JPH0411845B2 - - Google Patents
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- JPH0411845B2 JPH0411845B2 JP1877990A JP1877990A JPH0411845B2 JP H0411845 B2 JPH0411845 B2 JP H0411845B2 JP 1877990 A JP1877990 A JP 1877990A JP 1877990 A JP1877990 A JP 1877990A JP H0411845 B2 JPH0411845 B2 JP H0411845B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、カメラ等の光学装置の焦点検出装置
に係り、特に焦点検出される主結像光学系により
形成された物体像を一対の再結像光学系により
夫々対応する一対の受光装置に再結像し、各受光
装置上の再結像の相対位置関係を検出し主結像光
学系の焦点検出を行う焦点検出装置に関する。
に係り、特に焦点検出される主結像光学系により
形成された物体像を一対の再結像光学系により
夫々対応する一対の受光装置に再結像し、各受光
装置上の再結像の相対位置関係を検出し主結像光
学系の焦点検出を行う焦点検出装置に関する。
従来のこの種のカメラ用焦点検出装置の光学系
を第1図に示す。第1図A及びBは夫々正面図及
び平面図であり、撮影レンズ1の予定焦点面2又
はその近傍にフイールドレンズ3が配置されてい
る。この予定焦点面2はフイルムと共役な位置又
はその近傍位置であり、一対の再結像レンズ4
A,4Bに関して上記予定焦点面2と略共役な面
5に像位置検出用光電装置6A,6Bが夫々配置
されている。上記予定焦点面2には撮影レンズ1
による被写体像が形成され、上記共役面5には再
結像レンズ4A,4Bによる上記被写体像の二次
像が形成されるので、上記予定焦点面2を一次像
面、共役面5を二次像面と称する。また、一次像
面2上の中央部、具体的には撮影レンズ光軸Oを
中心とした矩形領域2Aが焦点検出に使用される
領域であるので、これを一次像面検出領域と呼
び、この一次像面検出領域2Aと共役な二次像面
5上の領域を二次像面検出領域と称する。当然こ
の二次像面検出領域5A,5Bは夫々光電装置6
A,6Bの受光面と一致している。即ち、一次像
面検出領域2Aは6A,6Bの受光面の再結像レ
ンズ4A,4Bによる像となつている。撮影レン
ズ1の光軸方向への移動により被写体像が光軸O
上を移動すると、それに伴い再結像レンズ4A,
4Bによる二次像は二次像面上で変位する。光電
装置6Aとそれ上の二次像との相対位置と、光電
装置6Bとそれ上の二次像との相対位置ととの検
出から撮影レンズ1の焦点調節状態を判別でき
る。
を第1図に示す。第1図A及びBは夫々正面図及
び平面図であり、撮影レンズ1の予定焦点面2又
はその近傍にフイールドレンズ3が配置されてい
る。この予定焦点面2はフイルムと共役な位置又
はその近傍位置であり、一対の再結像レンズ4
A,4Bに関して上記予定焦点面2と略共役な面
5に像位置検出用光電装置6A,6Bが夫々配置
されている。上記予定焦点面2には撮影レンズ1
による被写体像が形成され、上記共役面5には再
結像レンズ4A,4Bによる上記被写体像の二次
像が形成されるので、上記予定焦点面2を一次像
面、共役面5を二次像面と称する。また、一次像
面2上の中央部、具体的には撮影レンズ光軸Oを
中心とした矩形領域2Aが焦点検出に使用される
領域であるので、これを一次像面検出領域と呼
び、この一次像面検出領域2Aと共役な二次像面
5上の領域を二次像面検出領域と称する。当然こ
の二次像面検出領域5A,5Bは夫々光電装置6
A,6Bの受光面と一致している。即ち、一次像
面検出領域2Aは6A,6Bの受光面の再結像レ
ンズ4A,4Bによる像となつている。撮影レン
ズ1の光軸方向への移動により被写体像が光軸O
上を移動すると、それに伴い再結像レンズ4A,
4Bによる二次像は二次像面上で変位する。光電
装置6Aとそれ上の二次像との相対位置と、光電
装置6Bとそれ上の二次像との相対位置ととの検
出から撮影レンズ1の焦点調節状態を判別でき
る。
しかしながら、この焦点検出装置は、点線で囲
んだ焦点検出光学系7の容積が大きく、カメラボ
デイ内部に収容することが極めて困難であるとい
う欠点がある。
んだ焦点検出光学系7の容積が大きく、カメラボ
デイ内部に収容することが極めて困難であるとい
う欠点がある。
そして、検出エリアとしての一次像面検出領域
の大きさを変えずに焦点検出光学系7をコンパク
トにすると、焦点検出光学系7にとつて検出しな
ければならない画角が広くなるために検出領域中
央部を除いて歪曲等の収差の影響が無視できなく
なり、検出精度が悪くなると言う問題がある。
の大きさを変えずに焦点検出光学系7をコンパク
トにすると、焦点検出光学系7にとつて検出しな
ければならない画角が広くなるために検出領域中
央部を除いて歪曲等の収差の影響が無視できなく
なり、検出精度が悪くなると言う問題がある。
本発明はこれらの従来の問題点に鑑みて成され
たもので、カメラの通常のスペースに収まる程度
にコンパクトで且つ検出精度の高い焦点検出装置
を提供することを目的とする。
たもので、カメラの通常のスペースに収まる程度
にコンパクトで且つ検出精度の高い焦点検出装置
を提供することを目的とする。
以下に本発明の焦点検出装置を一眼レフカメラ
用焦点検出装置に適用した実施例を図面を参照し
て説明する。
用焦点検出装置に適用した実施例を図面を参照し
て説明する。
一眼レフカメラの光学系の概略を示す第3図に
おいて、撮影レンズ1を通つた被写体光は、一部
がクイツクリターンミラー11によりフアインダ
の焦点板12の方へ反射され、残部はミラー11
を透過してフイルム面13の前方にあるサブミラ
ー14によりミラーボツクス下方へ反射される。
ミラーボツクスの底板15には、矩形開口15a
が穿設され、この底板15の下には反射型焦点検
出光学ブロツク体16が配設されている。
おいて、撮影レンズ1を通つた被写体光は、一部
がクイツクリターンミラー11によりフアインダ
の焦点板12の方へ反射され、残部はミラー11
を透過してフイルム面13の前方にあるサブミラ
ー14によりミラーボツクス下方へ反射される。
ミラーボツクスの底板15には、矩形開口15a
が穿設され、この底板15の下には反射型焦点検
出光学ブロツク体16が配設されている。
このブロツク体16を第4図と第5図を用いて
詳述する。
詳述する。
同図において、屈折率n(n>1)のガラスや
プラスチツク等の透明直方体ブロツク160に
は、その上面の左端近傍に平凸のフイールドレン
ズ161が貼付されている。このレンズ161は
ブロツク160との接合面が平面で、凸面の頂点
にほぼ接する様に開口付遮光板162が設けられ
ている。この遮光板162は撮影レンズ1の予定
焦点面即ち一次像面上又はその近傍に配置され、
第5図Aに示すようにその中央部の矩形開口16
2aは一次像面検出領域2Aの寸法よりわずかに
大きい寸法に定められ、第3図の底板15の開口
15aの真下に位置する様に定められている。こ
のように矩形開口162aを一次像面検出領域2
Aよりわずかに大きい寸法に定めることにより、
小型化にともなうブロツク160の壁面反射の影
響をなくし、且つ不用な光が光電変換装置16
7,168上に投影されて、受光部以外の部分に
入射した光によるノイズ成分の発生を抑制でき
る。
プラスチツク等の透明直方体ブロツク160に
は、その上面の左端近傍に平凸のフイールドレン
ズ161が貼付されている。このレンズ161は
ブロツク160との接合面が平面で、凸面の頂点
にほぼ接する様に開口付遮光板162が設けられ
ている。この遮光板162は撮影レンズ1の予定
焦点面即ち一次像面上又はその近傍に配置され、
第5図Aに示すようにその中央部の矩形開口16
2aは一次像面検出領域2Aの寸法よりわずかに
大きい寸法に定められ、第3図の底板15の開口
15aの真下に位置する様に定められている。こ
のように矩形開口162aを一次像面検出領域2
Aよりわずかに大きい寸法に定めることにより、
小型化にともなうブロツク160の壁面反射の影
響をなくし、且つ不用な光が光電変換装置16
7,168上に投影されて、受光部以外の部分に
入射した光によるノイズ成分の発生を抑制でき
る。
尚、このように矩形開口162aを一次像面検
出領域2Aよりわずかに大きい寸法に定めると言
うことは、光電変換装置167,168の配置さ
れた基板169上で見ると、再結像光学系164
a,165aにより投影された矩形開口162a
の像の大きさが各光電変換装置167,168の
受光面の大きさより大きくなると言うことであ
る。従つてこの矩形開口162aが一次像面検出
領域2Aに実質的に相当すると言うことができ
る。もちろん、この遮光板162はミラーボツク
スの底板15で代用することもできる。フイール
ドレンズ161の下部のブロツク160の内部に
は反射部材163が約45゜の角度で斜設されてい
る。この反射部材163は第5図Cに明示する様
に中央部にブロツク160の長軸方向に沿つて伸
