supply source or a Hall voltage measuring instrument, and a large number of bonding bats 12 are formed on the 1-GaAs substrate 10. has been done.

説日が ゛しよ と る6 上記のような従来の磁気センサにおいては、1個のホー
ル素子11がそれぞれ4個の端子を有し、これらそれぞ
れの端子にボンディングバット12を接続する必要があ
り、このため基板10上に多数のボンディングバット1
2を配設する必要がある。しかも、ボンディングバット
12は少なくとも約50μm0以上の面積を必要とし、
またボンディングバット12の間隔を約50LLm以下
に狭くできないことから、従来の磁気センサは各ホール
素子11の密度(配設ピッチ)に制限があり、高精度の
磁場分布を検出できないという課題があった。
In the conventional magnetic sensor as described above, each Hall element 11 has four terminals, and it is necessary to connect the bonding bat 12 to each of these terminals. , Therefore, a large number of bonding bats 1 are placed on the substrate 10.
2 needs to be installed. Moreover, the bonding bat 12 requires an area of at least about 50 μm or more,
Furthermore, because the spacing between the bonding butts 12 cannot be narrowed to less than about 50 LLm, conventional magnetic sensors have a limitation in the density (arrangement pitch) of each Hall element 11, and have had the problem of not being able to detect a highly accurate magnetic field distribution. .

本発明はこのような課題に鑑みなされたものであって、
高密度に配設されたホール素子を順次時系列的に選択作
動させることによりボンディングバットの数量を少なく
し、ホール素子を高密度に基板上に配設でき、高精度に
磁場分布を検出できながらしかも小形化が図られた磁気
センサを提供することを目的としている。
The present invention was made in view of these problems, and
By sequentially and selectively operating the Hall elements arranged in high density in a time-series manner, the number of bonding butts can be reduced, the Hall elements can be arranged in high density on the substrate, and the magnetic field distribution can be detected with high precision. Moreover, it is an object of the present invention to provide a magnetic sensor that is miniaturized.

゛ るt・めの 上記目的を達成するために本発明に係る磁気センサは、
基板上に2個以上のホール素子が配設された磁気センサ
において、前記側々のホール素子における電流端子のう
ち少なくとも一方にはスイッチが接続されるとともに各
ホール端子はそれぞれコンデンサを介して検出線に接続
されていることを特徴としている。
In order to achieve the above object, the magnetic sensor according to the present invention has the following features:
In a magnetic sensor in which two or more Hall elements are arranged on a substrate, a switch is connected to at least one of the current terminals of the side Hall elements, and each Hall terminal is connected to a detection line through a capacitor. It is characterized by being connected to.

たとえば、第5図の回路図に基づいてより詳細に説明す
ると、ホール素子11の電流端子11、■2間にはスイ
ッチ15を介して直流電B16が介装され、ホール端子
vl、V2にはそれぞれコンデンサ17.18を介して
検出線19.20により外部検出回路21が接続されて
いる。
For example, to explain in more detail based on the circuit diagram of FIG. 5, a DC current B16 is interposed between the current terminals 11 and 2 of the Hall element 11 via a switch 15, and the Hall terminals vl and V2 are connected to each other. An external detection circuit 21 is connected by a detection line 19.20 via a capacitor 17.18.

ここで、ホール素子11の電流端子I−,Ii間に配設
されているスイッチ15を閉じ、直流電源16から一定
電流をながすとホール素子11は作動状態となり、ホー
ル素子11に印加されている磁界の磁束密度に対応した
電圧変動、いわゆるホール電圧がホール端子V、 、V
、間に誘起される。この誘起されたホール端子V l、
 V s間の電圧変動はホール端子V、、V、個々に接
続されているコンデンサ17.18によってコンデンサ
に流れる変位電流に変換される。そして、この変換され
た変位電流が検出線19.20を通じて外部検出回路2
1に導かれ、ホール素子11上に印加されている磁場の
強さなどが検出される。
Here, when the switch 15 disposed between the current terminals I- and Ii of the Hall element 11 is closed and a constant current is passed from the DC power supply 16, the Hall element 11 becomes in an operating state, and the current is applied to the Hall element 11. The voltage fluctuation corresponding to the magnetic flux density of the magnetic field, the so-called Hall voltage, is at the Hall terminals V, , V
, induced between. This induced Hall terminal V l,
Voltage fluctuations between Vs and Vs are converted by capacitors 17.18 connected to the Hall terminals V, , V into displacement currents flowing through the capacitors. This converted displacement current then passes through the detection lines 19 and 20 to the external detection circuit 2.
1, and the strength of the magnetic field applied to the Hall element 11 is detected.

