JPH04105362A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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JPH04105362A
JPH04105362A JP2221346A JP22134690A JPH04105362A JP H04105362 A JPH04105362 A JP H04105362A JP 2221346 A JP2221346 A JP 2221346A JP 22134690 A JP22134690 A JP 22134690A JP H04105362 A JPH04105362 A JP H04105362A
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JP
Japan
Prior art keywords
integrated circuit
pad
semiconductor integrated
light
circuit device
Prior art date
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Pending
Application number
JP2221346A
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English (en)
Inventor
Kenichi Tsukamoto
塚本 研一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Solutions Technology Ltd
Original Assignee
Hitachi ULSI Engineering Corp
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi ULSI Engineering Corp, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi ULSI Engineering Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体集積回路装置に関し、特に、半導体集
積回路装置と外部との間を非接触に接続する技術に関す
る。
〔従来の技術〕
たとえば、株式会社オーム社、昭和54年3月発行、電
子通信学会編「電子通信ノ\ンドブック」P576、な
どの文献に記載されているように、従来の半導体集積回
路装置において、所望の機能を有する集積回路素子と外
部との間における動作電力や情報(動作信号)の授受は
、当該集積回路素子に設けられた外部接続端子(パッド
)などに所望の導体箔や導線などを外部から接続するこ
とによって行われている。
二のため、たとえば、単体の集積回路素子を可搬性のカ
ードに組み込んだ、いわゆるICカードなどにおいては
、当該ICカードが装填されるカード読み取り端末との
電気的な接続は、ICカード上のパッドに対する直接的
な針り当てや導体プラグの押圧によって実現している。
〔発明が解決しようとする課題) ところが、上記のように、集積回路素子のパッドに対す
る導体の接触によって電気的な接続を確保する方式では
、パッドを常に外部に露出させておく必要があるため、
静電気などによる悪影響を受けやすく、また、パッドの
汚損や摩耗などによって外部と集積回路素子との間にお
ける電気的な接続が阻害されたり不安定になるという問
題がある。
また、集積回路素子の高密度化および多機能化、さらに
は集積回路素子自体に対する小型化の要求などによって
、必要なパッドの数の増大および寸法の微細化が促進さ
れており、前述のような、針当てやプラグの押圧による
安定な電気的接続の確保がますます困難になりつつある
そこで、本発明の目的は、パッド数の増大や寸法の微細
化などに影響されることなく、外部との間における動作
電力および情報の少なくとも一方の授受を的確に行うこ
とが可能な半導体集積回路装置を提供することにある。
本発明の他の目的は、外部との間における動作電力およ
び情報の少なくとも一方の的確な授受を損なうことなく
、汚損や静電気対策を施すことが可能な半導体集積回路
装置を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
〔課題を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、本発明になる半導体集積回路装置は、外部と
の間における動作電力および情報の授受の少なくとも一
方を光を媒介として非接触に行うようにしたものである
〔作用〕
上記した本発明の半導体集積回路装置によれば、たとえ
ば、外部からの情報および動作電力の少なくとも一方の
入力が行われる光電池からなる第1のパッドと、レーザ
による電位センスによって情報の出力を行うか、または
出力信号を光に変換して外部に放射する発光ダイオード
などからなる第2のパッドとを設けることにより、当該
第1および第2のパッドに対するレーザビームの照射に
よって、非接触に半導体集積回路装置に対する動作電力
に供給および情報の授受の少なくとも一方を的確に行う
ことができ、たとえば、外部からの針当てやプラグなど
の抑圧による電気的な接続を行う場合のように、パッド
数の増大や寸法の微細化などに影響されることがなくな
る。
また、第1および第2のパッドに照射される光や第2の
パッドから放射される光に対して透明な絶縁物によって
、当該第1および第2のパッドを含む半導体集積回路装
置の全域を一様に覆うことで、外部との間における動作
電力および情報の少なくとも一方の的確な授受を損なう
ことな(、汚損や静電破壊などから半導体集積回路装置
を確実に保護することができる。
〔実施例1〕 以下、図面を参照しながら、本発明の一実施例である半
導体集積回路装置の一例について詳細に説明する。
第1図は、本発明の一実施例である半導体集積回路装置
の外観を模式的に示す斜視図であり、第2図は、その略
断面図、また第3図は、その作用の一例を説明する斜視
図である。
半導体集積回路装[1の中央部には、必要に応じて所望
の情報の記憶や演算処理を行う集積回路部2が設けられ
ている。
この場合、集積回路部2の周辺部には、たとえば光電池
からなる入力用光電池パッド3および電源用光電池パッ
ド4が配置されており、それぞれ内部配線構造3aおよ
び内部配線構造4aを介して、集積回路部2に電気的に
接続されている。
入力用光電池パッド3には、入力信号に応じて、たとえ
ば光量や点滅時間などが変化するレーザビームなどから
なる入力光P1が照射され、これによって、当該入力用
光電池パッド3に生じる電気信号を、内部配線構造3a
を介して集積回路部2に伝達することにより、非接触に
外部から集積回路部2に対する所望の情報(動作信号な
ど)の入力が行われる。
また、電源用光電池パッド4には、たとえば所定の光量
が継続的に維持されるレーザビームなどからなる電源光
P2が照射され、当該電源光P2の照射によって電源用
光電池バッド4に継続的に発生する電力を内部配線構造
4aを介して集積回路部2に供給することにより、集積
回路部2の動作に必要な電力を賄う。
さらに、集積回路部2の周辺部には、たとえば鏡面加工
された導体などからなる出力パッド5が配置されており
、内部配線構造5aを介して、集積回路部2に電気的に
接続されている。
この出力パッド5には、たとえば偏光レーザビームP3
が照射され、この偏光レーザビームP3の当該出力バッ
ド5からの反射光P3bの偏光方向θ2が、集積回路部
2から出力バンド5に送出される出力信号に応じた電位
の変化を反映して、入射光P3aの偏光方向θ1に対し
て変化することを利用して、集積回路N2において得ら
れた所望の情報を外部から非接触に把握することが可能
になっている。
また、半導体集積回路装置1の全体は、前述の入力用光
電池パッド3.電源用光電池バッド4゜出力パッド5を
含めた全体が、入力光PI、電源光P2.偏光レーザビ
ームP3などに対して透明で、機械的、熱的な強度の優
れた絶縁物層6によって一様に覆われて保護されている
このように、本実施例の半導体集積回路装置1によれば
、容易に微細なスポット径を実現できるレーザビームな
どの光を媒介として、非接触に、集積回路部2に対する
動作電力の供給や、外部との間における情報の人出力を
行うので、半導体集積回路装置1の小型化や、集積回路
部2の多機能化などによる入力用光電池パッド3.電源
用光電池パッド4.出力パッド5の数の増大や寸法の微
細化などに影響されることなく、的確な情報の入出力動
作を実現することができる。
また、外部からの針当てやプラグの接触などのために、
パッド部分を選択的に露出させる必要がないので、入力
用光電池バッド3.電源用光電池バッド4.出力パッド
5などを含めた半導体集積回路装置1の全体を、絶縁物
層6によって一様に覆うことができ、当該入力用光電池
パッド3.電源用光電池パッド4.出力パッド5などの
汚損や摩耗の防止、さらには集積回路部2などの静電破
壊からの保護などを確実に実現することができる。
この結果、たとえば本実施例の半導体集積回路装置工を
組み込んだICカードなどの製品の多機能化や、寿命お
よび操作性の向上などを、容易に実現することができる
〔実施例1〕 第4図は、本発明の他の実施例である半導体集積回路装
置10の構成の一例を模式的に示す斜視図である。
この実施例2の場合には、出力パッドとして、集積回路
部2から送出される出力信号を出力光P4として外部に
放射する発光ダイオードなどからなる出力用発光ダイオ
ードバッド7を設けたところが前記実施例1の場合と異
なるものである。
本実施例2の場合も、前記実施例1の場合と同様の効果
を得ることができる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
たとえば、バッドの位置は、半導体集積回路装置の一生
面側に配置することに限らず、表裏両面または、裏面の
みに配置してもよいことは言うまでもない。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち、代表的なものによ
って得られる効果を簡単に説明すれば、以下のとおりで
ある。
すなわち、本発明になる半導体集積回路装置によれば、
たとえば、外部からの針当てやプラグなどの押圧による
電気的な接続を行う従来の場合のように、パッド数の増
大や寸法の微細化などに影響されることなく、非接触に
半導体集積回路装置に対する動作電力に供給および情報
の授受の少なくとも一方を的確に行うことができる。
また、媒介となる光に対して透明な絶縁物によって、パ
ッドを含む半導体集積回路装置の全域を一様に覆うこと
で、外部との間における動作電力および情報の少なくと
も一方の的確な授受を損なうことなく、汚損や静電破壊
などから半導体集積回路装置を確実に保護することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例である半導体集積回路装置
の外観を模式的に示す斜視図、第2図は、その略断面図
、 第3図は、その作用の一例を説明する斜視図、第4図は
、本発明の他の実施例である半導体集積回路装置の外観
を模式的に示す斜視図である。 1・・・半導体集積回路装置、2・・・集積回路部、3
・・・入力用光電池パッド、3a・・・内部配線構造、
4・・・電源用光電池パッド、4a・・・内部配線構造
、5・・・出力パッド、5a・・・内部配線構造、6・
・・絶縁物層、Pl・・・入力光、P2・・・電源光、
P3・・・偏光レーザビーム、P3a・・・入射光、P
3b・・・反射光、θ1.θ2・・・偏光方向、1o・
・・半導体集積回路装置、7・・・出力用発光ダイオー
ドパッド、P4・・・出力光。 θIL  θ2:偏光方向 第4図 1′4二山刀尤