びた反射面(ダブルハツチング部分)163a
と、この反射面の両側に設けられた光透過部16
3b,163cと、この反射面と両光透過部以外
の光吸収部163dとから構成されている。この
反射面163aは一次像面検出領域用開口162
aにより規制された焦点検出用光束のみを反射す
る大きさに選定され、光吸収部163dは焦点検
出光束以外の光束を吸収して迷光を減少させる。
尚、この様な反射部材163は例えばブロツク1
60をこの反射部材の位置から二分し、その結果
露出した斜面に蒸着等の手段によつて反射膜16
3a及び光吸収膜163dを形成した後、二分ブ
ロツクを再び貼付することにより製作できる。ブ
ロツク160の右側端面には上下方向に並置され
た一対の凹面鏡ブロツク164,165が貼付さ
れており、これらは焦点検出光学系の仮想的光軸
166に関して上下方向に対称となつている。こ
れらの凹面鏡ブロツク164,165は屈折率n
の透明物質から成りブロツク160に接合する面
が平面で、他面が凸球面で、この凸球面には反射
面164a,165aが形成されている。凹面鏡
として働く各反射面164a,165aはそれぞ
れによつて形成される二次像面の検出領域が互に
重り合わないことはもちろん、一次像面検出領域
162aとも重り合わない様に、夫々所定角度だ
け傾けられている。具体的には、凹面鏡164,
165は反射面163aからの光束を夫々逆方向
に反射偏向させ、ブロツク160の左端面に所定
距離隔てた位置に二次像面検出領域9A,9Bを
夫々形成する。この凹面鏡164の形成する二次
像面検出領域9Aには光電変換装置167が、凹
面鏡165の二次像面検出領域9Bには光電変換
装置168が夫々配置されている。従つて光電変
換装置167の光電面と一次像面検出領域2Aと
は凹面鏡164に関して、光電装置168の光電
面と一次像面検出領域2Aとは凹面鏡165に関
して夫々共役となる。この様な位置関係であるの
で凹面鏡164は反射面163aからの入射光を
光透過部163bを通つて光電装置167の受光
面に収束させ、凹面鏡165は反射面163aか
らの入射光を光透過部163cを通つて光電変換
装置168の受光面に収束させる。光電変換装置
167,168は共に第4図の上下方向に多数の
受光素子が配列された一次元光電変換素子アレイ
から成り、各アレイは同一半導体基板169上に
形成されている。この基板169はブロツク16
0の左端面に貼付されている。
出領域2Aよりわずかに大きい寸法に定めると言
うことは、光電変換装置167,168の配置さ
れた基板169上で見ると、再結像光学系164
a,165aにより投影された矩形開口162a
の像の大きさが各光電変換装置167,168の
受光面の大きさより大きくなると言うことであ
る。従つてこの矩形開口162aが一次像面検出
領域2Aに実質的に相当すると言うことができ
る。もちろん、この遮光板162はミラーボツク
スの底板15で代用することもできる。フイール
ドレンズ161の下部のブロツク160の内部に
は反射部材163が約45゜の角度で斜設されてい
る。この反射部材163は第5図Cに明示する様
に中央部にブロツク160の長軸方向に沿つて伸
びた反射面(ダブルハツチング部分)163a
と、この反射面の両側に設けられた光透過部16
3b,163cと、この反射面と両光透過部以外
の光吸収部163dとから構成されている。この
反射面163aは一次像面検出領域用開口162
aにより規制された焦点検出用光束のみを反射す
る大きさに選定され、光吸収部163dは焦点検
出光束以外の光束を吸収して迷光を減少させる。
尚、この様な反射部材163は例えばブロツク1
60をこの反射部材の位置から二分し、その結果
露出した斜面に蒸着等の手段によつて反射膜16
3a及び光吸収膜163dを形成した後、二分ブ
ロツクを再び貼付することにより製作できる。ブ
ロツク160の右側端面には上下方向に並置され
た一対の凹面鏡ブロツク164,165が貼付さ
れており、これらは焦点検出光学系の仮想的光軸
166に関して上下方向に対称となつている。こ
れらの凹面鏡ブロツク164,165は屈折率n
の透明物質から成りブロツク160に接合する面
が平面で、他面が凸球面で、この凸球面には反射
面164a,165aが形成されている。凹面鏡
として働く各反射面164a,165aはそれぞ
れによつて形成される二次像面の検出領域が互に
重り合わないことはもちろん、一次像面検出領域
162aとも重り合わない様に、夫々所定角度だ
け傾けられている。具体的には、凹面鏡164,
165は反射面163aからの光束を夫々逆方向
に反射偏向させ、ブロツク160の左端面に所定
距離隔てた位置に二次像面検出領域9A,9Bを
夫々形成する。この凹面鏡164の形成する二次
像面検出領域9Aには光電変換装置167が、凹
面鏡165の二次像面検出領域9Bには光電変換
装置168が夫々配置されている。従つて光電変
換装置167の光電面と一次像面検出領域2Aと
は凹面鏡164に関して、光電装置168の光電
面と一次像面検出領域2Aとは凹面鏡165に関
して夫々共役となる。この様な位置関係であるの
で凹面鏡164は反射面163aからの入射光を
光透過部163bを通つて光電装置167の受光
面に収束させ、凹面鏡165は反射面163aか
らの入射光を光透過部163cを通つて光電変換
装置168の受光面に収束させる。光電変換装置
167,168は共に第4図の上下方向に多数の
受光素子が配列された一次元光電変換素子アレイ
から成り、各アレイは同一半導体基板169上に
形成されている。この基板169はブロツク16
0の左端面に貼付されている。
尚フイールドレンズ161は、凹面鏡164,
165の反射面164a,165aと撮影レンズ
1の射出瞳とがほぼ共役となる様に、レンズパワ
ーが選定されている。
165の反射面164a,165aと撮影レンズ
1の射出瞳とがほぼ共役となる様に、レンズパワ
ーが選定されている。
次に上述の傾斜された凹面鏡ブロツク164,
165の作製の一例を第6図により説明する。
165の作製の一例を第6図により説明する。
第1次像面から凹面鏡までの距離をLとする。
第6図Aの様に凸面の曲率半径がほぼLである平
凸レンズL1を用意し、その凸面上に第6図Bに
示す如くその中心を通る軸l1の左右に反射面Ma,
Mbを形成する。この時、各反射面Ma,Mbの中
心が上記凸面の中心O1から互に逆方向に距離D1
=・Lだけずらす。その後、軸l1に沿つてレン
ズL1を切断する。こうして作製された一対の切
断平凸レンズを、第4図及び第5図に示す如く、
ブロツク160の光路の中心軸166に関して反
射面Ma,Mbが対称となる様に、ブロツク16
0に貼付する。
第6図Aの様に凸面の曲率半径がほぼLである平
凸レンズL1を用意し、その凸面上に第6図Bに
示す如くその中心を通る軸l1の左右に反射面Ma,
Mbを形成する。この時、各反射面Ma,Mbの中
心が上記凸面の中心O1から互に逆方向に距離D1
=・Lだけずらす。その後、軸l1に沿つてレン
ズL1を切断する。こうして作製された一対の切
断平凸レンズを、第4図及び第5図に示す如く、
ブロツク160の光路の中心軸166に関して反
射面Ma,Mbが対称となる様に、ブロツク16
0に貼付する。
このようにする事により凹面鏡の傾斜角が自
ずから形成され、又角度の微調整はブロツク16
0の端面に反射部の形成された平凸レンズの平面
側を端面密着させた形でその固定位置を面内で微
調する事により達成される。このようにすれば凹
面鏡自体の角度をふつて微調する場合より調整が
はるかに要易である。
ずから形成され、又角度の微調整はブロツク16
0の端面に反射部の形成された平凸レンズの平面
側を端面密着させた形でその固定位置を面内で微
調する事により達成される。このようにすれば凹
面鏡自体の角度をふつて微調する場合より調整が
はるかに要易である。
この様な構成であるので、撮影レンズ1の透過
光は被写体の一次像を遮光板162上又はその前
後に形成すると共に開口162aを通過後、反射
面163aで反射され一対の凹面鏡164,16
5へ入射する。各凹面鏡164,165は夫々自
身の傾斜角に応じて入射光束を振れ角2だけ
振つて即ち偏向させて反射し、凹面鏡164の反
射光は光透過部163bを通つて光電変換装置1
67上に二次像を凹面鏡165の反射光は光透過
部163cを通つて光電変換装置168に二次像
を夫々形成する。光電変換装置167,168は
上記一対の二次像の相対的位置関係を検出して撮
影レンズ1の焦点調節状態を検出する。
光は被写体の一次像を遮光板162上又はその前
後に形成すると共に開口162aを通過後、反射
面163aで反射され一対の凹面鏡164,16
5へ入射する。各凹面鏡164,165は夫々自
身の傾斜角に応じて入射光束を振れ角2だけ
振つて即ち偏向させて反射し、凹面鏡164の反
射光は光透過部163bを通つて光電変換装置1
67上に二次像を凹面鏡165の反射光は光透過
部163cを通つて光電変換装置168に二次像
を夫々形成する。光電変換装置167,168は
上記一対の二次像の相対的位置関係を検出して撮
影レンズ1の焦点調節状態を検出する。
ところが、この様な反射型焦点検出光学系は前
