JPH04114599A - 超音波探触子の製造方法 - Google Patents
超音波探触子の製造方法Info
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- JPH04114599A JPH04114599A JP2234215A JP23421590A JPH04114599A JP H04114599 A JPH04114599 A JP H04114599A JP 2234215 A JP2234215 A JP 2234215A JP 23421590 A JP23421590 A JP 23421590A JP H04114599 A JPH04114599 A JP H04114599A
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Transducers For Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は超音波探触子の製造方法に関し、特に超音波顕
微鏡や広く音波を使用する装置に利用される超音波探触
予め製造方法に関するものである。
微鏡や広く音波を使用する装置に利用される超音波探触
予め製造方法に関するものである。
従来の超音波探触子の構造を第4図に示す。この超音波
探触子は、音響レンズを構成するレンズ本体1と、ビー
ム状超音波を発生するための圧電膜2と、圧電膜2に電
力を供給する上部電極3及び下部電極4とから構成され
る。かかる構成において、発振器5によってパルス波又
はノく−スト波状の電圧を発生し、この電圧を矢印6の
よう1こサーキュレータ7を介して圧電膜2に供給する
と、この供給電圧によって圧電膜2か振動し、この圧電
膜2から、膜厚て決まる周波数を有し且つ上部電極3の
下部面積で決まるビーム断面積を有する超音波ビームが
図中下方向に向かって放射される。
探触子は、音響レンズを構成するレンズ本体1と、ビー
ム状超音波を発生するための圧電膜2と、圧電膜2に電
力を供給する上部電極3及び下部電極4とから構成され
る。かかる構成において、発振器5によってパルス波又
はノく−スト波状の電圧を発生し、この電圧を矢印6の
よう1こサーキュレータ7を介して圧電膜2に供給する
と、この供給電圧によって圧電膜2か振動し、この圧電
膜2から、膜厚て決まる周波数を有し且つ上部電極3の
下部面積で決まるビーム断面積を有する超音波ビームが
図中下方向に向かって放射される。
この超音波ビーム8は、レンズ本体1の凹状レンズ面9
によって絞られ、更に外部の水Wの中へ放射され、そし
て試料10の表面又はその内部の音響インピーダンスの
異なる部分(例えば、ボイドやクラック等)によって反
射される。超音波は再びレンズ本体1のレンズ面9に戻
り、電圧@2にて検出される。この検出に伴って生じた
電気信号は矢印11に示す如く受信器12に送られ、こ
こで増幅されて取り出され、これによって試料10の情
報を得ることができる。
によって絞られ、更に外部の水Wの中へ放射され、そし
て試料10の表面又はその内部の音響インピーダンスの
異なる部分(例えば、ボイドやクラック等)によって反
射される。超音波は再びレンズ本体1のレンズ面9に戻
り、電圧@2にて検出される。この検出に伴って生じた
電気信号は矢印11に示す如く受信器12に送られ、こ
こで増幅されて取り出され、これによって試料10の情
報を得ることができる。
上記構成において、XYステージとして構成された試料
台13をY方向に移動し、レンズ本体1をX方向に移動
することによって、試料10の成る平面位置における情
報が得られる。なお、第4図において、X方向は紙面に
直角の方向を示し、Y方向はX方向に直角の方向を示す
。
台13をY方向に移動し、レンズ本体1をX方向に移動
することによって、試料10の成る平面位置における情
報が得られる。なお、第4図において、X方向は紙面に
直角の方向を示し、Y方向はX方向に直角の方向を示す
。
前記構成を有する従来の超音波探触子の製造方法では、
レンズ本体1の成膜面14に真空蒸着の方法によってC
rを蒸着し、その次にAuを蒸着し、これを下部電極4
