JPH0410789B2 - - Google Patents

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JPH0410789B2
JPH0410789B2 JP58049574A JP4957483A JPH0410789B2 JP H0410789 B2 JPH0410789 B2 JP H0410789B2 JP 58049574 A JP58049574 A JP 58049574A JP 4957483 A JP4957483 A JP 4957483A JP H0410789 B2 JPH0410789 B2 JP H0410789B2
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JP
Japan
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ray
log
kvopt
vopt
video signal
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JP58049574A
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JPS59174082A (ja
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 本発明は、X線テレビジヨンに付加されるデイ
ジタル サブトラクシヨン システムの分野で利
用される。
本発明は、造影剤注入前後の、とくに血管など
における差分画像(サブトラクシヨン像)が表示
されるX線TV装置のデイジタル サブトラクシ
ヨン システムに関する。
(ロ) 従来技術 デイジタル サブトラクシヨン システム
(D.S.S.)においては、撮像前に被検者個有の適
正なX線条件(螢光増倍管I.Iに対する入射線量
を決めて所望の画質を得る)ために、テスト曝射
を行う必要がある。従来では、テスト曝射は検査
員のかんに頼つて試行錯誤的に行なわれていたの
で、テスト曝射の回数増加、従つて、被曝線量の
増加を招いた。また、その場合、シンクロスコー
プ、レベルインジケータなどを目視して、その条
件を設定していたが、正確でなかつた。
(ハ) 目的 本発明の目的は、撮像条件決定のためのテスト
曝射が2回で済み、被曝線量を大幅に減らすこと
ができると共に、正確なX線条件、つまりX線管
電圧の設定が可能な、デイジタル サブトラクシ
ヨンを提供することである。
(ニ) 構成 前記の目的は、異なる管電圧KV1、KV2を使
つたX線のテスト曝射時のX線テレビジヨン系の
映像信号のそれぞれのピーク値V21、V22、を検
出する映像信号ピーク値検出手段と、A/D変換
器のフルレンジとなる映像信号最適ピーク値
Voptに対応する最適管電圧KVoptを、式KVopt
=10A、ただし、指数部分A=1/Xo×(log.
Vopt/V22)+log.KV2、Xo=(log.V21/
V22)/(log.KV1/KV2)により求める演算手
段とを具備することにより、達成される。
(ホ) 実施例 本発明の構成例の要部は第1図に示される。
ここで、10はX線管、12はX線高電圧装
置、14は螢光増倍管(I.I)、16は絞り、18
はTVカメラヘツド、20はカメラコントロール
ユニツト(C.C.U)、22はアンプ、24は対数
増幅器、26はA/D変換器、28と30はフレ
ームメモリ、32は減算器、34はエンハンスメ
ント、36はマイクロコンピユータ、38は入力
器であり、A/D変換器、モニタなどの図示は省
略されている。なお、CLは制御信号のバスであ
る。
テスト曝射で決める適正なX線条件とは、被検
者に対して、所定の画質のサブトラクシヨン像を
得るための管電圧である。D.S.S.では、シリア
ル、コンテイニユアス、テイアイデ(TID)各モ
ードによつて使用管電流を決めているため、被検
者の違いを管電圧で調整する。D.S.S.調整時に、
別の方法により、螢光増倍管(I.I)14から
A/D変換器26までの調整個所、例えば、I.I
視野14、絞り18、C.C.U20のゲイン、アン
プ22及び対数増幅器24のゲインなどは、すで
にそれぞれ適正な値になるよう調整されているた
め、ある被検者に対する適正な管電圧は、例え
ば、A/D変換器26への入力映像信号レベル
V2がA/D変換器26の入力レンジいつぱいに、
Voptになる時である。従つて、従来のテスト曝
射はV1(またはV2)をシンクロスコープ、レベル
インジケータなどの方法で観察しながら、検査員
が管電圧の微調整を繰り返していた。
本発明では、テスト曝射時の管電圧は手動また
は自動設定されるが、この値はマイクロコンピユ
ータ36により読みとられ、またその都度、曝射
により映像信号レベルはA/D変換され、フレー
ムメモリ28或いは30に格納されるが、A/D
変換出力データまたはフレームメモリ出力データ
について、マイクロコンピユータ36によりその
最大映像信号レベルを持つ画素が検出され、その
値V2が読みとられることにより、映像電圧デイ
ジタル値検出手段を構成する。第2図は、X線出
力及びTVカメラの撮像管の出力が安定した後の
映像信号を例示している。
なお、第1図において、スイツチSW1は対数
増幅器24の選択に使用され、スイツチSW1は
(ロ)側にオンし、撮像時には、スイツチSW2は接
点(イ)側に接続されるが、他方本発明の1実施例に
よるテスト曝射では、(イ)側のゲインより小さい、
例えば、1/2になるよう抵抗値の選ばれた(ロ)側端
子を選ぶ。
そこで、ある被検者に対して管電圧KV1
KV2でテスト曝射を行つた時のA/D変換器2
