JPH0410001B2 - - Google Patents
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- JPH0410001B2 JPH0410001B2 JP1437886A JP1437886A JPH0410001B2 JP H0410001 B2 JPH0410001 B2 JP H0410001B2 JP 1437886 A JP1437886 A JP 1437886A JP 1437886 A JP1437886 A JP 1437886A JP H0410001 B2 JPH0410001 B2 JP H0410001B2
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 18
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 4
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は被検査物を載承せるX−Yテーブルの
駆動によつて被検査物を移動させて被検査物の表
面をカメラに映出し、この映像信号を2値化する
と共に、走査線でX方向又はY方向に走査し、そ
の走査長さデータで被検査物のエツジの最小,最
大を判別する有効エツジの検出方法及び被検査物
の幅を演算処理する被検査物の有効幅測定方法に
関するものである。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention moves the inspected object by driving an X-Y table on which the inspected object is placed, and images the surface of the inspected object on a camera. , an effective edge detection method and object to be inspected in which this video signal is binarized, scanned in the X direction or Y direction with a scanning line, and the minimum and maximum edges of the object to be inspected are determined based on the scanning length data. The present invention relates to a method for measuring the effective width of an object to be inspected by calculating the width of the object.
従来、被検査物である例えば磁気ヘツド等のエ
ツジの最小や最大を認識する場合、カーソル線や
測定枠を被検査物に接触させることによつて演算
処理する方法を採つている。
Conventionally, when recognizing the minimum or maximum edge of an object to be inspected, such as a magnetic head, a method has been adopted in which a cursor line or a measurement frame is brought into contact with the object to be inspected and arithmetic processing is performed.
従つて、被検査物が例えばカーソル線や測定枠
に対して傾斜している場合にはどの箇所が最小か
最大か認識できず、無理にエツジの最小,最大を
認識する場合には被検査物の傾斜角度分回動させ
てその傾きを矯正する必要があり、機械的に煩雑
な構造となるばかりか、カーソル線を移動させる
測定方法はカーソル線を移動させるごとにカメラ
の操作時間を浪費し、効率的ではない。 Therefore, if the object to be inspected is tilted with respect to the cursor line or measurement frame, it may not be possible to recognize which part is the minimum or maximum, and if the object is forced to recognize the minimum or maximum edge, the object to be inspected is It is necessary to correct the inclination by rotating the cursor line by the inclination angle, which not only results in a mechanically complicated structure, but also the measurement method of moving the cursor line wastes camera operation time each time the cursor line is moved. , not efficient.
本発明の第1の目的は例えば被検査物がカーソ
ル線や測定枠に対して傾斜している場合でも容易
且つ簡単に最小,最大の有効エツジを判別できる
ようにすることにあり、第2の目的は例え被検査
物がカーソル線や測定枠に対して傾斜している場
合でも容易且つ簡単にその有効幅を測定すること
にある。
The first object of the present invention is to enable easy and simple determination of the minimum and maximum effective edges even when the object to be inspected is inclined with respect to the cursor line or measurement frame. The purpose is to easily and simply measure the effective width of the object to be inspected even if the object is inclined with respect to the cursor line or measurement frame.
上記目的を達成する為に講じた構成は、第1発
明においてはX,Y走査方向を2軸とする座標系
内の被検査物の映像信号を2値化メモリに記憶
し、該記憶された映像信号を、1画素ピツチの走
査線でX又はY方向に順次走査して得られる白黒
反転座標値で各ピツチ宛のエツジを認識せしめ、
該座標値と、指定される角度をもつ基準線座標値
との差により被検査物のエツジの最小,最大を判
別することである。
The configuration taken to achieve the above object is that in the first invention, a video signal of the object to be inspected in a coordinate system having two axes in the X and Y scanning directions is stored in a binarized memory, and the stored video signal is stored in a binary memory. A video signal is sequentially scanned in the X or Y direction with a scanning line of 1 pixel pitch, and the edge addressed to each pitch is recognized using the black and white inverted coordinate values obtained.
The purpose is to determine the minimum and maximum edges of the object to be inspected based on the difference between the coordinate values and the reference line coordinate values having a specified angle.