としている。この場合、成膜面14の全面に蒸着を行っ
ている。次にスパッタリング装置によって所定の膜厚で
ZnOの圧電膜2を成形し、更にその後上部電極3とし
て真空蒸着装置で先ずCrを蒸着し、次にAuを蒸着す
る。
レンズ本体1の成膜面14に真空蒸着の方法によってC
rを蒸着し、その次にAuを蒸着し、これを下部電極4
としている。この場合、成膜面14の全面に蒸着を行っ
ている。次にスパッタリング装置によって所定の膜厚で
ZnOの圧電膜2を成形し、更にその後上部電極3とし
て真空蒸着装置で先ずCrを蒸着し、次にAuを蒸着す
る。
ところが、従来の製造方法によれば、上部電極3を成膜
するとき、薄膜状のマスクを使用して所定の高温下で蒸
着を行うため、音響レンズの凹状レンズ面9の中心位置
と上部電極3の中心位置とがずれ易い。また機械加工等
の誤差で音響レンズの凹状レンズ面9の中心軸と本体1
の外径の中心軸がずれていると、薄膜状マスクは本体1
の外径を基準として配置されるため、薄膜状マスクの中
心位置と音響レンズの凹状レンズ面9の中心軸とがずれ
てしまう。上部電極3は、その下部面積の大きさに対応
した断面積を有する平面波の超音波ビームを発生するの
で、前記のように2つの中心位置がずれると、レンズ面
部9のエツジ部を通る直達波、及び位置ずれによっては
み出た電極部分に起因するレンズ本体1内の多重反射波
によってノイズが発生するという不具合か生しる。
するとき、薄膜状のマスクを使用して所定の高温下で蒸
着を行うため、音響レンズの凹状レンズ面9の中心位置
と上部電極3の中心位置とがずれ易い。また機械加工等
の誤差で音響レンズの凹状レンズ面9の中心軸と本体1
の外径の中心軸がずれていると、薄膜状マスクは本体1
の外径を基準として配置されるため、薄膜状マスクの中
心位置と音響レンズの凹状レンズ面9の中心軸とがずれ
てしまう。上部電極3は、その下部面積の大きさに対応
した断面積を有する平面波の超音波ビームを発生するの
で、前記のように2つの中心位置がずれると、レンズ面
部9のエツジ部を通る直達波、及び位置ずれによっては
み出た電極部分に起因するレンズ本体1内の多重反射波
によってノイズが発生するという不具合か生しる。
また上記の現象は、第5図に示すように平面形状が円形
である上部電極3の径が凹状レンズ面9の開口径よりも
大きいときにも同様に起こる。第5図において、15は
レンズ面部9のエツジ部を通る直達波、16は多重反射
波である。このように、超音波探触子の性能は上部電極
3を形成するときの位置合わせ精度及びマスク精度に大
きく依存している。
である上部電極3の径が凹状レンズ面9の開口径よりも
大きいときにも同様に起こる。第5図において、15は
レンズ面部9のエツジ部を通る直達波、16は多重反射
波である。このように、超音波探触子の性能は上部電極
3を形成するときの位置合わせ精度及びマスク精度に大
きく依存している。
以上の如〈従来の超音波探触子の構成及び製造方法では
、超音波放射部と音響レンズ本体の凹状レンズ面との位
置合わせ精度が低く、音響レンズの歩留まりが悪いもの
であった。
、超音波放射部と音響レンズ本体の凹状レンズ面との位
置合わせ精度が低く、音響レンズの歩留まりが悪いもの
であった。
本発明の目的は、超音波探触子において超音波放射部と
音響レンズの凹状レンズ面との位置合わせ精度を高め、
これにより製品歩留まりと性能を向上させた超音波探触
子の製造方法を提供することにある。
音響レンズの凹状レンズ面との位置合わせ精度を高め、
これにより製品歩留まりと性能を向上させた超音波探触
子の製造方法を提供することにある。
本発明に係る第1の超音波探触子の製造方法は、音響レ
ンズ本体の一方の端部に超音波を発生する圧電素子を備
え、他方の端部に超音波を集束させる凹状レンズ面を備
える超音波探触子であって、試料で反射された超音波を
圧電素子で検出して当該試料の情報を得る前記超音波探
触子を製造する方法において、圧電素子を配置しようと
する音響レンズ本体の一方の端面にホトレジストを設け
、凹状レンズ面の焦点に位置する光源から与えられる光
を凹状レンズを通してホトレジストに導き、ホトリソグ
