JPH02230111A - 焦点検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

本発明は．カメラ等の光学装置の焦点検出装置に係り，
特に焦点検出ざｎる主結１象光学系により形成さｎた物
＃−凛會一対の再Ｍ１欺允字系に工り夫々対応する一対
の受光装置に再結渾し，各受ｆｔ．装直上の再ｌＢ慮の
相対位置関係？検出し主結皺光学系の焦点検（支）ｒ行
う焦点検出装置に関する〇 匠米のこの櫓のカメラ用焦点恢出裂置の元学系？第１図
に示す０第１図区）及びｆＢｌは夫々正面図及び平面図
であり、違影レンズｌの予定焦点面２又はその近傍にフ
ィールドレンズ３が配直さ几ている。この予定焦点面２
はフイルムと共役な位置又はその近傍位置でるり，一対
の再結像レンズ４Ａ，４Ｂに関して上記予定焦点面２と
共役な面５に諏位置検出用光電装置６Ａ１６Ｂが夫々配
置さｎている０上記予定焦点面２には復影レンズＩＫ工
る被写本像が形既さ几，上記共役面５には再結像レンズ
４Ａ．４Ｂに工る上記被写体像の二次１象が形成さｎる
ので，上記予定焦点面２ｋ一次像面，共役面５を二次像
面と称する０ま友、一次像面２上の中央部、具体的には
撮影レンズ元軸Ｏｔ中心とし友矩形領域２人が焦点検出
に便用さｎる領域であるので、こｎｋ一次像面検出領域
と呼び，この一次像面検出領域２人と共役な二次１象面
５上の領域を二次像面検出領域と称するＯ当然この二次
１象面検出領域５Ａ．５Ｂは夫々元竃襞置６Ａ，６Ｂの
受光面と一致しているｏｆＭ影レンズ１の光軸万同への
移動に工Ｖ破写ｔｒ−１家が元帽Ｏ上？移動すると、そ
ｎに伴い再結像レンズ４Ａ，４Ｂｌ７１：る二次１家は
二次Ｉｆ面上で変位する０元Ｍ！装置６Ａとそｎ上の二
次１象との相対位置と、光電装置６Ｂとそｎ上の二次像
との相対位置ととの検出から撮影レンズ１の焦点調節状
態？判別できる。 しかしながら、この焦点検出装置は、点線で白んだ焦点
検出元学系７の容積が大きく、カメラボディ内部に収容
することが極めて困難であるという欠点がある０ そこで，Ｓ点検出光学系７の小型化を図る為に、上述の
再結像レンズの代りに凹面説？使用し九反射型焦点検出
光学系が、例えば特開昭４７−１３２８２、特開昭ｓ４
−１５０１２５に提案さｎている０この種の反射型焦点
検出光学系の原理的構成？第２図に示゜す。同図におい
て、矩形の一次像面検出領域２人の後方であって、律影
レンズ元軸に対してほぼ対称に一対の凹面鏡８Ａ．８Ｂ
が並置さｎている。この凹面繕８Ａ．８Ｂは、この凹面
虐に工る二次像面検出憤域９Ａ．９Ｂが一久ｉ象面恢出
頚城２人と重なり合わない徐に、凹面誂８Ａ．８Ｂの−
ｙｔ軸（凹面鏡の面積中心における伝線を凹面一の光軸
と足めゐ）が１次１象面検出領域の中心と凹面鏡８Ａ，
８ＢのそｎぞｎのｉｉＯ＠中心の含点に工って決まる平
面に対して夫々下方に角度ψ及び上方へ角度ψだけ触け
らｎているＯこの傾斜に工り凹面説８Ａの二次像面検出
領域９人及び凹面説８Ｂの二次１象面検出慣域９Ｂに夫
々一次像面２人の下方及び上方に形底さｎるＯもちろん
この二次像面検出領域９Ａ．９８Ｋ［変位検出用元軍装
置が配＊ｇｎているＯこの株なＷ底の反射壓焦点検出元
学系に小型化さｎるが，しかしながら、凹面鏡の傾斜の
為に、二次像が劣化する，即ち二次像と一次像との同一
性が著しく損なわｎる恐ｎがあるＯこの点を以下に詳述
する０ 一次像面検出領域２Ａの中心から凹面ｆｌ８　Ａ．８Ｂ
の中心に入射し，二欠１象面検出領域９　Ａ　ｂ９Ｂの
中心に至る光線に関し，凹面説への入荷丁元とその反射
元とのなす角度、即ち，四〇１］睨への入射角と反射角
との和｛以下この和の角１）’ｋ振ｎ角と称する０｝に
，上述の頗斜角ψの２倍即ち２ψであるＯＣの振ｎ角は
凹面説の結｛尿注龍に大きな悪形書？及ぼす。具不的に
は，凹面説のコマ収差は振八角ψに比例して増大し、非
点収差は９３に比例して増大する。もちろん、一次像面
検出領域２人の中心以外の点から凹面鏡の中心に向う光
線の振ｎｐ４は、後に詳記する様に上記中心からの距離
に応じて大きくなるので，二次１象検出領域内ではその
端部の二次ｒ象が収差的に最も劣化する〇 このように反射型焦点検出光学系は凹面説の如きに応じ
てその収差が急増し二次像が劣化しこｎにエリ一対の光
電装置による各二次像の相対的位置の倹出槽度が大幅に
低下し，結局高梢の焦点検出が期待でさないといク九欠
点が存在してい友。 そこで本発明の目的は凹面鏡の頌きがその二次１象に冥
質的に悪影譬倉及ぼさない焦点検出装置を提供すること
である。 本発明は、この目的を達成する為に、一次潅検出領域の
中心からの光線の、一対の凹面鏡の中心への入射角（ラ
ジアン】が夫々約Ｊてがστ（Ｂは凹面説の最大径】以
下となる様に、凹面鏡の傾きをその最大径Ｒとの関係で
設定するものである０以下に本発明の焦点検出装置を一
眼レフカメラ用焦点検出装置に適用しｔ実施例を図面を
参照して説明する〇 一眼レフカメラの光学系の概略を示す第３図において、
撮影レンズ１）ｋ通クｔ被写体光は、一部がクイックリ
ターンミラー１）によシファインダの焦点板ｌ２の方へ
反射さｎ１残部はミラー１）を透過してフィルム面１３
