JPH0387324A - フレキシブルプリント用銅合金圧延箔 - Google Patents
フレキシブルプリント用銅合金圧延箔Info
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- JPH0387324A JPH0387324A JP6669189A JP6669189A JPH0387324A JP H0387324 A JPH0387324 A JP H0387324A JP 6669189 A JP6669189 A JP 6669189A JP 6669189 A JP6669189 A JP 6669189A JP H0387324 A JPH0387324 A JP H0387324A
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Landscapes
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[a業上の利用分野]
本発明は、フレキシブルプリント用銅合金圧延箔に係り
、詳細には、たとえば、プリント回路、テープキャリヤ
などの配線回路に使用されるフレキシブルプリント用銅
合金圧延箔に関するものである。さらに詳しくは、8i
微細加工性、Snめっき被覆時の耐ウィスカ性、耐熱性
および導電性に優れるフレキシブルプリント用銅合金圧
延箔に関するものである。
、詳細には、たとえば、プリント回路、テープキャリヤ
などの配線回路に使用されるフレキシブルプリント用銅
合金圧延箔に関するものである。さらに詳しくは、8i
微細加工性、Snめっき被覆時の耐ウィスカ性、耐熱性
および導電性に優れるフレキシブルプリント用銅合金圧
延箔に関するものである。
[従来の技術]
プリント回路などの電気回路には5〜40μmの厚さの
銅箔が多用されている。このような銅箔には電解銅箔と
圧延銅箔がある。
銅箔が多用されている。このような銅箔には電解銅箔と
圧延銅箔がある。
プリント回路基板には、ガラスエポキシ、紙フエノール
などの基板上に銅箔をクラッドした後、レジストエツチ
ング法により所望の回路パターンに形成した基板のほか
に、ポリイミドなどのフィルムに銅箔を張り合せできる
フレキシブル回路基板もある。これらの一部はテープキ
ャリヤ、T A B (Tape Automated
Bonding )リードとして半導体チップの実装
に使用されている。フレキシブル回路基板にはフレキシ
ビリティの点で優る圧延箔が使用される。
などの基板上に銅箔をクラッドした後、レジストエツチ
ング法により所望の回路パターンに形成した基板のほか
に、ポリイミドなどのフィルムに銅箔を張り合せできる
フレキシブル回路基板もある。これらの一部はテープキ
ャリヤ、T A B (Tape Automated
Bonding )リードとして半導体チップの実装
に使用されている。フレキシブル回路基板にはフレキシ
ビリティの点で優る圧延箔が使用される。
近年、電気機器の小型化と高密度化と多機能化にともな
って、プリント回路基板の高密度化が強く求められてお
り、このため小型チップ部品を高密度実装ができる表面
実装方式が次第に採用され始めた。
って、プリント回路基板の高密度化が強く求められてお
り、このため小型チップ部品を高密度実装ができる表面
実装方式が次第に採用され始めた。
テープキャリヤやTABのリードは、最近では、ピッチ
間距離が80μm以下にも近接するようになってきてい
る。
間距離が80μm以下にも近接するようになってきてい
る。
[発明が解決しようとする課題]
圧延箔としては通常タフピッチ銅および無酸素銅が使用
されているが、いずれもリードとして使用する場合、電
子デバイスと接合する部分にまず厚さ5μmのNi下地
めつき苓形成し、さらに、その上に厚さ1μmのAuめ
つきを形成している。
されているが、いずれもリードとして使用する場合、電
子デバイスと接合する部分にまず厚さ5μmのNi下地
めつき苓形成し、さらに、その上に厚さ1μmのAuめ
つきを形成している。
配線のリード間ピッチが80μmと狭い接続部分には上
記のようなNi下地めっきとAuめつき被覆が常識とさ
れていた。
記のようなNi下地めっきとAuめつき被覆が常識とさ
れていた。
Ni下地めっき上にAuめつきを行ったものは信頼性の
高いものではあるが、高価なものであるため、それに代