ラフィーを行い、圧電素子の下側に配設される電極の配
役位置を決めるようにしたことを特徴とする。
ンズ本体の一方の端部に超音波を発生する圧電素子を備
え、他方の端部に超音波を集束させる凹状レンズ面を備
える超音波探触子であって、試料で反射された超音波を
圧電素子で検出して当該試料の情報を得る前記超音波探
触子を製造する方法において、圧電素子を配置しようと
する音響レンズ本体の一方の端面にホトレジストを設け
、凹状レンズ面の焦点に位置する光源から与えられる光
を凹状レンズを通してホトレジストに導き、ホトリソグ
ラフィーを行い、圧電素子の下側に配設される電極の配
役位置を決めるようにしたことを特徴とする。
本発明に係る第2の超音波探触子の製造方法は、前記第
1の製造方法において、圧電素子の下側に配設される電
極の形成か、リフトオフ法によって行われることを特徴
とする。
1の製造方法において、圧電素子の下側に配設される電
極の形成か、リフトオフ法によって行われることを特徴
とする。
本発明に係る第3の超音波探触子の製造方法は、音響レ
ンズ本体の一方の端部に超音波を発生する圧電素子を備
え、他方の端部に超音波を集束させる凹状レンズ面を備
える超音波探触子てあって、試料で反射された超音波を
圧電素子で検出して当該試料の情報を得る前記超音波探
触子を製造する方法において、圧電素子を配置しようと
する音響レンズ本体の一方の端面にホトレジストと所定
の厚みの二酸化ケイ素膜を積層状態で設け、凹状レンズ
面の焦点に位置する光源から与えられる光を凹状レンズ
を通してホトレジストに導き、ホトリソグラフィーを行
ってホトレジストに孔を開け、このホトレジストを、マ
スク層として二酸化ケイ素膜をエツチングして圧電素子
の下側に配設される電極の配設位置を決めるようにした
ことを特徴とする。
ンズ本体の一方の端部に超音波を発生する圧電素子を備
え、他方の端部に超音波を集束させる凹状レンズ面を備
える超音波探触子てあって、試料で反射された超音波を
圧電素子で検出して当該試料の情報を得る前記超音波探
触子を製造する方法において、圧電素子を配置しようと
する音響レンズ本体の一方の端面にホトレジストと所定
の厚みの二酸化ケイ素膜を積層状態で設け、凹状レンズ
面の焦点に位置する光源から与えられる光を凹状レンズ
を通してホトレジストに導き、ホトリソグラフィーを行
ってホトレジストに孔を開け、このホトレジストを、マ
スク層として二酸化ケイ素膜をエツチングして圧電素子
の下側に配設される電極の配設位置を決めるようにした
ことを特徴とする。
本発明に係る第4の超音波探触子の製造方法は、前記第
1〜第3のいずれか1つの製造方法において、光源が、
平行光線を発する光源と、光源形状を決める孔を有する
板部材とからなり、板部材か焦点位置に配設されること
を特徴とする。
1〜第3のいずれか1つの製造方法において、光源が、
平行光線を発する光源と、光源形状を決める孔を有する
板部材とからなり、板部材か焦点位置に配設されること
を特徴とする。
本発明に係る第5の超音波探触子の製造方法は、前記第
4の製造方法において、音響レンズ本体がシリシトリカ
ルレンズであり、板部材の孔かスリットであることを特
徴とする。
4の製造方法において、音響レンズ本体がシリシトリカ
ルレンズであり、板部材の孔かスリットであることを特
徴とする。
〔作用〕
本発明による超音波探触子の製造方法では、圧電素子の
振動で発生する超音波の放射領域を下側の下部電極で決
定するように構成し、圧電素子て放射された超音波が凹
状レンズでその焦点位置に集束するという作用を逆に利
用し、且つ音響レンズ本体が光を透過させるという特徴
を利用して、焦点位置から点光源で又はシリンドリカル
レンズの場合にはスリット光源で凹状レンズに光を照射
し、最適な下部電極の位置及び形状を決定するものであ
る。この場合には音響レンズ本体の圧電素子が配設され
る予定の端面にホトレジストを設け、このホトレジスト
に下部電極を形成するための箇所を作る。またホトレジ
ストと所定の厚みの二酸化ケイ素(S i O2)膜、
更にエツチングを利用して、下部電極の形成箇所を決定
することもできる。下側電極の形成に当っては、リフト