第2発明においてはX,Y走査方向を2軸とす
る座標系内の被検査物の映像信号を2値化メモリ
に記憶し、該記憶された映像信号を、1画素ピツ
チの走査線でX又はY方向に順次走査して得られ
る白黒反転座標値で各ピツチ宛のエツジを認識せ
しめ、該座標値と、指定される角度をもつ基準線
座標値との差により被検査物のエツジの最大又は
最小有効エツジを検出すると共に逆方向から同様
の操作により有効幅を測定するに必要な他方の最
大又は最小有効エツジを検出し、演算式・H=1
両有効エツジの差1×COSθ×ゲージ(G)〔μm/
画素(ピクセル)〕により被検査物の有効幅を演
算処理することである。 In the second invention, a video signal of the object to be inspected in a coordinate system having two axes in the X and Y scanning directions is stored in a binarized memory, and the stored video signal is Alternatively, the edge for each pitch is recognized using the black and white inverted coordinate values obtained by scanning sequentially in the Y direction, and the maximum edge of the object to be inspected is determined by the difference between the coordinate value and the reference line coordinate value with the specified angle. Or, detect the minimum effective edge and detect the other maximum or minimum effective edge necessary to measure the effective width by the same operation from the opposite direction, and use the calculation formula H = 1
Difference between both effective edges 1 x COS θ x gauge (G) [μm/
This is to calculate the effective width of the object to be inspected using pixels.
次に、本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。
Next, embodiments of the present invention will be described based on the drawings.
第1図はエツジ測定装置を示し、1,2はX−
Yテーブル、3はそのテーブル1,2に載承支持
された被検査物、4はその被検査物3を撮像する
カメラ、5は映像信号をデジタル信号に変換する
A/D変換器、6はA/D変換器5を経た映像情
報を2値化等の演算処理する画像処理装置、7は
2値化メモリ、8は中央処理装置(CPU)、9は
タイミングコントロール、10はカーソルコント
ロール、11はRAM、12はシステムプログラ
ムを格納したROM、13は前記RAM11に所
要の設定データを書込むキーボード、15は合成
回路、16はA/D変換器、17はモニタであ
る。尚、X−Yテーブル1,2は必要に応じて水
平方向に回動可能なものであつても良い。 Figure 1 shows the edge measuring device, 1 and 2 are X-
A Y table, 3 is an object to be inspected mounted and supported on the tables 1 and 2, 4 is a camera that takes an image of the object to be inspected 3, 5 is an A/D converter that converts a video signal into a digital signal, and 6 is an A/D converter that converts a video signal into a digital signal. An image processing device performs arithmetic processing such as binarization on the video information that has passed through the A/D converter 5, 7 is a binarization memory, 8 is a central processing unit (CPU), 9 is a timing control, 10 is a cursor control, 11 12 is a RAM, 12 is a ROM that stores a system program, 13 is a keyboard for writing required setting data into the RAM 11, 15 is a synthesis circuit, 16 is an A/D converter, and 17 is a monitor. Note that the X-Y tables 1 and 2 may be horizontally rotatable as required.
画像処理装置6はスレツシユレベルで映像信号
を2値化すると共に、その映像画面中にその処理
範囲(測定対象域)を設定する測定枠14を有
し、この測定枠14内にある被検査物3の画像の
2値化されるデータを2値化メモリ7内に書込み
する。 The image processing device 6 binarizes the video signal at the threshold level, and has a measurement frame 14 in which the processing range (measurement target area) is set in the video screen. The data to be binarized of the image of the object 3 is written into the binarization memory 7.
上記測定枠14はその各辺を移動させることに
よつて枠範囲を可変自在である。 The measurement frame 14 can change its frame range by moving each side thereof.
2値化メモリ7はエツジ検出シーケンスの開始
によつてX,Y走査方向を2軸とする座標系で走
査される。 At the start of the edge detection sequence, the binarization memory 7 is scanned in a coordinate system having two axes in the X and Y scanning directions.
