JPH0411328Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0411328Y2 JPH0411328Y2 JP18314086U JP18314086U JPH0411328Y2 JP H0411328 Y2 JPH0411328 Y2 JP H0411328Y2 JP 18314086 U JP18314086 U JP 18314086U JP 18314086 U JP18314086 U JP 18314086U JP H0411328 Y2 JPH0411328 Y2 JP H0411328Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mass spectrometer
- ion source
- ions
- mass
- lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本考案は２つの質量分析装置を結合した所謂
MS／MS装置に関する。
MS／MS装置に関する。
［従来技術］
近時、高質量物質の分析を行うにあたり、第１
の質量分析装置で分離されたイオンを衝突解離さ
せ、派生した娘イオンを第２の質量分析装置に導
入して質量分析するMS／MS装置が開発されて
いる。
の質量分析装置で分離されたイオンを衝突解離さ
せ、派生した娘イオンを第２の質量分析装置に導
入して質量分析するMS／MS装置が開発されて
いる。
第２図は、従来のMS／MS装置における、２
つの質量分析装置の接続部を示す概略図である。
図において１は第１の質量分析装置の分析場、２
は検出スリツト、３は変換電極４と電子増倍管５
から構成されるオフアクシス型イオン検出器、６
は収束電極、７は第２の質量分析装置の調整用に
使用されるイオン源、８は内部にヘリウム等の衝
突ガスが導入される衝突室、９は第２の質量分析
装置の入射スリツト、１０は第２の質量分析装置
の分析場である。
つの質量分析装置の接続部を示す概略図である。
図において１は第１の質量分析装置の分析場、２
は検出スリツト、３は変換電極４と電子増倍管５
から構成されるオフアクシス型イオン検出器、６
は収束電極、７は第２の質量分析装置の調整用に
使用されるイオン源、８は内部にヘリウム等の衝
突ガスが導入される衝突室、９は第２の質量分析
装置の入射スリツト、１０は第２の質量分析装置
の分析場である。
このような構成において、第１の質量分析装置
のみ使用する場合には、変換電極４に電圧を印加
して検出スリツトを通過したイオンをすべて変換
電極４へ向けて加速衝突させ、発生した電子を増
倍管５で検出する。
のみ使用する場合には、変換電極４に電圧を印加
して検出スリツトを通過したイオンをすべて変換
電極４へ向けて加速衝突させ、発生した電子を増
倍管５で検出する。
又、第２の質量分析装置の調整を行う場合に
は、イオン源７を動作させ、イオン源７から発生
したイオンを衝突ガスが供給されていない衝突室
８及び入射スリツト９を介して第２の質量分析場
１０へ導入する。
は、イオン源７を動作させ、イオン源７から発生
したイオンを衝突ガスが供給されていない衝突室
８及び入射スリツト９を介して第２の質量分析場
１０へ導入する。
一方、MS／MS装置として使用する場合には、
検出器３及びイオン源７は動作させず、スリツト
２を通過したイオンを衝突ガスが供給されている
衝突室８へ導入して衝突解離させ、派生した娘イ
オンを入射スリツト９を介して第２の質量分析装
置へ導入して質量分析する。この時、検出スリツ
ト２を通過して発散しつつあるイオンをそのまま
衝突室へ向かわせたのでは衝突室に導入できるイ
オンが少なくなり、感度が低下するので、イオン
を収束させつつ衝突室へ導入させるためために収
束電極６が用いられる。
検出器３及びイオン源７は動作させず、スリツト
２を通過したイオンを衝突ガスが供給されている
衝突室８へ導入して衝突解離させ、派生した娘イ
オンを入射スリツト９を介して第２の質量分析装
置へ導入して質量分析する。この時、検出スリツ
ト２を通過して発散しつつあるイオンをそのまま
衝突室へ向かわせたのでは衝突室に導入できるイ
オンが少なくなり、感度が低下するので、イオン
を収束させつつ衝突室へ導入させるためために収
束電極６が用いられる。
［考案が解決しようとする問題点］
このように、従来の構成では第１及び第２の質
量分析装置の接続部にイオン検出器３、収束電極
６、イオン源７、衝突室８を収容しなければなら
ないため、この接続部の長大化は避けられず、装
置が大掛りになると共に、イオンのロスも大きく
なり、感度低下を招いていた。
