JPH04117701A - 抵抗膜減衰器素子及びこれを組み込んだ伝送経路及びカスケード形減衰器 - Google Patents
抵抗膜減衰器素子及びこれを組み込んだ伝送経路及びカスケード形減衰器Info
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- JPH04117701A JPH04117701A JP2413278A JP41327890A JPH04117701A JP H04117701 A JPH04117701 A JP H04117701A JP 2413278 A JP2413278 A JP 2413278A JP 41327890 A JP41327890 A JP 41327890A JP H04117701 A JPH04117701 A JP H04117701A
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- H01P1/22—Attenuating devices
- H01P1/227—Strip line attenuators
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- Non-Reversible Transmitting Devices (AREA)
- Attenuators (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
[000月
【産業上の利用分野]
本発明は、電気的入力信号の振幅を変えるための減衰器
に関し、特に分布回路網形抵抗膜減衰器に関する。特に
、本発明の一実施例では、共面構造で結合した同調スタ
ブを有する誘電的に取り付けられた抵抗膜分布はしご形
回路網から構成される抵抗膜減衰器素子が与えられ、広
範囲の周波数、例えば、D、 C,から40GH2にわ
たるほぼ平坦な周波数応答を有する減衰器をもならす。 [0002] 【従来の技術】 分布回路網形抵抗膜減衰器については、ヒユーレット・
パラカード・カンパニーに与えられた“′誘電的取付抵
抗膜を伴う固定同軸線減衰器(Fixed Coaxi
al Line Attenuator with D
ielectric Mounted Re5ist、
ive Film)”と題する米国特許第3、227.
975号に記述されている。この減衰器は、広い周波数
範囲、例えば・D−C・から18GHzにわたりほぼ一
定の減衰を行う。 [0003] さらに詳細については、米国特許第3.227.975
号の中に、同軸内部導体のセクション間で円筒形外部導
体の中に支持された誘電プレートを含む固定同軸減衰器
が開示さ−れている。予め定められた幅および長さを有
する抵抗材料の矩形薄板が第一および第二電極対間の誘
電プレート上に置かれる。第一電極対は、外部導体と矩
形薄板の縦側との間に、その全長に沿って電気的接触を
もたらす。第二電極対は、同軸内部導体のセクションと
矩形薄板の横側の中央部との間に電気的接触をもたらす
。 [0004] この種の抵抗膜減衰器は、幾つかの既知の制約を受ける
。最も重要なことであるカミ減衰器の使用周波数範囲に
わたり所望減衰または所望インピーダンスを達成するた
めには、所望減衰およびインピーダンスを維持するため
に抵抗膜を長くしなければならないことがあり、これは
より高い周波数における減衰特性に影響を及ぼすことが
ある。 [0005] さらに、分布回路網形抵抗膜減衰器も、ヒユーレット・
パラカード・カンパニーに与えられ゛内部スイッチング
を用いる可変減衰器(Variable Attenu
ator Employing Internal S
witching)”と題する米国特許第3.319.
194号に記述かれたタイプのカスケード形減衰器に組
み込まれている。この高周波信号減衰器は、共通および
連続接地平面に隣接して伝送線路形状に配置された個別
の減衰器素子を用いて離散的ステップの減衰をもたらす
。このタイプの減衰器は、伝送線路構造の信号および接
地平面導体を切り換えるための複雑なメカニズムの必要
性をなくし、減衰器セクションの接合部において接地平
面導体の未知の接触インピーダンスの導入を省いている
。 [0006] さらに詳細に述べると、米国特許第3.319.194
号に開示された高周波信号用ステップ減衰器は、各々抵
抗カード減衰器および直通(stra i ght−t
hrough )導体を含む多くの切換可能なセクショ
ンを用いて連続接地平面導体で形成されるストリップ線
路構造から成る。2つの信号経路のいずれを選ぶかは、
磁気または機械式アクチュエータを用いて、ある信号経
路を有する接点から他の信号経路を有する接点に、信号
導体をそらすことにより達成される。 [0007] 米国特許第3.227.975号に開示された固定同軸
線減衰器の場合、および米国特許第3.319.194
号に開示されたカスケード減衰器に含まれた抵抗カード
減衰器の場合では、抵抗膜の長さを変えることにより様
々な減衰量(ネーパー)を選択することができる。これ
は、直通導電素子の長さと比べた抵抗カード減衰器の長
さの変化カミ対抗カード減衰器のスイッチとのアライメ
ントに悪影響を及ぼしたり抵抗カード減衰器が電気回路
の内または外で切り換えられるときに電気接続の特性を
