JPH0411346B2 - - Google Patents
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- JPH0411346B2 JPH0411346B2 JP59075250A JP7525084A JPH0411346B2 JP H0411346 B2 JPH0411346 B2 JP H0411346B2 JP 59075250 A JP59075250 A JP 59075250A JP 7525084 A JP7525084 A JP 7525084A JP H0411346 B2 JPH0411346 B2 JP H0411346B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pressure
- pressure sensor
- cell
- control device
- cells
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B25—HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
- B25J—MANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
- B25J13/00—Controls for manipulators
- B25J13/08—Controls for manipulators by means of sensing devices, e.g. viewing or touching devices
- B25J13/081—Touching devices, e.g. pressure-sensitive
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/18—Measuring force or stress, in general using properties of piezo-resistive materials, i.e. materials of which the ohmic resistance varies according to changes in magnitude or direction of force applied to the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L5/00—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes
- G01L5/16—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes for measuring several components of force
- G01L5/161—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes for measuring several components of force using variations in ohmic resistance
- G01L5/162—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes for measuring several components of force using variations in ohmic resistance of piezoresistors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L5/00—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes
- G01L5/22—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes for measuring the force applied to control members, e.g. control members of vehicles, triggers
- G01L5/226—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes for measuring the force applied to control members, e.g. control members of vehicles, triggers to manipulators, e.g. the force due to gripping
- G01L5/228—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes for measuring the force applied to control members, e.g. control members of vehicles, triggers to manipulators, e.g. the force due to gripping using tactile array force sensors
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- Robotics (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)
- Manipulator (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の属する技術分野]
この発明は、圧覚センサを知能ロボツトのハン
ドや自動組立機のマニピユレータ、あるいは移動
ロボツトの足の裏等に取付けて、人間における接
触覚、圧覚、すべり覚および硬さ覚等に相当する
感覚を認識し、この認識に基づいてロボツトハン
ドやマニピユレータあるいは足の制御を行わしめ
る圧覚認識制御装置に関する。
ドや自動組立機のマニピユレータ、あるいは移動
ロボツトの足の裏等に取付けて、人間における接
触覚、圧覚、すべり覚および硬さ覚等に相当する
感覚を認識し、この認識に基づいてロボツトハン
ドやマニピユレータあるいは足の制御を行わしめ
る圧覚認識制御装置に関する。
[従来技術とその問題点]
人間に代つて作業をするロボツト等の手または
足に加わる力は立体的で、且つある分布を持つて
いる。そしてこの印加された力の大きさ、方向お
よび受圧面での分布は、ハンド(マニピユレー
タ)あるいは足の動きに伴つて変化する。人間は
この力に対する感覚、すなわち圧覚だけでなく、
接触覚、滑り覚および硬さ覚等も合せ持つてい
る。従つて、機械のハンドあるいは足を人間と同
等に高度に制御するためには、人間の有するこれ
らの感覚を機械が持つ必要である。これらの中
で、最も基本的な感覚として必要なのは立体的な
圧覚とその分布状態の認識である。
足に加わる力は立体的で、且つある分布を持つて
いる。そしてこの印加された力の大きさ、方向お
よび受圧面での分布は、ハンド(マニピユレー
タ)あるいは足の動きに伴つて変化する。人間は
この力に対する感覚、すなわち圧覚だけでなく、
接触覚、滑り覚および硬さ覚等も合せ持つてい
る。従つて、機械のハンドあるいは足を人間と同
等に高度に制御するためには、人間の有するこれ
らの感覚を機械が持つ必要である。これらの中
で、最も基本的な感覚として必要なのは立体的な
圧覚とその分布状態の認識である。
ここで、立体的な圧覚とは受圧面に垂直な力だ
けでなく、受圧面での2方向の力も合計3方向の
力に対する感覚であり、更にハンドあるいは足の
動作に伴う3方向のモーメントに対する感覚を持
つことが望まれる。このような3方向の分力を検
知する感覚を有するセンサとしては第1図〜第3
図に示すようなものが発表されている。これらの
従来のセンサは、弾性リング体や十字形板ばね、
あるいは弾性ブロツクなどの弾性支持体1と、そ
の支持体の各方向に貼付けられた複数のストレン
ゲージ3とからなるが、ハンドの把握する物体に
比べて同等、あるいはより大きな大きさ(例えば
各稜の長さが100〜200mm程度)を有しているの
で、ハンドあるいは足の受圧面に用いられず、も
つばら手首5あるいは足首に装着されて、ハンド
あるいは足の作用力全体の力を検出することに用
いられているにすぎない。その結果、これらの従
来のセンサでは触覚、滑り覚、硬さ覚の検出には
行い得ず、このような感覚情報の必要な場合に
は、そのための特別のセンサを別に受圧面に設け
る必要があつた。しかし、それらの特別なセンサ
もかなりの大きさを有するため、受圧スペースや
感覚位置の違い等によつて手の掌に相当する面積
での大ざつぱな感覚情報が得られにすぎず、指に
相当する部分の微妙な感覚情報を得ることはでき
なかつた。
けでなく、受圧面での2方向の力も合計3方向の
力に対する感覚であり、更にハンドあるいは足の
動作に伴う3方向のモーメントに対する感覚を持
つことが望まれる。このような3方向の分力を検
知する感覚を有するセンサとしては第1図〜第3
図に示すようなものが発表されている。これらの
従来のセンサは、弾性リング体や十字形板ばね、
あるいは弾性ブロツクなどの弾性支持体1と、そ
の支持体の各方向に貼付けられた複数のストレン
ゲージ3とからなるが、ハンドの把握する物体に
比べて同等、あるいはより大きな大きさ(例えば
各稜の長さが100〜200mm程度)を有しているの
で、ハンドあるいは足の受圧面に用いられず、も
つばら手首5あるいは足首に装着されて、ハンド
あるいは足の作用力全体の力を検出することに用
いられているにすぎない。その結果、これらの従
来のセンサでは触覚、滑り覚、硬さ覚の検出には
行い得ず、このような感覚情報の必要な場合に
は、そのための特別のセンサを別に受圧面に設け
る必要があつた。しかし、それらの特別なセンサ
もかなりの大きさを有するため、受圧スペースや
感覚位置の違い等によつて手の掌に相当する面積
での大ざつぱな感覚情報が得られにすぎず、指に
相当する部分の微妙な感覚情報を得ることはでき
なかつた。
また、前述したように面状に分布したた圧覚の
認識ができることが人間の感覚の特徴の一つであ
る。ロボツト等の受圧面はある大きさを有し、被
把握物が平面でなかつたり、ハンドあるいは足が
ある動きをする時には、受圧面に作用する力は一
様でない。そこで、圧覚も分布した状態での認識
が必要であり、その認識により受圧面積、力の作
用中心、およびその時間的な変化の感覚を持つこ
とができる。このような印加された力の分布が認
識できる感覚を有するセンサとしては、第4図〜
第6図に示すようなものが発表されている。ま
ず、第4図Aに示すセンサは、導電性ゴムである
シリコンゴムコード15と金属電極17とを用
い、加圧力によりそのゴムコードの接触面積に変
化が起こり、抵抗値が変化することを利用してい
る。第4図Bに示すセンサは、そのシリコンゴム
コード15と金属電極17とを格子状に配置し、
ITV(工業用テレビ)などに用いられている走査
方式を適用して検出している。さらに、第5図に
示すセンサは垂直方向に摺動する多数の細い棒
(ピン)19の先端が被検物体の形状に応動して
上下動する動きを、不図示の差動コイルやホール
素子によつて検出することにより、3次元部品
(立体部品)の形状の認識を行う。
認識ができることが人間の感覚の特徴の一つであ
る。ロボツト等の受圧面はある大きさを有し、被
把握物が平面でなかつたり、ハンドあるいは足が
ある動きをする時には、受圧面に作用する力は一
様でない。そこで、圧覚も分布した状態での認識
が必要であり、その認識により受圧面積、力の作
用中心、およびその時間的な変化の感覚を持つこ
とができる。このような印加された力の分布が認
識できる感覚を有するセンサとしては、第4図〜
第6図に示すようなものが発表されている。ま
ず、第4図Aに示すセンサは、導電性ゴムである
シリコンゴムコード15と金属電極17とを用
い、加圧力によりそのゴムコードの接触面積に変
化が起こり、抵抗値が変化することを利用してい
る。第4図Bに示すセンサは、そのシリコンゴム
コード15と金属電極17とを格子状に配置し、
ITV(工業用テレビ)などに用いられている走査
方式を適用して検出している。さらに、第5図に
示すセンサは垂直方向に摺動する多数の細い棒
(ピン)19の先端が被検物体の形状に応動して
上下動する動きを、不図示の差動コイルやホール
素子によつて検出することにより、3次元部品
(立体部品)の形状の認識を行う。
第6図A〜Dに示すものはロボツト用力覚セン
サとして応用できる導電性ゴムなどを用いたもの
である。第6図Aの例は導電性ゴムシート7と金
属電極8とを組み合わせたもので、基板9の上に
絶縁性の電極支え9aを分布配置してその各頂部
に金属電極が取り付けられている。電極支え9の
相互間にはスポンジゴムなどからなる弾性材が分
布し配されており、その頂部に可撓性の導電性ゴ
ムシートが接着ないし載置されている。容易にわ
かるように、荷重Fを受けた部位では弾性材が図
の下方に圧縮され、その撓みを導電性ゴムシート
7と電極8との電気的接触により検知して荷重F
のかかつた位置、ないしはその分布を知ることが
できる。第6図Bでは弾性シートとして構成され
た導電性ないしは感圧性のゴムシート7の下方に
基板9の面に点状に分布して設けられた多数の電
極8が配されており、荷重Fが掛かつた位置の導
電性ゴムシート7に電気接触する電極8を検出す
ることにより、荷重の掛かつた位置ないしはその
分布を検知するものである。
サとして応用できる導電性ゴムなどを用いたもの
である。第6図Aの例は導電性ゴムシート7と金
属電極8とを組み合わせたもので、基板9の上に
絶縁性の電極支え9aを分布配置してその各頂部
に金属電極が取り付けられている。電極支え9の
相互間にはスポンジゴムなどからなる弾性材が分
布し配されており、その頂部に可撓性の導電性ゴ
ムシートが接着ないし載置されている。容易にわ
かるように、荷重Fを受けた部位では弾性材が図
の下方に圧縮され、その撓みを導電性ゴムシート
7と電極8との電気的接触により検知して荷重F
のかかつた位置、ないしはその分布を知ることが
できる。第6図Bでは弾性シートとして構成され
た導電性ないしは感圧性のゴムシート7の下方に
基板9の面に点状に分布して設けられた多数の電
極8が配されており、荷重Fが掛かつた位置の導
電性ゴムシート7に電気接触する電極8を検出す
ることにより、荷重の掛かつた位置ないしはその
分布を検知するものである。
第6図Cの例では、絶縁性ゴムシート7の下面
に導電性ゴム7aが列状に埋め込まれており、こ
れに対向して絶縁性の基板9の上面には電極条8
が行状に取付けられている。荷重Fを受けたかか
る行列の交点の位置で導電性ゴム7と電極条8が
電気接触するので、接触点の位置分布から荷重分
布を知ることができる。第6図Dはベリリウム銅
などからなる金属の極薄板ないしは箔8aを電極
に用いた例で、この箔8a自身の弾性ないしはそ
の絶縁性覆い8cの弾性が利用される。この複合
体が取付けられる基体9は例えば金属製で、その
周面の一部9cが電極面となつており、金属箔電
極8aと基体9とは絶縁板8dにより絶縁されて
いる。荷重Fを受けたとき電極8aと覆い8cと
の複合体は撓んで電極箔8aが基体側の電極面9
cと電気接触するから、基体9に沿つて多数の電
極箔8aを配設しておけば、荷重分布を知ること
ができる。
に導電性ゴム7aが列状に埋め込まれており、こ
れに対向して絶縁性の基板9の上面には電極条8
が行状に取付けられている。荷重Fを受けたかか
る行列の交点の位置で導電性ゴム7と電極条8が
電気接触するので、接触点の位置分布から荷重分
布を知ることができる。第6図Dはベリリウム銅
などからなる金属の極薄板ないしは箔8aを電極
に用いた例で、この箔8a自身の弾性ないしはそ
の絶縁性覆い8cの弾性が利用される。この複合
体が取付けられる基体9は例えば金属製で、その
周面の一部9cが電極面となつており、金属箔電
極8aと基体9とは絶縁板8dにより絶縁されて
いる。荷重Fを受けたとき電極8aと覆い8cと
の複合体は撓んで電極箔8aが基体側の電極面9
cと電気接触するから、基体9に沿つて多数の電
極箔8aを配設しておけば、荷重分布を知ること
ができる。
しかしながら、これらの従来のセンサは、いず
れもセンサの受圧面に垂直な方向の感覚のみしか
有していない。また更に、精密に分布状態を検出
するためにはセンサの各モジユールを小さくする
必要があるが構造的に限界があつて十分小さくで
きず、かつ主として用いられる導電性ゴムの検出
機構のために、印加された力に対する検出出力の
非直線性やダイナミツクレンジの狭さがあるの
で、専ら接触の検出や受圧面積の検出、すなわち
触覚センサとしてしか用いられず、人間の代用と
なる圧覚センサとしては不十分であつた。従つ
て、従来のセンサ装置では、人間の感覚に近い圧
覚認識制御装置は得られなかつた。
れもセンサの受圧面に垂直な方向の感覚のみしか
有していない。また更に、精密に分布状態を検出
するためにはセンサの各モジユールを小さくする
必要があるが構造的に限界があつて十分小さくで
きず、かつ主として用いられる導電性ゴムの検出
機構のために、印加された力に対する検出出力の
非直線性やダイナミツクレンジの狭さがあるの
で、専ら接触の検出や受圧面積の検出、すなわち
触覚センサとしてしか用いられず、人間の代用と
なる圧覚センサとしては不十分であつた。従つ
て、従来のセンサ装置では、人間の感覚に近い圧
覚認識制御装置は得られなかつた。
第7図は従来から用いられている力の3方向成
分を検出するリング型荷重計としてのセンサ(八
角形応力リング)を示す。このセンサは金属製八
角形リング20の受圧面21および基板面22を
除く外周部の6面と、両側面および内周面とにそ
れぞれストレンゲージとして抵抗線ゲージ23〜
26,27〜30,31〜34を貼付して、その
貼付位置によつて3方向成分を互いに分離してそ
れぞれ検出するようにしたものである。上述のス
トレンゲージ23〜26は八角形リングのうちの
受圧面21に垂直な外周面とリングの内周面とに
貼付されており、受圧面21に垂直な力の成分
Fzを検出する。また、ストレンゲージ27〜3
0は八角形リングのうちの4つの斜めの外周面に
貼付されており、受圧面21にかかる水平な力の
成分のうちのx方向の成分Fxを検出する。さら
に、ストレンゲージ31〜34はリングの両側面
に、八角形リングの斜め面と同じ角度で、リング
の肉厚のほぼ中央部に貼付されており、受圧面2
1にかかる水平な力の成分のうちのy方向の成分
Fyを検出する。
分を検出するリング型荷重計としてのセンサ(八
角形応力リング)を示す。このセンサは金属製八
角形リング20の受圧面21および基板面22を
除く外周部の6面と、両側面および内周面とにそ
れぞれストレンゲージとして抵抗線ゲージ23〜
26,27〜30,31〜34を貼付して、その
貼付位置によつて3方向成分を互いに分離してそ
れぞれ検出するようにしたものである。上述のス
トレンゲージ23〜26は八角形リングのうちの
受圧面21に垂直な外周面とリングの内周面とに
貼付されており、受圧面21に垂直な力の成分
Fzを検出する。また、ストレンゲージ27〜3
0は八角形リングのうちの4つの斜めの外周面に
貼付されており、受圧面21にかかる水平な力の
成分のうちのx方向の成分Fxを検出する。さら
に、ストレンゲージ31〜34はリングの両側面
に、八角形リングの斜め面と同じ角度で、リング
の肉厚のほぼ中央部に貼付されており、受圧面2
1にかかる水平な力の成分のうちのy方向の成分
Fyを検出する。
このように、図示のような3方向分力センサは
力を基本的な直角座標系に分解し3方向分力とし
て検出しているので、この3分力を演算式により
合成することによつて、力の大きさや方向を求め
ることができる。更に任意の方向の力も求めるこ
とができる。
力を基本的な直角座標系に分解し3方向分力とし
て検出しているので、この3分力を演算式により
合成することによつて、力の大きさや方向を求め
ることができる。更に任意の方向の力も求めるこ
とができる。
このように力の分解、合成が容易にできるの
が、3方向分力センサの大きな特徴である。
が、3方向分力センサの大きな特徴である。
しかしながら、図示のような従来の八角形応力
リングは、3方向の力の成分を検出するセンサと
しては著名なものであるが、次のような欠点があ
り、特にこれを面アレイ状に配列して面状に分布
する荷重の荷重分布を検出するには不適当であ
る。以下、その欠点を列挙する。
リングは、3方向の力の成分を検出するセンサと
しては著名なものであるが、次のような欠点があ
り、特にこれを面アレイ状に配列して面状に分布
する荷重の荷重分布を検出するには不適当であ
る。以下、その欠点を列挙する。
多数のストレンゲージをリング体の各方向に
貼付した構造であるので、小形化が困難であ
る。
貼付した構造であるので、小形化が困難であ
る。
ストレンゲージを貼付するために、その貼付
層がクリープを生じさせ、安定性が悪い。
層がクリープを生じさせ、安定性が悪い。
ストレンゲージの貼付位置により、大きな干
渉出力を発生する。
渉出力を発生する。
製作が比較的大変である。特に、リングの内
周面へのストレンゲージの貼付は難しい。
周面へのストレンゲージの貼付は難しい。
量産性がなく、高価となる。
一方、人間の手のひらの有する圧覚機能にでき
るだけ近いレベルの高度な圧覚機能を有するロボ
ツトハンドを実現するためには、その圧覚センサ
としては3方向分力センサの機能を有し、さらに
このセンサを多数高密度で面アレイ状に配列し
て、印加される力の分布状態や力の中心(重心)
とそれに働く合成力を正確に求めることができな
ければならない。そのため、このような圧覚セン
サとして要求される性能は次の通りである。
るだけ近いレベルの高度な圧覚機能を有するロボ
ツトハンドを実現するためには、その圧覚センサ
としては3方向分力センサの機能を有し、さらに
このセンサを多数高密度で面アレイ状に配列し
て、印加される力の分布状態や力の中心(重心)
とそれに働く合成力を正確に求めることができな
ければならない。そのため、このような圧覚セン
サとして要求される性能は次の通りである。
(a) 荷重検出単位体は寸法が数mm以下の小形のも
ので、1個の分布荷重検出器中にかかる単位体
ができるだけ高密度で集積化されれたものであ
ること。
ので、1個の分布荷重検出器中にかかる単位体
ができるだけ高密度で集積化されれたものであ
ること。
(b) 荷重の分力を相互間の干渉なしによく分離し
て検出できること。
て検出できること。
(c) 荷重と検出出力との関係が直線性で、測定の
ヒステリシス誤差がなく、かつダイナミツクレ
ンジすなわち測定範囲が広いこと。
ヒステリシス誤差がなく、かつダイナミツクレ
ンジすなわち測定範囲が広いこと。
(d) 荷重分布検出器自体の剛性が高く、荷重を受
けたとき変形して荷重分布が変わつてしまうよ
うなことがないこと。
けたとき変形して荷重分布が変わつてしまうよ
うなことがないこと。
[発明の目的]
この発明は、前述のような要求および前述のよ
うな従来技術の持つ問題点に鑑みて、3方向分力
を検知し得る微小な圧覚センサモジユールをアレ
イ状に高密度で配列した圧覚センサアレイをロボ
ツトのハンドあるいは足の裏等の受圧面に取付け
ることにより、立体的な圧覚とその圧覚の分布状
態を直接検出することを可能とし、かつ検出して
得られた信号群を所定のアルゴリズムで処理する
ことによつて、3方向分力のみでなく、3方向分
力のモーメント、力の作用中心、全体の作用力等
を得ると共に、接触覚、滑り覚および硬さ覚等も
合せて認識し得ることができるようにし、更にこ
れらの感覚情報を同時に高速度で認識し得るよう
にすることによつてロボツトのハンドや足の機能
を高度に制御し得ることを可能とするアルゴリズ
ムを用いて、被把握物が変形しない程度の最小の
把握力での把握や衝撃のない被把握物の持ち上
げ、あるいは離し、被把握物の取付穴への挿入や
回転等のような人間の手や足の動作に相当する高
度な動作制御を行うことのできる圧覚認識制御装
置を提供することを目的とする。
うな従来技術の持つ問題点に鑑みて、3方向分力
を検知し得る微小な圧覚センサモジユールをアレ
イ状に高密度で配列した圧覚センサアレイをロボ
ツトのハンドあるいは足の裏等の受圧面に取付け
ることにより、立体的な圧覚とその圧覚の分布状
態を直接検出することを可能とし、かつ検出して
得られた信号群を所定のアルゴリズムで処理する
ことによつて、3方向分力のみでなく、3方向分
力のモーメント、力の作用中心、全体の作用力等
を得ると共に、接触覚、滑り覚および硬さ覚等も
合せて認識し得ることができるようにし、更にこ
れらの感覚情報を同時に高速度で認識し得るよう
にすることによつてロボツトのハンドや足の機能
を高度に制御し得ることを可能とするアルゴリズ
ムを用いて、被把握物が変形しない程度の最小の
把握力での把握や衝撃のない被把握物の持ち上
げ、あるいは離し、被把握物の取付穴への挿入や
回転等のような人間の手や足の動作に相当する高
度な動作制御を行うことのできる圧覚認識制御装
置を提供することを目的とする。
[発明の要点]
この発明は、受圧面に印加された力の3方向分
力を個別に検出し得るように構成された半導体歪
計の原理によるウエハ型の圧覚センサセルを微小
に作成し、このセルを多数個面アレイ状に配列し
た圧覚センサアレイをロボツトあるいはマニピユ
レータのハンドあるいはロボツトの足の裏等の受
圧面に装着させ、その圧覚センサアレイの基板上
あるいはその近傍に圧覚センサアレイの出力を行
および列毎に順次取り出すスキヤナーを設け、圧
覚センサ内あるいは圧覚センサセルの取付穴部分
あるいはセル直下の基板部分にスキヤナーからの
信号によつて開閉動作するセル毎のアナログスイ
ツチと、必要によつて半導体歪計の特性補正回路
と、増幅器とを設けて、他の圧覚センサセルの出
力とを混同しないようにし、適切な時間間隔で採
取した検出信号を歪計の特性の補正や力の単位へ
の変換の後に、各分力毎に2次元に分布した圧覚
情報の形で整理し、時系列に信号処理記憶装置に
記憶し、次に信号処理記憶装置から読み出した圧
覚データにより3分力の合成、全圧力、圧力中
心、圧力分布図、受圧面積およびモーメント等を
算出して1次演算記憶装置に記憶し、更にロボツ
トの手や足の制御に必要な接触覚、滑り覚および
被接触物の形状、硬さ覚等を認識する演算を行
い、必要な演算結果を2次演算記憶装置に記憶
し、信号処理記憶装置と1次および2次演算記憶
装置に記憶したデータと、ロボツトの基本動作用
のアルゴリズムとによつて所定の演算を行い、必
要な演算結果を3次演算記憶装置に記憶すると共
に演算で得られた信号を外部のロボツト駆動制御
装置に送信し、また外部のロボツト駆動制御装置
からの圧覚認識を行うに必要な指令も受信できる
ようにしたものである。
力を個別に検出し得るように構成された半導体歪
計の原理によるウエハ型の圧覚センサセルを微小
に作成し、このセルを多数個面アレイ状に配列し
た圧覚センサアレイをロボツトあるいはマニピユ
レータのハンドあるいはロボツトの足の裏等の受
圧面に装着させ、その圧覚センサアレイの基板上
あるいはその近傍に圧覚センサアレイの出力を行
および列毎に順次取り出すスキヤナーを設け、圧
覚センサ内あるいは圧覚センサセルの取付穴部分
あるいはセル直下の基板部分にスキヤナーからの
信号によつて開閉動作するセル毎のアナログスイ
ツチと、必要によつて半導体歪計の特性補正回路
と、増幅器とを設けて、他の圧覚センサセルの出
力とを混同しないようにし、適切な時間間隔で採
取した検出信号を歪計の特性の補正や力の単位へ
の変換の後に、各分力毎に2次元に分布した圧覚
情報の形で整理し、時系列に信号処理記憶装置に
記憶し、次に信号処理記憶装置から読み出した圧
覚データにより3分力の合成、全圧力、圧力中
心、圧力分布図、受圧面積およびモーメント等を
算出して1次演算記憶装置に記憶し、更にロボツ
トの手や足の制御に必要な接触覚、滑り覚および
被接触物の形状、硬さ覚等を認識する演算を行
い、必要な演算結果を2次演算記憶装置に記憶
し、信号処理記憶装置と1次および2次演算記憶
装置に記憶したデータと、ロボツトの基本動作用
のアルゴリズムとによつて所定の演算を行い、必
要な演算結果を3次演算記憶装置に記憶すると共
に演算で得られた信号を外部のロボツト駆動制御
装置に送信し、また外部のロボツト駆動制御装置
からの圧覚認識を行うに必要な指令も受信できる
ようにしたものである。
[発明の実施例]
以下、図面を参照してこの発明を詳細に説明す
る。
る。
まず最初に、この発明の構成要素であるウエハ
型圧覚センサアレイの概要を述べる。第8図にお
いて、50はこの発明の要部である圧覚センサア
レイの全体を示し、51は圧覚センサアレイ50
を構成する単位微細モジユールとしての圧覚セン
サモジユールである。圧覚センサモジユール51
は印加された力を受ける上部受圧板52とその受
圧板の下に固着した2個(または1,3,4個)
のウエハ型の圧覚センサセル53とからなりその
大きさは数mm以下に形成される。圧覚センサセル
53は、単結晶シリコンをリング状等の形状の感
圧構造体とし、この感圧構造体の受圧面、すなわ
ち、受圧板52と接する面に垂直な面に、複数個
の拡散形半導体ストレンゲージ54を形成し、こ
れらのストレンゲージ54の抵抗値の変化によつ
て、その受圧面に印加された力の3成分Fz,Fx,
Fyを検出する。上述の圧覚センサモジユール5
1を下部の共通基板55上に面アレイ状(マトリ
ツクス状)に高密度に多数並べて固着し、圧覚セ
ンサアレイ50を形成する。その際、圧覚センサ
セル53の下端部を基板55上に形成した平行溝
56またはそのセル毎に開けて取付穴(不図示)
に垂直に嵌め合せて固着すると、確実な組込みが
得られるので好ましい。圧覚センサモジユール5
1からの出力信号は、基板55上にあるいはその
近傍に装着したスキヤナ増幅器(集積回路)57
によつて順次スキヤンされ、かつ増幅されて、後
述のマイクロコンピユータのCPU(中央演算処理
部)による処理を容易にしている。
型圧覚センサアレイの概要を述べる。第8図にお
いて、50はこの発明の要部である圧覚センサア
レイの全体を示し、51は圧覚センサアレイ50
を構成する単位微細モジユールとしての圧覚セン
サモジユールである。圧覚センサモジユール51
は印加された力を受ける上部受圧板52とその受
圧板の下に固着した2個(または1,3,4個)
のウエハ型の圧覚センサセル53とからなりその
大きさは数mm以下に形成される。圧覚センサセル
53は、単結晶シリコンをリング状等の形状の感
圧構造体とし、この感圧構造体の受圧面、すなわ
ち、受圧板52と接する面に垂直な面に、複数個
の拡散形半導体ストレンゲージ54を形成し、こ
れらのストレンゲージ54の抵抗値の変化によつ
て、その受圧面に印加された力の3成分Fz,Fx,
Fyを検出する。上述の圧覚センサモジユール5
1を下部の共通基板55上に面アレイ状(マトリ
ツクス状)に高密度に多数並べて固着し、圧覚セ
ンサアレイ50を形成する。その際、圧覚センサ
セル53の下端部を基板55上に形成した平行溝
56またはそのセル毎に開けて取付穴(不図示)
に垂直に嵌め合せて固着すると、確実な組込みが
得られるので好ましい。圧覚センサモジユール5
1からの出力信号は、基板55上にあるいはその
近傍に装着したスキヤナ増幅器(集積回路)57
によつて順次スキヤンされ、かつ増幅されて、後
述のマイクロコンピユータのCPU(中央演算処理
部)による処理を容易にしている。
また、圧覚センサセル53は単結晶シリコンか
らなり、そのシリコン上に拡散形ストレンゲージ
54を形成しているので、一般的な従来のプレー
ナ技術で容易に作成することができ、特性のよく
揃つた極めて小形(例えば数mm〜1mm直径)のも
のが得られる。従つて、第8図に示すような圧覚
センサモジユール51を例えば1cm2当り25〜100
個程度の高密度で基板55上に集積することがで
きる。
らなり、そのシリコン上に拡散形ストレンゲージ
54を形成しているので、一般的な従来のプレー
ナ技術で容易に作成することができ、特性のよく
揃つた極めて小形(例えば数mm〜1mm直径)のも
のが得られる。従つて、第8図に示すような圧覚
センサモジユール51を例えば1cm2当り25〜100
個程度の高密度で基板55上に集積することがで
きる。
また、上述のように、受圧面に印加された力の
3成分を独立に検出する圧覚センサモジユール5
1を面アレイ上に高密度に多数並べて圧覚センサ
アレイ50を形成しているので、印加された力を
3方向の分力に分解し、3方向分力の2次元分布
をそれぞれ独立に高密度で検出することができ
る。さらに、その際、圧覚センサセル53の拡散
形ストレンゲージ54を高感度でかつ他の2方向
分力に対し論理的に影響を受けない場所に配置し
ているので、受圧面にかかる印加圧力の分力を相
互間の干渉なしによく分離して検出でき、また感
圧構造体として非常に秀れた単結晶シリコンを用
いているので、印加圧力と検出出力との間の直線
性がよく、測定上のヒシテリシスがなく、かつダ
イナミツクレンジが大きく、また圧覚センサセル
53の組合わせにより引張りおよび圧縮の対とし
て検出できる等の利点がある。
3成分を独立に検出する圧覚センサモジユール5
1を面アレイ上に高密度に多数並べて圧覚センサ
アレイ50を形成しているので、印加された力を
3方向の分力に分解し、3方向分力の2次元分布
をそれぞれ独立に高密度で検出することができ
る。さらに、その際、圧覚センサセル53の拡散
形ストレンゲージ54を高感度でかつ他の2方向
分力に対し論理的に影響を受けない場所に配置し
ているので、受圧面にかかる印加圧力の分力を相
互間の干渉なしによく分離して検出でき、また感
