JPH04110703A - 金属箔検査装置 - Google Patents

金属箔検査装置

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JPH04110703A
JPH04110703A JP23123390A JP23123390A JPH04110703A JP H04110703 A JPH04110703 A JP H04110703A JP 23123390 A JP23123390 A JP 23123390A JP 23123390 A JP23123390 A JP 23123390A JP H04110703 A JPH04110703 A JP H04110703A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor
carton
output
foil
foil pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP23123390A
Other languages
English (en)
Inventor
Tamotsu Okita
沖田 保
Tsuyoshi Naito
強 内藤
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Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
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Publication date
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  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、紙容器用カートン等に付された金属箔が、
所定の位置に所定の形状で形成されて6するか否かを検
査する金属箔検査装置に関するものである。
(従来の技術) 例えば、紙容器用カートンにおいては、その表面にホッ
トスタンプ等によって金属箔を付する場合があり、この
場合その箔パターンが紙容器用カートン上に適切に形成
されているか否かを検査する必要がある。
従来、印刷物中に形成された箔パターンの検査は、検査
員が目視で行なったり、あるいはテレビカメラを用いた
画像処理による自動検査が行なわれている。
(発明が解決しようとする課題) ところで、かかる箔押しの工程は、印刷工程終了後に行
なわれるので、印刷物中の箔パターンを検査する場合、
印刷工程により印刷されたパターンとの識別が必要であ
り、画像処理による自動検査を行なう場合、設備が複雑
で大がかりとなるうえ、カートンの箔パターンの付され
た面をテレビカメラ側に向けることが必要であり、製函
工程等の後工程の自由度を制限することになる。
この発明は、このような事情に基づいてなされたもので
、後工程の自由度を高めるとともに、自動検査が可能で
その設備が比較的簡素な金属箔検査装置を提供すること
を目的とするものである。
(課題を解決するための手段) この目的を達成するために、この発明は、カートンの搬
送ラインに搬送位置割り出し手段を設置するとともに、
その搬送ライン上のカートンの有無を検出する検出手段
と、カートン上に付された箔に感応する静電容量型近接
センサとを搬送ライン上に臨ませたものである。
(作用) この発明によれば、搬送ラインによるカートンの搬送に
よって、カートンと箔パターンとの搬送方向での位置や
長さが位置割り出し手段を参照することによって検出さ
れ、これにより箔パターンの形状やカートン上での位置
を検査することができるので、カートン上に付された箔
パターンの適否を検査することができる。
そして、この検査はテレビカメラ等を用いた画像処理で
はなく、静電容量型近接センサ等による搬送方向での一
次元的な検査であるため、検査設備は比較的簡素であり
、自動検査も容易である。
また、箔パターンの検出に静電容量型近接センサを用い
ているので、カートンの表面に箔パタンが形成されてい
る場合はもちろんのこと、カートンの裏面に箔パターン
が形成されている場合においてもこのセンサで箔パター
ンの搬送方向長さを検出することができる。
したがって、搬送ライン上を搬送されるカートンについ
ての9表裏の搬送姿勢を、この検査装置の後工程の必要
に応じて選択することができるので、後工程の自由度が
高められる。
(実施例) 以下、製函機上における一実施例によりこの発明を説明
する。
第1図において、1は製函機中の工程前段に設置された
搬送ライン、2はカートンである。
搬送ライン1はベルトコンベヤからなり、そのコンベヤ
ベルト1aは駆動装置3で図中矢印の方向に、例えば3
00m/minの定速で駆動されている。
このコンベヤベルト1aの上面には、前工程で印刷およ
び落丁の行なわれたカートン2が搭載され、製函される
そして、この搬送ライン1には、本願発明にかかる検査
装置4が設置されている。
この検査装置4は、センサ部5とエンコーダ6と制御ボ
ックス7とを有する。
センサ部5は、カートン2上に付された金属箔からなる