述した如く凹面鏡164,165の傾斜角、即ち
それによる光束の振れ角2が大きくなるにつれ
て、収差が大きくなり二次像が劣化し上記一対の
二次像の相対位置の検出精度の低下を招来する。
そこでこの充分な検出精度を保障できる条件を以
下に求める。
述した如く凹面鏡164,165の傾斜角、即ち
それによる光束の振れ角2が大きくなるにつれ
て、収差が大きくなり二次像が劣化し上記一対の
二次像の相対位置の検出精度の低下を招来する。
そこでこの充分な検出精度を保障できる条件を以
下に求める。
前述の如く振れ角2は非点収差に大きく影響
を与えるので、まずこの振れ角と非点収差との関
係を考察する。
を与えるので、まずこの振れ角と非点収差との関
係を考察する。
第7図において、曲率半径Lの仮想球面Q1は
座標軸x・y・zの原点O1を曲率中心とする。
凹面鏡Mはこの球面Q1上に形成され、凹面鏡M
の中心O2は、座標軸zから所定量離れており、
y方向に関してその量はDである。原点O1から
y方向に距離Dだけ上方の点Piからの光は凹面鏡
Mの中心O2に入射角(単位ラジアン)で入射し
当然反射角で反射し、原点O1に関して点Piと
ほぼ対称な位置付近に収束する。この像は非点収
差の為に、サジタルな光線束による結像Sがy軸
上に線状に現われ、またタンジエンシヤルな光線
束による結像Tが像Sと直交するねじれの位置に
線状に現われる。両像STの間の距離δ(単位mm)
はの小さい時以下で表わせる。
座標軸x・y・zの原点O1を曲率中心とする。
凹面鏡Mはこの球面Q1上に形成され、凹面鏡M
の中心O2は、座標軸zから所定量離れており、
y方向に関してその量はDである。原点O1から
y方向に距離Dだけ上方の点Piからの光は凹面鏡
Mの中心O2に入射角(単位ラジアン)で入射し
当然反射角で反射し、原点O1に関して点Piと
ほぼ対称な位置付近に収束する。この像は非点収
差の為に、サジタルな光線束による結像Sがy軸
上に線状に現われ、またタンジエンシヤルな光線
束による結像Tが像Sと直交するねじれの位置に
線状に現われる。両像STの間の距離δ(単位mm)
はの小さい時以下で表わせる。
δ≒2・L(1/cos−cos)≒2L2 ……(1)
サジタル像Sの大きさls(単位mm)は、凹面鏡
Mのy軸方向の径Rs(単位mm)を底辺とし、像T
の中心を頂点とする三角形と、像Sを底辺とし、
上記像中心を頂点とする三角形とが相似であるこ
と及びδ《Lであるから、以下となる。
Mのy軸方向の径Rs(単位mm)を底辺とし、像T
の中心を頂点とする三角形と、像Sを底辺とし、
上記像中心を頂点とする三角形とが相似であるこ
と及びδ《Lであるから、以下となる。
ls≒δ・Rs/L ……(2)
タンジエンシヤル像Tの大きさlTは、像Sの中
心を頂点とし、像Tを底辺とする三角形と、共通
の頂点を有し、凹面鏡Mのx軸方向の径RTを底
辺とする三角形とが相似であることから、以下の
如く表わせる。
心を頂点とし、像Tを底辺とする三角形と、共通
の頂点を有し、凹面鏡Mのx軸方向の径RTを底
辺とする三角形とが相似であることから、以下の
如く表わせる。
lT=δ・RT/L ……(3)
(2)式、(3)式に夫々(1)式を代入すると
ls≒2Rs・2 ……(4)
lT≒2・RT 2 ……(5)
凹面鏡Mの径Rs、RTの大きい方の径をRmとす
ると、この場合の大きい方の非点収差量lmは(4)
式又は(5)式から次式となる。
ると、この場合の大きい方の非点収差量lmは(4)
式又は(5)式から次式となる。
lm=2・Rm・2 ……(6)
この式からを求めると
=√(2・) ……(7)
本発明の焦点検出装置の如く、光電装置上の二
次像の相対位置を検出する方式にあつては、非点
収差量が0.08mm程度であれば、相対位置検出が可
能である。そこで、二次像検出領域の中心での非
点収差量を、ほぼ0.08mm以下とするための条件は
(7)式から以下の通りとなる。
次像の相対位置を検出する方式にあつては、非点
収差量が0.08mm程度であれば、相対位置検出が可
能である。そこで、二次像検出領域の中心での非
点収差量を、ほぼ0.08mm以下とするための条件は
(7)式から以下の通りとなる。
√0.04 ……(8)
このように、一次像面検出領域の中心からの光
束が凹面鏡の中心へ入射したときの振れ角2と
凹面鏡の最大径Rmとが(8)式を満足する様に凹面
鏡の傾斜及び最大径を設定すれば、非点収差を抑
えることができ、正しい焦点検出が可能となる。
束が凹面鏡の中心へ入射したときの振れ角2と
凹面鏡の最大径Rmとが(8)式を満足する様に凹面
鏡の傾斜及び最大径を設定すれば、非点収差を抑
えることができ、正しい焦点検出が可能となる。
また、二次像面検出領域の中心での非点収差量
をほぼ0.04mm以下とすると、かなり高精度の検出
が可能となる。この場合の条件は以下となる。
をほぼ0.04mm以下とすると、かなり高精度の検出
が可能となる。この場合の条件は以下となる。
√0.02 ……(9)
更に、上記非点収差量をほぼぼ0.02mm以下とす
ると極めて高精度な焦点検出が可能となり、この
場合の条件は以下となる。
ると極めて高精度な焦点検出が可能となり、この
場合の条件は以下となる。
√0.01 ……(10)
尚、振れ角2の下限値は一次像面検出領域と
二次像面検出領域とを分離させる為の条件から必
然的に決定される。
二次像面検出領域とを分離させる為の条件から必
然的に決定される。
また、以上では非点収差量の最も小さい二次像
検出領域の中心における非点収差と振れ角との関
係を考察したが、検出領域全体についての非点収
差を問題とする場合には以下の如くなる。
検出領域の中心における非点収差と振れ角との関
係を考察したが、検出領域全体についての非点収
差を問題とする場合には以下の如くなる。
凹面鏡の中心に入射する光束のうち振れ角が最
も大きいのは、第2図に明示するように一次像検
出領域2Aの端部からの光束である。そこで、こ
の端部からの光束の上記振れ角を2mとすると、
これと検出領域中心からの光束の振れ角2とに
は次式が成立する。
も大きいのは、第2図に明示するように一次像検
出領域2Aの端部からの光束である。そこで、こ
の端部からの光束の上記振れ角を2mとすると、
これと検出領域中心からの光束の振れ角2とに
は次式が成立する。
2 n=2+(Lw/2L)2
ここで、Lwは一次像面検出領域の幅、Lw/ZLは、
この検出領域の中心と凹面鏡の中心と検出領域の
端部とのなす角度である。
端部とのなす角度である。
二次像検出領域の端部における非点収差量lm
は(6)式の2の代りに上述の2 nを用いることによ
り求まる。即ち lm=2・Rm・2 n=2Rm{2+(Lw/2L)2} ……(11) こうして検出領域の端部における非点収差量
lmを検出領域の中心からの光束の振れ角2によ
つて表わすことができる。
は(6)式の2の代りに上述の2 nを用いることによ
り求まる。即ち lm=2・Rm・2 n=2Rm{2+(Lw/2L)2} ……(11) こうして検出領域の端部における非点収差量
lmを検出領域の中心からの光束の振れ角2によ
つて表わすことができる。
(12)式を変形すると
=√(2)−(2)5 ……(12)
検出領域全体についての非点収差量を約0.08mm
以下約0.04mm以下、約0.02mm椅以下とするための
振れ角の条件は夫々以下の如くなる。
以下約0.04mm以下、約0.02mm椅以下とするための
振れ角の条件は夫々以下の如くなる。
√0.04−(2)2 ……(13)
√0.02−(2)2 ……(14)
√0.01−(2)2 ……(15)
さらにこの様な再結像光学系使用の焦点検出装
置にあつては、焦点検出光学系の歪曲収差は二次
像の相対位置検出に大きな悪影響を及ぼす。焦点
検出光学系に歪曲収差が存すると一次像面上の任
意の二点間距離とそれに対応する二次像面上の二
点間距離との比、即ち倍率が場所ごとに異なる。
これを具体的に例示すると、第8図に示すように
一次像面検出領域2A上の例えば中心点P1、右
端点P2、左端点P3は、凹面鏡164により二次
像面検出領域9A上の対応点P1′、P2′、P3′に
夫々結像し、同様に、凹面鏡165により二次像
面検出領域9B上の対応点P1″、P2″、P3″に夫々
結像する。点P1における任意の長さδ1は点P1′、
P1″においては夫々異つた長さδ1′、δ1″に写像さ
れ、同様に点P2、P3における長さδ2、δ3は、点
P2′、P2″、及びP3′、P3″において夫々異つた長さ
δ2′、δ2″、及びδ3′、δ3″に写像される。図示例
で
は、二次像9Aは中心点P1′より右方側の倍率が
大きく、二次像9Bは逆に左方側の倍率が大きく
なつている。そこで、この様な歪曲収差の影響を
除去するために、二次像9A,9Bを夫々検出す
る光電素子アレイの各受光素子のピツチをその光
電素子の対応検出域の倍率即ち歪曲量に応じて変
化させ、1次像面上での両光電変換素子アレイの
空中像が完全に重なるようにすればよい。この様
な光電素子アレイを第9図に示す。同図において
二次像9Aを検出する光電素子アレイPA1は光電
素子qのピツチを中心位置の受光素子q0より右方
において大きくし、二次像9Bを検出する受光素
子アレイPA2についてはその逆になつている。