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、外部との間における動作電力および情報の授受の少
    なくとも一方を光を媒介として非接触に行うようにした
    ことを特徴とする半導体集積回路装置。 2、外部からの情報および動作電力の少なくとも一方の
    入力が行われる光電池からなる第1のパッドと、レーザ
    による電位センスによって情報の出力を行う第2のパッ
    ドとを備えたことを特徴とする請求項1記載の半導体集
    積回路装置。 3、前記レーザとして偏光レーザを用い、前記第2のパ
    ッドにおける電位の変化を反映した前記偏光レーザの偏
    光面の変化を検出することによって前記第2のパッドに
    おける電位センスを行うようにしたことを特徴とする請
    求項1または2記載の半導体集積回路装置。 4、外部からの情報および動作電力の少なくとも一方の
    入力が行われる光電池からなる第1のパッドと、出力信
    号を光に変換して外部に放射する発光ダイオードからな
    る第2のパッドとを備えたことを特徴とする請求項1記
    載の半導体集積回路装置。
JP2221346A 1990-08-24 1990-08-24 半導体集積回路装置 Pending JPH04105362A (ja)

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JPH04105362A true JPH04105362A (ja) 1992-04-07

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ID=16765364

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JP2221346A Pending JPH04105362A (ja) 1990-08-24 1990-08-24 半導体集積回路装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6359313B1 (en) * 1998-05-18 2002-03-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Electrostatic discharge protection transistor for a semiconductor chip

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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