JPH04102066A - 加速度センサ及びその製造方法 - Google Patents

加速度センサ及びその製造方法

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JPH04102066A
JPH04102066A JP2220654A JP22065490A JPH04102066A JP H04102066 A JPH04102066 A JP H04102066A JP 2220654 A JP2220654 A JP 2220654A JP 22065490 A JP22065490 A JP 22065490A JP H04102066 A JPH04102066 A JP H04102066A
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JP
Japan
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etching
weight
silicon substrate
pedestal
groove
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Application number
JP2220654A
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English (en)
Inventor
Kimitoshi Sato
公敏 佐藤
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、特に自動車用の加速度センサとして広く用い
られており、シリコン製のカンチレバーに生じる歪によ
り加速度検出を行う加速度センサ(半導体加速度センサ
)及びその製造方法に関する。
〔従来の技術〕
半導体加速度センサは、基端に台座を備え、中途に薄肉
部を設けたシリコン製のカンチレバーの先端に重錘を固
定し、加速度の作用による該重錘の振れに伴って前記薄
肉部に生じる歪を、これの表面に拡散抵抗により構成し
たブリフジの出力として検出するものであり、小型化が
容易であると共に劣悪な環境下での使用が可能であるこ
とから、自動車用等、配設空間が限定される用途に最適
なものとして広く用いられている。そしてこの種の加速
度センサは、従来、シリコン基板の中途を薄肉化してな
るカンチレバーを作成し、この薄肉部の基端側を台座と
するか、又は台座に固定し、また先端側に重錘を取付け
る手順にて製造されている。
第12図〜第14図は、従来の加速度センサの製造手順
の説明図である。まず第12図に示す如く、素材となる
シリコン基板1の表面をシリコン酸化膜10にて被覆し
て、これの欠落部に歪検出用のブリッジを構成する拡散
抵抗11を形成し、前記ブリッジの人、出力用の電極1
2を取付けた後、これらの表面をシリコン酸化膜10の
表面と共に、パッシベーション膜13のガラスコートで
覆う。次いで第13図に示す如く、表面側の前記拡散抵
抗11に対応する位置にエツチング孔15を有するエツ
チングマスク14により前記シリコン基[1の裏面を被
覆し、裏面側からのエツチングにより前記エツチング孔
15の相当位置に所定深さの凹部16を形成する。これ
により第14図に示す如く、前記凹部16の底面とシリ
コン基板1の表面との間に薄肉部2が得られ、該薄肉部
2の一側(図における左側)に台座3が、また他側にカ
ンチレバー4が夫々得られることになり、このカンチレ
バー4の先端に接着等の接合手段により重錘5を固定す
ることにより加速度センサが構成される。
〔発明が解決しようとする課題〕
さて以上の如く製造される加速度センサの検出感度は、
カンチレバー4及び重錘5の重量、重錘5の固定位置、
並びに薄肉部2の厚さ及び平面積に依存する。ところが
従来においては、前述の如く薄肉部2の形成後になされ
る重錘5の固定に際しての作業性が極めて悪く、所定位
置への固定がなされない虞があり、また、前記薄肉部2
の厚さはシリコン基板1の裏面側から行われる前記凹部
16のエツチング時間により管理されるが、このエツチ
ングは多数のウェハを一単位とするハツチ処理であるた
め、各ウェハの面内、ウェハ間、及びハノ千間でのエツ
チングレートの相違により、薄肉部2の厚さにばら付き
が生しることが避けられない問題があって、所定の検出
感度を安定的に実現することが困難であった。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、重錘
の位置及び薄膜部の厚さの管理が容易であり、バッジ処