箔パターン2aに感応する第1のセンサ11と、カート
ン2に感応する第2のセンサ12とで構成されている。
第1のセンサ11は静電容量型近接センサであって1例
えばドイツ連邦共和国のレヒナー社製「シールドセンサ
」 (商品名)であり、第2のセンサ12は例えば反射
型光ファイバ式光電センサである。
そして、この実施例においては、前記第1のセンサ11
として3本のセンサ(以下、これら3本の各第1のセン
サをそれぞれlla、llb、11cとして区別する)
が設置されている。
これらの第1のセンサ11 a、  1 l b、  
11 cは、第2図に示すように、箔パターン2aの進
行方向(図中矢印)の前縁に沿い、搬送ライン1の幅方
向に適宜の間隔で配置されている。
したがって、搬送ライン1によるカートン2の搬送によ
り、これらの第1のセンサlla、11b、llcは箔
パターン2aの検出を同時に開始する。
そして、前記第2のセンサ12は、カートン2の前記箔
パターン2aから離れた位置でカートン2の前縁を検知
して検出を開始することとし、前記第1のセンサ11 
a、  1 l b、  11 cによる箔パターン2
aの検出に先立って、カートン2の検出を開始するよう
に設置位置が選定されている。
なお、検査の対象となるカートンおよび箔パターンの寸
法や形状は種々のものが存在するので、これらの第1の
センサ11 a、  1 l b、  11 cおよび
第2のセンサ12は搬送ライン1の上方でそれぞれ設置
位置の調整が可能に設置されており、また必要に応じて
の第1のセンサの増設も可能となっている。
エンコーダ6は、この発明でいう、搬送位置割り出し手
段に該当するものであって、搬送ライン1を構成するコ
ンベヤベルト1aの駆動装置3に連動するようになって
いる。
したがって、駆動装置3により駆動される搬送ライン1
のコンベヤベルト1aの搬送移動量は、このエンコーダ
6のパルス数で表示することができる。
制御ボックス7は、前記センサ部5およびエンコーダ6
からの出力信号を演算処理して自動検査を行なうもので
あって、マイクロコンピュータで構成され、箔パターン
2aが不適切である場合にはNG出力を行なうものであ
る(その処理内容は後述する)。
このように構成された検査装置4を用いた検査は次のよ
うにして行なわれる。
まず、検査に先だって以下のような準備作業が行なわれ
る。
すなわち、準備作業としては、前記第1のセンサ11 
a、  1 l b、  11 cの箔パターン2aに
対する感度を不図示のボリウムで調節して検出レベルを
設定する。また、第2のセンサについて、カートン2の
有無によるオン・オフ信号の検査用ゲート信号を制御ボ
ックス7で設定する。
また、後述の第3図中にA−、B−、C−で示すように
、前記第1のセンサlla、llb、11cのそれぞれ
に対応するゲート信号を制御ボックス7で設定する。
これらのゲート信号は、各第1のセンサによる出力信号
の適否を判断するための基準で、エンコーダ6のパルス
数により、箔パターンについて各第1のセンサにより検
査する長さを表示したものである。
なお、これらの各第1のセンサのオン時期にずれのある
場合にはそのずれ時間をも考慮して設定を行なう。
そして、これらのゲート信号は、制御ボックス7内のマ
イクロコンピュータの記憶装置に記憶させておく。
この後、第1図に示すようにカートン2が搬送されてく
ると、検査装置4は次のように作動する。
すなわち、カートン2がセンサ部5の直下に至ると、各
第1のセンサ11 a、  1 l b、  11 c
は、第3図の出力図に示すように、第2のセンサ12の
出力オンから少し遅れて、同時に出力オンとなる。
そして、これらの各センサの出力オンの状態は、そのセ
ンサによる被測定物である。箔パターン2aあるいはカ
ートン2が、搬送されて直下に位置しなくなるまで継続
する。
第3図において、図中Aは第1のセンサllaの出力を
示し、図中Bは第1のセンサ11b9図中Cは第1のセ
ンサ11c9図中りは第2のセンサ12の出力を示すも
のである。また、第3図および第4図(b)におけるA
−、B−、C−は、前述の準備作業で行なった各第1の
センサのゲト信号をグラフで表示したもので、それぞれ
第1のセンサlla、llb、llcに対応するもので
ある。
例えば、箔パターン2aが第2図に示す形状である場合
、各第1のセンサはその箔パターン2a上を搬送方向(
矢印方向)に検出するので、第1のセンサllaは相対
的に箔パターン2a上を線分Laに応じてオン信号を出
力し、第1のセンサ11bは線分Lb+とLb2.  
第1のセンサ11cは線分Lc+とLC2に応じたオン
信号を出力する。
すなわち、この実施例においては第3図に示すように、
第1のセンサllaは線分Laに対応するオン信号P1
を、第1のセンサllbは線分Lb+とLb2に対応す
るオン信号P2とP3を、また、第1のセンサllcは
線分LcIとLC2に対応するオン信号P4とP5を出
力する。
なお、これらの各第1のセンサlla、llb。
11cの出力PI、  P2.  Paの始期を一致さ
せたのは、前述の各ゲート信号との比較の便宜のためで
ある。
このようにして得られた第1のセンサ11a。
11b、llcの出力と第2のセンサ12の出力は、前
