JPH0410230A - 光学式情報読取り装置 - Google Patents
光学式情報読取り装置Info
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- JPH0410230A JPH0410230A JP2109377A JP10937790A JPH0410230A JP H0410230 A JPH0410230 A JP H0410230A JP 2109377 A JP2109377 A JP 2109377A JP 10937790 A JP10937790 A JP 10937790A JP H0410230 A JPH0410230 A JP H0410230A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 101100042793 Gallus gallus SMC2 gene Proteins 0.000 abstract 2
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 17
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0941—Methods and circuits for servo gain or phase compensation during operation
-
- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0948—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for detection and avoidance or compensation of imperfections on the carrier, e.g. dust, scratches, dropouts
-
- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only
- G11B7/0906—Differential phase difference systems
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光デイスクプレーヤなどの光学式情報読取り
装置に係り、特に１本の光ビームを用いその反射回折光
の干渉を利用してトラッキング制御を行う形式の光学式
情報読取り装置に関する。
装置に係り、特に１本の光ビームを用いその反射回折光
の干渉を利用してトラッキング制御を行う形式の光学式
情報読取り装置に関する。
レーザディスクプレーヤシステムやコンパクトディスク
プレーヤシステム、追加記録型（Ｄ ＲＡＷ ： Ｄｉ
ｒｅｃｔ Ｒｅａｄ Ａ［ｌｅ＋ Ｗｒｉｔｅ）光デイ
スクシステムなどの情報記録再生に用いられている光学
式情報読取り装置において、情報記録媒体である光学式
ディスク上のピットを正確にトレースするためのトラッ
キング制御方式として従来様々な方式が提案されている
。その一つとして、情報記録再生用のビームの他にトラ
ッキング専用のビームを用いるのではなく、ディスクに
対して照射した１本の光ビームのディスクからの透過光
または反射光からこれに含まれるトラッキング情報を検
出してトラッキング制御を行う方法がある。
プレーヤシステム、追加記録型（Ｄ ＲＡＷ ： Ｄｉ
ｒｅｃｔ Ｒｅａｄ Ａ［ｌｅ＋ Ｗｒｉｔｅ）光デイ
スクシステムなどの情報記録再生に用いられている光学
式情報読取り装置において、情報記録媒体である光学式
ディスク上のピットを正確にトレースするためのトラッ
キング制御方式として従来様々な方式が提案されている
。その一つとして、情報記録再生用のビームの他にトラ
ッキング専用のビームを用いるのではなく、ディスクに
対して照射した１本の光ビームのディスクからの透過光
または反射光からこれに含まれるトラッキング情報を検
出してトラッキング制御を行う方法がある。
第９図に、従来の光学式情報読取り装置の概略ブロック
図を示す。
図を示す。
この光学式情報読取り装置１０１は、光学式ディスクＤ
上に変調信号の形で記録された情報を光学式ディスクＤ
を回転させなからレーザ光りを用いて読み出す光ピツク
アップ部１と、読み出された変調信号を復調して出力す
る復調ブロック６と、光学式ディスクＤを回転させるた
めのスピンドルモータ５と、光ピツクアップ部１からの
レーザ光りがトラックからはずれないように制御するト
ラッキングサーボ部２Ａと、光ピツクアップ部１のレー
ザ光りの焦点制御を行うフォー力シングサーホ部３と、
スピンドルモータ５を定速制御する回転サーボ部４とを
備えている。
上に変調信号の形で記録された情報を光学式ディスクＤ
を回転させなからレーザ光りを用いて読み出す光ピツク
アップ部１と、読み出された変調信号を復調して出力す
る復調ブロック６と、光学式ディスクＤを回転させるた
めのスピンドルモータ５と、光ピツクアップ部１からの
レーザ光りがトラックからはずれないように制御するト
ラッキングサーボ部２Ａと、光ピツクアップ部１のレー
ザ光りの焦点制御を行うフォー力シングサーホ部３と、
スピンドルモータ５を定速制御する回転サーボ部４とを
備えている。
次に、第１０図に１本のビームでトラッキングサーボを
行う形式の光ピツクアップ部１とトラッキングサーボ部
２人と復調ブロック６のさらに詳細な構成を示すブロッ
ク図を示す。
行う形式の光ピツクアップ部１とトラッキングサーボ部
２人と復調ブロック６のさらに詳細な構成を示すブロッ
ク図を示す。
第１０図において、光ピツクアップ部１は、レーザダイ
オードなどの光発生器１１と、レーザ光の光軸上に、ハ
ーフミラ−１２と、対物レンズ１３と、４つの受光面４
１〜４４を有するフォトダイオード等の４分割フォトデ
ィテクタ１４と、加算器１５と、トラッキングコイル１
６とを備えている。
オードなどの光発生器１１と、レーザ光の光軸上に、ハ
ーフミラ−１２と、対物レンズ１３と、４つの受光面４
１〜４４を有するフォトダイオード等の４分割フォトデ
ィテクタ１４と、加算器１５と、トラッキングコイル１
６とを備えている。