圧構造体として非常に秀れた単結晶シリコンを用
いているので、印加圧力と検出出力との間の直線
性がよく、測定上のヒシテリシスがなく、かつダ
イナミツクレンジが大きく、また圧覚センサセル
53の組合わせにより引張りおよび圧縮の対とし
て検出できる等の利点がある。
また、圧覚センサセル53の形状は第8図のも
のに限定されず、種々の形状が考えられる。例え
ば、列毎に各セルの下部または上部の一部を一体
に連結した短冊状の連結圧覚センサセル群を用い
た場合には、位置合せや固定等の組合わせが容易
となるという利点が得られる。また、圧覚センサ
セル53内の半導体ストレンゲージ54の出力は
基板55上の配線を通して外部に出されるが、高
密度の圧覚センサアレイ50からの配線は莫大な
数となるので、圧覚センサセル53内の配線、圧
覚センサセル53と基板55の接合部の配線や接
続にそれぞれの工夫がなされている。例えば、圧
覚センサセル53の両面にストレンゲージ54を
検出分毎に分散配置するとか、単結晶シリコン基
板部上に反対の伝導形をもつエピタキシヤル層を
形成し、そのエピタキシヤル層にストレンゲージ
を形成し、エピタキシヤル層を貫通する拡散層を
形成することにより、拡散層および基板部をスト
レンゲージ54の電源配線の一部として構成する
とか、あるいはまた基板部55を多層にして電源
線と信号線を各層間に分離して配線し、電源線は
溝部56から圧覚センサセル53に接続される等
がなされる。
のに限定されず、種々の形状が考えられる。例え
ば、列毎に各セルの下部または上部の一部を一体
に連結した短冊状の連結圧覚センサセル群を用い
た場合には、位置合せや固定等の組合わせが容易
となるという利点が得られる。また、圧覚センサ
セル53内の半導体ストレンゲージ54の出力は
基板55上の配線を通して外部に出されるが、高
密度の圧覚センサアレイ50からの配線は莫大な
数となるので、圧覚センサセル53内の配線、圧
覚センサセル53と基板55の接合部の配線や接
続にそれぞれの工夫がなされている。例えば、圧
覚センサセル53の両面にストレンゲージ54を
検出分毎に分散配置するとか、単結晶シリコン基
板部上に反対の伝導形をもつエピタキシヤル層を
形成し、そのエピタキシヤル層にストレンゲージ
を形成し、エピタキシヤル層を貫通する拡散層を
形成することにより、拡散層および基板部をスト
レンゲージ54の電源配線の一部として構成する
とか、あるいはまた基板部55を多層にして電源
線と信号線を各層間に分離して配線し、電源線は
溝部56から圧覚センサセル53に接続される等
がなされる。
さらに、圧覚センサモジユール51の近くにサ
ーミスタのような温度検出器を設け、マイクロコ
ンピユータのCPUによりゲージ抵抗値の不均一
補正や温度補償を行うことにより、より高精度な
3分力の2次元分布測定が可能となる。
ーミスタのような温度検出器を設け、マイクロコ
ンピユータのCPUによりゲージ抵抗値の不均一
補正や温度補償を行うことにより、より高精度な
3分力の2次元分布測定が可能となる。
なお、受圧板52の上部に、防塵や防水等の機
能を有する柔軟な比較的薄い保護膜を一面に取付
けてもよく、この薄膜とセル53とを直接に固着
してもよい。またセル53への電源線や信号線が
配線された基板55は、曲面上に貼着できるよう
な、ある程度柔軟なものでもよく、さらに圧覚セ
ンサアレイ全体をラバーのような弾性体の中に介
装してもよい。また、スキヤナ増幅器57による
スキヤナは、縦軸アドレスと横軸アドレスを用い
て行うのが配線数が少なくなるので好ましい。
能を有する柔軟な比較的薄い保護膜を一面に取付
けてもよく、この薄膜とセル53とを直接に固着
してもよい。またセル53への電源線や信号線が
配線された基板55は、曲面上に貼着できるよう
な、ある程度柔軟なものでもよく、さらに圧覚セ
ンサアレイ全体をラバーのような弾性体の中に介
装してもよい。また、スキヤナ増幅器57による
スキヤナは、縦軸アドレスと横軸アドレスを用い
て行うのが配線数が少なくなるので好ましい。
上述の圧覚センサアレイ50は、例えば第9図
に示すように、多関節アーム58の先端に取付け
られたロボツトハンド59の一対のフインガ60
に装着して、把持する物体61に対するフインガ
60の把持力すなわちフインガ60にかかる荷重
の分力とその分布(面状分布)を測定して、後述
の制御手段によりその把持力を適切に制御するこ
とができる。このとき、例えば図示のような比較
的細長な物体61を把持する際には、把持する物
体の部位によつて荷重分力の分布が異なるから、
分布が異常な場合には把持が不適切に行われてい
ることがわかる。また比較的小さな把持力で柔ら
かな物体(例えば果実類)を把持している場合に
は、荷重分力の時間的推移から物体の脱落の危険
を予知することができる。
に示すように、多関節アーム58の先端に取付け
られたロボツトハンド59の一対のフインガ60
に装着して、把持する物体61に対するフインガ
60の把持力すなわちフインガ60にかかる荷重
の分力とその分布(面状分布)を測定して、後述
の制御手段によりその把持力を適切に制御するこ
とができる。このとき、例えば図示のような比較
的細長な物体61を把持する際には、把持する物
体の部位によつて荷重分力の分布が異なるから、
分布が異常な場合には把持が不適切に行われてい
ることがわかる。また比較的小さな把持力で柔ら
かな物体(例えば果実類)を把持している場合に
は、荷重分力の時間的推移から物体の脱落の危険
を予知することができる。
さらにまた、上述の圧覚センサアレイ50を人
の歩行する通路上に配設した場合には、圧覚セン
サセル53は受圧板52が受ける垂直方向の力
Fzのほか、横方向の力Fx,Fyをも検知するか
ら、圧覚センサアレイ50にかかる人体の体重分
布のほかに、後方に蹴る力Fxや歩行方向に対し
て横方向に押し出す力Fyの大きさと分布とを知
ることができる。このように、歩行動態中の荷重
の面状分布や分力の時間的推移を正確に測定する
ことができるので歩行動態の個人差や身体上の障
害の模様について有用な知見が得られる。また、
この圧覚センサアレイ50をロボツトの足のうら
に取付ければ、後述のように高級な歩行制御機能
をロボツトにもたせることが可能となる。
の歩行する通路上に配設した場合には、圧覚セン
サセル53は受圧板52が受ける垂直方向の力
Fzのほか、横方向の力Fx,Fyをも検知するか
ら、圧覚センサアレイ50にかかる人体の体重分
布のほかに、後方に蹴る力Fxや歩行方向に対し
て横方向に押し出す力Fyの大きさと分布とを知
ることができる。このように、歩行動態中の荷重
の面状分布や分力の時間的推移を正確に測定する
ことができるので歩行動態の個人差や身体上の障
害の模様について有用な知見が得られる。また、
この圧覚センサアレイ50をロボツトの足のうら
に取付ければ、後述のように高級な歩行制御機能
をロボツトにもたせることが可能となる。
次に、圧覚センサアレイ50の構成の具体例を
以下の図面を参照してさらに詳述する。
以下の図面を参照してさらに詳述する。
前述の圧覚センサセル53の拡散形ストレンゲ
ージ54の配置は高感度で、かつ他の2方向分力
に対して理論的に影響を受けない場所に設ける。
ージ54の配置は高感度で、かつ他の2方向分力
に対して理論的に影響を受けない場所に設ける。
第10図〜第12図はこのストレンゲージ54
の配置位置を示す。これを説明すると、第11図
A,Bに図示のように三方向の荷重Fx,Fy,Fz
がそれぞれ独立にかかつたとき、圧覚センサセル
53に生じる応力は該セルが基板55と受圧板5
2とに底に固着されているとして次式で表わされ
る。
の配置位置を示す。これを説明すると、第11図
A,Bに図示のように三方向の荷重Fx,Fy,Fz
がそれぞれ独立にかかつたとき、圧覚センサセル
53に生じる応力は該セルが基板55と受圧板5
2とに底に固着されているとして次式で表わされ
る。
σ=3/8R/bt3Fxr/R+rcosα (1)
σ=1/4Rb/IFy cosα (2)
σ=3/8R2/bt3F2(2/π−sinα)r/R+r(3
) ただし、σ:周方向応力、 R:セルの平均円53c、すなわちセル
を梁と見たときの材料力学的な中立軸の半径、 2t:セルの幅、 b:セルの厚さ、 I:セルの断面2次モーメント、 r:セルの径方向の変数、 α:セル上端からとつた角度変数、 である。
) ただし、σ:周方向応力、 R:セルの平均円53c、すなわちセル
を梁と見たときの材料力学的な中立軸の半径、 2t:セルの幅、 b:セルの厚さ、 I:セルの断面2次モーメント、 r:セルの径方向の変数、 α:セル上端からとつた角度変数、 である。
かかる応力に基づく歪を検出するため、第12
図に示すセル53の位置にストレンゲージを取り
付ける。まず荷重Fxが掛かつた時のことを考え
ると、Fx測定用ゲージ54xt,54xcはセルの
内径部のr=−tの個所にあり、また分力間の干
渉がないように公知の如くα=39.6゜の位置に選
ぶことが、(1)式でR≫tとして、 σ=0.29R/bt2Fx (4) となり、ゲージ54xtの個所では引張りひずみ、ゲ
ージ54xcの個所では圧縮ひずみが生じるが、
荷重Fz測定用用ゲージ54zt,54zcの個所で
はα=90゜であるから、(1)式からわかるようにひ
ずみは0で従つてこれらのゲージから検出信号は
生じない。
図に示すセル53の位置にストレンゲージを取り
付ける。まず荷重Fxが掛かつた時のことを考え
ると、Fx測定用ゲージ54xt,54xcはセルの
内径部のr=−tの個所にあり、また分力間の干
渉がないように公知の如くα=39.6゜の位置に選
ぶことが、(1)式でR≫tとして、 σ=0.29R/bt2Fx (4) となり、ゲージ54xtの個所では引張りひずみ、ゲ
ージ54xcの個所では圧縮ひずみが生じるが、
荷重Fz測定用用ゲージ54zt,54zcの個所で
はα=90゜であるから、(1)式からわかるようにひ
ずみは0で従つてこれらのゲージから検出信号は
生じない。
つぎに、荷重Fzが単独にかかつたときには、
Fz測定用用ゲーージ54zt,54zcはα=90゜の
外応周部(r=−tまたはr=t)の位置にある
から、なお(3)式により同様にR≫tとして、 σ=0.14R/bt2Fz (5) となり、ゲージ54ztは引張りずみを、ゲージ5
4zcは圧縮ひずみを検出する。このときFx検出
用のゲージ54xt,54xc位置では、α=39.6゜
で(3)式中の(2/π−sinα)の項が0となるか
ら、ひずみ0でこれらのゲージから検出信号は生
じない。
Fz測定用用ゲーージ54zt,54zcはα=90゜の
外応周部(r=−tまたはr=t)の位置にある
から、なお(3)式により同様にR≫tとして、 σ=0.14R/bt2Fz (5) となり、ゲージ54ztは引張りずみを、ゲージ5
4zcは圧縮ひずみを検出する。このときFx検出
用のゲージ54xt,54xc位置では、α=39.6゜
で(3)式中の(2/π−sinα)の項が0となるか
ら、ひずみ0でこれらのゲージから検出信号は生
じない。
以上のことから分力Fx測定用ゲージ54xt,
54xcと分力Fz測定用ゲージ54zt,54zcと
は、(4)および(5)式からわかるように約2倍の出力
信号の開きはあるが、相互に干渉がなく分力を完
全に分離して測定できることがわかる。
54xcと分力Fz測定用ゲージ54zt,54zcと
は、(4)および(5)式からわかるように約2倍の出力
信号の開きはあるが、相互に干渉がなく分力を完
全に分離して測定できることがわかる。
第13図A〜Cに、三方向の荷重Fz,Fx,Fy
がそれぞれ独立にかかつたときのゲージ54zc,
54zt…に生ずるひずみを実線の矢印で示す。こ
れらのストレンゲージは2セルで1モジユールを
構成した場合は第14図A〜Cに示すようにブリ
ツジ接続され、1セルで1モジユールを構成した
場合は第15図A〜Cに示すようにブリツジ接続
される。各ブリツジ回路からの出力信号をEz,
Ex,Eyはそれぞれ荷重の分力Fz,Fx,Fyの測
定信号である。第16図は上述の結果をまとめた
もので、表図の縦軸は荷重の分力を、横軸はスト
レンゲージを示している。ストレンゲージからの
出力は引張りひずみか圧縮ひずみかに応じて増減
するから、この図では増減が+−で表わされてお
り、0は増減がないことを示す。ストレンゲージ
のブリツジ接続は、この増減の同方向のものを対
辺に配するようにされる。第16図からわかるよ
うに荷重の分力が一方向のみであるとき、上述の
ストレンゲージの配置によれば、他方向の分力測
定用のゲージ出力は原理的に0であり、分力間の
干渉を生じることがない。また、仮に若干の干渉
信号が生じても、その大部分はブリツジ回路内で
相殺されて、実用上はあまり問題がなくなる。
がそれぞれ独立にかかつたときのゲージ54zc,
54zt…に生ずるひずみを実線の矢印で示す。こ
れらのストレンゲージは2セルで1モジユールを
構成した場合は第14図A〜Cに示すようにブリ
ツジ接続され、1セルで1モジユールを構成した
場合は第15図A〜Cに示すようにブリツジ接続
される。各ブリツジ回路からの出力信号をEz,
Ex,Eyはそれぞれ荷重の分力Fz,Fx,Fyの測
定信号である。第16図は上述の結果をまとめた
もので、表図の縦軸は荷重の分力を、横軸はスト
レンゲージを示している。ストレンゲージからの
出力は引張りひずみか圧縮ひずみかに応じて増減
するから、この図では増減が+−で表わされてお
り、0は増減がないことを示す。ストレンゲージ
のブリツジ接続は、この増減の同方向のものを対
辺に配するようにされる。第16図からわかるよ
うに荷重の分力が一方向のみであるとき、上述の
ストレンゲージの配置によれば、他方向の分力測
定用のゲージ出力は原理的に0であり、分力間の
干渉を生じることがない。また、仮に若干の干渉
信号が生じても、その大部分はブリツジ回路内で
相殺されて、実用上はあまり問題がなくなる。
ところで、第17図に示すように1個のセンサ
セル53で1モジユール51を形成した場合は、
第18図に示すようにセル53の取付位置からず
れた偏荷重Fzが受圧板52に加わつた時には、
それが受圧板52に対して垂直な荷重であつても
第19図に示すようにセル53に対して曲げモー
メントMが発生し、y方向の荷重検出用ストレン
ゲージからFyに相当する誤つた検出出力が出る
という欠点がある。また、1枚セルの構造のた
め、機械的に弱く、比較的大きな力には耐えられ
ないという欠点がある。
セル53で1モジユール51を形成した場合は、
第18図に示すようにセル53の取付位置からず
れた偏荷重Fzが受圧板52に加わつた時には、
それが受圧板52に対して垂直な荷重であつても
第19図に示すようにセル53に対して曲げモー
メントMが発生し、y方向の荷重検出用ストレン
ゲージからFyに相当する誤つた検出出力が出る
という欠点がある。また、1枚セルの構造のた
め、機械的に弱く、比較的大きな力には耐えられ
ないという欠点がある。
第20図には、感圧モジユールを2個の3方向
分力検出セルで一体に構成することにより、上述
のような検出誤差を生じさせる原因となるモーメ
ントの発生をなくし、さらに感圧モジユールの構
造を強固なものにした圧覚センサの一例を示す。
図示のように2個のリング状セル53,53をそ
の端面53aが互いに平行するように下部基板5
5と上部受圧板52との間に配設し、かつ各セル
53の図の下端の突出部53bを基板55の溝5
6に嵌め込んで接着等の手段で基板55に固着さ
せる。セル53の上端部も同様にして受圧板52
と固着させる。
分力検出セルで一体に構成することにより、上述
のような検出誤差を生じさせる原因となるモーメ
ントの発生をなくし、さらに感圧モジユールの構
造を強固なものにした圧覚センサの一例を示す。
図示のように2個のリング状セル53,53をそ
の端面53aが互いに平行するように下部基板5
5と上部受圧板52との間に配設し、かつ各セル
53の図の下端の突出部53bを基板55の溝5
6に嵌め込んで接着等の手段で基板55に固着さ
せる。セル53の上端部も同様にして受圧板52
と固着させる。
このように、2個のセル53,53を基板55
の上部に垂直に立てて固定し、この2個のセル5
3,53を1組としてその上に受圧板52を乗せ
て固定することにより、1個のモジユール51を
構成しているので、第18図に示すようなz方向
(垂直方向)の偏荷重が受圧板52に加わつても、
第19図のような曲げモーメントはほとんど生ぜ
ず、その結果、y方向荷重検出用センサ54yt,
54ycから誤差出力が発生することはない。ま
た、端部が基板55と受圧板52とに固着した垂
直な2個のセル53,53により荷重を受けるの
で、感圧モジユール51は機械的に強固な1個の
構造体となり、ひいては信頼性の向上も得られ
る。
の上部に垂直に立てて固定し、この2個のセル5
3,53を1組としてその上に受圧板52を乗せ
て固定することにより、1個のモジユール51を
構成しているので、第18図に示すようなz方向
(垂直方向)の偏荷重が受圧板52に加わつても、
第19図のような曲げモーメントはほとんど生ぜ
ず、その結果、y方向荷重検出用センサ54yt,
54ycから誤差出力が発生することはない。ま
た、端部が基板55と受圧板52とに固着した垂
直な2個のセル53,53により荷重を受けるの
で、感圧モジユール51は機械的に強固な1個の
構造体となり、ひいては信頼性の向上も得られ
る。
だが、第20図に示すような平行型の圧覚セン
サモジユール51は要求性能を満たし、とくに荷
重分力を相互干渉なしに分離検出できるよう原理
的には構成されたものであるが、実際に製作,試
験して見ると場合によつてはなお種々の欠点があ
ることがわかつた。この欠点は主にセンサセルの
端面に垂直な方向の分力、すなわち前の第10図
における分力Fyの測定精度に関するもので、そ
の第1としてこのような分力Fyがかかつたとき
センサセル53が企図されたように必ずしも変形
しないことに基づく。すなわち、第21図Aに示
すようにセル53は両端が基板55と受圧板52
とに固定された両端固定梁として設計されたもの
であるが、受圧板52の剛性が必ずしも十分でな
い場合もあり、またセル53の上端と受圧板52
との固着強度を十分に上げることができない場合
が多いので、実際には同図Bに跨張して描かれた
ような一端自由梁に近い変形が生じる場合があ
る。このような変形を示すと、第13図Cで圧縮
ひずみ用ストレンゲージとして示された54yc
が実際には引張りひずみを受けることになり、分
力Fyの測定値に大きな誤差を生じる。欠点の第
2は分力Fyの測定値がセル53の加工精度とく
に厚さの精度の影響を非常に受けやすいことであ
る。この効果は他の分力Fx,Fzに比して非常に
大きく、セル53の厚さを薄くして測定感度を上
げようとするほど、僅かな加工の誤差によつて大
きな測定誤差が生じる。欠点の第3は測定出力の
大きさに関するものであつて、実用的な寸法、形
状にセル53を構成すると、分力Fyに対する感
度が他の分力Fx,Fzに対する感度よりもむしろ
よくなり過ぎ、分力間に感度差が生じる。感度が
良好なこと自体はもちろん望ましいことなのであ
るが、測定回路は前述のようなブリツジ回路に付
属して増幅器類があり、あまり出力信号差が大き
いと測定回路の設計や製作がめんどうになる。
サモジユール51は要求性能を満たし、とくに荷
重分力を相互干渉なしに分離検出できるよう原理
的には構成されたものであるが、実際に製作,試
験して見ると場合によつてはなお種々の欠点があ
ることがわかつた。この欠点は主にセンサセルの
端面に垂直な方向の分力、すなわち前の第10図
における分力Fyの測定精度に関するもので、そ
の第1としてこのような分力Fyがかかつたとき
センサセル53が企図されたように必ずしも変形
しないことに基づく。すなわち、第21図Aに示
すようにセル53は両端が基板55と受圧板52
とに固定された両端固定梁として設計されたもの
であるが、受圧板52の剛性が必ずしも十分でな
い場合もあり、またセル53の上端と受圧板52
との固着強度を十分に上げることができない場合
が多いので、実際には同図Bに跨張して描かれた
ような一端自由梁に近い変形が生じる場合があ
る。このような変形を示すと、第13図Cで圧縮
ひずみ用ストレンゲージとして示された54yc
が実際には引張りひずみを受けることになり、分
力Fyの測定値に大きな誤差を生じる。欠点の第
2は分力Fyの測定値がセル53の加工精度とく
に厚さの精度の影響を非常に受けやすいことであ
る。この効果は他の分力Fx,Fzに比して非常に
大きく、セル53の厚さを薄くして測定感度を上
げようとするほど、僅かな加工の誤差によつて大
きな測定誤差が生じる。欠点の第3は測定出力の
大きさに関するものであつて、実用的な寸法、形
状にセル53を構成すると、分力Fyに対する感
度が他の分力Fx,Fzに対する感度よりもむしろ
よくなり過ぎ、分力間に感度差が生じる。感度が
良好なこと自体はもちろん望ましいことなのであ
るが、測定回路は前述のようなブリツジ回路に付
属して増幅器類があり、あまり出力信号差が大き
いと測定回路の設計や製作がめんどうになる。
これらの点をさらに式を用いて説明する。ま
ず、第13図Cに示したような分力Fy測定用ゲ
ージについて考えると、荷重Fyが紙面より手前
の方向からかかるとしてそのひずみ検出用ゲージ
54yt,54ycを図示のように設けるとした場
合、これらのゲージの位置では、前述の(2)式で同
様にα=39.6゜,R≫tとおいて、 σ=0.19Rb/IFy (6) で表される応力に基づくひずみをゲージ54ytで
は引張りひずみ、ゲージ54ycで圧縮ひずみの
形で検出することになり、分力Fz測定用ゲージ
54zt,54zcの位置ではα=90゜であるからσ
=0となり、従つて干渉信号は出ないが、分力
Fx測定用ゲージ54xt,54xcの位置では分力
Fy測定用ゲージの場合と同じように σ=0.19Rb/IFy (7) なる応力に基づくひずみ検出出力が出ることにな
る。この分布Fx測定用ゲージからの検出信号は
そのまま出力すれば、当然誤信号となるわけであ
るが、第14図Cに示したようなブリツジ回路が
正規の状態では誤信号をキヤンセルするように組
まれているので、ふつうは誤検出信号が分力Fx
測定用のブリツジ回路から出力されることはな
い。しかし、前述のような受圧板の剛性の不足な
どで理論どおりの検出出力が得られない場合に
は、ブリツジ回路による補正が十分なされずに誤
信号が出力される可能性が残つている。
ず、第13図Cに示したような分力Fy測定用ゲ
ージについて考えると、荷重Fyが紙面より手前
の方向からかかるとしてそのひずみ検出用ゲージ
54yt,54ycを図示のように設けるとした場
合、これらのゲージの位置では、前述の(2)式で同
様にα=39.6゜,R≫tとおいて、 σ=0.19Rb/IFy (6) で表される応力に基づくひずみをゲージ54ytで
は引張りひずみ、ゲージ54ycで圧縮ひずみの
形で検出することになり、分力Fz測定用ゲージ
54zt,54zcの位置ではα=90゜であるからσ
=0となり、従つて干渉信号は出ないが、分力
Fx測定用ゲージ54xt,54xcの位置では分力
Fy測定用ゲージの場合と同じように σ=0.19Rb/IFy (7) なる応力に基づくひずみ検出出力が出ることにな
る。この分布Fx測定用ゲージからの検出信号は
そのまま出力すれば、当然誤信号となるわけであ
るが、第14図Cに示したようなブリツジ回路が
正規の状態では誤信号をキヤンセルするように組
まれているので、ふつうは誤検出信号が分力Fx
測定用のブリツジ回路から出力されることはな
い。しかし、前述のような受圧板の剛性の不足な
どで理論どおりの検出出力が得られない場合に
は、ブリツジ回路による補正が十分なされずに誤
信号が出力される可能性が残つている。
さらに、前述の(2)式における断面2次モーメン
トIを求めて見ると、センサセル53の厚さb方
向の中央の端面に平行な面について計算して、 I=1/3b3t (8) となり、ストレンゲージが設けられる端面の位置
ではこれにある係数βをかけたものと考えてよい
から、 I=1/3β b3t (9) となり、これを(2)式に代入すると、 σ=0.57/βR/b2tFy (10) となる。これを前述の分力Fx,Fzに対する応力
σの式(4),(5)と比較すると、分母の項が分力Fy
に対する式でb2tであるに対して、分力Fx,Fzに
対する式ではbt2である点が明らかに異なつてい
る。
トIを求めて見ると、センサセル53の厚さb方
向の中央の端面に平行な面について計算して、 I=1/3b3t (8) となり、ストレンゲージが設けられる端面の位置
ではこれにある係数βをかけたものと考えてよい
から、 I=1/3β b3t (9) となり、これを(2)式に代入すると、 σ=0.57/βR/b2tFy (10) となる。これを前述の分力Fx,Fzに対する応力
σの式(4),(5)と比較すると、分母の項が分力Fy
に対する式でb2tであるに対して、分力Fx,Fzに
対する式ではbt2である点が明らかに異なつてい
る。
前述のように実用的なセンサセルでは厚さの寸
法bが幅の寸法tよりもかなり小さく、また製作
上の公差も抑えにくい。前(10)式によれば、分力
Fyに基づく応力に従つてひずみは厚さ寸法bの
2乗項に反比例するので、他の分力Fx,Fzに基
づくひずみが厚さ寸法bの1乗項に反比例するの
に比べて、それだけ厚さ寸法の変動の影響を受け
やすく、かつ検出信号のレベルも高くなるのがわ
かる。
法bが幅の寸法tよりもかなり小さく、また製作
上の公差も抑えにくい。前(10)式によれば、分力
Fyに基づく応力に従つてひずみは厚さ寸法bの
2乗項に反比例するので、他の分力Fx,Fzに基
づくひずみが厚さ寸法bの1乗項に反比例するの
に比べて、それだけ厚さ寸法の変動の影響を受け
やすく、かつ検出信号のレベルも高くなるのがわ
かる。
第22図〜第24図はそれぞれ圧覚センサモジ
ユールを構成する感圧体としての複数個の圧覚セ
ンサセルの内の少なくとも2個をリングの端面が
互いに直交するように配設し、かつ各感圧体から
はセルの端面に平行な方向にかかる荷重分力に対
する応答出力信号のみを取り出し、これらを組み
合わせて所望の荷重分力を測定することによつ
て、上述のような平行型モジユールのもつ欠点を
解消して、受圧板の剛性やそのセルとの固着結合
状態、さらにはセルの厚さの加工精度に影響を受
けずに荷重の分力を相互干渉なく、かつできるだ
け分力間の感度差なしに検出ないしは測定できる
ようにした圧覚センサモジユールの構成例を示
す。第22図の例では、図示のように互いに平行
に配された基板55および受圧板52の間に、4
個のセル53−1〜53−4が箱形に配設されて
おり、それぞれその上端を受圧板52に、下端を
基板55に固着されている。従つて、セル53−
1,53−3の端面とセル53−2,53−4の
端面とは互いに直交する方向に配されている。受
圧板52の上面には受圧板が受ける荷重の3分力
の方向がx,y,zで示されていいる。この荷重
を受圧板52を介して受けるセル53−1〜53
−4には、図示のようにストレンゲージ群54が
設けられており、セル53−1上のゲージとして
は、z方向の分力を検出するための4個のゲージ
54zt,54zcと、y方向の分力を検出するため
の4個のゲージ54xt,54xcとの2種のゲー
ジ群が設けられている。z方向分力測定ゲージの
内、セル53−1の外径側に配された2個のゲー
ジ54ztは、矢印方向のz方向分力を受けて引張
りひずみを検出し、内径側に配された2個のゲー
ジ54zcは圧縮ひずみを検出し、これら4個のゲ
ージは第25図に示すようにブリツジ回路Bz1
の各辺に接続される。y方向分力測定用ゲージの
内セル53−1の左上部と右下部に設けられた2
個のゲージ54xtは、矢印方向のy方向分力を受
けて引張りひずみを検出し、右上部と左下部の2
個のゲージ54xcは圧縮ひずみを検出し、ここ
れら4個のゲージは第25図のブリツジ回路By
1の各辺に接続される。なお、これらy方向分力
測定用ゲジはいずれもセル53−1の内径側に配
されているが、外径側に配しても差し支えない。
ユールを構成する感圧体としての複数個の圧覚セ
ンサセルの内の少なくとも2個をリングの端面が
互いに直交するように配設し、かつ各感圧体から
はセルの端面に平行な方向にかかる荷重分力に対
する応答出力信号のみを取り出し、これらを組み
合わせて所望の荷重分力を測定することによつ
て、上述のような平行型モジユールのもつ欠点を
解消して、受圧板の剛性やそのセルとの固着結合
状態、さらにはセルの厚さの加工精度に影響を受
けずに荷重の分力を相互干渉なく、かつできるだ
け分力間の感度差なしに検出ないしは測定できる
ようにした圧覚センサモジユールの構成例を示
す。第22図の例では、図示のように互いに平行
に配された基板55および受圧板52の間に、4
個のセル53−1〜53−4が箱形に配設されて
おり、それぞれその上端を受圧板52に、下端を
基板55に固着されている。従つて、セル53−
1,53−3の端面とセル53−2,53−4の
端面とは互いに直交する方向に配されている。受
圧板52の上面には受圧板が受ける荷重の3分力
の方向がx,y,zで示されていいる。この荷重
を受圧板52を介して受けるセル53−1〜53
−4には、図示のようにストレンゲージ群54が
設けられており、セル53−1上のゲージとして
は、z方向の分力を検出するための4個のゲージ
54zt,54zcと、y方向の分力を検出するため
の4個のゲージ54xt,54xcとの2種のゲー
ジ群が設けられている。z方向分力測定ゲージの
内、セル53−1の外径側に配された2個のゲー
ジ54ztは、矢印方向のz方向分力を受けて引張
りひずみを検出し、内径側に配された2個のゲー
ジ54zcは圧縮ひずみを検出し、これら4個のゲ
ージは第25図に示すようにブリツジ回路Bz1
の各辺に接続される。y方向分力測定用ゲージの
内セル53−1の左上部と右下部に設けられた2
個のゲージ54xtは、矢印方向のy方向分力を受
けて引張りひずみを検出し、右上部と左下部の2
個のゲージ54xcは圧縮ひずみを検出し、ここ
れら4個のゲージは第25図のブリツジ回路By
1の各辺に接続される。なお、これらy方向分力
測定用ゲジはいずれもセル53−1の内径側に配
されているが、外径側に配しても差し支えない。
一方、隣りのセル53−2は前述のようにその
端面がセル53−1の端面と直交するように配設
されており、4個のz方向分力測定用ゲージ54
zt,54zcが設けられるのは前と同じであるが、
今度は4個のx方向分力測定用ゲージ54xt,5
4xcが設けられる。これらゲージ群のひずみ検
出の様子は前と同じであり、z方向検出用の4個
のゲージ54zt,54zcは第25図のブリツジ回
路Bz2に、x方向検出用の4個のゲージ54xt,
54xcはブリツジ回路Bx2に接続される。残り
の2個のセル53−3,53−4についても同様
であり、セル53−3にはz方向分力検出用ゲー
ジとy方向分力検出用ゲージとが設けられ、それ
ぞれ第25図のブリツジ回路Bz3とBy3とに接
続される。セル53−4については、z方向分力
検出用ゲージとx方向分力検出用ゲージが設けら
れ、それぞれブリツジ回路Bz4とBx4とに接続
される。
端面がセル53−1の端面と直交するように配設
されており、4個のz方向分力測定用ゲージ54
zt,54zcが設けられるのは前と同じであるが、
今度は4個のx方向分力測定用ゲージ54xt,5
4xcが設けられる。これらゲージ群のひずみ検
出の様子は前と同じであり、z方向検出用の4個
のゲージ54zt,54zcは第25図のブリツジ回
路Bz2に、x方向検出用の4個のゲージ54xt,
54xcはブリツジ回路Bx2に接続される。残り
の2個のセル53−3,53−4についても同様
であり、セル53−3にはz方向分力検出用ゲー
ジとy方向分力検出用ゲージとが設けられ、それ
ぞれ第25図のブリツジ回路Bz3とBy3とに接
続される。セル53−4については、z方向分力
検出用ゲージとx方向分力検出用ゲージが設けら
れ、それぞれブリツジ回路Bz4とBx4とに接続
される。
以上により、これらのストレンゲージを要素と
するブリツジ回路群は第25図のように接続さ
れ、z方向についてはセル53−1〜53−4に
対応する4個のブリツジ回路Bz1〜Bz4が直列
接続されるが、x方向およびy方向については、
それぞれセル53−2,53−4およびセル53
−1,53−3に対応するブリツジ回路Bx2,
Bx4およびブリツジ回路By1,By3が2個ず
つ直列接続される。図では各ブリツジ回路への電
源が+,−により、前述のように直列接続された
ブリツジ回路群からの出力端子が、x,y,z方
向それぞれについてEx,Ey,Ezで示されてい
る。z方向のブリツジ回路の直列接続数はx,y
両方向のそれに対して2倍になつているが、前の
(4),(5)式からわかるようにz方向のゲージの感度
がx,y両方向のゲージの感度の約1/2であるの
で、第25図の回路の出力端子Ex,Ey,Ezから
の検出信号のレベルはほぼ揃うこととなり、後段
の増幅等に入力するのに好都合である。
するブリツジ回路群は第25図のように接続さ
れ、z方向についてはセル53−1〜53−4に
対応する4個のブリツジ回路Bz1〜Bz4が直列
接続されるが、x方向およびy方向については、
それぞれセル53−2,53−4およびセル53
−1,53−3に対応するブリツジ回路Bx2,
Bx4およびブリツジ回路By1,By3が2個ず
つ直列接続される。図では各ブリツジ回路への電
源が+,−により、前述のように直列接続された
ブリツジ回路群からの出力端子が、x,y,z方
向それぞれについてEx,Ey,Ezで示されてい
る。z方向のブリツジ回路の直列接続数はx,y
両方向のそれに対して2倍になつているが、前の
(4),(5)式からわかるようにz方向のゲージの感度
がx,y両方向のゲージの感度の約1/2であるの