量分析装置の接続部にイオン検出器３、収束電極
６、イオン源７、衝突室８を収容しなければなら
ないため、この接続部の長大化は避けられず、装
置が大掛りになると共に、イオンのロスも大きく
なり、感度低下を招いていた。
本考案は上述した点に鑑みてなされたものであ
り、接続部を簡略化して装置を小型化でき、感度
低下も防止することのできるMS／MS装置を提
供することを目的としている。［問題点を解決す
るための手段］ この目的達成のため、本考案は、夫々質量分析
場を有する２つの質量分析装置を直列に結合して
MS／MS装置を構成し、第１の質量分析装置の
検出スリツトから第２の質量分析装置の入射スリ
ツトまでの接続部に、イオン検出器と、第２の質
量分析装置用イオン源と、衝突室とを配置した装
置において、前記第２の質量分析装置用イオン源
に付属するレンズ電極に供給する電圧を、該イオ
ン源内で生成されたイオンを第２の質量分析装置
に向けて引出すための値と、該イオン源を使用し
ない時に前記接続部を通過するイオンを収束させ
るレンズとして作用する値の２段階に選択可能に
構成したことを特徴としている。
り、接続部を簡略化して装置を小型化でき、感度
低下も防止することのできるMS／MS装置を提
供することを目的としている。［問題点を解決す
るための手段］ この目的達成のため、本考案は、夫々質量分析
場を有する２つの質量分析装置を直列に結合して
MS／MS装置を構成し、第１の質量分析装置の
検出スリツトから第２の質量分析装置の入射スリ
ツトまでの接続部に、イオン検出器と、第２の質
量分析装置用イオン源と、衝突室とを配置した装
置において、前記第２の質量分析装置用イオン源
に付属するレンズ電極に供給する電圧を、該イオ
ン源内で生成されたイオンを第２の質量分析装置
に向けて引出すための値と、該イオン源を使用し
ない時に前記接続部を通過するイオンを収束させ
るレンズとして作用する値の２段階に選択可能に
構成したことを特徴としている。
［作用］
本考案においては、接続部に配置される第２の
質量分析装置用イオン源にイオン引出し用のレン
ズ電極が付属していることに着目し、イオン源を
使用しないMS／MS装置としての使用時に、こ
のレンズ電極を前記収束電極に代えて使用し得る
ようにしており、これにより収束電極が省略でき
る。
質量分析装置用イオン源にイオン引出し用のレン
ズ電極が付属していることに着目し、イオン源を
使用しないMS／MS装置としての使用時に、こ
のレンズ電極を前記収束電極に代えて使用し得る
ようにしており、これにより収束電極が省略でき
る。
以下、図面を用いて本考案の一実施例を詳説す
る。
る。
［実施例］
第１図は本考案の一実施例の構成を示す概略図
であり、第２図と同一の構成要素には同一番号が
付されている。図において１１はイオン源７に付
属するレンズ電極群で、イオン源電源１２から供
給される電圧が印加され、イオン源内で生成され
るイオンを引出す役割を果す。１３はイオン源電
源とは別個に設けたレンズ電源、１４はこのレン
ズ電源からの電圧を前記レンズ電極１１群に供給
し得るようにするための切換スイツチである。
であり、第２図と同一の構成要素には同一番号が
付されている。図において１１はイオン源７に付
属するレンズ電極群で、イオン源電源１２から供
給される電圧が印加され、イオン源内で生成され
るイオンを引出す役割を果す。１３はイオン源電
源とは別個に設けたレンズ電源、１４はこのレン
ズ電源からの電圧を前記レンズ電極１１群に供給
し得るようにするための切換スイツチである。
このような構成において、第２の質量分析装置
の調整を行う場合には、切換スイツチ１４は電極
１２側へ倒され、レンズ電極１１にはイオン源内
で生成されるイオンを外部に効率良く引出すため
の場を設定する電圧が電極１２から供給される。
そして、イオン源７から引出されたイオンは、衝
突ガスが供給されていない衝突室８及び入射スリ
ツト９を介して第２の質量分析場１０へ導入され
る。
の調整を行う場合には、切換スイツチ１４は電極
１２側へ倒され、レンズ電極１１にはイオン源内
で生成されるイオンを外部に効率良く引出すため
の場を設定する電圧が電極１２から供給される。
そして、イオン源７から引出されたイオンは、衝
突ガスが供給されていない衝突室８及び入射スリ
ツト９を介して第２の質量分析場１０へ導入され
る。
一方、イオン源７が使用されないMS／MS装
置としての使用時、切換スイツチ１４は電源１３
側へ切換えられる。レンズ電極１１には、検出ス
リツト２を通過して来た第１の質量分析装置から
のイオンを衝突室８へ向けて収束させる収束場を
発生させるための電圧が電源１３から供給され
