JPH04106356U - 薄膜形成装置 - Google Patents
薄膜形成装置Info
- Publication number
- JPH04106356U JPH04106356U JP1512491U JP1512491U JPH04106356U JP H04106356 U JPH04106356 U JP H04106356U JP 1512491 U JP1512491 U JP 1512491U JP 1512491 U JP1512491 U JP 1512491U JP H04106356 U JPH04106356 U JP H04106356U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- substrate
- target
- ion beam
- thin film
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 とくにプラスチック基板など低温で成膜する
場合、基板の変形及び膜特性の劣化を防止する。 【構成】 イオンビームスパッタリング法によりイオン
源1からのイオンビームを引出し電極4を介してターゲ
ット6に照射し、ターゲット6の近傍に位置した基板7
にターゲット材料を堆積して成膜する薄膜形成装置にお
いて、引出し電極2の加速電極3の電極孔10に対し基
板7に近い側の減速電極4の電極孔12を、イオンビー
ムが基板7より遠い側のターゲット6を照射するようず
らす。
場合、基板の変形及び膜特性の劣化を防止する。 【構成】 イオンビームスパッタリング法によりイオン
源1からのイオンビームを引出し電極4を介してターゲ
ット6に照射し、ターゲット6の近傍に位置した基板7
にターゲット材料を堆積して成膜する薄膜形成装置にお
いて、引出し電極2の加速電極3の電極孔10に対し基
板7に近い側の減速電極4の電極孔12を、イオンビー
ムが基板7より遠い側のターゲット6を照射するようず
らす。
Description
【0001】
本考案は、イオンビームスパッタリング法によりとくにプラスチック基板など
低温の基板温度で成膜する薄膜形成装置に関する。
【0002】
従来、イオンビームスパッタリング法による薄膜形成装置は、図3に示すよう
に、イオン源1から加速電極2及び減速電極3からなるイオン引出し電極4によ
りビームを引出し、そのイオンビーム5によりターゲット6をスパッタリングし
、ターゲット6の近傍に配置された基板7にターゲット材料を付着させて堆積し
、基板7に成膜している。なお、図中8はマグネットである。
【0003】
従来の前記薄膜形成装置の場合、イオン源1から出たイオンビーム5のほとん
どは、ターゲット6に衝突し、ターゲット材料をスパッタリングし、基板7に堆
積させるが、引出し電極4から出たイオンビームの一部はもれイオンビーム9と
して基板7に衝突する。
【0004】
ところで、例えばポリカーボネイト(PC),ポリメタクリル酸メチル(PM
MA)のプラスチック基板など摂氏100度以下の低温の基板温度で成膜しなけ
ればならない基板7の場合、基板7にもれイオンビーム9が衝突すると、基板7
が変形したり、基板材料から出るガスにより膜特性が劣化するという問題点があ
る。
【0005】
本考案は、前記の点に留意し、基板の変形及び膜特性の劣化を防止した薄膜形
成装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために、本考案は、イオンビームスパッタリング法により
イオン源からのイオンビームを引出し電極を介してターゲットに照射し、ターゲ
ットの近傍に位置した基板にターゲット材料を堆積して成膜する薄膜形成装置に
おいて、
【0007】
引出し電極の加速電極の電極孔に対し基板に近い側の減速電極の電極孔を、イ
オンビームが基板より遠い側のターゲットを照射するようずらしたものである。
前記のように構成された本考案の薄膜形成装置は、加速電極の電極孔に対し基
板に近い側の減速電極の電極孔が、イオンビームを基板より遠い側のターゲット
に照射するようずらされているため、基板側に従来のようなもれイオンビームを
生じなく、イオンビームが基板を照射しなく、基板の変形及び膜特性の劣化を生
じない。
【0008】
1実施例について図1及び図2を参照して説明する。それらの図において図3
と同一符号は同一もしくは相当するものを示す。
【0009】
10はほぼ等間隔に形成された加速電極2の電極孔、11,12は減速電極3
の電極孔であり、図2の上側,即ち基板7より遠い側の電極孔11は、加速電極
2の電極孔10と同じ高さ,即ち対応した位置に形成されているが、下側,即ち
基板7に近い側の電極孔12は、加速電極2の電極孔10より低い位置にずらさ
れて形成されており、両電極孔10,12を通過したイオンビームは若干上側へ
変位し、ほとんど全てがターゲット6を照射し、基板7を照射しない。
【0010】
ここで、ずれた電極孔12の形成範囲は、基板7に近い側から10%以上,5
0%以下が望ましい。即ち、少なくとも10%程度はずれていないともれイオン
ビームが基板7を照射する。又、50%より幅広くずらすと、ターゲット6の上
方を照射してターゲット6を照射するイオンビームが少なくなり、成膜速度が遅
く、効率が低下する。
【0011】
本考案は、以上説明したように構成されているので、以下に記載する効果を生
ずる。
【0012】
加速電極2の電極孔10に対し基板7に近い側の減速電極3の電極孔12を、
イオンビームが基板7より遠い側のターゲット6に照射するようずらしてあるた
め、基板7側に従来のようなもれイオンビームを生じなく、イオンビームが基板
7を照射しなく、基板7の温度が上昇せず、基板7の変形及び膜特性の劣化を防
止することができ、かつ、従来の基板7側のもれイオンビームがターゲット6に
集束されるため、成膜速度が速く、効率を向上させることができる。
【図1】本考案の薄膜形成装置の1実施例の側面図であ
る。
る。
【図2】図1の一部の拡大図である。
【図3】従来例の側面図である。
1 イオン源
2 加速電極
3 減速電極
4 イオン引出し電極
5 イオンビーム
6 ターゲット
7 基板
Claims (1)
- 【請求項1】 イオンビームスパッタリング法によりイ
オン源からのイオンビームを引出し電極を介してターゲ
ットに照射し、ターゲットの近傍に位置した基板にター
ゲット材料を堆積して成膜する薄膜形成装置において、
引出し電極の加速電極の電極孔に対し基板に近い側の減
速電極の電極孔を、イオンビームが基板より遠い側のタ
ーゲットを照射するようずらした薄膜形成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1512491U JPH04106356U (ja) | 1991-02-22 | 1991-02-22 | 薄膜形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1512491U JPH04106356U (ja) | 1991-02-22 | 1991-02-22 | 薄膜形成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04106356U true JPH04106356U (ja) | 1992-09-14 |
Family
ID=31902425
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1512491U Pending JPH04106356U (ja) | 1991-02-22 | 1991-02-22 | 薄膜形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04106356U (ja) |
-
1991
- 1991-02-22 JP JP1512491U patent/JPH04106356U/ja active Pending
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