なお、外部検出回路21では高入力インピーダンスを持
ち、帰還インピーダンスがコンデンサ22.23である
オペレーションアンプ24.25が用いられ、出力の最
終段階には増幅器26が用いられている。すなわち、磁
束密度が変化してホール端子V、、V、の電圧に、それ
ぞれΔv8、Δv2の電圧変動が生じると、この時コン
デンサ17.18にはΔ工1、Δ工2の変位電流が流れ
る。この場合、電圧変動△V3、Δv2と変位電流ΔI
1%Δ■、との間にはコンデンサ17.18の容量をC
3とすると、 Δ11=C1Δv11Δ1.=C,Δ■2の関係がある
The external detection circuit 21 uses operational amplifiers 24 and 25 having high input impedance and feedback impedance of capacitors 22 and 23, and an amplifier 26 at the final output stage. In other words, when the magnetic flux density changes and voltage fluctuations of Δv8 and Δv2 occur in the voltages of the Hall terminals V, V, respectively, displacement currents of Δv8 and Δv2 flow through the capacitors 17 and 18 at this time. . In this case, voltage fluctuations ΔV3, Δv2 and displacement current ΔI
1%Δ■, and the capacitance of capacitor 17.18 is C.
3, Δ11=C1Δv11Δ1. There is a relationship of =C, Δ■2.

この変位電流がオペレーションアンプ24.25の出力
側と入力側(−側)とに接続した帰還インピーダンスで
あるコンデンサ22.23で積分され、それぞれのオペ
レーションアンプ24.25の出力vm、vAとして、
コンデンサ22.23め容量をC1とすると、 Vi =−(CI /Cm )Δ■2、Va =  (
CI /Cm ) ΔV+が生じる。この差VA−V、
を取ると検知出力V outは v、、、= (CI /C* )(Δv、−ΔV+)=
 (c、/C* )ΔV となり、ホール端子V+、Vi間のホール電圧ΔVに比
例した出力が検知できる。
This displacement current is integrated by a capacitor 22.23 which is a feedback impedance connected to the output side and input side (- side) of the operational amplifier 24.25, and the output vm and vA of each operational amplifier 24.25 are expressed as
If the capacitance of capacitor 22.23 is C1, Vi = - (CI / Cm ) Δ■2, Va = (
CI /Cm ) ΔV+ occurs. This difference VA-V,
If we take , the detection output V out is v,,, = (CI /C*) (Δv, -ΔV+) =
(c, /C*) ΔV, and an output proportional to the Hall voltage ΔV between the Hall terminals V+ and Vi can be detected.

庄里 上記手段によれば、基板上に2個以上配設されたホール
素子の電流端子のうち少なくとも一方にはスイッチが接
続されている。したがって、このスイッチを個々に、あ
るいは順次作動させることによって前記例々のホール素
子を選択的にON状態にすると、個々の動作状態のホー
ル素子のホール端子には、手段のところで詳しく説明し
たようにホール素子に印加されている磁界による磁束密
度に比例したホール電圧が順次発生し、磁束密度が変化
するとこの磁束密度の変化にしたがってホール電圧も変
化する。
According to the above means, a switch is connected to at least one of the current terminals of two or more Hall elements arranged on the substrate. Therefore, when the above-mentioned Hall elements are selectively turned on by activating the switches individually or sequentially, the Hall terminals of the individual Hall elements in the operating state will have the same effect as described in detail in the section. A Hall voltage proportional to the magnetic flux density due to the magnetic field applied to the Hall element is sequentially generated, and when the magnetic flux density changes, the Hall voltage also changes in accordance with the change in the magnetic flux density.

このホール端子に発生した電圧変動はコンデンサに流れ
る変位電流に変換され、この変換された変位電流が前記
検出線を流れて外部に配設されているオペレーションア
ンプなどによって検出される。
The voltage fluctuation generated at the Hall terminal is converted into a displacement current flowing through the capacitor, and this converted displacement current flows through the detection line and is detected by an externally provided operational amplifier or the like.

