JPH0510875B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0510875B2 JPH0510875B2 JP58049573A JP4957383A JPH0510875B2 JP H0510875 B2 JPH0510875 B2 JP H0510875B2 JP 58049573 A JP58049573 A JP 58049573A JP 4957383 A JP4957383 A JP 4957383A JP H0510875 B2 JPH0510875 B2 JP H0510875B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- characteristic table
- voltage
- creating
- tube voltage
- characteristic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 4
- TVZRAEYQIKYCPH-UHFFFAOYSA-N 3-(trimethylsilyl)propane-1-sulfonic acid Chemical compound C[Si](C)(C)CCCS(O)(=O)=O TVZRAEYQIKYCPH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 description 1
- 210000004204 blood vessel Anatomy 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002872 contrast media Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本発明は、Ｘ線テレビジヨンに付加されるデイ
ジタルサブトラクシヨン装置の分野で利用され
る。
ジタルサブトラクシヨン装置の分野で利用され
る。
本発明は、造影剤注入前後の、とくに血管など
における差分画像（サブトラクシヨン像）が表示
されるＸ線TV装置のデイジタルサブトラクシヨ
ン装置に関する。
における差分画像（サブトラクシヨン像）が表示
されるＸ線TV装置のデイジタルサブトラクシヨ
ン装置に関する。
(ロ) 従来技術
デイジタルサブトラクシヨンシステム（D.S.
S）においては、撮影前に被検者個有の適正なＸ
線条件（蛍光増倍管I.Iに対する入射線量を決め
て所望の画質を得る）を決めるために、テスト曝
射を行う必要がある。従来では、テスト曝射は検
査員のかんに頼つて試行錯誤的に行なわれていた
ので、テスト曝射の回数増加を招いた。
S）においては、撮影前に被検者個有の適正なＸ
線条件（蛍光増倍管I.Iに対する入射線量を決め
て所望の画質を得る）を決めるために、テスト曝
射を行う必要がある。従来では、テスト曝射は検
査員のかんに頼つて試行錯誤的に行なわれていた
ので、テスト曝射の回数増加を招いた。
(ハ) 目的
本発明の目的は、撮影条件決定のためのテスト
Ｘ線曝射が１回で済み、従つて被曝線量を大幅に
減らすことができると共に、より正確なＸ線条
件、つまり最適なＸ線管電圧の設定が可能な、デ
イジタルサブトラクシヨン装置を提供することで
ある。
Ｘ線曝射が１回で済み、従つて被曝線量を大幅に
減らすことができると共に、より正確なＸ線条
件、つまり最適なＸ線管電圧の設定が可能な、デ
イジタルサブトラクシヨン装置を提供することで
ある。
(ニ) 構成
前記した目的は、マイクロコンピユータを備
え、Ｘ線管高電圧装置より設定管電圧KVを、及
びＡ／Ｄ変換器又はフレームメモリより映像電圧
Ｖを、それぞれ検出する手段と、模擬フアントム
を予め使用してその厚みＤをパラメータとした
KV−Ｖ特性テーブル作成手段と、被検者を介し
たＸ線テスト曝射時の設定管電圧KVtestに対す
る映像電圧Vtestを検出して前記KV−Ｖ特性テ
ーブルから設定管電圧KVtestに対するＶ−Ｄ特
性テーブルを作成する手段と、このＶ−Ｄ特性テ
ーブルから映像電圧Vtestを指定して被検者の体
厚Dobjを検索する手段と、前記KV−Ｖ特性テー
ブルから管電圧KVをパラメータとしたＶ−Ｄ特
性テーブルを作成する手段と、このＶ−Ｄ特性テ
ーブルから体厚DobjをもとにKV−Ｖ特性テーブ
ルを作成する手段と、このKV−Ｖ特性テーブル
から既知最適映像電圧Voptを指定してそれに対