その走査は画像処理装置6で2値化された処理
範囲(測定対象域)を設定する前記測定枠14の
基準点0,0から走らせ、この走査線A…を0−
1又は1−0に白黒変換する座標値としてエツジ
を検出するようにするものであるが、第1発明は
前記の通り走査線Aが…0−1又は1−0に白黒
反転する座標値で各画素ピツチ毎のエツジを認識
せしめ、該座標値と、指定される角度をもつ基準
線座標値との差により被検査物3のエツジの最大
(第3図),最小(第4図)を判別できるように前
記中央処理装置8(CPU)内に連係させたもの
であり、斯る被検査物3のエツジ最小,最大の検
出をフローチヤートにより説明する。尚、スレツ
シユレベル,指定される角度をもつ基準線座標
値,その他の入力データは予め入力する。 The scan is run from the reference point 0,0 of the measurement frame 14 that sets the processing range (measurement target area) binarized by the image processing device 6, and this scanning line A...
The edge is detected as a coordinate value that is converted into black and white to 1 or 1-0, but in the first invention, as described above, the scanning line A is a coordinate value that is converted into black and white to 0-1 or 1-0. The edge of each pixel pitch is recognized, and the maximum (Fig. 3) and minimum (Fig. 4) of the edge of the object to be inspected 3 is determined by the difference between the coordinate value and the reference line coordinate value with the specified angle. It is linked to the central processing unit 8 (CPU) so that the detection can be performed, and the detection of the minimum and maximum edges of the object 3 to be inspected will be explained using a flowchart. Note that the threshold level, reference line coordinate values with a specified angle, and other input data are input in advance.
第5図に示すように、
・ 先ず、下記の各フローを遂行するようにシー
ケンス処理(ステツプ18)する。 As shown in FIG. 5: First, sequence processing (step 18) is performed to perform each of the following flows.
・ 続いてモニタ17に表わす方法としてネガか
ポジかを設定し(ステツプ19)、しきい値を越
えた点を白、しきい値以下の点を黒として2値
化画像処理できるようにスレツシユレベルを設
定する(ステツプ20)。・Next, set whether to display the image on the monitor 17 as negative or positive (step 19), and set the threshold so that points exceeding the threshold are white and points below the threshold are black so that binary image processing can be performed. Set the level (step 20).
・ そして、X−Yテーブル1,2が所定の原点
位置から図示するようにX方向及びY方向に移
動して停止した後、カメラ4によつて撮象され
たステージTを測定枠14に収め、カーソル線
21を設定する(ステツプ22)。- Then, after the X-Y tables 1 and 2 move from the predetermined origin position in the X and Y directions as shown in the figure and stop, the stage T imaged by the camera 4 is placed in the measurement frame 14. , and sets the cursor line 21 (step 22).
・ ステージTが決定された後、前記画像処理さ
れた2値化データを第8図のように2値化メモ
リ7内に書込みする(ステツプ23)。- After the stage T is determined, the binarized data subjected to the image processing is written into the binarized memory 7 as shown in FIG. 8 (step 23).
・ 2値化メモリ7内に測定枠14の基準点0,
0に相当する点を決定し走査可能とする(ステ
ツプ24)。- The reference point 0 of the measurement frame 14 is stored in the binarization memory 7,
A point corresponding to 0 is determined and made scannable (step 24).
・ 次にステージT内の被検査物3の傾きと平行
な角度基準線25を設定する(ステツプ26)。- Next, set the angle reference line 25 parallel to the inclination of the inspected object 3 in the stage T (step 26).
・ 角度基準線25を設定した後、被検査物の有
効エツジ測定か有効幅測定かを判断させる(ス
テツプ27)。- After setting the angle reference line 25, it is determined whether to measure the effective edge or width of the object to be inspected (step 27).