記エンコーダ6からの出力とともに、制御ボックス7に
伝達され、マイクロコンピュータで第4図のフローチャ
ートのように演算処理される。
なお、前記第1のセンサllb、llcのように、実施
例の第1のセンサはいずれも箔パターン2a中の、金属
箔が存在しない部分を検出することができるので、位置
割り出しを高い分解能で行なう、エンコーダ6と併用す
ることによって、複雑な箔パターンを読取り、識別する
ことも可能である。
次に、第4図(a)に示す、不良の箔パターン2aに対
する各第1のセンサの出力状況を、第4図(b)で説明
する。
なお、第4図(b)において、A、  B、  Cはそ
れぞれ対応する各第1のセンサlla、llb。
11cの出力を、また、Dは第2のセンサ12の出力を
示し、A−、B−、C−はグラフ化されたそれぞれのゲ
ート信号を示すことは第3図と同様である。
そして、この不良の箔パターン2aにおいて、第1のセ
ンサllaが検出を行なう線分La上の部分は健全な状
態であるが、第1のセンサllbが検出を行なう線分L
b2上の部分には金属箔の欠落部分(以下、箔欠けとい
う)21が存在する。
また、第1のセンサllcが検出を行なう、線分Lc+
上の部分にはピンホール22が存在し、線分LCP上の
部分には付着すべきでない部分に金属箔が付着した。箔
切れ不良部分23が存在している。
このような箔パターン2aがセンサ部5に至ると、第1
のセンサllaは前記と同様に適正なオン信号P1を出
力をする。
しかし、第1のセンサllbは、線分Lb2の後半部分
では早期にオフ出力がなされるので、オン信号P3は幅
の狭い出力となる。
また、第1のセンサllcが検出する線分Lc+上のピ
ンホール22部分においては、第1のセンサ11cはオ
ン中にオフ信号を出力するので、オン信号Paは部分さ
れ、さらに、線分LC2の部分では箔切れ不良部分23
によりオン信号P5の出力が早期から行なわれるので幅
の広いオン信号となる。
これらの不良が箔パターン2aに存在する場合、これら
の不良による各出力信号は、制御ボックス7で後述のフ
ローチャートにしたがって、各ゲート信号と比較判断さ
れ、NG信号の出力が行なわれる。
次に、第5図に示すフローチャートにより制御ボックス
7での演算処理内容を説明する。
すなわち、この検査装置4の制御ボックス7は例えば、
製函機の搬送ライン1の作動開始でスタートする(ステ
ップ1)。
製函機の搬送ライン1によりカートン2がセンサ部5に
達するまで、すなわち第2のセンサ12からの出力があ
るまで第2のセンサ12からの出力を常時監視する(ス
テップ2)。
第2のセンサ12からの出力があると、ステップ3に進
み、各第1のセンサlla、llb、11cからの出力
が所定の位置で全て同時にオンとなったか否かを判断す
る(ステップ3)。
ステップ3でYESと判断された場合には、ステップ4
に進み、NOと判断された場合にはステップ7に進んで
、制御ボックス7はNG信号を出力する。
このNOと判断される場合、各第1のセンサ11a、l
lb、llcが検知する箔パターン2aの全体あるいは
一部が、箔欠けや位置ずれを生じていると考えられる。
したがって、このような場合には制御ボックス7からN
G比出力行い、この出力を用いて不適切なカートン2を
搬送ライン1上から除去する。
ステップ4においては、各第1のセンサ11a。
11b、llcの出力が、事前に設定したパルス数(ゲ
ート信号)の後にオフとなったか否かが判断される。
この4’lJ断がYESの場合、ステップ5に進み、N
Oの場合には、箔パターン2aが搬送ライン1の幅方向
にずれて付されていることや箔切れ不良が存在すること
が考えられる、ので、ステップ7に進みNG信号を出力
する。
ステップ5においては、各第1のセンサ11a。
11b、llcの出力において、オン中にオフ信号が混
入していないかどうかを判断する。
オフ信号が混入しておらず、  YESと判断した場合
、ステップ6に進み、オフ信号が混入しておりNOと判
断した場合、箔パターン2にピンホールや搬送ライン1
0幅方向の位置ずれが生じているので、ステップ7に進
み、NG信号出力を行なう。
ステップ6においては、オフ中にオン信号が混入してい
ないかどうかを判断し、オン信号が混入しておらず、 
 YESと判断した場合、そのカートン2に付された箔
パターン2aが適正であるので、ステップ7を迂回して
ステップ2に戻り、次のカートン2を待つ。
オフ中にオン信号が混入しており、NOと判断された場
合、箔切れ不良や位置ずれが存在すると考えられるので
、ステップ7に進みNG信号を出力する。
二の実施例の制御ボックス7は、マイクロコンピュータ
によりこのような制御を行なうものであり、従来のテレ
ビカメラ等を用いた画像処理による自動検査と比べて、
極めて簡単な処理で自動検査をすることができ、そのた
めの設備も簡素である。
そのうえ、第1図に示すように、箔パターン2aを下面
側に向けた搬送姿勢でカートン2の上面側に第1のセン
サ11を配置して、箔パターン2aの検査をすることが
できるので、そのまま製函工程でのカートン2の折曲げ
等の加工をすることができ反転工程を設置することも不
要であるので、製造効率が良好となる。
