JPH039732B2 - - Google Patents
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- JPH039732B2 JPH039732B2 JP59266774A JP26677484A JPH039732B2 JP H039732 B2 JPH039732 B2 JP H039732B2 JP 59266774 A JP59266774 A JP 59266774A JP 26677484 A JP26677484 A JP 26677484A JP H039732 B2 JPH039732 B2 JP H039732B2
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/4818—MR characterised by data acquisition along a specific k-space trajectory or by the temporal order of k-space coverage, e.g. centric or segmented coverage of k-space
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- G—PHYSICS
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- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/54—Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、核磁気共鳴現象（以下核磁気共鳴を
NMRと略称する）を利用して対象物の内部組織
を断層像として観察するNMR断層撮像装置にお
ける画像データの処理方法に関し、特に画像デー
タのオフセツト補正に関する。
NMRと略称する）を利用して対象物の内部組織
を断層像として観察するNMR断層撮像装置にお
ける画像データの処理方法に関し、特に画像デー
タのオフセツト補正に関する。
（従来の技術）
NMR断層撮像装置において得られるデータ
は、種々の雑音を含んでいるため、そのままでは
実用に耐え得る画像とはなりえない。これらの雑
音の多くは種々の物理的特性を用いて数式的に処
理することにより補正することができるが、装置
固有の雑音や過渡的な雑音はこの様な手法では補
正しきれない。
は、種々の雑音を含んでいるため、そのままでは
実用に耐え得る画像とはなりえない。これらの雑
音の多くは種々の物理的特性を用いて数式的に処
理することにより補正することができるが、装置
固有の雑音や過渡的な雑音はこの様な手法では補
正しきれない。
特に増幅器のゲインやアナログ・デイジタル変
換器のオフセツト値の変動のために画像用データ
の直流レベルはビユーごとに変化する。これは、
画像上では直流成分の突出となり、輝点あるいは
輝線を生じアーチフアクトとなり、画線の質を大
きく劣化させる。
換器のオフセツト値の変動のために画像用データ
の直流レベルはビユーごとに変化する。これは、
画像上では直流成分の突出となり、輝点あるいは
輝線を生じアーチフアクトとなり、画線の質を大
きく劣化させる。
この問題に対し、一般に画像用データに引続い
て、あるいは先だつて画像信号がほとんど含まれ
ていないと解釈できるデータを採取し、その平均
値をもつてそのビユーのオフセツト値とする方法
が行われている。
て、あるいは先だつて画像信号がほとんど含まれ
ていないと解釈できるデータを採取し、その平均
値をもつてそのビユーのオフセツト値とする方法
が行われている。
（発明が解決しようとする問題点）
しかし、このような方法ではオフセツトに傾き
がある場合には、十分な補正ができないという問
題がある。すなわち、オフセツトの傾きがRFパ
ルスや勾配磁場変動等に依存する場合であれば、
各ビユーに共通であるから、信号のないビユーま
たは信号のない部分を平均しそれをオフセツトフ
アイルとしてデータ処理することで十分な効果の
ある補正ができるが、ビユーごとに不規則で、か
つビユー内で緩かに僅かな変化を示している場合
にはこの方法では補正しきれないオフセツトが残
るという欠点がある。
がある場合には、十分な補正ができないという問
題がある。すなわち、オフセツトの傾きがRFパ
ルスや勾配磁場変動等に依存する場合であれば、
各ビユーに共通であるから、信号のないビユーま
たは信号のない部分を平均しそれをオフセツトフ
アイルとしてデータ処理することで十分な効果の
ある補正ができるが、ビユーごとに不規則で、か
つビユー内で緩かに僅かな変化を示している場合
にはこの方法では補正しきれないオフセツトが残
るという欠点がある。
本発明の目的は、この様な点に鑑み、各ビユー
ごとに余り相関がなくビユー内で緩かに変化して
いるオフセツト分を精度よく除去することにより
画質を向上させることのできる画像データの処理