また、トラッキングサーボ部２人は、加算器３０及び３
１と、波形整形回路２３及び２４と、位相比較器２５と
、増幅器２８と、イコライザアンプ２９を備えている。
１と、波形整形回路２３及び２４と、位相比較器２５と
、増幅器２８と、イコライザアンプ２９を備えている。
また、復調ブロック６は、波形整形回路６１と、遅延回
路６２と、乗算器６３と、検波フィルタ６４とを備えて
いる。
路６２と、乗算器６３と、検波フィルタ６４とを備えて
いる。
次に、第１０図を用いて、従来の光学式情報読取り装置
の動作を説明する。
の動作を説明する。
レーザ光発生器１１より発せられたレーザ光りは、ハー
フミラ−１２を通過する。そして、対物レンズ１３によ
り光学式ディスクＤ上の情報記録ピットに集光される。
フミラ−１２を通過する。そして、対物レンズ１３によ
り光学式ディスクＤ上の情報記録ピットに集光される。
レーザ光りは光学式ディスクＤの記録面で反射される。
この反射光は、再び対物レンズ１３を通過する。反射光
は、今度はハーフミラ−１２により光路を変えられ、４
分割フォトディテクター４の受光面４１．４２．４３．
４４上に照射され光電変換される。ここで、４分割フォ
トディテクター４の各受光面４１．４２．４３．４４の
光量に対応する光電変換出力信号を光出力信号ｓ、ｓｓ
Ｓｓ とする。
は、今度はハーフミラ−１２により光路を変えられ、４
分割フォトディテクター４の受光面４１．４２．４３．
４４上に照射され光電変換される。ここで、４分割フォ
トディテクター４の各受光面４１．４２．４３．４４の
光量に対応する光電変換出力信号を光出力信号ｓ、ｓｓ
Ｓｓ とする。
１ ２ゝ ３４
光出力信号Ｓ ＳＳ Ｓ Ｓ は加算器１５１ ２
ゝ ３ゝ ４ に入力されＲＦ （ＲＦ ： Ｒａｄｉｏ Ｆ＋ｅｑｕ
ｅｎｃ７の略）信号Ｓ５が出力される。ここに、 ＳＳ；Ｓｌ＋Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ４ の関係がある。Ｓ ＋ Ｓ ２ ＋ Ｓ ３＋ Ｓ
４は総和信号ともいう。
ゝ ３ゝ ４ に入力されＲＦ （ＲＦ ： Ｒａｄｉｏ Ｆ＋ｅｑｕ
ｅｎｃ７の略）信号Ｓ５が出力される。ここに、 ＳＳ；Ｓｌ＋Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ４ の関係がある。Ｓ ＋ Ｓ ２ ＋ Ｓ ３＋ Ｓ
４は総和信号ともいう。
また、光出力信号Ｓ と８３は、加算器３０に人力され
、対角和信号Ｓ３１として出力されるここに、 ５３１＝８１ ＋８３ の関係がある。
、対角和信号Ｓ３１として出力されるここに、 ５３１＝８１ ＋８３ の関係がある。
一方、光出力信号Ｓ２と８４は、加算器３１に入力され
、対角和信号Ｓ３２として出力される。
、対角和信号Ｓ３２として出力される。
ここに、
Ｓ ３２＝ ３２ ＋ ３４
の関係がある。
総和信号Ｓ５は、復調ブロック６によって復調され音声
・映像等の情報信号として出力される。゛ここで、光学
式ディスクＤ上の情報記録ピットおよびレーザ光のスポ
ットの位置関係と、４分割フォトディテクタ１４の各受
光面の光強度分布との関係を模式的に示したものが第１
１図である。
・映像等の情報信号として出力される。゛ここで、光学
式ディスクＤ上の情報記録ピットおよびレーザ光のスポ
ットの位置関係と、４分割フォトディテクタ１４の各受
光面の光強度分布との関係を模式的に示したものが第１
１図である。
図上、円形で示すレーザ光のスポットが図上矢印方向に
走査すると、情報記録ピットによる回折の影響が４分割
フォトディテクタ１４の各受光面４１〜４４に時間差を
もって現れる。すなわち、レーザ光スポットが■の状態
では、受光面４１〜４４には均等に反射光が当たってい
る。■の状態では、受光面４４が先にピットの回折の影
響を受ける。■の状態では、受光面４３．４４ともにピ
ットの回折の影響を受ける。■の状態では、受光面４３
かピットの回折の影響を受ける。このため、対角和信号
Ｓ ＝Ｓ ＋Ｓ３と、５３２＝Ｓ２＋８４の波形は、第
１２図に示すように位相の差を生じる。第１２図（Ａ）
はＳ３、の位相が進む場合を、又第１２図（Ｂ）はＳ３
２の位相が進む場合を示している。いずれの位相が進む
かはレーザ光のスポットがトラックに対してどちらの方
向にずれるのかによって決まる。そして、この位相差の
量がトラッキングのずれ量に対応し、位相差が「進み」
であるか「遅れ」であるかがトラッキングのずれの方向
に対応している。
走査すると、情報記録ピットによる回折の影響が４分割
フォトディテクタ１４の各受光面４１〜４４に時間差を
もって現れる。すなわち、レーザ光スポットが■の状態
では、受光面４１〜４４には均等に反射光が当たってい
る。■の状態では、受光面４４が先にピットの回折の影
響を受ける。■の状態では、受光面４３．４４ともにピ
ットの回折の影響を受ける。■の状態では、受光面４３
かピットの回折の影響を受ける。このため、対角和信号
Ｓ ＝Ｓ ＋Ｓ３と、５３２＝Ｓ２＋８４の波形は、第
１２図に示すように位相の差を生じる。第１２図（Ａ）
はＳ３、の位相が進む場合を、又第１２図（Ｂ）はＳ３
２の位相が進む場合を示している。いずれの位相が進む
かはレーザ光のスポットがトラックに対してどちらの方
向にずれるのかによって決まる。そして、この位相差の
量がトラッキングのずれ量に対応し、位相差が「進み」
であるか「遅れ」であるかがトラッキングのずれの方向
に対応している。
したがって、対角和信号Ｓ３１と８３２の位相ずれの極
性（±）と量がわかれば、その極性と逆の方向に同量修
正することによりトラッキング制御を行うことができる
。この方式のトラッキング制御を「時間差法」と呼ぶ。
性（±）と量がわかれば、その極性と逆の方向に同量修
正することによりトラッキング制御を行うことができる
。この方式のトラッキング制御を「時間差法」と呼ぶ。
時間差法では、対角和信号Ｓ３１と８３２をリミッタ、
コンパレータ等を用いた波形整形回路２３．２４にそれ
ぞれ入力してパルス信号Ｓ 、Ｓ を生成し、さらにこ
のパルス信号の反転パルス信号ｓ 、ｓ を生成する（
第１２図）。これらの信号８３３〜ｓ３６は位相比較器
２５に入力される。位相比較器２５は、第１３図に示す