悪くさせるおそれのあるカスケード減衰器において特に
困難である。 [0008] したがって、ヒユーレット・パラカード・カンパニーに
与えられ“′抵抗性材料の少なくとも2つの領域を有す
る同軸減衰器(Coaxial Attenuator
s Having at Least Two Reg
ions of Re5istive Materia
l)”と題する米国特許第3.521.201号には、
外部同軸導体内に支持された基板上の選択された離れた
距離に配置された抵抗膜の2つの位置合わせされた矩形
エリアから成る広い周波数範囲にわたりほぼ一定の減衰
をもたらす分布回路網形抵抗膜減衰器が開示されており
、各エリアはその中に小さな位置合わせされた矩形アパ
チャーを有し、膜の選択された部分内の単位面積あたり
の選ばれた抵抗率の値をもたらしている。抵抗膜エリア
は、共振を防止するために減衰された最高周波数電磁波
エネルギーの波長の半分以下の選ばれた長さの接続電極
により接続される。第一の電極対は、外部導体と抵抗膜
の2つの矩形エリアの向かい合う両縁との間に電気的接
触をもたらし、第二の電極対は、同軸内部導体セクショ
ンと抵抗膜部分との間に電気的接触をもたらし、それに
より同軸内部導体セクション間の両エリアを接続してい
る。 [0009] 米国特許第3.521.201号には、抵抗膜内のアパ
チャーの形状および位置が膜の単位面積あたりの抵抗率
を決定することが開示されている。異なる長さおよび幅
の位置合わせされ、等間隔に配置された矩形アパチャー
を与えることにより、単位面積あたりの抵抗率は、抵抗
膜の平面における選択された方向に沿って変動すること
がある。矩形アパチャーを有する抵抗膜の部分は、実際
に内部導体セクションの間に直列抵抗をもたらし、一方
、矩形アパチャーを有する抵抗膜の部分は実際に、抵抗
膜の中央部分と外部導体との間に分路抵抗をもたらして
いる。抵抗膜の単位面積あたりの抵抗率において長さと
ともに対数的または指数的または他の所望の変動をもた
らすために、他のアパチャーのパターンを使用すること
がある。開示されたアパチャーは基板上の格子パターン
に配置された矩形穴および方形穴であるが、一般に、こ
れらのアパチャーは、抵抗膜の単位面積あたりの要求さ
れる抵抗率をもたらすいずれかの形状を有するかいずれ
かの適したパターンに配列することができる。したがっ
て、抵抗膜のこれらの部分における単位面積あたりの抵
抗率の所望値は、アパチャーの寸法、形状、および配置
間隔を選択的に変えることにより得ることができる。単
位面積あたりの所望抵抗率をもたらすためのこの手法が
非常に複雑であることはすぐに明らかである。 [0010] また、米国特許第3.521.201号では、D、 C
,から約18GHzまでの広い周波数範囲にわたる周波
数において減衰の最大線形状性のために、接続電極の長
さを選択したことが開示されている。特に、接続電極は
、減衰器の最高動作周波数における波長の半分よりも長
くない。2つの(さもなげれば絶縁された)抵抗薄板間
の接続電極の長さにわたる信号遅延は、約12.4GH
z〜18GHzの周波数における減衰の周波数線形性を
改善する。接続電極により接続された2つの抵抗膜部分
の組立が製造上の複雑性を増大させていることもすぐに
明らかである。 [0011] 米国特許第3.521.201号に開示されたタイプの
抵抗膜減衰器の構造上の複雑性を考慮して、抵抗膜減衰
器の構造が図1に示す構成に発展された。図1に示す抵
抗膜減衰器は、誘電材料2上にパターン化された抵抗膜
1を有する抵抗膜分布はしご形回路網を含む。連続した
抵抗膜部分IAの各端は、各内部同軸接点と接続してい
る各接点4と接続され、分路抵抗膜部分IBは、同軸外
部導体または接地平面ハウジングの向き合う壁と接続し
ている各接点3に接続されている。あいにくとこの抵抗
膜減衰器の周波数応答のフラット性は、接点4の分離を
変えることにより制御される。しかし、米国特許第3.
319.194号に開示された抵抗膜減衰器の場合、こ
れは、直通導電素子の長さと比べた抵抗カード減衰器の
長さの変化が、抵抗カード減衰器のスイッチとのアライ
メントに悪影響を及ぼしたり、抵抗カード減衰器が電気
回路の内または外で切り換えられるときに電気接続の特
性を悪くさせるおそれのあるカスケード減衰器において
特に困難である。−したがって、容易に制御可能な減衰
値および広範囲の周波数にわたって平坦な周波数応答を
有する経済的かつ容易に製造される抵抗膜減衰器に対す
るニーズがある。 [0012]
に関し、特に分布回路網形抵抗膜減衰器に関する。特に
、本発明の一実施例では、共面構造で結合した同調スタ
ブを有する誘電的に取り付けられた抵抗膜分布はしご形
回路網から構成される抵抗膜減衰器素子が与えられ、広
範囲の周波数、例えば、D、 C,から40GH2にわ
たるほぼ平坦な周波数応答を有する減衰器をもならす。 [0002] 【従来の技術】 分布回路網形抵抗膜減衰器については、ヒユーレット・
パラカード・カンパニーに与えられた“′誘電的取付抵
抗膜を伴う固定同軸線減衰器(Fixed Coaxi
al Line Attenuator with D
ielectric Mounted Re5ist、
ive Film)”と題する米国特許第3、227.