方法を提供することにある。
ごとに余り相関がなくビユー内で緩かに変化して
いるオフセツト分を精度よく除去することにより
画質を向上させることのできる画像データの処理
方法を提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
この様な目的を達成するために本発明では、エ
コー法によりNMR信号を得る際に、各ビユーご
とにエコー信号の時間的前後でオフセツトデータ
を採取し、それらのデータを用いてビユー内で多
少変化しているオフセツトの値を補正するように
することを特徴とする。
コー法によりNMR信号を得る際に、各ビユーご
とにエコー信号の時間的前後でオフセツトデータ
を採取し、それらのデータを用いてビユー内で多
少変化しているオフセツトの値を補正するように
することを特徴とする。
（実施例）
以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。第
１図は本発明を実施するためのNMR断層撮像装
置の要部構成図である。図において、マグネツト
アセンブリ１は、被検体に一定の磁場を印加する
静磁場コイル２と、原子核のスピンを励起するた
めの高周波パルスを与える励磁コイル３と、被検
体の位置の情報を信号に反映させるための勾配磁
場を印加する勾配磁場コイル４（ｘ、ｙ、ｚ軸方
向に個別に勾配磁場を発生することができるよう
に構成されたｘ勾配磁場コイル、ｙ勾配磁場コイ
ル、７勾配磁場コイルを有する。）と、被検体内
からのNMR信号を検出する検出コイル５を備え
ている。第１図ではこれらの各コイルの一部を略
示的に示してある。
１図は本発明を実施するためのNMR断層撮像装
置の要部構成図である。図において、マグネツト
アセンブリ１は、被検体に一定の磁場を印加する
静磁場コイル２と、原子核のスピンを励起するた
めの高周波パルスを与える励磁コイル３と、被検
体の位置の情報を信号に反映させるための勾配磁
場を印加する勾配磁場コイル４（ｘ、ｙ、ｚ軸方
向に個別に勾配磁場を発生することができるよう
に構成されたｘ勾配磁場コイル、ｙ勾配磁場コイ
ル、７勾配磁場コイルを有する。）と、被検体内
からのNMR信号を検出する検出コイル５を備え
ている。第１図ではこれらの各コイルの一部を略
示的に示してある。
１１は静磁場コイル２用の静磁場電源、１２は
勾配磁場コイル４を駆動するための勾配磁場駆動
回路で、コントローラ２０により制御されるよう
になつている。
勾配磁場コイル４を駆動するための勾配磁場駆動
回路で、コントローラ２０により制御されるよう
になつている。
２１は測定しようとする原子核のNMR条件に
対応する周波数（例えばプロトンでは、42.6M
Hz／１）の信号を発生する発振器で、その出力は
コントローラ２０からの信号によつて開閉が制御
されるゲート回路２２およびパワーアンプ２３を
介して励磁コイル３の印加されている。２４は検
出コイル５から得られるNMR信号を増幅する増
幅器、２５は位相検波回路である。２６は位相検
波された増幅器２４からの信号を記憶するデータ
記憶装置で、Ａ／Ｄ変換器を含んでいる。２８は
データ記憶装置からの信号をインターフエイス２
７を介して受取り所定の信号処理を施して断層像
を得るデータ処理計算機である。２９は得られた
断層像を表示するテレビジヨンモニタのような表
示器である。
対応する周波数（例えばプロトンでは、42.6M
Hz／１）の信号を発生する発振器で、その出力は
コントローラ２０からの信号によつて開閉が制御
されるゲート回路２２およびパワーアンプ２３を
介して励磁コイル３の印加されている。２４は検
出コイル５から得られるNMR信号を増幅する増
幅器、２５は位相検波回路である。２６は位相検
波された増幅器２４からの信号を記憶するデータ
記憶装置で、Ａ／Ｄ変換器を含んでいる。２８は
データ記憶装置からの信号をインターフエイス２
７を介して受取り所定の信号処理を施して断層像
を得るデータ処理計算機である。２９は得られた
断層像を表示するテレビジヨンモニタのような表
示器である。
この様な構成における動作を次に説明する。こ
こでは一例として飽和回復法（SR法）でしかも
スピンエコー法（SE法）である場合を例にとつ
て説明する。
こでは一例として飽和回復法（SR法）でしかも
スピンエコー法（SE法）である場合を例にとつ
て説明する。
コントローラ２０の制御により第２図に示すよ
うなシーケンスで動作する。
うなシーケンスで動作する。
静磁場電源１１から静磁場用コイル２に電流を
流し、被検体（被検体は各コイルの円筒内に設
置）に静磁場H0を与えた状態において、コント
ローラ２０よりゲート回路２２を開き、所定の形
に変調された（例えばガウス形）RF信号を増幅
器２３を経て励磁コイル３に与え、被検体に90゜
パルスを与える。
流し、被検体（被検体は各コイルの円筒内に設
置）に静磁場H0を与えた状態において、コント
ローラ２０よりゲート回路２２を開き、所定の形
に変調された（例えばガウス形）RF信号を増幅