・ 被検査物の有効エツジ(最大エツジ)測定を
遂行する場合には被検査物3のX方向の有効エ
ツジ測定か、Y方向の有効エツジ測定かを判断
(ステツプ28)すると共に、左右方向のエツジ
検出、上下方向のエツジ検出(ステツプ29)
(ステツプ30)かと判断後、それ等の内、所望
のエツジを検出する訳であらるが、ここで、上
述する左右方向のエツジ検出,上下方向のエツ
ジ検出を、第6図に示す水平方向、即ち、左右
方向におけるエツジ検出フローに基づいて説明
すると、
・ 先ず、エツジの最大点を検出するのか、例え
ばエツジ最小点を検出するのか判断し(ステツ
プ31)、エツジの最大点を検出する場合には比
較データとして初期最小値−999を入力設定し、
エツジの最小を検出する場合には初期最大値
999を入力設定する(ステツプ32)(ステツプ
33)。- When measuring the effective edge (maximum edge) of the object to be inspected, determine whether to measure the effective edge of the object 3 in the X direction or the Y direction (step 28), and also measure the effective edge in the left and right directions. Edge detection, vertical edge detection (step 29)
(Step 30) After determining whether the edges are the same or not, a desired edge is detected among them. Here, the edge detection in the horizontal direction and the edge detection in the vertical direction described above are performed in the horizontal direction as shown in FIG. That is, to explain based on the edge detection flow in the left and right directions: - First, it is determined whether to detect the maximum edge point or, for example, the minimum edge point (step 31), and when the maximum edge point is detected. Input and set the initial minimum value -999 as comparison data,
Initial maximum value when detecting edge minimum
Enter 999 (Step 32) (Step
33).
・ 次にエツジを検出する場合、右エツジを検出
する場合を夫々判断(ステツプ34)し、左エツ
ジを検出する場合には左カーソル21aを角度
基準線25に合致させ、右エツジを検出する場
合には右カーソル21bを角度基準線25に合
致させて走査可能とする(ステツプ35)(ステ
ツプ36)。- Next, it is determined whether to detect an edge or a right edge (step 34), and if a left edge is to be detected, the left cursor 21a is aligned with the angle reference line 25, and if a right edge is to be detected. Then, the right cursor 21b is aligned with the angle reference line 25 to enable scanning (step 35) (step 36).
・ そして、白ポイントカウンタをクリア(ステ
ツプ37)すると共に、X方向に1画素宛のピツ
チ(ステツプ38)でその角度基準線25から走
査線Aを走査し、白ポイントを検出する(ステ
ツプ30)。- Then, the white point counter is cleared (step 37), and the scanning line A is scanned from the angle reference line 25 in the X direction at a pitch of one pixel (step 38) to detect the white point (step 30). .
・ この時、走査を続行し、その白ポイント検出
点から更に走査してその白ポイントカウント
が、ノイズが存在する場合を考慮して予めプロ
グラムされたノイズ値よりも大きい場合(ステ
ツプ40)には最先の白ポイント検出点をエツジ
ポイントとし(ステツプ41)、一方白ポイント
から更に走査して白ポイントカウントが予めプ
ログラムされたノイズ値よりも小さい場合には
その白ポイントカウントをクリア(ステツプ
42)して走査を続行し、次に検出して白ポイン
トカウント(ステツプ43)が前記のようにプロ
グラムされたノイズ値よりも大きい場合に最初
に検出した白ポイントをエツジポイントとす
る。- At this time, continue scanning, scan further from the white point detection point, and if the white point count is larger than the noise value programmed in advance considering the presence of noise (step 40), The earliest white point detection point is set as the edge point (step 41), and if the white point count is smaller than the pre-programmed noise value by scanning further from the white point, the white point count is cleared (step 41).
42) and continue scanning, then detect and if the white point count (step 43) is greater than the programmed noise value as described above, the first detected white point is set as the edge point.
・ そして、角度基準線25からエツジポイント
までの距離を計算し(ステツプ44)、比較デー
タよりもその距離が長いかを判断し(ステツプ
45)、長い場合には最大比較データとして座標
計算(ステツプ46)する。そして、この作業を
1画素づつ繰返して(ステツプ47)VENDま
で走査し、エツジ検出点行為が最大エツジ測定
かどうか判定し(ステツプ48)、その検出点が
最大検出点かどうか確認(ステツプ49)後、そ
の検出点を最大エツジポイントとして設定する
(ステツプ50)。・Then, calculate the distance from the angle reference line 25 to the edge point (step 44), and judge whether the distance is longer than the comparison data (step 44).
45), and if it is long, coordinates are calculated as the maximum comparison data (step 46). Then, repeat this process pixel by pixel (step 47), scan until VEND, determine whether the edge detection point is the maximum edge measurement (step 48), and check whether that detection point is the maximum detection point (step 49). After that, that detection point is set as the maximum edge point (step 50).