で、第25図の回路の出力端子Ex,Ey,Ezから
の検出信号のレベルはほぼ揃うこととなり、後段
の増幅等に入力するのに好都合である。
第23図の例では2個のセル53−5,53−
6は端面が互いに直交するようにT字状に配され
ている。前例の説明から容易にわかるように、本
例の場合は、受圧板52が受ける荷重のz方向分
力はセル53−5,53−6のストレンゲージ5
4zt,54zcにより、x方向分力はセル53−6
のストレンゲージ54xt,54xc(図示せず)に
より、y方向分力はセル53−5のストレンゲー
ジ54xt,,54xcにより検出され、これに対応
するブリツジ回路の直列接続数は第14図に示し
た例のちようど1/2になる。3分力方向x,y,
zに対する検出出力がほぼ同程度になるのも前の
例と同じである。
6は端面が互いに直交するようにT字状に配され
ている。前例の説明から容易にわかるように、本
例の場合は、受圧板52が受ける荷重のz方向分
力はセル53−5,53−6のストレンゲージ5
4zt,54zcにより、x方向分力はセル53−6
のストレンゲージ54xt,54xc(図示せず)に
より、y方向分力はセル53−5のストレンゲー
ジ54xt,,54xcにより検出され、これに対応
するブリツジ回路の直列接続数は第14図に示し
た例のちようど1/2になる。3分力方向x,y,
zに対する検出出力がほぼ同程度になるのも前の
例と同じである。
第24図の例では3個のセル53−7,53−
8,53−9がI字状に配されていて、この内セ
ル53−7,53−8は端面が互いに平行である
が、セル53−9の端面は他のセルの端面と直交
するように配されている。またゲージの接続は、
z方向分力に対してはセル53−7〜53−8の
ストレンゲージ54zt,54zcからなる3個のブ
リツジ回路が直列接続され、x方向分力に対して
はセル53−7,53−8のストレンゲージ54
xt,54xcからなる2個のブリツジ回路が直列
接続され、y方向分力に対してはセル53−9の
ストレンゲージ54xt,54xcからなる1個の
ブリツジ回路が設けられる。この例の場合には、
前の例のようにこのままでは3分力に対する検出
出力レベルを揃えることはできないが、幸いシリ
コンストレンゲージは抵抗値すなわち出力の大き
さの異なるものが製作できるので、抵抗値を適宜
に選択することによつて検出出力レベルの不揃い
を補償することが可能である。
8,53−9がI字状に配されていて、この内セ
ル53−7,53−8は端面が互いに平行である
が、セル53−9の端面は他のセルの端面と直交
するように配されている。またゲージの接続は、
z方向分力に対してはセル53−7〜53−8の
ストレンゲージ54zt,54zcからなる3個のブ
リツジ回路が直列接続され、x方向分力に対して
はセル53−7,53−8のストレンゲージ54
xt,54xcからなる2個のブリツジ回路が直列
接続され、y方向分力に対してはセル53−9の
ストレンゲージ54xt,54xcからなる1個の
ブリツジ回路が設けられる。この例の場合には、
前の例のようにこのままでは3分力に対する検出
出力レベルを揃えることはできないが、幸いシリ
コンストレンゲージは抵抗値すなわち出力の大き
さの異なるものが製作できるので、抵抗値を適宜
に選択することによつて検出出力レベルの不揃い
を補償することが可能である。
複数の検出素子を直交させた直交型のものは、
単一荷重測定においては、後述するように偏荷重
に対して問題があるとの理由で従来用いられなか
つた。すなわち、例えば第26図に示すように2
個のセンサ20が直交するようにした場合受圧板
35の中心点Aに矢印U方向の荷重が加わると、
これは各センサ20の受圧面に等分布荷重が作用
したものと同等であるから、2つのセンサ20が
分担する荷重から全荷重を計算することができる
ので問題はないが、偏位点BにU方向の荷重が加
わると、センサ20にはU方向の力だけでなく、
モーメントMが加わり、これにより各センサ20
にはU方向以外の力が加えられ、この力が誤差出
力となるという欠点がある。このように、単一荷
重測定の場合には、偏荷重の問題があるので、直
交型の実用化は干渉が少ない利点があることが知
られているにもかかわらず、不可能視されてい
た。ところが、第22図〜第24図に示すような
本発明に関わる圧覚センサモジユール51は数mm
以下の微小な大きさであり、このモジユール51
を第8図に示すように多数個高密度にアレイ状に
配列しているので、荷重の分布状態を測定する場
合には、1個のモジユール51にはほぼ均等な分
布荷重が作用していると見なされる。よつて、単
一荷重測定のときのようなモーメントを考慮する
必要がなく、偏荷重に問題が生じない。これによ
り、直交型のモジユールを実施でき、直交型によ
る他成分の干渉が少ないという上述のような利点
を得ることができるのが顕著な特徴の一つであ
る。
単一荷重測定においては、後述するように偏荷重
に対して問題があるとの理由で従来用いられなか
つた。すなわち、例えば第26図に示すように2
個のセンサ20が直交するようにした場合受圧板
35の中心点Aに矢印U方向の荷重が加わると、
これは各センサ20の受圧面に等分布荷重が作用
したものと同等であるから、2つのセンサ20が
分担する荷重から全荷重を計算することができる
ので問題はないが、偏位点BにU方向の荷重が加
わると、センサ20にはU方向の力だけでなく、
モーメントMが加わり、これにより各センサ20
にはU方向以外の力が加えられ、この力が誤差出
力となるという欠点がある。このように、単一荷
重測定の場合には、偏荷重の問題があるので、直
交型の実用化は干渉が少ない利点があることが知
られているにもかかわらず、不可能視されてい
た。ところが、第22図〜第24図に示すような
本発明に関わる圧覚センサモジユール51は数mm
以下の微小な大きさであり、このモジユール51
を第8図に示すように多数個高密度にアレイ状に
配列しているので、荷重の分布状態を測定する場
合には、1個のモジユール51にはほぼ均等な分
布荷重が作用していると見なされる。よつて、単
一荷重測定のときのようなモーメントを考慮する
必要がなく、偏荷重に問題が生じない。これによ
り、直交型のモジユールを実施でき、直交型によ
る他成分の干渉が少ないという上述のような利点
を得ることができるのが顕著な特徴の一つであ
る。
次に製造手段について説明する。まず、シリコ
ン単結晶をセル材料として用い、ストレンゲージ
をいわゆる拡散形ゲージの形でシリコンウエハ内
に形成することができる。すなわち、第27図
A,Bに示すように、所定の厚さ(例えば0.6mm)
を有し、所定の伝導形(例えばN形)と比抵抗
(例えば1〜10Ω・cm)を有し、かつ所定の結晶
方位(例えば111方向の形成面)を有する単結晶
シリコンウエハ62の圧覚センサ単位セル相当領
域53に第12図のような配置の拡散形ストレン
ゲージ群54、および金属配線をマスクレスイオ
ンビーム加工やAl蒸着などのIC製造技術(プレ
ーナ技術)によつて形成することができる。例え
ば、N形シリコン単結晶基板の表面内に電子ビー
ムないしはイオンビームを用いて不純物のインプ
ランテーシヨン法あるいは不純物制御法のイオン
注入法によりP形拡散形ストレンゲージを作り込
み、またその基板上にSiO2絶縁膜を介して金属
薄膜配線およびボンデイングパツド部を蒸着法で
形成する。このIC製造方法によれば、1枚のウ
エハ62に多数個の圧覚センサ単位セルを作り込
むことができる。このウエハ62からワイヤーソ
ーカツト法や超極薄レジノイド切断砥石による自
動ダイシングソーカツト法あるいはレーザ加工や
エツチカツトまたはこれらの加工法の組合せなど
の加工方法により、圧覚センサ単位セルを精度よ
く切り出すことによつて、特性のよく揃つた小形
(例えば数mm〜1mm)のプレーナ形圧覚センサ単
位セルが得られる。
ン単結晶をセル材料として用い、ストレンゲージ
をいわゆる拡散形ゲージの形でシリコンウエハ内
に形成することができる。すなわち、第27図
A,Bに示すように、所定の厚さ(例えば0.6mm)
を有し、所定の伝導形(例えばN形)と比抵抗
(例えば1〜10Ω・cm)を有し、かつ所定の結晶
方位(例えば111方向の形成面)を有する単結晶
シリコンウエハ62の圧覚センサ単位セル相当領
域53に第12図のような配置の拡散形ストレン
ゲージ群54、および金属配線をマスクレスイオ
ンビーム加工やAl蒸着などのIC製造技術(プレ
ーナ技術)によつて形成することができる。例え
ば、N形シリコン単結晶基板の表面内に電子ビー
ムないしはイオンビームを用いて不純物のインプ
ランテーシヨン法あるいは不純物制御法のイオン
注入法によりP形拡散形ストレンゲージを作り込
み、またその基板上にSiO2絶縁膜を介して金属
薄膜配線およびボンデイングパツド部を蒸着法で
形成する。このIC製造方法によれば、1枚のウ
エハ62に多数個の圧覚センサ単位セルを作り込
むことができる。このウエハ62からワイヤーソ
ーカツト法や超極薄レジノイド切断砥石による自
動ダイシングソーカツト法あるいはレーザ加工や
エツチカツトまたはこれらの加工法の組合せなど
の加工方法により、圧覚センサ単位セルを精度よ
く切り出すことによつて、特性のよく揃つた小形
(例えば数mm〜1mm)のプレーナ形圧覚センサ単
位セルが得られる。
セル53の厚さはセルの径が例えば3mmのとき
その20%、すなわち0.6mm程度がよいので、この
寸法にあつた厚さのシリコンウエハ62を材料と
して用いる。セル53のウエハ62からの切り出
しは上述のレーザカツト法などでかなり寸法精度
のよいセルが得られるが、複数分力の測定に適し
た外形精度を得、かつウエハからの切り出し時に
生じやすい表面の残留ひずみを除去するため、切
り出したセルの外形とくに外周面の研削が望まし
い。この研削法としてはホーニング法等の機械研
削が可能であり、このほか最近ミクロ加工法とし
て知られて来たエラスチツク・エミツシヨン法な
どを採用することもできる。なお、シリコン単結
晶からなるセルの内孔寸法としては、理論的には
外径にできるだけ近くなるよう大にするのが望ま
しいが、実用的には外径の50%程とするのが、機
械強度と荷重測定精度との兼ね合いの面から適当
である。
その20%、すなわち0.6mm程度がよいので、この
寸法にあつた厚さのシリコンウエハ62を材料と
して用いる。セル53のウエハ62からの切り出
しは上述のレーザカツト法などでかなり寸法精度
のよいセルが得られるが、複数分力の測定に適し
た外形精度を得、かつウエハからの切り出し時に
生じやすい表面の残留ひずみを除去するため、切
り出したセルの外形とくに外周面の研削が望まし
い。この研削法としてはホーニング法等の機械研
削が可能であり、このほか最近ミクロ加工法とし
て知られて来たエラスチツク・エミツシヨン法な
どを採用することもできる。なお、シリコン単結
晶からなるセルの内孔寸法としては、理論的には
外径にできるだけ近くなるよう大にするのが望ま
しいが、実用的には外径の50%程とするのが、機
械強度と荷重測定精度との兼ね合いの面から適当
である。
また、拡散形ストレンゲージ群54はゲージ率
(ピエゾ抵抗係数)の結晶方位依存のない{111}
面に形成することによつて、特性のバラツキの非
常に小さい圧覚センサを得ることができるので好
ましい。すなわち、P形シリコンのピエゾ抵抗係
数を代表的な三つの結晶面{100}面,{110}面
および{111}面について示すと、第28図A〜
Cに示す通りである。この図において、実線の曲
線はストレンゲージの長手方向と同じ方向のひず
み成分に関するピエゾ抵抗係数(πl)であり、破
線の曲線はストレンゲージ長手方向に垂直な方向
のひずみ成分に関するピエゾ抵抗係数(πt)であ
る。なお、原点からの長さがピエゾ抵抗係数の大
きさを表し、ピエゾ抵抗係数が大きい程感度が高
くなるという比例関係にある。
(ピエゾ抵抗係数)の結晶方位依存のない{111}
面に形成することによつて、特性のバラツキの非
常に小さい圧覚センサを得ることができるので好
ましい。すなわち、P形シリコンのピエゾ抵抗係
数を代表的な三つの結晶面{100}面,{110}面
および{111}面について示すと、第28図A〜
Cに示す通りである。この図において、実線の曲
線はストレンゲージの長手方向と同じ方向のひず
み成分に関するピエゾ抵抗係数(πl)であり、破
線の曲線はストレンゲージ長手方向に垂直な方向
のひずみ成分に関するピエゾ抵抗係数(πt)であ
る。なお、原点からの長さがピエゾ抵抗係数の大
きさを表し、ピエゾ抵抗係数が大きい程感度が高
くなるという比例関係にある。
ここで、第28図Aは{100}面、第5図Bは
{110}面、第5図Cは{111}面の場合を示すが、
上述のストレンゲージ配置条件により、{100}面
では互いに直交する方向にしか感度がないので、
不適当である、また、{110}面ではFz用ストレ
ンゲージを{110}方向に合わせて形成するとFx
用あるいはFy用ストレンゲージはこれより約50゜
傾いた方向(図中の一点鎖線で示す)に形成する
ので感度が小さくなり、ストレンゲージの僅かな
位置ずれによつて大きく感度が変動することにな
るので、特性のよく揃つた圧覚センサを得にく
い。これに対して、{111}面は感度が結晶方位に
依存しないのでゲージ配置角度のずれによる感度
の変動がなく、特性のよく揃つた圧覚センサが得
られる。
{110}面、第5図Cは{111}面の場合を示すが、
上述のストレンゲージ配置条件により、{100}面
では互いに直交する方向にしか感度がないので、
不適当である、また、{110}面ではFz用ストレ
ンゲージを{110}方向に合わせて形成するとFx
用あるいはFy用ストレンゲージはこれより約50゜
傾いた方向(図中の一点鎖線で示す)に形成する
ので感度が小さくなり、ストレンゲージの僅かな
位置ずれによつて大きく感度が変動することにな
るので、特性のよく揃つた圧覚センサを得にく
い。これに対して、{111}面は感度が結晶方位に
依存しないのでゲージ配置角度のずれによる感度
の変動がなく、特性のよく揃つた圧覚センサが得
られる。
また、上述の圧覚センサセル53の受圧面に印
加される力以外に温度変動の際に支持体である下
部基板55(第8図参照)から力が加わつて、セ
ル53に応力が発生すると、オフセツト信号を大
きく出してしまう。そこで、下部基板55をセル
53の材料と熱膨張係数の近い材料から形成する
と、温度変動時に熱膨張係数の差によつて感圧構
造体に応力が発生することを阻止して、応力によ
るオフセツト信号を低減することができるので好
ましい。
加される力以外に温度変動の際に支持体である下
部基板55(第8図参照)から力が加わつて、セ
ル53に応力が発生すると、オフセツト信号を大
きく出してしまう。そこで、下部基板55をセル
53の材料と熱膨張係数の近い材料から形成する
と、温度変動時に熱膨張係数の差によつて感圧構
造体に応力が発生することを阻止して、応力によ
るオフセツト信号を低減することができるので好
ましい。
例えば、シリコン単結晶からなるセル53が固
定される下部基板55を同じシリコン結晶で作成
する。この場合下部基板55を構成するシリコン
結晶は単結晶に限らず多結晶でもよい。下部基板
55がセル53と同じ材料であるから、温度変化
の際熱膨張が同一であるため、セル53に応力が
生ずることがない。しかし熱膨張係数が同じでな
くても近似していれば、温度変化の際に熱膨張の
差が小さいためセルに発生する応力は無視できる
位小さい。すなわち、感圧構造体1の材料がシリ
コンの場合、その線膨張係数は2.5×10-6/℃で
あるが、線膨張係数が2.5×10-6±50%内にあれ
ば他の材料、例えばインバーのような合金あるい
は他の半導体の単結晶、多結晶を用いることもで
きる。
定される下部基板55を同じシリコン結晶で作成
する。この場合下部基板55を構成するシリコン
結晶は単結晶に限らず多結晶でもよい。下部基板
55がセル53と同じ材料であるから、温度変化
の際熱膨張が同一であるため、セル53に応力が
生ずることがない。しかし熱膨張係数が同じでな
くても近似していれば、温度変化の際に熱膨張の
差が小さいためセルに発生する応力は無視できる
位小さい。すなわち、感圧構造体1の材料がシリ
コンの場合、その線膨張係数は2.5×10-6/℃で
あるが、線膨張係数が2.5×10-6±50%内にあれ
ば他の材料、例えばインバーのような合金あるい
は他の半導体の単結晶、多結晶を用いることもで
きる。
さて、第29図に示したように、共通の基板5
5の上に感圧素子のセル53を多数個並設する
際、基板55への取付け精度が荷重測定の精度に
大きな影響を及ぼす。例えば同図Aに示すよう
に、セル53の向きが分力を測定すべき方向x,
yに対してβで示す角度傾いている場合には、も
はやそのセル53からの測定出力は正しいx,y
方向の分力Fx,Fyを示し得ない。また同図Bに
示すように、傾きβがないようにセル53が並べ
られてはいるが、正規の位置から図示のように
x,y方向にδxないしはδyだけずれている場合
も同様な測定誤差が生じ、とくに2個のセル5
3,53を受圧板52(斜線で示す)で連結して
第20図に示すような基本形を構成する際に誤差
が大きくなり、あるいは複雑になつて誤差を補正
することがむつかしくなる。以下、かかる問題の
ないようにかつ比較的簡単に精度のよい圧覚セン
サアレイ50を製作しうる手段について第30図
〜第35図を参照して説明する。
5の上に感圧素子のセル53を多数個並設する
際、基板55への取付け精度が荷重測定の精度に
大きな影響を及ぼす。例えば同図Aに示すよう
に、セル53の向きが分力を測定すべき方向x,
yに対してβで示す角度傾いている場合には、も
はやそのセル53からの測定出力は正しいx,y
方向の分力Fx,Fyを示し得ない。また同図Bに
示すように、傾きβがないようにセル53が並べ
られてはいるが、正規の位置から図示のように
x,y方向にδxないしはδyだけずれている場合
も同様な測定誤差が生じ、とくに2個のセル5
3,53を受圧板52(斜線で示す)で連結して
第20図に示すような基本形を構成する際に誤差
が大きくなり、あるいは複雑になつて誤差を補正
することがむつかしくなる。以下、かかる問題の
ないようにかつ比較的簡単に精度のよい圧覚セン
サアレイ50を製作しうる手段について第30図
〜第35図を参照して説明する。
まず、第30図に示すように基板55の上面に
互いに平行な複数の溝56が設けられる。一方、
同図では基板55の上面に載置された形で描かれ
たセル53の図の下端側には、前述の溝56の深
さに適合した寸法dを有する係合部53fがリン
グ本体から突出して設けられている。またこの例
ではセル53の上端側にも同様な寸法dを有する
係合部53gが設けられている。このように形成
されたセル53はその下方の係合部53fを溝5
6に嵌めこむことにより、第29図Aに示したよ
うな傾き誤差βおよび同図Bに示したy方向の偏
位誤差δyが生じないように基板55の上に配設
することができる。
互いに平行な複数の溝56が設けられる。一方、
同図では基板55の上面に載置された形で描かれ
たセル53の図の下端側には、前述の溝56の深
さに適合した寸法dを有する係合部53fがリン
グ本体から突出して設けられている。またこの例
ではセル53の上端側にも同様な寸法dを有する
係合部53gが設けられている。このように形成
されたセル53はその下方の係合部53fを溝5
6に嵌めこむことにより、第29図Aに示したよ
うな傾き誤差βおよび同図Bに示したy方向の偏
位誤差δyが生じないように基板55の上に配設
することができる。
第31図にはセル53の第29図Bに示したx
方向の偏位誤差δxがないように、複数のセル5
3を列状に整列させる手段として円形断面の棒状
の治具63をセル53の内孔53hに挿通した状
態が示されている。セル53はこの整列治具63
にあらかじめ通しておいた上で、第31図に示す
ようにその各係合部53fを基板55の溝56に
嵌め込んでもよいし、また各セル53の係合部5
3fをあらかじめ個々に溝内に嵌め込んでおいた
後に、その内孔53hに整列治具63を挿通する
ことにより、複数のセル53を整列させてもよい
ことはもちろんである。このようにして複数個の
セル53を正しい配置に置いた後、各セルの係合
部53fを溝55に固着させる。整列治具63は
この固着作業前あるいは作業後に取り外される。
方向の偏位誤差δxがないように、複数のセル5
3を列状に整列させる手段として円形断面の棒状
の治具63をセル53の内孔53hに挿通した状
態が示されている。セル53はこの整列治具63
にあらかじめ通しておいた上で、第31図に示す
ようにその各係合部53fを基板55の溝56に
嵌め込んでもよいし、また各セル53の係合部5
3fをあらかじめ個々に溝内に嵌め込んでおいた
後に、その内孔53hに整列治具63を挿通する
ことにより、複数のセル53を整列させてもよい
ことはもちろんである。このようにして複数個の
セル53を正しい配置に置いた後、各セルの係合
部53fを溝55に固着させる。整列治具63は
この固着作業前あるいは作業後に取り外される。
この段階でストレンゲージ54からの配線64
を外部に引き出す接続作業を終了させておくこと
が望ましいが、この接続手段については後述す
る。
を外部に引き出す接続作業を終了させておくこと
が望ましいが、この接続手段については後述す
る。
この例では第30図に示したように各セル53
には上方の係合部53gが備えられているので、
これに対応して第8図に示した受圧板52の素材
としての受圧素板65には、第32図に示すよう
にその下面に溝66が設けられている。図示のよ
うにこの受圧素板65は複数個のセル53に対し
共通に設けられており、圧覚センサアレイ50に
対して1枚、あるいは結合部53gを溝66に嵌
め込みやすいように数枚に分割されている。いず
れにせよ、溝66に各係合部53gを嵌め込むこ
とによつて、複数個のセル53の位置は正しい幾
何学的配置に置かれる。この後、前と同様な手段
で溝66と係合部53gが固着される。なお、受
圧素板の材料としては基板55と同様にシリコン
材料でもよいが、金属製とすれば機械的にじん性
の高い受圧板を得ることができる。
には上方の係合部53gが備えられているので、
これに対応して第8図に示した受圧板52の素材
としての受圧素板65には、第32図に示すよう
にその下面に溝66が設けられている。図示のよ
うにこの受圧素板65は複数個のセル53に対し
共通に設けられており、圧覚センサアレイ50に
対して1枚、あるいは結合部53gを溝66に嵌
め込みやすいように数枚に分割されている。いず
れにせよ、溝66に各係合部53gを嵌め込むこ
とによつて、複数個のセル53の位置は正しい幾
何学的配置に置かれる。この後、前と同様な手段
で溝66と係合部53gが固着される。なお、受
圧素板の材料としては基板55と同様にシリコン
材料でもよいが、金属製とすれば機械的にじん性
の高い受圧板を得ることができる。
その後、受圧素板65には、第33図に示すよ
うに縦横の切溝67が入れられてそれぞれ互いに
分離された受圧板52に形成される。この受圧素
板65の切断は、ダイヤモンドカツタやレーザカ
ツタ等により容易に行うことができる。また、こ
の例では受圧素板の切断は、1枚の受圧板が2枚
のセル53を互いに結合するように、すなわち、
第21図に示した基本形の感圧素子が得られるよ
うになされる。このように、比較的量産に適した
手段により、セル53が正しく幾何学的に配置さ
れ、かつ基板55と受圧板52とに強固に固着さ
れた多数の感圧素子を含む分布荷重センサを製造
することができる。
うに縦横の切溝67が入れられてそれぞれ互いに
分離された受圧板52に形成される。この受圧素
板65の切断は、ダイヤモンドカツタやレーザカ
ツタ等により容易に行うことができる。また、こ
の例では受圧素板の切断は、1枚の受圧板が2枚
のセル53を互いに結合するように、すなわち、
第21図に示した基本形の感圧素子が得られるよ
うになされる。このように、比較的量産に適した
手段により、セル53が正しく幾何学的に配置さ
れ、かつ基板55と受圧板52とに強固に固着さ
れた多数の感圧素子を含む分布荷重センサを製造
することができる。
第34図は他の例を示すもので、本例によれば
各センサ53の係合部53fが基板55の溝56
に嵌め込まれかつ固着されることは前述の例と同
じであるが、受圧板52は溝を備えておらず各セ
ル53の上周面に直接固着される。従つて、この
例では受圧板52の素材としての受圧素板には溝
なしの平板状のものを用い、各セル53の上周面
に載置した状態でセル53と突き合わせ固着した
うえで第34図に示すような分離された受圧板5
2に切断すればよい。この例においては、複数個
のセルの幾何学的配置が第33図に仕上がり状態
を示した前の例と比べて若干精度が落ちる可能性
はあるが、各セル53の位置が溝56により規制
されかつ前述のようにすでに整列されているの
で、実用的に十分な幾何学的精度を保つことがで
きる。また、組立ずみの状態において、各セル5
3に強制的なひずみが残留しない長所もあり、さ
らには前の例よりも組立て作業が簡単で量産に適
する利点もある。なお、前述の説明からも容易に
わかるように、ここに図示はされてないが、基板
55を溝なしとし、受圧板52ないしはその受圧
素板を溝つきに構成しても、本発明の要旨と均等
な手段で同様な利点を有する分布荷重センサを容
易に製造することができることはあきらかであ
る。
各センサ53の係合部53fが基板55の溝56
に嵌め込まれかつ固着されることは前述の例と同
じであるが、受圧板52は溝を備えておらず各セ
ル53の上周面に直接固着される。従つて、この
例では受圧板52の素材としての受圧素板には溝
なしの平板状のものを用い、各セル53の上周面
に載置した状態でセル53と突き合わせ固着した
うえで第34図に示すような分離された受圧板5
2に切断すればよい。この例においては、複数個
のセルの幾何学的配置が第33図に仕上がり状態
を示した前の例と比べて若干精度が落ちる可能性
はあるが、各セル53の位置が溝56により規制
されかつ前述のようにすでに整列されているの
で、実用的に十分な幾何学的精度を保つことがで
きる。また、組立ずみの状態において、各セル5
3に強制的なひずみが残留しない長所もあり、さ
らには前の例よりも組立て作業が簡単で量産に適
する利点もある。なお、前述の説明からも容易に
わかるように、ここに図示はされてないが、基板
55を溝なしとし、受圧板52ないしはその受圧
素板を溝つきに構成しても、本発明の要旨と均等
な手段で同様な利点を有する分布荷重センサを容
易に製造することができることはあきらかであ
る。
第35図はさらに異なる例を示すもので、この
例によれば第31図の工程におけるセル53の整
列手段として、棒状の整列治具63のかわりに、
第35図に示すような多数のさん68aを有する
枠状の整列治具68が用いられる。さん68a相
互間の隙間68bの幅lは、第30図に示したセ
ル53の幅lと同程度に形成されている。この整
列治具68を用いる前の工程では、第30図で基
板55の上面に載置された状態で示されていた各
セル53は、その係合部53fを溝56に嵌めこ
むことにより、溝56の方向いわば行方向には整
列されて溝方向に摺動自在に係止されている。こ
のセル53群の列方向の整列は、該整列治具68
を第30図の上方から挿入してその隙間68b内
にセル53を納めることによつてなされる。第3
0図に示すように各セル53の周面には斜めの肩
部53kがあり、整列治具68の上方からの挿入
に際してこの肩部が整列治具68のさん68aに
当つて、各セル53を自動調心的にその隙間68
bに案内する。セル53が円形の外周面を有する
ときも同様である。容易にわかるように、この例
における整列治具68は、前の例における整列治
具63よりも実用上量産工程に適している。
例によれば第31図の工程におけるセル53の整
列手段として、棒状の整列治具63のかわりに、
第35図に示すような多数のさん68aを有する
枠状の整列治具68が用いられる。さん68a相
互間の隙間68bの幅lは、第30図に示したセ
ル53の幅lと同程度に形成されている。この整
列治具68を用いる前の工程では、第30図で基
板55の上面に載置された状態で示されていた各
セル53は、その係合部53fを溝56に嵌めこ
むことにより、溝56の方向いわば行方向には整
列されて溝方向に摺動自在に係止されている。こ
のセル53群の列方向の整列は、該整列治具68
を第30図の上方から挿入してその隙間68b内
にセル53を納めることによつてなされる。第3
0図に示すように各セル53の周面には斜めの肩
部53kがあり、整列治具68の上方からの挿入
に際してこの肩部が整列治具68のさん68aに
当つて、各セル53を自動調心的にその隙間68
bに案内する。セル53が円形の外周面を有する
ときも同様である。容易にわかるように、この例
における整列治具68は、前の例における整列治
具63よりも実用上量産工程に適している。
以上の組付け手段は、第33図、第34図に示
すような平行型モジユールばかりでなく、第22
図〜第24図に示したような直交型モジユールに
も適用できる。この場場合は、基板55の溝56
または受圧素板65の溝66の少なくともいずれ
かをモジユールの構成に合わせた直交する溝に形
成することにより行う。
すような平行型モジユールばかりでなく、第22
図〜第24図に示したような直交型モジユールに
も適用できる。この場場合は、基板55の溝56
または受圧素板65の溝66の少なくともいずれ
かをモジユールの構成に合わせた直交する溝に形
成することにより行う。
ただ、基部55上に組込む前から各セル53は
各々セル毎に分離独立して形成されているため、
圧覚センサアレイ50を形成するには、上述のよ
うに下部基板55上の平行な複数の溝56にそれ
らの複数セル53の一端側を係合させて各溝ごと
に所定個数づつ分布立設させる工程と、その溝5
3に沿つて行方向に分布立設されたセル53を列
方向に整列させる工程と、その溝53に係合され
た各セル53の一端側を基板55に固着する工程
等の工程が少なくとも必要であり、製造・組立工
数が増大するという問題がある。
各々セル毎に分離独立して形成されているため、
圧覚センサアレイ50を形成するには、上述のよ
うに下部基板55上の平行な複数の溝56にそれ
らの複数セル53の一端側を係合させて各溝ごと
に所定個数づつ分布立設させる工程と、その溝5
3に沿つて行方向に分布立設されたセル53を列
方向に整列させる工程と、その溝53に係合され
た各セル53の一端側を基板55に固着する工程
等の工程が少なくとも必要であり、製造・組立工
数が増大するという問題がある。
しかも、この種の圧覚センサアレイはできるだ
け寸法を極小化して高密度集積化できることが要
求される。例えば、受圧板52の大きさは数mm
角、できれば1mm角以下にすることが望ましいと
されている。しかしながら、それらの要求寸法で
上述のような各工程を正確に行うことはセンサ5
3も極めて小さくなるのが容易でなく、ひいては
歩留りの低下、信頼性の低下、製造コスト高等を
まねくおそれがあり、さらには製造組立の完全自
動化が困難となるという問題がある。
け寸法を極小化して高密度集積化できることが要
求される。例えば、受圧板52の大きさは数mm
角、できれば1mm角以下にすることが望ましいと
されている。しかしながら、それらの要求寸法で
上述のような各工程を正確に行うことはセンサ5
3も極めて小さくなるのが容易でなく、ひいては
歩留りの低下、信頼性の低下、製造コスト高等を
まねくおそれがあり、さらには製造組立の完全自
動化が困難となるという問題がある。
第36図〜第38図は上述の問題点を解消する
目的で考えた短冊型セルの一例を示す。
目的で考えた短冊型セルの一例を示す。
第36図〜第38図の圧覚センサは列方向のセ
ル53が複数個各列毎に一本の短冊形の単結晶シ
リコン71上に一体に連続して構成されているの
で、各セル毎に基板55の溝56の所定位置に係
合整列固着するという従来の製造工程が必要でな
くなり、短冊体シリコン71毎の製造工程となる
ので、製造工数が大幅に減り、ひいては、製造コ
ストの軽減が得られる。さらに、取扱う感圧体の
寸法が長手方向に大きくなるので、下部基板の溝
への組込みや固着等の作業も容易となり、ひいて
は歩留りの向上、信頼性の向上が得られ、製造組
立の完全自動化が容易となる。
ル53が複数個各列毎に一本の短冊形の単結晶シ
リコン71上に一体に連続して構成されているの
で、各セル毎に基板55の溝56の所定位置に係
合整列固着するという従来の製造工程が必要でな
くなり、短冊体シリコン71毎の製造工程となる
ので、製造工数が大幅に減り、ひいては、製造コ
ストの軽減が得られる。さらに、取扱う感圧体の
寸法が長手方向に大きくなるので、下部基板の溝
への組込みや固着等の作業も容易となり、ひいて
は歩留りの向上、信頼性の向上が得られ、製造組
立の完全自動化が容易となる。
しかしながら、第36図のように円形の穴72
のみで複数個のセル53を分離すれば、隣接した
セルに発生する応力が干渉となつて隣のセルに歪
を生じこのセルの出力に影響を及ぼす。さらに第
37図のように複数の小形の円形穴73によつて
隣接したセルを分離する工夫をしても干渉を完全
になくすことができない。
のみで複数個のセル53を分離すれば、隣接した
セルに発生する応力が干渉となつて隣のセルに歪
を生じこのセルの出力に影響を及ぼす。さらに第
37図のように複数の小形の円形穴73によつて
隣接したセルを分離する工夫をしても干渉を完全
になくすことができない。
また第38図のように隣接したセルを大形の切
込み溝74によつて分離すれば干渉をなくすこと
ができるが、切込み溝74の位置精度や寸法精度
を上述の円形穴72のそれと同程度まであげるこ
とは現状の加工技術では極めて困難である。この