する最適設定管電圧KVoptを検索する手段とを
具備することにより、達成される。
え、Ｘ線管高電圧装置より設定管電圧KVを、及
びＡ／Ｄ変換器又はフレームメモリより映像電圧
Ｖを、それぞれ検出する手段と、模擬フアントム
を予め使用してその厚みＤをパラメータとした
KV−Ｖ特性テーブル作成手段と、被検者を介し
たＸ線テスト曝射時の設定管電圧KVtestに対す
る映像電圧Vtestを検出して前記KV−Ｖ特性テ
ーブルから設定管電圧KVtestに対するＶ−Ｄ特
性テーブルを作成する手段と、このＶ−Ｄ特性テ
ーブルから映像電圧Vtestを指定して被検者の体
厚Dobjを検索する手段と、前記KV−Ｖ特性テー
ブルから管電圧KVをパラメータとしたＶ−Ｄ特
性テーブルを作成する手段と、このＶ−Ｄ特性テ
ーブルから体厚DobjをもとにKV−Ｖ特性テーブ
ルを作成する手段と、このKV−Ｖ特性テーブル
から既知最適映像電圧Voptを指定してそれに対
する最適設定管電圧KVoptを検索する手段とを
具備することにより、達成される。
(ホ) 実施例
本発明の構成例を第１図に示す。
ここで、１０はＸ線管、１２はＸ線高電圧装
置、１４は螢光増倍管（I.I）、１６は絞り、１８
はTVカメラヘツド、２０はカメラコントロール
ユニツト、２１と２２はアンプであり、２２の方
がゲインが低い、また２４は対数増幅器、２６は
Ａ／Ｄ変換器、２８と３０はフレームメモリ、３
２は減算器、３４はエンハンスメント、３６はマ
イクロコンピユータ、３８は入力器である。な
お、Ａ／Ｄ変換器、モニタなどの図示は省略され
ている。また、CLは制御信号のバスである。
置、１４は螢光増倍管（I.I）、１６は絞り、１８
はTVカメラヘツド、２０はカメラコントロール
ユニツト、２１と２２はアンプであり、２２の方
がゲインが低い、また２４は対数増幅器、２６は
Ａ／Ｄ変換器、２８と３０はフレームメモリ、３
２は減算器、３４はエンハンスメント、３６はマ
イクロコンピユータ、３８は入力器である。な
お、Ａ／Ｄ変換器、モニタなどの図示は省略され
ている。また、CLは制御信号のバスである。
テスト曝射で決める適正なＸ線条件とは、被検
者に対して所定の画質のサブトラクシヨン像を得
るための管電圧である。D.S.Sでは、シリアル、
コンテイニユアス、テイアイデ（TID）各モード
の使用管電流値はそれぞれ一定であるので、被検
者の違いを管電圧で調整する。D.S.S調整時に他
の方法により螢光増倍管１４からＡ／Ｄ変換器２
６までの調整個所、例えば、I.I.視野１４、絞り
１６、C.C。U.20のゲイン、対数増幅器２４のゲ
インなどは、すでにそれぞれ適正な値になるよう
調整されているため、ある被検者に対する適正管
電圧は、例えば、Ａ／Ｄ変換器２６の入力映像信
号レベルＶがＡ／Ｄ変換器２６の入力レンジいつ
ぱいにＶ＝Voptになる時の値である。従つて、
従来のテスト曝射によるＸ線条件決定は、Ｖをシ
ンクロスコープまたはレベルインジケータなどで
目視しながら、管電圧の微調整を繰り返すことに
より行なわれていた。
者に対して所定の画質のサブトラクシヨン像を得
るための管電圧である。D.S.Sでは、シリアル、
コンテイニユアス、テイアイデ（TID）各モード
の使用管電流値はそれぞれ一定であるので、被検
者の違いを管電圧で調整する。D.S.S調整時に他
の方法により螢光増倍管１４からＡ／Ｄ変換器２
６までの調整個所、例えば、I.I.視野１４、絞り
１６、C.C。U.20のゲイン、対数増幅器２４のゲ
インなどは、すでにそれぞれ適正な値になるよう
調整されているため、ある被検者に対する適正管
電圧は、例えば、Ａ／Ｄ変換器２６の入力映像信
号レベルＶがＡ／Ｄ変換器２６の入力レンジいつ
ぱいにＶ＝Voptになる時の値である。従つて、
従来のテスト曝射によるＸ線条件決定は、Ｖをシ
ンクロスコープまたはレベルインジケータなどで
目視しながら、管電圧の微調整を繰り返すことに
より行なわれていた。
本発明では、テスト曝射時或いは実験時の管電
圧は、手動または自動設定されるが、この値はマ
イクロコンピユータ３６により読みとられ、また
その都度、曝射により、映像信号レベルはＡ／Ｄ
変換されて、フレームメモリ２８或いは３０に格
納されるが、Ａ／Ｄ変換出力データまたはフレー
ムメモリの出力データについて、マイクロコンピ
ユータ３６によりその最大映像信号レベルを持つ
画素が検出され、その値Ｖが読みとられることに
より、映像電圧デイジタル値検出手段を構成す