975号に記述されている。この減衰器は、広い周波数
範囲、例えば・D−C・から18GHzにわたりほぼ一
定の減衰を行う。 [0003] さらに詳細については、米国特許第3.227.975
号の中に、同軸内部導体のセクション間で円筒形外部導
体の中に支持された誘電プレートを含む固定同軸減衰器
が開示さ−れている。予め定められた幅および長さを有
する抵抗材料の矩形薄板が第一および第二電極対間の誘
電プレート上に置かれる。第一電極対は、外部導体と矩
形薄板の縦側との間に、その全長に沿って電気的接触を
もたらす。第二電極対は、同軸内部導体のセクションと
矩形薄板の横側の中央部との間に電気的接触をもたらす
。 [0004] この種の抵抗膜減衰器は、幾つかの既知の制約を受ける
。最も重要なことであるカミ減衰器の使用周波数範囲に
わたり所望減衰または所望インピーダンスを達成するた
めには、所望減衰およびインピーダンスを維持するため
に抵抗膜を長くしなければならないことがあり、これは
より高い周波数における減衰特性に影響を及ぼすことが
ある。 [0005] さらに、分布回路網形抵抗膜減衰器も、ヒユーレット・
パラカード・カンパニーに与えられ゛内部スイッチング
を用いる可変減衰器(Variable Attenu
ator Employing Internal S
witching)”と題する米国特許第3.319.
194号に記述かれたタイプのカスケード形減衰器に組
み込まれている。この高周波信号減衰器は、共通および
連続接地平面に隣接して伝送線路形状に配置された個別
の減衰器素子を用いて離散的ステップの減衰をもたらす
。このタイプの減衰器は、伝送線路構造の信号および接
地平面導体を切り換えるための複雑なメカニズムの必要
性をなくし、減衰器セクションの接合部において接地平
面導体の未知の接触インピーダンスの導入を省いている
。 [0006] さらに詳細に述べると、米国特許第3.319.194
号に開示された高周波信号用ステップ減衰器は、各々抵
抗カード減衰器および直通(stra i ght−t
hrough )導体を含む多くの切換可能なセクショ
ンを用いて連続接地平面導体で形成されるストリップ線
路構造から成る。2つの信号経路のいずれを選ぶかは、
磁気または機械式アクチュエータを用いて、ある信号経
路を有する接点から他の信号経路を有する接点に、信号
導体をそらすことにより達成される。 [0007] 米国特許第3.227.975号に開示された固定同軸
線減衰器の場合、および米国特許第3.319.194
号に開示されたカスケード減衰器に含まれた抵抗カード
減衰器の場合では、抵抗膜の長さを変えることにより様
々な減衰量(ネーパー)を選択することができる。これ
は、直通導電素子の長さと比べた抵抗カード減衰器の長
さの変化カミ対抗カード減衰器のスイッチとのアライメ
ントに悪影響を及ぼしたり抵抗カード減衰器が電気回路
の内または外で切り換えられるときに電気接続の特性を
悪くさせるおそれのあるカスケード減衰器において特に
困難である。 [0008] したがって、ヒユーレット・パラカード・カンパニーに
与えられ“′抵抗性材料の少なくとも2つの領域を有す
る同軸減衰器(Coaxial Attenuator
s Having at Least Two Reg
ions of Re5istive Materia
l)”と題する米国特許第3.521.201号には、
外部同軸導体内に支持された基板上の選択された離れた
距離に配置された抵抗膜の2つの位置合わせされた矩形
エリアから成る広い周波数範囲にわたりほぼ一定の減衰
をもたらす分布回路網形抵抗膜減衰器が開示されており
、各エリアはその中に小さな位置合わせされた矩形アパ
チャーを有し、膜の選択された部分内の単位面積あたり
の選ばれた抵抗率の値をもたらしている。抵抗膜エリア
は、共振を防止するために減衰された最高周波数電磁波
エネルギーの波長の半分以下の選ばれた長さの接続電極
により接続される。第一の電極対は、外部導体と抵抗膜
の2つの矩形エリアの向かい合う両縁との間に電気的接
触をもたらし、第二の電極対は、同軸内部導体セクショ
ンと抵抗膜部分との間に電気的接触をもたらし、それに
より同軸内部導体セクション間の両エリアを接続してい
る。 [0009] 米国特許第3.521.201号には、抵抗膜内のアパ
チャーの形状および位置が膜の単位面積あたりの抵抗率
を決定することが開示されている。異なる長さおよび幅
の位置合わせされ、等間隔に配置された矩形アパチャー
を与えることにより、単位面積あたりの抵抗率は、抵抗
膜の平面における選択された方向に沿って変動すること
がある。矩形アパチャーを有する抵抗膜の部分は、実際
に内部導体セクションの間に直列抵抗をもたらし、一方
、矩形アパチャーを有する抵抗膜の部分は実際に、抵抗
膜の中央部分と外部導体との間に分路抵抗をもたらして
いる。抵抗膜の単位面積あたりの抵抗率において長さと
ともに対数的または指数的または他の所望の変動をもた
らすために、他のアパチャーのパターンを使用すること
がある。開示されたアパチャーは基板上の格子パターン
に配置された矩形穴および方形穴であるが、一般に、こ
れらのアパチャーは、抵抗膜の単位面積あたりの要求さ
れる抵抗率をもたらすいずれかの形状を有するかいずれ
かの適したパターンに配列することができる。したがっ
て、抵抗膜のこれらの部分における単位面積あたりの抵
抗率の所望値は、アパチャーの寸法、形状、および配置
間隔を選択的に変えることにより得ることができる。単
位面積あたりの所望抵抗率をもたらすためのこの手法が
非常に複雑であることはすぐに明らかである。 [0010] また、米国特許第3.521.201号では、D、 C
,から約18GHzまでの広い周波数範囲にわたる周波
数において減衰の最大線形状性のために、接続電極の長
さを選択したことが開示されている。特に、接続電極は
、減衰器の最高動作周波数における波長の半分よりも長
くない。2つの(さもなげれば絶縁された)抵抗薄板間
の接続電極の長さにわたる信号遅延は、約12.4GH
z〜18GHzの周波数における減衰の周波数線形性を
改善する。接続電極により接続された2つの抵抗膜部分
の組立が製造上の複雑性を増大させていることもすぐに
明らかである。 [0011] 米国特許第3.521.201号に開示されたタイプの
抵抗膜減衰器の構造上の複雑性を考慮して、抵抗膜減衰
器の構造が図1に示す構成に発展された。図1に示す抵
抗膜減衰器は、誘電材料2上にパターン化された抵抗膜
1を有する抵抗膜分布はしご形回路網を含む。連続した
抵抗膜部分IAの各端は、各内部同軸接点と接続してい
る各接点4と接続され、分路抵抗膜部分IBは、同軸外
部導体または接地平面ハウジングの向き合う壁と接続し
ている各接点3に接続されている。あいにくとこの抵抗
膜減衰器の周波数応答のフラット性は、接点4の分離を
変えることにより制御される。しかし、米国特許第3.
