JPH04103787A - チタン焼鈍コイルのしみ発生防止方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、真空焼鈍に際して見られるチタン焼鈍コイル
のしみ発生防止方法に関する。

（従来の技術） 真空焼鈍処理を行ったチタン焼鈍コイル（通常０．３〜
２．５１１＋ｓ＋前後の板厚）には、通常じみと呼ばれ
ている模様状の表面欠陥が見られることがある。

じみの中心部には直径０．１〜０．５１深さ数μｍ程度
の凹みがあり、この凹みの内部にはＳｉ、　Ｎａ、　Ａ
Ｑ、Ｆｅなどの酸化物が付着している。そして周囲には
年輪状の模様が存在し、色は灰色である。このような表
面欠陥は、材質的には問題はないが、外観品質上特に装
飾用途のチタン材の場合には問題とされており、しみ発
生防止のための解決策が求められていた。

その対策としては、真空焼鈍処理それ自体の改善による
しみ発生防止手段と、チタンストリップの表面品質改善
によるしみ発生防止手段と、そして真空焼鈍処理に先立
ってストリップ表面の不純物を除去するための洗浄を強
化することによるしみ発生防止手段等が考えられるが、
従来発生原因がわからず具体的対策がとられていなかっ
た。

しかし、かかるしみ発生防止に関しては現在銀しい仕様
が求められており、０．０３ケ／ボ以下、さらに望まし
くは０．０１４ケ／Ｉ１２以下とほぼ完全な防止策が必
要とされている状況である。

（発明が解決しようとする１８） ここに、本発明の目的は、真空焼鈍処理を行った、特に
、チタン焼鈍コイルに見られるじみの発生をほぼ完全に
防止できる方法を提供することである。

（課題を解決するための手段） 本発明者らは、かかる目的達成のための手段について研
究開発を進めたところ、次のような知見を得た。

■上述のようなしみの凹み部の中には目視では何も観察
されないが、ＥＰＭＡ（Ｅｌｅｃｔｒｏｎ　Ｐｒｏｖｅ
　Ｍｉｃｒ。

Ａｎａｌｙｓｅｒ）、ＳＥＭ（Ｓｃａｎｎｉｎｇ　Ｅｌ
ｅｃｔｒｏｎ　Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ）、およびＳＩＭ
Ｓ（Ｓｅｃｏｎｄａｒｙ　Ｔｏｎ　Ｍａｓｓ　Ｓｐｅｃ
ｔｒｏｍｅｔｒｙ）等の分析結果では、Ｆｅ、　ＡＱ、
　Ｎａ、　Ｍｎ、　Ｓｉ等の金属の痕跡の外に酸素、炭
素および硫黄が付着していることが認められる。

■リング模様部にはＮａ、　Ｋ　、　Ｍｇ＝　Ｓ　、　
Ｃ、酸素などが濃縮している。

■マトリックスにはＮａ、　Ｋ　、、Ｍｇ、　Ｓｉ、　
Ｃ、、酸素などが存在している。

■一方、じみの発生が全くない領域でもＮａ−Ｋ、Ｍｇ
、　Ｓ　、　Ｃ、酸素などが存在するが、その量はいず
れも僅かである。

■Ｎａ、　Ｋはアルカリ洗浄の生成物にセッケン質とし
て存在することに由来する。また、Ｆｅ、　Ｓｉ、　Ｍ
ｇ、ＭｎおよびＡＱは水の中の成分であるから水リンス
に由来する。さらにＣ，Ｓは圧延油の成分として入って
くる。

このようにしみ発生の原因は種々であって、したがって
それらを完全に防止するには、ライン全体、特に真空焼
鈍に先立つアルカリ洗浄ラインリンスラインを総合的に
管理する必要があることを知り、本発明に至った。

すなわち、現在、本発明者らが考えているしみ発生のメ
カニズムは、洗浄不十分でセンケン質などの残留分が存
在している部分に水の中の懸濁物（ＦｅｚＯｚ、５ｉ（
ｈ等）が吹き付けられると、水分を乾燥する過程でそれ
らの懸濁物の周囲にセッケン賞成分の濃化が起こる。こ
れらの濃化物質が減圧高温で焼鈍される過程で膨張し、
リング状、つまり年輪上の模様をつけると考えられる。

なお、水の懸濁異物はじみの核の部分である凹み部分に
痕跡として残留する。

よって、本発明の要旨とするところは、真空焼鈍処理に
先立って、アルカリ洗浄領域に３基以上のブラシを備え
たアルカリ洗浄ラインでアルカリ洗浄を行うとともに、
リンス液の循環回路にフィルタを設けさらに必要により
リンス液のブラシスクラバーを１基以上備えたリンスラ
インで水洗浄を行い、チタンコイルの洗浄を行うことを
特徴とする真空焼鈍に際して見られるチタン焼鈍コイル
のしみ発生防止方法である。