置にあつては、焦点検出光学系の歪曲収差は二次
像の相対位置検出に大きな悪影響を及ぼす。焦点
検出光学系に歪曲収差が存すると一次像面上の任
意の二点間距離とそれに対応する二次像面上の二
点間距離との比、即ち倍率が場所ごとに異なる。
これを具体的に例示すると、第8図に示すように
一次像面検出領域2A上の例えば中心点P1、右
端点P2、左端点P3は、凹面鏡164により二次
像面検出領域9A上の対応点P1′、P2′、P3′に
夫々結像し、同様に、凹面鏡165により二次像
面検出領域9B上の対応点P1″、P2″、P3″に夫々
結像する。点P1における任意の長さδ1は点P1′、
P1″においては夫々異つた長さδ1′、δ1″に写像さ
れ、同様に点P2、P3における長さδ2、δ3は、点
P2′、P2″、及びP3′、P3″において夫々異つた長さ
δ2′、δ2″、及びδ3′、δ3″に写像される。図示例
で
は、二次像9Aは中心点P1′より右方側の倍率が
大きく、二次像9Bは逆に左方側の倍率が大きく
なつている。そこで、この様な歪曲収差の影響を
除去するために、二次像9A,9Bを夫々検出す
る光電素子アレイの各受光素子のピツチをその光
電素子の対応検出域の倍率即ち歪曲量に応じて変
化させ、1次像面上での両光電変換素子アレイの
空中像が完全に重なるようにすればよい。この様
な光電素子アレイを第9図に示す。同図において
二次像9Aを検出する光電素子アレイPA1は光電
素子qのピツチを中心位置の受光素子q0より右方
において大きくし、二次像9Bを検出する受光素
子アレイPA2についてはその逆になつている。
尚、歪曲収差は、本発明のフイールドレンズを
含み凹面鏡使用の焦点検出装置に限らず、第1図
に示した再結像レンズ使用の焦点検出装置に関し
ても全く同様に問題となる。従つて上述の光電素
子アレイの光電素子のピツチを二次像の局部的倍
率に応じて変化させ、1次像面上で2つの光電素
子アレイの空中像が完全に重なるようにすること
は、第1図の焦点検出装置にも極めて有効であ
る。一次像面上での検出領域の大きさを一定とし
て焦点検出光学系を小型化すると、小型化すれば
する程、歪曲収差の影響は大きくなるので、本発
明の如く光電素子のピツチを局所的倍率に応じて
変化させる事は小型化への非常に有効な手段とな
る。
含み凹面鏡使用の焦点検出装置に限らず、第1図
に示した再結像レンズ使用の焦点検出装置に関し
ても全く同様に問題となる。従つて上述の光電素
子アレイの光電素子のピツチを二次像の局部的倍
率に応じて変化させ、1次像面上で2つの光電素
子アレイの空中像が完全に重なるようにすること
は、第1図の焦点検出装置にも極めて有効であ
る。一次像面上での検出領域の大きさを一定とし
て焦点検出光学系を小型化すると、小型化すれば
する程、歪曲収差の影響は大きくなるので、本発
明の如く光電素子のピツチを局所的倍率に応じて
変化させる事は小型化への非常に有効な手段とな
る。
次に、フイールドレンズから一対の凹面鏡ま
で、及び凹面鏡から光電装置までを屈折率nの透
明媒質によつて充填したことの利点を第2図の焦
点検出光学系との比較により説明する。両者の比
較を容易とする為に本実施例の反射型焦点検出光
学系の構成を原理的には同一性を保ちながら単純
化した第10図の光学系と第2図の光学系とを比
較する。特開昭47−13282及び特開昭54−150125
記載の反射再結像光学系においては第2図Cのご
とく1次像面2Aの近傍にフイールドレンズが欠
けているが実開昭55−26516記載のごとく、再結
像光学系を用いる時には再結像光学系がレンズで
あるが凹面鏡であるかにかかわらず、1次焦点面
近傍にフイールドレンズを置くことは不可欠の構
成要素となるので第2図A,B第10図A,Bで
はフイールドレンズL2を含めた形で図示してい
る。
で、及び凹面鏡から光電装置までを屈折率nの透
明媒質によつて充填したことの利点を第2図の焦
点検出光学系との比較により説明する。両者の比
較を容易とする為に本実施例の反射型焦点検出光
学系の構成を原理的には同一性を保ちながら単純
化した第10図の光学系と第2図の光学系とを比
較する。特開昭47−13282及び特開昭54−150125
記載の反射再結像光学系においては第2図Cのご
とく1次像面2Aの近傍にフイールドレンズが欠
けているが実開昭55−26516記載のごとく、再結
像光学系を用いる時には再結像光学系がレンズで
あるが凹面鏡であるかにかかわらず、1次焦点面
近傍にフイールドレンズを置くことは不可欠の構
成要素となるので第2図A,B第10図A,Bで
はフイールドレンズL2を含めた形で図示してい
る。
まず第2図の反射光学系の構成を簡単に説明す
る。第2図A及びBは夫々正面図、平面図であ
り、再結像光学系は1次像面近傍に設置されたフ
イールドレンズと1次像面からLだけ離れた所に
設けられた一対の曲率半径Lの凹面鏡8A,8B
から成る。一次像面検出領域2Aの中心と各凹面
鏡の中心と2次像面検出領域9A,9Bの中心と
のなす角度即わち振れ角が共に2となる様に互
いに逆方向に傾斜されている。続いて第10図の
反射型光学系の構成を簡単に説明する。第10図
A及び第10図Bは夫々正面図、平面図であり、
屈折率nの直方体状透明ブロツクTBにはその一
端面にフイールドレンズL2が形成され、この端
面に対向する端面に一対の曲率半径Lの凹面鏡
Mc,Mdが形成されている。各凹面鏡Mc、Md
は、上記実施例と全く同様に一次像面検出領域2
Aの中心と各凹面鏡の中心と二次像面検出領域9
A,9Bの中心とのなす角度即ち振れ角が共に
2となる様に、互に逆方向に傾斜されている。
る。第2図A及びBは夫々正面図、平面図であ
り、再結像光学系は1次像面近傍に設置されたフ
イールドレンズと1次像面からLだけ離れた所に
設けられた一対の曲率半径Lの凹面鏡8A,8B
から成る。一次像面検出領域2Aの中心と各凹面
鏡の中心と2次像面検出領域9A,9Bの中心と
のなす角度即わち振れ角が共に2となる様に互
いに逆方向に傾斜されている。続いて第10図の
反射型光学系の構成を簡単に説明する。第10図
A及び第10図Bは夫々正面図、平面図であり、
屈折率nの直方体状透明ブロツクTBにはその一
端面にフイールドレンズL2が形成され、この端
面に対向する端面に一対の曲率半径Lの凹面鏡
Mc,Mdが形成されている。各凹面鏡Mc、Md
は、上記実施例と全く同様に一次像面検出領域2
Aの中心と各凹面鏡の中心と二次像面検出領域9
A,9Bの中心とのなす角度即ち振れ角が共に
2となる様に、互に逆方向に傾斜されている。
第2図と第10図の条件を揃える為に、両図に
おいて一次像面2AとフイールドレンズL2の頂
点の接平面とが共にほぼ一致しており、一次像面
2Aから再結像光学系8A,8B,Mc,Mdま
での距離が共に等しくLであり、かつ検出に用い
る光束の広がりも共に等しくθT,θsであるとす
る。第11図に、撮影レンズ1の射出瞳100
と、その内部の焦点検出に用いる瞳部分100
A,100Bとの関係を示す。瞳部分100Aを
通過した光束が再結像光学系8A、又はMcに入
射し、瞳部分100Bの通過光束が再結像光学系
8B、又はMdに入射する。これらの瞳部分10
0A,100Bの明るさ(F値)を、瞳部分の並
びの方向Xに関してFTとし、その垂直方向yに
関してFsとすると、これらの明るさFT、Fsと第
2図、第10図の検出に用いる光束の広がり角度
θT、θsとの関係は以下の通りである。
おいて一次像面2AとフイールドレンズL2の頂
点の接平面とが共にほぼ一致しており、一次像面
2Aから再結像光学系8A,8B,Mc,Mdま
での距離が共に等しくLであり、かつ検出に用い
る光束の広がりも共に等しくθT,θsであるとす
る。第11図に、撮影レンズ1の射出瞳100
と、その内部の焦点検出に用いる瞳部分100
A,100Bとの関係を示す。瞳部分100Aを
通過した光束が再結像光学系8A、又はMcに入
射し、瞳部分100Bの通過光束が再結像光学系
8B、又はMdに入射する。これらの瞳部分10
0A,100Bの明るさ(F値)を、瞳部分の並
びの方向Xに関してFTとし、その垂直方向yに
関してFsとすると、これらの明るさFT、Fsと第
2図、第10図の検出に用いる光束の広がり角度
θT、θsとの関係は以下の通りである。
θT=1/FT、θs=1/Fs
また、第2図A、第10図Aに示すように検出
光束θTの中心と撮影レンズ1の光軸Oとのなす角
度をθoとする。
光束θTの中心と撮影レンズ1の光軸Oとのなす角
度をθoとする。
以上の如き条件の設定の下で、第2図と第10
図の焦点検出光学系による二次像の良否を検討す
る。
図の焦点検出光学系による二次像の良否を検討す
る。
再結像光学系8A,8B,Mc,Mdの球面収
差、コマ収差、非点収差は、再結像光学系の有効
口径と一次像面検出領域2Aの中心とのなす広が
り角θ(θ1 T、θ1 s、θn T、θn s)に応じて大きくなり
、
具体的には、球面収差はθ3に、コマ収差はθ2に、
非点収差はθに夫々比例して増大する。また一次
像面2Aに対して、再結像光学系へ光軸が垂直で
なく、傾いているので、この傾き角が大きくなる
につれて、二次像は劣化する。換言すると、この
傾き角は、それぞれ開角θ1 p、θn pに等しいので、開