319.194号に開示された抵抗膜減衰器の場合、こ
れは、直通導電素子の長さと比べた抵抗カード減衰器の
長さの変化が、抵抗カード減衰器のスイッチとのアライ
メントに悪影響を及ぼしたり、抵抗カード減衰器が電気
回路の内または外で切り換えられるときに電気接続の特
性を悪くさせるおそれのあるカスケード減衰器において
特に困難である。−したがって、容易に制御可能な減衰
値および広範囲の周波数にわたって平坦な周波数応答を
有する経済的かつ容易に製造される抵抗膜減衰器に対す
るニーズがある。 [0012]
本発明の課題は、広周波数範囲にわたって平坦な周波数
応答を有する経済的で生産性の高い抵抗膜減衰器を提供
することである。 [0013]
応答を有する経済的で生産性の高い抵抗膜減衰器を提供
することである。 [0013]
本発明の1つの実施例では、共面構造で結合された、同
調スタブを有する誘電取付抵抗膜分布はしご形回路網か
ら成る抵抗膜減衰器素子を与える。同調スタブは、抵抗
膜または導電材料から形成することができる。 [0014] 本発明に従う抵抗膜減衰器素子は、誘電基板上にパター
ン化された抵抗膜を有する抵抗膜分布はしご形回路網を
含む。連続抵抗膜部分の各端は、固定同軸線減衰器また
はカスケード形減衰器の各内部同軸接点間に接続するこ
とのできる各接点に接続される。分路抵抗膜部分は、固
定同軸線減衰器の同軸外部導体またはカスケード形減衰
器の接地平面ハウジングの向き合う壁の間に接続可能な
各接点に接続される。同調スタブは、分路抵抗膜部分の
中間に配置される。同調スタブはその一端が、分路抵抗
膜部分の接続された各接点に接続され、各連続抵抗膜部
分の方に伸びている。 [0015] 本発明に従う減衰器素子の周波数応答は、同調スタブの
長さを変えることにより調整される。本発明の一実施例
に従うカスケード形減衰器は、広い周波数範囲例えば、
D、 C,から40GHzにわたりほぼ平坦な周波数応
答を有するステップ減衰器をもたらす。 [0016]
調スタブを有する誘電取付抵抗膜分布はしご形回路網か
ら成る抵抗膜減衰器素子を与える。同調スタブは、抵抗
膜または導電材料から形成することができる。 [0014] 本発明に従う抵抗膜減衰器素子は、誘電基板上にパター
ン化された抵抗膜を有する抵抗膜分布はしご形回路網を
含む。連続抵抗膜部分の各端は、固定同軸線減衰器また
はカスケード形減衰器の各内部同軸接点間に接続するこ
とのできる各接点に接続される。分路抵抗膜部分は、固
定同軸線減衰器の同軸外部導体またはカスケード形減衰
器の接地平面ハウジングの向き合う壁の間に接続可能な
各接点に接続される。同調スタブは、分路抵抗膜部分の
中間に配置される。同調スタブはその一端が、分路抵抗
膜部分の接続された各接点に接続され、各連続抵抗膜部
分の方に伸びている。 [0015] 本発明に従う減衰器素子の周波数応答は、同調スタブの
長さを変えることにより調整される。本発明の一実施例
に従うカスケード形減衰器は、広い周波数範囲例えば、
D、 C,から40GHzにわたりほぼ平坦な周波数応
答を有するステップ減衰器をもたらす。 [0016]
分布回路網形抵抗膜減衰器素子の1つの実施例は、図2
に示され、一般に数字10で示される。減衰器素子10
には、誘電基板12を含む。誘電基板12は、サファイ
アにすることができ、矩形であることが望ましく、はぼ
平らな表面を有している[0017] さらに図2を参照するが、減衰器素子10は、誘電基板
12上に抵抗膜14をさらに含む。抵抗膜14は、軸1
7に沿って等間隔に誘電基板12の表面上に置かれる。 分布定数減衰はしご形回路網は、図1のところですでに
述べた従来パターンの誘電基板12上に抵抗膜14を構
成することによりもたらされる。 [0018] 抵抗膜14は、誘電基板12上に指示されたパターンで
、選択的に付着することができる。代りとして、指示パ
ターンを連続付着膜にエツチングすることもできる。抵
抗膜14は、既知の薄膜または厚膜手法を用いて、誘電
基板12の表面上に、窒化タンタルなどの金属で形成す
ることが望ましい。 [0019] 公称減衰値は、抵抗膜14の直列部分14Aの適切な長
さ” L”を選択することにより与えられる。抵抗膜1
4の抵抗率は、直列部分14Aの幅゛′w とその分路
部分14Bの幅((WW//との比に比例して変わるの
で、抵抗率は、付着された抵抗膜の幅1+および″WW
”の比を変えることにより、正確な所望の減衰値を得る
ことができる。しかし、幅IIw および°ww”は、
減衰器素子10を固定同軸線減衰器またはカスケード形
減衰器に組み込んだときに該素子10のインピーダンス
にも影響を及ぼすので、幅ITw およびWW は、
等しいパーセント量によってさらに調整し、所望インピ
ーダンス、例えば、50オームを与えることもできる。 [0020] 抵抗膜14は、誘電基板12の表面上に設けられた2対
の非常に導電性のある電極16および18の間に接触し
ていれである。抵抗膜14の分路部分14Bの外側長手
方向縁は、導電電極対16と電気的に接触して配置され
ている。導電電極対18は、軸17に沿って配置され、
幅” www を有している。第2の導電電極対18
は、抵抗膜14の直列部分14Aの外側横方向縁と電気
的に接続されている。導電電極16および18は、抵抗
膜14を形成することの望ましい金属の付着よりも前に
、誘電基板12上に金などの導電性金属の薄層を付着す
ることにより形成することができる。 [0021] 減衰器素子10はさらに同調スタブ20を含む。同調ス
タブ20は、抵抗膜14の分路部分14Bの中間の誘電
基板12の表面上に置かれる。同調スタブ20は、その
一端で抵抗膜14の分路部分14Bが接続され抵抗膜の
各直列抵抗膜部分14Bの方に伸びている導電電極16
に接続されている。減衰器素子10の周波数応答は、同
調スタブ20の長ざ°LL″′を変えることにより調整