ように、４つのＤ形フリップフロップ回路２５１．２５
２．２５３．２５４と、加算器２５５および２５６と、
差動増幅器２５７とを備えている。パルス信号ｓ Ｓｓ
と反転パルス信号Ｓ １Ｓ は、Ｄ形フリップフロッ
プ回路２５１〜２５４のクロック入力ｃＫ及びクリアパ
ルス人力ＣＬに供給される。そしてそのＱ出力信号Ｓ３
７、Ｓ３８、３９、Ｓ４０は第１２図に示すように、パ
ルス信号と反転パルス信号の両エツジで検出したパルス
信号となり、これらは、位相の進み又は遅れの方向とず
れ量に対応している。これらを加算器２５５．２５６に
より加算し、その出力を差動増幅器２５７に入力すると
第１２図に示すような位相差信号Ｓ４３として出力され
る。
コンパレータ等を用いた波形整形回路２３．２４にそれ
ぞれ入力してパルス信号Ｓ 、Ｓ を生成し、さらにこ
のパルス信号の反転パルス信号ｓ 、ｓ を生成する（
第１２図）。これらの信号８３３〜ｓ３６は位相比較器
２５に入力される。位相比較器２５は、第１３図に示す
ように、４つのＤ形フリップフロップ回路２５１．２５
２．２５３．２５４と、加算器２５５および２５６と、
差動増幅器２５７とを備えている。パルス信号ｓ Ｓｓ
と反転パルス信号Ｓ １Ｓ は、Ｄ形フリップフロッ
プ回路２５１〜２５４のクロック入力ｃＫ及びクリアパ
ルス人力ＣＬに供給される。そしてそのＱ出力信号Ｓ３
７、Ｓ３８、３９、Ｓ４０は第１２図に示すように、パ
ルス信号と反転パルス信号の両エツジで検出したパルス
信号となり、これらは、位相の進み又は遅れの方向とず
れ量に対応している。これらを加算器２５５．２５６に
より加算し、その出力を差動増幅器２５７に入力すると
第１２図に示すような位相差信号Ｓ４３として出力され
る。
この位相差信号Ｓ４３は、増幅器２８に入力され、所定
のレベル値まで増幅された後、信号Ｓ４４として出力さ
れる。信号Ｓ４４は、イコライザアンプ２９に入力され
る。そしてその出方信号ｓ４５がトラッキング制御信号
としてトラッキングコイル１６に入力され、レーザ光の
トラッキング制御を行う。
のレベル値まで増幅された後、信号Ｓ４４として出力さ
れる。信号Ｓ４４は、イコライザアンプ２９に入力され
る。そしてその出方信号ｓ４５がトラッキング制御信号
としてトラッキングコイル１６に入力され、レーザ光の
トラッキング制御を行う。
しかし、上記従来の光学式情報読取り装置においては、
４分割フォトディテクタの対角方向の出力信号の和信号
どうしの位相差を検出する方式のため、光学式ディスク
の表面に傷または汚れがあった場合に、トラックはずれ
を引き起こすという問題点があった。
４分割フォトディテクタの対角方向の出力信号の和信号
どうしの位相差を検出する方式のため、光学式ディスク
の表面に傷または汚れがあった場合に、トラックはずれ
を引き起こすという問題点があった。
すなわち、レーザ光が光学式ディスク表面の傷または汚
れの部分を通過するとき、４分割フォトディテクタ上で
は、傷または汚れによって光量の一部または全部が減少
するものと考えられる。上記従来のトラッキングサーボ
の場合は、対角和信号Ｓ ＋Ｓ およびＳ ＋Ｓ４
の信号の位相差を検出し、これをトラッキング制御信号
として使用する。ところか、最適トラッキング時にディ
スク表面の傷の部分を通過し、第１４図のハツチ部分に
示すように片側半分の光量が減少した場合には、対角和
信号Ｓ ＋Ｓ とｓ ＋ｓ４の位相差は０とならず
差が生じるため、トラッキングエラーを発生する。した
がって、レーザ光とトラックとの間にずれかないにもか
かわらず、見かけ上のトラックずれ信号が出力され、ト
ラックはずれを引き起すことになる。
れの部分を通過するとき、４分割フォトディテクタ上で
は、傷または汚れによって光量の一部または全部が減少
するものと考えられる。上記従来のトラッキングサーボ
の場合は、対角和信号Ｓ ＋Ｓ およびＳ ＋Ｓ４
の信号の位相差を検出し、これをトラッキング制御信号
として使用する。ところか、最適トラッキング時にディ
スク表面の傷の部分を通過し、第１４図のハツチ部分に
示すように片側半分の光量が減少した場合には、対角和
信号Ｓ ＋Ｓ とｓ ＋ｓ４の位相差は０とならず
差が生じるため、トラッキングエラーを発生する。した
がって、レーザ光とトラックとの間にずれかないにもか
かわらず、見かけ上のトラックずれ信号が出力され、ト
ラックはずれを引き起すことになる。
本発明の目的は、光学式ディスク表面に傷や汚れ等が存
在してもトラッキング制御信号を正確に検出しうるトラ
ッキングサーボ部を有する光学式情報読取り装置を提供
することにある 〔課題を解決するための手段〕 上記課題を解決するために、本発明の光学式情報読取り
装置は、第１図に示すように、光ビーム照射手段Ｒと、
光検出手段Ｐと、トラッキング制御手段ＴＲを備えて構
成する。光検出手段Ｐは４分割受光面を有している。ま
た。トラッキング制御手段Ｔ は、加算器Ａ 及びＡ２
と、第１の位相比較器Ｃと、第２の位相比較器Ｃ２とア
クチュエータＡｃＴとを含んでいる。
在してもトラッキング制御信号を正確に検出しうるトラ
ッキングサーボ部を有する光学式情報読取り装置を提供
することにある 〔課題を解決するための手段〕 上記課題を解決するために、本発明の光学式情報読取り
装置は、第１図に示すように、光ビーム照射手段Ｒと、
光検出手段Ｐと、トラッキング制御手段ＴＲを備えて構
成する。光検出手段Ｐは４分割受光面を有している。ま
た。トラッキング制御手段Ｔ は、加算器Ａ 及びＡ２
と、第１の位相比較器Ｃと、第２の位相比較器Ｃ２とア
クチュエータＡｃＴとを含んでいる。
上記構成を有する本発明によれば、第１図に示すように
、光ビーム照射手段Ｒは、情報記録媒体Ｍの情報記録面
上の信号トラックに光ビームＢを照射する。この光ビー
ムＢは情報記録面で反射され反射光ビームとして光検出
手段Ｐに入射する。
、光ビーム照射手段Ｒは、情報記録媒体Ｍの情報記録面
上の信号トラックに光ビームＢを照射する。この光ビー
ムＢは情報記録面で反射され反射光ビームとして光検出
手段Ｐに入射する。
光検出手段Ｐは、この反射光ビームを光電変換して電気
信号を出力する。
信号を出力する。
トラッキング制御手段ＴＲ内の加算器Ａ１は光検出手段