6の映像信号V2のレベルをV21、V22とし、この
場合各スイツチSW1,SW2の(ロ)側がオンのと
き、 V21=α{KI1・exp(−μodo)} ……… V22=α{KI2・exp(−μodo)} ……… が成立し、ここで、 α:I.I14からA/D変換器26までの変換係
数、すなわち、I.IへのX線入射光子数を映像
レベルへ変換する割合(アンプのゲインを含
む)であり; K:X線管焦点から被検者体表までの距離による
X線光子数の減衰係数; I1、I2:管電圧KV1、KV2、管電流(モードによ
り一定)及びX線曝射フレーム数により決まる
X線光子数; μo:使用X線スペクトルに対する被検者のX線
減衰係数; do:被検者の体厚(cm)である。
また、 I∝(KV)x ……… である。
式、、から、第1図に対するX=Xoを
求めると、 ÷より、V21/V22=I1/I2(KV1/KV2Xo
であり、両辺対数をとつて、 logV21/V22=Xo×logKV1/KV2 ……… 故に、 Xo(logV21/V22)/(logKV1/KV2) ……… 一方、テスト曝射時のアンプ22のゲイン(ス
イツチSW2が(ロ)側に接がつている)が1/2の場
合、V2=Vopt/2となるような管電圧KVoptを
求めると、 式より、 logVopt/2×V22=Xo×logKVopt/KV2
なり、 KVopt=101/Xo×(logVopt/2×V22)+logKV2 ……… が導かれ、 式により求めた係数Xoを、他方定格内最適
映像電圧Voptをそれぞれ代入して、デイジタル
値KVoptをモニタに表示するか、または表示す
ると同時にKVoptに基づいて管電圧を自動設定
する。
なお、テスト曝射時の管電圧を極力押えて、ス
イツチSW2を(イ)側に接いだ場合には、V2
Voptとなるので、式における係数1/2と1な
る。
本発明を構成する機能実現手段からみたフロー
チヤートは、第3図に示される。ここで、11は
被検者、38は入力手段、42は検出手段、44
は式の演算手段、46は式の演算手段、48
はCRTである。なお、入力手段38はキーボー
ドに限らず、KV及びVの入力については、オン
ラインするためのインターフエースでもよい。
(ヘ) 効果 本発明は、2回のテスト曝射により、メモリ量
を多く使わず、演算により正確なX線条件、つま
りX線管電圧の設定値が求まるという特有の効果
を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の構成例を示すブロツク図、
第2図は映像電圧Vの波形図、第3図は本発明に
による機能実現手段のフローチヤートである。 26はA/D変換器、28と30はフレームメ
モリ、36はキーボードである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 異なる管電圧KV1、KV2を使つたX線のテ
    スト曝射時のX線テレビジヨン系の映像信号のそ
    れぞれのピーク値V21、V22、を検出する映像信
    号ピーク値検出手段と、A/D変換器のフルレン
    ジとなる映像信号最適ピーク値Voptに対応する
    最適管電圧KVoptを、式KVopt=10A、ただし、
    指数部分A=1/Xo×(log.Vopt/V22)+log.
    KV2、Xo=(log.V21/V22)/(log.KV1/
    KV2)により求める演算手段とを備えているこ
    とを特徴とする、デイジタル サブトラクシヨン
    システム。
JP58049574A 1983-03-24 1983-03-24 デイジタル サブトラクシヨン システム Granted JPS59174082A (ja)

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JP58049574A JPS59174082A (ja) 1983-03-24 1983-03-24 デイジタル サブトラクシヨン システム

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JP58049574A JPS59174082A (ja) 1983-03-24 1983-03-24 デイジタル サブトラクシヨン システム

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JPS59174082A JPS59174082A (ja) 1984-10-02
JPH0410789B2 true JPH0410789B2 (ja) 1992-02-26

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ID=12834978

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JP58049574A Granted JPS59174082A (ja) 1983-03-24 1983-03-24 デイジタル サブトラクシヨン システム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS61114500A (ja) * 1984-11-07 1986-06-02 Hitachi Medical Corp デイジタルx線撮影装置

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JPS59174082A (ja) 1984-10-02

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