・ 尚、ステージTを有する場合(ステツプ51)
には第2図に示すように拡張座標X,Yに変換
処理(ステツプ52)してなり、演算式(X=
x′+x(bh×G〔μm/画素(ピクセル)〕))
(Y=y′−y(bu×G〔μm/画素(ピクセ
ル)〕))にCPU8より算出し、その算出値をエ
ツジ位置とする。・If stage T is present (step 51)
is converted into extended coordinates X, Y (step 52) as shown in FIG.
x′+x(bh×G [μm/pixel (pixel)]))
(Y=y'-y(bu×G [μm/pixel)]) is calculated by the CPU 8, and the calculated value is used as the edge position.
次に、第2発明について説明すると、この第
2発明は走査線AがO−1又は1−Oに白黒反
転する座標値で各画素ピツチ毎のエツジを認識
せしめ、該両端のエツジの座標値と、そのエツ
ジに平行する角度基準線25との差によつて被
検査物3の有効幅H(第3図)(第4図)を検出
してCPU8を介して演算処理できるようにし
たものである。 Next, to explain the second invention, this second invention allows the edge of each pixel pitch to be recognized by the coordinate values where the scanning line A is black and white inverted to O-1 or 1-O, and the coordinate values of the edges at both ends are recognized. The effective width H (Fig. 3) (Fig. 4) of the object to be inspected 3 is detected based on the difference between the edge and the angle reference line 25 parallel to the edge, and calculation processing can be performed via the CPU 8. It is.
即ち、この第2発明は第5図に示すようにX
方向の有効幅測定か、Y方向の有効幅測定かを
判断(ステツプ27)した後、X方向の走査か、
Y方向の走査か判断(ステツプ53)し、前記第
6図のエツジ検出フローに基づいて右方向エツ
ジ最大検出(ステツプ54)、左方向エツジ最大
検出(ステツプ55)を遂行するか、或いは上方
向エツジ最大検出(ステツプ56)下方向エツジ
最大検出(ステツプ57)を遂行する。 In other words, this second invention has X as shown in FIG.
After determining whether to measure the effective width in the X direction or the Y direction (step 27), select whether to scan in the X direction or
It is determined whether the scanning is in the Y direction (step 53), and the maximum rightward edge detection (step 54), maximum leftward edge detection (step 55) is performed based on the edge detection flow shown in FIG. Maximum edge detection (step 56) Maximum downward edge detection (step 57) is performed.
・ そして、両エツジ間の有効幅Hは横幅におい
ては(1左−右1+1)×COSθ×ゲージ(G)
〔μm/画素(ピクセル)〕縦幅においては(1
下−上1+1)×COSθ×ゲージ(G)〔μm/画
素(ピクセル)〕という演算式によつて算出さ
れる(ステツプ58)(ステツプ59)。・The effective width H between both edges is (1 left - right 1 + 1) x COS θ x gauge (G) in terms of width.
[μm/pixel] In vertical width (1
It is calculated using the formula (lower - upper 1+1) x COS θ x gauge (G) [μm/pixel (pixel)] (step 58) (step 59).
尚、ステージTを有する場合には拡張座標
(X,Y)に変換処理する(ステツプ60)。 If the stage T is included, the coordinates are converted to extended coordinates (X, Y) (step 60).
ちなみに、第1,第2発明共に検出された最
大エツジ検出は第7図に示す確認フローを経て
確認された後、前記のフローに基づいて処理さ
れるようになつている訳であるが、その確認フ
ローについて説明すると、
・ 最大エツジポイントを通るようにまず角度基
準線25を設定し、1画素ごとに走査線Aを走
査し、その走査線Aと角度基準線25との交点
が白(ステツプ61)であれば、1画素づつ走査
線Aレベル1画素ごと(ステツプ62)VEND
へ移行し(ステツプ63)、全部の走査線Aと、
その角度基準線25との交点が白ポイントなら
ば測定判定が正しいとして確認される(ステツ
プ64)。 Incidentally, the maximum edge detected in both the first and second inventions is confirmed through the confirmation flow shown in FIG. 7, and then processed based on the flow described above. To explain the confirmation flow: - First, set the angle reference line 25 so that it passes through the maximum edge point, scan the scanning line A for each pixel, and make sure that the intersection of the scanning line A and the angle reference line 25 is white (step 61), scan line A level pixel by pixel (step 62) VEND
(Step 63), all scanning lines A and
If the intersection with the angle reference line 25 is a white point, the measurement judgment is confirmed to be correct (step 64).