される。同調スタブ20は、誘電基板12上に選択的に
付着される。その後で、同調スタブ20の長さ調整は、
例えばダイヤモンド罫書針などで、付着した材料をひっ
かくことにより達成することができる。 [0022] 同調スタブ20は、窒化タンタルなどの抵抗膜14と同
じ材料で形成することができる。代りとして、同調スタ
ブ20は、導電電極16の延長部分として誘電基板12
上に、金などの導電金属の薄層で形成することができる
。 [0023] 本発明に従う減衰器素子10は、図3に示すように、固
定同軸線減衰器に組み込むことができる。今度は図3を
参照するが、支持された減衰器素子10が中にある円筒
形外部導体110から成る固定同軸減衰器100が示し
である。誘電基板12は、その長手縁が、外部導体11
0のほぼ直径方向で向き合う部分と接触するほど充分な
幅である。誘電基板12の軸17ば、同軸内部導体12
0のセクションの中実軸117と位置合わせされている
。 [0024] 導電電極16は、外部導体110と抵抗膜14の分路部
分14Bの外側縦方向縁との間にその全長にわたり配置
され、抵抗膜と外部導体110の間に良好な電気信号接
続をもたらしている。導電電極18は、同軸内部導体1
20セクシヨンと抵抗膜14の直列部分14Aの外側横
方向縁の中央部分との間に配置され、該中央部と同軸内
部導体セクションとの間に良好な電気信号接続をもたら
し、内部導体セクション120間に連続導電経路を形成
している。 [0025] 本発明に従う減衰器素子10は、図4に示すように、カ
スケード形減衰器にも組み込むこをかできる。今度は図
4を参照するが、ストリップ線路の接地平面導体を形成
する本体209が示しである。本体209の両端にある
各同軸コネクタ211、213には、ストリップ線路導
体217に接続された外部導体219とを含む。ストリ
ップ線路導体217に適合して結合された中央導体21
5と、本体209は、本体209の側壁の縦溝に取り付
けられた誘電スラブ221上に支持される。 [0026] 平行対の信号導電素子225および227は、ストリッ
プ線路導体217の長さ方向に沿って選択された間隔で
、ストリップ線路導体217の平面の上下に本体209
内で配置される。下方導電素子225は、直通伝送線路
を成し、本体209の側壁の縦溝に取り付けられた誘電
スラブ231により支持される導電ストリップ線路22
9を含む。ストリップ線路229の幅は減少され、接地
平面導体と近接した間隔で形成された伝送線路の特性イ
ンピーダンスを保っている。上方導電素子227は、減
衰伝送路を成し、本体209の側壁の別の縦溝に取り付
けられその縦縁に沿い本体209に接続された減衰器素
子10を含む。 [0027] ストリップ線路導体217は、平行対の信号伝送路の各
側に可撓部247を備え、これはスイッチング素子とし
て機能する。スイッチング素子247は、適切な電磁石
249およびプログラミング電源250により電磁的に
、またはアクチュエータ251およびプログラミング・
カム・アセンブリ253により機械的に作動される。ア
クチュエータ251は、任意の誘電材料にすることがで
き、本体209のアパチャーを通っており、信号漏れが
無視できるぐらいにするために、該アパチャーは、減衰
器に加えられる信号周波数のカットオフを越える導波管
として作動するような寸法になっている。 [0028] 平行対の信号伝送路の両端にあるストリップ線路導体2
47を、減衰器素子10の経路に切り換えることにより
、選択的な減衰ステップがもたらされる。5dB 、1
0dB、20dB、および40dBなどの各選ばれた値
の減衰器素子10を伴う多数の該経路を与えると、減衰
伝送路または直通伝送路を選択的に切り換えることによ
り、5dBの増分で5dB〜75dBまでの多くの減衰
ステップをもたらすことができる。この選択は、プログ
ラムされた電源250(磁気アクチュエータととも−に
使用)またはカム、アセンブリ253(減衰セレクタ・
ダイヤル255の位置に応じて機械式アクチュエータ2
51とともに)のいずれかにより従来の方法で行う。 [0029] 図5Aは、40dBに設定された従来のカスケード形減
衰器の周波数応答を示す。図5Aは、周波数が増加する
とともに減衰量が減ることを明示している。図5Bは、
同調スタブカ飄抵抗膜14の直列部14Aから最小クリ
アランスを有するような最大長の同調スタブ20を有す
る減衰器素子10を伴う、40dBに設定した図4に示
すカスケード形減衰器の周波数応答を示す。図5Bは、
図5Aに示す減衰量減少傾向の逆を明らかにしており、
同調スタブ20を与えることにより周波数が増加すると
ともに減衰量が増大することを示している。最後に、図
5Cは、最適な平坦応答特性を与えるように調整した長
さの同調スタブ20を有する減衰器素子10を伴う、4
0dBに設定された図4に示すカスケード形減衰器の周
波数応答を示す。 [0030]
に示され、一般に数字10で示される。減衰器素子10
には、誘電基板12を含む。誘電基板12は、サファイ
アにすることができ、矩形であることが望ましく、はぼ
平らな表面を有している[0017] さらに図2を参照するが、減衰器素子10は、誘電基板
12上に抵抗膜14をさらに含む。抵抗膜14は、軸1
7に沿って等間隔に誘電基板12の表面上に置かれる。 分布定数減衰はしご形回路網は、図1のところですでに
述べた従来パターンの誘電基板12上に抵抗膜14を構
成することによりもたらされる。 [0018] 抵抗膜14は、誘電基板12上に指示されたパターンで
、選択的に付着することができる。代りとして、指示パ
ターンを連続付着膜にエツチングすることもできる。抵
抗膜14は、既知の薄膜または厚膜手法を用いて、誘電
基板12の表面上に、窒化タンタルなどの金属で形成す
ることが望ましい。 [0019] 公称減衰値は、抵抗膜14の直列部分14Aの適切な長
