JPH04122192A - カラー用撮像装置の試験装置 - Google Patents

カラー用撮像装置の試験装置

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JPH04122192A
JPH04122192A JP2243509A JP24350990A JPH04122192A JP H04122192 A JPH04122192 A JP H04122192A JP 2243509 A JP2243509 A JP 2243509A JP 24350990 A JP24350990 A JP 24350990A JP H04122192 A JPH04122192 A JP H04122192A
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JP
Japan
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test
color
color imaging
brightness
imaging device
Prior art date
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Application number
JP2243509A
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English (en)
Inventor
Takashi Onoki
小野木 尊
Yoshitaka Sogo
十河 芳孝
Hiroo Oshima
裕夫 大島
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
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Publication date
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  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、カラー用撮像装置の製造工程における試験
やカラー用撮像装置の特性解析および評価試験などに使
用するカラー用撮像装置の色ムラや感度特性なとの特性
試験を可能にした撮像分野のカラー用撮像装置の試験装
置に関するものである。
〔従来の技術〕
近年、カラー用ビデオカメラは、民生向けを中心として
急激に普及してきている。カラー用ビデオカメラの小型
化や軽量化あるいは高性能化か急速に進行している。こ
れに伴い、カラー用ビデオカメラに使用するカラー用撮
像装置に対する要求も同様であり、したかって、カラー
用撮像装置の色ムラや感度特性などの試験装置として、
詳細かつ精度の高い試験に使用することか可能な装置の
実現が要求されている。
以下、従来のカラー用撮像装置の試験装置について、図
面を用いて説明する。
第7図(alに従来例のカラー用撮像装置の試験装置の
構成を示す。
第7図(alにおいて、Iはカラー用ビデオカメラ部で
あり、カラー用撮像装置1a、光学機構1bおよびビデ
オ信号回路ICから構成されている。
また、ビデオ信号回路1cは、カラー用撮像装置1aか
ら電気信号を取り出す回路とカラー用撮像装置1aから
取り出した信号をビデオ信号につくり変えて出力する回
路とから構成されている。2は試験用スクリーン、3は
ビデオ信号回路ICの出力信号を入力の信号としてカラ
ー用撮像装置laの特性試験を行う出力装置である。
以上のように構成されたカラー用撮像装置の試験装置に
ついて、以下、その動作を説明する。
試験用スクリーン2は全面を光学的に均一な面となるよ
うに保ち、光学機構1bを介してカラー用撮像装置1a
の上に結像させる。このとき、試験用スクリーン2の全
面か均一に保たれることにより、カラー用撮像装置1a
の各部分も光学的に均一な環境に置かれている。
さて、カラー用撮像装置1aの電気特性の不良として、
ビデオ信号の色ムラ不良および光電用セルの感度特性の
不良かある。
まず、色ムラ不良となる原因の1つについて、第8図を
参照しなから説明する。
第8図(alはカラー用撮像装置1aの受光面を構成す
る撮像用素子内の光電セルの配列の様子を示している。
ここで、X+−+ 、X+ 、X+*+Vr−+、’/
rおよびy1+Iは、撮像素子上に配列された任意の光
電セルの配列の位置関係を示し、C1は、撮像素子上の
位置(++ 、++ )にある1組の光電セルである。