る。さらに、後述するが、実際により求められた
サンプルデータは、同じマイクロコンピユータ３
６により直線補間或いは多項式の最小２乗法あて
はめにより連続曲線に変換される。
圧は、手動または自動設定されるが、この値はマ
イクロコンピユータ３６により読みとられ、また
その都度、曝射により、映像信号レベルはＡ／Ｄ
変換されて、フレームメモリ２８或いは３０に格
納されるが、Ａ／Ｄ変換出力データまたはフレー
ムメモリの出力データについて、マイクロコンピ
ユータ３６によりその最大映像信号レベルを持つ
画素が検出され、その値Ｖが読みとられることに
より、映像電圧デイジタル値検出手段を構成す
る。さらに、後述するが、実際により求められた
サンプルデータは、同じマイクロコンピユータ３
６により直線補間或いは多項式の最小２乗法あて
はめにより連続曲線に変換される。
他方、模擬フアントムの種々の厚みＤについて
管電圧KV−映像電圧Ｖ特性を実験的に求める。
すなわち、厚みＤ＝Dk（ｋ＝ｏ、…ｎ）の被写体
について、管電圧KVをＸ線管定格の範囲で種々
に変えて、Ｄ＝DkについてのKVj Vj（ｊ＝ｏ，
…ｍ）を第３図のように×をプロツトする。マイ
クロコンピユータ３６は、直線補間或いは多項式
の最小２乗法あてはめによつて、これらのサンプ
ルリング点から連続曲線を作成する。パラメータ
Ｄ＝D1〜Dnについて得られたKV−Ｖ特性の例
が第４図に示される。
管電圧KV−映像電圧Ｖ特性を実験的に求める。
すなわち、厚みＤ＝Dk（ｋ＝ｏ、…ｎ）の被写体
について、管電圧KVをＸ線管定格の範囲で種々
に変えて、Ｄ＝DkについてのKVj Vj（ｊ＝ｏ，
…ｍ）を第３図のように×をプロツトする。マイ
クロコンピユータ３６は、直線補間或いは多項式
の最小２乗法あてはめによつて、これらのサンプ
ルリング点から連続曲線を作成する。パラメータ
Ｄ＝D1〜Dnについて得られたKV−Ｖ特性の例
が第４図に示される。
次に、管電圧KV＝KVtestに設定して、この場
合ＶがＡ／Ｄ変換器２６の入力レンジを越えない
ようにテスト曝射を行い、映像信号レベルVtest
を得る。第４図におけるKV＝KVtest時のVl，
Dl（ｌ＝ｏ，…ｎ）のデータをもとに第５図のよ
うにプロツト図を得る。同様に、補間演算によ
り、第６図のような連続曲線のＶ−Ｄ特性図が得
られる。このＶ−Ｄ特性図よりＶ＝Vtest時の体
厚Dobjが求まる。Dobjが被検者の体と等価なＸ
線減衰を示す模擬フアントムの厚みである。
合ＶがＡ／Ｄ変換器２６の入力レンジを越えない
ようにテスト曝射を行い、映像信号レベルVtest
を得る。第４図におけるKV＝KVtest時のVl，
Dl（ｌ＝ｏ，…ｎ）のデータをもとに第５図のよ
うにプロツト図を得る。同様に、補間演算によ
り、第６図のような連続曲線のＶ−Ｄ特性図が得
られる。このＶ−Ｄ特性図よりＶ＝Vtest時の体
厚Dobjが求まる。Dobjが被検者の体と等価なＸ
線減衰を示す模擬フアントムの厚みである。
さらに、第７図のように、第４図よりKV＝
KV′m（ｍ＝ｏ…ａ）をパラメータとしたＶ−Ｄ
特性図第７図を作成し、Ｄ＝Dobjに対するＶの
値V′mを求め、得られた複数点のKV′m，V′m
（ｍ＝ｏ…ａ）をプロツトし、かつ補間演算によ
りKV−Ｖ特性図を第８図のようにして得る。そ
こで、Ｖ＝Voptを指定し、曲線との交点により
適正管電圧KVoptが求まる。
KV′m（ｍ＝ｏ…ａ）をパラメータとしたＶ−Ｄ
特性図第７図を作成し、Ｄ＝Dobjに対するＶの
値V′mを求め、得られた複数点のKV′m，V′m
（ｍ＝ｏ…ａ）をプロツトし、かつ補間演算によ
りKV−Ｖ特性図を第８図のようにして得る。そ
こで、Ｖ＝Voptを指定し、曲線との交点により
適正管電圧KVoptが求まる。
なお、実験による測定値の採取には、撮影時に
選択されるアンプ２１よりゲインの低いアンプ２
２が選択された状態で行ない、撮影時にはスイツ
チSW２のイ側がオンし、実験及びテスト曝射時
は、スイツチSW２のロ側がオンする。また、ス
イツチSW１は、対数増幅器２４の選択用に使用
されるが、実験では、SW１のロ側がオンされ
る。しかしながら、スイツチSW２に関しては、
管電圧が十分低い値で適用される場合には、アン
プ２１を選んでもよい。
選択されるアンプ２１よりゲインの低いアンプ２
２が選択された状態で行ない、撮影時にはスイツ
チSW２のイ側がオンし、実験及びテスト曝射時
は、スイツチSW２のロ側がオンする。また、ス