ため、セルの外周からストレンゲージ54までの
距離l,l′の精度が悪くなり、各セルからの出力
にばらつきが生じる。
込み溝74によつて分離すれば干渉をなくすこと
ができるが、切込み溝74の位置精度や寸法精度
を上述の円形穴72のそれと同程度まであげるこ
とは現状の加工技術では極めて困難である。この
ため、セルの外周からストレンゲージ54までの
距離l,l′の精度が悪くなり、各セルからの出力
にばらつきが生じる。
第39図および第40図はそれぞれ位置精度お
よび寸法精度を円形の穴によつて確保し、隣接し
たセルからの干渉を小形の切込み溝によつて遮断
するようにして、圧覚センサの製造を簡単にし、
かつ隣接したセルからの干渉をなくした圧覚セン
サの一例を示す。
よび寸法精度を円形の穴によつて確保し、隣接し
たセルからの干渉を小形の切込み溝によつて遮断
するようにして、圧覚センサの製造を簡単にし、
かつ隣接したセルからの干渉をなくした圧覚セン
サの一例を示す。
第39図Aに示したように、短冊形の短結晶シ
リコン71にセル構成用の円形穴53hと、セル
分離用の円形穴72および半円形穴の穴75を交
互に開け、セル構成用の円形穴53hの周りにス
トレンゲージ54を形成してセルを構成する。こ
れらの円形穴53h,72,75はレーザおよび
ダイヤモンドドリル加工で高精度に作成できる。
なお、短冊形の単結晶シリコン71にストレンゲ
ージ54を形成してから穴53h,72および7
5を開けるようにしてもよい。
リコン71にセル構成用の円形穴53hと、セル
分離用の円形穴72および半円形穴の穴75を交
互に開け、セル構成用の円形穴53hの周りにス
トレンゲージ54を形成してセルを構成する。こ
れらの円形穴53h,72,75はレーザおよび
ダイヤモンドドリル加工で高精度に作成できる。
なお、短冊形の単結晶シリコン71にストレンゲ
ージ54を形成してから穴53h,72および7
5を開けるようにしてもよい。
さらに、第39図Bに示したように、セルが形
成された上述の短冊形の単結晶シリコン71を受
圧面53dを上方にして下部基板55の溝に並べ
て固着し、そのシリコン71の上に上部受圧板5
2の素材としての受圧素板65を乗せて固着した
後、第39図CおよびDに示したように、セル分
離用穴72および75を通る切込み溝76によつ
て、受圧素板65といつしよに隣接するセル55
を互いに分離する。ここで、切込み溝76は薄型
の砥石カツタにより作成してもよいし、レーザ加
工により作成することもできる。
成された上述の短冊形の単結晶シリコン71を受
圧面53dを上方にして下部基板55の溝に並べ
て固着し、そのシリコン71の上に上部受圧板5
2の素材としての受圧素板65を乗せて固着した
後、第39図CおよびDに示したように、セル分
離用穴72および75を通る切込み溝76によつ
て、受圧素板65といつしよに隣接するセル55
を互いに分離する。ここで、切込み溝76は薄型
の砥石カツタにより作成してもよいし、レーザ加
工により作成することもできる。
このように、ストレンゲージ54に影響を与え
る加工は高精度加工ができる円形穴72,75の
加工だけですむので、高度な位置精度および寸法
精度が確保できる。よつて、セルの外周からスト
レンゲージまでの距離の精度が悪くなつて、各セ
ルからの出力のばらつきが生ずるという問題は解
消される。また、隣接したセ55からの干渉は小
形の切込み溝76によつて遮断される。
る加工は高精度加工ができる円形穴72,75の
加工だけですむので、高度な位置精度および寸法
精度が確保できる。よつて、セルの外周からスト
レンゲージまでの距離の精度が悪くなつて、各セ
ルからの出力のばらつきが生ずるという問題は解
消される。また、隣接したセ55からの干渉は小
形の切込み溝76によつて遮断される。
第40図A〜Dは他の例を示す。第40図Aに
示したように、短冊形の単結晶シリコン71にセ
ル構成用の円形穴53hとセル分離用の大径の円
形穴72とを交互に開た後に、その大径穴72の
位置に合せて矩形のセル分離切欠き溝74aを形
成している。他は前述の第39図A〜Dに示した
例と同様なのでその詳細な説明は省略する。本例
では短冊形単結晶シリコン71の端面に垂直な力
の検出には若干の誤差が生じるが、加工工数は第
39図A〜Dの例より少ない。
示したように、短冊形の単結晶シリコン71にセ
ル構成用の円形穴53hとセル分離用の大径の円
形穴72とを交互に開た後に、その大径穴72の
位置に合せて矩形のセル分離切欠き溝74aを形
成している。他は前述の第39図A〜Dに示した
例と同様なのでその詳細な説明は省略する。本例
では短冊形単結晶シリコン71の端面に垂直な力
の検出には若干の誤差が生じるが、加工工数は第
39図A〜Dの例より少ない。
また、圧覚センサアレイ50の基本的構成例を
第8図に示したが、図示のように、感圧モジユー
ル(圧覚センサモジユール)51を共通の下部基
板55上に面アレイ状(マトリツクス状)に高密
度に多数配列して接着剤等で固着し、下部基板5
5上で感圧モジユール51間を配線して圧覚セン
サアレイ50を構成した場合には、次のような欠
点がある。
第8図に示したが、図示のように、感圧モジユー
ル(圧覚センサモジユール)51を共通の下部基
板55上に面アレイ状(マトリツクス状)に高密
度に多数配列して接着剤等で固着し、下部基板5
5上で感圧モジユール51間を配線して圧覚セン
サアレイ50を構成した場合には、次のような欠
点がある。
圧覚センサの仕様に応じて下部基板の大きさ
を変更する必要があり、それに伴つて配線パタ
ーンを再設計しなければならない。
を変更する必要があり、それに伴つて配線パタ
ーンを再設計しなければならない。
感圧モジユールのうち1個が圧覚センサアレ
イを組立てた後に何らかの原因で不良となつた
時でも、その不良となつたモジユールだけを交
換することは困難であり、圧覚センサアレイ全
体の交換となつて、歩留りが悪い。
イを組立てた後に何らかの原因で不良となつた
時でも、その不良となつたモジユールだけを交
換することは困難であり、圧覚センサアレイ全
体の交換となつて、歩留りが悪い。
第41図〜第44図は上述の欠点を解消したユ
ニツト型圧覚センサアレイを示す。
ニツト型圧覚センサアレイを示す。
第41図において、80は圧覚センサユニツト
であり、複数個(例えば、4個)の感圧モジユー
ル51を下部基板81の上に1列に配列して構成
する。その際、感圧セル(圧覚センサセル)53
の下端部を下部基板81上の平行溝82またはそ
のセル毎に開けた不図示の取付穴に垂直に嵌め合
わせて固定すると確実な組み込みが得られる。
であり、複数個(例えば、4個)の感圧モジユー
ル51を下部基板81の上に1列に配列して構成
する。その際、感圧セル(圧覚センサセル)53
の下端部を下部基板81上の平行溝82またはそ
のセル毎に開けた不図示の取付穴に垂直に嵌め合
わせて固定すると確実な組み込みが得られる。
圧覚センサユニツト80の1個の感圧モジユー
ル51内の配線は、例えば第42図に示したもの
であり、受圧面に印加された力の3成分Fx,
Fy,Fzを検出する1個の感圧モジユール51の
ストレンゲージブリツジ54x,54y,54z
から出る端子数は、電源線を共通にすれば、6本
の出力端子83と2本の電源端子86の8本な
る。さらに、1個の感圧モジユール51または圧
覚センサユニツト80毎に、サーミスタ等の温度
検出素子87に接続する温度検出用端子84、お
よびMOSスイツチ等の半導体スイツチ88に接
続する制御用端子85とを有している。温度検出
素子87は下部基板81または感圧モジユール5
1内に組込まれており、MOSスイツチ等88は
下部基板81に組込まれて、温度検出出力および
ブリツジ出力を感圧モジユール51毎にまたは圧
覚センサユニツト80毎に開閉制御する。
ル51内の配線は、例えば第42図に示したもの
であり、受圧面に印加された力の3成分Fx,
Fy,Fzを検出する1個の感圧モジユール51の
ストレンゲージブリツジ54x,54y,54z
から出る端子数は、電源線を共通にすれば、6本
の出力端子83と2本の電源端子86の8本な
る。さらに、1個の感圧モジユール51または圧
覚センサユニツト80毎に、サーミスタ等の温度
検出素子87に接続する温度検出用端子84、お
よびMOSスイツチ等の半導体スイツチ88に接
続する制御用端子85とを有している。温度検出
素子87は下部基板81または感圧モジユール5
1内に組込まれており、MOSスイツチ等88は
下部基板81に組込まれて、温度検出出力および
ブリツジ出力を感圧モジユール51毎にまたは圧
覚センサユニツト80毎に開閉制御する。
これらの外部端子83〜86は、例えば第41
図に示すような下部基板81の側面に突出させた
公知のリードレスチツプキヤリア接続方式で形成
し、または第43図に示すような下部基板81の
底面にピン状に突出させた公知のピングリツドア
レイの接続方式で形成する。さらに、これらの外
部端子83〜86と各感圧セル53の端子とを接
続する内部端子を下部基板81の溝82内にあら
かじめ形成してあり、この内部端子の位置に合せ
て感圧セル53を溝82内に組込む。よつて、感
圧モジユール51を溝82内に組込むだけで、特
別な配線接続作業を必要とせずに圧覚センサユニ
ツト80が完成する。
図に示すような下部基板81の側面に突出させた
公知のリードレスチツプキヤリア接続方式で形成
し、または第43図に示すような下部基板81の
底面にピン状に突出させた公知のピングリツドア
レイの接続方式で形成する。さらに、これらの外
部端子83〜86と各感圧セル53の端子とを接
続する内部端子を下部基板81の溝82内にあら
かじめ形成してあり、この内部端子の位置に合せ
て感圧セル53を溝82内に組込む。よつて、感
圧モジユール51を溝82内に組込むだけで、特
別な配線接続作業を必要とせずに圧覚センサユニ
ツト80が完成する。
次に、第44図に示すように、圧覚センサの仕
様に応じてセラミツク等からなるマザーボード8
9に上述の圧覚センサユニツト80を仕様に応じ
た任意の数だけ組合わせて、公知のリードレスチ
ツプキヤリアまたはピングリツドアレイ同様の機
械的強度を有する接続方式で取りつけ、これによ
り圧覚センサを形成する。なお、マザーボード8
9にはあらかじめプリント配線が行われているも
のとする。
様に応じてセラミツク等からなるマザーボード8
9に上述の圧覚センサユニツト80を仕様に応じ
た任意の数だけ組合わせて、公知のリードレスチ
ツプキヤリアまたはピングリツドアレイ同様の機
械的強度を有する接続方式で取りつけ、これによ
り圧覚センサを形成する。なお、マザーボード8
9にはあらかじめプリント配線が行われているも
のとする。
上述のリードレスチツプキヤリア方式ではマザ
ーボード89上の接続端子と、下部基板81の側
面に突出させた外部端子83〜86(第41図参
照)とをボンデングやハンダ等により直接接続す
ることにより、マザーボード89上に圧覚センサ
ユニツト80を固定するので、マザーボード89
上の圧覚センサユニツト80の交換は容易であ
る。
ーボード89上の接続端子と、下部基板81の側
面に突出させた外部端子83〜86(第41図参
照)とをボンデングやハンダ等により直接接続す
ることにより、マザーボード89上に圧覚センサ
ユニツト80を固定するので、マザーボード89
上の圧覚センサユニツト80の交換は容易であ
る。
また、上述のピングリツドアレイ方式では、下
部基板81の底面に突出させたピン状の外部端子
83〜86(第43図参照)とマザーボード89
上に開口した穴状の接続端子とをしまりばめで嵌
着することにより、圧覚センサユニツト80を固
定するので、マザーボード89上の圧覚センサユ
ニツト80の交換はより容易である。また、両接
続方式とも、圧覚センサユニツト80をこのよう
に組付けるだけで、その後の配線接続処理等は不
要である。
部基板81の底面に突出させたピン状の外部端子
83〜86(第43図参照)とマザーボード89
上に開口した穴状の接続端子とをしまりばめで嵌
着することにより、圧覚センサユニツト80を固
定するので、マザーボード89上の圧覚センサユ
ニツト80の交換はより容易である。また、両接
続方式とも、圧覚センサユニツト80をこのよう
に組付けるだけで、その後の配線接続処理等は不
要である。
次に、ストレンゲージ54の好ましい形成位置
について述べる。単一のセル53で1個のモジユ
ール51を形成した場合には、セル53にy方向
の荷重が加わつたとき、受圧面53aが第45図
の破線に示すように下部基板55の表面に平行で
なくなるような変形をすることがあり、y方向荷
重の検出ができなくなる。そこで、単位セルを2
個用い、第46図に示すようにそれぞれの単位セ
ル53−10,53−20をその主表面53aを
基板55の表面に垂直にして立て、上部に共通の
受圧板52を載せてこの受圧板52の上面52a
を受圧面にすると、今度は、二つのセル53−1
0,53−20に加わる力が不均一になることが
あるので、両セルで得られる出力電圧から正確な
力の検出を行わなければならない。しかし、両セ
ルのストレンゲージ群54を第12図のように形
成することは単一セルの場合に比して2倍の工数
を必要とするので圧覚センサの価格の上昇をもた
らす。
について述べる。単一のセル53で1個のモジユ
ール51を形成した場合には、セル53にy方向
の荷重が加わつたとき、受圧面53aが第45図
の破線に示すように下部基板55の表面に平行で
なくなるような変形をすることがあり、y方向荷
重の検出ができなくなる。そこで、単位セルを2
個用い、第46図に示すようにそれぞれの単位セ
ル53−10,53−20をその主表面53aを
基板55の表面に垂直にして立て、上部に共通の
受圧板52を載せてこの受圧板52の上面52a
を受圧面にすると、今度は、二つのセル53−1
0,53−20に加わる力が不均一になることが
あるので、両セルで得られる出力電圧から正確な
力の検出を行わなければならない。しかし、両セ
ルのストレンゲージ群54を第12図のように形
成することは単一セルの場合に比して2倍の工数
を必要とするので圧覚センサの価格の上昇をもた
らす。
また、圧覚センサの信頼性を決める大きな要素
は配線の信頼性である。すなわち、感圧セル53
の表面のストレンゲージ領域相互間およびそれら
への入出力のための配線が構造体表面に形成され
るのであるから、セル53に生じる歪は配線部に
も及び、この歪で配線部の抵抗変化あるいは断線
が生ずると信頼性を大きく低下させる。このよう
な配線91は、例えば第47図に示すようにセル
基板53Nのストレンゲージ領域54Pに接触
し、他の部分では酸化膜92によつて絶縁され一
端に端子93を有する金属薄膜によつて形成され
る。しかし、12個のストレンゲージから三つのブ
リツジ回路を構成するには配線91による第12
図に示すような結線が必要であり、第48図に示
すように、一方の配線91−1の上に絶縁被覆層
94で絶縁して他方の配線91−2を設けなけれ
ばならぬクロスオーバが39個所も必要である。特
にこのクロスオーバが歪の大きいセル53の下部
に存在するときは歪の影響による信頼性に一層問
題がある。第12図のVx,Gx,Vy,Gy,Vz,
Gzはプラスまたはマイナス側電源端子である。
また、第49図に示すように、その電源の一方を
共通(アース側端子G)にし、他方を独立プラス
側端子(Vx,Vy,Vz)にした片面三成分電源
不完全独立形では、その配線のクロスオーバは35
個所になる。さらに、第50図に示すように各ブ
リツジに対して電源を共通(プラス側端子V、マ
イナス側端子V)にした片面三成分電源共用形の
場合にしても、その配線のクロスオーバは31個所
も必要となる。
は配線の信頼性である。すなわち、感圧セル53
の表面のストレンゲージ領域相互間およびそれら
への入出力のための配線が構造体表面に形成され
るのであるから、セル53に生じる歪は配線部に
も及び、この歪で配線部の抵抗変化あるいは断線
が生ずると信頼性を大きく低下させる。このよう
な配線91は、例えば第47図に示すようにセル
基板53Nのストレンゲージ領域54Pに接触
し、他の部分では酸化膜92によつて絶縁され一
端に端子93を有する金属薄膜によつて形成され
る。しかし、12個のストレンゲージから三つのブ
リツジ回路を構成するには配線91による第12
図に示すような結線が必要であり、第48図に示
すように、一方の配線91−1の上に絶縁被覆層
94で絶縁して他方の配線91−2を設けなけれ
ばならぬクロスオーバが39個所も必要である。特
にこのクロスオーバが歪の大きいセル53の下部
に存在するときは歪の影響による信頼性に一層問
題がある。第12図のVx,Gx,Vy,Gy,Vz,
Gzはプラスまたはマイナス側電源端子である。
また、第49図に示すように、その電源の一方を
共通(アース側端子G)にし、他方を独立プラス
側端子(Vx,Vy,Vz)にした片面三成分電源
不完全独立形では、その配線のクロスオーバは35
個所になる。さらに、第50図に示すように各ブ
リツジに対して電源を共通(プラス側端子V、マ
イナス側端子V)にした片面三成分電源共用形の
場合にしても、その配線のクロスオーバは31個所
も必要となる。
そこで、配線のクロスオーバの設置場所を圧覚
センサ単位セルの左右個所と下部位置とにし、そ
の左右個所をそれぞれ垂直方向分力Fz検出用の
両ストレンゲージの中間部の中央位置にすればそ
の左右個所は比較的歪の発生の小さい領域とする
ことができて、そこのクロスオーバの信頼性への
影響はほぼなくなるが、一方下部位置は歪の比較
的最も大きな領域であるので、その下部のクロス
オーバは抵抗変化や断線を生じやすく信頼性に問
題がある。
センサ単位セルの左右個所と下部位置とにし、そ
の左右個所をそれぞれ垂直方向分力Fz検出用の
両ストレンゲージの中間部の中央位置にすればそ
の左右個所は比較的歪の発生の小さい領域とする
ことができて、そこのクロスオーバの信頼性への
影響はほぼなくなるが、一方下部位置は歪の比較
的最も大きな領域であるので、その下部のクロス
オーバは抵抗変化や断線を生じやすく信頼性に問
題がある。
第51図に示すものは、上述の問題点を解消す
ることを図つたセル53の一例である。本図にお
いて91は各ストレンゲージ54と端子93間を
接続する配線である。各単位セル53の表面53
aにはFz検出用のストレンゲージ54zt,54
zc、Fx検出用のストレンゲージ54xt,54xc、
Fy検出用のストレンゲージ54yt,54ycがそ
れぞれ形成されている。このような単位セルを2
個用いてFx,Fy,Fz検出用のフルブリツジを構
成すれば二つの単位セルにおける力の不均一を補
償することができる。このセル53における配線
91は第12図に示したセル53の配線91に比
して極めて簡単であり、特に製造上手数を要し、
信頼性の点でも問題のあるクロスオーバが31個所
から皆無になり、端子93の数も8個から7個に
減少している。このように、本例は、二つの単位
セル53,53からなる圧覚センサモジユール5
1の印加された力の3成分を検出するためのブリ
ツジを二つの単位セル53,53に二分するよう
にしているので、両セル53に加わる力の不均一
を補償するとともに、両セル53がそれぞれフル
ブリツジを備える場合に比し、ストレンゲージが
半数となるばかりでなく、配線密度が大幅に低く
なり、クロスーオーバも皆無にできるので製造工
数の節減、信頼性の向上が達成され、極小形の圧
覚センサ単位セルを低価格で得ることができる。
そのほか配線密度の低減により、感圧構造体の半
導体に温度センサやアナログスイツチなどの他の
素子を集積する余地も生じる。
ることを図つたセル53の一例である。本図にお
いて91は各ストレンゲージ54と端子93間を
接続する配線である。各単位セル53の表面53
aにはFz検出用のストレンゲージ54zt,54
zc、Fx検出用のストレンゲージ54xt,54xc、
Fy検出用のストレンゲージ54yt,54ycがそ
れぞれ形成されている。このような単位セルを2
個用いてFx,Fy,Fz検出用のフルブリツジを構
成すれば二つの単位セルにおける力の不均一を補
償することができる。このセル53における配線
91は第12図に示したセル53の配線91に比
して極めて簡単であり、特に製造上手数を要し、
信頼性の点でも問題のあるクロスオーバが31個所
から皆無になり、端子93の数も8個から7個に
減少している。このように、本例は、二つの単位
セル53,53からなる圧覚センサモジユール5
1の印加された力の3成分を検出するためのブリ
ツジを二つの単位セル53,53に二分するよう
にしているので、両セル53に加わる力の不均一
を補償するとともに、両セル53がそれぞれフル
ブリツジを備える場合に比し、ストレンゲージが
半数となるばかりでなく、配線密度が大幅に低く
なり、クロスーオーバも皆無にできるので製造工
数の節減、信頼性の向上が達成され、極小形の圧
覚センサ単位セルを低価格で得ることができる。
そのほか配線密度の低減により、感圧構造体の半
導体に温度センサやアナログスイツチなどの他の
素子を集積する余地も生じる。
第52図A,Bは他の例を示し、セル53の片
面53aにFx成分検出用のハーフブリツジ(本
図A)を他面53a′にFz及びFy検出用のハーフ
ブリツジ(本図B)を備えているもので、第47
図の場合に比し端子数がさらに減じている。端子
数をさらに減ずるには、基板と異なる導電形のエ
ピタキシヤル層を有するエピタキシヤルウエハを
使用すれば、基板を接地配線に利用できるので接
地端子93−1,93−2を一つにすることがで
きる。
面53aにFx成分検出用のハーフブリツジ(本
図A)を他面53a′にFz及びFy検出用のハーフ
ブリツジ(本図B)を備えているもので、第47
図の場合に比し端子数がさらに減じている。端子
数をさらに減ずるには、基板と異なる導電形のエ
ピタキシヤル層を有するエピタキシヤルウエハを
使用すれば、基板を接地配線に利用できるので接
地端子93−1,93−2を一つにすることがで
きる。
第53図〜第56図は、圧覚センサの受圧面に
印加される力の3成分を検出するためのストレン
ゲージを2つの単位セルに分けて形成した例を示
す。第53図Aに示す第1単位セル53−1の片
面53aにFz検出用のストレンゲージ54zc,
54ztを、第53図Bに示す第2単位セル53−
2の片面53aにFx検出用のストレンゲージ5
4xc,54xt、Fy検出用のストレンゲージ45
yc,54ytを配置した例では、本図から明らかな
ように配線91のクロスオーバは8個所となり、
しかも信頼性に影響を与える下部位置のクロスオ
ーバを無くして左右部のみに限定できるので、歪
の小さいリング幅の中央部に配置すればクロスオ
ーバの信頼性が向上できる。
印加される力の3成分を検出するためのストレン
ゲージを2つの単位セルに分けて形成した例を示
す。第53図Aに示す第1単位セル53−1の片
面53aにFz検出用のストレンゲージ54zc,
54ztを、第53図Bに示す第2単位セル53−
2の片面53aにFx検出用のストレンゲージ5
4xc,54xt、Fy検出用のストレンゲージ45
yc,54ytを配置した例では、本図から明らかな
ように配線91のクロスオーバは8個所となり、
しかも信頼性に影響を与える下部位置のクロスオ
ーバを無くして左右部のみに限定できるので、歪
の小さいリング幅の中央部に配置すればクロスオ
ーバの信頼性が向上できる。
第54図A,Bに示す例では第53図Bに示し
た第2単位セル53−2のストレンゲージ54
xc,54xt,54yc,54ytを第2単位セル5
3−20の表面53a(本図A)と裏面53a′(本
図B)に別々に配置したもので、配線91のクロ
スオーバは表面53aの3個所のみに減じ、左右
部のみとなる。
た第2単位セル53−2のストレンゲージ54
xc,54xt,54yc,54ytを第2単位セル5
3−20の表面53a(本図A)と裏面53a′(本
図B)に別々に配置したもので、配線91のクロ
スオーバは表面53aの3個所のみに減じ、左右
部のみとなる。
第55図A,Bはエピタキシヤルウエハを使用
して第1,第2単位セル共、片面にストレンゲー
ジを形成した例であり、例えばp型シリコン基板
の一面にn形エピタキシヤル層を形成し、その表
面にp形のストレンゲージを形成するもので、こ
の場合はp形基板が接続点95を通じて電源の一
方に接続される接地配線として利用されるので、
クロスオーバはさらに減じて左右部にある1個所
のみとなる。
して第1,第2単位セル共、片面にストレンゲー
ジを形成した例であり、例えばp型シリコン基板
の一面にn形エピタキシヤル層を形成し、その表
面にp形のストレンゲージを形成するもので、こ
の場合はp形基板が接続点95を通じて電源の一
方に接続される接地配線として利用されるので、
クロスオーバはさらに減じて左右部にある1個所
のみとなる。
第56図は第2単位セル53−2に両エピタキ
シヤルウエハを使用してストレンゲージ54yc,
54yt,54xc,54xtを両面53a,53a′に
分けて形成した例でクロスオーバは同様に左右部
にある1個所のみとなる。
シヤルウエハを使用してストレンゲージ54yc,
54yt,54xc,54xtを両面53a,53a′に
分けて形成した例でクロスオーバは同様に左右部
にある1個所のみとなる。
このように、一方の単位セルの感圧構造体が力
の3成分のうち2成分を検出するストレンゲージ
を備え、他方の単位セルの感圧構造体が残りの1
成分を検出するストレンゲージを備えるように構
成しているので、配線密度が大幅に低くなり、結
線のために感圧構造体表面に設けられる配線のク
ロスオーバの数を低減でき、また歪の大きい構造
体下部におけるクロスオーバを避けることができ
るため、配線の信頼性が向上し、その上二つの単
位セルから構成することにより、力が印加された
場合受圧面が支持面に平行に移動することが保証
され、検出の信頼性も飛躍的に向上する。
の3成分のうち2成分を検出するストレンゲージ
を備え、他方の単位セルの感圧構造体が残りの1
成分を検出するストレンゲージを備えるように構
成しているので、配線密度が大幅に低くなり、結
線のために感圧構造体表面に設けられる配線のク
ロスオーバの数を低減でき、また歪の大きい構造
体下部におけるクロスオーバを避けることができ
るため、配線の信頼性が向上し、その上二つの単
位セルから構成することにより、力が印加された
場合受圧面が支持面に平行に移動することが保証
され、検出の信頼性も飛躍的に向上する。
上述のように、力の3成分を検出するためのス
トレンゲージを2つの単位セルに分けて形成する
代りに、力の3成分のうち2成分を単位セルの片
側の面で検出し、残りの一成分をその単位セルの
反対側の面で検出するように、力の3成分を検出
するためのストレンゲージを同一の単位セルの表
と裏面に分けて形成するようにしてもよい。例え
ば、第53図Bに示すような構成のストレンゲー
ジブリツジを第53図Aの単位セル53−1のス
トレンゲージ形成面53aの裏面53a′に形成す
ることにより、同様な効果を得ることができる。
第55図A,Bの場合も同様である。次に、機能
素子の組み込みについて説明する。拡散形ストレ
ンゲージは抵抗値および歪による抵抗変化率すな
わちゲージ率に大きな温度依存性がある。しかも
この温度依存性は、例えばP形<111>方向につ
いて第57図に示すように不純物濃度によつても
その値が大きく変化する。例えば1018/cm3の不純
物濃度の場合には、抵抗変化率αが約30%/100
℃、ゲージ率温度変化率βが約−30%/100℃の
大きな値を持つている。そのほか、ストレンゲー
ジで構成されるブリツジの力が零である場合の出
力、すなわち、零点出力にも温度依存性をもつて
いる。従つてストレンゲージブリツジの出力信号
から正確に力の3成分を算出するためには、正確
に温度を知る必要がある。
トレンゲージを2つの単位セルに分けて形成する
代りに、力の3成分のうち2成分を単位セルの片
側の面で検出し、残りの一成分をその単位セルの
反対側の面で検出するように、力の3成分を検出
するためのストレンゲージを同一の単位セルの表
と裏面に分けて形成するようにしてもよい。例え
ば、第53図Bに示すような構成のストレンゲー
ジブリツジを第53図Aの単位セル53−1のス
トレンゲージ形成面53aの裏面53a′に形成す
ることにより、同様な効果を得ることができる。
第55図A,Bの場合も同様である。次に、機能
素子の組み込みについて説明する。拡散形ストレ
ンゲージは抵抗値および歪による抵抗変化率すな
わちゲージ率に大きな温度依存性がある。しかも
この温度依存性は、例えばP形<111>方向につ
いて第57図に示すように不純物濃度によつても
その値が大きく変化する。例えば1018/cm3の不純
物濃度の場合には、抵抗変化率αが約30%/100
℃、ゲージ率温度変化率βが約−30%/100℃の
大きな値を持つている。そのほか、ストレンゲー
ジで構成されるブリツジの力が零である場合の出
力、すなわち、零点出力にも温度依存性をもつて
いる。従つてストレンゲージブリツジの出力信号
から正確に力の3成分を算出するためには、正確
に温度を知る必要がある。
第58図,第59図はそれぞれ圧覚センサの単
位セルに温度センサ領域を形成することにより上
述のような温度変化に対応して正確に力の3成分
の算出することが容易にできるようにした圧覚セ
ンサ単位セルの一例を示す。
位セルに温度センサ領域を形成することにより上
述のような温度変化に対応して正確に力の3成分
の算出することが容易にできるようにした圧覚セ
ンサ単位セルの一例を示す。
第58図に示した例では、N形単結晶シリコン
の単位セル53の垂直の面53aの歪の小さい領
域に拡散によりP形抵抗領域87が形成されてい
る。第59図A,Bは単位セル53のシリコン基
板の両面に形成されたエピタキシヤル層の一方5
3aにFz検出用のストレンゲージ54zt,54
zc(図A)、他面53a′のエピタキシヤル層にFx
検出用のストレンゲージ54xt,54xcおよび
Fy検出用のストレンゲージ54yt,54yc(図
B)を形成した場合の例で、拡散抵抗形温度検出
素子87は歪の影響を受けるので、歪の最も小さ
い一対のゲージ54ztと54zcの中間に配置さ
れ、図のように端子93−1に配線91により接
続されている。一方の配線は接触点95−1から
基噺および接触点95−2を経て端子93−2に
至つている。第60図は温度検出素子87として
トランジスタを形成た例を示し、P形シリコンウ
エハ53P上に設けたN形ストレンゲージ54P
を拡散し、P+拡散層98により分離された領域
にベース層としてのP形拡散層99、コレクタ接
触層としてのN+拡散層100、さらにP形層9
9の中にエミツタ層としてのN+拡散層101を
形成して感圧構造体である単位セル53内に
NPNトランジスタを構成したものである。同様
に温度センサとしてダイオードを形成してもよ
い。これらの抵抗、トランジスタあるいはダイオ
ードを制御回路に接続し、特性の温度変化を利用
して感圧構造体に加わつた力の算出あるいは零点
出力の温度補償を行う。
の単位セル53の垂直の面53aの歪の小さい領
域に拡散によりP形抵抗領域87が形成されてい
る。第59図A,Bは単位セル53のシリコン基
板の両面に形成されたエピタキシヤル層の一方5
3aにFz検出用のストレンゲージ54zt,54
zc(図A)、他面53a′のエピタキシヤル層にFx
検出用のストレンゲージ54xt,54xcおよび
Fy検出用のストレンゲージ54yt,54yc(図
B)を形成した場合の例で、拡散抵抗形温度検出
素子87は歪の影響を受けるので、歪の最も小さ
い一対のゲージ54ztと54zcの中間に配置さ
れ、図のように端子93−1に配線91により接
続されている。一方の配線は接触点95−1から
基噺および接触点95−2を経て端子93−2に
至つている。第60図は温度検出素子87として
トランジスタを形成た例を示し、P形シリコンウ
エハ53P上に設けたN形ストレンゲージ54P
を拡散し、P+拡散層98により分離された領域
にベース層としてのP形拡散層99、コレクタ接
触層としてのN+拡散層100、さらにP形層9
9の中にエミツタ層としてのN+拡散層101を
形成して感圧構造体である単位セル53内に
NPNトランジスタを構成したものである。同様
に温度センサとしてダイオードを形成してもよ
い。これらの抵抗、トランジスタあるいはダイオ
ードを制御回路に接続し、特性の温度変化を利用
して感圧構造体に加わつた力の算出あるいは零点
出力の温度補償を行う。
このように、単位セル53の中に温度センサを
形成し、ストレンゲージから得られる出力信号の
温度補償に利用するので、例えばロボツトハンド
に用いる場合、温度の異なる物体を把持した際の
圧覚センサの急激な温度変化を補償することがで
きて正確な把持力の検出ができる。
形成し、ストレンゲージから得られる出力信号の
温度補償に利用するので、例えばロボツトハンド
に用いる場合、温度の異なる物体を把持した際の
圧覚センサの急激な温度変化を補償することがで
きて正確な把持力の検出ができる。
また、第8図に示すように、ブリツジの出力信
号は増幅部57に入力されるが、各単位セル53
あるいは感圧モジユール51からの出力信号の取
り出し、およびそれらへの入力の供給のための配
線を少なくするために入力の供給および出力信号
の取り出しを単位セル53あるいはモジユール5
1ごとにスキヤンニングできるようにすることが
望ましい。
号は増幅部57に入力されるが、各単位セル53
あるいは感圧モジユール51からの出力信号の取
り出し、およびそれらへの入力の供給のための配
線を少なくするために入力の供給および出力信号
の取り出しを単位セル53あるいはモジユール5
1ごとにスキヤンニングできるようにすることが
望ましい。
第61図〜第65図はそれぞれ単位セル53に
アナログスイツチ88が集積され、入出力配線中
に接続されることによつて、上述のようなスキヤ
