JPH04103151A - Ic実装用基板 - Google Patents
Ic実装用基板Info
- Publication number
- JPH04103151A JPH04103151A JP22198890A JP22198890A JPH04103151A JP H04103151 A JPH04103151 A JP H04103151A JP 22198890 A JP22198890 A JP 22198890A JP 22198890 A JP22198890 A JP 22198890A JP H04103151 A JPH04103151 A JP H04103151A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layers
- layer
- silicon carbide
- aluminum
- aluminum nitride
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- Granted
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- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は例えば大出力IC実装用基板、特にその放熱性
を改良し、軽量化を図るとともに、高周波特性を改良し
たIC実装用基板に間する。
を改良し、軽量化を図るとともに、高周波特性を改良し
たIC実装用基板に間する。
〈従来の技術〉
従来のこの種のIC実装用基板としては、例えばアルミ
ナ基板の表裏面にCu導体の薄板を被着したものがあっ
た。この基板は、Cu薄板をアルミナ基板に積層した後
、これを所定温度に加熱することにより、形成している
。この加熱により、Cu−0の共晶融液を生じさせ、ア
ルミナ基板(Al2O3)との反応層を形成し、Al2
O3とCuとを接合するものである。
ナ基板の表裏面にCu導体の薄板を被着したものがあっ
た。この基板は、Cu薄板をアルミナ基板に積層した後
、これを所定温度に加熱することにより、形成している
。この加熱により、Cu−0の共晶融液を生じさせ、ア
ルミナ基板(Al2O3)との反応層を形成し、Al2
O3とCuとを接合するものである。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかしながら、このような従来のCu導体を用いたIC
実装用基板にあっては、回路形成用またはベース板用の
薄板材としてCu導体を用いているため、その基板全体
として重量が大きいという課題があった。また、このC
u導体とアルミナ基板等との熱膨張率の差異が大きいた
め、熱サイクル試験においては、このアルミナ基板にひ
び割れが発生し易いという課題も生じていた。
実装用基板にあっては、回路形成用またはベース板用の
薄板材としてCu導体を用いているため、その基板全体
として重量が大きいという課題があった。また、このC
u導体とアルミナ基板等との熱膨張率の差異が大きいた
め、熱サイクル試験においては、このアルミナ基板にひ
び割れが発生し易いという課題も生じていた。
そこで、本発明は、軽量化を図り、耐熱サイクル特性に
優れるとともに、加えて高周波特性に優れたIC実装用
基板を提供することを、その目的としている。
優れるとともに、加えて高周波特性に優れたIC実装用
基板を提供することを、その目的としている。
〈課題を解決するための手段〉
本発明は、窒化アルミニウム層と、この窒化アルミニウ
ム層の両面に被着された炭化珪素層と、これらの炭化珪
素層の表面にろう材層を介して被着されたアルミニウム
層と、を有するIC実装用基板である。
ム層の両面に被着された炭化珪素層と、これらの炭化珪
素層の表面にろう材層を介して被着されたアルミニウム
層と、を有するIC実装用基板である。
く作用〉
本発明に係るIC実装用基板にあっては、Cu薄板の替
わりにアルミニウム薄板を使用しているため、基板全体
としての軽量化を図ることができた。
わりにアルミニウム薄板を使用しているため、基板全体
としての軽量化を図ることができた。
また、高熱伝導率の窒化アルミニウム基板を使用してお
り、かつ炭化珪素層を介してアルミニウム薄板をろう材
により被着しているため、加熱等に起因する応力を緩和
することができ、熱サイクル試験に対しても耐性が大き
く基板の寿命が長くなっている。炭化珪素層はアルミニ
ウム層との接合力を高めるものである。
り、かつ炭化珪素層を介してアルミニウム薄板をろう材
により被着しているため、加熱等に起因する応力を緩和
することができ、熱サイクル試験に対しても耐性が大き
く基板の寿命が長くなっている。炭化珪素層はアルミニ
ウム層との接合力を高めるものである。
さらに、この窒化アルミニウム基板によれば、その高周
波特性に優れてIC実装に好適なものとなっている。
波特性に優れてIC実装に好適なものとなっている。
〈実施例〉
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例に係るIC実装用基板を示す
ための断面図である。
ための断面図である。
この図において、11は絶縁体である窒化アルミニウム
層(AIN薄板基板あって、この窒化アルミニウム層1
1の表裏両面には炭化珪素層12A、、12Bが被着、
積層されている。
層(AIN薄板基板あって、この窒化アルミニウム層1
1の表裏両面には炭化珪素層12A、、12Bが被着、
積層されている。
これらの炭化珪素層12A、12Bの各表面にはろう材
層13A、13Bを介して回路形成用のアルミニウム層
(またはアルミニウム合金層)】4A、14Bがそれぞ
れ被着されている。このろう材としてはAl−5i系、
Al−Ge系、A1−Cu系等のろう材が使用される。
