JPH04107994A - 電子部品の観察装置 - Google Patents
電子部品の観察装置Info
- Publication number
- JPH04107994A JPH04107994A JP2227034A JP22703490A JPH04107994A JP H04107994 A JPH04107994 A JP H04107994A JP 2227034 A JP2227034 A JP 2227034A JP 22703490 A JP22703490 A JP 22703490A JP H04107994 A JPH04107994 A JP H04107994A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- camera
- electronic component
- electronic components
- board
- electronic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Automatic Assembly (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は電子部品の観察装置に係り、基板に実装された
電子部品の回転角度に応じて、この電子部品を観察する
カメラを光軸を中心に回転させることにより、電子部品
を正常な姿勢で観察するようにしたものである。
電子部品の回転角度に応じて、この電子部品を観察する
カメラを光軸を中心に回転させることにより、電子部品
を正常な姿勢で観察するようにしたものである。
(従来の技術)
電子部品を基板に実装した後、電子部品の位置ずれ、欠
品、表裏反転等を検査する外観検査が行われる。このよ
うな外観検査は、一般に、カメラにより上方から電子部
品を観察することにより行われる。
品、表裏反転等を検査する外観検査が行われる。このよ
うな外観検査は、一般に、カメラにより上方から電子部
品を観察することにより行われる。
(発明が解決しようとする課題)
電子部品は、基板に様々の回転角度で実装される。すな
わち、第2図において、電子部品P1、P2は回転角度
θ°で実装されているが、電子部品P3.P4は回転角
度θ3.θ4をもって実装されている。したがって電子
部品P1゜P2をカメラにより観察する場合、電子部品
P1、P2はカメラの検査エリアAI、A2に正常な姿
勢で取り込んで、その位置ずれ等を検出することができ
るが、電子部品P3.P4は、回転角度θ3.θ4を有
するので、検査エリアに正常な姿勢で取り込むことはで
きない。
わち、第2図において、電子部品P1、P2は回転角度
θ°で実装されているが、電子部品P3.P4は回転角
度θ3.θ4をもって実装されている。したがって電子
部品P1゜P2をカメラにより観察する場合、電子部品
P1、P2はカメラの検査エリアAI、A2に正常な姿
勢で取り込んで、その位置ずれ等を検出することができ
るが、電子部品P3.P4は、回転角度θ3.θ4を有
するので、検査エリアに正常な姿勢で取り込むことはで
きない。
そこで、電子部品P4で示すように、検査エリアA4内
に傾斜した姿勢のままで電子部品P4を取り込み、ソフ
ト処理により、この電子部品P4の位置ずれ等を演算す
ることが考えられる。ところがこのようなソフト処理は
きわめて面倒であり、また多大な演夏時間を要するので
、検査速度が上らないこととなる。
に傾斜した姿勢のままで電子部品P4を取り込み、ソフ
ト処理により、この電子部品P4の位置ずれ等を演算す
ることが考えられる。ところがこのようなソフト処理は
きわめて面倒であり、また多大な演夏時間を要するので
、検査速度が上らないこととなる。
(課題を解決するための手段)
本発明は、基板に実装された電子部品を上方から観察す
るカメラと、このカメラをその光軸を中心に回転させる
回転手段とから電子部品の観察装置を構成している。
るカメラと、このカメラをその光軸を中心に回転させる
回転手段とから電子部品の観察装置を構成している。
(作用)
上記構成によれば、電子部品の回転角度に応じて、カメ
ラを回転させることにより、電子部品の画像を正常な姿
勢で検査エリア内に取り込み、その外観検査を行うこと
ができる。
ラを回転させることにより、電子部品の画像を正常な姿
勢で検査エリア内に取り込み、その外観検査を行うこと
ができる。
(実施例)
次に、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図は電子部品の観察装置の斜視図である。
1はXY子テーブルあり、基板2が載置されている。P
1〜P4は基板2に実装された電子部品である。
1〜P4は基板2に実装された電子部品である。
3はカメラであり、上方から電子部品P1〜P4を観察
する。4はモータ、5はタイミングヘルドであって、カ
メラ3をその光軸NAを中心に回転させる回転手段とな
っている。6はカメラ3の下方に設けられた鏡筒であり
、その下部にはズーム系7が設けられている。8.9は
ズーム系7を駆動するためのモータとタイミングベルト
であり、カメラ3の焦点深度を調整する。
する。4はモータ、5はタイミングヘルドであって、カ
メラ3をその光軸NAを中心に回転させる回転手段とな
っている。6はカメラ3の下方に設けられた鏡筒であり
、その下部にはズーム系7が設けられている。8.9は
ズーム系7を駆動するためのモータとタイミングベルト
であり、カメラ3の焦点深度を調整する。
第2図に示すように、電子部品P1〜P4は、様々な回
転角度で基板2に実装されている。電子部品P1〜P2
は回転角度0°であって、カメラ3の検査エリアAI、
A2に傾きの無い正常な姿勢で取り込まれるので、位置
ずれ等の外観検査をそのまま行うことができる。ところ
が電子部品P3は、回転角度θ3を有しているので、そ
のままでは、検査エリアに正常な姿勢で取り込むことは
できない。そこでモータ4を駆動して、カメラ3を回転
角度θ3と同角度回転させることにより、検査エリアA
3の内部に正常な姿勢で電子部品P3を取り込むことが
できる。また電子部品P4の場合も、その回転角度θ4
と同角度カメラ3を回転させることにより、この電子部
品P4を正常な姿勢で検査エリアA4′に取り込むこと
ができる。
転角度で基板2に実装されている。電子部品P1〜P2