角が大きくなるに伴い二次像が劣化する。
差、コマ収差、非点収差は、再結像光学系の有効
口径と一次像面検出領域2Aの中心とのなす広が
り角θ(θ1 T、θ1 s、θn T、θn s)に応じて大きくなり
、
具体的には、球面収差はθ3に、コマ収差はθ2に、
非点収差はθに夫々比例して増大する。また一次
像面2Aに対して、再結像光学系へ光軸が垂直で
なく、傾いているので、この傾き角が大きくなる
につれて、二次像は劣化する。換言すると、この
傾き角は、それぞれ開角θ1 p、θn pに等しいので、開
角が大きくなるに伴い二次像が劣化する。
そこで、第1図と第10図とについて広がり角
と開角とを比較してみると、第2図の再結像光学
系では、広がり角θT、θs、検出開角θoの検出光束
がフイールドレンズL2を通過して夫々、同一角
度θT、θs、θoで再結像凹面鏡8A,8Bに入射す
る。従つてこの場合の再結像凹面鏡に関する広が
り角θ1 T、θ1 sはθ1 T=θT、θ1 s=θsであり開角θ1 p
はθ1 p=
θoである。他方、第10図の凹面鏡光学系では
フイールドレンズL2から再結像凹面鏡Mc、Md
までの空間が空間が屈折率nの媒質で充填されて
いるので、凹面鏡の入射側の光束の広がり角度は
1/nに減少し、x方向及びy方向の広がり角
θn T、θn s及び、開角θn pは夫々以下となる。θn T=θ
T/
n、θn s=θs/n、θn p=θo/noこのように、第10
図の再結像光学系は第2図のそれに比べて広がり
角及び開角が夫々1/nとなるので、再結像光学
系の結像性能が著しく向上する。更に第10図の
光学系は光束の広がりが1/nになるため再結像
光学系の容積も大幅にコンパクト化できると共に
フイールドレンズ、凹面鏡光電装置を透明ブロツ
クに直接固定できる為に位置合せ精度上又は堅牢
さの点でも優れている。更にまた屈折率nの透明
媒質で焦点検出光学系の光路と充填することによ
り凹面鏡の寸法RT、Rs即ち径を充填しないとき
の径に比べて1/nに減少できる。詳述すると、
凹面鏡の径RT、Rsは屈折率nの媒質を充填しな
い時、夫々RT=L・θT、=RT 1 Rs=L・θs=Rs 1で
あるのに対して、充填するとRT=L・θn T=L・
θT/n=Rn T、Rs=L・θn s=L・θs/n=Rn sとな
る。この様に凹面鏡の径を小さく出来ることは、
(4)式又は(5)式から、非点収差ls lTを小さくできる
事を意味し、また(7)式からは同一非点収差量に対
して振れ角を大きく定め得る事を意味する。
と開角とを比較してみると、第2図の再結像光学
系では、広がり角θT、θs、検出開角θoの検出光束
がフイールドレンズL2を通過して夫々、同一角
度θT、θs、θoで再結像凹面鏡8A,8Bに入射す
る。従つてこの場合の再結像凹面鏡に関する広が
り角θ1 T、θ1 sはθ1 T=θT、θ1 s=θsであり開角θ1 p
はθ1 p=
θoである。他方、第10図の凹面鏡光学系では
フイールドレンズL2から再結像凹面鏡Mc、Md
までの空間が空間が屈折率nの媒質で充填されて
いるので、凹面鏡の入射側の光束の広がり角度は
1/nに減少し、x方向及びy方向の広がり角
θn T、θn s及び、開角θn pは夫々以下となる。θn T=θ
T/
n、θn s=θs/n、θn p=θo/noこのように、第10
図の再結像光学系は第2図のそれに比べて広がり
角及び開角が夫々1/nとなるので、再結像光学
系の結像性能が著しく向上する。更に第10図の
光学系は光束の広がりが1/nになるため再結像
光学系の容積も大幅にコンパクト化できると共に
フイールドレンズ、凹面鏡光電装置を透明ブロツ
クに直接固定できる為に位置合せ精度上又は堅牢
さの点でも優れている。更にまた屈折率nの透明
媒質で焦点検出光学系の光路と充填することによ
り凹面鏡の寸法RT、Rs即ち径を充填しないとき
の径に比べて1/nに減少できる。詳述すると、
凹面鏡の径RT、Rsは屈折率nの媒質を充填しな
い時、夫々RT=L・θT、=RT 1 Rs=L・θs=Rs 1で
あるのに対して、充填するとRT=L・θn T=L・
θT/n=Rn T、Rs=L・θn s=L・θs/n=Rn sとな
る。この様に凹面鏡の径を小さく出来ることは、
(4)式又は(5)式から、非点収差ls lTを小さくできる
事を意味し、また(7)式からは同一非点収差量に対
して振れ角を大きく定め得る事を意味する。
ここで、屈折率nの透明媒質で光路を充填した
反射型焦点検出光学系を第3図の如く一眼レフカ
メラのミラーボツクス底部に収容するときの寸法
値の一例を以下に示す。
反射型焦点検出光学系を第3図の如く一眼レフカ
メラのミラーボツクス底部に収容するときの寸法
値の一例を以下に示す。
Fs=6、FT=8とし、n=1.8、L=40mmとす
ると凹面鏡の寸法RsRTはRs=L/(nFs)=3.7
mm、RT=L/(nFT)=2.8mmとなる。また振れ角
2を2=0.025×2ラジアンとすると、このと
き、二次像面検出領域の中心での非点収差量lm
はlm=2・Rm・2=0.0046mmとなり極めて小さ
い。一次像面検出領域の長さLwをLw=4mmとし
たときのその端部での非点収差量lmはlm=2・
Rm{2+(Lw/2L)2}=0.023mmとなり、やはり非常 に小さい。
ると凹面鏡の寸法RsRTはRs=L/(nFs)=3.7
mm、RT=L/(nFT)=2.8mmとなる。また振れ角
2を2=0.025×2ラジアンとすると、このと
き、二次像面検出領域の中心での非点収差量lm
はlm=2・Rm・2=0.0046mmとなり極めて小さ
い。一次像面検出領域の長さLwをLw=4mmとし
たときのその端部での非点収差量lmはlm=2・
Rm{2+(Lw/2L)2}=0.023mmとなり、やはり非常 に小さい。
もしこのように高屈折率媒質を用いず、第2図
のように媒質を空気n=1とし他の条件Fs=6、
FT=8、L=40mm、=0.025は等しくとつた場
合の非点収差量lmはそれぞれ前のn=1.8の例の
場合の1.8倍と大巾に増大する。さらにこの条件
で第5図に相当する光路図を書いてみると、n=
1の場合には光束の広がり巾θが広いので、第5
図の反射面163の位置では光束が重なり合つて
分離できず、実際にはを0.025よりさらに大き
な値にとらねばならず、従つて収差量はさらに増
大することになる。さらにまた振れ角2が増大
する事は第5図Eの2次像面検出領域(2つの検
出光電変換素子アレイ)167,168の間隔が
離れる事になりこれはICチツプサイズの増大を
招く事からも好ましくない。
のように媒質を空気n=1とし他の条件Fs=6、
FT=8、L=40mm、=0.025は等しくとつた場
合の非点収差量lmはそれぞれ前のn=1.8の例の
場合の1.8倍と大巾に増大する。さらにこの条件
で第5図に相当する光路図を書いてみると、n=
1の場合には光束の広がり巾θが広いので、第5
図の反射面163の位置では光束が重なり合つて
分離できず、実際にはを0.025よりさらに大き
な値にとらねばならず、従つて収差量はさらに増
大することになる。さらにまた振れ角2が増大
する事は第5図Eの2次像面検出領域(2つの検
出光電変換素子アレイ)167,168の間隔が
離れる事になりこれはICチツプサイズの増大を
招く事からも好ましくない。
この様にフイールドレンズから凹面鏡面さらに
2次像面までを高屈折率媒質でうめる事は(8)、
(9)、(10)式及び(13)、(14)、(15)式を満足する
よ
りよい解を見い出すための重要な条件であり、こ
れによつて収差性能の良いコンバクトな再結像光
学系の実現が可能となる。
2次像面までを高屈折率媒質でうめる事は(8)、
(9)、(10)式及び(13)、(14)、(15)式を満足する
よ
りよい解を見い出すための重要な条件であり、こ
れによつて収差性能の良いコンバクトな再結像光
学系の実現が可能となる。
次に本発明の第2実施例を説明する。
第12図において、屈折率nの直方体状透明ブ
ロツク170には第5図と全く同様にフイールド
レンズ161が貼付され、その上に開口付遮光板
162が配置されている。ブロツク170の内部
であつてフイールドレンズ161の直下の一部領
域には反射部材171が斜設されている。この様
な反射部材171の作製は、第1実施例の反射部
材163と同様にブロツク170をこの反射部材
171に沿う面で分割してその露出面に反射面を
形成すればよい。ブロツク170の一端面に設置
された凹面鏡ブロツク172,173は、その反
射面172a,173aがブロツク170の中心
軸177に関して第12図Cにおいて左右に対称
である点及び反射面の傾斜が同方向であるが、そ
の傾斜の程度が反射面173aの方が反射面17
2aよりも大きく設定されている点以外は第5図
の凹面鏡ブロツクと同一である。凹面鏡172,
173は上述の如く傾斜しているので、一次像面
検出領域2Aから反射部材171で反射された光
束を振れ角を夫々異にするが共に同方向に反射偏
向させて、夫々二次像面検出領域9A,9Bをブ
ロツク170の他端に形成する。同一半導体チツ
プ174上に形成された光電素子アレイ175,
176は、夫々二次像面検出領域9A,9Bに一