層13A、13Bを介して回路形成用のアルミニウム層
(またはアルミニウム合金層)】4A、14Bがそれぞ
れ被着されている。このろう材としてはAl−5i系、
Al−Ge系、A1−Cu系等のろう材が使用される。
更に、これらのアルミニウム層14A、14Bの各表面
には薄いNiメツキN(またはCuメ′ツキ層)15A
、15Bが被着されている。
には薄いNiメツキN(またはCuメ′ツキ層)15A
、15Bが被着されている。
以上の構成に係る薄板基板にあっては、炭化珪素層12
A、12BはAl−5i系のろう材13A、13Bとの
接合強度が強く、またアルミナよりも高い熱伝導率を有
している。
A、12BはAl−5i系のろう材13A、13Bとの
接合強度が強く、またアルミナよりも高い熱伝導率を有
している。
また、窒化アルミニウム層11はアルミナよりも高い熱
伝導率を有している。これらのAIN、SjCの各熱伝
導率は、50〜270W/mK、35〜270W/mK
であるのに対して、Al2O3のそれは15〜20W/
mKである。したがフて、変化アルミニウム基板11に
炭化珪素12A、12Bを積層して絶縁板材として用い
ることによって、高放熱性および高接合力が得られるこ
ととなる。
伝導率を有している。これらのAIN、SjCの各熱伝
導率は、50〜270W/mK、35〜270W/mK
であるのに対して、Al2O3のそれは15〜20W/
mKである。したがフて、変化アルミニウム基板11に
炭化珪素12A、12Bを積層して絶縁板材として用い
ることによって、高放熱性および高接合力が得られるこ
ととなる。
このように窒化アルミニウム基板11を使用することに
より、例えば炭化珪素のみの基板に比較して高周波特性
が大幅に改善されている。窒化アルミニウムは誘電率が
炭化珪素に比較して大幅に小さいからである。
より、例えば炭化珪素のみの基板に比較して高周波特性
が大幅に改善されている。窒化アルミニウムは誘電率が
炭化珪素に比較して大幅に小さいからである。
また、アルミニウム層14A、14Bは回路形成用また
はベース板用として用いられるものであり、更にこの基
板全体としての軽量化に資するものである。例えばこの
アルミニウム層14A、14Bは0. 2〜0.4mm
程度であり、アルミニウムの密度が2.7〜2.8g/
cm”程度であるのに対し、従来のCu導体の密度は8
.9〜9.0g/cm3程度であるからである。
はベース板用として用いられるものであり、更にこの基
板全体としての軽量化に資するものである。例えばこの
アルミニウム層14A、14Bは0. 2〜0.4mm
程度であり、アルミニウムの密度が2.7〜2.8g/
cm”程度であるのに対し、従来のCu導体の密度は8
.9〜9.0g/cm3程度であるからである。
そして、上記ろう材113A、13Bは熱サイクル試験
に対してもそのろう材自体が塑性変形可能であってアル
ミニウム層14A、14Bと炭化珪素層12A、12B
との間の熱膨張率の差に基づく相対的な伸縮を吸収、緩
和するものである。
に対してもそのろう材自体が塑性変形可能であってアル
ミニウム層14A、14Bと炭化珪素層12A、12B
との間の熱膨張率の差に基づく相対的な伸縮を吸収、緩
和するものである。
この点からしても耐熱サイクル特性は向上しているもの
である。
である。
さらに、第2図(A)、(B)、(、C)は本実施例に
おける窒化アルミニウム1110表面を例えばエツチン
グにより粗面化した状態を示している。
おける窒化アルミニウム1110表面を例えばエツチン
グにより粗面化した状態を示している。
第2図(A)に拡大して示すように、窒化アルミニラム
層110表面を構成する窒化アルミニウムの結晶粒子2
1は、アルカリまたは酸のエツチングによりその一部が
侵食されて粗面化される(同図(B))。例えばAIN
の結晶粒子の粒径の1/2〜3倍程度にまで侵食するも
のである。さらに、この粗面化した表面部分について高
温酸化性雰囲気中に保持することにより表面酸化層22
を、同図(C)に示すように、0.05〜30μmの厚
さに形成する。
層110表面を構成する窒化アルミニウムの結晶粒子2
1は、アルカリまたは酸のエツチングによりその一部が
侵食されて粗面化される(同図(B))。例えばAIN
の結晶粒子の粒径の1/2〜3倍程度にまで侵食するも
のである。さらに、この粗面化した表面部分について高
温酸化性雰囲気中に保持することにより表面酸化層22
を、同図(C)に示すように、0.05〜30μmの厚
さに形成する。
このようにして粗面化し、さらに酸化した窒化アルミニ
ウム層11表面に、上記のように炭化珪素層!2A、1
2Bを例えばスバタリング法、あるいは化学気相反応蒸
着法、を用いて被着することにより、これらの両層11
および12A、12Bの接合力およびろう材N15A、
13Bと炭化珪素層12A、12Bのそれぞれの接合力
をきわめて高くすることができる。
ウム層11表面に、上記のように炭化珪素層!2A、1
2Bを例えばスバタリング法、あるいは化学気相反応蒸
着法、を用いて被着することにより、これらの両層11
および12A、12Bの接合力およびろう材N15A、
13Bと炭化珪素層12A、12Bのそれぞれの接合力
をきわめて高くすることができる。
なお、窒化アルミニウム層11の表面粗さが結晶粒子の
粒径の1/2未満では、比表面積の増加が不十分で平坦
な表面に比較して接合力が充分に向上したとはいえない
。また、その侵食深さが結晶粒径の3倍を越えると、表
面の最上層の窒化アルミニウム粒子21とその下層の粒
子との粒界が侵食によりなくなったり、粒界も不完全な
ものとなって、接合力が低下する。
粒径の1/2未満では、比表面積の増加が不十分で平坦
な表面に比較して接合力が充分に向上したとはいえない
。また、その侵食深さが結晶粒径の3倍を越えると、表
面の最上層の窒化アルミニウム粒子21とその下層の粒