さ” L”を選択することにより与えられる。抵抗膜1
4の抵抗率は、直列部分14Aの幅゛′w とその分路
部分14Bの幅((WW//との比に比例して変わるの
で、抵抗率は、付着された抵抗膜の幅1+および″WW
”の比を変えることにより、正確な所望の減衰値を得る
ことができる。しかし、幅IIw および°ww”は、
減衰器素子10を固定同軸線減衰器またはカスケード形
減衰器に組み込んだときに該素子10のインピーダンス
にも影響を及ぼすので、幅ITw およびWW は、
等しいパーセント量によってさらに調整し、所望インピ
ーダンス、例えば、50オームを与えることもできる。 [0020] 抵抗膜14は、誘電基板12の表面上に設けられた2対
の非常に導電性のある電極16および18の間に接触し
ていれである。抵抗膜14の分路部分14Bの外側長手
方向縁は、導電電極対16と電気的に接触して配置され
ている。導電電極対18は、軸17に沿って配置され、
幅” www を有している。第2の導電電極対18
は、抵抗膜14の直列部分14Aの外側横方向縁と電気
的に接続されている。導電電極16および18は、抵抗
膜14を形成することの望ましい金属の付着よりも前に
、誘電基板12上に金などの導電性金属の薄層を付着す
ることにより形成することができる。 [0021] 減衰器素子10はさらに同調スタブ20を含む。同調ス
タブ20は、抵抗膜14の分路部分14Bの中間の誘電
基板12の表面上に置かれる。同調スタブ20は、その
一端で抵抗膜14の分路部分14Bが接続され抵抗膜の
各直列抵抗膜部分14Bの方に伸びている導電電極16
に接続されている。減衰器素子10の周波数応答は、同
調スタブ20の長ざ°LL″′を変えることにより調整
される。同調スタブ20は、誘電基板12上に選択的に
付着される。その後で、同調スタブ20の長さ調整は、
例えばダイヤモンド罫書針などで、付着した材料をひっ
かくことにより達成することができる。 [0022] 同調スタブ20は、窒化タンタルなどの抵抗膜14と同
じ材料で形成することができる。代りとして、同調スタ
ブ20は、導電電極16の延長部分として誘電基板12
上に、金などの導電金属の薄層で形成することができる
。 [0023] 本発明に従う減衰器素子10は、図3に示すように、固
定同軸線減衰器に組み込むことができる。今度は図3を
参照するが、支持された減衰器素子10が中にある円筒
形外部導体110から成る固定同軸減衰器100が示し
である。誘電基板12は、その長手縁が、外部導体11
0のほぼ直径方向で向き合う部分と接触するほど充分な
幅である。誘電基板12の軸17ば、同軸内部導体12
0のセクションの中実軸117と位置合わせされている
。 [0024] 導電電極16は、外部導体110と抵抗膜14の分路部
分14Bの外側縦方向縁との間にその全長にわたり配置
され、抵抗膜と外部導体110の間に良好な電気信号接
続をもたらしている。導電電極18は、同軸内部導体1
20セクシヨンと抵抗膜14の直列部分14Aの外側横
方向縁の中央部分との間に配置され、該中央部と同軸内
部導体セクションとの間に良好な電気信号接続をもたら
し、内部導体セクション120間に連続導電経路を形成
している。 [0025] 本発明に従う減衰器素子10は、図4に示すように、カ
スケード形減衰器にも組み込むこをかできる。今度は図
4を参照するが、ストリップ線路の接地平面導体を形成
する本体209が示しである。本体209の両端にある
各同軸コネクタ211、213には、ストリップ線路導
体217に接続された外部導体219とを含む。ストリ
ップ線路導体217に適合して結合された中央導体21
5と、本体209は、本体209の側壁の縦溝に取り付
けられた誘電スラブ221上に支持される。 [0026] 平行対の信号導電素子225および227は、ストリッ
プ線路導体217の長さ方向に沿って選択された間隔で
、ストリップ線路導体217の平面の上下に本体209
内で配置される。下方導電素子225は、直通伝送線路
を成し、本体209の側壁の縦溝に取り付けられた誘電
スラブ231により支持される導電ストリップ線路22
9を含む。ストリップ線路229の幅は減少され、接地
平面導体と近接した間隔で形成された伝送線路の特性イ
ンピーダンスを保っている。上方導電素子227は、減
衰伝送路を成し、本体209の側壁の別の縦溝に取り付
けられその縦縁に沿い本体209に接続された減衰器素
子10を含む。 [0027] ストリップ線路導体217は、平行対の信号伝送路の各
側に可撓部247を備え、これはスイッチング素子とし
て機能する。スイッチング素子247は、適切な電磁石
249およびプログラミング電源250により電磁的に
、またはアクチュエータ251およびプログラミング・
カム・アセンブリ253により機械的に作動される。ア
クチュエータ251は、任意の誘電材料にすることがで
き、本体209のアパチャーを通っており、信号漏れが
無視できるぐらいにするために、該アパチャーは、減衰
器に加えられる信号周波数のカットオフを越える導波管
として作動するような寸法になっている。 [0028] 平行対の信号伝送路の両端にあるストリップ線路導体2
47を、減衰器素子10の経路に切り換えることにより
、選択的な減衰ステップがもたらされる。5dB 、1
0dB、20dB、および40dBなどの各選ばれた値
の減衰器素子10を伴う多数の該経路を与えると、減衰
伝送路または直通伝送路を選択的に切り換えることによ
り、5dBの増分で5dB〜75dBまでの多くの減衰
ステップをもたらすことができる。この選択は、プログ
ラムされた電源250(磁気アクチュエータととも−に
使用)またはカム、アセンブリ253(減衰セレクタ・
ダイヤル255の位置に応じて機械式アクチュエータ2
51とともに)のいずれかにより従来の方法で行う。 [0029] 図5Aは、40dBに設定された従来のカスケード形減