理により所望の感度を安定的に実現し得る加速度センサ
及びその製造方法を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明に係る加速度センサは、台座、カンチレバー、重
錘及び薄肉部を、シリコン基板の所要部分のエツチング
により一体的に構成したものであり、また本発明に係る
加速度センサの製造方法は、素材となるシリコン基板の
裏面側からの異方性エツチングにより、裏面の周縁と内
側とを一部の連結部位を除いて隔絶するエツチング溝を
形成し、連結部位両側の工・ッチング溝間でのサイドエ
ッチにより連結部位の一部を薄肉化して薄肉部を構成し
、更にエツチング溝の相当部分でのシリコン基板の表面
側からのプラズマエツチングにより、エツチング溝を表
面側に貫通させて、これの周縁側を台座とし、また内側
をカンチレバー及び重錘とするものである。
〔作用〕
本発明においては、シリコン基板の異方性エンチングが
、<111>方向には殆ど進行しないことを利用し、ま
ず裏面側からのH00>方向へのエツチングにより、こ
のとき使用するエツチングマスクのサイズにより定まる
所定深さのエツチング溝を形成して、シリコン基板の周
縁部と内側とを一部の連結部位を除いて隔絶し、次いで
この連結部位両側のエツチング溝間にてH’lO)方向
へ進行するサイドエ・ノチにより、エツチング溝の深さ
に相当する深さの凹部を形成して、この形成範囲に一定
厚さの薄肉部を構成し、更に前記エツチング溝をプラズ
マエツチングにより表面側に連通させて、エツチング溝
にて隔絶された周縁側の部分を台座として、同じ(内側
の部分をカンチレバー及びこれと一体化された重錘とし
て分離せしめ、このカンチレバー及び重錘が前記薄肉部
を介して周縁の台座に支えられた構造をなす加速度セン
サを得る。
〔実施例〕
以下本発明をその実施例を示す図面に基づいて詳述する
。第1図は本発明に係る加速度センサの平面図、第2図
は第1図のn−n線による縦断面図である。
本発明に係る加速度センサは、平面視にて矩形をなすシ
リコン基板1を素材とし、第1図中にクロスハツチを施
して示す如く、該シリコン基板1を表裏に貫通する貫通
溝1aにより、−個所の連結部位を除いて周縁部と内側
とに切離し、周縁部に台座3を、また内側に重錘5、カ
ンチレバー4及び薄肉部2を一体的に構成してなる。前
記貫通溝1aにより周縁部の台座3と隔絶さ九た内側部
分は、平面視にて丁字形をなし、このT字の縦棒相当部
分の先端が前記台座3との連結端となっており、本発明
に係る加速度センサの製造方法(以下本発明方法という
)においては、この連結端近傍が後述の如き処理により
薄肉部2とされ、T字の縦棒相当部分の残部によりカン
チレバー4が、また横棒相当部分により重錘5が一体的
に構成される。
前記貫通溝1aは、後述する如く、シリコン基板1の一
面(裏面)側からの異方性エツチングにより他面(表面
)に向けて形成された三角形断面のエツチング溝1bを
、表面側からのプラズマエツチングにより形成された一
定幅のエツチング溝ICにて表面側に貫通せしめ、第2
図に示す如き断面形状を有してなる。第1図は、エツチ
ング溝1bの傾斜面が見える側、即ち裏面側からの平面
図となっており、図中のクロスハツチは、エツチング溝
ICの相当部分にのみ施しである。前記薄肉部2は、前
記連結部位の両側に位置するエツチング溝1b、lbを
、両者間にて後述の如く進行するサイドエッチにより相
互に連通セしめ、第2図に示す如く台形断面をなす凹部
16を形成して、この凹部16の底面とシリコン基板1
の表面との間に構成される。
以上の如く本発明に係る加速度センサは、矩形枠形の台
座3の内側に、カンチレバー4と重錘5とが薄肉部2の
みによって支えられた構造となっており、台座3を適宜
の測定位置に固定して、この測定位置における加速度を
カンチレバー4及び重錘5に作用せしめて用いられ、こ
のとき薄肉部2に生じる歪を媒介として前記加速度を検
出する。
次に以上の如き構成の加速度センサを得るための本発明
方法の実施手順について説明する。
第3図〜第7図は、第1図のm−m線断面における薄肉
部2の構成手順の説明図である。まず第3図に示す如く
、素材となるシリコン基板1の表面をシリコン酸化膜1
0にて被覆して、これの欠落部に歪検出用のブリッジを
構成する拡散抵抗11を形成し、これに前記ブリッジの
人、出力用の電極12を取付けた後、これらの表面をシ
リコン酸化膜10の表面と共に、パッシベーション膜1
3のガラスコートで覆う。以上の手順は従来の方法と同
様であるが、本発明方法においては、薄肉部2を台座3
から遮断する貫通溝1aの形成のため、前記拡散抵抗1