の前方にあるサブミラー１４によシミラーボックス下方
へ反射さｎる。ミラーボックスの底板１５には、矩形開
口１５ａが穿設さｎ１この底板ｌ５の下には反射型焦点
検出光学ブロック体１６が配設さｎている０ このプロック本ｌ６を第４図と第５図を用いて評述する
。 １町図ＶＣおいて，屈？ｒａｎ　（　ｎ＞ｌ　ｌのガラ
スやブラステック寺の透明直方不ブロック１６０に汀，
その上面の左端近傍に平凸のフィールドレンズ１６１が
貼付ざｎているＣこのレンズ１６１はブロック１６０と
のｗｉｔｈ＋が平面で．凸面の頂点に＃よぼ慟丁ゐ僚に
開口付迦允＆ｌ６２が設けらｎているＣこの邂元＆ｌ６
２ｒｒＬｍ影レンズ１の予定焦点面郎ち一次１確面上又
はその近傍に配置さｎ，その中央部の矩刑開口１６２ａ
げ一次１＊ｏｉｏ検出領域２人の寸法工リわずかに大き
い寸法に定めらｎ，弟３因の底＆１５の開口１５ａの真
下に位置する様ＶＣ定めらｎている、従ってこの矩形開
口１６２ａが一次渾面検出領域２ＡｉＣ４質的に相当す
ると言うことができる。 もちろん，この遮元＆１　６　２ｆｌミラーボックスの
底１）５で代用することもできる。フィールドレンズ１
６１の下部のブロック１６０の円部には反射部材１６３
が約４５°　の角度で斜設さｎているＣこの反射部材１
６３は第５図ｔｅｌに明示する様に中天部にブロック１
６０の長輔万向に沿って伸び九反射面（ダブルノ・ツ゜
チング部分】１６３ａと、この反射面の両側に設けら′
ｎた元台過Ｎ１６３ｂ，１６３ｃと，この反射面と両光
透過部以外の光吸収部１６３ｄとから構成さｎている。 この反射面１６３ａは一次像面倹出領域用開口１６２ａ
により規制さｎ九焦点検出用光束のみを反射する大きさ
に選定さｎ，元吸収部１６３ｄは焦点検出用光束以外の
光束を吸収して迷′ｙｔ．を減少させる。尚，この様な
反射部材１６３は例えばブロック１６０をこの反射部１
； 材の位置から二分し、その結果露出した斜面ｉ蒸着等の
手段によクて反射膜１６３ａ及び元吸収膜１６３ｄを形
成し友後、二分ブロックを再び貼付することによシ製作
できる。ブロック１６０の右側端面には上下方向に並置
さｎた一対の凹面鏡ブロック１６４．１６５が貼付さｎ
ておＶ％こｎらは焦点検出光学系の仮想的光軸１６６に
関して上下方向に対称となクている。 こｎらの凹面腕ブロック１６４、１６５は屈折率ｎの透
明物質から成りブロック１６０に接合する面が平面で、
他面が凸球面で、この凸球面にに反射面１６４ａ．１６
５ａが形成さｎている。凹面鏡として働く各反射面１６
４ａ，１６５ａはそ几ぞルによクて形成さｎる二次像面
の検出領域が互に宜シ合わないことはもちろん、次像面
検出領域１６２ａとも重り合わない様に、夫々所定角度
だけ傾けらｎている。具体的には、凹面９１６４．１６
５は反射面１６３ａからの光束を夫々逆方向に反射偏向
させ、ブロック１６０の左端面に所定距離隔てた位置に
二次像面検出領域９Ａｂ９Ｂを夫々形成する。この凹面
鏡１６４の形底する二欠像面検出領域９人には光電変換
装置１６７が、凹面鏡１６５の二次像面検出領域９８Ｋ
は光電変換装置１６８が夫々配置さｎている。従って光
電変換装置１６７の光電面と一次家面検出領域２人とは
凹面虜１６４に関して、光冗装置１６８の光電面と一次
像面検出領域２人とは凹面鏡１６５に関して夫々共役と
なる。この様な位置関係であるので？面鏡１６４は反射
面１６３ａからの入射元ｔ党透過部１６３ｂ七通って光
電装電１６７の受光面に収呆させ，凹面鏡１６５は反射
面１６３ａからの入射光を光透過部１６３ｃを通クて光
電変換装１）ｉ１６８の受光面に収束させる０光電変換
装ｆｌ１６７，１６８は共に第４図の上下方同に多数の
受元紮子が配列さｎ友一次元光電変換素子アレイから放
り，各アレイは同一半導体基板１６９上に形収さｎてい
る０この基板１６９はブロック１６０の左端面に貼付さ
ｎている。 同フィールドレンズ１６１は、凹面，７１６４，１６５
の反射面１６４ａ％１６５ａと撮影レンズｌの射出瞳と
がほぼ共役となる様に、レンズパワーが選定さｎている
。 次に上述の傾斜さ−ｎ次凹面鏡ブロック１６４，１６５
の作製の一例を第６図によυ説明する０第１次像面から
凹面鏡までの距離をＬとする。 第６図（Ａｌの櫟に凸面の曲率半径がほぼＬ″ｌ？ある
平凸レンズＬ１を用意し、その凸面上に第６図（Ｂｌに
示す如くその中心を通るｔｉＢ３ｔ■の左右に反射面Ｍ
ａ．Ｍｂｉ形成する０この時、各反射面Ｍａ，Ｍｂの中
心が上記凸面の中心０１　から互に逆万向に距離Ｄ，　
＝ψ・Ｌだけずらす。その後，軸ｔ１に沿ってレンズＬ
ｌ金切断する。こうして作製さｎｔ一対の切断平凸レン
ズを、第４図及び第５図に示す如く、ブロック１６００
光路の中心軸１６６に関して反射面Ｍ　ａ　ｈ　Ｍ　ｂ
が対称となる様に、ブロック１６０に貼付する。 このようにする事により凹而銚の傾斜角ψが自ずから形
成され、又角度の微ｖＩ４整はプロクク１６０の端面に
反射部の形成さｎ几平凸レンズの平面側を端面密着させ
九形でその固定位置を面内で微調する事によ−り達成さ
ｎる０このようにすｎば凹面鏡自体の角度をふクて微調
する場合より調整がはるかに要易である０ この様な構成であるので、撮影レンズ１の透過元は被写