オフ法か好ましい。
振動で発生する超音波の放射領域を下側の下部電極で決
定するように構成し、圧電素子て放射された超音波が凹
状レンズでその焦点位置に集束するという作用を逆に利
用し、且つ音響レンズ本体が光を透過させるという特徴
を利用して、焦点位置から点光源で又はシリンドリカル
レンズの場合にはスリット光源で凹状レンズに光を照射
し、最適な下部電極の位置及び形状を決定するものであ
る。この場合には音響レンズ本体の圧電素子が配設され
る予定の端面にホトレジストを設け、このホトレジスト
に下部電極を形成するための箇所を作る。またホトレジ
ストと所定の厚みの二酸化ケイ素(S i O2)膜、
更にエツチングを利用して、下部電極の形成箇所を決定
することもできる。下側電極の形成に当っては、リフト
オフ法か好ましい。
以下に、本発明の実施例を添付図面に基づいて説明する
。
。
第1図は本発明の第1実施例を示す。本図において、2
1は断面円形を有する円柱形状の音響レンズで、音響レ
ンズ21の成膜面である上部端面に圧電素子が配設され
る。圧電素子の配設状態は第3図に基づいて先に説明し
た通りである。圧電素子の上側と下側にはそれぞれ上部
電極と下部電極が配設され、これらの電極を介して超音
波を発生する振動を起こすための電力が供給される。第
1図は下部電極を形成するための構成を示している。音
響レンズ21は透明な部材で形成されており、前記の上
部端面(成膜面)には全面的にレジスト22が塗布され
、その反対に位置する下部の面には凹状レンズ面23と
その周囲に円錐外周面24か形成されている。
1は断面円形を有する円柱形状の音響レンズで、音響レ
ンズ21の成膜面である上部端面に圧電素子が配設され
る。圧電素子の配設状態は第3図に基づいて先に説明し
た通りである。圧電素子の上側と下側にはそれぞれ上部
電極と下部電極が配設され、これらの電極を介して超音
波を発生する振動を起こすための電力が供給される。第
1図は下部電極を形成するための構成を示している。音
響レンズ21は透明な部材で形成されており、前記の上
部端面(成膜面)には全面的にレジスト22が塗布され
、その反対に位置する下部の面には凹状レンズ面23と
その周囲に円錐外周面24か形成されている。
音響レンズ21の下方の位置には点状の孔25aか形成
された板25か第1図中にて水平状態に配設される。こ
の板25は、音響レンズ21の凹状レンズ面23の焦点
距離fの位置に配置され、且つ前記の点状の孔25aの
配置位置が凹状レンズ面23の焦点位置になるように配
置される。板25の下方には更に光源か配置され、この
光源による平行光線26が与えられる。従って、孔25
aの位置には実質的に点光源か配設されたことになる。
された板25か第1図中にて水平状態に配設される。こ
の板25は、音響レンズ21の凹状レンズ面23の焦点
距離fの位置に配置され、且つ前記の点状の孔25aの
配置位置が凹状レンズ面23の焦点位置になるように配
置される。板25の下方には更に光源か配置され、この
光源による平行光線26が与えられる。従って、孔25
aの位置には実質的に点光源か配設されたことになる。
また、所要の光強度を有する点光源に相当する光源が存
在するのであれば、当該光源を直接に孔25aの配置位
置に配設して利用すること力(できる。本実施例の場合
には、板25の下方の位置に点光源に比較して大型の光
源が配設される。
在するのであれば、当該光源を直接に孔25aの配置位
置に配設して利用すること力(できる。本実施例の場合
には、板25の下方の位置に点光源に比較して大型の光
源が配設される。
第1図の構成によれば次のような作用が生じる。
板25の下方から照射された平行光線26は、点状の孔
25aから点光源として音響レンズ21の側に出射され
る。このとき凹状レンズ面23番こ到達した光26Aは
レンズ界面との屈折作用により平行光線26Bとなって
音響レンズ21内を上方に向かって進行する。この平行
光線26Bかレジスト22に達すると、レジスト22は
平行光線26Bによって感光され、その結果、凹状レン
ズ面23のみによって位置決めされるレジスト部分22