は回転角度0°であって、カメラ3の検査エリアAI、
A2に傾きの無い正常な姿勢で取り込まれるので、位置
ずれ等の外観検査をそのまま行うことができる。ところ
が電子部品P3は、回転角度θ3を有しているので、そ
のままでは、検査エリアに正常な姿勢で取り込むことは
できない。そこでモータ4を駆動して、カメラ3を回転
角度θ3と同角度回転させることにより、検査エリアA
3の内部に正常な姿勢で電子部品P3を取り込むことが
できる。また電子部品P4の場合も、その回転角度θ4
と同角度カメラ3を回転させることにより、この電子部
品P4を正常な姿勢で検査エリアA4′に取り込むこと
ができる。
(発明の効果)
以上説明したように本発明は、基板に実装された電子部
品を上方から観察するカメラと、このカメラをその光軸
を中心に回転させる回転手段とから電子部品の観察装置
を構成しているので、簡単な手段により、電子部品を正
常な姿勢でカメラの検査エリアに取り込み、その外観検
査を行うことができる。
品を上方から観察するカメラと、このカメラをその光軸
を中心に回転させる回転手段とから電子部品の観察装置
を構成しているので、簡単な手段により、電子部品を正
常な姿勢でカメラの検査エリアに取り込み、その外観検
査を行うことができる。
図は本発明の実施例を示すものであって、第1図は電子
部品の観察装置の斜視図、第2図は基板の平面図である
。 2・・・基板 3・・・カメラ 4.5・・・回転手段 P・・・電子部品 第1図 第2図
部品の観察装置の斜視図、第2図は基板の平面図である
。 2・・・基板 3・・・カメラ 4.5・・・回転手段 P・・・電子部品 第1図 第2図
Claims (1)
- 基板に実装された電子部品を上方から観察するカメラ
と、このカメラをその光軸を中心に回転させる回転手段
とを備えていることを特徴とする電子部品の観察装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2227034A JPH04107994A (ja) | 1990-08-28 | 1990-08-28 | 電子部品の観察装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2227034A JPH04107994A (ja) | 1990-08-28 | 1990-08-28 | 電子部品の観察装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04107994A true JPH04107994A (ja) | 1992-04-09 |
Family
ID=16854491
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2227034A Pending JPH04107994A (ja) | 1990-08-28 | 1990-08-28 | 電子部品の観察装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04107994A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08237000A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Denshi Giken:Kk | 電子部品の実装状態検査装置 |
| US5560100A (en) * | 1992-11-26 | 1996-10-01 | Englert; Klaus | Systems and method for automatic disassembly |
| JP2001255274A (ja) * | 2000-03-08 | 2001-09-21 | Hitachi Giken Co Ltd | 工業製品の目視検査支援装置 |
| KR100531336B1 (ko) * | 2002-08-28 | 2005-11-25 | 가부시키가이샤 히다치 기켄 | 공업제품의 육안검사지원장치 |
| JP2013140503A (ja) * | 2012-01-05 | 2013-07-18 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像処理装置及び画像処理プログラム |
-
1990
- 1990-08-28 JP JP2227034A patent/JPH04107994A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5560100A (en) * | 1992-11-26 | 1996-10-01 | Englert; Klaus | Systems and method for automatic disassembly |
| JPH08237000A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Denshi Giken:Kk | 電子部品の実装状態検査装置 |
| JP2001255274A (ja) * | 2000-03-08 | 2001-09-21 | Hitachi Giken Co Ltd | 工業製品の目視検査支援装置 |
| KR100531336B1 (ko) * | 2002-08-28 | 2005-11-25 | 가부시키가이샤 히다치 기켄 | 공업제품의 육안검사지원장치 |
| JP2013140503A (ja) * | 2012-01-05 | 2013-07-18 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像処理装置及び画像処理プログラム |
| US9858499B2 (en) | 2012-01-05 | 2018-01-02 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Image processor, non-transitory computer readable medium and object matching device |
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