第8図(bl、 (C1,(dlは第8図(a) i:
示した1組の光電セルC1を拡大した構造の一例を示し
たものである。光電セルC1は、4つの光電用セルCl
l01□2 、  C112、CI+4 と、それぞれ
に対応するカラーフィルタf III 、  fl+2
 、  fi12 、  f114とから構成されてい
る。そして、光電セルC++は、4つの光電用セルC+
+ 、  Czt 、  C113、CI+4全体でカ
ラー用の1組の光電セルC1として機能する。
第8図(b)はカラーフィルタfl11.f+I□f 
1lff、  f114が、それぞれに対応する光電用
セルCz+ 、Czx 、C112、Czaの真上に正
しく配列している。しかし、第8図(C1ては、カラー
フィルタLetが対応する光電用セルC112の真上に
なく、位置ずれがある。そして、光電用セルC11!の
はみ出し部分wlには、カラーフィルタf、、かない。
したがって、光電用セルC1,2の信号出力は正常でな
くなり、ビデオ信号の色ムラの原因の1つとなる。
第8図(d)では、4つのカラーフィルタf IIIf
IIl、fzz、fl□4か、それぞれに対応する充電
用セルC++ 、 CI+2 、  C112、C11
4の真上に正しく配列されてなく、位置ずれがある。そ
して、光電用セルC,,4には、カラーフィルタf11
4からのはみ出し部分w2かある。したがって第8図(
C)の場合と同様、光電用セルC1,4の信号出力は正
常でなくなり、ビデオ信号の色ムラの原因の1つとなる
このほかに、図示しないか、他の光電用セルに対応する
はずのカラーフィルタに覆われる場合なとも色ムラの原
因となる。
つぎに、充電用セルの感度特性にバラツキが発生する不
良について説明する。
この不良の原因には、光電用セル上のカラーフィルタの
光学的な透過率のバラツキかあったり、光電用セルの光
学的な有効面積のバラツキなどかある。
現在、これらの特性試験は、−船釣に第7図falに示
すような装置を用いて、ビデオ信号回路ICから得られ
る信号をテレビ受像器などのビデオモニタ装置に入力し
、モニタ画面の全面について、あるいは場所を特定して
、目視官能試験を行ったり、ビデオ信号の電気計測を実
施してカラー用撮像装置1aの試験が行われている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上記従来の構成では、つぎのような問題
が生じる。
第7図(alに示すように、試験用スクリーン2上の部
分に、  L、 M、 Nは、光学機構1bを介したと
き、それぞれカラー用撮像置台la上の部分に1、m、
nに対応する。このように、試験用スクリーン2上の部
分に、L、M、Nとカラー用撮像置台la上の部分に、
]、m+  nとは、それぞれ上下、左右か逆の位置関
係となるが、説明の都合上、第7図(bl (C1には
、試験用スクリーン2上の部分に、  L、 M、 N
とカラー用撮像置台la上の部分に、  1. m、 
 nとを、上下、左右が同じ位置関係として示している
第9図(a)はNTSC方式やPAL方式と呼ばれてい
る一般的なテレビ受像機などのモニタ画面の走査J!(
ラスタとも呼ばれる)の状況を示したものである。第9
図(a)に示す部分に、1.m、nは第7図(C1に示
すものと同じであり、試験部分である。
第9図(b)は第9図(a)に示されたカラー用撮像置
台la上の試験部分に、  Iまたは試験部分m、  
nを含む走査線への1本の信号を示し、どの部分も均一
な信号であることを表している。
また、第9図(C)はCCD構造等のカラー用撮像装置
1aの場合において、カラー用撮像装置1aの固育の特
性の影響による信号のバラツキ(誤差)Fかあるときの
試験部分に、  1または試験部分mnを含む走査線A
の1本の信号を示している。
第9図(山は第9図(C1の信号のバラツキ(誤差)F
に相当する部分を拡大したものである。Flは試験部分
kまたはnにおける誤差を示し、F2は試験部分lまた
はmにおける誤差を示している。
試験部分kまたはnにおける誤差Flよりも、試験部分
lまたはmにおける誤差F2の方がはるかに大きい。こ
れは、CCD構造等のカラー用撮像装ft1a固育の電
荷転送構造の影響であり、信号の大きさや信号の持続時
間等が要因となるからである。
このように、試験部分に、  1または試験部分m。
nにおいて誤差Fl、F2か生じるため、光学的に均一
な環境で行う目視官能試験におけるCCD構造等のカラ
ー用撮像装置1aの場合には、正確な試験結果を容易か
つ安定して得ることは難しいという問題がある。