Ｐの４分割受光面から出力される電気信号の総和信号Ｓ
Ｔを抽出し、第１の位相比較器Ｃと第２の位相比較器Ｃ
２に出力する。
Ｐの４分割受光面から出力される電気信号の総和信号Ｓ
Ｔを抽出し、第１の位相比較器Ｃと第２の位相比較器Ｃ
２に出力する。
第１の位相比較器Ｃ１は、光検出手段Ｐの４分割受光面
の対角位置にある一対の受光面のうちいずれか一方の受
光面から出力される第１の電気信号Ｓ と総和信号ＳＴ
との位相を比較して第１の位相比較結果信号Ｓ。１とし
て加算器Ａ２に出力する。
の対角位置にある一対の受光面のうちいずれか一方の受
光面から出力される第１の電気信号Ｓ と総和信号ＳＴ
との位相を比較して第１の位相比較結果信号Ｓ。１とし
て加算器Ａ２に出力する。
第２の位相比較器Ｃ２は、光検出手段Ｐの４分割受光面
の対角位置にある一対の受光面のうちの他方の受光面か
ら出力される第２の電気信号ＳＩ［と総和信号Ｓ１との
位相を比較して第２の位相比較結果信号ＳＣｎとして加
算器Ａ２に出力する。加算器Ａ２は、第１の位相比較結
果信号Ｓ。１と第２の位相比較結果信号ＳＣＩ＋とを加
算してトラッキング制御信号ＳＴＲ，！ニジてアクチュ
エータＡ。、に出力する。アクチュエータＡｃＴは、ト
ラッキング制御信号８１Ｒにより、光ビームＢを信号ト
ラックに正確に追随せしめるように、光ビーム照射手段
Ｒの位置を移動し修正する。
の対角位置にある一対の受光面のうちの他方の受光面か
ら出力される第２の電気信号ＳＩ［と総和信号Ｓ１との
位相を比較して第２の位相比較結果信号ＳＣｎとして加
算器Ａ２に出力する。加算器Ａ２は、第１の位相比較結
果信号Ｓ。１と第２の位相比較結果信号ＳＣＩ＋とを加
算してトラッキング制御信号ＳＴＲ，！ニジてアクチュ
エータＡ。、に出力する。アクチュエータＡｃＴは、ト
ラッキング制御信号８１Ｒにより、光ビームＢを信号ト
ラックに正確に追随せしめるように、光ビーム照射手段
Ｒの位置を移動し修正する。
第２図に、本発明の実施例である光学式情報読取り装置
１００を示す。
１００を示す。
第２図は、光学式ピックアップ部１とトラッキングサー
ボ部２と復調ブロック６について示している。
ボ部２と復調ブロック６について示している。
光学式ピックアップ部１は、レーザダイオードなどの光
発生器１１と、レーザ光の光軸上に、ハーフミラ−１２
と、対物レンズ１３と、４つの受光面４１〜４４を有す
るフォトダイオード等の４分割フォトディテクタ１４と
、加算器１５と、トラッキングコイル１６とを備えてい
る。
発生器１１と、レーザ光の光軸上に、ハーフミラ−１２
と、対物レンズ１３と、４つの受光面４１〜４４を有す
るフォトダイオード等の４分割フォトディテクタ１４と
、加算器１５と、トラッキングコイル１６とを備えてい
る。
またトラッキングサーボ部２は、増幅器２１及び２２と
、波形整形回路２３及び２４と、位相比較器２５及び２
６と、加算器２７と、増幅器２８と、イコライザアンプ
２９とを備えている。
、波形整形回路２３及び２４と、位相比較器２５及び２
６と、加算器２７と、増幅器２８と、イコライザアンプ
２９とを備えている。
また、復調ブロック６は、リミッタ６１と遅延回路６２
と、乗算器６３と、検波フィルタ６４とを含んでいる。
と、乗算器６３と、検波フィルタ６４とを含んでいる。
ここに、レーザダイオード１１と対物レンズ１３は光ビ
ーム照射手段を構成している。また、ハーフミラ−１２
と４分割フォトディテクタ１４は光検出手段を構成して
いる。そして、加算器１５とリミッタ６１とトラッキン
グサーボ部２とトラッキングコイル１６はトラッキング
制御手段を構成している。
ーム照射手段を構成している。また、ハーフミラ−１２
と４分割フォトディテクタ１４は光検出手段を構成して
いる。そして、加算器１５とリミッタ６１とトラッキン
グサーボ部２とトラッキングコイル１６はトラッキング
制御手段を構成している。
また、位相比較器２５は第１の位相比較器を構成し、位
相比較器２６は第２の位相比較器を構成している。
相比較器２６は第２の位相比較器を構成している。
次に第２図を用いて、本発明の光学式情報読取り装置の
動作を説明する。
動作を説明する。
レーザ光発生器１１より発せられたレーザ光りは、ハー
フミラ−１２を通過する。そして、対物レンズ１３によ
り光学式ディスクＤ上の情報記録ピットに集光される。
フミラ−１２を通過する。そして、対物レンズ１３によ
り光学式ディスクＤ上の情報記録ピットに集光される。
レーザ光りは光学式ディスクＤの記録面で反射される。
この反射光は、再び対物レンズ１３を通過する。反射光
は、今度はハーフミラ−１２により光路を変えられ、４
分割フォトディテクタ１４の受光面４１．４２．４３．
４４上に照射され光電変換される。ここで、４分割フォ
トディテクタ１４の受光面４１．４２．４３．４４の光
量に対応する光電変換出力信号を光出力信号ｓ 、ｓ
、ｓ 、ｓ４とする。先出力信号Ｓ １Ｓ Ｓ
１Ｓ４は加算器１５に入１ ２ ゝ ３ 力されＲＦ （ＲＦ ： Ｒａｄｉｏ Ｆｒｅｑａｅａ
ｃ７の略）信号Ｓ５が出力される。ここに、 Ｓ ｓ ＝Ｓ １＋ Ｓ ２ ＋Ｓ ３ ＋ Ｓ ４の
関係がある。Ｓ ＋Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ４を総和信号ともい
う。
は、今度はハーフミラ−１２により光路を変えられ、４
分割フォトディテクタ１４の受光面４１．４２．４３．
４４上に照射され光電変換される。ここで、４分割フォ
トディテクタ１４の受光面４１．４２．４３．４４の光
量に対応する光電変換出力信号を光出力信号ｓ 、ｓ
、ｓ 、ｓ４とする。先出力信号Ｓ １Ｓ Ｓ
１Ｓ４は加算器１５に入１ ２ ゝ ３ 力されＲＦ （ＲＦ ： Ｒａｄｉｏ Ｆｒｅｑａｅａ
ｃ７の略）信号Ｓ５が出力される。ここに、 Ｓ ｓ ＝Ｓ １＋ Ｓ ２ ＋Ｓ ３ ＋ Ｓ ４の
関係がある。Ｓ ＋Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ４を総和信号ともい
う。
光出力信号Ｓ１は、増幅器２１に入力され、所定のレベ
ル値まで増幅され、増幅信号Ｓ８としてリミッタ、フン
パレータ等を用いた波形整形回路２３に出力される。波
形整形回路２３は、増幅信号Ｓ を正・反転パルス信号