器２３を経て励磁コイル３に与え、被検体に90゜
パルスを与える。
続いて勾配磁場コイル３を付勢し、第２図の
ロ，ハに示すように、スライス面を決定するため
の７勾配磁場と、プロジエクシヨン用のｘおよび
ｙ勾配磁場をそれぞれ印加する。
ロ，ハに示すように、スライス面を決定するため
の７勾配磁場と、プロジエクシヨン用のｘおよび
ｙ勾配磁場をそれぞれ印加する。
90゜パルス印加より所定の時間後に励磁コイル
３を付勢し被検体に180゜パルスを与える。この
180゜パルス印加期間中はｘおよびｙ勾配磁場は印
加しない。
３を付勢し被検体に180゜パルスを与える。この
180゜パルス印加期間中はｘおよびｙ勾配磁場は印
加しない。
前記180゜パルス印加の後、再びｘおよびｙ勾配
磁場を与える。これより同図ニに示すように生じ
るエコー信号を検出コイル５で検出し、増幅器２
４、位相検波回路２５を介してデータ記憶装置２
６に取込む。
磁場を与える。これより同図ニに示すように生じ
るエコー信号を検出コイル５で検出し、増幅器２
４、位相検波回路２５を介してデータ記憶装置２
６に取込む。
そして、第２図ニに示すようにGxで印加でデ
ータを採取する区間Ｔにおいて、コー信号Ｅのピ
ークより十分に前の時点および十分に後の時点
（この場合の時点はその前後を含む短い区間であ
つてもよく、以下時点という場合、区間の意味も
含む。）においては信号成分はほとんど含まれて
いないと考えられ、その値（またはその短い区間
での平均値等の代表値）は時点での直流オフセツ
ト値と考えられる。装置の種々の状態によりビユ
ーごとでオフセツトにばらつきがあるのみなら
ず、１ビユー中でもオフセツトに傾きがある場合
が多い。すなわち、第３図に示すように前の時点
taと後の時点tbにおいてオフセツトの値（Ａ、
Ｂ）に差のある場合がある。
ータを採取する区間Ｔにおいて、コー信号Ｅのピ
ークより十分に前の時点および十分に後の時点
（この場合の時点はその前後を含む短い区間であ
つてもよく、以下時点という場合、区間の意味も
含む。）においては信号成分はほとんど含まれて
いないと考えられ、その値（またはその短い区間
での平均値等の代表値）は時点での直流オフセツ
ト値と考えられる。装置の種々の状態によりビユ
ーごとでオフセツトにばらつきがあるのみなら
ず、１ビユー中でもオフセツトに傾きがある場合
が多い。すなわち、第３図に示すように前の時点
taと後の時点tbにおいてオフセツトの値（Ａ、
Ｂ）に差のある場合がある。
計算機２８では、検出したNMR信号からこの
時点taと時点tbとにおけるオフセツト量を用い
て、このビユー中のオフセツトの値を１次近似に
より求め、その値を各サンプル値から減じる。ta
及びtbの時点では、信号の変動が少ないので、
ta，tbの設定によらず安定した補正量を得ること
ができる。
時点taと時点tbとにおけるオフセツト量を用い
て、このビユー中のオフセツトの値を１次近似に
より求め、その値を各サンプル値から減じる。ta
及びtbの時点では、信号の変動が少ないので、
ta，tbの設定によらず安定した補正量を得ること
ができる。
このような補正の方法により、より正確なオフ
セツト補正ができる。
セツト補正ができる。
なお、実際の装置では前記オフセツトの値Ａ、
Ｂにはさほど大きな差はなく、更に信号の大きい
ところで十分オフセツト補正が成されるため、オ
フセツトＡ、Ｂのエコー中心からの距離を考慮し
た加重平均をオフセツト値として採用してもよ
い。
Ｂにはさほど大きな差はなく、更に信号の大きい
ところで十分オフセツト補正が成されるため、オ
フセツトＡ、Ｂのエコー中心からの距離を考慮し
た加重平均をオフセツト値として採用してもよ
い。
また、前記１次近似はこれに限つたことはな
く、ｎ次近似に発展してもよく、更に指数関数等
で近似するようにしてもよい。またサンプル点も
２点に限定するものではなく適宜に多くしてよ
い。
く、ｎ次近似に発展してもよく、更に指数関数等
で近似するようにしてもよい。またサンプル点も
２点に限定するものではなく適宜に多くしてよ
い。
更にまた、本発明は、SR−SE法に限らず、エ
コー法であればいかなるパルスシーケンスにも適
用可能である。
コー法であればいかなるパルスシーケンスにも適
用可能である。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、NMR
断層撮像装置においてエコー信号の前後の信号が
十分小さく、しかも測定される信号の変動が少な
いところからオフセツト値を求め、それを１ビユ
ーの内でのオフセツト値の振舞として関数近似
し、それをオフセツト値として各ビユーごとに処
理（減じる）するようにしたので、オフセツト補
正が簡単にしかも精度よくできると共に、直流分
が残留することによつて生じるような輝点（線）
のない良質の画像を容易に得ることができる。
断層撮像装置においてエコー信号の前後の信号が
十分小さく、しかも測定される信号の変動が少な
いところからオフセツト値を求め、それを１ビユ