致する様にブロツク170に貼付される。
ロツク170には第5図と全く同様にフイールド
レンズ161が貼付され、その上に開口付遮光板
162が配置されている。ブロツク170の内部
であつてフイールドレンズ161の直下の一部領
域には反射部材171が斜設されている。この様
な反射部材171の作製は、第1実施例の反射部
材163と同様にブロツク170をこの反射部材
171に沿う面で分割してその露出面に反射面を
形成すればよい。ブロツク170の一端面に設置
された凹面鏡ブロツク172,173は、その反
射面172a,173aがブロツク170の中心
軸177に関して第12図Cにおいて左右に対称
である点及び反射面の傾斜が同方向であるが、そ
の傾斜の程度が反射面173aの方が反射面17
2aよりも大きく設定されている点以外は第5図
の凹面鏡ブロツクと同一である。凹面鏡172,
173は上述の如く傾斜しているので、一次像面
検出領域2Aから反射部材171で反射された光
束を振れ角を夫々異にするが共に同方向に反射偏
向させて、夫々二次像面検出領域9A,9Bをブ
ロツク170の他端に形成する。同一半導体チツ
プ174上に形成された光電素子アレイ175,
176は、夫々二次像面検出領域9A,9Bに一
致する様にブロツク170に貼付される。
この様な構成であるので、本実施例は凹面鏡1
73による振れ角が凹面鏡172による振れ角よ
り大きいため凹面鏡173による収差が悪化する
と共に、両二次像の同一性も低下するという問題
が生ずる反面、光電素子アレイ175,176を
互に近接して配置できこのためその半導体チツプ
の寸法を小さくできる利点がある。
73による振れ角が凹面鏡172による振れ角よ
り大きいため凹面鏡173による収差が悪化する
と共に、両二次像の同一性も低下するという問題
が生ずる反面、光電素子アレイ175,176を
互に近接して配置できこのためその半導体チツプ
の寸法を小さくできる利点がある。
この第2実施例の変形例を第13図により説明
する。同図において、開口付遮光板162がブロ
ツク170とフイールドレンズ161との間に配
置され、フイールドレンズ161の頂点近傍に定
められた一次像面からの光束はフイールドレンズ
161を通過し遮光板162により一次像面検出
領域以外からの光束を除いた後ブロツク170内
の反射部材171に入射する。凹面鏡ブロツク1
72,173は互に逆方向に傾斜されており、二
次像面検出領域9A,9Bを同一直線上に形成す
る。光電装置175,176としては、二次像面
検出領域9A,9Bに夫々対応する一対の光電素
子アレイ175,176を用いても、また二次像
面検出領域9A,9Bとその間の間隙とをカバー
する長さの単一の光電素子アレイを用いてもよ
い。本例では開口付遮光板162はフイールドレ
ンズ161とブロツク170との間に設けられ、
一次像面からかなり離れた位置にある。この様に
一次像面検出領域以外の光束を遮光する遮光板1
62は一次像面から少し離して配置することもで
きる。
する。同図において、開口付遮光板162がブロ
ツク170とフイールドレンズ161との間に配
置され、フイールドレンズ161の頂点近傍に定
められた一次像面からの光束はフイールドレンズ
161を通過し遮光板162により一次像面検出
領域以外からの光束を除いた後ブロツク170内
の反射部材171に入射する。凹面鏡ブロツク1
72,173は互に逆方向に傾斜されており、二
次像面検出領域9A,9Bを同一直線上に形成す
る。光電装置175,176としては、二次像面
検出領域9A,9Bに夫々対応する一対の光電素
子アレイ175,176を用いても、また二次像
面検出領域9A,9Bとその間の間隙とをカバー
する長さの単一の光電素子アレイを用いてもよ
い。本例では開口付遮光板162はフイールドレ
ンズ161とブロツク170との間に設けられ、
一次像面からかなり離れた位置にある。この様に
一次像面検出領域以外の光束を遮光する遮光板1
62は一次像面から少し離して配置することもで
きる。
尚、以上の直方体状透明ブロツク160又は1
70の長手方向の長さがカメラ内のスペースとの
関係から長すぎる場合には、第14図又は第15
図に示す様に光路と適宜折りたたんだ構成にする
ことができる。
70の長手方向の長さがカメラ内のスペースとの
関係から長すぎる場合には、第14図又は第15
図に示す様に光路と適宜折りたたんだ構成にする
ことができる。
以上においては二次像面の結像倍率αが等倍
(α=1)の場合、長ち二次像が一次像と同一の
大きさであり、一次像面から凹面鏡までの光路長
と凹面鏡から二次像面までの光路長とが等しい場
合であつたが、結像倍率αは1に限るものでな
く、それ以上とすることも以下とすることも可能
である。特にα>1即ち縮小倍率にすると、収差
は等倍率に比べて幾分悪化するが、二次像面検出
領域の大きさが一次像面検出領域のα倍となり縮
小されるので、光電装置の半導体チツプサイズを
小さくできる。更に二次像面検出領域の照度が等
倍率に比べて1/α2倍も増大するので、S/Nを
向上できる。
(α=1)の場合、長ち二次像が一次像と同一の
大きさであり、一次像面から凹面鏡までの光路長
と凹面鏡から二次像面までの光路長とが等しい場
合であつたが、結像倍率αは1に限るものでな
く、それ以上とすることも以下とすることも可能
である。特にα>1即ち縮小倍率にすると、収差
は等倍率に比べて幾分悪化するが、二次像面検出
領域の大きさが一次像面検出領域のα倍となり縮
小されるので、光電装置の半導体チツプサイズを
小さくできる。更に二次像面検出領域の照度が等
倍率に比べて1/α2倍も増大するので、S/Nを
向上できる。
以下にこの様な縮小再結像光学系を用いた本発
明の第3実施例を説明する。
明の第3実施例を説明する。
斜視図を示す第16図及び正面図、平面図を示
す第17図において、透明ブロツク180は複数
のブロツク片180A,180B,180C,1
80Dから成る。直方体状ブロツク片180Aは
その一端面に互に逆方向に傾斜された一対の凹面
鏡ブロツク181,182が接着され、他端面に
ブロツク片180Bが接着されている。このブロ
ツク片180Bの上面はブロツク片180Aの上
面より突出しており、平凸のフイールドレンズ1
61の平面が接着されている。このフイールドレ
ンズ161の凸面の頂点近傍には開口付遮光板1
62が配置されている。この遮光板162の開口
162aは一次像面検出領域2Aと実質的に一致
している。ブロツク片180Bの底面はブロツク
片180Aの底面に対して傾斜しかつ突出してい
る。このブロツク片180Aの底面にはその中央
部に反射面183が残部に迷光除去用光吸収面1
84が夫々形成されている。この反射面183の
寸法は一次像面検出領域2Aを通つた検出光束の
みを反射する大きさに定められている。三角柱状
ブロツク180Cは、ブロツク片180Bを挾ん
でブロツク片180Aの反対側に位置する様にブ
ロツク片180Bに接着されている。ブロツク片
180Cの斜面には中央部に反射面185が、こ
の反射面の両側に夫々光透過部186,187が
そして残りの部分に迷光除去用光吸収面188が
夫々形成されている。三角柱状ブロツク片180
Dは、斜面がブロツク180Cの斜面に接着さ
れ、凹面鏡181,182に対向する面に半導体
チツプ189が接着されている。このチツプ18
9には凹面鏡181,182の二次像面検出領域
9A,9Bをカバーする様に光電素子アレイ19
0,191が形成されている。
す第17図において、透明ブロツク180は複数
のブロツク片180A,180B,180C,1
80Dから成る。直方体状ブロツク片180Aは
その一端面に互に逆方向に傾斜された一対の凹面
鏡ブロツク181,182が接着され、他端面に
ブロツク片180Bが接着されている。このブロ
ツク片180Bの上面はブロツク片180Aの上
面より突出しており、平凸のフイールドレンズ1
61の平面が接着されている。このフイールドレ
ンズ161の凸面の頂点近傍には開口付遮光板1
62が配置されている。この遮光板162の開口
162aは一次像面検出領域2Aと実質的に一致
している。ブロツク片180Bの底面はブロツク
片180Aの底面に対して傾斜しかつ突出してい
る。このブロツク片180Aの底面にはその中央
部に反射面183が残部に迷光除去用光吸収面1
84が夫々形成されている。この反射面183の
寸法は一次像面検出領域2Aを通つた検出光束の
みを反射する大きさに定められている。三角柱状
ブロツク180Cは、ブロツク片180Bを挾ん
でブロツク片180Aの反対側に位置する様にブ
ロツク片180Bに接着されている。ブロツク片
180Cの斜面には中央部に反射面185が、こ
の反射面の両側に夫々光透過部186,187が
そして残りの部分に迷光除去用光吸収面188が
夫々形成されている。三角柱状ブロツク片180
Dは、斜面がブロツク180Cの斜面に接着さ
れ、凹面鏡181,182に対向する面に半導体
チツプ189が接着されている。このチツプ18
9には凹面鏡181,182の二次像面検出領域
9A,9Bをカバーする様に光電素子アレイ19
0,191が形成されている。
この作用を述べる。
開口162aからの光束は、ブロツク片180