子との粒界が侵食によりなくなったり、粒界も不完全な
ものとなって、接合力が低下する。
また、酸化層22の厚さが0.05μm未満の値では、
窒化アルミニウム粒子21が表面において均一に酸化し
ておらず、未酸化面が表面に存在して接合力の向上が図
れない。一方、この酸化層22の深さが30μmを越え
ると、窒化アルミニウム粒子21の有する高放熱性が阻
害されるおそれが生じるものである。
窒化アルミニウム粒子21が表面において均一に酸化し
ておらず、未酸化面が表面に存在して接合力の向上が図
れない。一方、この酸化層22の深さが30μmを越え
ると、窒化アルミニウム粒子21の有する高放熱性が阻
害されるおそれが生じるものである。
さらに、上記実施例では、窒化アルミニウム基板110
表裏両面を対称の構成として、基板のそり等の変形を防
止している。
表裏両面を対称の構成として、基板のそり等の変形を防
止している。
〈効果〉
以上説明してきたように、本発明によれば、基板全体と
して軽量化を達成することができる。また、窒化アルミ
ニウム層、炭化珪素層についてひび割れ等が生じること
がなく、基板全体としての耐熱サイクル特性が高められ
る。また、アルミニウム層と炭化珪素層との接合強度も
高められる。
して軽量化を達成することができる。また、窒化アルミ
ニウム層、炭化珪素層についてひび割れ等が生じること
がなく、基板全体としての耐熱サイクル特性が高められ
る。また、アルミニウム層と炭化珪素層との接合強度も
高められる。
さらに、窒化アルミニウム層により基板としての高周波
特性を飛躍的に高められる。
特性を飛躍的に高められる。
第1 図
第1図は本発明の一実施例に係るIC実装用基板の概略
構造を示す断面図、第2図(A)、 (B)(C)は一
実施例に係る窒化アルミニウム層の表面部分の各工程で
の状態を示す断面図である。 11・・φ・φ・・争φ・窒化アルミニウム層、12A
、12B・・・・・炭化珪素層、13A、13B・・・
・・ろう材層、 14A、14B−・・・φアルミニウム層。 5B 特許昌願人
構造を示す断面図、第2図(A)、 (B)(C)は一
実施例に係る窒化アルミニウム層の表面部分の各工程で
の状態を示す断面図である。 11・・φ・φ・・争φ・窒化アルミニウム層、12A
、12B・・・・・炭化珪素層、13A、13B・・・
・・ろう材層、 14A、14B−・・・φアルミニウム層。 5B 特許昌願人
Claims (1)
- 窒化アルミニウム層と、この窒化アルミニウム層の両面
に被着された炭化珪素層と、これらの炭化珪素層の表面
にろう材層を介して被着されたアルミニウム層と、を有
することを特徴とするIC実装用基板。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22198890A JP2679375B2 (ja) | 1990-08-23 | 1990-08-23 | Ic実装用基板 |
| EP91107032A EP0455229B1 (en) | 1990-05-02 | 1991-04-30 | Ceramic substrate used for an electric or electronic circuit |
| DE69127927T DE69127927T2 (de) | 1990-05-02 | 1991-04-30 | Keramisches Substrat verwendet für eine elektrische oder elektronische Schaltung |
| KR1019910007202A KR0173783B1 (ko) | 1990-05-02 | 1991-05-02 | 전기회로 또는 전자회로의 성형에 사용되는 세라믹기판 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22198890A JP2679375B2 (ja) | 1990-08-23 | 1990-08-23 | Ic実装用基板 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04103151A true JPH04103151A (ja) | 1992-04-06 |
| JP2679375B2 JP2679375B2 (ja) | 1997-11-19 |
Family
ID=16775321
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22198890A Expired - Fee Related JP2679375B2 (ja) | 1990-05-02 | 1990-08-23 | Ic実装用基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2679375B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN119725233A (zh) * | 2025-02-27 | 2025-03-28 | 山东大学 | 一种基于双面覆铝的碳化硅绝缘基板及其制备方法 |
-
1990
- 1990-08-23 JP JP22198890A patent/JP2679375B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN119725233A (zh) * | 2025-02-27 | 2025-03-28 | 山东大学 | 一种基于双面覆铝的碳化硅绝缘基板及其制备方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2679375B2 (ja) | 1997-11-19 |
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