aを特定することができる。反対に当該レジスト部分を
下部電極の形成箇所として決定すれば、第1図の構成に
よるレジスト22の露光によって、凹状レンズ面23に
対し正確に位置合わせされた下部電極の形成箇所を決定
することができる。
25aから点光源として音響レンズ21の側に出射され
る。このとき凹状レンズ面23番こ到達した光26Aは
レンズ界面との屈折作用により平行光線26Bとなって
音響レンズ21内を上方に向かって進行する。この平行
光線26Bかレジスト22に達すると、レジスト22は
平行光線26Bによって感光され、その結果、凹状レン
ズ面23のみによって位置決めされるレジスト部分22
aを特定することができる。反対に当該レジスト部分を
下部電極の形成箇所として決定すれば、第1図の構成に
よるレジスト22の露光によって、凹状レンズ面23に
対し正確に位置合わせされた下部電極の形成箇所を決定
することができる。
なお孔25aから音響レンズ21に向かう光のうち、凹
状レンズ面23以外の箇所に到達する光は、円錐面24
で乱反射され、散乱される。
状レンズ面23以外の箇所に到達する光は、円錐面24
で乱反射され、散乱される。
次に第1図で説明された下部電極の形成箇所の決定方法
を利用して、更に下部電極の形成及び超音波探触子の製
造を行う方法を第2図に従って説明する。
を利用して、更に下部電極の形成及び超音波探触子の製
造を行う方法を第2図に従って説明する。
第2図(a)では、第1図で説明した場合と同様にレジ
スト22の露光を行い、凹状レンズ面23で生した平行
光線によって露光されるレジスト部分を現像して除去す
る。次に第2図(b)に示すように、下部電極となる物
質30(例えば、クロム100〜1000人、次いて金
1000〜4000人)を蒸着する。この場合、レジス
ト22の厚みは約2μm程度である。次にアセトンで残
っているレジストを除去しくリフトオフ法)、第2図(
C)で示すように圧電薄膜31、上部電極32をスパッ
タリング又は真空蒸着で形成する。
スト22の露光を行い、凹状レンズ面23で生した平行
光線によって露光されるレジスト部分を現像して除去す
る。次に第2図(b)に示すように、下部電極となる物
質30(例えば、クロム100〜1000人、次いて金
1000〜4000人)を蒸着する。この場合、レジス
ト22の厚みは約2μm程度である。次にアセトンで残
っているレジストを除去しくリフトオフ法)、第2図(
C)で示すように圧電薄膜31、上部電極32をスパッ
タリング又は真空蒸着で形成する。
また下部電極の取出し部の形成方法については、下方よ
りレジスト22を露光した後に、上方から下部電極の取
出しパターンを焼き付けて形成し、その後第2図(b)
で説明した通りリフトオフ法を適用して取出し部を作る
。また、レジスト22をアセトンで除去した後に、取出
しパターンをマスク蒸着することもできる。このマスク
蒸着では、メタルマスクに電極パターンを開けて形成し
ておき、このメタルマスクの開口部を通して電極パター
ンを蒸着する。
りレジスト22を露光した後に、上方から下部電極の取
出しパターンを焼き付けて形成し、その後第2図(b)
で説明した通りリフトオフ法を適用して取出し部を作る
。また、レジスト22をアセトンで除去した後に、取出
しパターンをマスク蒸着することもできる。このマスク
蒸着では、メタルマスクに電極パターンを開けて形成し
ておき、このメタルマスクの開口部を通して電極パター
ンを蒸着する。
上記実施例による製造方法では、超音波の発生領域を決
定する下部電極30を、音響レンズ21の凹状レンズ面
23に基つき、凹状レンズ面23に対して直接的に位置
決めして形成するようにしたため、下部電極と凹状レン
ズ面との間で位置ずれが生じるのを防止することかでき
る。
定する下部電極30を、音響レンズ21の凹状レンズ面
23に基つき、凹状レンズ面23に対して直接的に位置
決めして形成するようにしたため、下部電極と凹状レン
ズ面との間で位置ずれが生じるのを防止することかでき
る。
第3図はシリンドリカル音響レンズ41の製造方法を示
す斜視図である。この場合には直線上のスリット45a
を有する板45が使用される。レジスト42の露光及び