る安価なSnめフきが試みられている。しかし、Snめ
っきの場合は短時間でのウィスカ発生による配線間の短
絡が生ずるという課題がある。
高いものではあるが、高価なものであるため、それに代
る安価なSnめフきが試みられている。しかし、Snめ
っきの場合は短時間でのウィスカ発生による配線間の短
絡が生ずるという課題がある。
一方、ウィスカ対策のためSnめっきの代りにはんだめ
っきが検討されている。しかし、はんだめっきでははん
だ密着性不良という不具合いが生じるため、この考え方
は実用化には至っていない。
っきが検討されている。しかし、はんだめっきでははん
だ密着性不良という不具合いが生じるため、この考え方
は実用化には至っていない。
本発明は銅合金圧延箔に係るもので、従来のCu圧延箔
の代りに、接合部およびその近傍のめっきを、Niめフ
きとAuめつきの2層めっきからSnめっきないしはん
だめっきに置き代えることが可能となり、しかも、その
Snめっき層がウィスカを全く生じず、はんだ接合時の
230℃での加熱によっても母材が軟化せず、錫および
はんだの剥離も150℃X1000Hr保持後にも起こ
らず、また、強度および導電率も高い箔であって、しか
も、5μmの厚さで80μm程度のピッチでレジストエ
ツチングしても目標通りに非常にきれいにエツチングで
きるフレキシブルプリント用銅合金圧延箔を提供するこ
とを目的とする。
の代りに、接合部およびその近傍のめっきを、Niめフ
きとAuめつきの2層めっきからSnめっきないしはん
だめっきに置き代えることが可能となり、しかも、その
Snめっき層がウィスカを全く生じず、はんだ接合時の
230℃での加熱によっても母材が軟化せず、錫および
はんだの剥離も150℃X1000Hr保持後にも起こ
らず、また、強度および導電率も高い箔であって、しか
も、5μmの厚さで80μm程度のピッチでレジストエ
ツチングしても目標通りに非常にきれいにエツチングで
きるフレキシブルプリント用銅合金圧延箔を提供するこ
とを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明の第1の要旨は、Ag:0.02〜0.3%(重
量%以下同じ)、P:02〜0.04%、Zn : 1
.0〜5.0%(ただし、1.0%は除く)、10pp
m以下のSを含有し、残部Cuと不純物とからなること
を特徴とするフレキシブルプリント用銅合金圧延箔に存
在する。
量%以下同じ)、P:02〜0.04%、Zn : 1
.0〜5.0%(ただし、1.0%は除く)、10pp
m以下のSを含有し、残部Cuと不純物とからなること
を特徴とするフレキシブルプリント用銅合金圧延箔に存
在する。
本発明の第2の要旨は、Ag:0.02〜0.3%、P
:0.02〜0.04%、Zn:1.0〜5.0%(た
だし、1.0%は除く)。
:0.02〜0.04%、Zn:1.0〜5.0%(た
だし、1.0%は除く)。
10ppm以下のSを含有し、不純物と酸素との合計が
50ppm以下、残部Cuからなることを特徴とするフ
レキシブルプリント用銅合金圧延箔に存在する。
50ppm以下、残部Cuからなることを特徴とするフ
レキシブルプリント用銅合金圧延箔に存在する。
本発明の第3の要旨は、Sn:0.05〜0.2%、P
:02〜0.05%、Zn:1.0〜5.0%(ただし
、1.0%は除く)、10ppm以下のSを含有し、残
部Cuと不純物とからなることを特徴とするフレキシブ
ルプリント用銅合金圧延箔に存在する。
:02〜0.05%、Zn:1.0〜5.0%(ただし
、1.0%は除く)、10ppm以下のSを含有し、残
部Cuと不純物とからなることを特徴とするフレキシブ
ルプリント用銅合金圧延箔に存在する。
本発明の第4の要旨は、Sn:0.05〜0.2%、P
:02〜0.05%、zn:1.0〜5.0%(ただし
、1.0%は除く)、10ppm以下のSを含有し、不
純物と酸素との合計が50ppm以下、残部Cuからな
ることを特徴とするフレキシブルプリント用銅合金圧延
箔に存在する。
:02〜0.05%、zn:1.0〜5.0%(ただし
、1.0%は除く)、10ppm以下のSを含有し、不
純物と酸素との合計が50ppm以下、残部Cuからな
ることを特徴とするフレキシブルプリント用銅合金圧延
箔に存在する。
本発明の′N%5の要旨は、co=0.15〜0225
%、P:0.04〜11.08%、Zn:1.0〜5.