Ｓ およびＳ１１として位相比較器２５の入力端に出力
する。
ル値まで増幅され、増幅信号Ｓ８としてリミッタ、フン
パレータ等を用いた波形整形回路２３に出力される。波
形整形回路２３は、増幅信号Ｓ を正・反転パルス信号
Ｓ およびＳ１１として位相比較器２５の入力端に出力
する。
一方、総和信号Ｓ５は、復調ブロック６によって復調さ
れ、音声・映像等の情報信号として出力される。総和信
号Ｓ５は、まず波形整形回路６１に入力され、正・反転
パルス信号Ｓ６及びＳ７として出力される。この正・反
転パルス信号Ｓ６及びＳ７が同じく位相比較器２５に入
力される。位相比較器２５は、総和信号Ｓ５と光出力信
号Ｓ１との位相差を表す位相差信号Ｓ２ｏを出力する。
れ、音声・映像等の情報信号として出力される。総和信
号Ｓ５は、まず波形整形回路６１に入力され、正・反転
パルス信号Ｓ６及びＳ７として出力される。この正・反
転パルス信号Ｓ６及びＳ７が同じく位相比較器２５に入
力される。位相比較器２５は、総和信号Ｓ５と光出力信
号Ｓ１との位相差を表す位相差信号Ｓ２ｏを出力する。
また、光出力信号Ｓ３は、増幅器２２に入力され、所定
のレベル値まで増幅され、増幅信号Ｓ９として波形整形
回路２４に出力される。波形整形回路２４は、増幅信号
Ｓ９を正・反転パルス信号Ｓ１２及びＳ１３として位相
比較器２６に出方する。
のレベル値まで増幅され、増幅信号Ｓ９として波形整形
回路２４に出力される。波形整形回路２４は、増幅信号
Ｓ９を正・反転パルス信号Ｓ１２及びＳ１３として位相
比較器２６に出方する。
一方、復調ブロック６からは、正・反転パルス信号Ｓ６
及びＳ７が同じく位相比較器２６に入力される。位相比
較器２６は、総和信号Ｓ５と光出力信号Ｓ３との位相差
を表す位相差信号ｓ２□を出力する。
及びＳ７が同じく位相比較器２６に入力される。位相比
較器２６は、総和信号Ｓ５と光出力信号Ｓ３との位相差
を表す位相差信号ｓ２□を出力する。
位相差信号Ｓ２Ｑ及びＳ２７は、加算器２７に入力され
、和信号Ｓ２８として増幅器２８に出方される。
、和信号Ｓ２８として増幅器２８に出方される。
この和信号Ｓ２８は、増幅器２８により所定のレベル値
まで増幅された後、増幅信号ｓ２９としてイコライザア
ンプ２９に出力される。この増幅信号Ｓ２９は、イコラ
イザアンプ２９によりイコライズされた後、トラッキン
グ制御信号ｓ３０として出方される。トラッキング制御
信号ｓ３０は、トラッキングコイル１６に入力され、レ
ーザ光のトラッキング制御を行う。位相差信、号Ｓ２ａ
及びｓ２□と、トラッキング制御信号Ｓ３０を第８図に
示す。
まで増幅された後、増幅信号ｓ２９としてイコライザア
ンプ２９に出力される。この増幅信号Ｓ２９は、イコラ
イザアンプ２９によりイコライズされた後、トラッキン
グ制御信号ｓ３０として出方される。トラッキング制御
信号ｓ３０は、トラッキングコイル１６に入力され、レ
ーザ光のトラッキング制御を行う。位相差信、号Ｓ２ａ
及びｓ２□と、トラッキング制御信号Ｓ３０を第８図に
示す。
策３図に、位相比較器２５及び２６の例を示すす。
第１の位相比較器２５は、４つのＤ形フリップフロップ
回路２５１．２５２．２５３．２５４と、加算器２５５
及び２５６と、差動増幅器２５７とを備えている。また
、第２の位相比較器２６は、４つのＤ形フリップフロッ
プ回路２６１．２６２．２６３．２６４と、加算器２６
５及び２６６と、差動増幅器２６７とを備えている。パ
ルス信号Ｓ６、Ｓ と反転パルス信号ｓ 、ｓ は
、Ｄ形フリップフロップ回路２５１〜２５４のクロック
入力Ｃ及びクリアパルス入力ＣＬに供給される。
回路２５１．２５２．２５３．２５４と、加算器２５５
及び２５６と、差動増幅器２５７とを備えている。また
、第２の位相比較器２６は、４つのＤ形フリップフロッ
プ回路２６１．２６２．２６３．２６４と、加算器２６
５及び２６６と、差動増幅器２６７とを備えている。パ
ルス信号Ｓ６、Ｓ と反転パルス信号ｓ 、ｓ は
、Ｄ形フリップフロップ回路２５１〜２５４のクロック
入力Ｃ及びクリアパルス入力ＣＬに供給される。
に
そしてＱ出力信号ｓ、ｓ、ｓｓ は、加＋４ １５
１６１１７ 算器２５５．２５６により加算される。その出力Ｓ１８
及びＳ１９は差動増幅器２５７に入力され、位相差信号
Ｓ として出力される。パルス信号＄６、Ｓ と反転パ
ルス信号Ｓ １８ は、Ｄ形フリップフロツプ回路２６
１〜２６４のクロック入力ＣＫ及びクリアパルス入力Ｃ
Ｌに供給される。そ２１２２・ ２３・８２４′よ・加
算 してＱ出力信号Ｓ、ＳＳ 器２６５．２６６により加算される。その出力Ｓ２５及
びＳ２６は差動増幅器２６７に入力され、位相差信号Ｓ
２７として出力される。
１６１１７ 算器２５５．２５６により加算される。その出力Ｓ１８
及びＳ１９は差動増幅器２５７に入力され、位相差信号
Ｓ として出力される。パルス信号＄６、Ｓ と反転パ
ルス信号Ｓ １８ は、Ｄ形フリップフロツプ回路２６
１〜２６４のクロック入力ＣＫ及びクリアパルス入力Ｃ
Ｌに供給される。そ２１２２・ ２３・８２４′よ・加
算 してＱ出力信号Ｓ、ＳＳ 器２６５．２６６により加算される。その出力Ｓ２５及
びＳ２６は差動増幅器２６７に入力され、位相差信号Ｓ
２７として出力される。
次に、本発明の作用について、さらに詳細に説明する。
４分割フォトディテクタ１４上の光強度変調は、光学式
ディスクＤの情報記録ピットによって回折された回折光
の重ね合わせによって引き起こされるとみることができ
る。そこで、ピットにょる０次回折光と１次回折光の位
相差を表すパラメータを、 ψ＝ビット構成による０次回折光と１次回折光の位相差 ΔＴｏ＝トラックずれにょる０次回折光と１次回折光の
位相差 ωｔ＝タンジエンシャル方向への移動にょる０次回折光
と１回折光の位相差 （ココに、ωはＲＦ倍信号各周波数、ｔは時間を示す。
ディスクＤの情報記録ピットによって回折された回折光
の重ね合わせによって引き起こされるとみることができ
る。そこで、ピットにょる０次回折光と１次回折光の位
相差を表すパラメータを、 ψ＝ビット構成による０次回折光と１次回折光の位相差 ΔＴｏ＝トラックずれにょる０次回折光と１次回折光の
位相差 ωｔ＝タンジエンシャル方向への移動にょる０次回折光