したがって、ホール端子にコンデンサを介して接続され
ている検出線を共通化することができ、ボンディングバ
ットの数量を減らすことが可能となる。また、ボンディ
ングバットの減少に対応する分だけホール素子の配設密
度を高めることが可能となり、磁束密度分布の高精度な
検出が可能となる。さらに磁気センサ自体の小形化も可
能となる。
Therefore, the detection line connected to the Hall terminal via the capacitor can be shared, and the number of bonding bats can be reduced. Moreover, it becomes possible to increase the arrangement density of Hall elements by an amount corresponding to the reduction in bonding butts, and it becomes possible to detect the magnetic flux density distribution with high precision. Furthermore, it becomes possible to downsize the magnetic sensor itself.

衷施舅 以下、本発明に係る磁気センサの実施例を図面に基づい
て説明する。なお、従来例と機能を同一にする構成部品
には同一の符合を付すこととする。
Embodiments of the magnetic sensor according to the present invention will be described below with reference to the drawings. Note that components having the same functions as those of the conventional example are given the same reference numerals.

第1図は本発明に係る磁気センサの一実施例を示してお
り、本実施例に係るホール素子11はSi基板30上に
ヘテロエピタキシャル成長技術で成長させたn−GaA
s(キャリア濃度I X 10”Cm−’)層31を、
フォトリソグラフィによって選択的にエツチングするこ
とにより十字形状に構成されている。n−GaAs層3
1とSi基板30との間には第2図に示すように、高抵
抗なi −GaAs層またはCaF2層などからなる絶
縁層32で電気的に分離されている。また、第1図に示
すようにSi基板30上にはMO3形トランジスタから
なるシフトレジスタ33i3よびスイッチングトランジ
スタ15が形成され、これらスイッチングトランジスタ
15はホール素子11の電流端子工、。と直流電源16
との間に介装され、前記シフトレジスタ33の制御信号
によりONまたはOFF状態となる。電流端子の他の一
方工、。はアース線35に接続されている。
FIG. 1 shows an embodiment of a magnetic sensor according to the present invention, in which a Hall element 11 according to the present embodiment is made of n-GaA
s (carrier concentration I x 10"Cm-') layer 31,
It is formed into a cross shape by selectively etching it using photolithography. n-GaAs layer 3
As shown in FIG. 2, an insulating layer 32 made of a high-resistance i-GaAs layer or a CaF2 layer is provided between the Si substrate 1 and the Si substrate 30. Further, as shown in FIG. 1, a shift register 33i3 and a switching transistor 15 made of MO3 type transistors are formed on the Si substrate 30, and these switching transistors 15 serve as current terminals for the Hall element 11. and DC power supply 16
The shift register 33 is interposed between the shift register 33 and the shift register 33, and is turned on or off by the control signal of the shift register 33. On the other hand, the current terminal. is connected to the ground wire 35.

また、ホール素子11i3よびその周辺部上には第2図
に示すようにCVD法によって、厚さ約500人のSi
O□膜36膜形6されており、さらにホール端子Vl、
Vl上にはAu/ Ge/ Ni合金などの金属材料が
蒸着されて電極37が形成され、電極37とホール端子
Vl、V2および5i(h膜36とによりコンデンサ1
7.18が形成さている。このコンデンサ17.18の
電極37側の一端は第1図に示すように検出線19、あ
るいは検出線20にそれぞれ接続されている。そして、
検出線19.20は第3図に示すような検知回路に接続
されている。
Furthermore, as shown in FIG. 2, a silicon layer with a thickness of approximately 500 layers is deposited on the Hall element 11i3 and its surrounding area by the CVD method.
O
A metal material such as Au/Ge/Ni alloy is deposited on Vl to form an electrode 37, and the capacitor 1 is connected to the electrode 37 and the Hall terminals Vl, V2 and 5i (h film 36).
7.18 has been formed. One end of the capacitor 17, 18 on the electrode 37 side is connected to the detection line 19 or 20, respectively, as shown in FIG. and,
The detection lines 19,20 are connected to a detection circuit as shown in FIG.

該検知回路は前述の手段の項で説明した外部検出回路2
1と同一のちのであり、すなわち、帰還インピーダンス
としてコンデンサ22.23が用いられたオペレーショ
ンアンプ24.25を有し、出力の最終段階には増幅器
26が用いられている。
The detection circuit is the external detection circuit 2 explained in the section of means above.
1, that is, it has operational amplifiers 24 and 25 in which capacitors 22 and 23 are used as feedback impedances, and an amplifier 26 is used in the final output stage.