0%(ただし、1.0%は除く)、10ppm以下のS
を含有し、残部Cuと不純物とから゛なることを特徴と
するフレキシブルプリント用銅合金圧延箔に存在する。
%、P:0.04〜11.08%、Zn:1.0〜5.
0%(ただし、1.0%は除く)、10ppm以下のS
を含有し、残部Cuと不純物とから゛なることを特徴と
するフレキシブルプリント用銅合金圧延箔に存在する。
本発明の第6の要旨は、Co:0.15〜0.25%、
P:04〜0.08%、Zn:1.0〜5.0%(ただ
し、1.0%は除く)、10ppm以下のSを含有し、
不純物と酸素との合計が50ppm以下、残部Cuから
なることを特徴とするフレキシブルプリント用銅合金圧
延箔に存在する。
P:04〜0.08%、Zn:1.0〜5.0%(ただ
し、1.0%は除く)、10ppm以下のSを含有し、
不純物と酸素との合計が50ppm以下、残部Cuから
なることを特徴とするフレキシブルプリント用銅合金圧
延箔に存在する。
本発明の第7の要旨は、上記第1から第6の要旨におい
て、箔の厚さを40μm以下としたことを特徴とするフ
レキシブルプリント用銅合金圧延箔に存在する。
て、箔の厚さを40μm以下としたことを特徴とするフ
レキシブルプリント用銅合金圧延箔に存在する。
[作 用]
本発明の含有元素の作用効果および限定理由を説明する
。
。
(Zn)
Znは、Sn?!Ff材のウィスカ発生を抑制し、せ、
導電率を高める。そのためには、1%を超えてZnを含
有させる必要がある。
導電率を高める。そのためには、1%を超えてZnを含
有させる必要がある。
Znを1%を超えて含有させると、密着性を悪くする金
属間化合物(Cu、Sn)相の生成を抑制できる。これ
は、ZnはCu、Sn相の母材側に生ずるカーケンダー
ルホイドの生成を抑制し、密着性を向上させるものと考
えられる。
属間化合物(Cu、Sn)相の生成を抑制できる。これ
は、ZnはCu、Sn相の母材側に生ずるカーケンダー
ルホイドの生成を抑制し、密着性を向上させるものと考
えられる。
また、Snめっき中へ微量のZnが拡散し、Snの内部
応力を緩和するため、ウィスカ成長を抑制していると思
われる。
応力を緩和するため、ウィスカ成長を抑制していると思
われる。
しかし、Znが5%を超えると耐ウィスカ性には問題は
ないが、導電率が60%I ACS未満となったり、黄
銅独特の応力腐食割れを生じやすい性質を保有してくる
という短所が表れてくるので、Znは5%以下とする。
ないが、導電率が60%I ACS未満となったり、黄
銅独特の応力腐食割れを生じやすい性質を保有してくる
という短所が表れてくるので、Znは5%以下とする。
(S)
次にSの含有量の上限を定めた理由について記述する。
従来の銅合金においては、銅合金中ではSは多くはCu
Sとして存在し、MnあるいはMgが不純物として含有
されていると、MnSとしであるいはMgSとして存在
する。いずれも、粒界中に局在し、そのためにエツチン
グ時の不具合が生じることを知見した。従来の銅合金に
おいては、特に、5〜40μm厚さの箔となるとレジス
トエツチングする場合に、レジストの接着不良を起しに
リエッチング液をはじいたりして、エツチングむらなど
の不具合いを生じていた0本発明者は、その原因の探究
を行った。その結果、その原因はSに存在することを知
見した。したがって、不具合の発生を防ぐためには、S
を完全に除去することが望ましいが、原料・炉材、被覆
木炭、燃料などからの混入は避は難く、10ppm以下
と定めた。
Sとして存在し、MnあるいはMgが不純物として含有
されていると、MnSとしであるいはMgSとして存在
する。いずれも、粒界中に局在し、そのためにエツチン
グ時の不具合が生じることを知見した。従来の銅合金に
おいては、特に、5〜40μm厚さの箔となるとレジス
トエツチングする場合に、レジストの接着不良を起しに
リエッチング液をはじいたりして、エツチングむらなど
の不具合いを生じていた0本発明者は、その原因の探究
を行った。その結果、その原因はSに存在することを知
見した。したがって、不具合の発生を防ぐためには、S
を完全に除去することが望ましいが、原料・炉材、被覆