イツチSW１は、対数増幅器２４の選択用に使用
されるが、実験では、SW１のロ側がオンされ
る。しかしながら、スイツチSW２に関しては、
管電圧が十分低い値で適用される場合には、アン
プ２１を選んでもよい。
(ヘ) 効果
本発明は、１回のテスト曝射により正確なＸ線
条件、つまりＸ線管電圧の設定値が求まるという
特有の効果を奏する。
条件、つまりＸ線管電圧の設定値が求まるという
特有の効果を奏する。
第１図は本発明の構成例を示すブロツク図、第
２図は映像電圧Ｖの波形図、第３図はKV−Ｖプ
ロツト図、第４図はＤをパラメータとしたKV−
Ｖ特性図、第５図はＶ−Ｄプロツト図、第６図は
Ｖ−Ｄプロツト図、第７図はKVをパラメータと
したＶ−Ｄ特性図、第８図は被写体Dobjに対す
るKV−Ｖ特性図である。 ２６はＡ／Ｄ変換器、２８と３０はフレームメ
モリ、３６はマイクロコンピユータ、３８はキー
ボードである。
２図は映像電圧Ｖの波形図、第３図はKV−Ｖプ
ロツト図、第４図はＤをパラメータとしたKV−
Ｖ特性図、第５図はＶ−Ｄプロツト図、第６図は
Ｖ−Ｄプロツト図、第７図はKVをパラメータと
したＶ−Ｄ特性図、第８図は被写体Dobjに対す
るKV−Ｖ特性図である。 ２６はＡ／Ｄ変換器、２８と３０はフレームメ
モリ、３６はマイクロコンピユータ、３８はキー
ボードである。
Claims (1)
- １ マイクロコンピユータを備え、Ｘ線管高電圧
装置より設定管電圧KVを、及びＡ／Ｄ変換器又
はフレームメモリより映像電圧Ｖを、それぞれ検
出する手段と、模擬フアントムを予め使用してそ
の厚みＤをパラメータとしたKV−Ｖ特性テーブ
ル作成手段と、被検者を介したＸ線テスト曝射時
の設定管電圧KVtestに対する映像電圧Vtestを検
出して前記KV−Ｖ特性テーブルから設定管電圧
KVtestに対するＶ−Ｄ特性テーブルを作成する
手段と、このＶ−Ｄ特性テーブルから映像電圧
Vtestを指定して被検者の体厚Dobjを検索する手
段と、前記KV−Ｖ特性テーブルから管電圧KV
をパラメータとしたＶ−Ｄ特性テーブルを作成す
る手段と、このＶ−Ｄ特性テーブルから体厚
DobjをもとにKV−Ｖ特性テーブルを作成する手
段と、このKV−Ｖ特性テーブルから既知最適映
像電圧Voptを指定してそれに対する最適設定管
電圧KVoptを検索する手段とを具備しているこ
とを特徴とする、デイジタルサブトラクシヨン装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58049573A JPS59174081A (ja) | 1983-03-24 | 1983-03-24 | ディジタル サブトラクション装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58049573A JPS59174081A (ja) | 1983-03-24 | 1983-03-24 | ディジタル サブトラクション装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59174081A JPS59174081A (ja) | 1984-10-02 |
| JPH0510875B2 true JPH0510875B2 (ja) | 1993-02-10 |
Family
ID=12834950
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58049573A Granted JPS59174081A (ja) | 1983-03-24 | 1983-03-24 | ディジタル サブトラクション装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59174081A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2647075B2 (ja) * | 1985-06-15 | 1997-08-27 | 株式会社東芝 | デイジタル・フルオログラフイ装置 |
| DE3529108A1 (de) * | 1985-08-14 | 1987-02-26 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Verfahren zur erzeugung einer roentgenaufnahme mittels eines fotoleiters und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