第10図(a)、 (blはカラー用撮像装置1aの構
造を示し、4はカラー用撮像装置1aのパッケージであ
り、5は撮像用素子である。
第10図(a)はパッケージ4のダイパッド(図示せず
)に撮像用素子5が正しく固定されているが、第1O図
(blはパッケージ4のダイパッド(図示せず)に撮像
用素子5が位置ズレを生じた状態で固定されている。
第10図(C)は、第10図(a)の場合の試験部分k
1、m、nおよび第1θ図(blの場合の試験部分k。
1’ 、m’ 、n’ の位置関係を1つの撮像用素子
5上に示したものである。
撮像用素子5をカラー用撮像装置1aのパッケージ4内
に固定するときに第1O図(blのような位置ズレを生
じれば、試験部分に’、1’、mn′は、正しく固定さ
れた第1θ図(a)の場合の試験部分に、  1. m
、 nに対し、第1O図(C)に示すような位置関係の
ズレを生じる。このため、撮像用素子5がカラー用撮像
装置1aのパッケージ4内に正しく固定されていないと
きは、正確なカラー用撮像装置1aの特性試験ができな
く、ビデオカメラに使用するカラー用撮像装置1aの色
ムラや感度特性を充分に評価できないという問題かある
この発明の目的は、上記従来の問題を解決し、カラー用
撮像装置の色ムラや感度特性なとを正確に試験すること
ができるカラー用撮像装置の試験装置を提供することで
ある。
〔課題を解決するための手段〕
請求項(1)記載のカラー用撮像装置の試験装置は、カ
ラー用撮像装置の試験箇所およびその近傍に対応する試
験用スクリーンの部分を高輝度とし、その他の部分を低
輝度としたことを特徴とする請求項(2)記載のカラー
用撮像装置の試験装置は、請求項(11記載のカラー用
撮像装置の試験装置において、カラー用撮像装置の出力
信号を入力とし、試験用スクリーンの高輝度部分とその
他の部分とを識別し、高輝度部分の内部に対応する部分
をカラー用撮像装置の試験箇所とするように、撮像用素
子の位置ずれを補正する補正用演算処理装置を設けてい
る。
請求項(3)記載のカラー用撮像装置の試験装置は、請
求項(1)または請求項(2)記載のカラー用撮像装置
の試験装置において、試験用スクリーンの高輝度部分の
形状を、試験箇所が前記高輝度部分の中央に対応する位
置になるようにしている。
〔作用〕
請求項(1)記載の構成によれば、カラー用撮像装置の
試験箇所およびその近傍に対応する試験用スクリーンの
部分を高輝度とし、その他の部分を低輝度としたことに
より、カラー用撮像装置上の試験箇所およびその近傍以
外の部分の信号の振幅か小さく抑えられ、CCD構造等
のカラー用撮像装置固有の電荷転送構造の影響を軽減で
きる。
請求項(2)記載の構成によれば、請求項(11記載の
構成に加え、補正用演算処理装置を設けたことにより、
試験用スクリーンの高輝度部分とその他の部分とを識別
し、高輝度部分の内部に対応する部分をカラー用撮像装
置の試験箇所とするように、撮像用素子の位置ずれを補
正することかできる。
請求項(3)記載の構成によれば、請求項(1)または
請求項(2)記載の構成において、試験用スクリーンの
高輝度部分の形状を、試験箇所か高輝度部分の中央に対
応する位置になるようにしたことにより、試験用スクリ
ーンの高輝度部分を小さくしても補正用演算処理装置で
試験箇所を望ましい試験箇所に補正することができる。
〔実施例〕
この発明の一実施例を図面を参照しなから説明する。
第1図はこの発明の一実施例のカラー用撮像装置の試験
装置の構成図である。第1図において、2Aは試験用ス
クリーン、lOは補正用演算処理装置である。その他の
構成は従来例と同じであり、第7図(alに対応するも
のには同じ符号を付しである。
この試験用スクリーン2人は、従来の試験用スクリーン
2の全面が光学的に均一に保たれていたのに対し、SK
、SL、SM、SNか高輝度部分てあり、その他の部分
は輝度か低く抑えられている。従来と同様に、試験用ス
クリーン2A上の高輝度部分SK、SL、SM、SNは
、光学機構1bを介したとき、それぞれカラー用撮像置
台la上の部分Sk、Sl、Sm、Snに対応する。
第2図(a)はカラー用撮像置台la上の結像を示し、
Sk、Sl、Sm、Snは第1図と同一であり、試験箇
所とその近傍部分(以下[試験部分jという)であり、
試験部分Sk、Sl、Sm。
Snは、それぞれ試験用スクリーン2人上の高輝度部分
SK、SL、SM、SNに対応するため、ビデオ信号回
路1cから出力される信号の振幅か太き(、その他の部
分は信号の振幅か小さくなる。
第2図(b)は第2図(alに示されたカラー用撮像置