木炭、燃料などからの混入は避は難く、10ppm以下
と定めた。
(酸素、不純物)
また、酸素と不純物とについても、不純物が酸化物の状
態で存在すると、5〜40μmの厚さの箔では、上記の
Sと同様、エツチング時の微細加工を阻害することが分
かり、50ppm以下と定めた。
態で存在すると、5〜40μmの厚さの箔では、上記の
Sと同様、エツチング時の微細加工を阻害することが分
かり、50ppm以下と定めた。
S1酸素および不純物は、厚さが0.1 mm以上の板
・条では、表面に現れても、それらの化合物の大きさ・
数・量は僅かであり、通常混入する量を制限する必要は
ないが、厚さ5〜40μmの箔になると、圧延時のピン
ホールの発生、圧延切れ、さらには、前述のレジストの
接着不良、エツチング不良などが生じることを本発明者
は知見し、前述の上限に定める。
・条では、表面に現れても、それらの化合物の大きさ・
数・量は僅かであり、通常混入する量を制限する必要は
ないが、厚さ5〜40μmの箔になると、圧延時のピン
ホールの発生、圧延切れ、さらには、前述のレジストの
接着不良、エツチング不良などが生じることを本発明者
は知見し、前述の上限に定める。
(Ag、P)
AgはCu中に固溶して強度と軟化温度を向上する効果
を有する。0.02%未満ではかかる効果は生じない、
0.3%を超えると効果は飽和し経済的ではないので0
.3%を上限とする。
を有する。0.02%未満ではかかる効果は生じない、
0.3%を超えると効果は飽和し経済的ではないので0
.3%を上限とする。
Pはこの場合の製造工程中でのCu合金の脱酸のために
、また、焼鈍時の水素脆性割れ防止のために必要な元素
で、0.02%未満ではその効果は少なく、0.05%
を超えるとこれらの効果は十分発揮されるが固溶して導
電率を低下させる。
、また、焼鈍時の水素脆性割れ防止のために必要な元素
で、0.02%未満ではその効果は少なく、0.05%
を超えるとこれらの効果は十分発揮されるが固溶して導
電率を低下させる。
したがって、Agを含有する場合のP含有量は0.02
〜0.05%とする。
〜0.05%とする。
(Sn、P)
SnはCu中に固溶して強度と軟化温度を向上する効果
を有する。0.05%未満では目標とする耐熱性を保有
することができない、0.2%を超えると導電率60%
I AC5を下まわるようになる。したがってSn含有
量は0.05〜0. 2%とする。
を有する。0.05%未満では目標とする耐熱性を保有
することができない、0.2%を超えると導電率60%
I AC5を下まわるようになる。したがってSn含有
量は0.05〜0. 2%とする。
Pはこの場合の製造工程中でのCu合金の脱酸のために
、また、焼鈍時の水素脆性割れ防止のために必要な元素
で、0.02%未満ではその効果は少なく、0.05%
を超えるとこれらの効果は十分発揮されるが固溶して導
電率を低下させる。
、また、焼鈍時の水素脆性割れ防止のために必要な元素
で、0.02%未満ではその効果は少なく、0.05%
を超えるとこれらの効果は十分発揮されるが固溶して導
電率を低下させる。
したがって、Snを含有する場合のP含有量は0.02
〜0105%とする。
〜0105%とする。
(Co、P)
COはPと燐化コバルトを形成し、強度の向上とはんだ
付は温度条件での軟化を防止するための必須の元素であ
る。しかし、0.15%未満ではP(含有量0.04〜
0.08%)の一部と化合して燐化コバルトを形成して
も、強度向上の効果を超えると燐化コバルトを形成し得
ない固溶cOが増加し、導電率を低下させるようになる
。よって、COの含有量は0,15〜0.25%とする
。
付は温度条件での軟化を防止するための必須の元素であ
る。しかし、0.15%未満ではP(含有量0.04〜
0.08%)の一部と化合して燐化コバルトを形成して
も、強度向上の効果を超えると燐化コバルトを形成し得
ない固溶cOが増加し、導電率を低下させるようになる
。よって、COの含有量は0,15〜0.25%とする
。
PはCOと燐化コバルトを形成して強度の向上、軟化温
度の向上に寄与する元素であるが、含有量が0.04%
未満では強度向上等に寄与はどではなく、含有量が0.