ここに、リンスは、好ましくは６０″Ｃ以上の温水であ
るリンス液を高圧でストリップ面に吹き付ける操作をい
う。

すなわち、本発明によれば、セッケン質および圧延油の
成分の混入に対しては、ブラソシンングの能力強化、適
正アルカリ濃度の管理、リンス液の温度確保そしてリン
ス圧力のアップを図るのであり、一方冷却水からくる成
分についてはリンス槽の定期点検の強化、そしてフィル
ターの設置を行うのである。

かくして、これらの総合的作用によって、従来真空焼鈍
を行う場合に不可避的に見られたしみはほぼ完全に防止
できるのである。

なお、本発明の適用されるチタンストリップは純チタン
ばかりでなく　Ｔｊ−６Ａｆｌ−４Ｖなどのチタン合金
ストリップをも包含することは当業者には明らかであろ
う。またその板厚もいわゆるコイル焼鈍されるものであ
れば特に制限はない。代表的には０．３〜２．５ＩｎＩ
１１厚である。

（作用） 次に、添付図面を参照して本発明をさらに具体的に説明
する。

第１図は、本発明にかかる方法を実施するアルカリ洗浄
ラインを模式的に示す説明図であり、図中、チタンスト
リップ１０はまずアルカリ洗浄帯域１２で粗洗浄および
仕上げ洗浄が行われ、その際洗浄ブラ訃箸、粗洗浄およ
び仕上洗浄を通じて少なくとも三基膜けられ、これでス
トリップ表面の付着物の洗い出しはほぼ完全に行われる
。図示例では、粗洗浄および仕上洗浄帯域のそれぞれに
２基つづ設けられている。

ここに、上記洗浄ブラシは、ナイロン製ブラシを用いた
。

次いで、チタンストリップ１０は、表面の異物を完全に
流し出すために、水洗浄ラインであるリンス液のブラシ
スクラバー１４に入る。このとき望ましくはブラシスク
ラバー１４は少なくとも一基設けられる。図示例では二
基設けられており、それぞれにリンス液の循環系が設け
られている。各ブラシスクラバ−１４にはスプレー装置
１６とブラシ装置１８とが対になって設けられている。

スプレー装置１６の構成は特に制限ないが、温水温度６
０°Ｃ以上、圧力０．５ｋｇ／ｃｍ”以上が望ましい。

またブラシ装置１８はアルカリ洗浄帯域でのブラシと同
様であってよい。

かかる循環系にはそれぞれフィルター２０が設置されて
いて異物のストリンブ表面への付着を防止している。

実施例 第１図に示す装置をつかって本発明を実施した。

基本操作条件は次の通りであった。

そこで、まずブラシ保有基数の影響をみるためにブラシ
保有基数としみ発生個数との関係を見たところ、その関
係は第２図に示した通りであった。

しみ発生の目標個数は前述のように０．０１４ケ／ｉ１
準合格ラインとしては０．０３ケ／ｍ　２であるから、
ブラシ保有基数は少なくとも３基設ければよいことがわ
かる。

次に、リンス液スクラバの設置効果をみたところ、設置
の有無によるしみ発生に及ぼす影響は第３図に示す通り
であった。

さらに、リンス循環路にフィルターを設置する場合のフ
ィルターの目の影響を見たところ、第４図のような結果
が得られた。

本発明にしたがって上述のようにして洗浄を行ってから
は、慣用の手段にしたがって真空焼鈍を行った。代表的
な処理条件は、６５０℃Ｘ　２４Ｈ（＾ｒ雰囲気加熱）
である。

（発明の効果） 以上詳述してきたように、本発明によれば、真空焼鈍チ
タンコイルにおいてしみの発生は実質上完全防止され、
これにより今後ますます厳しくなると考えられる仕様に
も十分に対応できることになり、本発明の意義も大きい
。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明にかかる方法を実施するアルカリ洗浄
・リンスラインの略式説明図；第２図ないし第４図は、
実施例の結果を示すグラフである。 １０：　　チタンストリップ １２：　　アルカリ洗浄帯域 １４：　　ブラシスクラバー １６：　　スプレー装置 １日：　　ブラシ装置 ２０：　　フィルター 出願人　日本ステンレス株式会社 代理人　弁理士　広　瀬　章　−（外１名）１２３’ｆ
ＳＧ →　７−ラ′ンイＸしＷ基牧 有 Ｏ Ｓ フィルグーの目Ｃ）Ｊ”）

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）真空焼鈍処理に先立って、アルカリ洗浄領域に３
   基以上のブラシを備えたアルカリ洗浄ラインでアルカリ
   洗浄を行うとともに、リンス液の循環回路にフィルタを
   設けたリンスラインで水洗浄を行い、チタンコイルの洗
   浄を行うことを特徴とする真空焼鈍に際して見られるチ
   タン焼鈍コイルのしみ発生防止方法。
2. （２）前記リンスラインがリンス液のブラシスクラバー
   を１基以上備えている、請求項１記載の方法。