次に第4図を用いて本実施例に係る磁気センサの動作を
説明する。
Next, the operation of the magnetic sensor according to this embodiment will be explained using FIG.

S+ 、Ss 、S−はスイッチングトランジスタ15
のゲート電圧波形を第1図中皮から順番に、V 1 イ
V 22、VI2、Vat、V13.viaはホールg
子V + r、V z r・・・の電圧波形を第1図中
皮から順番に、またVA、V、 、V、、、はオペレー
ションアンプ24.25および増幅器26の出力波形を
それぞれ表わしている。そして、to−t@は最初のス
イッチングトランジスタ15のゲート電圧をハイレベル
にし、このスイッチングトランジスタ15がON状態と
なった時刻をtoとし、この七〇を基準とした時刻を表
示している。
S+, Ss, S- are switching transistors 15
The gate voltage waveforms of V1, V22, VI2, Vat, V13, . via is hole g
Figure 1 shows the voltage waveforms of V + r, V z r, etc. in order from the middle layer, and VA, V, , V, . There is. Then, to-t@ sets the gate voltage of the first switching transistor 15 to a high level, and the time when this switching transistor 15 is turned on is set to to, and the time is displayed based on this 70.

たとえば、シフトレジスタ33からの制御信号によって
、最初のスイッチングトランジスタ15をON状態とす
る(第4図S、)、ON状態となったスイッチングトラ
ンジスタ15に接続されているホール素子11に一定の
電流Iが流れ、ホール端子■、およびVatにはオフセ
ット電圧に、その時の磁束密度に比例した電圧を加えた
電圧変動が生じる(第4図V0、■□)、この時(to
〜tr)、他のスイッチングトランジスタ15はOFF
状態となっている(第4図S、、S、)ため、他のホー
ル端子(V+i、Vxz、V+−、Vis) ニハT1
1圧変動は生じない、したがって、検出線19.20に
はホール端子v、、!3よびV、に生じた変動電圧によ
るコンデンサの変位電流のみが流れる。この変位電流は
検知回路(第3図)のコンデンサ23.22で積分され
電圧に変換される。
For example, when the first switching transistor 15 is turned on by a control signal from the shift register 33 (S, in FIG. 4), a constant current I is applied to the Hall element 11 connected to the switching transistor 15 that is turned on. flows, and a voltage fluctuation occurs at the Hall terminal ■ and Vat by adding a voltage proportional to the magnetic flux density at that time to the offset voltage (Fig. 4 V0, ■□).
~tr), other switching transistors 15 are OFF
state (S, , S, in Figure 4), other Hall terminals (V+i, Vxz, V+-, Vis) Niha T1
1 pressure fluctuation does not occur, therefore, the detection line 19.20 has a Hall terminal v,,! Only the displacement current of the capacitor due to the fluctuating voltages generated at 3 and V flows. This displacement current is integrated by capacitors 23 and 22 of the detection circuit (FIG. 3) and converted into a voltage.

ホール端子V0、V x r 上電極37(17)、3
7(18)との間にそれぞれ構成されるコンデンサ17
.18の容量と帰還インピーダンスとしてのコンデンサ
23.22の容量とがそれぞれ等しい場合、オペレーシ
ョンアンプ25.24の出力電圧変動V A 、 V 
mとホール端子Vl+、■、の電圧変動はそれぞれ等し
くなる。したがって、オペレーションアンプ25とオペ
レーションアンプ24との出力電圧変動の差(vA−V
B )を利得1倍の差動増幅器26で求めればその特待
た値がホール端子Vll、V 21間の電圧の差すなわ
ちホール効果によって生じる磁束密度に比例したホール
電圧である。
Hall terminal V0, V x r Upper electrode 37 (17), 3
7 (18) and the capacitors 17 respectively configured between
.. When the capacitance of 18 and the capacitance of capacitor 23.22 as feedback impedance are equal, the output voltage fluctuation of operational amplifier 25.24 V A , V
The voltage fluctuations of m and the Hall terminals Vl+ and ■ are equal to each other. Therefore, the difference in output voltage fluctuation between the operational amplifier 25 and the operational amplifier 24 (vA-V
If B) is obtained using the differential amplifier 26 with a gain of 1, its special value is the difference in voltage between the Hall terminals Vll and V21, that is, the Hall voltage proportional to the magnetic flux density generated by the Hall effect.