08%を超えると燐化コバルトを形威し得ない固溶Pが
増加し、導電率を低下させるようになる。よって、CO
を含有する場合のP含有量は0.04〜0.08%とす
る。
度の向上に寄与する元素であるが、含有量が0.04%
未満では強度向上等に寄与はどではなく、含有量が0.
08%を超えると燐化コバルトを形威し得ない固溶Pが
増加し、導電率を低下させるようになる。よって、CO
を含有する場合のP含有量は0.04〜0.08%とす
る。
[実施例]
以下、本発明を実施例によって説明する。
第1表〜第3表に示す各種合金を黒鉛ツボで溶解して、
金型鋳造した。
金型鋳造した。
鋳塊を機械加工により表裏面を各2.5mm面削して5
0mmtx70mmwx200mmuとし、900℃の
温度で厚さ10mmまで熱間圧延去後厚さ0.2mmま
で冷間圧延し、ついで500℃XIHrの中間焼鈍を行
った。
0mmtx70mmwx200mmuとし、900℃の
温度で厚さ10mmまで熱間圧延去後厚さ0.2mmま
で冷間圧延し、ついで500℃XIHrの中間焼鈍を行
った。
次に、入念に酸洗し、ざらに冷間圧延を繰り返し、厚さ
35μmの箔を製作し、ピンホール、圧延切れを観察し
た。
35μmの箔を製作し、ピンホール、圧延切れを観察し
た。
また、同様の手順によって、厚さ5μmと65μmの箔
とを作製した。
とを作製した。
(エツチング性)
これらの箔について、幅100μm、間隔80μm1長
さ20μmで50本のレジストを焼きつけ、塩化第2鉄
溶液40%でケミカルミーリングして、50本のリード
を製作その健全性を調査した。
さ20μmで50本のレジストを焼きつけ、塩化第2鉄
溶液40%でケミカルミーリングして、50本のリード
を製作その健全性を調査した。
(ウィスカの発生程度)
アルカリ中で電界脱脂後硫酸浴中で電流密度3A/dm
2によって厚さ15μmのSnめっきを行い、エポキシ
樹脂系の接着材でSnめっきと反対側面を0.2mm銅
合金板で貼りつけ、曲げによって約4kg/mm’の圧
縮応力を加え、室明細書の浄8(内容に変更なし) 温で1年間放置後、ウィスカの発生の有無を調査した。
2によって厚さ15μmのSnめっきを行い、エポキシ
樹脂系の接着材でSnめっきと反対側面を0.2mm銅
合金板で貼りつけ、曲げによって約4kg/mm’の圧
縮応力を加え、室明細書の浄8(内容に変更なし) 温で1年間放置後、ウィスカの発生の有無を調査した。
(軟化特性、導電率)
軟化特性については、木炭の被覆下で電気炉中でIHr
保持し、引張強度の6割の値を維持する温度を求めた。
保持し、引張強度の6割の値を維持する温度を求めた。
導電率は、JISHO505に基づいた。
以上の試験結果をまとめて第1表〜第3表に示した。
Znを1〜5%含む合金は、表面にSnめっきが行われ
ても、ウィスカが生ずることもなく、また、Sおよび酸
素とその他の不純物とを規制することによって厚さ5〜
40μmの箔においてもレジストエツチング後の不良率
が2%以下と良好となった。
ても、ウィスカが生ずることもなく、また、Sおよび酸
素とその他の不純物とを規制することによって厚さ5〜
40μmの箔においてもレジストエツチング後の不良率
が2%以下と良好となった。
特に、本発明合金箔以外の合金箔では、5〜40μmと
厚みが薄くなると、エツチング性の低下が著しいが、本
発明の合金ではほとんど低下しない、 また、はんだ付
けなどの加熱によっても、IHrの加熱によっても、軟
化温度280℃以上を示している。なお、表中には従来
合金としてタフピッチ銅(No、8)を併記した。
厚みが薄くなると、エツチング性の低下が著しいが、本
発明の合金ではほとんど低下しない、 また、はんだ付
けなどの加熱によっても、IHrの加熱によっても、軟
化温度280℃以上を示している。なお、表中には従来
合金としてタフピッチ銅(No、8)を併記した。
[発明の効果]
本発明によれば、従来のNiとAuとのめっきの代わり
に、Snめっきを行っても、ウィスカ性を全く生ずるこ
ともない。
に、Snめっきを行っても、ウィスカ性を全く生ずるこ
ともない。
また、極微細加工後の歩留も向上する。
さらに、従来材より格段に優れる引張強度を有している
。
。
このように、本発明は、フレキシブルプリント用銅合金
箔として優れた特性を有しており、電子機器の小型化高
密度実装化、多機能化のための材料として優れた特性を
有している。
箔として優れた特性を有しており、電子機器の小型化高