Bの底面の反射面183で反射されてブロツク1
80Cの反射面185で更に反射されて凹面鏡1
81,182へ向う。凹面鏡181,182で反
射偏向された光束は光透過部186,187を通
つて二次像面検出領域9A,9Bに縮小二次像を
形成する。
Bの底面の反射面183で反射されてブロツク1
80Cの反射面185で更に反射されて凹面鏡1
81,182へ向う。凹面鏡181,182で反
射偏向された光束は光透過部186,187を通
つて二次像面検出領域9A,9Bに縮小二次像を
形成する。
この様に、ブロツク180Bの上面上方に一次
像面検出領域2Aを定め底面に反射面183を形
成した。これにより一次像面検出領域からの光束
が、凹面鏡181,182と光電装置190とを
結ぶ空間を完全に横切つた後、反射面183に入
射することになり、一次像面検出領域2Aから凹
面鏡までの光路を長くしている。こうして、ブロ
ツク180の外形形状を余り複雑化することな
く、一次像面検出領域から凹面鏡までの光路長
を、凹面鏡から二次像面検出領域までの光路長よ
りも大きくできる。また本実施例では、他の実施
例に比べて迷光の発生を極めて効果的に抑制でき
る利点がある。詳述すると、例えば、第5図の実
施例では反射面163aの周囲には光吸収面16
3dのみが存在するのではなく光透過部163
b,163cも存在するので、迷光の発生防止は
完全ではない。他方、本実施例ではブロツク片1
80Bの底面は反射面183以外はすべて光吸収
面184であるので、迷光を充分に除去できる。
像面検出領域2Aを定め底面に反射面183を形
成した。これにより一次像面検出領域からの光束
が、凹面鏡181,182と光電装置190とを
結ぶ空間を完全に横切つた後、反射面183に入
射することになり、一次像面検出領域2Aから凹
面鏡までの光路を長くしている。こうして、ブロ
ツク180の外形形状を余り複雑化することな
く、一次像面検出領域から凹面鏡までの光路長
を、凹面鏡から二次像面検出領域までの光路長よ
りも大きくできる。また本実施例では、他の実施
例に比べて迷光の発生を極めて効果的に抑制でき
る利点がある。詳述すると、例えば、第5図の実
施例では反射面163aの周囲には光吸収面16
3dのみが存在するのではなく光透過部163
b,163cも存在するので、迷光の発生防止は
完全ではない。他方、本実施例ではブロツク片1
80Bの底面は反射面183以外はすべて光吸収
面184であるので、迷光を充分に除去できる。
なお、上述の第1実施例のように透明ブロツク
160,170,180の外形状を直方体の如く
柱状とし、第3図に示す様にこの透明ブロツクの
長手方向が一眼レフカメラのフイルム面13とほ
ぼ平行になる様に、カメラのミラーボツクス底部
に配置すれば、カメラの大型化を招くことがない
という利点がある。
160,170,180の外形状を直方体の如く
柱状とし、第3図に示す様にこの透明ブロツクの
長手方向が一眼レフカメラのフイルム面13とほ
ぼ平行になる様に、カメラのミラーボツクス底部
に配置すれば、カメラの大型化を招くことがない
という利点がある。
以上の実施例はいずれも一次像面をフイールド
レンズの頂点の接平面とほぼ一致させること及び
フイールドレンズから凹面鏡までとこの凹面鏡か
ら光電装置までの光路をすべて屈折率nの透明媒
質で充填すること、という2条件を実質的に充足
するものであつた。しかしながら、焦点検出光学
系を収容するカメラの如き光学機器との関係等か
ら反射型焦点検出光学系が上記2条件を充分には
満足できない場合があり得る。そこで次に上記2
条件の許容量を説明する。
レンズの頂点の接平面とほぼ一致させること及び
フイールドレンズから凹面鏡までとこの凹面鏡か
ら光電装置までの光路をすべて屈折率nの透明媒
質で充填すること、という2条件を実質的に充足
するものであつた。しかしながら、焦点検出光学
系を収容するカメラの如き光学機器との関係等か
ら反射型焦点検出光学系が上記2条件を充分には
満足できない場合があり得る。そこで次に上記2
条件の許容量を説明する。
第18図Aは上記2条件を満足した場合の一次
像面検出領域2Aと、フイールドレンズL3と、
ハツチングを付した屈折率nの透明媒質と、凹面
鏡Me,Mf及び凹面鏡に関して一次像面と共役な
二次像面検出領域9A,9Bとの位置関係を示
す。第18図Bは、フイールドレンズL2から一
次像面検出領域2Aを距離ΔZだけ前方へ離した
ものである。この距離ΔZは一眼レフカメラ用の
焦点検出装置であつて焦点検出光束の広がり(第
11図破線の円)がF4程度ならば結像性能上約
8mm以下であることは必須であり、約4mm以下で
あれば、かなりよく、約2mm以下であれば実質上
問題はない。第18図Cは光電変換装置を透明媒
質のブロツク端面から離さなければならず、この
為に、第18図A又はBの二次像面検出領域のブ
ロツク端面からブロツクを長さt1だけ削除したも
ので、これにより二次像面検出領域9A,9Bは
この新たなブロツク端面からt2=t1/nの位置に
形成されることを示している。この場合もt1が8
mm程度までは許容でき、約4mm以下であればかな
りよく2mm以下であれば実質上問題はない。第1
8図Dは、媒質nの端面から二次像面検出領域9
A,9Bとの間に屈折率nとは異つた屈折率ng
の媒質ngを充填した例である。両媒質n、ngの
界面から二次像面9A,9Bまでの距離t′2はt′2
=t1×ng×nとなる。この様に媒質ngを充填した
場合は、しない場合より結像性能の劣化が少な
く、しない場合の収差の悪化の程度を1とすると
充填した場合はおよその目安として悪化の程度は
{(n/ng)2−1}/(n2−1)に減少する。逆に
言えば媒質ngで充填する場合としない場合とで
結像性能を同程度とすると、充填した場合の長さ
t1はしない場合のt1のおよそ(n2−1)/{(n/
ng)2−1)}倍にできる。第18図Eは、第18
図Aに示す如く媒質nの一部をその途中から長さ
t1にわたつて切り除き、そこに屈折率ngの媒質を
充填した例である。このときの媒質ngの長さt′2
はt′2=t1×ng/nとなる。この場合は上述と同様
に、この媒質ngを空気とした場合の上述の媒質
nの切出量t1は結像性能上約8mm以下であること
が必要であり、約2mm以下であれば、実質的に問
題はない。もちろん、この場合も、ng>1の媒
質を用いた場合にはng=1の場合に比べて結像
性能の劣化は前述と同様の程度少ない。
像面検出領域2Aと、フイールドレンズL3と、
ハツチングを付した屈折率nの透明媒質と、凹面
鏡Me,Mf及び凹面鏡に関して一次像面と共役な
二次像面検出領域9A,9Bとの位置関係を示
す。第18図Bは、フイールドレンズL2から一
次像面検出領域2Aを距離ΔZだけ前方へ離した
ものである。この距離ΔZは一眼レフカメラ用の
焦点検出装置であつて焦点検出光束の広がり(第
11図破線の円)がF4程度ならば結像性能上約
8mm以下であることは必須であり、約4mm以下で
あれば、かなりよく、約2mm以下であれば実質上
問題はない。第18図Cは光電変換装置を透明媒
質のブロツク端面から離さなければならず、この
為に、第18図A又はBの二次像面検出領域のブ
ロツク端面からブロツクを長さt1だけ削除したも
ので、これにより二次像面検出領域9A,9Bは
この新たなブロツク端面からt2=t1/nの位置に
形成されることを示している。この場合もt1が8
mm程度までは許容でき、約4mm以下であればかな
りよく2mm以下であれば実質上問題はない。第1
8図Dは、媒質nの端面から二次像面検出領域9
A,9Bとの間に屈折率nとは異つた屈折率ng
の媒質ngを充填した例である。両媒質n、ngの
界面から二次像面9A,9Bまでの距離t′2はt′2
=t1×ng×nとなる。この様に媒質ngを充填した
場合は、しない場合より結像性能の劣化が少な
く、しない場合の収差の悪化の程度を1とすると
充填した場合はおよその目安として悪化の程度は
{(n/ng)2−1}/(n2−1)に減少する。逆に
言えば媒質ngで充填する場合としない場合とで
結像性能を同程度とすると、充填した場合の長さ
t1はしない場合のt1のおよそ(n2−1)/{(n/
ng)2−1)}倍にできる。第18図Eは、第18
図Aに示す如く媒質nの一部をその途中から長さ
t1にわたつて切り除き、そこに屈折率ngの媒質を
充填した例である。このときの媒質ngの長さt′2
はt′2=t1×ng/nとなる。この場合は上述と同様
に、この媒質ngを空気とした場合の上述の媒質
nの切出量t1は結像性能上約8mm以下であること
が必要であり、約2mm以下であれば、実質的に問
題はない。もちろん、この場合も、ng>1の媒
質を用いた場合にはng=1の場合に比べて結像
性能の劣化は前述と同様の程度少ない。
この様に一次像面近傍から一対の凹面鏡を介し
て二次像面に至る光路を充填する屈折率n(n>
1)の媒質の一部を、屈折率ng(ng≧1)の媒質
で置換できることは、上記媒質で充填した焦点検
出光学系の作製を現実的なものとする。
て二次像面に至る光路を充填する屈折率n(n>
1)の媒質の一部を、屈折率ng(ng≧1)の媒質
で置換できることは、上記媒質で充填した焦点検
出光学系の作製を現実的なものとする。