ンニングを容易にでき配線を少なくした圧覚セン
サ単位セルの一例を示す。
アナログスイツチ88が集積され、入出力配線中
に接続されることによつて、上述のようなスキヤ
ンニングを容易にでき配線を少なくした圧覚セン
サ単位セルの一例を示す。
第61図および第62図の場合は単結晶半導体
として基板の両面に異なる導電形のエピタキシヤ
ル層を備えたシリコン板を用い、一方の面のエピ
タキシヤル層にFz検出用ブリツジを、他方の面
のエピタキシヤル層にFxおよびFy検出用のブリ
ツジを形成したものである。第61図に示した感
圧構造体である単位セル53の表面53aにはス
トレンゲージ54zt,54zcのほかにその中間の
歪の小さい領域に出力端子Zに接続されるアナロ
グスイツチ88−1,88−2、入力端子Vに接
続されるアナログスイツチ88−3が形成されて
いる。これらのアナログスイツチ88は第63図
に示したようにMOSトランジスタとして形成さ
れている。すなわちP形シリコン基板53P上に
設けられたN形エピタキシヤル層97中にP形拡
散層99が形成され、さらにその中にN+形のソ
ース、ドレイン層100が形成されている。シリ
コン板表面は酸化膜92で覆われ、その上にゲー
ト電極102が設けられ、NチヤネルMOSトラ
ンジスタ88が構成される。一方、ストレンゲー
ジはP形拡散層54Pにより形成され、これとの
接続は金属薄膜配線91により接続されている。
接地配線として利用される基板53Pへの接続は
P形拡散層98で行われる。この接地部は第61
図、第62図では小円95で表わされている。第
62図は裏面53a′側を示し出力端子X,Yに接
続されるアナログスイツチ88−4〜88−7お
よび入力端子Vに接続されるアナログスイツチ8
8−8が表面53aと同様に歪の小さい左右中間
部に形成されている。
として基板の両面に異なる導電形のエピタキシヤ
ル層を備えたシリコン板を用い、一方の面のエピ
タキシヤル層にFz検出用ブリツジを、他方の面
のエピタキシヤル層にFxおよびFy検出用のブリ
ツジを形成したものである。第61図に示した感
圧構造体である単位セル53の表面53aにはス
トレンゲージ54zt,54zcのほかにその中間の
歪の小さい領域に出力端子Zに接続されるアナロ
グスイツチ88−1,88−2、入力端子Vに接
続されるアナログスイツチ88−3が形成されて
いる。これらのアナログスイツチ88は第63図
に示したようにMOSトランジスタとして形成さ
れている。すなわちP形シリコン基板53P上に
設けられたN形エピタキシヤル層97中にP形拡
散層99が形成され、さらにその中にN+形のソ
ース、ドレイン層100が形成されている。シリ
コン板表面は酸化膜92で覆われ、その上にゲー
ト電極102が設けられ、NチヤネルMOSトラ
ンジスタ88が構成される。一方、ストレンゲー
ジはP形拡散層54Pにより形成され、これとの
接続は金属薄膜配線91により接続されている。
接地配線として利用される基板53Pへの接続は
P形拡散層98で行われる。この接地部は第61
図、第62図では小円95で表わされている。第
62図は裏面53a′側を示し出力端子X,Yに接
続されるアナログスイツチ88−4〜88−7お
よび入力端子Vに接続されるアナログスイツチ8
8−8が表面53aと同様に歪の小さい左右中間
部に形成されている。
第63図に示すMOSトランジスタ88はゲー
ト電極102に正の電圧を印加した場合に導通す
るが、第64図に示すようにエピタキシヤル層9
7に直接P+拡散層99によりソース,ドレイン
層を形成した場合は、ゲート電極102に印加さ
れる電圧が零あるいは負の場合に導通する。
ト電極102に正の電圧を印加した場合に導通す
るが、第64図に示すようにエピタキシヤル層9
7に直接P+拡散層99によりソース,ドレイン
層を形成した場合は、ゲート電極102に印加さ
れる電圧が零あるいは負の場合に導通する。
第65図は配線密度の小さいFz検出用ブリツ
ジ形成面にアナログスイツチ88−1〜88−3
および88−9のほかに温度検出素子87および
それに直列接続の薄膜抵抗103を形成した例で
ある。第66図はアナログスイツチ88を組み込
んだ単位セル53を用いた場合の圧覚センサの回
路構成の一例を示し、図中に記入された符号は第
61図〜第65図に記入した符号の部分に対応す
る。一対の入力配線96、複数の出力配線90に
挿入されたアナログスイツチ88を後述するマイ
クロコンピユータ部137(第79図参照)から
の信号により順次オン、オフすることによりスキ
ヤンニングして、各単位セルのFx,Fy,Fz検出
用の各ブリツジからの出力信号を順次増幅部57
に取り出す。このスキヤンニングの詳細について
は後述する。
ジ形成面にアナログスイツチ88−1〜88−3
および88−9のほかに温度検出素子87および
それに直列接続の薄膜抵抗103を形成した例で
ある。第66図はアナログスイツチ88を組み込
んだ単位セル53を用いた場合の圧覚センサの回
路構成の一例を示し、図中に記入された符号は第
61図〜第65図に記入した符号の部分に対応す
る。一対の入力配線96、複数の出力配線90に
挿入されたアナログスイツチ88を後述するマイ
クロコンピユータ部137(第79図参照)から
の信号により順次オン、オフすることによりスキ
ヤンニングして、各単位セルのFx,Fy,Fz検出
用の各ブリツジからの出力信号を順次増幅部57
に取り出す。このスキヤンニングの詳細について
は後述する。
このように、圧覚センサ単位セル53にアナロ
グスイツチ88を配設したので、単位セル53あ
るいは感圧モジユール51への入力の供給および
出力信号の取り出しがスキヤンニング可能とな
り、単位セルのストレンゲージ54と増幅部57
との間の配線数が大幅に減少するので、多数のセ
ルを内蔵する圧覚センサアレイ50の構成が極め
て容易になる。第67図はブリツジ回路の差動増
幅器(以下、差動アンプと称する)104とアナ
ログスイツチ88とを単位セル53に組み込み、
各単位セル53の出力配線を共通にすることによ
り下部基板55上の出力配線90の数を減らすよ
うにした単位セル53の構成を示す。なおこの例
では、単位荷重計を構成する複数の単位セルのう
ち、一つの単位セル53だけに3つの検出用ブリ
ツジが形成されたものについて説明する。すなわ
ち、mn個のセンサモジユール51(単位荷重計)
がm×n行列を構成しており、第(1,1)番目
のモジユール51を構成する単位セル53−1は
F1,1,x検出用ブリツジ54x,F1,1,y検出用
ブリツジ54y,F1,1,z検出用ブリツジ54z
の他に、それぞれのブリツジ出力を増幅するため
の3個の差動アンプ104とこの差動アンプの出
力を取出すか否かを制御する3個のアナログスイ
ツチ88とを有する。このようなモジユール51
が、第(1,n)番目のモジユールの単位セル5
3−2や第(m,n)番目のモジユールの単位セ
ル53−3を含めてm×n行列を構成している。
さらに、1つの行を構成するn個のモジユール5
1のFx検出用ブリツジ54xのアナログスイツ
チ出力を共通にして出力用スキヤナ105に入力
している。Fy検出用ブリツジ及びFz検出用ブリ
ツジについても同様である。
グスイツチ88を配設したので、単位セル53あ
るいは感圧モジユール51への入力の供給および
出力信号の取り出しがスキヤンニング可能とな
り、単位セルのストレンゲージ54と増幅部57
との間の配線数が大幅に減少するので、多数のセ
ルを内蔵する圧覚センサアレイ50の構成が極め
て容易になる。第67図はブリツジ回路の差動増
幅器(以下、差動アンプと称する)104とアナ
ログスイツチ88とを単位セル53に組み込み、
各単位セル53の出力配線を共通にすることによ
り下部基板55上の出力配線90の数を減らすよ
うにした単位セル53の構成を示す。なおこの例
では、単位荷重計を構成する複数の単位セルのう
ち、一つの単位セル53だけに3つの検出用ブリ
ツジが形成されたものについて説明する。すなわ
ち、mn個のセンサモジユール51(単位荷重計)
がm×n行列を構成しており、第(1,1)番目
のモジユール51を構成する単位セル53−1は
F1,1,x検出用ブリツジ54x,F1,1,y検出用
ブリツジ54y,F1,1,z検出用ブリツジ54z
の他に、それぞれのブリツジ出力を増幅するため
の3個の差動アンプ104とこの差動アンプの出
力を取出すか否かを制御する3個のアナログスイ
ツチ88とを有する。このようなモジユール51
が、第(1,n)番目のモジユールの単位セル5
3−2や第(m,n)番目のモジユールの単位セ
ル53−3を含めてm×n行列を構成している。
さらに、1つの行を構成するn個のモジユール5
1のFx検出用ブリツジ54xのアナログスイツ
チ出力を共通にして出力用スキヤナ105に入力
している。Fy検出用ブリツジ及びFz検出用ブリ
ツジについても同様である。
このような構成において、第j列にある3×m
個のスイツチング素子に制御用スキヤナ106を
切換えてベース電圧を加えるとともに、出力用ス
キヤナ105を第1行から第m行まで切換えて各
単位セル53のブリツジから出力データを取出し
マイクロコンピユータ部137に送り込む。さら
に制御用スキヤナ106によつて電流を流す列を
第1列から第n列まで切換えれば、すべての単位
荷重計の出力電圧を取出すことができる。このよ
うな回路構成にすれば各モジユール51からの出
力配線数は3本になるからmn個の単位荷重計か
らの出力配線数は3×m本となり、これは単位荷
重計の数が増加してもmに比例して増加するにと
どまり配線密度も以前ほど高くはならない。
個のスイツチング素子に制御用スキヤナ106を
切換えてベース電圧を加えるとともに、出力用ス
キヤナ105を第1行から第m行まで切換えて各
単位セル53のブリツジから出力データを取出し
マイクロコンピユータ部137に送り込む。さら
に制御用スキヤナ106によつて電流を流す列を
第1列から第n列まで切換えれば、すべての単位
荷重計の出力電圧を取出すことができる。このよ
うな回路構成にすれば各モジユール51からの出
力配線数は3本になるからmn個の単位荷重計か
らの出力配線数は3×m本となり、これは単位荷
重計の数が増加してもmに比例して増加するにと
どまり配線密度も以前ほど高くはならない。
なお、スイツチング素子88を単位セル内に組
み込むことにより、モジユール51と制御用スキ
ヤナ106間に、スイツチング素子88の導通遮
断を制御する制御用配線が新たに加わるが、この
制御用配線は各単位荷重計を共通接続するため、
配線数は合計n本増えるにすぎず、配線密度が増
加する虞れはない。
み込むことにより、モジユール51と制御用スキ
ヤナ106間に、スイツチング素子88の導通遮
断を制御する制御用配線が新たに加わるが、この
制御用配線は各単位荷重計を共通接続するため、
配線数は合計n本増えるにすぎず、配線密度が増
加する虞れはない。
次にこのような回路を実現するための単位セル
の構成を第68図および第69図に示す。図で
Fx検出用ストレンゲージ54xt,54xc、Fy検
出用ストレンゲージ54yt,54yc、Fy検出用
ストレンゲージ54zt,54zcの位置及びそれら
によつてブリツジを構成する配線と電源用端子
V1,V2は第50図に示したものと同である。こ
の例では同じシリコン単結晶ウエハの表面上に、
Fx,Fy,Fz検出用ブリツジの出力を増幅するた
めの差動アンプ104−1〜104−3、差動ア
ンプの出力を外部に取出すか否かを制御するため
のアナログスイツチ88−1〜88−3を拡散プ
ロセスにより形成する。そしてそれらの出力用と
してFx検出用端子X,Fy出力端子Y,Fz出力用
端子Zとアナログスイツチ制御用の制御信号用端
子Sを設ける。このような単位セル53によりモ
ジユール51を組立てれば、第67図に示した信
号取出し回路を構成できるので、前に述べたよう
に出力配線数を大幅に減らすことができる。
の構成を第68図および第69図に示す。図で
Fx検出用ストレンゲージ54xt,54xc、Fy検
出用ストレンゲージ54yt,54yc、Fy検出用
ストレンゲージ54zt,54zcの位置及びそれら
によつてブリツジを構成する配線と電源用端子
V1,V2は第50図に示したものと同である。こ
の例では同じシリコン単結晶ウエハの表面上に、
Fx,Fy,Fz検出用ブリツジの出力を増幅するた
めの差動アンプ104−1〜104−3、差動ア
ンプの出力を外部に取出すか否かを制御するため
のアナログスイツチ88−1〜88−3を拡散プ
ロセスにより形成する。そしてそれらの出力用と
してFx検出用端子X,Fy出力端子Y,Fz出力用
端子Zとアナログスイツチ制御用の制御信号用端
子Sを設ける。このような単位セル53によりモ
ジユール51を組立てれば、第67図に示した信
号取出し回路を構成できるので、前に述べたよう
に出力配線数を大幅に減らすことができる。
第69図に単位セルの他の構成を示す。第68
図の構成では単位セル53が荷重を受けた時に、
シリコン単結晶ウエハの表面上に形成した差動ア
ンプ104−1〜104−3及びアナログスイツ
チ88−1〜88−3は荷重によつて生じる応力
を受けるという虞れがある。また、ストレンゲー
ジを形成する拡散プロセスと、差動アンプ,アナ
ログスイツチを形成する拡散プロセスは別のプロ
セスになる場合があり、2つのプロセスをシリー
ズに行うため製造工程が複雑になる。この構成で
は、Fx検出用ストレンゲージ54xt,54xc、
Fy検出用ストレンゲージ54yt,54yc、Fz検
出用ストレンゲージ54zt,54zc及びそれらに
よつてブリツジを構成する配線,電源用端子V1,
V2を第50図に示したものと同じくリング状セ
ルの表面上に形成する。そして、別のシリコン単
結晶ウエハ表面上にブリツジの出力を増幅するた
めの差動アンプ104−1〜104−3,差動ア
ンプの出力を外部に取出すか否かを制御するため
のアナログスイツチ88−1〜88−3を拡散プ
ロセスにより形成し、シリコン単結晶のウエハか
ら以上の素子をもつたチツプを切り出し、このチ
ツプを上記リング状セル53の中心孔のなかに配
置してリング状セルとチツプとの間を緩衝手段を
兼ねる極細金属線107によつて接続する。この
ようにすれば、差動アンプ104−1〜104−
3,アナログスイツチ88−1〜88−3は荷重
により生じる応力を受けなくなり、信頼性が向上
するという利点が得られる。さらにストレンゲー
ジを形成する拡散プロセスと、差動アンプ・アナ
ログスイツチを形成する拡散プロセスとをパラレ
ルに行えるため製造工程をフレキシブルに組むこ
とができる。
図の構成では単位セル53が荷重を受けた時に、
シリコン単結晶ウエハの表面上に形成した差動ア
ンプ104−1〜104−3及びアナログスイツ
チ88−1〜88−3は荷重によつて生じる応力
を受けるという虞れがある。また、ストレンゲー
ジを形成する拡散プロセスと、差動アンプ,アナ
ログスイツチを形成する拡散プロセスは別のプロ
セスになる場合があり、2つのプロセスをシリー
ズに行うため製造工程が複雑になる。この構成で
は、Fx検出用ストレンゲージ54xt,54xc、
Fy検出用ストレンゲージ54yt,54yc、Fz検
出用ストレンゲージ54zt,54zc及びそれらに
よつてブリツジを構成する配線,電源用端子V1,
V2を第50図に示したものと同じくリング状セ
ルの表面上に形成する。そして、別のシリコン単
結晶ウエハ表面上にブリツジの出力を増幅するた
めの差動アンプ104−1〜104−3,差動ア
ンプの出力を外部に取出すか否かを制御するため
のアナログスイツチ88−1〜88−3を拡散プ
ロセスにより形成し、シリコン単結晶のウエハか
ら以上の素子をもつたチツプを切り出し、このチ
ツプを上記リング状セル53の中心孔のなかに配
置してリング状セルとチツプとの間を緩衝手段を
兼ねる極細金属線107によつて接続する。この
ようにすれば、差動アンプ104−1〜104−
3,アナログスイツチ88−1〜88−3は荷重
により生じる応力を受けなくなり、信頼性が向上
するという利点が得られる。さらにストレンゲー
ジを形成する拡散プロセスと、差動アンプ・アナ
ログスイツチを形成する拡散プロセスとをパラレ
ルに行えるため製造工程をフレキシブルに組むこ
とができる。
以上のように、モジユール51を構成する単位
セル53にストレンゲージ54とそれから形成さ
れる3個のブリツジ回路54x,54y,54z
の他に、ブリツジ回路の出力を増幅する差動アン
プ104と差動アンプの出力を取出すか否かを制
御するアナログスイツチ88とを組み込み、複数
個のモジユール51の行ごとの出力配線を共通に
しているため、基板55上の出力配線90の数を
6×mn本から3×m本に減らすことができ、も
つて各モジユール51とスキヤナ105,106
との間の配線が可能になる。
セル53にストレンゲージ54とそれから形成さ
れる3個のブリツジ回路54x,54y,54z
の他に、ブリツジ回路の出力を増幅する差動アン
プ104と差動アンプの出力を取出すか否かを制
御するアナログスイツチ88とを組み込み、複数
個のモジユール51の行ごとの出力配線を共通に
しているため、基板55上の出力配線90の数を
6×mn本から3×m本に減らすことができ、も
つて各モジユール51とスキヤナ105,106
との間の配線が可能になる。
第70図はセル53を支持する下部基板55に
ストレンゲージブリツジの信号処理を行う電子回
路108を集積することにより、下部基板上の配
線スペースを小さくすることができるようにした
例を示す。図示のセル53および基板55はいず
れもシリコン単結晶からなる。セル53が固着さ
れる下部基板55の支持面55aには集積回路技
術により配線90−Aおよび抵抗素子ブリツジの
出力信号処理用の電子回路108が作り込まれて
いる。集積回路技術を用いれば配線間隔を10μm
ピツチすることが容易であり、例えばセラミツク
板上に導電膜の印刷あるいは金属蒸着膜の加工に
より作られる配線の間隔が最小100μmピツチであ
ることにくらべれば配線スペースが著しく節減で
き、これによりセル53を密集して配置できる。
電子回路108は、例えば演算増幅器として構成
され、接続配線90−Aおよびボンデイングワイ
ヤ109を介してセル53上の配線の端子93と
接続される。この電子回路108を下部基板5に
内蔵することにより、ストレンゲージ54からの
信号処理を圧覚センサアレイ50の本体内で行う
ことができ、外部出力配線90−Bの数を減ずる
ことによりコンパクトな圧覚センサアレイが得ら
れ信頼性も高められる。なお、下部基板55はセ
ル53と必ずしも同一半導体からなる必要はない
が、両者の熱膨張係数が同一ないし近接している
ので熱変動に対しても安定であるなど得られる効
果は極めて大きい。
ストレンゲージブリツジの信号処理を行う電子回
路108を集積することにより、下部基板上の配
線スペースを小さくすることができるようにした
例を示す。図示のセル53および基板55はいず
れもシリコン単結晶からなる。セル53が固着さ
れる下部基板55の支持面55aには集積回路技
術により配線90−Aおよび抵抗素子ブリツジの
出力信号処理用の電子回路108が作り込まれて
いる。集積回路技術を用いれば配線間隔を10μm
ピツチすることが容易であり、例えばセラミツク
板上に導電膜の印刷あるいは金属蒸着膜の加工に
より作られる配線の間隔が最小100μmピツチであ
ることにくらべれば配線スペースが著しく節減で
き、これによりセル53を密集して配置できる。
電子回路108は、例えば演算増幅器として構成
され、接続配線90−Aおよびボンデイングワイ
ヤ109を介してセル53上の配線の端子93と
接続される。この電子回路108を下部基板5に
内蔵することにより、ストレンゲージ54からの
信号処理を圧覚センサアレイ50の本体内で行う
ことができ、外部出力配線90−Bの数を減ずる
ことによりコンパクトな圧覚センサアレイが得ら
れ信頼性も高められる。なお、下部基板55はセ
ル53と必ずしも同一半導体からなる必要はない
が、両者の熱膨張係数が同一ないし近接している
ので熱変動に対しても安定であるなど得られる効
果は極めて大きい。
次に、配線について説明する。第71図は単位
セル53の配線例、第72図は単位セル53の端
子93と下部基板55上の端子110との接続例
を示す。第72図に示すように、下部基板55上
に設けられた接続端子110は予め取出し端子9
3とに対応する位置に設けられており、したがつ
て、セル53を基板55に固定した後、ボンデイ
ングワイヤのリード線109により取出し端子9
3と接続端子110との間がボンデイングされ
る。だが、セル53は前述のように極めて小型の
ものであり、しかも取出し端子93と接続端子1
10とは互いに直交する面、すなわち面53aと
基板55の上面55aとに設けられているので、
かかる端子間にボンデイング接続を行うことは非
常に難しいのみならず、断続や短絡の虞もあり、
信頼性に欠ける。更にまた、第71図に破線で示
した配線91は配線が交叉することにより二層配
線を要する部分であり、極めて小型な限られた面
53a上に二層配線を実施する必要が生じる。
セル53の配線例、第72図は単位セル53の端
子93と下部基板55上の端子110との接続例
を示す。第72図に示すように、下部基板55上
に設けられた接続端子110は予め取出し端子9
3とに対応する位置に設けられており、したがつ
て、セル53を基板55に固定した後、ボンデイ
ングワイヤのリード線109により取出し端子9
3と接続端子110との間がボンデイングされ
る。だが、セル53は前述のように極めて小型の
ものであり、しかも取出し端子93と接続端子1
10とは互いに直交する面、すなわち面53aと
基板55の上面55aとに設けられているので、
かかる端子間にボンデイング接続を行うことは非
常に難しいのみならず、断続や短絡の虞もあり、
信頼性に欠ける。更にまた、第71図に破線で示
した配線91は配線が交叉することにより二層配
線を要する部分であり、極めて小型な限られた面
53a上に二層配線を実施する必要が生じる。
このような問題点の解消を図つた配線手段を第
73図〜第76図に示す。
73図〜第76図に示す。
第74図および第76図に示す111は可撓性
フイルム上に配線を施したフイルムキヤリアであ
り、このフイルムキヤリアは単位セル53の表面
53aに設けた端子としてのバンプ112と下部
基板55上の端子としてのバンプ119とを電気
的に接続する。セル53上のバンプ112は、第
73図に示すように、単位セル53上のストレン
ゲージ54の両端近傍にはんだや金などで形成さ
れ、配線91によりストレンゲージ54と接続さ
れている。このため、本例におけるストレンゲー
ジ54間の配線91は配線間の交叉が生じず一層
のみの配線ですむようになる。第74図はフイル
ムキヤリア111を部分的に示し、このフイルム
キヤリア111は例えばポリイミドのような可撓
性の材料からなるフイルムであり、その上には第
73図に示したバンプ112に対応した位置にバ
ンプ113を設けており、これらのバンプ113
間のうち配線を必要とするバンプ113間にのみ
配線114を形成し、これらの配線114を本図
では下方に延在させたフイルム111の基板取付
部111bに導くようにしている。また、第76
図に示すように、このように延在させた基板取付
部111b上に配線114に接続する信号取出し
端子用のバンプ115を形成しておく。第75図
はセル53の面53a上にバンプ112を形設し
た状態を示すもので、ここで、116は配線91
を有する配線層上にバンプ112を形設するため
の接着用金属、117はバンプ112形設時の拡
散防止用金属、更に118は面53aの表面に被
着させた絶縁層である。
フイルム上に配線を施したフイルムキヤリアであ
り、このフイルムキヤリアは単位セル53の表面
53aに設けた端子としてのバンプ112と下部
基板55上の端子としてのバンプ119とを電気
的に接続する。セル53上のバンプ112は、第
73図に示すように、単位セル53上のストレン
ゲージ54の両端近傍にはんだや金などで形成さ
れ、配線91によりストレンゲージ54と接続さ
れている。このため、本例におけるストレンゲー
ジ54間の配線91は配線間の交叉が生じず一層
のみの配線ですむようになる。第74図はフイル
ムキヤリア111を部分的に示し、このフイルム
キヤリア111は例えばポリイミドのような可撓
性の材料からなるフイルムであり、その上には第
73図に示したバンプ112に対応した位置にバ
ンプ113を設けており、これらのバンプ113
間のうち配線を必要とするバンプ113間にのみ
配線114を形成し、これらの配線114を本図
では下方に延在させたフイルム111の基板取付
部111bに導くようにしている。また、第76
図に示すように、このように延在させた基板取付
部111b上に配線114に接続する信号取出し
端子用のバンプ115を形成しておく。第75図
はセル53の面53a上にバンプ112を形設し
た状態を示すもので、ここで、116は配線91
を有する配線層上にバンプ112を形設するため
の接着用金属、117はバンプ112形設時の拡
散防止用金属、更に118は面53aの表面に被
着させた絶縁層である。
第76図はセル53を基板55上に取付けた状
態を示し、ここでは、セル53、基板55および
フイルム111上に設けたバンプのみを強調して
示し、その配線やストレンゲージ等は省略して示
してある。図示のように、フイルム111を折曲
げた状態にしてセル53のバンプ112にフイル
ム111の上部のバンプ113を当接し、また基
板55上に設けたバンプ119にフイルム111
の基板取付部111bに形設したバンプ115を
当接し、双方を熱圧着等により接合してある。従
つて、セル53の信号取出し端子と基板55上の
接続端子との間をボンデイングワイヤで接続する
という困難な作業の必要がなくて断線や短絡の虞
がなくなり、更にセル53の面上に二層配線の要
もなく、作業が簡略化されるのみならずその信頼
性を高めることができる利点が得られる。
態を示し、ここでは、セル53、基板55および
フイルム111上に設けたバンプのみを強調して
示し、その配線やストレンゲージ等は省略して示
してある。図示のように、フイルム111を折曲
げた状態にしてセル53のバンプ112にフイル
ム111の上部のバンプ113を当接し、また基
板55上に設けたバンプ119にフイルム111
の基板取付部111bに形設したバンプ115を
当接し、双方を熱圧着等により接合してある。従
つて、セル53の信号取出し端子と基板55上の
接続端子との間をボンデイングワイヤで接続する
という困難な作業の必要がなくて断線や短絡の虞
がなくなり、更にセル53の面上に二層配線の要
もなく、作業が簡略化されるのみならずその信頼
性を高めることができる利点が得られる。
次に、圧覚センサアレイ50からの出力信号の
スキヤニングと前処理について説明する。
スキヤニングと前処理について説明する。
例えばロボツトのハンドに取付けられてその把
持部の圧力分布を測定することにより、物をつか
む、はなす、すべる等の把持状態を検知する圧覚
センサの出力信号を、計算機処理し易くするため
の圧覚センサ出力信号前処理装置は現在のところ
見当らないが、近い従来技術としては、第77図
に示すようなものがある。半導体ストレンゲージ
のような半導体のブリツジで構成された圧力検出
部121の出力は、温度補償回路122で温度に
よる影響が除去される。すなわち、この温度補償
回路122では、圧力検出部121からの信号が
アナログ集積回路123およびアナログ集積回路
124で受信され、これらの集積回路とスパン調
整抵抗125およびオフセツト調整抵抗126と
で信号のスパンおよびオフセツトが調整され、ま
た零点調整抵抗127とアナログ集積回路128
とで信号の零点が調整される。さらに、零点温度
特性補償抵抗129とアナログ集積回路128お
よびスパン温度特性補償抵抗130とアナログ集
積回路131とにより圧力信号の温度補償が行わ
れた後、信号出力端子132から出力信号が出力
される。133は電源端子、134はアナログ用
アース端子である。
持部の圧力分布を測定することにより、物をつか
む、はなす、すべる等の把持状態を検知する圧覚
センサの出力信号を、計算機処理し易くするため
の圧覚センサ出力信号前処理装置は現在のところ
見当らないが、近い従来技術としては、第77図
に示すようなものがある。半導体ストレンゲージ
のような半導体のブリツジで構成された圧力検出
部121の出力は、温度補償回路122で温度に
よる影響が除去される。すなわち、この温度補償
回路122では、圧力検出部121からの信号が
アナログ集積回路123およびアナログ集積回路
124で受信され、これらの集積回路とスパン調
整抵抗125およびオフセツト調整抵抗126と
で信号のスパンおよびオフセツトが調整され、ま
た零点調整抵抗127とアナログ集積回路128
とで信号の零点が調整される。さらに、零点温度
特性補償抵抗129とアナログ集積回路128お
よびスパン温度特性補償抵抗130とアナログ集
積回路131とにより圧力信号の温度補償が行わ
れた後、信号出力端子132から出力信号が出力
される。133は電源端子、134はアナログ用
アース端子である。
ところが、このような従来技術により、前述の
ような面状に分布する圧力の圧力分布を測定しよ
うとすると例えば第78図に示すように圧力検出
部121を多数並列に並べると同時に、これに合
せて温度補償回路122も多数並列に並べなけれ
ばならないので、はなはだ不経済であり、また圧
力検出部121に常に電力を供給しなければなら
ないので、消費電力が大きいという欠点もあつ
た。
ような面状に分布する圧力の圧力分布を測定しよ
うとすると例えば第78図に示すように圧力検出
部121を多数並列に並べると同時に、これに合
せて温度補償回路122も多数並列に並べなけれ
ばならないので、はなはだ不経済であり、また圧
力検出部121に常に電力を供給しなければなら
ないので、消費電力が大きいという欠点もあつ
た。
これらの欠点の除去を図つた圧覚センサ出力信
号前処理装置の構成例を第79図〜第81図に示
す。
号前処理装置の構成例を第79図〜第81図に示
す。
第79図では、マトリツクス状に配置した多数
の圧力検出部の電源を縦軸アドレスで掃引して低
消費電力化を図ると同時に、圧力検出部の出力を
縦軸アドレスと横軸アドレスとで掃引して取り出
し、個々の圧力検出部ごとのオフセツト、スパン
などの温度補償を温度センサの出力とマイクロコ
ンピユータとを用いて行うことにより、圧力分布
を低消費電力で、かつ経済的に測定できるように
した圧覚センサ出力信号前処理装置を示す。
の圧力検出部の電源を縦軸アドレスで掃引して低
消費電力化を図ると同時に、圧力検出部の出力を
縦軸アドレスと横軸アドレスとで掃引して取り出
し、個々の圧力検出部ごとのオフセツト、スパン
などの温度補償を温度センサの出力とマイクロコ
ンピユータとを用いて行うことにより、圧力分布
を低消費電力で、かつ経済的に測定できるように
した圧覚センサ出力信号前処理装置を示す。
この装置は図示のように、圧力検出ブロツク1
35、増幅部136およびマイクロコンピユータ
部137とからなる。圧力検出ブロツク135
は、半導体ストレンゲージ54のブロツク回路を
有してマトリツクス状に配置された複数の圧覚セ
ンサモジユール(以下、圧力検出部と称する)5
1、各圧力検出部51にそれぞれ並列に接続した
例えばサーミスタ等からなる温度検出素子87、
1組の圧力検出部51と温度検出素子87毎に接
続してこれらの出力を縦軸(列方向)毎に開閉す
る縦軸アナログスイツチ部139、縦軸アナログ
スイツチ部139への制御電圧によりオン(導
通)して圧力検出部51と温度検出素子87の電
源ライン96を開閉する縦軸電源アナログスイツ
チ138、および縦軸アナログスイツチ部139
の後段に接続して圧力検出部51と温度検出素子
87の出力を横軸(行方向)毎に開閉する横軸ア
ナログスイツチ部140などから構成される。縦
軸アナログスイツチ部139および横軸アナログ
スイツチ部140は、いずれも制御電圧で同時に
開閉する3個のアナログスイツチ(半導体スイツ
チ)88からできていて、圧力検出部51の出力
および温度検出素子87の出力と接続している。
35、増幅部136およびマイクロコンピユータ
部137とからなる。圧力検出ブロツク135
は、半導体ストレンゲージ54のブロツク回路を
有してマトリツクス状に配置された複数の圧覚セ
ンサモジユール(以下、圧力検出部と称する)5
1、各圧力検出部51にそれぞれ並列に接続した
例えばサーミスタ等からなる温度検出素子87、
1組の圧力検出部51と温度検出素子87毎に接
続してこれらの出力を縦軸(列方向)毎に開閉す
る縦軸アナログスイツチ部139、縦軸アナログ
スイツチ部139への制御電圧によりオン(導
通)して圧力検出部51と温度検出素子87の電
源ライン96を開閉する縦軸電源アナログスイツ
チ138、および縦軸アナログスイツチ部139
の後段に接続して圧力検出部51と温度検出素子
87の出力を横軸(行方向)毎に開閉する横軸ア
ナログスイツチ部140などから構成される。縦
軸アナログスイツチ部139および横軸アナログ
スイツチ部140は、いずれも制御電圧で同時に
開閉する3個のアナログスイツチ(半導体スイツ
チ)88からできていて、圧力検出部51の出力
および温度検出素子87の出力と接続している。
増幅部136は全ての横軸アナログスイツチ部
140の出力と接続する単一の増幅部であり、圧
力信号増幅用の3個のアナログ集積回路123お
よび124と131と、温度信号増幅用のアナロ
グ集積回路142とから構成されている。
140の出力と接続する単一の増幅部であり、圧
力信号増幅用の3個のアナログ集積回路123お
よび124と131と、温度信号増幅用のアナロ
グ集積回路142とから構成されている。
マイクロコンピユータ部137は後述の横軸ア
ドレスに応じて該当の横軸の全横軸アナログスイ