る。そのため、第１の質量分析装置からのイオン
を衝突室８へ効率良く導入することができる。
置としての使用時、切換スイツチ１４は電源１３
側へ切換えられる。レンズ電極１１には、検出ス
リツト２を通過して来た第１の質量分析装置から
のイオンを衝突室８へ向けて収束させる収束場を
発生させるための電圧が電源１３から供給され
る。そのため、第１の質量分析装置からのイオン
を衝突室８へ効率良く導入することができる。
尚、上記実施例では別個にレンズ電源１３を設
けたが、レンズ電極１１に供給する電圧を２段階
に切換えることができれば、１つの電源で兼ねる
ようにしても良い。
けたが、レンズ電極１１に供給する電圧を２段階
に切換えることができれば、１つの電源で兼ねる
ようにしても良い。
［効果］
以上詳述した如く、本考案によれば、第１の質
量分析装置と第２の質量分析装置との結合部に配
置されるイオン源に付属するレンズ電極に供給す
る電圧を、イオン源内で生成されたイオンを第２
の質量分析装置に向けて引出すための値と、該イ
オン源を使用しない時に前記接続部を通過するイ
オンを収束させるレンズとして作用する値の２段
階に選択可能にしたため、従来の収束電極を省略
することができ、装置を小形化することができ
る。そのような小形化により、イオンのロスが減
少するため、併せて感度の低下を防止することが
可能である。
量分析装置と第２の質量分析装置との結合部に配
置されるイオン源に付属するレンズ電極に供給す
る電圧を、イオン源内で生成されたイオンを第２
の質量分析装置に向けて引出すための値と、該イ
オン源を使用しない時に前記接続部を通過するイ
オンを収束させるレンズとして作用する値の２段
階に選択可能にしたため、従来の収束電極を省略
することができ、装置を小形化することができ
る。そのような小形化により、イオンのロスが減
少するため、併せて感度の低下を防止することが
可能である。
第１図は本考案の一実施例の構成を示す概略
図、第２図は従来例を説明するための図である。 ２……検出スリツト、３……イオン検出器、７
……イオン源、８……衝突室、９……入射スリツ
ト、１１……レンズ電極群、１２……イオン源電
源、１３……レンズ電源、１４……切換スイツ
チ。
図、第２図は従来例を説明するための図である。 ２……検出スリツト、３……イオン検出器、７
……イオン源、８……衝突室、９……入射スリツ
ト、１１……レンズ電極群、１２……イオン源電
源、１３……レンズ電源、１４……切換スイツ
チ。
Claims (1)
- 夫々質量分析場を有する２つの質量分析装置を
直列に結合してMS／MS装置を構成し、第１の
質量分析装置の検出スリツトから第２の質量分析
装置の入射スリツトまでの接続部に、イオン検出
器と、第２の質量分析装置用イオン源と、衝突室
とを配置した装置において、前記第２の質量分析
装置用イオン源に付属するレンズ電極に供給する
電圧を、該イオン源内で生成されたイオンを第２
の質量分析装置に向けて引出すための値と、該イ
オン源を使用しない時に前記接続部を通過するイ
オンを収束させるレンズとして作用する値の２段
階に選択可能に構成したことを特徴とするMS／
MS装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18314086U JPH0411328Y2 (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18314086U JPH0411328Y2 (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6387762U JPS6387762U (ja) | 1988-06-08 |
| JPH0411328Y2 true JPH0411328Y2 (ja) | 1992-03-19 |
Family
ID=31129600
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18314086U Expired JPH0411328Y2 (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0411328Y2 (ja) |
-
1986
- 1986-11-28 JP JP18314086U patent/JPH0411328Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6387762U (ja) | 1988-06-08 |
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