ーの内でのオフセツト値の振舞として関数近似
し、それをオフセツト値として各ビユーごとに処
理（減じる）するようにしたので、オフセツト補
正が簡単にしかも精度よくできると共に、直流分
が残留することによつて生じるような輝点（線）
のない良質の画像を容易に得ることができる。
第１図は本発明を実施するためのNMR断層撮
像装置の要部構成図、第２図は本発明に係るシー
ケンスを説明するための動作波形図、第３図は
NMR信号の一例を説明するための図である。 １……マグネツトアセンブリ、２……静磁場コ
イル、３……励磁コイル、４……勾配磁場コイ
ル、５……検出コイル、１１……静磁場電源、１
２……勾配磁場駆動回路、２０……コントロー
ラ、２１……発振器、２２……ゲート回路、２
３，２４……増幅器、２５……位相検波回路、２
６……データ記憶装置、２７……インタフエー
ス、２８……データ処理計算機、２９……表示装
置。
像装置の要部構成図、第２図は本発明に係るシー
ケンスを説明するための動作波形図、第３図は
NMR信号の一例を説明するための図である。 １……マグネツトアセンブリ、２……静磁場コ
イル、３……励磁コイル、４……勾配磁場コイ
ル、５……検出コイル、１１……静磁場電源、１
２……勾配磁場駆動回路、２０……コントロー
ラ、２１……発振器、２２……ゲート回路、２
３，２４……増幅器、２５……位相検波回路、２
６……データ記憶装置、２７……インタフエー
ス、２８……データ処理計算機、２９……表示装
置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ エコー法を適用した核磁気共鳴断層撮像装置
において、 各ビユーごとに、エコー信号のピークの時間的
前後であつて実質的にエコー信号の成分が含まれ
ない部分で信号を測定しこれらをオフセツトデー
タとして取込み、次にこれらのデータを用いて近
似によりエコー信号のオフセツト量を求めエコー
信号からこのオフセツト量を減じることにより、
エコー信号のオフセツト補正の演算を行うように
したことを特徴とする核磁気共鳴データの処理方
法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59266774A JPS61144552A (ja) | 1984-12-18 | 1984-12-18 | 核磁気共鳴デ−タの処理方法 |
| US06/806,038 US4656426A (en) | 1984-12-18 | 1985-12-06 | Nuclear magnetic resonance data processing method |
| GB08530615A GB2168490B (en) | 1984-12-18 | 1985-12-12 | Nuclear magnetic resonance data processing method |
| DE19853544595 DE3544595A1 (de) | 1984-12-18 | 1985-12-17 | Nmr-datenverarbeitungsverfahren |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59266774A JPS61144552A (ja) | 1984-12-18 | 1984-12-18 | 核磁気共鳴デ−タの処理方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61144552A JPS61144552A (ja) | 1986-07-02 |
| JPH039732B2 true JPH039732B2 (ja) | 1991-02-12 |
Family
ID=17435509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59266774A Granted JPS61144552A (ja) | 1984-12-18 | 1984-12-18 | 核磁気共鳴デ−タの処理方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4656426A (ja) |
| JP (1) | JPS61144552A (ja) |
| DE (1) | DE3544595A1 (ja) |
| GB (1) | GB2168490B (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6211438A (ja) * | 1985-07-08 | 1987-01-20 | 三菱電機株式会社 | 核磁気共鳴映像装置 |
| JP2598038B2 (ja) * | 1987-09-30 | 1997-04-09 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴映像装置 |