ツチ部140へ制御電圧を印加しその開閉制御を
する横軸デコーダ143、後述の縦軸アドレスに
応じて該当の縦軸の縦軸アナログスイツチ部13
9へ制御電圧を印加しその開閉制御をする縦軸デ
コーダ144、増幅部136の出力と接続して増
幅されたアナログの圧力信号と温度信号とを交互
に切換えて出力するアナログ信号切換部145、
アナログ信号切換部145の出力をアナログ−デ
ジタル(A/D)変換するA/D変換器146
と、A/D変換器146のデジタル出力信号を一
時記憶する一時記憶用RAM(ランダムアクセス
メモリ)147、A/D変換器146でデジタル
化したデータを温度補償のための演算をする乗算
用コプロセツサ148と除算用コプロセツサ14
9、演算式や定数または制御プログラム等をあら
かじめ格納したROM(リードオンリメモリ)1
50、演算により温度補償された検出データを記
憶する補正後データ記憶用RAM(ランダムアク
セスメモリ)151、温度補償ずみの検出データ
を外部に出力する信号出力用ポート152、全体
の制御を行うCPU(中央演算処理装置)153、
およびCPU153からの圧力検出部アドレスを
横軸デコーダ143および縦軸デコーダ144へ
出力するアドレス出力用ポート154とから成つ
ている。
ドレスに応じて該当の横軸の全横軸アナログスイ
ツチ部140へ制御電圧を印加しその開閉制御を
する横軸デコーダ143、後述の縦軸アドレスに
応じて該当の縦軸の縦軸アナログスイツチ部13
9へ制御電圧を印加しその開閉制御をする縦軸デ
コーダ144、増幅部136の出力と接続して増
幅されたアナログの圧力信号と温度信号とを交互
に切換えて出力するアナログ信号切換部145、
アナログ信号切換部145の出力をアナログ−デ
ジタル(A/D)変換するA/D変換器146
と、A/D変換器146のデジタル出力信号を一
時記憶する一時記憶用RAM(ランダムアクセス
メモリ)147、A/D変換器146でデジタル
化したデータを温度補償のための演算をする乗算
用コプロセツサ148と除算用コプロセツサ14
9、演算式や定数または制御プログラム等をあら
かじめ格納したROM(リードオンリメモリ)1
50、演算により温度補償された検出データを記
憶する補正後データ記憶用RAM(ランダムアク
セスメモリ)151、温度補償ずみの検出データ
を外部に出力する信号出力用ポート152、全体
の制御を行うCPU(中央演算処理装置)153、
およびCPU153からの圧力検出部アドレスを
横軸デコーダ143および縦軸デコーダ144へ
出力するアドレス出力用ポート154とから成つ
ている。
155はマイクロコンピユータ部137の内部
データバス、156はマイクロコンピユータ部1
37のアドレスバス、157はマイクロコンピユ
ータ部137の信号出力用データバス、158は
マイクロコンピユータ部137のデジタル用アー
ス端子、159はマイクロコンピユータ部137
のデジタル用電源端子、160は増幅部136の
オペアンプ用負電源端子、161は増幅部136
のオペアンプ用正電源端子、162は横軸デコー
ダ143から出て各横軸アナログスイツチ部14
0のゲートに接続する横軸ライン群、および16
3は縦軸デコーダ144から出て縦軸毎に縦軸ア
ナログスイツチ部139のゲートと縦軸電源アナ
ログスイツチ138のゲートとに接続する縦軸ラ
イン群であり、縦軸電源アナログスイツチ138
は圧力検出部51と温度検出素子87への電源ラ
イン96に介装される。
データバス、156はマイクロコンピユータ部1
37のアドレスバス、157はマイクロコンピユ
ータ部137の信号出力用データバス、158は
マイクロコンピユータ部137のデジタル用アー
ス端子、159はマイクロコンピユータ部137
のデジタル用電源端子、160は増幅部136の
オペアンプ用負電源端子、161は増幅部136
のオペアンプ用正電源端子、162は横軸デコー
ダ143から出て各横軸アナログスイツチ部14
0のゲートに接続する横軸ライン群、および16
3は縦軸デコーダ144から出て縦軸毎に縦軸ア
ナログスイツチ部139のゲートと縦軸電源アナ
ログスイツチ138のゲートとに接続する縦軸ラ
イン群であり、縦軸電源アナログスイツチ138
は圧力検出部51と温度検出素子87への電源ラ
イン96に介装される。
なお、第8図および第44図に示すスキヤナ増
幅器57は上述の増幅部136の他に、縦軸電源
アナログスイツチ138、横軸アナログスイツチ
部140またはこれらとマイクロコンピユータ部
137とを有する。よつて、同図の圧覚センサア
レイ50は上述の圧力検出ブロツク135および
増幅部136等からなる。
幅器57は上述の増幅部136の他に、縦軸電源
アナログスイツチ138、横軸アナログスイツチ
部140またはこれらとマイクロコンピユータ部
137とを有する。よつて、同図の圧覚センサア
レイ50は上述の圧力検出ブロツク135および
増幅部136等からなる。
CPU153により複数の圧力検出部51のう
ち、どの圧力検出部51の出力を信号出力用デー
タバス157に出力させるかが決定されると、
CPU153はその圧力検出部のアドレスをアド
レス出力用ポート154を経由して、横軸デコー
ダ143と縦軸デコーダ144に出力する。ここ
で、圧力検出部のアドレスは圧力検出部毎に与え
られた特定アドレスで、例えば縦軸アドレスと横
軸アドレスとからなるものとする。それぞれのデ
コーダ143と144はその入力したアドレスを
解読し、そのアドレスに対応した縦軸および横軸
のラインを縦軸ライン群163および横軸ライン
群162の中から選び、これらのラインに接続さ
れている縦軸アナログスイツチ部139と縦軸電
源アナログスイツチ138および横軸アナログス
イツチ部140だけをオン(導通)状態にさせ
る。
ち、どの圧力検出部51の出力を信号出力用デー
タバス157に出力させるかが決定されると、
CPU153はその圧力検出部のアドレスをアド
レス出力用ポート154を経由して、横軸デコー
ダ143と縦軸デコーダ144に出力する。ここ
で、圧力検出部のアドレスは圧力検出部毎に与え
られた特定アドレスで、例えば縦軸アドレスと横
軸アドレスとからなるものとする。それぞれのデ
コーダ143と144はその入力したアドレスを
解読し、そのアドレスに対応した縦軸および横軸
のラインを縦軸ライン群163および横軸ライン
群162の中から選び、これらのラインに接続さ
れている縦軸アナログスイツチ部139と縦軸電
源アナログスイツチ138および横軸アナログス
イツチ部140だけをオン(導通)状態にさせ
る。
これにより、指定された縦軸アドレスの圧力検
出部51と温度検出素子87の一群のみが通電さ
れ、CPU153により指定された圧力検出部ア
ドレスの特定の圧力検出部51とこの圧力検出部
51の温度を測定するための温度検出素子87と
が選択され、これらの出力信号が増幅部136で
増幅される。すなわち、圧力検出部51の圧力信
号はアナログ集積回路123、アナログ集積回路
124および131で増幅され、また温度検出素
子87の温度信号はアナログ集積回路142で増
幅される。
出部51と温度検出素子87の一群のみが通電さ
れ、CPU153により指定された圧力検出部ア
ドレスの特定の圧力検出部51とこの圧力検出部
51の温度を測定するための温度検出素子87と
が選択され、これらの出力信号が増幅部136で
増幅される。すなわち、圧力検出部51の圧力信
号はアナログ集積回路123、アナログ集積回路
124および131で増幅され、また温度検出素
子87の温度信号はアナログ集積回路142で増
幅される。
増幅された圧力信号と温度信号とはアナログ信
号切換部145で切換えられて交互にA/D変換
器146で順次A/D変換される。A/D変換さ
れたデジタルの圧力信号と信号温度とは内部デー
タバス155を介して一時記憶用RAM147に
記憶され、さらにCPU153、乗算用コプロセ
ツサ148および除算用コプロセツサ149とに
より圧力信号の温度補償のための演算が行われ
る。ここで、乗算用コプロセツサ148と除算用
コプロセツサ149とは上述の補償演算の速度を
早めるために用いられる。
号切換部145で切換えられて交互にA/D変換
器146で順次A/D変換される。A/D変換さ
れたデジタルの圧力信号と信号温度とは内部デー
タバス155を介して一時記憶用RAM147に
記憶され、さらにCPU153、乗算用コプロセ
ツサ148および除算用コプロセツサ149とに
より圧力信号の温度補償のための演算が行われ
る。ここで、乗算用コプロセツサ148と除算用
コプロセツサ149とは上述の補償演算の速度を
早めるために用いられる。
かかる補償演算は以下のように行う。まず、ア
ナログ信号切換部145に入力される圧力信号
は、圧力検出部51に圧力が印加されないときに
発生するオフセツトと、スパンを決定する比例定
数とを使つて近似的に、 と表わすことができるので、圧力Pは次の式か
ら求めることができる。
ナログ信号切換部145に入力される圧力信号
は、圧力検出部51に圧力が印加されないときに
発生するオフセツトと、スパンを決定する比例定
数とを使つて近似的に、 と表わすことができるので、圧力Pは次の式か
ら求めることができる。
P=a0+a1T+a2T2−Vpp/b0+b1T+b2T2 …
ただし、
Vpp:アナログ信号切換部145に入力される
圧力信号 T:圧力検出部51の絶対温度 P:圧力検出部51への印加圧力 a0,a1,a2,b0,b1,b2:圧力検出部51の
個々に定まる既知の定数 また、アナログ信号切換部145に入力される
温度信号は、温度検出素子87が例えばサーミス
タの場合に近似的に VpT=C0+C1+T と表わすことができるので、温度Tは次の式か
ら求めることができる。
圧力信号 T:圧力検出部51の絶対温度 P:圧力検出部51への印加圧力 a0,a1,a2,b0,b1,b2:圧力検出部51の
個々に定まる既知の定数 また、アナログ信号切換部145に入力される
温度信号は、温度検出素子87が例えばサーミス
タの場合に近似的に VpT=C0+C1+T と表わすことができるので、温度Tは次の式か
ら求めることができる。
T=VpT−C0/C1 …
ただし、
VpT:アナログ信号切換部145に入力される
温度信号 C0,C1:温度検出素子87ごとに定まる既知
の定数 T:温度検出素子87の絶対温度 従つて、温度検出素子87の温度が圧力検出部
51の温度と考えられるほど、温度検出素子87
と圧力検出部51とを十分に近いところに設置し
ておけば、上述の式により算出した温度Tを用
いて、上述の式から温度の影響を除去した正確
な圧力値を算出できることになる。このようにし
て、算出された圧力データは信号出力用ポート1
52を経由して、外部に出力されると同時に、補
正後データ記憶用RAM151に記憶され、いつ
でも必要なときに出力できるようになつている。
温度信号 C0,C1:温度検出素子87ごとに定まる既知
の定数 T:温度検出素子87の絶対温度 従つて、温度検出素子87の温度が圧力検出部
51の温度と考えられるほど、温度検出素子87
と圧力検出部51とを十分に近いところに設置し
ておけば、上述の式により算出した温度Tを用
いて、上述の式から温度の影響を除去した正確
な圧力値を算出できることになる。このようにし
て、算出された圧力データは信号出力用ポート1
52を経由して、外部に出力されると同時に、補
正後データ記憶用RAM151に記憶され、いつ
でも必要なときに出力できるようになつている。
以上のように、ある特定の圧力検出部51の圧
力信号がマイクロコンピユータ部137で演算処
理され、信号出力用データバス157に出力され
る。同様にして他の圧力検出部51の圧力も順次
縦軸デコーダ144および横軸デコーダ143と
を経由してアドレス指定されることにより、マイ
クロコンピユータ部137で演算処理され、信号
出力用データバス157に出力される。複数の圧
力検出部51を全部このようにして掃引し終る
と、補正後データ記憶用RAM151には圧力分
布のデータフアイルが完成することとなる。
力信号がマイクロコンピユータ部137で演算処
理され、信号出力用データバス157に出力され
る。同様にして他の圧力検出部51の圧力も順次
縦軸デコーダ144および横軸デコーダ143と
を経由してアドレス指定されることにより、マイ
クロコンピユータ部137で演算処理され、信号
出力用データバス157に出力される。複数の圧
力検出部51を全部このようにして掃引し終る
と、補正後データ記憶用RAM151には圧力分
布のデータフアイルが完成することとなる。
なお、温度検出素子87は圧力検出部51と対
にして用いる必要はなく、例えば3個の圧力検出
部51につき1個の温度検出素子87を用いて温
度を測定し式と式により温度補償を行つても
よいし、圧力検出ブロツク135に1個の温度検
出素子87を用いて温度を測定し同じように温度
補償を行つてもよいことは自明である。
にして用いる必要はなく、例えば3個の圧力検出
部51につき1個の温度検出素子87を用いて温
度を測定し式と式により温度補償を行つても
よいし、圧力検出ブロツク135に1個の温度検
出素子87を用いて温度を測定し同じように温度
補償を行つてもよいことは自明である。
このように、マトリツクス状に配置した多数の
圧力検出部51の出力を前述したように縦軸アド
レスと横軸アドレスとを用いて掃引し、個々の圧
力検出部51ごとのオフセツトとスパンの温度補
償をマイクロコンピユータ137を用いて行つて
いるので、第78図のように複数の圧力検出部5
1の出力を掃引せずに、個々の圧力検出部51の
出力に温度補償回路122を別々に設ける必要は
なく、全体として圧力分布の測定を廉価に経済的
に行うことができる。さらに、電源に関しては、
縦軸電源アナログスイツチ138を用いて縦軸デ
コーダ144により指定された電源ライン96だ
けを導通状態にするようにしたので、圧力検出ブ
ロツク135の消費電力を少なくすることができ
る。すなわち、指定されたアドレスの圧力検出部
51と温度検出素子87にだけ電力を供給し、他
の圧力検出部と温度検出素子には電力を供給しな
いように構成しているので、マイクロコンピユー
タ部137のCPU153が圧力検出部51と温
度検出素子87の出力を順次アドレスして指定し
ていくときに、結果として圧力検出部51と温度
検出素子87の全てを掃引するのに低消費電力で
すむという利益が得られる。
圧力検出部51の出力を前述したように縦軸アド
レスと横軸アドレスとを用いて掃引し、個々の圧
力検出部51ごとのオフセツトとスパンの温度補
償をマイクロコンピユータ137を用いて行つて
いるので、第78図のように複数の圧力検出部5
1の出力を掃引せずに、個々の圧力検出部51の
出力に温度補償回路122を別々に設ける必要は
なく、全体として圧力分布の測定を廉価に経済的
に行うことができる。さらに、電源に関しては、
縦軸電源アナログスイツチ138を用いて縦軸デ
コーダ144により指定された電源ライン96だ
けを導通状態にするようにしたので、圧力検出ブ
ロツク135の消費電力を少なくすることができ
る。すなわち、指定されたアドレスの圧力検出部
51と温度検出素子87にだけ電力を供給し、他
の圧力検出部と温度検出素子には電力を供給しな
いように構成しているので、マイクロコンピユー
タ部137のCPU153が圧力検出部51と温
度検出素子87の出力を順次アドレスして指定し
ていくときに、結果として圧力検出部51と温度
検出素子87の全てを掃引するのに低消費電力で
すむという利益が得られる。
圧力検出部51の全てに対して常時電源を供給
するようにしてもよい。この例を第80図に示
す。第80図のものは圧力検出部51に常時電源
を常時供給する点のみが前述の例と異なり、その
他の構成および作用は前述と同様である。従つ
て、この場合でもマトリツクス状に配置した多数
の圧力検出部51の出力を前述したように縦軸ア
ドレスと横軸アドレスとを用いて掃引し、個々の
圧力検出部51ごとのオフセツト、スパンなどの
温度補償をマイクロコンピユータ137を用いて
行つているので、第78図のように複数の圧力検
出部51の出力を掃引せずに、個々の圧力検出部
51の出力に温度補償回路122を別々に設ける
必要はなく、全体として圧力分布の測定を廉価に
経済的に行うことができるのは勿論である。
するようにしてもよい。この例を第80図に示
す。第80図のものは圧力検出部51に常時電源
を常時供給する点のみが前述の例と異なり、その
他の構成および作用は前述と同様である。従つ
て、この場合でもマトリツクス状に配置した多数
の圧力検出部51の出力を前述したように縦軸ア
ドレスと横軸アドレスとを用いて掃引し、個々の
圧力検出部51ごとのオフセツト、スパンなどの
温度補償をマイクロコンピユータ137を用いて
行つているので、第78図のように複数の圧力検
出部51の出力を掃引せずに、個々の圧力検出部
51の出力に温度補償回路122を別々に設ける
必要はなく、全体として圧力分布の測定を廉価に
経済的に行うことができるのは勿論である。
第81図はさらに他の例を示し、マトリツクス
状に配置した多数の圧力検出部51の電源を縦軸
アドレスを用いてアナログスイツチ138により
掃引して低消費電力化を図ると同時に、圧力検出
部51の出力をスイツチングダイオード166と
横軸アドレスにより指定されたアナログスイツチ
140とを用いて掃引する一方、付属の温度セン
サ87の出力を縦軸アドレスと横軸アドレスとを
用いてアナログスイツチ88により掃引し、得ら
れた温度データを用いて、個々の圧力検出部51
ごとのオフセツト、スパンなどの温度補償を温度
センサの出力とマイクロコンピユータにより行う
ようにしたものである。さらに詳細に説明する
と、本図に示すように、縦軸アナログスイツチ部
139はそれぞれ1個のスイツチングダイオード
166と1個のアナログスイツチ88とからな
る。横軸アナログスイツチ部140は、制御電圧
で同時に開閉する3個のアナログスイツチ88か
らできており、圧力検出部51の出力および温度
検出素子87の出力と接続している。
状に配置した多数の圧力検出部51の電源を縦軸
アドレスを用いてアナログスイツチ138により
掃引して低消費電力化を図ると同時に、圧力検出
部51の出力をスイツチングダイオード166と
横軸アドレスにより指定されたアナログスイツチ
140とを用いて掃引する一方、付属の温度セン
サ87の出力を縦軸アドレスと横軸アドレスとを
用いてアナログスイツチ88により掃引し、得ら
れた温度データを用いて、個々の圧力検出部51
ごとのオフセツト、スパンなどの温度補償を温度
センサの出力とマイクロコンピユータにより行う
ようにしたものである。さらに詳細に説明する
と、本図に示すように、縦軸アナログスイツチ部
139はそれぞれ1個のスイツチングダイオード
166と1個のアナログスイツチ88とからな
る。横軸アナログスイツチ部140は、制御電圧
で同時に開閉する3個のアナログスイツチ88か
らできており、圧力検出部51の出力および温度
検出素子87の出力と接続している。
また、各縦軸アナログスイツチ部139のスイ
ツチングダイオード166のアノードは、2本の
出力ラインを備えた圧力検出部51の一方の出力
ラインに接続し、そのカソードは横軸アナログス
イツチ部140のアナログスイツチ88の1個と
接続している。各圧力検出部51の他方の出力ラ
インは横軸アナログスイツチ部140の他のアナ
ログスイツチ88の1個と接続し、温度検出素子
87の出力に接続した各アナログスイツチ88は
横軸アナログスイツチ部140の残りのアナログ
スイツチ88に接続している。
ツチングダイオード166のアノードは、2本の
出力ラインを備えた圧力検出部51の一方の出力
ラインに接続し、そのカソードは横軸アナログス
イツチ部140のアナログスイツチ88の1個と
接続している。各圧力検出部51の他方の出力ラ
インは横軸アナログスイツチ部140の他のアナ
ログスイツチ88の1個と接続し、温度検出素子
87の出力に接続した各アナログスイツチ88は
横軸アナログスイツチ部140の残りのアナログ
スイツチ88に接続している。
また、複数のスイツチングダイオード166の
うちで、導通になつた縦軸電源アナログスイツチ
138により電源を供給された圧力検出部51に
接続されているスイツチングダイオード166
は、順バイアスされて導通となり、他のスイツチ
ングングダイオード166は逆バイアスされて非
導通となる。その他の構成と作用は第79図に示
した場合と同様である。
うちで、導通になつた縦軸電源アナログスイツチ
138により電源を供給された圧力検出部51に
接続されているスイツチングダイオード166
は、順バイアスされて導通となり、他のスイツチ
ングングダイオード166は逆バイアスされて非
導通となる。その他の構成と作用は第79図に示
した場合と同様である。
なお、第81図の例において、圧力検出部51
の点AB間の出力特性を第82図のような特性に
し、圧力印加範囲の下限でスイツチングダイオー
ド166の順方向電圧降下と同じ出力電圧がブリ
ツジ出力から出力されるように、ブリツジをアン
バランスに設計しておく。これにより、点CD間
の出力特性が第83図のようになるようにし、印
加圧力の下限において点CD間の出力電圧がゼロ
になるようにする。もつて、スイツチングダイオ
ード166の順方向電圧降下の圧力信号に対する
影響を除去できるようにしてある。
の点AB間の出力特性を第82図のような特性に
し、圧力印加範囲の下限でスイツチングダイオー
ド166の順方向電圧降下と同じ出力電圧がブリ
ツジ出力から出力されるように、ブリツジをアン
バランスに設計しておく。これにより、点CD間
の出力特性が第83図のようになるようにし、印
加圧力の下限において点CD間の出力電圧がゼロ
になるようにする。もつて、スイツチングダイオ
ード166の順方向電圧降下の圧力信号に対する
影響を除去できるようにしてある。
このように、圧力検出部51の出力をスイツチ
ングダイオード166とアナログスイツチ88で
スキヤンすることもでき、従来方式と比べ圧力分
布を低消費電力で測定でき、かつ温度補償回路の
簡単化を達成できる等の第79図で示した場合と
同様な効果が得られる。
ングダイオード166とアナログスイツチ88で
スキヤンすることもでき、従来方式と比べ圧力分
布を低消費電力で測定でき、かつ温度補償回路の
簡単化を達成できる等の第79図で示した場合と
同様な効果が得られる。
次に、圧覚センサアレイ50の出力信号に応じ
て制御動作を実行する本発明による圧覚認識制御
装置の本体について説明する。
て制御動作を実行する本発明による圧覚認識制御
装置の本体について説明する。
第8図のスキヤナ増幅器57からの出力信号は
後述のA/D(アナログ−デジタル)コンバータ
を経てCPUに取り込まれ、基本演算アルゴリズ
ムで各点の3方向の分力、合成力、3方向モーメ
ント等が演算され、この演算結果が後述のメモリ
フアイルに格納される。
後述のA/D(アナログ−デジタル)コンバータ
を経てCPUに取り込まれ、基本演算アルゴリズ
ムで各点の3方向の分力、合成力、3方向モーメ
ント等が演算され、この演算結果が後述のメモリ
フアイルに格納される。
そのメモリフアイルから読み出した受圧面の圧
力分布の時間的変化により、把持力不足による滑
りが演算され、保持力制御演算アルゴリズムによ
り滑りが起らぬソフトハンドリングが可能とな
る。また、把持・持ち上げ・挿入・回転等の基本
作業演算アルゴリズムを用いて高速・高レスポン
ス・高精度で上位コンピユータによるスーパーバ
イザリ制御や自律局所制御を行うことが可能とな
る。さらに、受圧板52の材質分布を適切に選定
することにより、演算により対象物の弾性を求め
ることが可能であるので、対象物の形,破損を避
けたソフトハンドリングが可能であり、対象物の
材質判定、形状認識の補助入力とすることもでき
る。
力分布の時間的変化により、把持力不足による滑
りが演算され、保持力制御演算アルゴリズムによ
り滑りが起らぬソフトハンドリングが可能とな
る。また、把持・持ち上げ・挿入・回転等の基本
作業演算アルゴリズムを用いて高速・高レスポン
ス・高精度で上位コンピユータによるスーパーバ
イザリ制御や自律局所制御を行うことが可能とな
る。さらに、受圧板52の材質分布を適切に選定
することにより、演算により対象物の弾性を求め
ることが可能であるので、対象物の形,破損を避
けたソフトハンドリングが可能であり、対象物の
材質判定、形状認識の補助入力とすることもでき
る。
第84図はこの発明の実施例の全体を示す。図
示のように、マトリツクス配線された圧覚センサ
アレイ50の各ポイントのブリツジ回路51Aか
ら出力される3分力の大きさに相当する電気信号
Ex,EyおよびEzをスキヤナ57Aで行および列
毎に順次高速に読み出す。その際、前述のように
圧覚センサセル53内あるいは圧覚センサセルの
取付穴あるいは基板55上に、スキヤナ57Aの
行および列のアドレス信号(制御電圧)で開閉す
るアナログスイツチ88(第79図参照)を圧覚
センサモジユール51のブリツジ回路51A毎に
設け、それらのアナログスイツチを選択的に動作
させることにより他の圧覚センサモジユール51
の出力と混同しないようにしている。また、同時
に列毎に圧覚センサセル53への電源供給制御を
行えば電力消費が少なくなつてなおよい。
示のように、マトリツクス配線された圧覚センサ
アレイ50の各ポイントのブリツジ回路51Aか
ら出力される3分力の大きさに相当する電気信号
Ex,EyおよびEzをスキヤナ57Aで行および列
毎に順次高速に読み出す。その際、前述のように
圧覚センサセル53内あるいは圧覚センサセルの
取付穴あるいは基板55上に、スキヤナ57Aの
行および列のアドレス信号(制御電圧)で開閉す
るアナログスイツチ88(第79図参照)を圧覚
センサモジユール51のブリツジ回路51A毎に
設け、それらのアナログスイツチを選択的に動作
させることにより他の圧覚センサモジユール51
の出力と混同しないようにしている。また、同時
に列毎に圧覚センサセル53への電源供給制御を
行えば電力消費が少なくなつてなおよい。
スキヤナ57Aにより読み出された圧力信号は
増幅部57Bで増幅され、アナログ−デジタル
(AD)コンバータ201によりデジタル信号化
された後、マイクロコンピユータのCPU(μ・
cpu)203に取り込まれて、ROM(リードオン
リメモリ)205に格納した所定の演算式により
ストレンゲージ54の温度特性、感度の非直線
性、セル53毎の感度のばらつき、および他方向
分力の干渉等の補正がなされ、さらに圧力単位に
変換され、その変換された圧力データが各分力毎
に2次元に分布した圧覚データの形で整理されて
時系列に信号処理記憶装置207に記憶される。
上述の温度補償は圧覚センサセル53に、または
その近くに設けたサーミスター等の温度センサ8
7(第58図参照)の検出信号を用いて演算する
ことにより求められる。
増幅部57Bで増幅され、アナログ−デジタル
(AD)コンバータ201によりデジタル信号化
された後、マイクロコンピユータのCPU(μ・
cpu)203に取り込まれて、ROM(リードオン
リメモリ)205に格納した所定の演算式により
ストレンゲージ54の温度特性、感度の非直線
性、セル53毎の感度のばらつき、および他方向
分力の干渉等の補正がなされ、さらに圧力単位に
変換され、その変換された圧力データが各分力毎
に2次元に分布した圧覚データの形で整理されて
時系列に信号処理記憶装置207に記憶される。
上述の温度補償は圧覚センサセル53に、または
その近くに設けたサーミスター等の温度センサ8
7(第58図参照)の検出信号を用いて演算する
ことにより求められる。
次いで信号処理記憶装置207から読み出した
圧覚データとROM205にあらかじめ格納され
た基本演算アルゴリズムとを用いて、μ・cpu2
03により、3方向の分力の分布(例えば圧力の
等高線や分布マツプ)、合成全圧力(全部のセル
53に印加された圧力の総和で、全体の作用力に
当る)、圧力中心(その点の力のモーメントの総
和が零となる重心点で、力の作用中心に当る)、
3方向モーメント、受圧面積(零でない圧覚デー
タの総数とセル53の配列ピツチから演算する)
等を算出して、算出したこれらの基本データを時
系列に1次演算記憶装置209に記憶する。
圧覚データとROM205にあらかじめ格納され
た基本演算アルゴリズムとを用いて、μ・cpu2
03により、3方向の分力の分布(例えば圧力の
等高線や分布マツプ)、合成全圧力(全部のセル
53に印加された圧力の総和で、全体の作用力に
当る)、圧力中心(その点の力のモーメントの総
和が零となる重心点で、力の作用中心に当る)、
3方向モーメント、受圧面積(零でない圧覚デー
タの総数とセル53の配列ピツチから演算する)
等を算出して、算出したこれらの基本データを時
系列に1次演算記憶装置209に記憶する。
さらに、上述の信号処理記憶装置207と1次
演算記憶装置209とに記憶されたデータと、
ROM205にあらかじめ格納された基本演算ア
ルゴリズムとを用いて、μ・cpu203により、
ロボツトの手足の制御に必要な接触覚、滑り覚、
被接触物の形状、硬さ覚等を演算し、必要な演算
結果を2次演算記憶装置211に記憶する。接触
覚(触覚)はあらかじめ定めたるある閾値を越え
た信号で判断する。滑り覚は圧覚データを記憶装
置207および209に時系列的に格納したの
で、受圧面の圧力分布の時間的変化により把持力
不足による滑りが演算され、さらにROM205
に格納された把持制御演算アルゴリズム(把握ア
ルゴリズム)により滑りが起こらぬソフトハンド
リング制御をハンド駆動機構213に対して行う
ことができる。また、被接触物の形状の認識は圧
力分布の時間的変化と典型的な形状の認識アルゴ
リズムにより演算することにより得られる。さら
に、受圧板52の材質分布を適切に選定すること
により、演算により対象物の弾性が求められ、材
質判定や硬さ覚が得られる。
演算記憶装置209とに記憶されたデータと、
ROM205にあらかじめ格納された基本演算ア
ルゴリズムとを用いて、μ・cpu203により、
ロボツトの手足の制御に必要な接触覚、滑り覚、
被接触物の形状、硬さ覚等を演算し、必要な演算
結果を2次演算記憶装置211に記憶する。接触
覚(触覚)はあらかじめ定めたるある閾値を越え
た信号で判断する。滑り覚は圧覚データを記憶装
置207および209に時系列的に格納したの
で、受圧面の圧力分布の時間的変化により把持力
不足による滑りが演算され、さらにROM205
に格納された把持制御演算アルゴリズム(把握ア
ルゴリズム)により滑りが起こらぬソフトハンド
リング制御をハンド駆動機構213に対して行う
ことができる。また、被接触物の形状の認識は圧
力分布の時間的変化と典型的な形状の認識アルゴ
リズムにより演算することにより得られる。さら
に、受圧板52の材質分布を適切に選定すること
により、演算により対象物の弾性が求められ、材
質判定や硬さ覚が得られる。
一方、インタフエース217を介して上位コン
ピユータ219から入力されるスーパーバイザリ
指令または自律指令に応じて、信号処理記憶装置
207と1次および2次演算記憶装置209およ
び211とに記憶されたデータと、ROM205
にあらかじめ記憶されたロボツトの基本動作アル
ゴリズム(作業演算アルゴリズム)とを用いて、
μ・cpu203により、高速にロボツトの円滑な
走行、把持、持ち上げ、離す、挿入、回転等の基
本動作制御量(または制御位置)を算出し、算出
結果をインタフエース217を介して外部のロボ
ツト制御装置としての上位コンピユータ219に
送信するとともに、必要な演算結果を3次演算記
憶装置215に記憶する。上位コンピユータ21
9ではその算出した制御量または制御位置データ
にもとづいてハンド駆動機構213を円滑に駆動
する。
ピユータ219から入力されるスーパーバイザリ
指令または自律指令に応じて、信号処理記憶装置
207と1次および2次演算記憶装置209およ
び211とに記憶されたデータと、ROM205
にあらかじめ記憶されたロボツトの基本動作アル
ゴリズム(作業演算アルゴリズム)とを用いて、
μ・cpu203により、高速にロボツトの円滑な
走行、把持、持ち上げ、離す、挿入、回転等の基
本動作制御量(または制御位置)を算出し、算出
結果をインタフエース217を介して外部のロボ
ツト制御装置としての上位コンピユータ219に
送信するとともに、必要な演算結果を3次演算記
憶装置215に記憶する。上位コンピユータ21
9ではその算出した制御量または制御位置データ
にもとづいてハンド駆動機構213を円滑に駆動
する。
このように、上位コンピユータ219の制御指
令ににもとづいて、高速、高レスポンスかつ高精
度でスーパバイザリ制御および自律制御が行われ
るとともに、被把持物(例えば、果物)が変形し
ない程度の最小の把持力での把持や、衝撃のない
被把持物の持ち上げ、離し、被把持物の取付穴へ
の挿入、回転等の人間の手に相当する程度の高度
なソフトハンドリング動作をロボツトハンド等に
行わせることができる。また、ハンド駆動機構2
13からは掴んだ、持ち上げた、離した、挿入し
た、廻した等を内容とするフイードバツク信号が
上位コンピユータ219に出力されるが、これら
のフイードバツク信号に基づき圧覚認識を行うの
に必要な指令信号が外部の上位コンピユータ21
9からインタフエース217を介してμ・cpu2
03に送信される。また、μ・cpu203による
上述の種々の演算動作により外部の上位コンピユ
ータ219の負担は著しく軽減され、制御動作の
迅速化が行われ、円滑な制御が容易となる。な
お、演算制御に用いられる各記憶装置207,2
09,211および215は独立に設てもよい
が、重複して共用することも可能である。なおま
た、スキヤナ57Aおよび増幅部57Bは通常セ
ンサアレイ50上か、またはその近くに設ける
が、ADコンバータ201、μ・cpu203、イ