体の一次像を遮光板１６２よ又はその前後に形成すると
共に開口１６２ａを通過後、反射面１６３ａで反射さｎ
一対の凹面現１６４、１６５へ入射する０各凹面説１６
４、１６５は夫々自身の傾斜角ψに応じて入射元束を振
ｎ角２ψだけ振って即ち偏向させて反射し、凹面鏡１６
４の反射光は光透過部１６３ｂを通クて光電変換装置１
６７上に二次像を凹面鏡１６５の反射光は光透過部１６
３Ｃを通って光電変換装直１６８に二次像を夫々形成す
る０光電変換装置１６７，１６８は上記一対の二次像の
相対的位Ｉｔ関係を検出して熾影レンズ１の焦点調節状
態を検出する〇 ところか，この様な反射型焦点検出光学系は前述し九如
く凹面鏡１６４，１６５の傾斜角、即ちそｎによる光束
の振ｎ角２ψが大きくなるにつｎて、収差が大きくなり
二次像が劣化し上記一対の二次像の相対位置の検出精度
の低下を招来する。そこでこの充分な検出精度を保障で
きる条件を以下に求める。 前述の如く振れ角２ヂは非点収差に犬き〈影＊を与える
ので％まずこの振ｎ角と非点収差との関係を考察する。 ＠７図において゛、曲率半径Ｌの仮想球面Ｑ１は座標軸
ｘ’ｙ’ｚの原点０１全曲率中心と丁ゐ。凹面ｆｉＭに
この球面Ｑ１上に形成さｔ′Ｌ１　　凹面腕Ｍの中心０
１は、座標判２から所定１離ｎており、ｙ方向に関して
その食はＤである。 原点０８からｙ方向に距ｉ１ａＤだけ上方の点Ｐ１から
の光は凹面鏡Ｍの中心Ｏ！に入射角ψ（単位ラジアン】
で入射し轟然反射角ψで反射し、原点ＯＩに関して，ｄ
，　Ｐ　ｉとほぼ対称な位置付近に収束する０この像は
非点収差の為に，サジタルな光線束による結像Ｓがｙ軸
上に線状に現わｎ，ま之タンジェンシャルな光線束によ
る結像Ｔが（ＩＪｓと直交するねじれの位置に線状に現
わｎる０両像８Ｔの間の距離δ（単位０）はψの小さい
時以下で表わせる０ δ；’　２　・Ｌ　（ｌ−　ｃ　ｏ　ｓψ）’２Ｌψ’
　　−・−・・−（ＩＩＣＯＳψ サジタル（ＩＩ．Ｓの大きさ１，　（単位ね）は，　凹
面鏡八Ｉのｙ軸方向の径Ｒｓ　（単位龍】金底辺とし、
嫁Ｔの中心を頂点とする三角形と、像Ｓｉ底辺とし、上
記像中心を頂点とする三角形とが相似であること及びδ
《Ｌであるから、以下となる。 ４，ヨδ．曵Ｓ ，　　　　　　・・・・・・・・・（２）タンジエンシ
ャル（ｐＴの大きさｔＴはｈ（ｉＪｓの中心を頂点とし
，（ａＴｋ底辺とする三角形と、共通の頂点ｔＶし、凹
面鏡ＭｏＸ軸方向の径几Ｔを底辺とする三角形とが相似
であることから、以下の如く表わせる。 （２１式、（３）式に夫々ｆｉｌ式を代入するとＡｓ≠
２Ｒｓ・ψ１　　　　・・川・・・・（４）ｔ　　；！
２＠Ｒ，９）２　　　　　・・・・・山・（５）Ｔ 凹面鏡Ｍの径Ｒｓ　ｈ　ＲＴ　の大きい方の径を几ｍと
すると，この場合の大きい方の非点収差量Ａｍは（４）
式又は（５）式から次式となる。 ｔ　ｍ　”　２・Ｒｍ・ψ２　　　　・・・・・・・・
・（６）この式からψを求めると ψ＝Ｓ／７瓦４７τ筋丁　　・・・・・・・・・（７）
木発明の焦点検出装置の如く、光１）！装置上の二次１
象の相対位置を検出する方式にあっては、非点収差量が
０．０８ｍ程度であｎば、相対位直検出が可能であるＣ
そこで，二次１象検出領域の中心での非点収差量ヲ，ほ
ぼ０．０８１ＩＪ以下とする九めの条件は（７冫式から
以下の通りとなる。 ψ：５Ｊ−Ｔ丁７７１丁　　　　・・・・・・（８）こ
のように、一次葎面検出領域の中心からの光束が凹面説
の中心へ入射し之ときの振ｎ角２ψと凹面鏡の最大径Ｒ
ｍとが（８）式を満足する様に凹面鏡の傾斜及び最大径
を設定すｎば、非点収差を抑えることができ、正しい焦
点検出が可能となる。 また、二次像面検出領域の中心での非点収差貴をほぼ０
．０４ｍｍ以下とすると、かなシ高精度の検出が可能と
なる。この堝合の条件は以下となる。 ψ≦Ｊ］］『丁７］口７　　　　・・・・・・｛９｝更
に、上記非点収差ｔｋほぼ０．０２ｍ以下とすると極め
て高精度な焦点検出が可能となり、この場合の条件は以
下となる。 ψ≦−Ｊ０．　０　１　／　Ｒ　ｍ　　　　　−・・−
・（１０１尚、振ｎ角２ψの下限値は一次イ象面検出碩
域と二次像面検出領戚と金分離させる為の条件から必然
的に決定さｎる。 ま之，以上では非点収差量の最も小さい二次ｅ検出領域
の中心における非点収差と振ｎ角との関係を考察し友が
、検出領域全体についての非点収差を問題とする場合に
は以下の如くなる。 凹面鏡の中心に入射する光束のうち振ｎ角が最も大きい
のは、第２図に明示するように一次像検出領域２人の端
部からの光束である。そこで、この端部からの光束の上
記振ｎ角ｆ：．２９ｍとすると、こｎと検出領域中心か
らの光束の振ｎ角２９）とには次式が成立する。 ψ鵞＝ψ“＋＜　Ｌ　Ｗ　）　” ｍ　　　　　　２Ｌ ＬＷ ここで、ＬＷは一次鐵面検出領域の幅，了、は、この検
出領域の中心と凹面説の中心と検出領域の端部とのなす
角度である〇 二次橡検出領域の端部における非点収差奮ｔｍは（６）
式のψ２の代りに上述の９２　ｔ用いるｍ ことにより求まる。即ち Ｉ　　Ｌｖｉ ｔｍ＝２　・Ｒｍ−輻＝２　Ｒｍ　（ψ＋（２Ｌ）　”