その現像工程は前記の実施例の場合と同じである。この
結果、シリンドリカル音響レンズ41の凹状レンズ面4
3に対応した帯状のレジスト部分が現像され、当該箇所
が下部電極を形成する箇所として決定される。その後に
おいて、圧電膜及び上部電極を形成する工程は前記実施
例の場合と同じである。
す斜視図である。この場合には直線上のスリット45a
を有する板45が使用される。レジスト42の露光及び
その現像工程は前記の実施例の場合と同じである。この
結果、シリンドリカル音響レンズ41の凹状レンズ面4
3に対応した帯状のレジスト部分が現像され、当該箇所
が下部電極を形成する箇所として決定される。その後に
おいて、圧電膜及び上部電極を形成する工程は前記実施
例の場合と同じである。
次に製造方法のその他の変更実施例について説明する。
第1図による実施例では、音響レンズ21の成膜面に直
接にレジスト22を塗布したが、先ず二酸化ケイ素Si
O□ (透明)をλ/2(λは超音波の波長)の厚みで
成膜し、この上にレジストを塗布し、第2図で説明した
場合と同しように、レジストを露光して開けた孔に5i
n2のエツチングを行い、この孔に下部電極を蒸着で形
成し、更に圧電膜及び上部電極を蒸着で形成するように
する。かかる方法でも、下部電極の高精度な位置決めを
行うことができる。この構成によれば、SiO2の上に
おいて発生する超音波は、λ/2の厚みによって減衰さ
れ、音響レンズの凹状レンズ面に達することはない。
接にレジスト22を塗布したが、先ず二酸化ケイ素Si
O□ (透明)をλ/2(λは超音波の波長)の厚みで
成膜し、この上にレジストを塗布し、第2図で説明した
場合と同しように、レジストを露光して開けた孔に5i
n2のエツチングを行い、この孔に下部電極を蒸着で形
成し、更に圧電膜及び上部電極を蒸着で形成するように
する。かかる方法でも、下部電極の高精度な位置決めを
行うことができる。この構成によれば、SiO2の上に
おいて発生する超音波は、λ/2の厚みによって減衰さ
れ、音響レンズの凹状レンズ面に達することはない。
以上の説明で明らかなように本発明によれば、超音波探
触の下部電極と凹状レンズ面との位置合わせを、下方の
所定の位置に点光源を作り、凹状レンズ面に光を照射し
て下部電極の形成箇所を決定するようにしたため、下部
電極と凹状レンズ面の位置合わせを正確に行うことがで
きる。これによって放射される超音波ビームが凹状レン
ズ面の開口部範囲内に存在するように構成されるため、
音響レンズの歩留まりが向上し、音響レンズ内に発生す
るノイズを大幅に低減し、超音波探触子の性能を向上す
ることができる。
触の下部電極と凹状レンズ面との位置合わせを、下方の
所定の位置に点光源を作り、凹状レンズ面に光を照射し
て下部電極の形成箇所を決定するようにしたため、下部
電極と凹状レンズ面の位置合わせを正確に行うことがで
きる。これによって放射される超音波ビームが凹状レン
ズ面の開口部範囲内に存在するように構成されるため、
音響レンズの歩留まりが向上し、音響レンズ内に発生す
るノイズを大幅に低減し、超音波探触子の性能を向上す
ることができる。
第1図は本発明に係る超音波探触子の製造方法の原理を
説明するための縦断面図、第2図は当該製造方法の工程
を示す工程図、第3図はシリンドリカルレンズについて
の製造方法を説明するための斜視図、第4図は従来の超
音波探触子の構成と問題点を説明するための図、第5図
は従来の超音波探触子における他の問題を説明するため
の図である。 C符号の説明〕 21.41・・音響レンズ本体 22.42・・レジスト 23.43・・凹状レンズ面 25.45・・板 26・・・・・平行光線 30・・・・・下部電極 31・・・・・圧電素子 32・・・・・上部電極 第1図 1に26 23.43・・・凹状レンズ面 25.45・・・板 31・・・圧電素子 32・・・上部電極 第4図
説明するための縦断面図、第2図は当該製造方法の工程
を示す工程図、第3図はシリンドリカルレンズについて
の製造方法を説明するための斜視図、第4図は従来の超
音波探触子の構成と問題点を説明するための図、第5図