1の両側部分において、シリコン酸化膜10とパッシベ
ーション膜13とをエツチングにより除去しておく。こ
の除去は、シリコン基板1の表面側における前記貫通溝
1aの形成範囲全体に亘って実施され、後述の如く、こ
の際の除去部分の幅が表面側からのプラズマエツチング
によるエンチング溝1cの幅となる。
次いで、シリコン基板1の裏面側からの異方性エツチン
グの実施のため、該シリコン基板1の裏面にエツチング
マスク14を形成する。このエツチングマスク14の平
面図を第8図に示す。本図に示す如くエツチングマスク
14は、前記台座3に相当する周縁部分14aと、カン
チレバー4及び重錘5に相当する丁字形の内側部分14
bとを、前記貫通溝1aの形成位置に対応して形成され
たエツチング孔15により、薄肉部2に相当する連結部
分14cを除いて隔絶した平面形状を有している。この
エツチングマスク14の形成により、前記■−■線によ
る断面においては、第4図に示す如く、拡散抵抗ILI
Iの形成部位の裏面側が前記連結部分14cにて被覆さ
れ、またシリコン酸化膜10及びパッシベーション膜1
3の除去部分の裏面側相当位置にエツチング孔15が位
置し、更に該エツチング孔15の外側が前記周縁部分1
4aにて被覆された状態となる。
エツチングマスク14の後、KOH等の異方性エッチャ
ントを用い、シリコン基板1の裏面側からエツチングを
行う。このときH11>方向のエッチレートがHOO)
方向のそれに比して著しく小さいことから、シリコン基
板1の裏面側での前記エツチング孔15の形成部分にて
生じるエツチングは、裏面に対し所定角度(具体的には
54.3°)だけ傾斜する傾斜面に沿って進行して、前
記エツチング孔15の幅方向両辺を起点とする傾斜面が
交叉する位置にて殆ど停止し、第5図に示す如く、この
交叉位置を頂点とする三角形断面のエツチング溝1bが
形成される。そしてこのようにして得られるエンチング
溝1bの深さhは、エツチング孔15の幅寸法D(第8
図参照)のみに依存するから、エツチングマスク14の
形成に際し、次式にて算出された幅りを有するエツチン
グ孔15を設けるだけの容易な作業により、エツチング
溝1bの深さhを正確に管理することができる。
D = 2  ・h /  jan54.3°    
−(1)さて、<100>方向へのエツチング完了後、
更にエツチングを続行すると、H11)方向のエツチン
グは殆ど進行しないが、H10>方向のエツチングは比
較的速く進行し、第5図中に破線にて示す如く進行する
サイドエッチにより、拡散抵抗11の形成位置両側のエ
ツチング溝1b、 Ib間の部分が、拡散抵抗1工の形
成位置の裏側全体に亘って食刻され、最終的には第6図
に示す如く、前記エツチング溝1b、 lbを相互に連
通してなる台形断面の凹部16が形成され、該凹部16
の底面とシリコン基板1の表面との間に、表面側に拡散
抵抗11を備えた薄肉部2が構成される。なおこのとき
前記サイドエッチは、エツチング溝1bの深さ範囲内に
おいてのみ進行し、得られる凹部16の深さは、先に得
られたエツチング溝1bの深さhに略等しくなる一方、
この深さhは前述の如く容易にしかも正確に管理できる
から、所望の一定厚さを有する薄肉部2を安定的に得る
ことができる。
以上の如く裏面側からの異方性エツチングを終了した後
、シリコン基板1の表面側からプラズマエツチングを実
施し、パンシベーション膜13及びシリコン酸化膜10
の除去部分を食刻してエツチング溝1c、 lcを形成
する。これにより、前記除去部分に対応する位置に裏面
側から形成されたエツチング溝1b、 Ibが表面側に
貫通することになり、これらの間に形成された前記薄肉
部2は、エツチング溝1c外側の台座3と分離される。
第9図〜第11図は、第1図のIX−IX線断面におけ
る重錘5の構成手順の説明図である。重錘5の構成部分
においては、まず第9図に示す如く、素材となるシリコ
ン基板1の表面をシリコン酸化膜10にて被覆した後、
先に説明した拡散抵抗11の形成及び電極12の取付け
を待って、シリコン酸化膜10の表面をバ、シベーショ
ン膜13にてガラスコートし、これらの膜13.10に
よる被覆層を、前記貫通’a1aの相当部分においてエ
ツチングにより除去する。次いで、シリコン基板1の裏
面をエツチングマスク14にて被覆するが、エツチング
マスク14は前述の如き形状を有するから、貫通a1a
の相当位置、即ち表面側の前記除去部分の対応位置にエ
ツチング孔15.15が位置し、第1図のIX−IX線
による断面図である第9図においては、エツチング孔1
5.15の外側がエツチングマスク14の前記周縁部分
14aにて被覆され、同じく内側が前記内側部分14b