）”Ｑυこうして検出領域の端邪における非点収差量ｔ
ｍを検出領域の中心からの元末の振ｎ角２ψによって表
わすことができる。 αυ式を変形すると ＣＰ＝ＪＬｍ／　２Ｒｍ）　　（Ｌｗ／２Ｌｌ”　　−
０２検出領域全体についての非点収差ｔｔ約０．０８ｕ
以下約０．０４ｙ以下、約０．０２＋ｕ以下とする九め
の振ｎ角の条件は夫々以下の如くなる。 ψ≦Ｊ０．０４　　Ｒｍ−　Ｌｗ　２Ｌ）’　　　・”
α沸ψ≦Ｊ０．０２／Ｒｍ−（Ｌｗ／Ｌｌ”　　　−ｔ
ｌｊ）ψ≦Ｊ０．０　１／ａｍ−（Ｌｗ／２Ｌ　ｌ　”
　　　　＝・（１．ｉ）さらにこの様な再結像光学系使
用の焦点検出焦点検出元学系に歪曲収差が存すると一次
像面上の任意の二点間距離と七〇に対応する二次ｆ象面
上の二点間距離との比、即ち倍￥が場所ごとに異なる。 これを具本的にＶ」示丁心と、菓８図に示すように一次
像面＠田領域２Ａ上の例えば中心点Ｐ！ｋ右端点Ｐｈ左
端点Ｐ３は、凹直誂１６４にＬシニ次陳面検出領域９Ａ
上の対応点Ｐ八　ｐ，／＆ＰＸ　　に夫々結像し、同様
に、凹面鏡１　６　５により二次像面検出領域９Ｂ上の
対応点ｐ．１、Ｐ一、Ｐ，Ｉ　　に夫々結像する。点Ｐ
１　　における任意の長さδｌぱ点Ｐ１’ｈ　　ＰＨ’
においては夫々具ク次長さδ１′，　　δ１′　に写像
さｎ，同様に点Ｐ雪、ｐｓ　ニオケル長サ１５ｈａ３ｔ
ｒｉ、点Ｐ！′、Ｐ！′、及びＰｓ’，　　Ｐ：　にお
込て夫々異っ友長さδ八δ鵞′、及びδ３′、δ３′　
に写鐵ざｎる０図倍率が大きくなっている。そこで、こ
の様な歪曲収差の影＃を除去するために、二次像９Ａ．
９Ｂを夫々検出する光！紫子アレイの各受光紫子のピッ
チをその光電素子の対応検出域の倍率即ち歪曲量に応じ
て変化させ、１次濠面上での両光電変換素子プレイの空
中家が完全に重なるようにすｎばよい。この様な光電累
子アレイを第９図に示す０同図において二次像９Ａを検
出する光電素子アレイＰＡ，は光電素子ｑのピッチを中
心位置の受光素子ｑｏより右方において大きくシ、二次
＠　９　Ｂ　ｙ２検出する受光紫子アレイＰＡ雪につい
てはその逆になクている。 同、歪曲収差は、本発明のフィールドレンズを含み凹面
鏡使用の焦点検出装置に限らず、第１図に示し之再結像
レンズ使用の焦点検出装置に関しても全く同様に問題と
なる。従って上述の光！素子アレイの光ＩＥ素子のピッ
チを二次像の局部的倍率に応じて変化させ、１次昧面上
で２つの光電素子アレイの空中けが完全に重なるように
することは、第１図の焦点検出装置にも蓮めて有効であ
る。 次に，フィールドレンズから一対の凹面鏡まで、及び凹
面境から光電装置までを屈折率ｎの透明媒質によって充
填したことの利点を第２図の焦点検出光学系との比較に
よシ説明する０両者の比較を容易とする為に本英施例の
反射聖焦点検出元学系の構成を原理的には同一性？保ち
ながら単純化し次第１０図の光学系と第２図の光学系と
全比較する。特開昭４７−１３２８２及び特開昭５４−
１５０１２５記載の反射再結像光学系においては第２図
（ＣＩのごとく再結像光学系を用いる時には再結像光学
系がレンズであるが凹面鏡であるかにかかわらず％１次
焦点面近傍にフィールドレンズヲ置くことは不可欠の構
成要素となるので第２図囚、（Ｂ１第ｌＯ図ｔＡｌ，　
ｔＢｌではフィールドレンズＬｓ’ｉ含め次形で図示し
ている。 まず第２図の反射光学系の構成を簡単に説明する。第２
図（４）及び（３３１は夫々正面図，平面図であυ，再
結像光学系は１次像面近傍に設置さｎｍフィールドレン
ズと１次像面からＬだけ離ｎｍ所に設けらｔ′Ｌ７ｔ一
対の曲率半径Ｌの凹面鏡８Ａ，８Ｂから放る。１次慮面
検出領域２人の中心と各凹面境の中心と２次像面検出領
域９Ａ，９Ｂの中心とのな丁角度即わちａｎ角力；共に
２９となる様に互いに逆方向に傾斜さｎている。 続いて第１０図の反射型光学系の構成を簡単に説明する
。第１０図（ＡＩ及び第１０図（Ｂｌは夫々正面図、平
面図であシ、屈折率ｎの直方体状透明ブロックＴＢＫは
その一端面にフィールドレ／ズＬ！が形成さｎ１この端
面に対向する端面に一対の曲率半径Ｌの凹面鏡Ｍｃ％Ｍ
ｃｆが形成されている。各凹面鏡Ｍｃ，Ｍｄは、上記実
施例と全く同様に一次像面検出領域２人の中心と各凹面
鏡の中心と二次像面検出領域９Ａ，９Ｂの中心とのなす
角度即ち振ｎ角が共に２ψとなる様に、互に逆方向に傾
斜さｎている。 第２図と第１０図の条件を揃える為に、両図において一
次像面２人とフィールドレンズＬ２の頂点の接平面とが
共にほぼ一致しており、次像面２人から再結像光学系８
Ａ％８Ｂ，Ｍｃ．Ｍｄまでの距離が共に等しくＬ″″ｃ
６り、かつ検出に用いる光束の広がりも共に等しくθＴ
１θＳであると．する。第１）図に、撮影レンズ１の射
出瞳１００と、その内部の焦点検出に用いる瞳部分１０
０Ａ，ＩＯＯＢとの関係を示す。瞳部分１００Ａ’ｋ通
過し友光束が再結像光学系８Ａ，又はＭｃに入射し、瞳
部分１００Ｂの通過光束が再結像光学系８Ｂ、又はＭｄ
に入射する０こｎらの瞳部分１００Ａ，ＩＯＯＢ（７）
明るさ（Ｆ値［−，ｍ部分の並びの方向Ｘに関してＦＴ
とし、その垂直方向ｙに関してＦｓとすると、こｎらの
明るさＦＴ，ＦｓとＩ！２図、第１０図の検出に用いる