は従来の超音波探触子における他の問題を説明するため
の図である。 C符号の説明〕 21.41・・音響レンズ本体 22.42・・レジスト 23.43・・凹状レンズ面 25.45・・板 26・・・・・平行光線 30・・・・・下部電極 31・・・・・圧電素子 32・・・・・上部電極 第1図 1に26 23.43・・・凹状レンズ面 25.45・・・板 31・・・圧電素子 32・・・上部電極 第4図
Claims (5)
- (1)音響レンズ本体の一方の端部に超音波を発生する
圧電素子を備え、他方の端部に前記超音波を集束させる
凹状レンズ面を備える超音波探触子であって、試料で反
射された超音波を前記圧電素子で検出して当該試料の情
報を得る前記超音波探触子を製造する方法において、前
記圧電素子を配置しようとする前記音響レンズ本体の前
記一方の端面にホトレジストを設け、前記凹状レンズ面
の焦点に位置する光源から与えられる光を前記凹状レン
ズを通して前記ホトレジストに導き、ホトリソグラフィ
ーを行い、前記圧電素子の下側に配設される電極の配設
位置を決めるようにしたことを特徴とする超音波探触子
の製造方法。 - (2)請求項1記載の超音波探触子の製造方法において
、前記圧電素子の下側に配設される前記電極の形成は、
リフトオフ法によって行われることを特徴とする超音波
探触子の製造方法。 - (3)音響レンズ本体の一方の端部に超音波を発生する
圧電素子を備え、他方の端部に前記超音波を集束させる
凹状レンズ面を備える超音波探触子であって、試料で反
射された超音波を前記圧電素子で検出して当該試料の情
報を得る前記超音波探触子を製造する方法において、前
記圧電素子を配置しようとする前記音響レンズ本体の前
記一方の端面にホトレジストと所定の厚みの二酸化ケイ
素膜を積層状態で設け、前記凹状レンズ面の焦点に位置
する光源から与えられる光を前記凹状レンズを通して前
記ホトレジストに導き、ホトリソグラフィーを行って前
記ホトレジストに孔を開け、このホトレジストを、マス
ク層として前記二酸化ケイ素膜をエッチングして前記圧
電素子の下側に配設される電極の配設位置を決めるよう
にしたことを特徴とする超音波探触子の製造方法。 - (4)請求項1〜3のいずれか1項に記載の超音波探触
子の製造方法において、前記光源は、平行光線を発する
光源と、光源形状を決める孔を有する板部材とからなり
、前記板部材は前記焦点位置に配設されることを特徴と
する超音波探触子の製造方法。 - (5)請求項4記載の超音波探触子の製造方法において
、前記音響レンズ本体はシリンドリカルレンズであり、
前記板部材の孔はスリットであることを特徴とする超音
波探触子の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2234215A JPH04114599A (ja) | 1990-09-04 | 1990-09-04 | 超音波探触子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2234215A JPH04114599A (ja) | 1990-09-04 | 1990-09-04 | 超音波探触子の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04114599A true JPH04114599A (ja) | 1992-04-15 |
Family
ID=16967501
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2234215A Pending JPH04114599A (ja) | 1990-09-04 | 1990-09-04 | 超音波探触子の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04114599A (ja) |
-
1990
- 1990-09-04 JP JP2234215A patent/JPH04114599A/ja active Pending
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