・ ちなみに、1画素づつ走査線Aを走査させた
際、黒ポイントが検出された場合、走査方向が
右か左かを判断(ステツプ65)し、左−右方向
へ走査する場合には角度基準線21を1画素プ
ラスして移行(ステツプ66)し、右−左方向へ
走査する場合には角度基準線25を1画素マイ
ナスして移行(ステツプ67)し、その状態で更
に走査線Aを走査して白ポイントが検出される
か否かを確認し、確認された場合にはVEND
に至る迄全ての画素で1ピクセルづつ走査(ス
テツプ63)して、全てのピクセル上において走
査Aで白ポイントが確認されればそのポイント
をノーマルとして判定する(ステツプ64)。- By the way, when scanning line A pixel by pixel, if a black point is detected, it is determined whether the scanning direction is right or left (step 65), and when scanning from left to right, the angle reference is used. The line 21 is shifted by adding one pixel (step 66), and when scanning from right to left, the angle reference line 25 is minus one pixel and shifted (step 67), and in this state, the scanning line A is further moved. Scan to see if a white point is detected, and if so, VEND
All the pixels are scanned one pixel at a time until reaching (step 63), and if a white point is confirmed in scan A on all pixels, that point is determined to be normal (step 64).
・ 角度基準線25が右−左方向へ移行させる左
エツジ検出確認の場合には、右カーソル21b
をその角度基準線21が越えると測定判定をエ
ラーとして処理する(ステツプ68)。一方、角
度基準線25を左−右方向へ移動させる右エツ
ジ検出確認の場合にも左カーソル21bをその
角度基準線25が越えると測定判定をエラーと
して処理する(ステツプ68)。- To confirm the detection of a left edge where the angle reference line 25 shifts from right to left, the right cursor 21b
If the angle reference line 21 exceeds the angle reference line 21, the measurement judgment is treated as an error (step 68). On the other hand, even in the case of right edge detection confirmation in which the angle reference line 25 is moved in the left-right direction, if the angle reference line 25 crosses the left cursor 21b, the measurement determination is treated as an error (step 68).
ちなみに、前述説明では第1,第2発明共に被
検査物が傾きのある場合を想定して説明したが、
傾き、即ちθがOの場合にも本発明第1,第2発
明は使用可能である。 Incidentally, in the above description, both the first and second inventions were explained assuming that the object to be inspected is tilted.
The first and second inventions of the present invention can also be used when the slope, that is, θ is O.
また、斯る実施例における第1,第2発明は最
大又は最小エツジを検出するに際してノイズを除
去して正確にその長さを検出でき、そのエツジの
最大検出の確認も遂行する為、ミスのない精密測
定が可能となる。 In addition, the first and second inventions in such embodiments can eliminate noise and accurately detect the length when detecting the maximum or minimum edge, and also confirm the maximum detection of the edge, so mistakes can be avoided. This makes it possible to perform precise measurements.
第1発明においては、例え被検査物が傾斜状で
あつてもその被検査物の最小,最大等の有効エツ
ジを容易に判別測定できる。
In the first invention, even if the object to be inspected is inclined, effective edges such as minimum and maximum edges of the object to be inspected can be easily determined and measured.
第2発明においては、被検査物が傾斜状であつ
てもその被検査物の有効幅を容易且つ簡単に測定
できる。 In the second invention, even if the object to be inspected is inclined, the effective width of the object to be inspected can be easily and simply measured.
依つて、所期の目的を達成できる。 Thus, the intended purpose can be achieved.