にて被覆された状態となる。
このようにエツチングマスク14での被覆をなした後、
薄膜部2の構成の場合と同様、KOH等の異方性エッチ
ャントを用い、シリコン基板1の裏面側からエツチング
を行う。このエツチングは、前述した如く、裏面に対し
所定角度だけ傾斜する傾斜面に沿って進行して、第10
図に示す如く、前記エツチング孔15の幅方向両辺を起
点とする傾斜面が交叉する位置に頂点を有する三角形断
面のエツチング溝1bを形成して停止する。この場合の
エツチング孔15の幅は、前記頂点がシリコン基板1の
表面に達しない程度に適宜に設定すればよく、薄肉部2
両側のエツチング溝1b形成のためのエツチング孔15
と同幅でなくともよい。
このように裏面側からのエツチングを終了した後、シリ
コン基板1の表面側からプラズマエツチングを実施し、
パッシベーション膜13及びシリコン酸化膜10の除去
部分を食刻してエツチング溝ICを形成し、前記エツチ
ング溝1bを表面側に連通させて貫通溝1aとなし、周
縁側の基台3から重錘5を分離形成する。なお、この重
錘5と前記薄肉部2との間のカンチレバー4もまた、全
く同様の手順により形成される。即ち以上の手順により
、薄肉部2、カンチレバー4及び重錘5が基台3と一体
的に構成されることになり、重錘5の位置決めが容易に
しかも確実になされる。
〔発明の効果〕
以上詳述した如く本発明においては、シリコン基板の裏
面側から異方性エツチングを実施して、裏面の周縁と内
側とを一部の連結部位を除いて隔絶するエツチング溝を
形成し、更に前記連結部位の一部をこれの両側のエツチ
ング溝間でのサイドエッチにより連結部位の一部を薄肉
化して薄肉部を構成するから、前記異方性エツチングの
際のエツチング幅の適正化により薄肉部の厚さを容易に
しかも正確に管理でき、また、前記エツチング溝の相当
部分をプラズマエツチングにより表面側に貫通させて、
これの周縁側の台座と、内側のカンチレバー、重錘及び
前記薄肉部とが一体的に構成されるから、適正な位置へ
の重錘の配置を容易に実現でき、所望の感度を有する加
速度センサがバッチ処理により安定的に得られる等、本
発明は優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る加速度センサの平面図、第2図は
第1図のn−n線による縦断面図、第3図〜第7図は本
発明方法による薄肉部の構成手順の説明図、第8図は本
発明方法の実施に使用するエツチングマスクの平面図、
第9図〜第11図は本発明方法による重錘の構成手順の
説明図、第12図〜第14図は従来の加速度センサの製
造方法の説明図である。 工・・・シリコン基板  2・・・薄肉部  3・・・
台座4・・・カンチレバー  5・・・重錘  1a・
・・貫通溝lb、 lc・・・エツチング溝 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基端に台座を備えたシリコン製カンチレバーの先
    端に重錘を、また中途に薄肉部を夫々設けてなり、前記
    重錘の振れに伴って前記薄肉部に生じる歪により加速度
    を検出する加速度センサにおいて、シリコン基板の所要
    部分のエッチングにより、前記台座、カンチレバー、重
    錘及び薄肉部が一体的に構成してあることを特徴とする
    加速度センサ。
  2. (2)素材となるシリコン基板の裏面側から異方性エッ
    チングを実施して、裏面の周縁部と内側とを一部の連結
    部位を除いて隔絶する所定深さのエッチング溝を形成し
    、次いで前記連結部位両側のエッチング溝間にてサイド
    エッチを進行させ、該連結部位の一部に前記薄肉部を構
    成した後、前記シリコン基板の表面側から、前記エッチ
    ング溝の相当部分全長に亘ってプラズマエッチングを実
    施し、前記エッチング溝を表面側に貫通させ、これの周
    縁側に前記台座を、また内側に前記カンチレバー及び前
    記重錘を構成することを特徴とする請求項1記載の加速
    度センサの製造方法。
JP2220654A 1990-08-20 1990-08-20 加速度センサ及びその製造方法 Pending JPH04102066A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09239570A (ja) * 1996-03-07 1997-09-16 Seiko Instr Inc 微細加工方法および微細加工構造物
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