スイッチングトランジスタ15をOFF状態にすると、
スイッチングトランジスタ15をON状態にする以前の
状態となり、逆の電圧変動がホール端子V目、Vatに
生じることにより、検出電圧がON状態にする以前の電
圧に戻る。
When the switching transistor 15 is turned off,
The state before the switching transistor 15 is turned on is reached, and a reverse voltage fluctuation occurs at the Vth Hall terminal, Vat, so that the detection voltage returns to the voltage before the switching transistor 15 is turned on.

同様にして1次のホール素子11を順次ON状態にする
ことでホール素子11個々での磁束密度を検出すること
ができる。
Similarly, by sequentially turning on the primary Hall elements 11, the magnetic flux density of each Hall element 11 can be detected.

及亘曵苅遇 以上詳述したように、本発明に係る磁気センサは同一基
板上に2個以上のホール素子が配設された磁気センサに
おいて、前記側々のホール素子における電流端子のうち
少なくとも一方にはスイッチが接続され、ホール端子に
はそれぞれコンデンサを介して検出線が接続されている
ので、ホール素子の配設密度を制限していた外部との接
続用ボンディングバット数が少なくなり、ホール素子の
高密度な配設が可能となり、磁束密度分布の高精度な検
出を行なうことができる。したがって、ブラシレスのD
Dモータ制御あるいは精密機器の回転部などの角度検出
を高精度に制御あるいは検出することができる6また、
ボンディングパット数が少なくなることによって磁気セ
ンサ自体を小形化することができ、制御あるいは検出機
器の小型化・軽量化にも有効である。
As detailed above, in the magnetic sensor according to the present invention, in which two or more Hall elements are arranged on the same substrate, at least one of the current terminals of the Hall elements on the sides A switch is connected to one side, and a detection line is connected to each Hall terminal via a capacitor, so the number of bonding butts for external connection, which had limited the density of Hall elements, is reduced, and the Hall terminal It becomes possible to arrange the elements at a high density, and it is possible to detect the magnetic flux density distribution with high precision. Therefore, brushless D
D-motor control or angle detection of rotating parts of precision equipment can be controlled or detected with high precision6.
By reducing the number of bonding pads, the magnetic sensor itself can be made smaller, which is also effective in reducing the size and weight of control or detection equipment.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明に係る磁気センサの一実施例を示す平面
図、第2図はホール素子部の断面図、第3図は外部検出
回路図、第4図は磁気センサの動作を説明するための各
端子における電圧波形のタイムチャート図、第5図は本
発明に係る手段を説明するための回路図、第6図は従来
の磁気センサを示す平面図である。 11・・・ホール素子、15・・・スイッチングトラン
ジスタ(スイッチ)、17.18・・・コンデンサ19
.20・・・検出線、30・”Si基板(基板)It、
Iz・・・電流端子、 V+、V*・・・ホール端子
Fig. 1 is a plan view showing an embodiment of the magnetic sensor according to the present invention, Fig. 2 is a sectional view of the Hall element section, Fig. 3 is an external detection circuit diagram, and Fig. 4 explains the operation of the magnetic sensor. FIG. 5 is a circuit diagram for explaining the means according to the present invention, and FIG. 6 is a plan view showing a conventional magnetic sensor. 11... Hall element, 15... Switching transistor (switch), 17.18... Capacitor 19
.. 20...Detection line, 30."Si substrate (substrate) It,
Iz...Current terminal, V+, V*...Hall terminal

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)基板上に2個以上のホール素子が配設された磁気
センサにおいて、前記個々のホール素子における電流端
子のうち少なくとも一方にはスイッチが接続されるとと
もにホール端子はそれぞれコンデンサを介して検出線に
接続されていることを特徴とする磁気センサ。
(1) In a magnetic sensor in which two or more Hall elements are arranged on a substrate, a switch is connected to at least one of the current terminals of each Hall element, and each Hall terminal is detected via a capacitor. A magnetic sensor characterized in that it is connected to a wire.
JP1221030A 1989-08-28 1989-08-28 Magnetic sensor Pending JPH0384484A (en)

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JP1221030A JPH0384484A (en) 1989-08-28 1989-08-28 Magnetic sensor

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JP1221030A JPH0384484A (en) 1989-08-28 1989-08-28 Magnetic sensor

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JP2007248389A (en) * 2006-03-17 2007-09-27 Asahi Kasei Electronics Co Ltd Offset cancellation method, circuit therefor, and magnetic sensor
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