と１回折光の位相差 （ココに、ωはＲＦ倍信号各周波数、ｔは時間を示す。
）
とする。ΔＴｏは１トラツクずれるごとに０〜２πまで
変化し、ωｔは１つのピットを越えるごとにＯ〜２πま
で変化する。フォーカシングサーボが作動中は、４分割
フォトディテクター４上では０次回折光と１次回折光が
重なり、各受光面４１〜４４の光出力信号Ｓ −８４の
値は以下に示すようになる。
変化し、ωｔは１つのピットを越えるごとにＯ〜２πま
で変化する。フォーカシングサーボが作動中は、４分割
フォトディテクター４上では０次回折光と１次回折光が
重なり、各受光面４１〜４４の光出力信号Ｓ −８４の
値は以下に示すようになる。
Ｓ ＝Ｃｃｏｓωｔ ＋ Ｃ２ｃ ｏ ｓ （ωｔ＋ψ
）十Ｃ３ＣＯ８（ωを一ψ） ＋Ｃ４ｃｏｓ （ωｔ＋
ΔＴＯ＋ψ）・・・■Ｓ ＝Ｃｃｏｓωｔ＋Ｃ２Ｃ０５
（ωを一ψ）十Ｃ３ＣＯ８（ωｔ＋ψ）＋Ｃ４ｃｏｓ
（ωｔ−ΔＴｏ−ψ）・・・■５＝ＣｃＯ８ωｔ＋Ｃ２
Ｃ０８（ωを一ψ）＋Ｃ３ｃｏｓ （ωｔ＋ψ）十Ｃ４
Ｃ０８（ωｔ＋ΔＴｏ−ψ）・・・■Ｓ ＝Ｃｃｏｓω
ｔ＋Ｃ２Ｃ０５（ωｔ＋ψ）＋Ｃ３ＣＯ８（ωｔ−ψ）
十Ｃ４Ｃ０５（ωｔ−ΔＴｏ＋ψ）・・・■ここで、ｃ
、ｃ 、ｃ 、Ｃ４はピットの構造またはピッ
クアップの光学系によって定まる定数である。
）十Ｃ３ＣＯ８（ωを一ψ） ＋Ｃ４ｃｏｓ （ωｔ＋
ΔＴＯ＋ψ）・・・■Ｓ ＝Ｃｃｏｓωｔ＋Ｃ２Ｃ０５
（ωを一ψ）十Ｃ３ＣＯ８（ωｔ＋ψ）＋Ｃ４ｃｏｓ
（ωｔ−ΔＴｏ−ψ）・・・■５＝ＣｃＯ８ωｔ＋Ｃ２
Ｃ０８（ωを一ψ）＋Ｃ３ｃｏｓ （ωｔ＋ψ）十Ｃ４
Ｃ０８（ωｔ＋ΔＴｏ−ψ）・・・■Ｓ ＝Ｃｃｏｓω
ｔ＋Ｃ２Ｃ０５（ωｔ＋ψ）＋Ｃ３ＣＯ８（ωｔ−ψ）
十Ｃ４Ｃ０５（ωｔ−ΔＴｏ＋ψ）・・・■ここで、ｃ
、ｃ 、ｃ 、Ｃ４はピットの構造またはピッ
クアップの光学系によって定まる定数である。
また、最適トラッキングΔＴｏ＝０であるから、式■〜
■は以下のようになる。
■は以下のようになる。
Ｓ ＝Ｃｃｏｓωｔ＋（Ｃ２＋０４）ｃｏＳ（ωｔ＋ψ
）十Ｃ３ＣＯ５（ωｔ−φ）１９．■ Ｓ ＝Ｃｃｏｓωｔ＋（Ｃ２＋ｃ４）ＣｏＳ（ωｔ−ψ
）十〇３０Ｏ８（ωｔ＋ψ）
・・■Ｓ ＝Ｃｃｏｓωｔ＋（Ｃ２＋Ｃ４）ｃ
ｏｓ （ωｔ−ψ）十Ｃ３ＣＯ３（ωｔ＋ψ）
・・・■ｓ ＝Ｃｃｏｓωｔ＋（Ｃ２
＋Ｃ４）ｃｏｓ （ｃｖｔ＋ψ）十Ｃ３ＣＯ８（ωｔ−
ψ） ・・・■本発明では、４分
割フォトディテクター４の総和信号Ｓ 十Ｓ２＋Ｓ３＋
Ｓ４と任意の一つの光出力信号Ｓ１の位相差を検出し、
これに総和信号Ｓ１＋Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ４とＳｌと対角線
位置にある光出力信号Ｓ３の位相差を加算した結果をト
ラッキング制御信号とすることによってディスク表面の
傷または汚れによるトラッキング制御信号の乱れを低減
することを可能にした。これをさらにベクトル表示図を
用いて詳細に説明する。
）十Ｃ３ＣＯ５（ωｔ−φ）１９．■ Ｓ ＝Ｃｃｏｓωｔ＋（Ｃ２＋ｃ４）ＣｏＳ（ωｔ−ψ
）十〇３０Ｏ８（ωｔ＋ψ）
・・■Ｓ ＝Ｃｃｏｓωｔ＋（Ｃ２＋Ｃ４）ｃ
ｏｓ （ωｔ−ψ）十Ｃ３ＣＯ３（ωｔ＋ψ）
・・・■ｓ ＝Ｃｃｏｓωｔ＋（Ｃ２
＋Ｃ４）ｃｏｓ （ｃｖｔ＋ψ）十Ｃ３ＣＯ８（ωｔ−
ψ） ・・・■本発明では、４分
割フォトディテクター４の総和信号Ｓ 十Ｓ２＋Ｓ３＋
Ｓ４と任意の一つの光出力信号Ｓ１の位相差を検出し、
これに総和信号Ｓ１＋Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ４とＳｌと対角線
位置にある光出力信号Ｓ３の位相差を加算した結果をト
ラッキング制御信号とすることによってディスク表面の
傷または汚れによるトラッキング制御信号の乱れを低減
することを可能にした。これをさらにベクトル表示図を
用いて詳細に説明する。
ディスク表面に傷や汚れがなく最適トラッキング状態に
ある時、４分割フォトディテクタ出力信号ｓ、ｓｓｓ
をそれぞれ総和信号と１ ２ゝ ３ゝ ４ 位相比較すると、第４図のベクトル図（Ｉ）〜（ｒＶ）
のようになる。ここに、第４図（Ｉ）は光出力信号Ｓ１
を、第４図（■）は光出力信号Ｓ を、第４図（Ｉ［）
は光出力信号Ｓ３を、第４図（ＩＶ）は光出力信号Ｓ４
を示している。８１〜Ｓ４各々において３つのベクトル
和のなす角度が位相差となる。ここで各々のベクトルは
、式■〜■の各項に対応しており、第４図の０１〜Ｃ４
はベクトルの大きさを表している。最適トラッキング状
態では、ｓ ＋ｓ とＳ２＋Ｓ４の各々の３つのベ
クトルの合計はＳ と＄３の各々の合成ベクトルと８２
と８４の各々の合成ベクトルに対して対称であることよ
り０度方向になる。ところが、ディスク表面の傷または
汚れの上をトレースし４分割フォトディテクタ上に光量
変化が発生し、第１４図のようにＳ と８２の光量が減
少した場合は、第５図の（Ａ）と（Ｂ）に示すように８
１とＳ２それぞれ０度方向を示さなくなり、これが最適
トラッキング状態であるにも関わらずトラ・ｙキングエ
ラーを発生させる原因となる。
ある時、４分割フォトディテクタ出力信号ｓ、ｓｓｓ
をそれぞれ総和信号と１ ２ゝ ３ゝ ４ 位相比較すると、第４図のベクトル図（Ｉ）〜（ｒＶ）
のようになる。ここに、第４図（Ｉ）は光出力信号Ｓ１
を、第４図（■）は光出力信号Ｓ を、第４図（Ｉ［）
は光出力信号Ｓ３を、第４図（ＩＶ）は光出力信号Ｓ４
を示している。８１〜Ｓ４各々において３つのベクトル
和のなす角度が位相差となる。ここで各々のベクトルは
、式■〜■の各項に対応しており、第４図の０１〜Ｃ４
はベクトルの大きさを表している。最適トラッキング状
態では、ｓ ＋ｓ とＳ２＋Ｓ４の各々の３つのベ
クトルの合計はＳ と＄３の各々の合成ベクトルと８２
と８４の各々の合成ベクトルに対して対称であることよ
り０度方向になる。ところが、ディスク表面の傷または
汚れの上をトレースし４分割フォトディテクタ上に光量
変化が発生し、第１４図のようにＳ と８２の光量が減
少した場合は、第５図の（Ａ）と（Ｂ）に示すように８
１とＳ２それぞれ０度方向を示さなくなり、これが最適