衰器の周波数応答を示す。図5Aは、周波数が増加する
とともに減衰量が減ることを明示している。図5Bは、
同調スタブカ飄抵抗膜14の直列部14Aから最小クリ
アランスを有するような最大長の同調スタブ20を有す
る減衰器素子10を伴う、40dBに設定した図4に示
すカスケード形減衰器の周波数応答を示す。図5Bは、
図5Aに示す減衰量減少傾向の逆を明らかにしており、
同調スタブ20を与えることにより周波数が増加すると
ともに減衰量が増大することを示している。最後に、図
5Cは、最適な平坦応答特性を与えるように調整した長
さの同調スタブ20を有する減衰器素子10を伴う、4
0dBに設定された図4に示すカスケード形減衰器の周
波数応答を示す。 [0030]
以上説明したように、本発明を用いることにより、経済
的、高生産性で、容易に減衰値を制御できる、広周波数
範囲にわたって平坦な周波数底、)二を有する抵抗膜減
衰器を提供することができる。
的、高生産性で、容易に減衰値を制御できる、広周波数
範囲にわたって平坦な周波数底、)二を有する抵抗膜減
衰器を提供することができる。
【図1】
従来の誘電取付抵抗膜分布はしご形回路網減衰器を示す
図である。
図である。
【図2】
本発明の一実施例を示す図である。
【図3】
図2に示す装置を組み込んだ固定同軸線減衰器を示す図
である。
である。
【図4】
図2に示す装置を組み込んだカスケード形減衰器を示す
図である。
図である。
【図5】
従来のカスケード形減衰器及び図4に示すカスケード形
減衰器の周波数応答を示す図である。
減衰器の周波数応答を示す図である。
12:誘電基板
14:抵抗膜
16.18:電極
20:同調スタブ
[書類者】
【図1】
図面
【図3】
t
【図4】
【図5A]
【図5B]
【図5C]
Claims (1)
- 【請求項1】 誘電基板と、 前記誘電基板に付着された抵抗膜分布はしご形回路網と
、前記誘電基板に付着され、前記抵抗膜分布はしご形回
路網と同一平面上で結合された同調スタブと、 を備えて成る抵抗膜減衰器素子。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US454673 | 1982-12-30 | ||
| US07/454,673 US5039961A (en) | 1989-12-21 | 1989-12-21 | Coplanar attenuator element having tuning stubs |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04117701A true JPH04117701A (ja) | 1992-04-17 |
| JP3112174B2 JP3112174B2 (ja) | 2000-11-27 |
Family
ID=23805599
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02413278A Expired - Fee Related JP3112174B2 (ja) | 1989-12-21 | 1990-12-21 | 抵抗膜減衰器素子及びこれを組み込んだ伝送経路及びカスケード形減衰器 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5039961A (ja) |
| JP (1) | JP3112174B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5194834A (en) * | 1991-06-13 | 1993-03-16 | Semflex, Inc. | Apparatus for a matched and adjustable microwave frequency selective attenuator unit |
| US5929719A (en) * | 1997-06-19 | 1999-07-27 | Turner; Mark | Shielded cable with in-line attenuator |
| US6380826B1 (en) * | 2000-03-20 | 2002-04-30 | John Mezzalingua Associates, Inc. | Filter assembly |
| US8218283B2 (en) * | 2005-07-15 | 2012-07-10 | Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) | Resistive films for electrode peak-field suppression |
| RU2308126C1 (ru) * | 2005-12-12 | 2007-10-10 | Казанский государственный технический университет им. А.Н. Туполева | Микрополосковый аттенюатор |
| RU2309489C2 (ru) * | 2005-12-12 | 2007-10-27 | Казанский государственный технический университет им. А.Н. Туполева | Полосковый аттенюатор |
| JP4420896B2 (ja) * | 2005-12-28 | 2010-02-24 | ヒロセ電機株式会社 | 抵抗基板と該抵抗基板を備えた減衰器 |
| DE202008009225U1 (de) * | 2008-07-09 | 2008-09-18 | Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg | Streifenleitung mit Durchkontaktierung |