図面は本発明被検査物の有効エツジ検出方法及
び有効幅測定方法の実施例を示し、第1図はエツ
ジ検出装置のブロツク図、第2図は演算処理を説
明する為のステージと被検査物との関係図、第3
図はエツジの最大点及び有効幅を示す説明図、第
4図はエツジの最小点及び有効幅を示す説明図、
第5図は第1発明の有効エツジ検出方法及び第2
発明の有効幅測定方法を示すプログラムフロー、
第6図は水平方向エツジ検出フロー、第7図は最
大点確認フロー、第8図は2値化メモリ内に2値
化データを書込んだ状態を示すデータ処理図であ
る。
尚、図中3……被検査物、A……走査線、1,
2……X−テーブル、14……測定枠、4……カ
メラ、25……角度基準線。
The drawings show an embodiment of the effective edge detection method and effective width measurement method of an object to be inspected according to the present invention, FIG. 1 is a block diagram of an edge detection device, and FIG. 2 shows a stage and an object to be inspected to explain the calculation process. Relationship diagram, 3rd
The figure is an explanatory diagram showing the maximum point and effective width of an edge, FIG. 4 is an explanatory diagram showing the minimum point and effective width of an edge,
FIG. 5 shows the effective edge detection method of the first invention and the second invention.
A program flow showing the effective width measuring method of the invention,
FIG. 6 is a horizontal edge detection flow, FIG. 7 is a maximum point confirmation flow, and FIG. 8 is a data processing diagram showing a state in which binarized data is written in the binarized memory. In the figure, 3...Object to be inspected, A...Scanning line, 1,
2...X-table, 14...measuring frame, 4...camera, 25...angle reference line.
Claims (1)
査物の映像信号を2値化メモリに記憶し、該記憶
された映像信号を、1画素ピツチの走査線でX又
はY方向に順次走査して得られる白黒反転座標値
で各ピツチ宛のエツジを認識せしめ、該座標値
と、指定される角度をもつ基準線座標値との差に
より被検査物のエツジの最小,最大を判別するこ
とを特徴とする被検査物の有効エツジ検出方法。 2 X,Y走査方向を2軸とする座標系内の被検
査物の映像信号を2値化メモリに記憶し、該記憶
された映像信号を、1画素ピツチの走査線でX又
はY方向に順次走査して得られる白黒反転座標値
で各ピツチ宛のエツジを認識せしめ、該座標値
と、指定される角度をもつ基準線座標値との差に
より被検査物のエツジの最大又は最小有効エツジ
を検出すると共に逆方向から同様の操作により有
効幅を測定するに必要な他方の最大又は最小有効
エツジを検出し、演算式・H=1両有効エツジの
差1×COSθ×ゲージ(G)〔μm/画素(ピクセ
ル)〕により被検査物の有効幅を演算処理する被
検査物の有効幅測定方法。[Claims] 1. A video signal of an object to be inspected in a coordinate system having two axes in the X and Y scanning directions is stored in a binarized memory, and the stored video signal is converted into a scanning line of 1 pixel pitch. The edge for each pitch is recognized using the black-and-white inverted coordinate values obtained by scanning sequentially in the A method for detecting effective edges of an object to be inspected, characterized by determining the minimum and maximum of . 2. Store the video signal of the object to be inspected in a coordinate system with two axes in the X and Y scanning directions in a binarized memory, and scan the stored video signal in the X or Y direction with a scanning line of 1 pixel pitch. The edge for each pitch is recognized using the black-and-white inverted coordinate values obtained by sequential scanning, and the maximum or minimum effective edge of the edge of the object to be inspected is determined by the difference between the coordinate value and the reference line coordinate value with the specified angle. At the same time, detect the other maximum or minimum effective edge necessary to measure the effective width by the same operation from the opposite direction, and calculate the calculation formula: H = 1 Difference between both effective edges 1 × COS θ × Gauge (G) [ A method for measuring the effective width of an inspected object in which the effective width of the inspected object is calculated using [μm/pixel (pixel)].
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1437886A JPS62172205A (en) | 1986-01-25 | 1986-01-25 | Method for detecting effective edge of article to be inspected and method for measuring effective width thereof |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1437886A JPS62172205A (en) | 1986-01-25 | 1986-01-25 | Method for detecting effective edge of article to be inspected and method for measuring effective width thereof |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62172205A JPS62172205A (en) | 1987-07-29 |
| JPH0410001B2 true JPH0410001B2 (en) | 1992-02-24 |
Family
ID=11859382
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1437886A Granted JPS62172205A (en) | 1986-01-25 | 1986-01-25 | Method for detecting effective edge of article to be inspected and method for measuring effective width thereof |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62172205A (en) |
-
1986
- 1986-01-25 JP JP1437886A patent/JPS62172205A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62172205A (en) | 1987-07-29 |
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