光束の広がシ角度θ丁、θＳとの関係は以下の通シであ
る。 θＴ＝１／ＦＴ　，　　　θｓ＝１／Ｆｓまｋ，第２図
（ＡＪ，第１０図（４）に示すように検出光束θＴの中
心と撮影レンズ１の光軸０とのなす角度を００とする。 以上の如き条件の設定の下で，第２図と第１０図の焦点
検出光学系による二次像の良否を検討する。 再結像光学系８Ａ，８Ｂ，ＭＣ，Ｍｄの球面収差、コマ
収差、非点収差は、再結像光学系の育効口径と一次鐵検
出領域２人の中心とのなす広がり角θ（θを、θｈ、θ
♀、θ讐》に応じて大き〈なシ、具体的には、球面収差
はθＩｖＣ．コマ収差はθ２に、非点収差はθに夫々比
例して増大する０ま之一次像面２人に対して、再結像光
学系へ光軸が垂直でなく、傾いているので、この傾き角
が大きくなるにつｎて、二次渫は劣化する。換言すると
、この傾き角は、そｎぞれ開角θＬ！１、θ０に等しい
ので、開角が大きくなるに伴い二次像が劣化する。 そこで、第１図と第１０図とについて広がシ角と開角と
を比較してみると、第２図の再結像角 光学系では、広がシ角θＴ１　θ３、検出開尖θ０の検
出光束がフィールドレンズＬｖ　ｆｆ通過して夫々、同
一角度θ丁、θｓ１　θ０で再結像凹面鏡８Ａ．８Ｂに
入射する。従ってこの場合の再結像凹面鏡に関する広が
シ角θｔ１θ′Ｓはθを＝θＴ、θｔ＝θ５であシ開角
θｂはθｂ＝θ０である。他方、第１０図の凹面鏡光学
系ではフィールドレンズＬ１から再結像凹面鏡Ｍ　ｃ　
ｂ　Ｍｄまでの至間が屈折’ＪＸｎの媒質で充填さｎて
いるので、凹面疑の入射倶の光束の広がり角度は１　／
　ｎに減少し、Ｘ方向及びｙ方向の広がシ角θＴ、θＳ
及び、開角θ２は夫々以下となる。θ♀＝θＴ　／　ｎ
　＞　θ５＝θＳ／。、θ８＝θｏ／ｎｏこのように、
第１０図の再結像光学系は第２図のそｎに比べて広がｐ
角及び開角が夫々１　／　ｎとなるので、再結像光学系
の結像性能が著しく向上する。更に第ｌＯ図の光学系は
光束の広がシが１　／　ｎになる友め再結像光学系の容
積も大幅にコン゛バクト化できると共にフィールドレン
ズ、凹面鏡光電装置を透明ブロックに直接固定できる為
に位置合せ精度上又は堅牢さの点でも５ｎている。更に
また屈折率ｎの透明媒質で焦点検出光学系の光路と充填
することによシ凹面鏡の寸法ＲＴｂ　Ｒｓ即ち径を充填
しないときの径に比べてｌ　／　ｎに減少できる。詳述
すると、凹面鏡の径ＲＴ，Ｒｓは屈折率ｎの媒質を充填
しない時、夫々ＲＴ＝Ｌ・θＴ，　　＝Ｒ”，Ｒｓ＝：
Ｌ・θｓ　＝Ｒ？　であるのに対して、充填するとＲＴ
＝Ｌ・θｎ　＝Ｌ・θＴ／ｎ＝ＢＴ，Ｒ　ｓ＝Ｌ　・θ
ｎ　＝Ｌ・θｓ　／　ｎ　”Ｒｓとなる０この様に凹面
規の径を小さく出来ることは，（４）式又は（５）式か
ら、非点収差ＡｓｔＴを小さくできる事を意味し、また
（７）式からは同一非点収差量に対して振ｎ角を大きく
定め得る事を意味する。 ここで、屈折率ｎの透明媒質で光路を充填し九反射型焦
点検出光学系を第３図の如く一眼レフカメラのミラーボ
ックス底部に収容するときの寸法値の一例を以下に示す
。 Ｆｓ＝５，ＦＴ＝８とし、ｎ＝１．８，Ｌ＝４０Ｕとす
ると凹面鏡の寸法ＲｓＲＴはＲ　ｓ　＝Ｌ／（ｎＦ　ｓ
）”３．７ｍ，ＲＴ＝Ｌ／（ｎＦＴ）＝２．８ｕとなる
。ま之振ｎ角２ψを２９＝０．０２５×２ラジアンとす
ると、このとき、二次像面検出領域の中心での非点収差
量ｔｍはｌ　ｍ　＝　２・Ｒｍ・ψ””０．００４６ｍ
となシ極めて小さい。 一次鐵面検出領域の長さＬ　ｗ　ｆ　Ｌ　ｗ　＝　４　
ｍとしたときのその端部での非点収差量ｔｍはｌｍ＝な
ク、やはり非常に小さい。 もしこのように高屈折率媒質金用いず、第２図のように
媒質を空気ｎ”１とし他の条件Ｆｓ−６、ＦＴ”８，Ｌ
＝４０ｍ，ψ＝０．０２５は等しくと４−九場合の非点
収差量ｔｍはそｎぞｎ前のｎ　＝　１．　８の例の場合
の１．８倍と大巾に増大する０さらにこの条件で′ＷＪ
５図に相当する光路図を書いてみると，ｎ＝１の場合に
は光束の広がシ巾θが広いので、第５図の反射面１６３
の位置では光束が重なり合って分離できず、芙際にはψ
を０．０２５よシさらに大きな値にとらねばならず、従
クて収差量はさらに増大することになる。さらにま九振
ｎ角２ψが増大する事は第５図（Ｅｌの２次像面検出領
域（２つの検出光電変換累子アレイ３１６７，１６８の
間隔が離几る事になシこれはＩＣチップサイズの増大を
招く事からも好ましくない。 この様に７ィールドレンズから凹面鏡面さらに２次像面
までを高屈折率媒質でうめる事は（８）、（９）、Ｑω
式及び（１３．０４），（ＬＳ式を満足するよりよい解
を見い出すための重要な条件であり、こｎによって収差
性能の良いコンパクトな再結像光学系の実現が可能とな
る〇 次に本発明の第２実施例を説明する。 第１２図において，屈折率ｎの直方体状透明ブロック１
７０には第５図と全く同様にフィールドレンズ１６１が
貼付さｎ，その上に開口付遮光板１６２が配置さｎてい
る０ブロック１７０の内部であってフィールドレンズ１
６１の直下の一部領域には反射部材１７１が斜設さｒて
いる。この様な反射部材１７１の作製は、第１実施例の
反射部材１６３と同様にブロック１７０をこの反射部材