ンタフエース217等のマイクロプロセツサ22
1は数チツプのLSI(大規模集積回路)で構成し、
ハンド駆動機構213の近傍に設け、あるいはハ
ンドの腕内等に収納できるようにする。
令ににもとづいて、高速、高レスポンスかつ高精
度でスーパバイザリ制御および自律制御が行われ
るとともに、被把持物(例えば、果物)が変形し
ない程度の最小の把持力での把持や、衝撃のない
被把持物の持ち上げ、離し、被把持物の取付穴へ
の挿入、回転等の人間の手に相当する程度の高度
なソフトハンドリング動作をロボツトハンド等に
行わせることができる。また、ハンド駆動機構2
13からは掴んだ、持ち上げた、離した、挿入し
た、廻した等を内容とするフイードバツク信号が
上位コンピユータ219に出力されるが、これら
のフイードバツク信号に基づき圧覚認識を行うの
に必要な指令信号が外部の上位コンピユータ21
9からインタフエース217を介してμ・cpu2
03に送信される。また、μ・cpu203による
上述の種々の演算動作により外部の上位コンピユ
ータ219の負担は著しく軽減され、制御動作の
迅速化が行われ、円滑な制御が容易となる。な
お、演算制御に用いられる各記憶装置207,2
09,211および215は独立に設てもよい
が、重複して共用することも可能である。なおま
た、スキヤナ57Aおよび増幅部57Bは通常セ
ンサアレイ50上か、またはその近くに設ける
が、ADコンバータ201、μ・cpu203、イ
ンタフエース217等のマイクロプロセツサ22
1は数チツプのLSI(大規模集積回路)で構成し、
ハンド駆動機構213の近傍に設け、あるいはハ
ンドの腕内等に収納できるようにする。
次に、この発明の装置で用いる上述した主な演
算アルゴリズムの内容について説明する。
算アルゴリズムの内容について説明する。
3方向モーメント
第85図に示すように、物体61をはさむ両
側の圧覚センサアレイ50,50の3分力の総
出力X,Y,ZとX′,Y′,Z′および両圧覚セ
ンサアレイ間の距離lz、さらに同一平面位置に
両圧覚センサアレイ50,50をおいたときの
Y方向出力Y,(Y)とその両アレイ間の距離
lxとにより、次式を用いて3方向の各モーメン
トMx,My,Mzを求めることができる。
側の圧覚センサアレイ50,50の3分力の総
出力X,Y,ZとX′,Y′,Z′および両圧覚セ
ンサアレイ間の距離lz、さらに同一平面位置に
両圧覚センサアレイ50,50をおいたときの
Y方向出力Y,(Y)とその両アレイ間の距離
lxとにより、次式を用いて3方向の各モーメン
トMx,My,Mzを求めることができる。
Mx=(Y,Y′の差)×lz
My=(X,X′の差)×lz
Mz=(Y,(Y)の差)×lx
これらのモーメントは後述の物体の組立時の
はめ合い、偏荷重物体の把握、ねじ込み等の作
業に欠かせない力学値である。
はめ合い、偏荷重物体の把握、ねじ込み等の作
業に欠かせない力学値である。
滑り覚
第86図に示すように、把握力の不足等で滑
りが生ずる場合にはセンサアレイ50の各モジ
ユール51の力の分布が時間t0,t0+Δt…と共
に変化するのでその時系列変化を演算すれば滑
りを知ることができる。従つて、後述のソフト
ハンドリングによる物体の把持および持ち上げ
のアルゴリズムとは関係なく、滑り防止制御を
高速に行うことができる。
りが生ずる場合にはセンサアレイ50の各モジ
ユール51の力の分布が時間t0,t0+Δt…と共
に変化するのでその時系列変化を演算すれば滑
りを知ることができる。従つて、後述のソフト
ハンドリングによる物体の把持および持ち上げ
のアルゴリズムとは関係なく、滑り防止制御を
高速に行うことができる。
形状の認識
第87図Aに示すように、物体71が平面の
場合は把持力ΣPの増加(P0→P2)に対して受
圧面の圧力分布223は変らない。しかし、第
87図Bに示すように、物体61が柱面の場合
は把持力ΣPの増加(P0→P2)に対して受圧面
の圧力分布223は一方向のみ変化する。ま
た、第87図Cに示すように、物体61が球面
の場合は把持力ΣPの増加(P0→P2)に対して
受圧面の圧力分布223は全方向に変化する。
従つて、受圧面の時間的変化の相違により形状
を認識することができる。なお、図中t0は初期
時、t1,t2は増加した時間を示す。
場合は把持力ΣPの増加(P0→P2)に対して受
圧面の圧力分布223は変らない。しかし、第
87図Bに示すように、物体61が柱面の場合
は把持力ΣPの増加(P0→P2)に対して受圧面
の圧力分布223は一方向のみ変化する。ま
た、第87図Cに示すように、物体61が球面
の場合は把持力ΣPの増加(P0→P2)に対して
受圧面の圧力分布223は全方向に変化する。
従つて、受圧面の時間的変化の相違により形状
を認識することができる。なお、図中t0は初期
時、t1,t2は増加した時間を示す。
弾性または材料の判定
第88図〜第90図に示すような圧覚センサ
アレイ50の上面受圧板52上に異なる弾性パ
ツト225,226(それぞれのコンプライア
ンスをC1,C2とする)を置き、各センサの受
ける加重をP1,P2とすると把握される物体6
1のコンプライアンスC0は C0=P1C1−P2C2/P2−P1 の式で算出される。
アレイ50の上面受圧板52上に異なる弾性パ
ツト225,226(それぞれのコンプライア
ンスをC1,C2とする)を置き、各センサの受
ける加重をP1,P2とすると把握される物体6
1のコンプライアンスC0は C0=P1C1−P2C2/P2−P1 の式で算出される。
ただし、
コンプライアンス=1/バネ常数=たわみ/力
の関係であり、このコンプライアンスC0を物
の選別またはソフトハンドリングのアルゴリズ
ムのデータに使用すれば、物の選別やソフトハ
ンドリングが可能となる。
の選別またはソフトハンドリングのアルゴリズ
ムのデータに使用すれば、物の選別やソフトハ
ンドリングが可能となる。
このように、把握されている物体の弾性を判
断し、間接的に材質を推定することによつて、
保持される物体の変形、破損を避けた最低把握
力の制御すなわちソフトハンドリングが可能と
なり、また物の選別、必ずしも適格な選別が可
能でない場合もあるが、補助データとしてその
選別に使用可能となる。
断し、間接的に材質を推定することによつて、
保持される物体の変形、破損を避けた最低把握
力の制御すなわちソフトハンドリングが可能と
なり、また物の選別、必ずしも適格な選別が可
能でない場合もあるが、補助データとしてその
選別に使用可能となる。
この弾性または材料の判定について図面に基
づいてさらに詳細に説明する。
づいてさらに詳細に説明する。
被測定物としての物体61の弾性に関する模
形は、第91図に示すように微小なバネ227
の集合体と考えられる。第92図はそれを更に
単純化した模形であり、物体の弾性を代表する
バネ228が、表面よりかなり離れて位置する
共同の固体229につながつたものとみなすこ
とができる。第93図は、弾性体としての弾性
パツト225または226を有する圧覚センサ
モジユール51が設置された支持台230で、
第92図に説明した物体61を平行に圧接した
場合の模形図を示すものであり、第94図はそ
れぞれ更に単純化して第93図の模形を2つの
圧覚センサモジユール51a,51bに代表さ
せ(図A)、それを力Pで圧接した(図B)場
合を示す。ここで全体のコンプライアンス(=
1/バネ常数)をΣc、圧接力をPとすると全
体の撓みδは次の如く表される。
形は、第91図に示すように微小なバネ227
の集合体と考えられる。第92図はそれを更に
単純化した模形であり、物体の弾性を代表する
バネ228が、表面よりかなり離れて位置する
共同の固体229につながつたものとみなすこ
とができる。第93図は、弾性体としての弾性
パツト225または226を有する圧覚センサ
モジユール51が設置された支持台230で、
第92図に説明した物体61を平行に圧接した
場合の模形図を示すものであり、第94図はそ
れぞれ更に単純化して第93図の模形を2つの
圧覚センサモジユール51a,51bに代表さ
せ(図A)、それを力Pで圧接した(図B)場
合を示す。ここで全体のコンプライアンス(=
1/バネ常数)をΣc、圧接力をPとすると全
体の撓みδは次の如く表される。
δ=P×Σc
また、c0を物体61のコンプライアンス、
c1,c2をセンサモジユール51a,51bの上
面に貼付けてある弾性パツド225,226の
コンプライアンス、c8をセンサモジユール51
a,51bのコンプライアンス、P1,P2をそ
れぞれのセンサモジユール51a,51bの受
ける力とする。また、Σc1,Σc2をそれぞれの
センサモジユール51a,51b別に、圧接さ
れる物体を合成したコンプライアンスとする
と、 Σc1=c0+c1+c8≒c0+c1 (11) Σc2=c0+c2+c8≒c0+c2 (12) である。
c1,c2をセンサモジユール51a,51bの上
面に貼付けてある弾性パツド225,226の
コンプライアンス、c8をセンサモジユール51
a,51bのコンプライアンス、P1,P2をそ
れぞれのセンサモジユール51a,51bの受
ける力とする。また、Σc1,Σc2をそれぞれの
センサモジユール51a,51b別に、圧接さ
れる物体を合成したコンプライアンスとする
と、 Σc1=c0+c1+c8≒c0+c1 (11) Σc2=c0+c2+c8≒c0+c2 (12) である。
一方撓みδについて考えると、各々のモジユ
ール51a,51bに対応する撓みδ1,δ2は、 δ1=P1×Σc1 (13) δ2=P2×Σc2 (14) で表わされる。モジユール51a,51bのコ
ンプライアンスは小さいので無視し、物体61
は平行に圧接されるためδ=δ1=δ2として式(11)
乃至(14)を整理すると物体61のコンプライ
アンスc0は、 c0=(P1 c1−P2 c2)/(P2−P1) (15) となる。コンプライアンスc1およびc2は予め知
ることができるので、物体の弾性(コンプライ
アンス)はモジユール51a,51bより得ら
れる出力信号p1,p2より求めることができる。
ール51a,51bに対応する撓みδ1,δ2は、 δ1=P1×Σc1 (13) δ2=P2×Σc2 (14) で表わされる。モジユール51a,51bのコ
ンプライアンスは小さいので無視し、物体61
は平行に圧接されるためδ=δ1=δ2として式(11)
乃至(14)を整理すると物体61のコンプライ
アンスc0は、 c0=(P1 c1−P2 c2)/(P2−P1) (15) となる。コンプライアンスc1およびc2は予め知
ることができるので、物体の弾性(コンプライ
アンス)はモジユール51a,51bより得ら
れる出力信号p1,p2より求めることができる。
したがつて、この原理に基づく支持台230
の同一面上に相互に間隔をおいて設置された少
なくとも2の圧力センサと、各圧力センサ上に
それぞれ配置された互いにコンプライアンスの
異なる弾性体と、物体の被検出面と支持台とを
平行に保つた状態で両者を圧接する把持手段
と、1組の圧力センサの出力信号p1,p2と該セ
ンサに対応する弾性体のコンプライアンスc1,
c2から前述の物体のコンプライアンスc0を c0=(p1 c1−p1 c2)/(p−p1) の式によりCPU203で算出することができ
る。
の同一面上に相互に間隔をおいて設置された少
なくとも2の圧力センサと、各圧力センサ上に
それぞれ配置された互いにコンプライアンスの
異なる弾性体と、物体の被検出面と支持台とを
平行に保つた状態で両者を圧接する把持手段
と、1組の圧力センサの出力信号p1,p2と該セ
ンサに対応する弾性体のコンプライアンスc1,
c2から前述の物体のコンプライアンスc0を c0=(p1 c1−p1 c2)/(p−p1) の式によりCPU203で算出することができ
る。
このような弾性測定手段は容易に構成され、
しかもその適用範囲は極めて広い。
しかもその適用範囲は極めて広い。
例えば、産業用ロボツトのハンドを把持手段
とし、ハンドの片側把持面をセンサが設置され
る支持台として本手段を適用すれば、ハンドの
把持力のみでなく、把持される物体の弾性度を
も判断できる機能を備えたロボツトハンドを提
供することが可能となる。この場合、物体を把
持するためのハンドは、物体を弾性体に平行に
圧接する把持手段として極めて好適であり、さ
らに弾性パツトはハンドの把持面の緩衝手段を
兼ねる。
とし、ハンドの片側把持面をセンサが設置され
る支持台として本手段を適用すれば、ハンドの
把持力のみでなく、把持される物体の弾性度を
も判断できる機能を備えたロボツトハンドを提
供することが可能となる。この場合、物体を把
持するためのハンドは、物体を弾性体に平行に
圧接する把持手段として極めて好適であり、さ
らに弾性パツトはハンドの把持面の緩衝手段を
兼ねる。
第88図は、ハンドの把持面231にマトリ
ツクス状に設置された各圧覚センサモジユール
51に、互いにコンプライアンスの異なる弾性
パツト225,226をそれぞれ複数配置した
一例を示すものである。それぞれ弾性の異なる
材質のパツト225,226は、圧覚センサモ
ジユール51にそれぞれ対応してその受圧板5
2には貼付けられ、物体61はこのパツト22
5,226と圧接される。この例では弾性パツ
トの弾性は2種とし、同一の弾性(コンプライ
アンス)を有する弾性パツトを交互に列状に設
置することにより、ハンドの把持面に弾性の異
なる弾性パツト225,226が均等に分布す
るように構成している。
ツクス状に設置された各圧覚センサモジユール
51に、互いにコンプライアンスの異なる弾性
パツト225,226をそれぞれ複数配置した
一例を示すものである。それぞれ弾性の異なる
材質のパツト225,226は、圧覚センサモ
ジユール51にそれぞれ対応してその受圧板5
2には貼付けられ、物体61はこのパツト22
5,226と圧接される。この例では弾性パツ
トの弾性は2種とし、同一の弾性(コンプライ
アンス)を有する弾性パツトを交互に列状に設
置することにより、ハンドの把持面に弾性の異
なる弾性パツト225,226が均等に分布す
るように構成している。
このような構成からなるロボツトハンドによ
り物体61を把持すれば、その弾性が異なる一
組の弾性パツト225,226に対応した圧覚
センサモジユール51A,51Bは、それぞれ
受けた力P1,P2に応じたp1,p2を出力する。こ
の信号は第95図に示すように、増幅器57を
介して演算器であるCPU203に入力される。
CPU203では、あらかじめ記憶しておいた
弾性パツト225,226のコンプライアンス
c1,c2と、増幅された信号p1,p2より、物体の
弾性(コンプライアンスc0)を前述した計算式
(15)により求める。
り物体61を把持すれば、その弾性が異なる一
組の弾性パツト225,226に対応した圧覚
センサモジユール51A,51Bは、それぞれ
受けた力P1,P2に応じたp1,p2を出力する。こ
の信号は第95図に示すように、増幅器57を
介して演算器であるCPU203に入力される。
CPU203では、あらかじめ記憶しておいた
弾性パツト225,226のコンプライアンス
c1,c2と、増幅された信号p1,p2より、物体の
弾性(コンプライアンスc0)を前述した計算式
(15)により求める。
232は加算器であり、増幅器57を介して
得られるすべてのセンサの出力の総和Σp=p1
+p2+…+pn(nはセンサの数)を計算するこ
とにより、ロボツトハンドによる物体の把持力
も同時に求めている。
得られるすべてのセンサの出力の総和Σp=p1
+p2+…+pn(nはセンサの数)を計算するこ
とにより、ロボツトハンドによる物体の把持力
も同時に求めている。
なお、この例では説明を明確にするため、弾
性パツトの弾性は2種としたが、本手段はこれ
に限定されるものではなく、弾性の種類をより
多くすることにより、前記一組の弾性パツトの
弾性の組み合わせを変えて、物体の弾性(コン
プライアンスc0)に関するデータを複数求め、
物体に適合した好ましい値を物体の弾性として
選択するか、これを演算器にて平均化すること
により、物体の弾性を平均値0として求めるこ
とも可能である。これは、物体の弾性の測定範
囲を拡張する意味で好ましい。
性パツトの弾性は2種としたが、本手段はこれ
に限定されるものではなく、弾性の種類をより
多くすることにより、前記一組の弾性パツトの
弾性の組み合わせを変えて、物体の弾性(コン
プライアンスc0)に関するデータを複数求め、
物体に適合した好ましい値を物体の弾性として
選択するか、これを演算器にて平均化すること
により、物体の弾性を平均値0として求めるこ
とも可能である。これは、物体の弾性の測定範
囲を拡張する意味で好ましい。
また同様にして、前記一組の弾性パツトを弾
性の組み合わせを変えることなく対象とするパ
ツトを変えることにより、物体の弾性(コンプ
ライアンス0)に関するデータを複数求め、こ
れを演算器にて平均化することにより物体の弾
性を平均値0として求めてもよい。
性の組み合わせを変えることなく対象とするパ
ツトを変えることにより、物体の弾性(コンプ
ライアンス0)に関するデータを複数求め、こ
れを演算器にて平均化することにより物体の弾
性を平均値0として求めてもよい。
更にまた、圧覚センサアレイ50が配置され
た支持台(上記実施例ではハンドの把持面)と
物体の被検出面と平行に保つた状態で弾性手段
(パツト)を物体と圧接することが肝要であり、
これにより前述した撓みδ=δ1=δ2なる条件が
成立しているのであるが、本手段をロボツトハ
ンドに適用する場合には、δ=δ1=δ2が成立し
ない場合でも、圧接力Pに対して撓みδ1および
δ2がそれぞれ比例するので、それぞれのセンサ
が受ける力p1,p2と物体のコンプライアンスc0
の関係を実験的に求めておけば実用上問題がな
い。また、把持動作上必要な、物体の弾性は厳
密な値でなく相対値で十分である。
た支持台(上記実施例ではハンドの把持面)と
物体の被検出面と平行に保つた状態で弾性手段
(パツト)を物体と圧接することが肝要であり、
これにより前述した撓みδ=δ1=δ2なる条件が
成立しているのであるが、本手段をロボツトハ
ンドに適用する場合には、δ=δ1=δ2が成立し
ない場合でも、圧接力Pに対して撓みδ1および
δ2がそれぞれ比例するので、それぞれのセンサ
が受ける力p1,p2と物体のコンプライアンスc0
の関係を実験的に求めておけば実用上問題がな
い。また、把持動作上必要な、物体の弾性は厳
密な値でなく相対値で十分である。
第89図、第90図はロボツトハンドの把持
面にマトリツクス状に設置された各圧覚センサ
モジユール51に、互いにコンプライアンスも
異なる弾性パツトをそれぞれ複数配置した他の
例を示すものである。
面にマトリツクス状に設置された各圧覚センサ
モジユール51に、互いにコンプライアンスも
異なる弾性パツトをそれぞれ複数配置した他の
例を示すものである。
すなわち、第89図は、同一のコンプライア
ンスを有する弾性パツト225,226が、対
角線状に配置された構成を示すものであり、弾
性パツトに圧接される物体の被検出面が不特定
形状の場合に用いられる。
ンスを有する弾性パツト225,226が、対
角線状に配置された構成を示すものであり、弾
性パツトに圧接される物体の被検出面が不特定
形状の場合に用いられる。
第90図は、第5図に示した列状に配置され
る同一のコンプライアンスを有する弾性パツト
225,226が一連につながつた帯状で配置
された構成を示すものであり、弾性パツトに圧
接される物体の被検出面が線状、すなわち円筒
状の物体を把持する場合に用いられる。
る同一のコンプライアンスを有する弾性パツト
225,226が一連につながつた帯状で配置
された構成を示すものであり、弾性パツトに圧
接される物体の被検出面が線状、すなわち円筒
状の物体を把持する場合に用いられる。
いずれの例においても、ハンドの把持面には
弾性の異なる弾性パツトがそれぞれ複数均等に
分布しているため、被測定体としての物体の形
状、大きさに柔軟に対応することができる。
弾性の異なる弾性パツトがそれぞれ複数均等に
分布しているため、被測定体としての物体の形
状、大きさに柔軟に対応することができる。
物体の把握および持ち上げ
第96図Aに示すように物体61を持ち上げ
ようとする力Qは、各センサアレイ50での分
力Fx,Fyの合成力の形で求められる。物体が
持ち上つた後にはQ=Wとなる。また、第96
図BおよびCに示すように、把握力RはFzの
形で求められる。すなわち、物体61とハンド
59の間で滑りがないためには、Q≦μR=
μFz(μ摩擦係数)を満足しなければならない。
今、ハンド59で物体61を掴んだ後にΔδだ
けハンドを持ち上げたとする。ハンドに滑りの
ない場合には、Qは ΔQ=Δδ/C の割合で増加する。(ここでCは物体および床
面の総合コンプライアンスである)。この場合
ソフトハンドリングをするためにはQの増加に
対して ΔR≧ΔQ/μ となるようにハンドの把握力を増加する必要が
ある。一方、前項で述べた方法で滑りが検出
されると、(この式に関らず)Rを増して滑り
を生じないμを新しく規定する。μをかえてR
をふやす(Qは既知)。Q=Wになると物体6
1は床面239より離れ、ハンドによつて把握
されることになる。それ以後はδの増加に対し
てQおよびRの増加はない。
ようとする力Qは、各センサアレイ50での分
力Fx,Fyの合成力の形で求められる。物体が
持ち上つた後にはQ=Wとなる。また、第96
図BおよびCに示すように、把握力RはFzの
形で求められる。すなわち、物体61とハンド
59の間で滑りがないためには、Q≦μR=
μFz(μ摩擦係数)を満足しなければならない。
今、ハンド59で物体61を掴んだ後にΔδだ
けハンドを持ち上げたとする。ハンドに滑りの
ない場合には、Qは ΔQ=Δδ/C の割合で増加する。(ここでCは物体および床
面の総合コンプライアンスである)。この場合
ソフトハンドリングをするためにはQの増加に
対して ΔR≧ΔQ/μ となるようにハンドの把握力を増加する必要が
ある。一方、前項で述べた方法で滑りが検出
されると、(この式に関らず)Rを増して滑り
を生じないμを新しく規定する。μをかえてR
をふやす(Qは既知)。Q=Wになると物体6
1は床面239より離れ、ハンドによつて把握
されることになる。それ以後はδの増加に対し
てQおよびRの増加はない。
これらの関係をフローチヤートで示したのが
第97図である。
第97図である。
また、物体を置く、離す時のソフトハンドリ
ングは、上述の場合の逆動作によつて可能であ
り、衝撃なく物を離すことができる。この際、
別の近接センサで物体61の近接の検出をして
Δδを小さくするか、あるいはハンドのコンプ
ライアンスを大きくすることによつてソフトハ
ンドリングがより容易となる。
ングは、上述の場合の逆動作によつて可能であ
り、衝撃なく物を離すことができる。この際、
別の近接センサで物体61の近接の検出をして
Δδを小さくするか、あるいはハンドのコンプ
ライアンスを大きくすることによつてソフトハ
ンドリングがより容易となる。
挿入
穴241へ物61を挿入する。あるいは、は
め合わせるなどは組立作業の基本である。第9
8図Aは、この動作の基本形である。第98図
B,Cはそれぞれ挿入が不完全な場合を示し、
挿入力Pに対して、あるモーメントMを発生す
る。このモーメントMの大きさと方向を判断し
て第98図Aに示す理想的な正常な挿入、すな
わちモーメントMが0になるように挿入物61
を移動させる演算操作を行う。
め合わせるなどは組立作業の基本である。第9
8図Aは、この動作の基本形である。第98図
B,Cはそれぞれ挿入が不完全な場合を示し、
挿入力Pに対して、あるモーメントMを発生す
る。このモーメントMの大きさと方向を判断し
て第98図Aに示す理想的な正常な挿入、すな
わちモーメントMが0になるように挿入物61
を移動させる演算操作を行う。
歩行制御センサとしての適用
前項まではロボツトハンドにこの発明による
センサ装置を適用した場合を述べたが、このセ
ンサは第99図に示すように、ロボツトの足の
感覚センサとして歩行制御にも適用できる。
センサ装置を適用した場合を述べたが、このセ
ンサは第99図に示すように、ロボツトの足の
感覚センサとして歩行制御にも適用できる。
(a) 歩行時の身体の重心移動を検出し、最適時
期に足を上げる。
期に足を上げる。
重心の移動―足の面圧分布から重心位置の時
系列演算 足の上げ下げ―第96図および第97図に示
した物の持ち上げと基本的に類似な演算 (b) 歩行前進のための足のけり 足の面圧および滑り覚を検出し、それに見
合つたけりの力(前進の力)を加える。
系列演算 足の上げ下げ―第96図および第97図に示
した物の持ち上げと基本的に類似な演算 (b) 歩行前進のための足のけり 足の面圧および滑り覚を検出し、それに見
合つたけりの力(前進の力)を加える。
ただし、図のFzは面圧、Fxは蹴る力を示す。
[発明の効果]
以上説明したように、この発明によれば、3方
向の分力の2次元分布を検出できるウエハ型圧覚
センサアレイを備え、そのセンサ出力を順次取り
出して必要な信号処理を行つた後に記憶し、その
記憶したデータを所定のアルゴリズムを用いて圧
力に関する各種の基本量に変換して記憶し、これ
らの各記憶データを用いてロボツト等の制御対象
の制御に必要な各種制御基本信号に変換し、この
基本信号を外部のロボツト等の制御装置に送出す
るようにしたので、人間における接触覚、圧覚、
滑り覚および硬さ覚等に相当する感覚を精度に認
識し、この認識に基づいて知能ロボツトのハンド
や自動組立機のマニピユレータあるいは移動ロボ
ツトの足等の制御を円滑に安全確実に行わせるこ
とができ、特に、ソフトハンドリングのような高
度かつ高精度の動作制御を容易に行うことができ
る効果が得られる。
向の分力の2次元分布を検出できるウエハ型圧覚
センサアレイを備え、そのセンサ出力を順次取り
出して必要な信号処理を行つた後に記憶し、その
記憶したデータを所定のアルゴリズムを用いて圧
力に関する各種の基本量に変換して記憶し、これ
らの各記憶データを用いてロボツト等の制御対象
の制御に必要な各種制御基本信号に変換し、この
基本信号を外部のロボツト等の制御装置に送出す
るようにしたので、人間における接触覚、圧覚、
滑り覚および硬さ覚等に相当する感覚を精度に認
識し、この認識に基づいて知能ロボツトのハンド
や自動組立機のマニピユレータあるいは移動ロボ
ツトの足等の制御を円滑に安全確実に行わせるこ
とができ、特に、ソフトハンドリングのような高
度かつ高精度の動作制御を容易に行うことができ
る効果が得られる。
さらに、この発明を構成する圧覚センサアレイ
は、単結晶シリコンウエハに半導体ストレンゲー
ジを形成して3分力測定できる圧覚センサモジユ
ールをアレイ状に多数配列したものであるので、
1個の単位荷重計であるモジユールの大きさを極
めて小さくでき、これを高密度に集積できるか
ら、荷重の分布状態を測定する場合に、1個の単
位モジユールにはほぼ均等な分布荷重が作用して
いると見なされるので、従来のような単位荷重計
の時のようなモーメントを考慮する必要がない。
従つて、直交型のモジユールでも使用でき他成分
の干渉をほぼ完全に除去できるので極めて高精度
な分布荷重の3分力測定が可能で、より正確な圧
覚認識制御を行うことができる。
は、単結晶シリコンウエハに半導体ストレンゲー
ジを形成して3分力測定できる圧覚センサモジユ
ールをアレイ状に多数配列したものであるので、
1個の単位荷重計であるモジユールの大きさを極
めて小さくでき、これを高密度に集積できるか
ら、荷重の分布状態を測定する場合に、1個の単
位モジユールにはほぼ均等な分布荷重が作用して
いると見なされるので、従来のような単位荷重計
の時のようなモーメントを考慮する必要がない。
従つて、直交型のモジユールでも使用でき他成分
の干渉をほぼ完全に除去できるので極めて高精度
な分布荷重の3分力測定が可能で、より正確な圧
覚認識制御を行うことができる。
第1図、第2図、第3図A,B、第4図A,
B、第5図および第6図A,B,C,Dはそれぞ
れ従来のセンサを示す斜図、第7図は従来技術に
よる八角形応力リングを示す斜視図、第8図は本
発明の実施例の要部を示す斜視図、第9図は第8
図の圧覚センサアレイをロボツトハンドの制御用
センサとして用いた例を示す説明図、第10図は
第9図の圧覚センサセルへの荷重分力の掛かり方
を示す斜視図、第11図A,Bは本発明に係わる
圧覚センサセルの原理を示すためのセルの形状と
寸法関係を示す正面図および側面図、第12図は
第11図の圧覚センサセルに設けるストレンゲー
ジの配置を示す配置図、第13図A〜Cはその圧
覚センサセルの荷重に対する応力の発生状態の模
様を示す模式図、第14図A〜Cおよび第15図
A〜Cは第12図のストレンゲージの接続態様を
示す回路図、第16図は第13図の圧覚センサセ
ルの荷重分力の分離測定の態様を示す図、第17
図はセル型の圧覚センサモジユールを示す斜視
図、第18図および第19図はそれぞれその圧覚
センサモジユールにおける荷重に対する変形の模
様を示す模式図、第20図は2セル型の圧覚セン
サモジユールの構成例を示す斜視図、第21図
A,Bは第20図の圧覚センサモジユールにおけ
る荷重に対する変形の模様を示す模式図、第22
図は箱型圧覚センサモジユールの構成を示す斜視
図、第23図はT型の圧覚センサモジユールの構
成を示す斜視図、第24図はI型またはH型の圧
覚センサモジユールの構成を示す斜視図、第25
図は第22図のモジユールにおけるストレンゲー
ジの接続態様を示す回路図、第26図は単荷重測
定における直交型荷重計を説明する斜視図、第2
7図Aは本発明に係わる圧覚センサセルの製造方
法の説明図で、第27図BはそのA部を拡大した
拡大図、第28図A〜Cは代表的な三つの結晶面
{100}面,{110}面および{111}面についての
P形シリコンのピエゾ抵抗係数の特性を示す特性
図、第29図A,Bは圧覚センサ基板への圧覚セ
ンサセルの組み込み配列上の要点を示す配置図、
第30図〜第33図はそれぞれ異なる製作工程段
階を示す圧覚センサアレイの斜視図、第34図は
異なる実施例における受圧板の態様を示す斜視
図、第35図はさらに異なる実施例における圧覚
センサセルの整列に用いられる整列治具を示す斜
視図、第36図〜第38図はこの発明に係わる短
冊形の圧覚センサの要部構成例を示す正面図、第
39図A〜Cはさらに改良した短冊形の圧覚セン
サの要部構成例と製造工程を示す平面図、第39
図Dは第39図Cの斜視図、第40図A〜Cはさ
らに他の実施例の短冊形の圧覚センサの要部構成
例と製造工程を示す平面図、第40図Dは第40
図Cの斜視図、第41図は本発明に係わる圧覚セ
ンサニツトの構成例を示す斜視図、第42図は第
41図の1個の圧覚センサモジユールの配線の一
例を示す回路図、第43図は本発明に係わる圧覚
センサユニツトの他の構成例を示す斜視図、第4
4図は第43図の圧覚センサユニツトを組込んで
形成したこの発明に係わるユニツト型圧覚センサ
アレイの構成例を示斜図、第45図は単一セル型
圧覚センサモジユールの場合の望ましくない変形
を示す正面図、第46図は第2セル型圧覚センサ
モジユールの力が印加時における変形を示す正面
図、第47図は圧覚センサセルの配線方式を示す
要部断面図、第48図はその配線のクロスオーバ
部の断面図、第49図および第50図は従来技術
を適用して配線した圧覚センサセルの配線の配置
例の模式図、第51図は本発明に係わる圧覚セン
サセル上の配線を示す平面図、第52図A,Bは
本発明に係わる別の実施例の圧覚センサセルの両
面上の配線を示す平面図、第53図A,Bはこの
発明に係わる二つの単位セルのそれぞれの平面
図、第54図A,Bは別の実施例の一方の単位セ
ルの両面のそれぞれの平面図、第55図A,Bは
さらに別の実施例の二つの単位セルのそれぞれの
平面図、第56図A,Bはさらに異なる実施例の
一方の単位セルの両面のそれぞれの平面図、第5
7図は半導体ストレンゲージ抵抗の温度特性と不
純物濃度の関係線図、第58図は本発明に係わる
単位セルの斜視図、第59図は異なる実施例の単
位セルを示し、Aは一方の面の平面図、Bは他方
の面の平面図、第60図はさらに別の実施例の単
位セルの要部断面図、第61図は本発明に係わる
圧覚センサセルの表面の平面図、第62図は同じ
く裏面の平面図、第63図は本発明に係わるアナ
ログスイツチの一例を示す圧覚センサセルの要部
断面図、第64図はアナログスイツチの別の例を
示す圧覚センサセルの要部断面図、第65図は異
なる実施例の圧覚センサセルの表面の平面図、第
66図は第65図の圧覚センサセルにより構成さ
れた圧覚センサアレイの回路図、第67図は各単
位セルからの出力を処理するための回路を示す回
路図、第68図、第69図は第67図の回路を実
施するための単位セルの構成を示す正面図、第7
0図は下部基板に集積回路を形成した一例を示す
斜視図、第71図は従来技術により考えられる圧
覚センサセルの構成の一例を示す模型図、第72
図は圧覚センサセルの基板への取付け状態を示す
斜図、第73図は本発明に係わる圧覚センサセル
の構成の一例を示す模型図、第74図は本発明に
適用するフイルムキヤリアの構成の一例を示す模
型図、第75図は第73図の圧覚センサセルに形
成するパツトの構成を一例として示す断面図、第
76図は第73図の圧覚センサの基板へ取付け状
態を示す側面図、第77図は従来の圧力センサの
温度補償回路を示す回路図、第78図は従来の圧
力センサとその温度補償回路を用いて圧力分布を
測定する場合のシステム構成例を示すブロツク
図、第79図は本発明に係わる圧覚センサ出力信
号前処理装置を示す回路図、第80図および第8
1図はそれぞれ他の実施例の回路図、第82図は
第81図の圧力検出部51の出力電圧特性を示す
図、第83図はその圧力検出部51の出力にスイ
ツチングダイオード88を接続したときの圧力検
出部51の印加圧力と点CD間の出力電圧特性を
示す図、第84図は本発明の実施例の全体を示す