なお、この実施例では第2のセンサ12の検出開始後に
、各節1のセンサを同時に検出開始することとしたが、
本発明はこれらの各センサ11゜12をすべて同時に検
出開始させるようにしてもよい。
また、この第1のセンサ11を静電容量型近接センサに
より構成したので、カートン2にノコ歯等の金属部品が
装着されているが否かを同時に検査することができるほ
か、搬送ライン1にカートン2が2枚重ねの状態で供給
された場合に、そのカートン2が2枚重ねであることを
も検出することができる。
これは、カートン2が2枚重ねの状態である場合に、静
電容量型近接センサは、それぞれのカートン2の各箔パ
ターン2aによる静電容量型検出するので、その検出レ
ベルは第6図に示すようにカートン2が1枚の通常の場
合に比べて極めて大きくなる。
したがって、通常の1枚の検出レベルL+と2枚の場合
の検出レベルL2どの間に、スレッシュレベルSを設定
し、このレベルSを越えて検出レベルが高い場合に前記
と同様にNG信号を出力させることによって、製函不良
を未然に防止すること容易である。
(発明の効果) 以上説明したように、この発明によれば、搬送ラインに
よるカートンの搬送によって、カートンと箔パターンと
の搬送方向での位置や長さが位置割り出し手段を参照す
ることによって検出され、これにより箔パターンの形状
やカートン上での位置を検査することができるので、カ
ートン上に付された箔パターンの適否および箔の2度押
しの有無を検査することができる。
そして、この検査はテレビカメラ等を用いた画像処理で
はなく、静電容量型近接センサ等による搬送方向での一
次元的な検査であるため、検査設備は比較的簡素であり
、自動検査も容易である。
また、箔パターンの検出に静電容量型近接センサを用い
ているので、カートンの表面に箔パターンが形成されて
いる場合はもちろんのこと、カートンの裏面に箔パター
ンが形成されている場合においてもこのセンサで箔パタ
ーンの搬送方向長さを検出することができる。
したがって、搬送ライン上を搬送されるカートンについ
ての1表裏の搬送姿勢を、この検査装置の後工程の必要
に応じて選択することができるので、後工程の自由度が
高められる。
【図面の簡単な説明】
図面は、この発明の実施例に関し、第1図は検査装置の
全体説明図、第2図は第1のセンサによる箔パターンの
検出説明図、第3図はセンサ部からの出力図、第4図(
a)は不良の箔パターンの説明図、第4図(b)は(a
)の箔パターンによるセンサ部からの出力図、第5図は
制御ボックスの動作のフローチャート、第6図は第1の
センサによる2枚重ねの検出レベル説明図である。 1;搬送ライン、 2゛ カートン、 2a・箔(箔パターン)、 4・金属箔検査装置(検査装置)、 6;搬送位置割り出し手段(エンコーダ)、11、 1
1 a、  1 l b、  11 c;静電容量型近
接センサ(第1のセンサ)、12;検出手段(第2のセ
ンサ)。 吟間→ D (a) 第 図 辰 放

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  カートンの搬送ラインに搬送位置割り出し手段を設置
    するとともに、その搬送ライン上のカートンの有無を検
    出する検出手段と、カートン上に付された箔に感応する
    静電容量型近接センサとを搬送ライン上に臨ませたこと
    を特徴とする金属箔検査装置。
JP23123390A 1990-08-31 1990-08-31 金属箔検査装置 Pending JPH04110703A (ja)

Priority Applications (1)

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JP23123390A JPH04110703A (ja) 1990-08-31 1990-08-31 金属箔検査装置

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JP23123390A JPH04110703A (ja) 1990-08-31 1990-08-31 金属箔検査装置

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JPH04110703A true JPH04110703A (ja) 1992-04-13

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ID=16920409

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JP23123390A Pending JPH04110703A (ja) 1990-08-31 1990-08-31 金属箔検査装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002350482A (ja) * 2001-05-24 2002-12-04 Oht Inc 基板位置ずれ検出装置及び基板位置ずれ検出方法

Cited By (3)

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