トラッキング状態であるにも関わらずトラ・ｙキングエ
ラーを発生させる原因となる。
一方、４分割フォトディテクター４の総和信号Ｓ ＋Ｓ
２＋Ｓ３＋Ｓ４はラジアル方向（ディスり半径方向）に
関する位相情報を持っていない為、ディスク表面の傷ま
たは汚れの部分を通過しフォトディテクタ上で第１４図
にように光量か減少した場合でも０度方向を指したまま
である。また、Ｓ の３つのベクトルの合成ベクトルと
８３の３つの合成ベクトルは各々第１４図のような光量
変化によって大きさは変化するが同一方向を示す。
２＋Ｓ３＋Ｓ４はラジアル方向（ディスり半径方向）に
関する位相情報を持っていない為、ディスク表面の傷ま
たは汚れの部分を通過しフォトディテクタ上で第１４図
にように光量か減少した場合でも０度方向を指したまま
である。また、Ｓ の３つのベクトルの合成ベクトルと
８３の３つの合成ベクトルは各々第１４図のような光量
変化によって大きさは変化するが同一方向を示す。
従ってディスク表面の傷または汚れによってフォトディ
テクタ上の光量が第１４図のように変化しても、最適ト
ラッキング状態では総和信号と８１の位相比較結果と、
総和信号と８３の位相比較結果を加算した結果は０とな
る。
テクタ上の光量が第１４図のように変化しても、最適ト
ラッキング状態では総和信号と８１の位相比較結果と、
総和信号と８３の位相比較結果を加算した結果は０とな
る。
次に総和信号と８１の位相結果を総和信号と８３の位相
比較結果を加算した結果がトラックずれ量を示すことを
第６図に基づいて説明する。
比較結果を加算した結果がトラックずれ量を示すことを
第６図に基づいて説明する。
第５図の（Ａ）と（Ｂ）はトラックずれがある場合の８
１と８３の信号変化を各々ベクトル図で示したものであ
る。すなわち、第６図（Ａ）は光出力ＳＩを示し、第６
図（Ｂ）は光出力Ｓ３を示している。また、第７図の（
Ａ）と（Ｂ）は第６図の（Ａ）と（Ｂ）において各々ベ
クトル加算し合成ベクトルを求めたものを示す。トラッ
クずれの増加とともに第６図の（Ａ）と（Ｂ）の中のΔ
Ｔｏで示した角度が増加する。この時Ｓ１．と総和信号
Ｓ ＋Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ４の位相比較の結果は第７図に（
Ａ）に示した４つのベクトルの合成ベクトルのなす角度
として示される。ここで、ベクトルＣ４はトラックずれ
の増加と共にそれぞれ正または負の方向に回転する。ト
ラックずれがＯの場合Ｓ とＳ３の合成ベクトルＣ４は
０度に対して対称になり、トラッキング制御信号もまた
０になる。トラックずれが発生しΔＴｏとが正の方向に
増加した場合、Ｓ 及びＳ２の合成ペクトルのなす角度
は共に減少する。従って８１のなす角度の大きさとＳ２
のなす角度の大きさを加算した結果は、トラックずれの
量に見合った量となる。すなわち、総和信号Ｓ１＋Ｓ２
＋Ｓ３＋Ｓ４とＳｌの位相比較結果と総和信号Ｓ１＋８
２＋Ｓ３＋８４と８３の位相比較結果を加算した結果は
トラックずれ量を示すことになる。
１と８３の信号変化を各々ベクトル図で示したものであ
る。すなわち、第６図（Ａ）は光出力ＳＩを示し、第６
図（Ｂ）は光出力Ｓ３を示している。また、第７図の（
Ａ）と（Ｂ）は第６図の（Ａ）と（Ｂ）において各々ベ
クトル加算し合成ベクトルを求めたものを示す。トラッ
クずれの増加とともに第６図の（Ａ）と（Ｂ）の中のΔ
Ｔｏで示した角度が増加する。この時Ｓ１．と総和信号
Ｓ ＋Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ４の位相比較の結果は第７図に（
Ａ）に示した４つのベクトルの合成ベクトルのなす角度
として示される。ここで、ベクトルＣ４はトラックずれ
の増加と共にそれぞれ正または負の方向に回転する。ト
ラックずれがＯの場合Ｓ とＳ３の合成ベクトルＣ４は
０度に対して対称になり、トラッキング制御信号もまた
０になる。トラックずれが発生しΔＴｏとが正の方向に
増加した場合、Ｓ 及びＳ２の合成ペクトルのなす角度
は共に減少する。従って８１のなす角度の大きさとＳ２
のなす角度の大きさを加算した結果は、トラックずれの
量に見合った量となる。すなわち、総和信号Ｓ１＋Ｓ２
＋Ｓ３＋Ｓ４とＳｌの位相比較結果と総和信号Ｓ１＋８
２＋Ｓ３＋８４と８３の位相比較結果を加算した結果は
トラックずれ量を示すことになる。
なお、上記実施例では４分割フォトディテクタ１４の対
角位置にあるディテクタ４１及び４３の光出力信号Ｓ１
と８３を各々総和信号Ｓ、＋Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ４と位相比
較した結果を加算しトラッキング制御信号Ｓ３ｏを検出
したが、他の対角位置の光出力信号Ｓ２とＳ４を各々総
和信号ｓｌ＋Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ４と位相比較した結果を加
算しても同様のトラッキング制御信号が得られる。
角位置にあるディテクタ４１及び４３の光出力信号Ｓ１
と８３を各々総和信号Ｓ、＋Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ４と位相比
較した結果を加算しトラッキング制御信号Ｓ３ｏを検出
したが、他の対角位置の光出力信号Ｓ２とＳ４を各々総
和信号ｓｌ＋Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ４と位相比較した結果を加
算しても同様のトラッキング制御信号が得られる。
また、上記実施例において用いた総和信号ｓｌ＋ Ｓ
２ ＋ Ｓ ３＋ Ｓ ４のかわりに部分的な和信号Ｓ
ｌ＋Ｓ２またはＳ３＋ｓ４を用いても同様の効果が得ら
れる。
２ ＋ Ｓ ３＋ Ｓ ４のかわりに部分的な和信号Ｓ
ｌ＋Ｓ２またはＳ３＋ｓ４を用いても同様の効果が得ら
れる。
以上述べた通り、本発明によれば、フォトディテクタの
４分割受光面の対角位置にあるディテクタの光出力信号
を各々総和信号と位相比較した結果を加算することによ
って、トラッキング制御信号を出力することができる。
４分割受光面の対角位置にあるディテクタの光出力信号
を各々総和信号と位相比較した結果を加算することによ