ブロツク図、第85図〜第87図および第96図
〜第99図はそれぞれこの発明で用いる各種アル
ゴリズムの内容を示す説明図、第88図〜第90
図はこの発明で用いる材質判定アゴリズムの実施
に係わる弾性パツトの配置状態の異なる実施例を
示す一部斜視図、第91図〜第94図はそのアル
ゴリズムの原理を説明するための模型図、第95
図はそのアルゴリズムを実行する演算器の実施例
を示すブロツク図である。 1……弾性支持体、3……ストレンゲージ、5
……手首、7……導電性ゴムシート、7a……絶
縁性ゴムシート、8……金属電極、8a……金属
箔電極、8c……絶縁性覆い、8d……絶縁板、
9……基板、9a……電極支え、9c……電極
面、15……シリコンゴムコード、17……金属
電極、19……細い棒、20……金属製八角形リ
ング、21……受圧面、22……基板面、23〜
34……抵抗線ストレンゲージ35……受圧板、
50……圧覚センサアレイ、51……圧覚センサ
モジユール、52……上部受圧板、53……圧覚
センサセル、54……半導体ストレンゲージ、5
5……下部基板、56……基板の溝、57……ス
キヤナ増幅器、58……多関節アーム、59……
ロボツトハンド、60……フインガ、61……把
握される物体、62……単結晶シリコンウエハ、
63……整理治具、64……配線、65……受圧
素板、66……受圧素板の溝、67……切溝、6
8……整理治具、71……短冊形単結晶シリコ
ン、72……セル分離用円形穴、73……セル分
離用円形穴、74……セル分離用溝、75……セ
ル分離用半円形穴、76……切込み溝、80……
圧覚センサユニツト、81……下部基板、82…
…溝、83……出力用端子、84……温度検出用
端子、85……制御用端子、86……電源端子、
87……温度検出素子、88……半導体スイツチ
(アナログスイツチ)、89……マザーボード、9
0……配線、91……配線、92……酸化膜、9
3……端子、94……絶縁被覆層、95……接続
点、96……電源ライン、97……N形エピタキ
シヤル層、98……P+拡散層、99……P形拡
散層、100……N+拡散層、101……N+拡散
層、102……ゲート電極、103……薄膜抵
抗、104……差動増幅器、105……出力用ス
キヤナ、106……電源用スキヤナ、107……
極細金属線、108……電子回路、109……ボ
ンデイングワイヤ、110……端子、111……
可撓性フイルム、112,113,115……バ
ンプ、114……配線、116……接着用金属、
117……拡散防止用金属、118……絶縁層、
119……バンプ、121……圧力検出部、12
2……温度補償回路、123……アナログ集積回
路、124……アナログ集積回路、125……ス
パン調整抵抗、126……オフセツト調整抵抗、
127……零点調整抵抗、128……アナログ集
積回路、129……零点温度特性補償抵抗、13
0……スパン温度特性補償抵抗、131……アナ
ログ集積回路、132……信号出力端子、133
……電源端子、134……アナログ用アース端
子、135……圧力検出ブロツク、136……増
幅部、137……マイクロコンピユータ部、13
8……縦軸電源アナログスイツチ、139……縦
軸電源アナログスイツチ部、140……横軸アナ
ログスイツチ部、142……温度信号増幅用アナ
ログ集積回路、143……横軸デコーダ、144
……縦軸デコーダ、145……アナログ信号切換
部、146……A/D変換器、147……一時記
憶用RAM、148……乗算用コプロセツサ、1
49……除算用コプロセツサ、150……プログ
ラムROM、151……補正後データ記憶用
RAM、152……信号出力用ポート、153…
…CPU、154……アドレス出力用ポート、1
55……内部データバス、156……アドレスバ
ス、157……信号出力用データバス、158…
…デジタル用アース端子、159……デジタル用
電源端子、160……オペアンプ用負電源端子、
161……オペアンプ用正電源端子、162……
横軸ライン群、163……縦軸ライン群、166
……スイツチングダイオード、201……アナロ
グ−デジタルコンバータ、203……マイクロコ
ンピユータ中央演算処理装置(μ・cpu)、20
5……ROM(リードオンリメモリ)、207……
信号処理記憶装置、209……1次演算記憶装
置、211……2次演算記憶装置、213……ハ
ンド駆動機構、215……3次演算記憶装置、2
17……インタフエース、219……上位コンピ
ユータ、221……マイクロプロセツサ、223
……圧力分布、225……パツト、226……パ
ツト、227……バネ、228……バネ、229
……固体、230……支持台、231……把持
面、232……加算器、239……床面、241
……穴。
B、第5図および第6図A,B,C,Dはそれぞ
れ従来のセンサを示す斜図、第7図は従来技術に
よる八角形応力リングを示す斜視図、第8図は本
発明の実施例の要部を示す斜視図、第9図は第8
図の圧覚センサアレイをロボツトハンドの制御用
センサとして用いた例を示す説明図、第10図は
第9図の圧覚センサセルへの荷重分力の掛かり方
を示す斜視図、第11図A,Bは本発明に係わる
圧覚センサセルの原理を示すためのセルの形状と
寸法関係を示す正面図および側面図、第12図は
第11図の圧覚センサセルに設けるストレンゲー
ジの配置を示す配置図、第13図A〜Cはその圧
覚センサセルの荷重に対する応力の発生状態の模
様を示す模式図、第14図A〜Cおよび第15図
A〜Cは第12図のストレンゲージの接続態様を
示す回路図、第16図は第13図の圧覚センサセ
ルの荷重分力の分離測定の態様を示す図、第17
図はセル型の圧覚センサモジユールを示す斜視
図、第18図および第19図はそれぞれその圧覚
センサモジユールにおける荷重に対する変形の模
様を示す模式図、第20図は2セル型の圧覚セン
サモジユールの構成例を示す斜視図、第21図
A,Bは第20図の圧覚センサモジユールにおけ
る荷重に対する変形の模様を示す模式図、第22
図は箱型圧覚センサモジユールの構成を示す斜視
図、第23図はT型の圧覚センサモジユールの構
成を示す斜視図、第24図はI型またはH型の圧
覚センサモジユールの構成を示す斜視図、第25
図は第22図のモジユールにおけるストレンゲー
ジの接続態様を示す回路図、第26図は単荷重測
定における直交型荷重計を説明する斜視図、第2
7図Aは本発明に係わる圧覚センサセルの製造方
法の説明図で、第27図BはそのA部を拡大した
拡大図、第28図A〜Cは代表的な三つの結晶面
{100}面,{110}面および{111}面についての
P形シリコンのピエゾ抵抗係数の特性を示す特性
図、第29図A,Bは圧覚センサ基板への圧覚セ
ンサセルの組み込み配列上の要点を示す配置図、
第30図〜第33図はそれぞれ異なる製作工程段
階を示す圧覚センサアレイの斜視図、第34図は
異なる実施例における受圧板の態様を示す斜視
図、第35図はさらに異なる実施例における圧覚
センサセルの整列に用いられる整列治具を示す斜
視図、第36図〜第38図はこの発明に係わる短
冊形の圧覚センサの要部構成例を示す正面図、第
39図A〜Cはさらに改良した短冊形の圧覚セン
サの要部構成例と製造工程を示す平面図、第39
図Dは第39図Cの斜視図、第40図A〜Cはさ
らに他の実施例の短冊形の圧覚センサの要部構成
例と製造工程を示す平面図、第40図Dは第40
図Cの斜視図、第41図は本発明に係わる圧覚セ
ンサニツトの構成例を示す斜視図、第42図は第
41図の1個の圧覚センサモジユールの配線の一
例を示す回路図、第43図は本発明に係わる圧覚
センサユニツトの他の構成例を示す斜視図、第4
4図は第43図の圧覚センサユニツトを組込んで
形成したこの発明に係わるユニツト型圧覚センサ
アレイの構成例を示斜図、第45図は単一セル型
圧覚センサモジユールの場合の望ましくない変形
を示す正面図、第46図は第2セル型圧覚センサ
モジユールの力が印加時における変形を示す正面
図、第47図は圧覚センサセルの配線方式を示す
要部断面図、第48図はその配線のクロスオーバ
部の断面図、第49図および第50図は従来技術
を適用して配線した圧覚センサセルの配線の配置
例の模式図、第51図は本発明に係わる圧覚セン
サセル上の配線を示す平面図、第52図A,Bは
本発明に係わる別の実施例の圧覚センサセルの両
面上の配線を示す平面図、第53図A,Bはこの
発明に係わる二つの単位セルのそれぞれの平面
図、第54図A,Bは別の実施例の一方の単位セ
ルの両面のそれぞれの平面図、第55図A,Bは
さらに別の実施例の二つの単位セルのそれぞれの
平面図、第56図A,Bはさらに異なる実施例の
一方の単位セルの両面のそれぞれの平面図、第5
7図は半導体ストレンゲージ抵抗の温度特性と不
純物濃度の関係線図、第58図は本発明に係わる
単位セルの斜視図、第59図は異なる実施例の単
位セルを示し、Aは一方の面の平面図、Bは他方
の面の平面図、第60図はさらに別の実施例の単
位セルの要部断面図、第61図は本発明に係わる
圧覚センサセルの表面の平面図、第62図は同じ
く裏面の平面図、第63図は本発明に係わるアナ
ログスイツチの一例を示す圧覚センサセルの要部
断面図、第64図はアナログスイツチの別の例を
示す圧覚センサセルの要部断面図、第65図は異
なる実施例の圧覚センサセルの表面の平面図、第
66図は第65図の圧覚センサセルにより構成さ
れた圧覚センサアレイの回路図、第67図は各単
位セルからの出力を処理するための回路を示す回
路図、第68図、第69図は第67図の回路を実
施するための単位セルの構成を示す正面図、第7
0図は下部基板に集積回路を形成した一例を示す
斜視図、第71図は従来技術により考えられる圧
覚センサセルの構成の一例を示す模型図、第72
図は圧覚センサセルの基板への取付け状態を示す
斜図、第73図は本発明に係わる圧覚センサセル
の構成の一例を示す模型図、第74図は本発明に
適用するフイルムキヤリアの構成の一例を示す模
型図、第75図は第73図の圧覚センサセルに形
成するパツトの構成を一例として示す断面図、第
76図は第73図の圧覚センサの基板へ取付け状
態を示す側面図、第77図は従来の圧力センサの
温度補償回路を示す回路図、第78図は従来の圧
力センサとその温度補償回路を用いて圧力分布を
測定する場合のシステム構成例を示すブロツク
図、第79図は本発明に係わる圧覚センサ出力信
号前処理装置を示す回路図、第80図および第8
1図はそれぞれ他の実施例の回路図、第82図は
第81図の圧力検出部51の出力電圧特性を示す
図、第83図はその圧力検出部51の出力にスイ
ツチングダイオード88を接続したときの圧力検
出部51の印加圧力と点CD間の出力電圧特性を
示す図、第84図は本発明の実施例の全体を示す
ブロツク図、第85図〜第87図および第96図
〜第99図はそれぞれこの発明で用いる各種アル
ゴリズムの内容を示す説明図、第88図〜第90
図はこの発明で用いる材質判定アゴリズムの実施
に係わる弾性パツトの配置状態の異なる実施例を
示す一部斜視図、第91図〜第94図はそのアル
ゴリズムの原理を説明するための模型図、第95
図はそのアルゴリズムを実行する演算器の実施例
を示すブロツク図である。 1……弾性支持体、3……ストレンゲージ、5
……手首、7……導電性ゴムシート、7a……絶
縁性ゴムシート、8……金属電極、8a……金属
箔電極、8c……絶縁性覆い、8d……絶縁板、
9……基板、9a……電極支え、9c……電極
面、15……シリコンゴムコード、17……金属
電極、19……細い棒、20……金属製八角形リ
ング、21……受圧面、22……基板面、23〜
34……抵抗線ストレンゲージ35……受圧板、
50……圧覚センサアレイ、51……圧覚センサ
モジユール、52……上部受圧板、53……圧覚
センサセル、54……半導体ストレンゲージ、5
5……下部基板、56……基板の溝、57……ス
キヤナ増幅器、58……多関節アーム、59……
ロボツトハンド、60……フインガ、61……把
握される物体、62……単結晶シリコンウエハ、
63……整理治具、64……配線、65……受圧
素板、66……受圧素板の溝、67……切溝、6
8……整理治具、71……短冊形単結晶シリコ
ン、72……セル分離用円形穴、73……セル分
離用円形穴、74……セル分離用溝、75……セ
ル分離用半円形穴、76……切込み溝、80……
圧覚センサユニツト、81……下部基板、82…
…溝、83……出力用端子、84……温度検出用
端子、85……制御用端子、86……電源端子、
87……温度検出素子、88……半導体スイツチ
(アナログスイツチ)、89……マザーボード、9
0……配線、91……配線、92……酸化膜、9
3……端子、94……絶縁被覆層、95……接続
点、96……電源ライン、97……N形エピタキ
シヤル層、98……P+拡散層、99……P形拡
散層、100……N+拡散層、101……N+拡散
層、102……ゲート電極、103……薄膜抵
抗、104……差動増幅器、105……出力用ス
キヤナ、106……電源用スキヤナ、107……
極細金属線、108……電子回路、109……ボ
ンデイングワイヤ、110……端子、111……
可撓性フイルム、112,113,115……バ
ンプ、114……配線、116……接着用金属、
117……拡散防止用金属、118……絶縁層、
119……バンプ、121……圧力検出部、12
2……温度補償回路、123……アナログ集積回
路、124……アナログ集積回路、125……ス
パン調整抵抗、126……オフセツト調整抵抗、
127……零点調整抵抗、128……アナログ集
積回路、129……零点温度特性補償抵抗、13
0……スパン温度特性補償抵抗、131……アナ
ログ集積回路、132……信号出力端子、133
……電源端子、134……アナログ用アース端
子、135……圧力検出ブロツク、136……増
幅部、137……マイクロコンピユータ部、13
8……縦軸電源アナログスイツチ、139……縦
軸電源アナログスイツチ部、140……横軸アナ
ログスイツチ部、142……温度信号増幅用アナ
ログ集積回路、143……横軸デコーダ、144
……縦軸デコーダ、145……アナログ信号切換
部、146……A/D変換器、147……一時記
憶用RAM、148……乗算用コプロセツサ、1
49……除算用コプロセツサ、150……プログ
ラムROM、151……補正後データ記憶用
RAM、152……信号出力用ポート、153…
…CPU、154……アドレス出力用ポート、1
55……内部データバス、156……アドレスバ
ス、157……信号出力用データバス、158…
…デジタル用アース端子、159……デジタル用
電源端子、160……オペアンプ用負電源端子、
161……オペアンプ用正電源端子、162……
横軸ライン群、163……縦軸ライン群、166
……スイツチングダイオード、201……アナロ
グ−デジタルコンバータ、203……マイクロコ
ンピユータ中央演算処理装置(μ・cpu)、20
5……ROM(リードオンリメモリ)、207……
信号処理記憶装置、209……1次演算記憶装
置、211……2次演算記憶装置、213……ハ
ンド駆動機構、215……3次演算記憶装置、2
17……インタフエース、219……上位コンピ
ユータ、221……マイクロプロセツサ、223
……圧力分布、225……パツト、226……パ
ツト、227……バネ、228……バネ、229
……固体、230……支持台、231……把持
面、232……加算器、239……床面、241
……穴。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 単結晶シリコンを感圧構造体とし、該感圧構
造体の受圧面に垂直な面に複数個の拡散形ストレ
ンゲージを形成し、これらの前記ストレンゲージ
の抵抗値の変化によつて前記受圧面に印加された
力の三成分を検出する圧覚センサセルからなる複
数の圧覚センサモジユールを有して前記受圧面に
印加された力の3方向分力の2次元分布を検出す
る圧覚検出手段、 駆動制御対象に装着された前記圧覚検出手段か
ら検出信号を順次取り出し所定の信号処理を施し
て圧力単位の圧覚検出データに変換し、変換した
該圧覚検出データを前記3方向分力毎に前記受圧
面に対応して記憶する信号処理記憶手段、 該信号処理記憶手段から読み出した前記圧覚検
出データと所定の基本演算アルゴリズムとにより
所定の圧覚認識に必要な圧力の基本量データを演
算し、演算した該基本量データを記憶する1次演
算記憶手段、 該1次演算記憶手段から読み出した前記基本量
データと、前記信号処理記憶手段から読み出した
前記圧覚検出データと、所定の圧覚認識演算アル
ゴリズムとにより所定の圧覚認識データを演算
し、演算した該圧覚認識データを記憶する2次演
算記憶手段、 前記駆動制御対象を駆動制御する外部の制御手
段からの指示データに応じて、前記2次演算記憶
手段から読み出した前記圧覚認識データと、前記
1次演算記憶手段から読み出した前記基本量デー
タと、前記信号処理記憶手段から読み出した前記
圧覚検出データと、所定の制御量演算アルゴリズ
ムとにより前記駆動制御対象の駆動制御に必要な
制御量データを演算し、演算した該制御量データ
を前記外部の制御手段に出力する3次演算手段、 該3次演算手段と前記外部の制御手段間のデー
タの交信を行うデータ交信手段、 および全体の処理動作を円滑に行うように制御
する内部制御手段とを具備したことを特徴とする
圧覚認識制御装置。 2 特許請求の範囲第1項記載の装置において、
前記駆動制御対象はロボツトの手足または自動組
立機のマニピユレータであり、前記基本量データ
は3方向分力の合成全圧力、圧力中心、圧力分布
図、受圧面積、3方向モーメントに関するデータ
であり、前記圧覚認識データは接触覚、滑り覚、
硬さ覚、形状認識、材質認識に関するデータであ
り、前記制御量データは把持、持ち上げ、挿入、
回転、離す、歩行に関するデータであり、前記指
示データは、掴んだ、持ち上げた、挿入した、廻
した、離した、歩いたに関するデータであること
を特徴とする圧覚認識制御装置。 3 特許請求の範囲第1項または第2項に記載の
装置において、前記1次演算記憶手段は前記信号
処理記憶手段に格納された前記圧覚検出データに
より合成全圧力、圧力中心、圧力分布図、受圧面
積、3方向モーメントを算出して時系列に記憶す
ることを特徴とする圧覚認識制御装置。 4 特許請求の範囲第1項から第3項のいずれか
の項に記載の装置において、前記信号処理記憶手
段は、前記圧覚検出手段から3分力の大きさに相
当する電気信号を行および列毎に順次取り出して
増幅し、アナログデジタル変換し、温度補償、セ
ンサの感度の非直線性補償、他方向分力からの干
渉の補正を行い、補正後の信号を前記圧覚検出デ
ータに変換して時系列に記憶することを特徴とす
る圧覚認識制御装置。 5 特許請求の範囲第4項記載の装置において、
前記信号処理記憶手段は、上位アドレスと下位ア
ドレスとからなる固有のアドレスを有する複数の
前記圧覚センサモジユール、 該モジユールの温度を検出する温度検出部、 前記モジユールと前記温度検出部に接続して該
両検出部の出力をオンオフし、該モジユールの前
記下位アドレスに属する信号線に前記出力を送出
する第1アナログスイツチ、 前記信号線毎に接続して該信号線をオンオフす
る第2アナログスイツチ、 前記モジユールの前記上位アドレスと前記下位
アドレスを順次発生するアドレス発生部、 該アドレス発生部から供給された前記上位アド
レスに属する前記第1アナログスイツチを開閉に
する第1スイツチ駆動部、 前記アドレス発生部から供給された前記下位ア
ドレスに属する前記第2アナログスイツチを開閉
にする第2スイツチ駆動部、 前記アドレス発生部によりアドレス指定された
前記モジユールと前記温度検出部から前記第1ア
ナログスイツチおよび前記第2アナログスイツチ
を通つて出力された圧力信号と温度検出信号とを
アナログデジタル変換するアナログデジタル変換
部、 および該アナログデジタル変換部によりデジタ
ル化された前記圧力信号と温度検出信号とを用い
て所定の演算式により演算することにより前記圧
力信号の温度補償を行うマイクロコンピユータ部
とを具備したことを特徴とする圧覚認識制御装
置。 6 特許請求の範囲第5項に記載の装置におい
て、前記第1アナログスイツチの駆動用制御線と
該制御線と交叉する前記信号線とからなるマトリ
ツクス配線の交点にそれぞれ前記圧覚センサモジ
ユールが配置されていることを特徴とする圧覚認
識制御装置。 7 特許請求の範囲第5項または第6項に記載の
装置において、前記アドレス発生部と、前記第1
スイツチ駆動部と、前記第2スイツチ駆動部と、
アナログデジタル変換部とは、前記マイクロコン
ピユータ部に包含されることを特徴とする圧覚認
識制御装置。 8 特許請求の範囲第5項ないし第7項のいずれ
かの項に記載の装置において、前記信号処理記憶
手段は、前記上位アドレス単位で該上位アドレス
に属する前記圧覚センサモジユールと前記温度検
出部へ供給される電源を導通または非導通させる
電源スイツチを有し、前記第1スイツチ駆動部は
前記アドレス発生部から供給された前記上位アド
レスに属する前記第1アナログスイツチと前記電
源スイツチとを開閉にすることを特徴とする圧覚
認識制御装置。 9 特許請求の範囲第7項に記載の装置におい
て、前記圧覚センサモジユールは、2本の出力ラ
インを備えて上位アドレスと下位アドレスとから
なる固有のアドレスを有し、さらに前記第2アナ
ログスイツチは前記モジユールの一方の前記出力
ラインにアノードを接続したスイツチングダイオ
ードのカソードと、 前記温度検出部の出力ラインに接続した前記第
1アナログスイツチの出力ラインと、モジユール
の他方の前記出力ラインとに接続して同一の前記
下位アドレスを有する前記モジユールと前記温度
検出部からの出力をオンオフすることを特徴とす
る圧覚認識制御装置。 10 特許請求の範囲第1項ないし第9項のいず
れかの項に記載の装置において、前記圧覚検出手
段は、前記受圧面に印加された力を該受圧面に垂
直な方向の分力Fzと、前記受圧面内の2つの直
交する主軸方向の分力FxとFyとの合計3つの主
軸方向分力に分解して検出する前記圧覚センサモ
ジユールを、多数固基板上に高密度に行列方向に
並べてアレイ状に配設した圧覚センサアレイであ
ることを特徴とする圧覚認識制御装置。 11 特許請求の範囲第10項に記載の装置にお
いて、前記圧覚センサアレイは、半導体単結晶か
らなり位置導電形の表面層に逆導電形の複数のス
トレンゲージ領域が形成された感圧構造体である
圧覚センサセルの複数個がアレイ状に配置され、
各圧覚センサセルに力が加わつた時に前記ストレ
ンゲージからなるブリツジ回路に生ずる出力電圧
により加わつた力の3成分の大きさの面分布を検
出することを特徴とする圧覚認識制御装置。 12 特許請求の範囲第10項または第11項に
記載の装置において、前記圧覚センサアレイは、
短冊形の単結晶シリコンに対し、該シリコン受圧
面と垂直な面の長手方向に沿つて複数個の拡散形
ストレンゲージ群が形成され、かつ該ストレンゲ
ージ群に対応して複数個のセル構成用円形穴と少
なくとも1個のセル分離用円形穴とが交互に開け
られ、前記セル分離用円形穴を通る切込み溝によ
り、前記ストレンゲージ群が抵抗値の変化によつ
て前記受圧面に印加された力を3分力に分解して
検知する複数個の独立セルとして各々分離され、
該セルが形成された前記短冊形の単結晶シリコン
が前記受圧面を上方にして下部基板の上にアレイ
状に配列して成ることを特徴とする圧覚認識制御
装置。 13 特許請求の範囲第10項ないし第12項の
いずれかの項に記載の装置において、前記圧覚セ
ンサアレイは、複数個の前記圧覚センサモジユー
ルを下部基板の上に1列または数列に並べて圧覚
センサユニツトを構成し、前記下部基板に取付け
られて前記圧覚センサモジユールに接続する端子
とマザーボード上の端子とを機械的に接続するこ
とにより、必要個数の前記圧覚センサユニツトを
有することを特徴とする圧覚認識制御装置。 14 特許請求の範囲第10項または第11項に
記載の装置において、前記圧覚センサアレイは、
互いに平行な複数の行方向の溝を備えた基板と、
該基板の溝に係合されて該溝ごとに所定個数ずつ
分布立設され、列方向に整列されて固着され、さ
らに前記基板との間に配線が接続された前記圧覚
センサセルと、複数個の前記圧覚センサセルに対
して共通に設けられて固着された受圧素板を前記
センサモジユール毎に切断して形成された前記圧
覚センサモジユールの受圧板とを具備したことを
特徴とする圧覚認識制御装置。 15 特許請求の範囲第11項記載の装置におい
て前記圧覚センサアレイは、前記ブリツジ回路の
出力をそれぞれ差動増幅する差動増幅器と、この
差動増幅器の出力を導通遮断するスイツチング素
子とを前記圧覚センサモジユールに組み込み、当
該スイツチング素子の出力配線を同行にある複数
個の圧覚センサモジユールのそれぞれに対応する
スイツチング素子の出力配線と共通にして前記圧
覚センサアレイの外に設けられた出力用スキヤナ
に導くとともに、前記スイツチング素子の制御用
配線を同列にある複数個の圧覚センサモジユール
のスイツチング素子の制御用配線と共通にして前
記圧覚センサアレイの外に設けられた制御用スキ
ヤナに導くことを特徴とする圧覚認識制御装置。 16 特許請求の範囲第15項記載の装置におい
て、前記差動増幅器と前記スイツチング素子とを
前記圧覚センサセルと別個の基板に形成し、この
基板を当該圧覚センサの一部に緩衝手段を介して
組み込むことを特徴とする圧覚認識制御装置。 17 特許請求の範囲第1項ないし第16項のい
ずれかの項に記載の装置において、前記圧覚セン
サモジユールは各々少なくとも2個の前記圧覚セ
ンサセルからなることを特徴とする圧覚認識制御
装置。 18 特許請求の範囲第17項記載の装置におい
て、前記圧覚センサモジユールは互いに平行に配
された受圧板と基板との間に前記圧覚センサセル
を2個該セルの端面を互いに平行にして該セルの
端面が前記両板と直交するように固定して構成さ
れたことを特徴とする圧覚認識制御装置。 19 特許請求の範囲第1項ないし第18項のい
ずれかの項に記載の装置において、前記圧覚セン
サモジユールは互いに平行に配された基板と受圧
板との間に複数個の前記圧覚センサセルを該セル
の端面が前記両板と直交するように固着して前記
受圧板にかかる荷重の分力を分離して測定するよ
うにし、かつ、前記複数個の前記セルの少なくと
も2個をそのセルの端面が互いに直交するように
配設し、かつ各セルからは該セルの端面に平行な
方向にかかる荷重の分力に対する応答出力信号の
みを取り出すようにしたことを特徴とする圧覚認
識制御装置。 20 特許請求の範囲第19項記載の装置におい
て、4個の圧覚センサセルが箱形状に配設された
ことを特徴とする圧覚認識制御装置。 21 特許請求の範囲第19項記載の装置におい
て、2個の圧覚センサセルがT字状に配されたこ
とを特徴とする圧覚認識制御装置。 22 特許請求の範囲第19項記載の装置におい
て、3個の圧覚センサセルがI字状に配されたこ
とを特徴とする圧覚認識制御装置。 23 特許請求の範囲第1項ないし第18項のい
ずれかの項に記載の装置において、前記圧覚セン
サモジユールは二つの前記圧覚センサセルの感圧
構造体のそれぞれに力の3成分を検出するための
それぞれのブリツジを構成するストレンゲージ領
域の半分ずつを備えたことを特徴とする圧覚認識
制御装置。 24 特許請求の範囲第1項ないし第18項のい
ずれかの項に記載の装置において、前記圧覚セン
サモジユールは一方の前記圧覚センサセルの感圧
構造体が受圧板の上面に印加される力の3成分の
うちの2成分を検出するストレンゲージ領域を備
え、他方の前記圧覚センサセルの感圧構造体が残
りの1成分を検出するストレンゲージ領域を備え
たことを特徴とする圧覚認識制御装置。 25 特許請求の範囲第1項ないし第18項のい
ずれかの項に記載の装置において、前記圧覚セン
サセルは、片側の前記垂直な面に力の三成分のう
ちの二成分を検出する前記ストレンゲージを形成
し、反対側の前記垂直な面に他の一成分を検出す
る前記ストレンゲージを形成したことを特徴とす
る圧覚認識制御装置。 26 特許請求の範囲第25項記載の装置におい
て、前記圧覚センサセルは受圧面に平行な力の二
成分を検出するストレンゲージを前記片側の前記
垂直な面に形成し、前記受圧面に垂直な力の成分
を検出するストレンゲージを前記反対側の前記垂
直な面に形成したことを特徴とする圧覚認識制御
装置。 27 特許請求の範囲第1項ないし第26項のい
ずれかの項に記載の装置において、前記圧覚セン
サセルにおける前記拡散形ストレンゲージを作成
する前記垂直な面を結晶面の{111}面としたこ
とを特徴とする圧覚認識制御装置。 28 特許請求の範囲第27項記載の装置におい
て、前記単結晶シリコンとしてN形シリコンを用
い、前記拡散形ストレンゲージとしてP形拡散層
を用いたことを特徴とする圧覚認識制御装置。 28 特許請求の範囲第27項記載の装置におい
て、前記圧覚センサセルがリング状の形状を有し
ていることを特徴とする圧覚認識制御装置。 30 特許請求の範囲第1項ないし第29項のい
ずれかの項に記載の装置において、前記圧覚セン
サセルに温度センサ領域が形成されたことを特徴
とする圧覚認識制御装置。 31 特許請求の範囲第30項記載の装置におい
て、前記温度センサが拡散抵抗であることを特徴
とする圧覚認識制御装置。 32 特許請求の範囲第30項記載の装置におい
て、前記温度センサがダイオードであることを特
徴とする圧覚認識制御装置。 33 特許請求の範囲第30項記載の装置におい
て、前記温度センサがトランジスタであることを
特徴とする圧覚認識制御装置。 34 特許請求の範囲第30項ないし第33項の
いずれかの項に記載の装置において、前記温度セ
ンサ領域が前記圧覚センサセルの受圧面に力が印
加された際の歪の小さい領域に位置することを特
徴とする圧覚認識制御装置。 35 特許請求の範囲第1項ないし第34項のい
ずれかの項に記載の装置において、前記圧覚セン
サセルにアナログスイツチが集積され、入出力配
線中に接続されたことを特徴とする圧覚認識制御
装置。 36 特許請求の範囲第1項ないし第35項のい
ずれかの項に記載の装置において、 前記圧覚センサセルを支持する基板が該圧覚セ
ンサセルの材料と熱膨張係数の近似した材料から
なることを特徴とする圧覚認識制御装置。 37 特許請求の範囲第1項ないし第36項のい
ずれかの項に記載の装置において、前記圧覚セン
サセルを支持する基板が単結晶半導体よりなりこ
こに配線および抵抗素子ブリツジの出力信号処理
を行う制御回路が集積されたことを特徴とする圧
覚認識制御装置。 38 特許請求の範囲第1項ないし第37項のい
ずれかの項に記載の装置において、前記圧覚セン
サセルは前記ストレンゲージの出力信号を取り出
すための端子をその表面に備え、前記セルを支持
する基板は当該セルの出力信号を受けるための端
子を有し、両端子間は可撓性フイルム上に配線を
施したフイルムキヤリアを用いて相互に電気的に
接続されていることを特徴とする圧覚認識制御装
置。 39 特許請求の範囲第38項記載の装置におい
て、前記圧覚センサセルの端子と前記フイルムキ
ヤリアの端子の少なくとも一方を隆起導体とし、
他方の端子に当接させて接合するようにしたこと
を特徴とする圧覚認識制御装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59075250A JPS60221288A (ja) | 1984-04-13 | 1984-04-13 | 圧覚認識制御装置 |
| US06/721,804 US4695963A (en) | 1984-04-13 | 1985-04-10 | Pressure sense recognition control system |
| DE8585302539T DE3574498D1 (de) | 1984-04-13 | 1985-04-11 | Druckempfindliches kontrollsystem. |
| EP85302539A EP0162565B1 (en) | 1984-04-13 | 1985-04-11 | Pressure sense recognition control system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59075250A JPS60221288A (ja) | 1984-04-13 | 1984-04-13 | 圧覚認識制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60221288A JPS60221288A (ja) | 1985-11-05 |
| JPH0411346B2 true JPH0411346B2 (ja) | 1992-02-28 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59075250A Granted JPS60221288A (ja) | 1984-04-13 | 1984-04-13 | 圧覚認識制御装置 |
Country Status (4)
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|---|---|
| US (1) | US4695963A (ja) |
| EP (1) | EP0162565B1 (ja) |
| JP (1) | JPS60221288A (ja) |
| DE (1) | DE3574498D1 (ja) |
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| JPS61284390A (ja) * | 1985-06-11 | 1986-12-15 | 工業技術院長 | 触覚センサ |
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