JPH04107994A - 電子部品の観察装置 - Google Patents

電子部品の観察装置

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Publication number
JPH04107994A
JPH04107994A JP2227034A JP22703490A JPH04107994A JP H04107994 A JPH04107994 A JP H04107994A JP 2227034 A JP2227034 A JP 2227034A JP 22703490 A JP22703490 A JP 22703490A JP H04107994 A JPH04107994 A JP H04107994A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
camera
electronic component
electronic components
board
electronic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2227034A
Other languages
English (en)
Inventor
Takayuki Hatase
貴之 畑瀬
Nobushi Tokura
戸倉 暢史
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は電子部品の観察装置に係り、基板に実装された
電子部品の回転角度に応じて、この電子部品を観察する
カメラを光軸を中心に回転させることにより、電子部品
を正常な姿勢で観察するようにしたものである。
(従来の技術) 電子部品を基板に実装した後、電子部品の位置ずれ、欠
品、表裏反転等を検査する外観検査が行われる。このよ
うな外観検査は、一般に、カメラにより上方から電子部
品を観察することにより行われる。
(発明が解決しようとする課題) 電子部品は、基板に様々の回転角度で実装される。すな
わち、第2図において、電子部品P1、P2は回転角度
θ°で実装されているが、電子部品P3.P4は回転角
度θ3.θ4をもって実装されている。したがって電子
部品P1゜P2をカメラにより観察する場合、電子部品
P1、P2はカメラの検査エリアAI、A2に正常な姿
勢で取り込んで、その位置ずれ等を検出することができ
るが、電子部品P3.P4は、回転角度θ3.θ4を有
するので、検査エリアに正常な姿勢で取り込むことはで
きない。
そこで、電子部品P4で示すように、検査エリアA4内
に傾斜した姿勢のままで電子部品P4を取り込み、ソフ
ト処理により、この電子部品P4の位置ずれ等を演算す
ることが考えられる。ところがこのようなソフト処理は
きわめて面倒であり、また多大な演夏時間を要するので
、検査速度が上らないこととなる。
(課題を解決するための手段) 本発明は、基板に実装された電子部品を上方から観察す
るカメラと、このカメラをその光軸を中心に回転させる
回転手段とから電子部品の観察装置を構成している。
(作用) 上記構成によれば、電子部品の回転角度に応じて、カメ
ラを回転させることにより、電子部品の画像を正常な姿
勢で検査エリア内に取り込み、その外観検査を行うこと
ができる。
(実施例) 次に、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図は電子部品の観察装置の斜視図である。
1はXY子テーブルあり、基板2が載置されている。P
1〜P4は基板2に実装された電子部品である。
3はカメラであり、上方から電子部品P1〜P4を観察
する。4はモータ、5はタイミングヘルドであって、カ
メラ3をその光軸NAを中心に回転させる回転手段とな
っている。6はカメラ3の下方に設けられた鏡筒であり
、その下部にはズーム系7が設けられている。8.9は
ズーム系7を駆動するためのモータとタイミングベルト
であり、カメラ3の焦点深度を調整する。
第2図に示すように、電子部品P1〜P4は、様々な回
転角度で基板2に実装されている。電子部品P1〜P2
は回転角度0°であって、カメラ3の検査エリアAI、
A2に傾きの無い正常な姿勢で取り込まれるので、位置
ずれ等の外観検査をそのまま行うことができる。ところ
が電子部品P3は、回転角度θ3を有しているので、そ
のままでは、検査エリアに正常な姿勢で取り込むことは
できない。そこでモータ4を駆動して、カメラ3を回転
角度θ3と同角度回転させることにより、検査エリアA
3の内部に正常な姿勢で電子部品P3を取り込むことが
できる。また電子部品P4の場合も、その回転角度θ4
と同角度カメラ3を回転させることにより、この電子部
品P4を正常な姿勢で検査エリアA4′に取り込むこと
ができる。
(発明の効果) 以上説明したように本発明は、基板に実装された電子部
品を上方から観察するカメラと、このカメラをその光軸
を中心に回転させる回転手段とから電子部品の観察装置
を構成しているので、簡単な手段により、電子部品を正
常な姿勢でカメラの検査エリアに取り込み、その外観検
査を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の実施例を示すものであって、第1図は電子
部品の観察装置の斜視図、第2図は基板の平面図である
。 2・・・基板 3・・・カメラ 4.5・・・回転手段 P・・・電子部品 第1図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  基板に実装された電子部品を上方から観察するカメラ
    と、このカメラをその光軸を中心に回転させる回転手段
    とを備えていることを特徴とする電子部品の観察装置。
JP2227034A 1990-08-28 1990-08-28 電子部品の観察装置 Pending JPH04107994A (ja)

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ID=16854491

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08237000A (ja) * 1995-02-28 1996-09-13 Denshi Giken:Kk 電子部品の実装状態検査装置
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