| JPS62248666A (ja) * | 1986-04-22 | 1987-10-29 | Konika Corp | 記録濃度を一定にした感熱記録装置 |
| JPS62255165A (ja) * | 1986-04-28 | 1987-11-06 | Konika Corp | 記録パルスを演算する感熱記録装置 |
| JP7251092B2 (ja) * | 2018-01-19 | 2023-04-04 | コニカミノルタ株式会社 | 撮影制御装置、放射線撮影装置及び放射線撮影システム |
| US11026651B2 (en) | 2018-01-19 | 2021-06-08 | Konica Minolta, Inc. | Radiographing control apparatus, radiographic imaging apparatus and radiographic imaging system |
-
1983
- 1983-03-24 JP JP58049573A patent/JPS59174081A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59174081A (ja) | 1984-10-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4752944A (en) | Method and apparatus for producing an X-ray image by means of a photoconductor | |
| US4674108A (en) | Digital X-ray medical diagnostic apparatus | |
| JPH02273499A (ja) | Ｘ線イメージング装置の線量校正法 | |
| JP3375237B2 (ja) | Ｘ線撮影装置の自動濃度補正方法 | |
| US4530011A (en) | Apparatus for maintaining of a cathode ray tube image within the light acceptance range of a photographic film | |
| EP0126434A2 (en) | X-ray image pick-up device | |
| JPS6243584A (ja) | シンチレ−シヨンカメラ | |
| JPH0955298A (ja) | Ｘ線透視撮影方法及びｘ線透視撮影装置 | |
| JPH0510875B2 (ja) | ||
| JPH0326597B2 (ja) | ||
| JPH0792588A (ja) | 光刺激性蛍光スクリーンに記録された放射線画像を読み取るための装置の感度をモニターする方法 | |
| JPH05217689A (ja) | Ｘ線撮影装置およびｘ線撮影方法 | |
| US4985908A (en) | Digital fluorography apparatus | |
| JPH0676984A (ja) | マモグラフィ用レントゲン自動露光装置 | |
| JPH0654984B2 (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| JP4746808B2 (ja) | 露光制御付きｘ線診断装置 | |
| JPH0410789B2 (ja) | ||
| DE69004923T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur digitalen Verarbeitung von Röntgenbildern. | |
| JPH10247597A (ja) | フィルタ手段を有するｘ線診断装置 | |
| JPH0477440B2 (ja) | ||
| JPS58105743A (ja) | Ｘ線画像処理装置 | |
| JPH0410788B2 (ja) | ||
| Roeck et al. | Hybrid system for high resolution digital video densitometry | |
| JPS60264034A (ja) | 理化学装置 | |
| JP2954982B2 (ja) | Ｘ線自動露出制御装置 |