１７１に沿う面で分割してその露出面に反射面を形成す
ｎばよい。プロック１７０の一端面に設置さｆｌ＆凹面
鏡ブロック１２図（Ｃｌにおいて左右に対称である点及
び反射面の傾斜が同方向であるが、その傾斜の程匿が反
射面１７３ａの方が反射面１７２ａよシも大きく設定さ
ｎている点以外は第５図の凹面鏡ブロックと同一である
。凹面鏡１７２，１７３は上述の如く傾斜しているので
、一次像面検出領域２人から反射部材１７１で反射さｔ
ｚｙｔ光束ｔ振ｎ角を夫々異にするが共に同方向に反射
偏向させて、夫々二次像面検出領域９Ａ．９８ｋブロッ
ク１７０の他端に形成する。同一半導体チップ１７４上
に形成さｎｆＰ：．光電素子アレイ１７５％１７６は、
夫々二次像面検出領域９Ａ，９Ｂに一致する様にブロッ
ク１７０に貼付される。 この様な構成であるので、本実施例は凹面鏡１７３によ
る振ｎ角が凹面鏡１７２による振れ角より大きい九め凹
面鏡１７３による収差が悪化すると共に、両二次像の同
一性も低下するという問題が生ずる反面、光電素子アレ
イ１７５、１７６ｔ互に近接して配置できこの九めその
半導体チップの寸法を小さくできる利点がある。 この第２冥施例の変形例を第１３図により説明する。同
図において、開口付遮光板１６２がブロック１７０とフ
ィールドレンズ１６１との間に配置さｎ１フィールドレ
ンズ１６１の頂点近傍に定めらｒｌ一次（象面からの光
束はフィールドレンズ１６１を通過し遮光板１６２によ
り一次像面検出領域以外からの光束を除い友後ブロック
１７０内の反射部材１７１に入射する。 凹面鏡ブロック１７２、１７３は互に逆方向に傾゛斜さ
ｎておシ、二次像面検出領域９Ａ，９Ｂを同一直線上に
形成する。光電装置１７５、１７６としては，二次像面
検出領域９Ａ，９Ｂに夫々対応する一対の光電素子アレ
イ１７５％１７６を用いても、ま次二次像面検出領域９
Ａ，９Ｂとその間の間隙とをカバーする長さの単一の光
電素子アレイを用いてもよい。本例では開口付遮光板１
６２はフィールドレンズ１６１とブロック１７０との間
に設けられ、一次像面からかなシ離れた位置にある。こ
の様に一次ｒ象面検出領域以外の光束を遮光する遮光板
１６２は一次像面から少し離して配置することもできる
。 尚、以上の直方体状透明ブロック１６０又は１７０の長
手方向の長さがカメラ内のスペースとの関係から長すぎ
る場合には、第１４図又は第１５図に示す様に光路と適
宜折りた之んだ構放にすることができる。 以上においては二次像面の結像倍率αが等倍（α＝１）
の場合、即ち二次像が一次像と同一の大きさであり、一
次像面から凹面鏡までの光路長と凹面鏡から二次ｒ象面
までの光路長とが等しい場合であク九が、結像倍率αは
１に限るものでなく、それ以上とすることも以下とする
ことも可能である。特にαく１即ち縮小倍率にすると、
収差は等倍率に比べて幾分悪化するが、二次像面検出領
域の大きさが一次鐵面検出領域のα倍となり縮小さｎる
ので、光電装置の半導体チップサイズを小さくできる。 更に二次像面検出領域の照度が等倍率に比べて１／α２
倍も増大するのでｈｓ／Ｎｅ向上できる０ 以下にこの様な縮小再結像光学系を用い友本発明の第３
実施例を説明する０ 斜視図を示す８１６図及び正面図、平面図を示す第１７
図において，透明ブロック１８０は複数のブＣＩ７ク片
１８０Ａ，１８０Ｂ．１８０Ｃ，１８０Ｄから成る。直
方体状ブロック片１８０Ａはその一端面に互に逆方向に
傾斜さｎ九一対の凹面鏡ブロック１８１、１８２が接着
さｎ１他端面にブロック片１８０Ｂが接着されている０
このブロック片１　８．Ｏ　Ｂの上面はブロック片１８
０人の上面よシ突出しておシ、平凸のフィールドレンズ
１６１の平面が接着されている。このフィールドレンズ
１６１の凸面の頂点近傍には開口付遮光板１６２が配置
さｎている。この遮光板１６２の開口１６２ａは一次隊
面検出領域２人と実質的に一致している０ブロック片１
８０Ｂの底面はブロック片１８０Ａの底面に対して傾斜
しかつ突出している０このブロック片１８０Ａの底面に
はその中央部に反射面１８３が残部に迷光除去用光吸収
面１８４が夫々形成さｎている０この反射面１８３の寸
法は一次隊面検出領域２Ａを通ク之検出光束のみ金反射
する大きさに定めら几でいる。三角柱状ブロック１８０
０は、ブロック片１８０Ｂを挾んでブロック片１８０Ａ
の反対側に位置する様ニフロック片１８０Ｂに接着さｎ
ている。ブロック片１８０Ｃの斜面には中央部に反射面
１８５が、この反射面の両側に夫々光透過部１８６、１
８７がそして残りの部分に迷光除去用光吸収面１８８が
夫々形成さｎている。三角柱状ブロック片１８０Ｄは、
斜面がブロック１８００の斜面に接着され、凹面鏡１８
１，１８２に対向する面に半導体チ，プ１８９が接着さ
几ている。 このチップ１８９には凹面鏡１８１％１８２の二次像面
検出領域９Ａ，９Ｂをカバーする様に光電素子アレイ１
９０，１９１が形成されている０ この作用を述べる。 開口１６２ａからの光束は、ブロック片１８０Ｂの底面
の反射面Ｉ８３で反射さｎてブ０７ク１８０Ｃの反射面
１８５で更に反射さｎて凹面鏡１８１、１８２へ向う。 凹面鏡１８１、１８２で反射偏向され定光束は光透過部