密度実装化、多機能化のための材料として優れた特性を
有している。
手続補正書
(方式)
%式%
1、事件の表示
平成1年特許願第66691号
2、発明の名称
フレキシブルプリント用銅合金圧延箔
3、補正をする者
事件との関係 特許出願人
住 所 兵庫県神戸布中央区脇浜町
1丁目3番18号
名 称 (119)株式会社神戸製鋼所代表者 亀高
素吉 4、代 理 人 〒160電話03 (358) 88
40住 所 東京都新宿区本塩町 12 平成2年9月25日 補正の対象 明細書の[特許請求の範囲コ 説明]の欄 及び [発明の詳細な
素吉 4、代 理 人 〒160電話03 (358) 88
40住 所 東京都新宿区本塩町 12 平成2年9月25日 補正の対象 明細書の[特許請求の範囲コ 説明]の欄 及び [発明の詳細な
Claims (7)
- (1) Ag:0.02〜0.3%(重量%以下同じ)
、P:0.02〜0.04%、Zn:1.0〜5.0%
(ただし、1.0%は除く)、10ppm以下のSを含
有し、残部Cuと不純物とからなることを特徴とするフ
レキシブルプリント用銅合金圧延箔。 - (2) Ag:0.02〜0.3%、P:0.02〜0
.04%、Zn:1.0〜5.0%(ただし、1.0%
は除く)、10ppm以下のSを含有し、不純物と酸素
との合計が50ppm以下、残部Cuからなることを特
徴とするフレキシブルプリント用銅合金圧延箔。 - (3) Sn:0.05〜0.2%(重量%以下同じ)
、P:0.02〜0.05%、Zn:1.0〜5.0%
(ただし、1.0%は除く)、10ppm以下のSを含
有し、残部Cuと不純物とからなることを特徴とするフ
レキシブルプリント用銅合金圧延箔。 - (4) Sn:0.05〜0.2%、P:0.02〜0
.05%、Zn:1.0〜5.0%(ただし、1.0%
は除く)、10ppm以下のSを含有し、不純物と酸素
との合計が50ppm以下、残部Cuからなることを特
徴とするフレキシブルプリント用銅合金圧延箔。 - (5) Co:0.15〜0.25%(重量%以下同じ
)、P:0.04〜0.08%、Zn:1.0〜5.0
%(ただし、1.0%は除く)、10ppm以下のSを
含有し、残部Cuと不純物とからなることを特徴とする
フレキシブルプリント用銅合金圧延箔。 - (6) Co:0.15〜0.25%、P:0.04〜
0.08%、Zn:1.0〜5.0%(ただし、1.0
%は除く)、10ppm以下のSを含有し、不純物と酸
素との合計が50ppm以下、残部Cuからなることを
特徴とするフレキシブルプリント用銅合金圧延箔。 - (7) 箔の厚さを40μm以下としたことを特徴とす
る請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載のフレ
キシブルプリント用銅合金圧延箔。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6669189A JP2809673B2 (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | フレキシブルプリント用銅合金圧延箔 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6669189A JP2809673B2 (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | フレキシブルプリント用銅合金圧延箔 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0387324A true JPH0387324A (ja) | 1991-04-12 |
| JP2809673B2 JP2809673B2 (ja) | 1998-10-15 |
Family
ID=13323215
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6669189A Expired - Fee Related JP2809673B2 (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | フレキシブルプリント用銅合金圧延箔 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2809673B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003041333A (ja) * | 2001-08-01 | 2003-02-13 | Nippon Mining & Metals Co Ltd | 積層板用銅合金箔 |