| US7986197B2 (en) * | 2008-09-12 | 2011-07-26 | Lonestar Inventions, L.P. | Compact distributed ladder attenuator |
| US20100295637A1 (en) * | 2009-05-19 | 2010-11-25 | Hatem Aead | Coaxial Attenuator and Method of Manufacture |
| US8143969B2 (en) * | 2009-10-09 | 2012-03-27 | State Of The Art, Inc. | Multiple tap attenuator microchip device |
| US9406741B2 (en) * | 2010-11-30 | 2016-08-02 | Skyworks Solutions, Inc. | Thin film resistor having improved power handling capability |
| US9078371B2 (en) | 2012-10-15 | 2015-07-07 | Raytheon Company | Radiofrequency absorptive filter |
| RU2638541C2 (ru) * | 2015-11-25 | 2017-12-14 | Открытое акционерное общество "Омский научно-исследовательский институт приборостроения" (ОАО "ОНИИП") | Конструкция тонкопленочного чип резистивного вч-аттенюатора |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3227975A (en) * | 1964-08-31 | 1966-01-04 | Hewlett Packard Co | Fixed coaxial line attenuator with dielectric-mounted resistive film |
| US3319194A (en) * | 1965-10-08 | 1967-05-09 | Hewlett Packard Co | Variable attenuator employing internal switching |
| US3521201A (en) * | 1968-11-01 | 1970-07-21 | Hewlett Packard Co | Coaxial attenuator having at least two regions of resistive material |
| US4011531A (en) * | 1975-09-29 | 1977-03-08 | Midwest Microwave, Inc. | Microwave attenuator having compensating inductive element |
| US4272739A (en) * | 1979-10-18 | 1981-06-09 | Morton Nesses | High-precision electrical signal attenuator structures |
| JPS5925401A (ja) * | 1982-07-31 | 1984-02-09 | Anritsu Corp | 抵抗減衰器 |
| JPS59165502A (ja) * | 1983-03-09 | 1984-09-18 | Fujitsu Ltd | 抵抗減衰器 |
| JPS60160201A (ja) * | 1984-01-30 | 1985-08-21 | Fujitsu Ltd | 減衰器 |
| US4670723A (en) * | 1985-03-18 | 1987-06-02 | Tektronix, Inc. | Broad band, thin film attenuator and method for construction thereof |
| JPS62207001A (ja) * | 1986-03-07 | 1987-09-11 | Murata Mfg Co Ltd | マイクロ波用アツテネ−タ回路 |
| JPS62254503A (ja) * | 1986-04-28 | 1987-11-06 | Nec Corp | ミリ波減衰器 |
| JP5327104B2 (ja) | 2010-03-05 | 2013-10-30 | カシオ電子工業株式会社 | 定着装置の異常検出装置 |
| JP5714602B2 (ja) | 2010-11-24 | 2015-05-07 | ヤマサ醤油株式会社 | 新規な2−アルキニル−n9−プロパギルアデニンおよびその医薬用途 |
-
1989
- 1989-12-21 US US07/454,673 patent/US5039961A/en not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-12-21 JP JP02413278A patent/JP3112174B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3112174B2 (ja) | 2000-11-27 |
| US5039961A (en) | 1991-08-13 |
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Legal Events
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