尚、第18図は凹面鏡の結像倍率αが1の例で
あるが、倍率αが1より小さい場合にも同様であ
る。ただし、この縮小倍率の場合には、その許容
量t1は等倍(α=1)の場合より小さくなる。
あるが、倍率αが1より小さい場合にも同様であ
る。ただし、この縮小倍率の場合には、その許容
量t1は等倍(α=1)の場合より小さくなる。
なお特開昭54−150125の反射再結像光学系にお
いては凹面鏡部材の形状を半円形としており、本
発明においても半円形とする事は可能である。し
かし本発明の説明図において、凹面鏡部材の形を
半円形せずに第11図に示すごとくその撮影レン
ズ射出瞳への投影像100A,100Bの各々が
左右対称にしたのはこの方がボケ味が素直でボケ
た状態での両検出素子アレイ上の像のボケ味がほ
ぼ等しく検出精度の向上につながるからである。
又この片方の射出瞳部分の開口の部分を1その他
を0として決る瞳形状を表わす関数f(x、y)
としてこのy方向に関して積分した関数をf(x)
=∫∞ -∞f(x、y)dyとする時、f(x)をフーリ
エ変換した関数F{f(x)}が大きなセカンドピ
ークを持たないうにf(x)を決める事はセカン
ドピークの存在にともなう偽解像を押さえる事に
なり焦点検出の誤動作の要因を減少させる事につ
ながる。その意味でも第11図図示のような射出
瞳部分形状であればf(x)の形は台形となりF
{f(x)}のセカンドピークは抑圧されて都合が
よい。この場合f(x)の形状を台形に近似した
として(台形の上底)(台形の下底)/2であ
ればかなりの効果が認められる。
いては凹面鏡部材の形状を半円形としており、本
発明においても半円形とする事は可能である。し
かし本発明の説明図において、凹面鏡部材の形を
半円形せずに第11図に示すごとくその撮影レン
ズ射出瞳への投影像100A,100Bの各々が
左右対称にしたのはこの方がボケ味が素直でボケ
た状態での両検出素子アレイ上の像のボケ味がほ
ぼ等しく検出精度の向上につながるからである。
又この片方の射出瞳部分の開口の部分を1その他
を0として決る瞳形状を表わす関数f(x、y)
としてこのy方向に関して積分した関数をf(x)
=∫∞ -∞f(x、y)dyとする時、f(x)をフーリ
エ変換した関数F{f(x)}が大きなセカンドピ
ークを持たないうにf(x)を決める事はセカン
ドピークの存在にともなう偽解像を押さえる事に
なり焦点検出の誤動作の要因を減少させる事につ
ながる。その意味でも第11図図示のような射出
瞳部分形状であればf(x)の形は台形となりF
{f(x)}のセカンドピークは抑圧されて都合が
よい。この場合f(x)の形状を台形に近似した
として(台形の上底)(台形の下底)/2であ
ればかなりの効果が認められる。
本発明によれば、撮影レンズの予定焦点面上の
光像が焦点検出光学系により光電変換手段上に結
像された際に、像の局所的倍率の違いに対応させ
て光電素子の画素ピツチを場所毎に変更したの
で、収差等の影響を除去でき、焦点検出領域の端
でも正確な焦点検出が可能となる。
光像が焦点検出光学系により光電変換手段上に結
像された際に、像の局所的倍率の違いに対応させ
て光電素子の画素ピツチを場所毎に変更したの
で、収差等の影響を除去でき、焦点検出領域の端
でも正確な焦点検出が可能となる。
第1図は従来の再結像レンズ使用の焦点検出光
学系の配置図、第2図は、従来の再結像凹面鏡使
用の焦点光学系の配置図、第3図は本発明の一実
施例の焦点検出装置を一眼レフカメラに収納した
状態を示す斜視図、第4図及び第5図A,B,
C,D,Eは上記実施例の斜視図、平面図、正面
図、底面図、右側面、左側面図、第6図は一対の
凹面鏡の作製法を説明する為の正面図と平面図、
第7図は凹面鏡の非点収差を示す光学図、第8図
は二次像面検出領域の歪曲収差を示す説明図、第
9図は上記歪曲収差を考慮した光電素子アレイの
正面図、第10図は、上記実施例の光学的特長を
示す為に、光学的構成を単純化した光学図、第1
1図は撮影レンズの射出瞳と焦点検出光束の通過
領域との関係を示す図、第12図A,B,C,D
及び第13図A,B,C,Dは夫々第2実施例及
びその変形例の平面図、正面図、右側面図、左側
面図、第14図及び第15図は共に透明ブロツク
の変形例を示す平面図、第16図及び第17図
A,Bは夫々第3実施例の斜視図、平面図、正面
図、第18図は透明ブロツクに空隙又は他の媒質
を設け得ることを説明する光学図である。 1……撮影レンズ、2……予定焦点面、2A…
…一次像面検出領域、9A,9B……二次像面検
出領域、164,165,172,173,18
1,182……凹面鏡、167,168,17
5,176,190,191……光電素子アレ
イ。
学系の配置図、第2図は、従来の再結像凹面鏡使
用の焦点光学系の配置図、第3図は本発明の一実
施例の焦点検出装置を一眼レフカメラに収納した
状態を示す斜視図、第4図及び第5図A,B,
C,D,Eは上記実施例の斜視図、平面図、正面
図、底面図、右側面、左側面図、第6図は一対の
凹面鏡の作製法を説明する為の正面図と平面図、
第7図は凹面鏡の非点収差を示す光学図、第8図
は二次像面検出領域の歪曲収差を示す説明図、第
9図は上記歪曲収差を考慮した光電素子アレイの
正面図、第10図は、上記実施例の光学的特長を
示す為に、光学的構成を単純化した光学図、第1
1図は撮影レンズの射出瞳と焦点検出光束の通過
領域との関係を示す図、第12図A,B,C,D
及び第13図A,B,C,Dは夫々第2実施例及
びその変形例の平面図、正面図、右側面図、左側
面図、第14図及び第15図は共に透明ブロツク
の変形例を示す平面図、第16図及び第17図
A,Bは夫々第3実施例の斜視図、平面図、正面
図、第18図は透明ブロツクに空隙又は他の媒質
を設け得ることを説明する光学図である。 1……撮影レンズ、2……予定焦点面、2A…
…一次像面検出領域、9A,9B……二次像面検
出領域、164,165,172,173,18
1,182……凹面鏡、167,168,17
5,176,190,191……光電素子アレ
イ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 撮影レンズの予定焦点面の近傍に配置された
フイールドレンズと、前記フイールドレンズの後
方に配置された一対の再結像光学系とから構成さ
れる焦点検出光学系と、 前記焦点検出光学系により投影され、前記一対
の再結像光学系により分離された一対の前記予定
焦点面の像を夫々光電変換して光電出力を発生す
る一対の光電変換手段とを備え、 前記一対の光電変換手段からの光電出力に基づ
き焦点検出を行う焦点検出装置において、 それぞれの前記光電変換手段は、複数の光電素
子から構成され、前記予定焦点面の像が前記焦点
検出光学系により前記それぞれの光電変換手段に
結像された際に、前記像の局所的倍率の違いに対
応させて該光電素子の画素ピツチを場所毎に変更
したことを特徴とする焦点検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2018779A JPH02256012A (ja) | 1990-01-29 | 1990-01-29 | 焦点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2018779A JPH02256012A (ja) | 1990-01-29 | 1990-01-29 | 焦点検出装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57153632A Division JPS5942507A (ja) | 1982-09-03 | 1982-09-03 | 焦点検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02256012A JPH02256012A (ja) | 1990-10-16 |
| JPH0411845B2 true JPH0411845B2 (ja) | 1992-03-02 |
Family
ID=11981121
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2018779A Granted JPH02256012A (ja) | 1990-01-29 | 1990-01-29 | 焦点検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02256012A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4428382B2 (ja) | 2006-12-19 | 2010-03-10 | ソニー株式会社 | レーザ光源装置及びこれを用いた画像生成装置 |
-
1990
- 1990-01-29 JP JP2018779A patent/JPH02256012A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02256012A (ja) | 1990-10-16 |
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