| JP2003041334A (ja) * | 2001-08-01 | 2003-02-13 | Nippon Mining & Metals Co Ltd | 積層板用銅合金箔 |
| JP2003041332A (ja) * | 2001-08-01 | 2003-02-13 | Nippon Mining & Metals Co Ltd | 積層板用銅合金箔 |
| JP2003055723A (ja) * | 2001-08-10 | 2003-02-26 | Nippon Mining & Metals Co Ltd | 積層板用銅合金箔 |
| JP2003055724A (ja) * | 2001-08-10 | 2003-02-26 | Nippon Mining & Metals Co Ltd | 積層板用銅合金箔 |
| JP2003064431A (ja) * | 2001-08-20 | 2003-03-05 | Nippon Mining & Metals Co Ltd | 積層板用銅合金箔 |
| EP1630239A1 (en) | 2004-08-30 | 2006-03-01 | Dowa Mining Co., Ltd. | Copper alloy and method of manufacturing the same |
| CN1305355C (zh) * | 1998-11-17 | 2007-03-14 | 日矿金属株式会社 | 挠性印刷电路基板用轧制铜箔及其制造方法 |
-
1989
- 1989-03-17 JP JP6669189A patent/JP2809673B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1305355C (zh) * | 1998-11-17 | 2007-03-14 | 日矿金属株式会社 | 挠性印刷电路基板用轧制铜箔及其制造方法 |
| JP2003041333A (ja) * | 2001-08-01 | 2003-02-13 | Nippon Mining & Metals Co Ltd | 積層板用銅合金箔 |
| JP2003041334A (ja) * | 2001-08-01 | 2003-02-13 | Nippon Mining & Metals Co Ltd | 積層板用銅合金箔 |
| JP2003041332A (ja) * | 2001-08-01 | 2003-02-13 | Nippon Mining & Metals Co Ltd | 積層板用銅合金箔 |
| JP2003055723A (ja) * | 2001-08-10 | 2003-02-26 | Nippon Mining & Metals Co Ltd | 積層板用銅合金箔 |
| JP2003055724A (ja) * | 2001-08-10 | 2003-02-26 | Nippon Mining & Metals Co Ltd | 積層板用銅合金箔 |
| JP2003064431A (ja) * | 2001-08-20 | 2003-03-05 | Nippon Mining & Metals Co Ltd | 積層板用銅合金箔 |
| EP1630239A1 (en) | 2004-08-30 | 2006-03-01 | Dowa Mining Co., Ltd. | Copper alloy and method of manufacturing the same |
| US7563408B2 (en) | 2004-08-30 | 2009-07-21 | Dowa Metaltech Co., Ltd. | Copper alloy and method of manufacturing the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2809673B2 (ja) | 1998-10-15 |
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