１８６，１８７を通って二次像面検出領域９Ａ．９Ｂに
縮小二次像を形成すあ〇 この様に一・τ゜プニロッノ．１　８　０　Ｂの上面上
方に一次像面検出領３域２人を定め底面に反射面１，８
３を形成し穴。一こｎ゛にシより一次像面検出領斌から
の光束が一゛凹面鏡１−８’ｌ、１８２ど光電装置［９
　：０−と；を結ぶ空間乏完全に横切クー１後、反射面
．，１７８３に入射する℃゛とになり，Ｓ一次像面検出
領域’２Ａかーら凹ｊ鏡′までの光路，を長くしている
。 こうして゛，，・プＦ′−／ク１″１３゛０の外形形状
−を余シ複雑化する・こ′となく′１と次像面検出領域
から凹面鏡ま゛での光路長を、凹面鏡から二次像面検出
領域１での光路長，よ）モも太き

【できるｏｉた本実施
例：Ｃは、！他の実施例に比べて迷光の．発生を極めて
効果的に抑制できる利点があｈ−　ｏ詳述すると、・例
えーば、第５−図の笑施例では反射面１−６３ａの周囲
には元吸収面１６３ｄのみが存在するのではな−く元透
過部１６３ｂ，１６３ｃも存在するので、迷光の発生防
止は完全ではない。他方、本冥施例ではブロック片１８
０Ｂの底面は反射面１８３以外はすべて元吸収面１８４
であるので，迷光を充分に除去できる０ なお、上述の第１実施例のように透明ブロック１６０，
１７０，１８０の外形状を直方体の如く柱状とし、第３
図に示す様にこの透明ブロックの長手方向が一眼レフカ
メラのフイルム面１３とほぼ平行になる様に、カメラの
ミラーボックス底部に配置すｎば、カメラの犬聖化を招
くことがないという利点がある。 以上の実施例はいずｎも一次像面をフィールドレンズの
頂点の接平面とほぼ一致させること及びフィールドレン
ズから凹面鏡までとこの凹面鏡から光電装置までの光路
をすべて屈折率ｎの透明媒質で充填すること、という２
条件を実質的に充足するものであク７ｊｏｂかしながら
，焦点検出光学系を収容するカメラの如き光学機器との
関係等から反射型焦点検出光学系が上記２条件を充分に
は満足できない場合があシ得るＯそこで次に上記２条件
の許答量を説明する。 第１８図（Ａｔは上記２染件を満足した場合の一次像面
検出領域２人と、フィールドレンズＬ３と、ハッチング
を付し九屈折率ｎの透明媒質と、凹面境Ｍ　ｅ　ｂ　Ｍ
　ｆ及び凹面鏡に関して１次像面と共役な二次像面検出
領域９Ａ，９Ｂとの位置関係ｔ示す。第４８図（Ｂｌは
、フィールドレンズＬｘから一次像面検出領域２Ａ’Ｔ
ｈ距離ΔＺだけ前方へ離しｔものである。この距離ΔＺ
は一眼レフカメラ用の焦点検出装置であって焦点検出光
束の広がシ（第１）図破線の円》がＦ４程度ならば結鐵
性能上約８１Ｅｊ以下であることは必須であシ、約４ｕ
以下であｎば、かなクよく、約２ｕ以下であｎば実買上
問題はない。第１８図（Ｃｌは光電変換装置を透明媒質
のブロック端面から離さなけｎばならず、この為に、第
１８図（４）又は（Ｂｌの二次濠面検出領域のブロック
端面からブロックを長さｔ１だけ削除し友もので、これ
により二次像面検出領域９Ａ，９Ｂはこの新たなブロッ
ク端面からｔｌ＝ｔ１／ｎ　　の位置に形成？ｎること
を示している。この場合もｔ■が一程度までは許容でき
，約４ｕ以下であｎばかなりよ＜２ｗ以下であｎば実買
上問題はない。第１８図（Ｄｉは、媒質ｎの端面から二
次隊面検出領域９Ａ，９Ｂとの間に屈折ｉｎとは異ク九
屈折率ｎｇの媒質ｎｇを充填し九例である。両媒質ｎ％
ｎｇの界面から二次「象面９Ａ，９Ｂまでの距離ｔ１は
　ｔＺ　＝　ｔＩＸ　ｎ　ｇ／　ｎ　　となる。この・
様に媒質ｎｇを充填し友場合は，しない場合より結像性
能の劣化が少なく，シない場合の収差の悪化の程度を１
とすると充填した場合はおよその目安として悪化の程度
は｛（ｎ／ｎｇ）”−１）／（ｎ”　　１）に減少する
。逆に言えば媒質ｎｇで充填する場合としない場合とで
結像性能を同程度とすると，充填した場合の長さ【１は
しない場合のｔ１のおよそ（ｎ”−１）／（　（　ｎ／
　ｎｇ）　”　−　１　）倍にできる。第１８図（Ｅｌ
は、第１８図囚に示す如く媒質ｎの一部をその途中から
長．さｔ■にわ几クて切シ除き、そこに屈折率ｎｇの媒
質を充填しｔ例である。このときの媒質ｎｇの長さｔ；
はｔ′ｔ＝ｔＩＸｎｇ／ｎとなる。この場合は上述と同
様に、この媒質ｎｇを空気とし７＋：場合の上述の媒質
ｎの切出量ｔ１は結涼性能上約８１ｕ以下であることが
必要であシ、約２ｕ以下であｎば、実質的に問題にない
。 もちろん、この場合も、ｎ　ｇ　＞　ｌの媒質を用い次
場合にはｎ　ｇ　：　１の場合に比べて結像性能の劣化
は前述と同様の程度少ない。 この様に一次像面近傍から一対の凹面鏡を介して二次像
面に至る光路を充填する屈折率ｎ（ｎ＞１）の媒質の一
部を、屈折率ｎｇ（　ｎｇ≧１）の媒質で置換できるこ
とは、上記媒質で充填し次焦点検出光学系の作製を現実
的なものとするＣ ｆｊ４％第１８図は凹面鏡の結像倍率αが１の例である
が，倍率αが１よυ小さい場合にも同様である０ただし
，この縮小倍率の場合には、その許答量ｔ１は等倍（α
＝１】の場合よシ小さくなる。 なお特開昭５４−１５０１２５の反射再結像光学系にお
いては凹面鏡部材の形状を半円形としておシ、本発明に