って、トラッキング制御信号を出力することができる。
従って、光学式情報記録ディスク表面に傷または汚れが
あった場合でも、特殊な光学部品を追加することなしに
安定したトラッキング制御信号を得ることができるとい
う利点を有する。
あった場合でも、特殊な光学部品を追加することなしに
安定したトラッキング制御信号を得ることができるとい
う利点を有する。
第１図は本発明の原理説明図、
第２図は本発明の光学式情報読取り装置の実施例の構成
を示すブロック図、 第３図は本発明における第１位比較相姦及び第２位相比
較器の構成を示す図、 第４図は最適トラッキング状態での４分割フォトディテ
クタの各受光面の光出力信号を示すベクトル表示図、 第５図はレーザ光がディスク上の傷または汚れの部分を
通過したときの各対角方向の光出力信号を示すベクトル
表示図、 第６．７図は本発明の作用を示すベクトル表示図、 第８図は本発明における位相差信号及びトラッキング制
御信号を示す図、 第９図は従来の光学式情報読取り装置の概略ブロック図
、 第１０図は従来の光学式情報読取り装置の構成を示すブ
ロック図、 第１１図は情報記録ピット及びレーザ光スポットの位置
関係と４分割フォトディテクタの各受光面の光強度分布
との関係を示す模式図、第１２図は時間差法によるトラ
ッキング制御の動作を説明する信号波形図、 第１３図は従来例における位相比較器の構成を示す図、 第１４図はレーザ光が光学式ディスク上の傷または汚れ
の部分を通過した時のフォトディテクタ上での光量変化
を示す図である。 １・・・光ピツクアップ部 ２．２Ａ・・・トラッキングサーボ部 ３・・・フォーカシングサーボ部 ４・・・回転サーボ部 ５・・・スピンドルモータ ６・・・復調ブロック １１・・・光発生器 １２・・・ハーフミラ− １３・・・対物レンズ １４・・・４分割フォトディテクタ １５・・・加算器 １６・・・トラッキングコイル ２１．２２・・・・・・増幅器 ２３．２４・・・波形整形回路 ２５．２６・・・位相比較器 ２７・・・加算器 ２８・・・増幅器 ２９・・・イコライザアンプ ３０．３１・・・加算器 ４１〜４４・・・受光面 ６１・・・波形整形回路 ６２・・・遅延回路 ６３・・・乗算器 ６４・・・検波フィルタ １００．１０１・・・光学式情報読取り装置第１図 第２図 ２５１〜２５４、２６１〜２６ プフロツプ回路 ２５５．２５６．２６５．２６ ２５７．２６７・・・差動増幅器 ＡＩ、Ａ２・・・加算器 八〇Ｔ・・・アクチュエータ Ｃ１・・・第１の位相比較器 Ｃ２・・・第２の位相比較器 Ｄ・・・光学式ディスク Ｌ・・・レーザ光 Ｐ・・・光検出手段 Ｒ・・・光ビーム照射手段 ＄１〜Ｓ４５信号 ４・・・Ｄ形フリ ６・・・加算器
を示すブロック図、 第３図は本発明における第１位比較相姦及び第２位相比
較器の構成を示す図、 第４図は最適トラッキング状態での４分割フォトディテ
クタの各受光面の光出力信号を示すベクトル表示図、 第５図はレーザ光がディスク上の傷または汚れの部分を
通過したときの各対角方向の光出力信号を示すベクトル
表示図、 第６．７図は本発明の作用を示すベクトル表示図、 第８図は本発明における位相差信号及びトラッキング制
御信号を示す図、 第９図は従来の光学式情報読取り装置の概略ブロック図
、 第１０図は従来の光学式情報読取り装置の構成を示すブ
ロック図、 第１１図は情報記録ピット及びレーザ光スポットの位置
関係と４分割フォトディテクタの各受光面の光強度分布
との関係を示す模式図、第１２図は時間差法によるトラ
ッキング制御の動作を説明する信号波形図、 第１３図は従来例における位相比較器の構成を示す図、 第１４図はレーザ光が光学式ディスク上の傷または汚れ
の部分を通過した時のフォトディテクタ上での光量変化
を示す図である。 １・・・光ピツクアップ部 ２．２Ａ・・・トラッキングサーボ部 ３・・・フォーカシングサーボ部 ４・・・回転サーボ部 ５・・・スピンドルモータ ６・・・復調ブロック １１・・・光発生器 １２・・・ハーフミラ− １３・・・対物レンズ １４・・・４分割フォトディテクタ １５・・・加算器 １６・・・トラッキングコイル ２１．２２・・・・・・増幅器 ２３．２４・・・波形整形回路 ２５．２６・・・位相比較器 ２７・・・加算器 ２８・・・増幅器 ２９・・・イコライザアンプ ３０．３１・・・加算器 ４１〜４４・・・受光面 ６１・・・波形整形回路 ６２・・・遅延回路 ６３・・・乗算器 ６４・・・検波フィルタ １００．１０１・・・光学式情報読取り装置第１図 第２図 ２５１〜２５４、２６１〜２６ プフロツプ回路 ２５５．２５６．２６５．２６ ２５７．２６７・・・差動増幅器 ＡＩ、Ａ２・・・加算器 八〇Ｔ・・・アクチュエータ Ｃ１・・・第１の位相比較器 Ｃ２・・・第２の位相比較器 Ｄ・・・光学式ディスク Ｌ・・・レーザ光 Ｐ・・・光検出手段 Ｒ・・・光ビーム照射手段 ＄１〜Ｓ４５信号 ４・・・Ｄ形フリ ６・・・加算器
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 情報記録媒体の情報記録面上の信号トラックに光ビーム
を照射する光ビーム照射手段と、前記情報記録面からの
反射光ビームを光電変換して電気信号を出力する４分割
受光面を有する光検出手段と、前記電気信号に基づいて
前記光ビーム照射手段からの光ビームの前記トラック上
への照射位置を追従制御するトラッキング制御手段と、
を備えた光学式情報読取り装置において、 前記トラッキング制御手段は、前記光検出手段の４分割
受光面の対角位置にある一対の受光面のうちいずれか一
方の受光面から出力される第１の電気信号と前記４分割
受光面から出力される電気信号の総和信号との位相を比
較して第１の位相比較結果信号を出力する第１の位相比
較器と、前記対角位置にある他方の受光面から出力され
る第２の電気信号と前記総和信号との位相を比較して第
２の位相比較結果信号を出力する第２の位相比較器と、
前記第１の位相比較信号と、第２の位相比較信号とを加
算してトラッキング制御信号を出力する加算器と、 を含むことを特徴とする光学式情報読取り装置。
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