| US4862081A (en) * | 1988-11-23 | 1989-08-29 | Picker International, Inc. | DC artifact removal in magnetic resonance imaging |
| US5457443A (en) * | 1992-03-30 | 1995-10-10 | Yazaki Corporation | Multifunctional combination switch |
| JP3701616B2 (ja) * | 2002-03-06 | 2005-10-05 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | 磁気共鳴撮影装置 |
| US7557575B2 (en) * | 2006-04-04 | 2009-07-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic resonance imaging apparatus and magnetic resonance imaging method |
| JP5439431B2 (ja) * | 2011-05-30 | 2014-03-12 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴イメージング装置 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55112556A (en) * | 1979-02-22 | 1980-08-30 | Jeol Ltd | Correction method of level in fourier spectrum unit |
| DD203634A1 (de) * | 1981-11-03 | 1983-10-26 | Tatjana Doehler | Verfahren zur verbesserung des signal- rausch- verhaeltnisses bei impulsspektroskopischen untersuchungen |
| US4443760A (en) * | 1982-07-01 | 1984-04-17 | General Electric Company | Use of phase alternated RF pulses to eliminate effects of spurious free induction decay caused by imperfect 180 degree RF pulses in NMR imaging |
| JPS5938637A (ja) * | 1982-08-28 | 1984-03-02 | Toshiba Corp | 核磁気共鳴装置 |
| NL8203519A (nl) * | 1982-09-10 | 1984-04-02 | Philips Nv | Werkwijze en inrichting voor het bepalen van een kernmagnetisatieverdeling in een deel van een lichaam. |
| JPS59166846A (ja) * | 1983-03-11 | 1984-09-20 | Toshiba Corp | 磁気共鳴イメージング装置 |
| US4616183A (en) * | 1984-10-22 | 1986-10-07 | General Electric Company | Method for reducing baseline error components in NMR signals |
-
1984
- 1984-12-18 JP JP59266774A patent/JPS61144552A/ja active Granted
-
1985
- 1985-12-06 US US06/806,038 patent/US4656426A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-12-12 GB GB08530615A patent/GB2168490B/en not_active Expired
- 1985-12-17 DE DE19853544595 patent/DE3544595A1/de not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2168490A (en) | 1986-06-18 |
| JPS61144552A (ja) | 1986-07-02 |
| DE3544595A1 (de) | 1986-06-26 |
| US4656426A (en) | 1987-04-07 |
| GB8530615D0 (en) | 1986-01-22 |
| GB2168490B (en) | 1988-10-05 |
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