おいても半円形とする事は可能である０しかし本発明の
説明図において、凹面鏡部材の形を半円形せずに第１）
図に示すごとくその撮影レンズ射出瞳への投影＠１　０
　０Ａ，１００Ｂの各々が左右対称形にし九のはこの方
がボケ味が素直でボケ次状態での両検出素子アレイ上の
像のボケ味がほぼ等しく検出精度９向上につながるから
である。又この片方の射出瞳部分の開口の部分を工その
他をＯとして決る瞳形状を表わす関数をｆ（ｘｈｙ）と
してこのｙ方向に関して積分した関数をｒ（ｘ＋＝ｆ″
′ｆ（　ｘｂ　　ｙ　）ｄｙ　とする時、ｆ（ｘｌｉフ
ーリエ変換し定関数Ｆ［ｆ（ｘｌ）が大きなセカンドピ
ークを持友ないようにｆ（ｘｌｉ決める事はセカンドピ
ークの存在にともなう偽解像ｔ押さえる事になシ焦点検
出の誤動作の要因を減少させる事につながる。その意味
でも第１）図図示のような射出瞳部分形状であればｆ　
（ｘｉｏ形は台形とを９１？（ｆ（ｘｌ）のセカンドピ
ークは抑圧さｎて都合がよい。この場合ｆ　（ｘｌの形
状？台形に近似したとして（台形の上底）≦（台形の下
底）／２であｎばかな９の効果が認めらｎる。 以上の説明から明らかなように、一次像面検出領域の中
心からの光線の，一対の凹面鏡の中心への入射角が夫々
約Ｊ丁Ｔ７７１以下となる様に、凹面鏡の傾きを定める
ので、凹面鏡の傾きに大きく影響を受ける非点収差を充
分に抑えることができ、高精度の焦点検出が可能となる
。 ｔ之、凹面誂の使用によ〕１焦点検出光学系をコンパク
ト化できるが、一次像面検出領域近傍から凹面鏡を介し
て二次［象面検出領域に至る光路を、所定の間隙の存在
を許容して、屈折率ｎ（ｎ＞ｌ）の透明媒質で充填した
場合には、一層コンパクトにできかつ凹面鏡の径も縮小
でき、更に焦点検出光学系の結像性能を大幅に向上でき
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の再結像レンズ使用の焦点検出光学系の配
置図，第２図は、従来の再結像凹面鏡使用の焦点光学系
の配置図、第３図は本発明の一実施例の焦点検出装置？
一眼レフカメラに収納した状態？示す斜視図、第４図及
び第５図囚、（Ｂｌ、（Ｃｌ、ＦＤＩ、（Ｅｌは上記実
施例の斜視図，平面図、正面図、底面図、右側面、左側
面図、第６図は一対の凹面鏡の作製法を説明する為の正
面図と平面図、第７図は凹面鏡の非点収差を示す光学図
、第８図は二次像面検出領域の歪曲収差を示す説明図，
第９図は上記歪曲収差を考慮し九光電素子アレイの正面
図、第１０図は、上記実施例の光学的特長を示す為に、
光学的構成を単純化した光学図、第１）図は撮影レンズ
の射出瞳と焦点検出光束の通過領域との関係を示す図、
第１２図囚、（Ｂｌ、（Ｃｌ、■）及び第１３図（Ａｌ
　ｂ（Ｂｌ．　（Ｃｌ，　（Ｄｉは夫々第２実施例及び
その変形例の平面図、正面図、右側面図、左側面図、第
１４図及び第１５図は共に透明ブロックの変形例を示す
平面図、第１６図及び第１７図囚ｓ　（Ｂ）は夫々第３
冥施例の斜視図、平面図、正面図，第１８図は透明ブロ
ックに空隙又は他の媒質を設け得ることを説明する光学
図である。 １・・・・・・撮影レンズ、２・・・・・・予定焦点面
２人・・・・・・一次像面検出領域ｋ　９Ａ，９Ｂ・・
・・・一次像面検出領域、１６４、１６５、１７２１）
７３．１８１，１８２・川・・凹面鏡，１６７、１６８
．Ｉ７５、１７６，１９０．１９１・・・・・光電素子
アレイ ′７／図 ナ３図 求４図 ：Ａ７２区 矛ｑ区 才１０囚 オ１６図 ナ／Ｓ区 矛１７口

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）焦点検出される結像光学系の予定焦点面の後方に
   配置され、この結像光学系によって上記予定焦点面上の
   所定検出領域内に形成された一次像を再結像し、同一の
   一対の二次像を作成する一対の再結像凹面鏡と、上記一
   対の二次像の相対的位置を検出する光電手段とを具備し
   、上記一対の凹面鏡は上記二次像が上記一次像と空間的
   に重り合わない様に所定角度傾斜されている焦点検出装
   置において、上記所定検出領域の中心からの光線の、上
   記各凹面鏡の中心への入射角（ラジアン単位）が、共に
   約√（０．０４／Ｒ）（Ｒは凹面鏡の最大径で単位はｍ
   ｍ）以下となる様に、上記各凹面鏡の傾斜角を定めるこ
   とを特徴とする焦点検出装置。
2. （２）上記各入射角が共に約√（０．０２／Ｒ）以下で
   あることを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の焦
   点検出装置。
3. （３）上記各入射角が共に約√（０．０１／Ｒ）以下で
   あることを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の焦
   点検出装置。
4. （４）上記所定検出領域から上記一対の凹面鏡を介して
   上記一対の光電装置までの光路をわずかの間隙を許容し
   て、屈折率ｎ（ｎ＞１）の透明媒質で充填することを特
   徴とする特許請求の範囲第１項、第２項又は第３項に記
   載の焦点検出装置。