台Ia上の試験部分Sk、Slまたは試験部分Sm、S
nを含む走査線の1本の信号を示している。
また、第2図(C)はCCD構造等のカラー用撮像装置
1aの場合において、カラー用撮像装置1aの固有の特
性の影響による信号のバラツキ(誤差)Eかあるときの
試験部分Sk、Slまたは試験部分Sm、Snを含む走
査線への1本の信号を示している。
第2図Fdlは第2図(C)の信号のバラツキ(誤差)
Eに相当する部分を拡大したものである。Elは試験部
分SkまたはSnにおける誤差を示し、E2は試験部分
S1またはSmにおける誤差を示している。試験部分S
kまたはSnにおける誤差Elと、試験部分Slまたは
Smにおける誤差E2との差は、従来例の第9図(d)
に示した誤差Flと誤差F2との差に比へかなり小さく
なっている。
このように、カラー用撮像置台Ia上の試験部分Sk、
Sl、Sm、Snに対応する試験用スクリーン2A上の
高輝度部分SK、 SL、 SM。
SN以外の部分の輝度を低く抑えることにより、カラー
用撮像置台la上の試験部分Sk、Sl。
Sm、Sn以外の部分の信号の振幅か小さく抑えられ、
COD構造等のカラー用撮像装置1a固有の電荷転送構
造の影響を軽減し、試験の精度を高めることができる。
以下、カラー主撮像装置la上の試験箇所を試験部分S
k、S1.Sm、Snの中央に補正するための補正用演
算処理装置lOについて説明する。
この補正用演算処理装置10は、撮像用素子5がカラー
用撮像装置1aのパッケージ4内に正しく固定されず位
置ズレを生じている場合に、試験部分の位置の補正を行
うためのものである。
第3図(al、 (b)はパッケージ4内に固定されて
いる撮像用素子5が位置ズレを生じている場合であり、
試験部分Sk、Sl、Sm、Snは試験用スクリーン2
人上の高輝度部分SK、  SL、  SM。
SNに対応している。第3図(a)のqk、ql。
qm、qnは位置ズレに関する補正を行わない場合の試
験箇所であり、第3図(b)のpk、pi。
pm、pnは補正用演算処理装置10により位置ズレに
関する補正を行った場合の試験箇所である。
第4図(a)は第3図(a)の試験箇所qk、qlを含
む走査線の信号(ビデオ信号)を示し、第4図(b)は
第3図(a)の試験箇所qm、qnを含む走査線の信号
(ビデオ信号)を示している。第4図(C1は第3図(
b)の試験箇所pk、piを含む走査線の信号(ビデオ
信号)を示し、第4図(d)は第3図(b)の試験箇所
pm、pnを含む走査線の信号(ビデオ信号)を示して
いる。また、第4図ta+〜fd)のd ma+d、、
、cL、、d、、、dkb、d、、、d、、、dゎ、は
、それぞれビデオ信号の振幅が小から大への変化点(高
輝度部分SK、SL、SM、SNに対応するビデオ信号
の先頭)から試験箇所qk、ql。
qm、qn、pk、pl、pm、pnまでの時間である
補正用演算処理装置IOは、第4図(C)、 (dlに
示すように、基準電圧αとビデオ信号とを比較すること
により、試験用スクリーン2人上の高輝度部分SK、S
L、SM、SNに対応するビデオ信号の先頭を検出し、
この先頭の情報に基づき、試験箇所を高輝度部分SK、
SL、SM、SNの中央に対応するpk、pi、pm、
pnに設定することができる。このため、時間d kb
r  d l l+  d mb+d1のバラツキは、
第4図(a)、 (b)に示した位置ズレに関する補正
を行わない場合の時間d、、、d、、。
d、、、d、、のバラツキに比べて小さくなる。
なお、試験精度をさらに向上させるためには、試験用ス
クリーン2Aの高輝度部分SK、SL。
SM、SNを小さくすればよい。
しかし、高輝度部分SK、SL、SM、SNを小さくす
ると、補正用演算処理装置lOによって、試験箇所が高
輝度部分SK、SL、SM、SNの中央に対応しない場
合が発生する。
以下、カラー主撮像装置la上の試験箇所が高輝度部分
SK、SL、SM、SNの中央に確実に対応するような
試験用スクリーン2Aの高輝度部分の形状について説明
する。
第5図は試験用スクリーン2人のある1つの高輝度部分
に対応するカラー主撮像装置la上の試験部分Sを示し
たものであり、Pは望ましい試験箇所である。また、矢
印Hは、高輝度部分に対応するビデオ信号の先頭位置と
補正用演算処理装置IOにより指示される試験箇所との
補正する関係を示す。第6図は高輝度部分の先頭の情報
を含むビデオ信号を示し、第6図の(a)〜げ)は第5
図の(a)〜(f)にそれぞれ対応している。なお、α
は第4図(C)、 (d)に示したものと同一である。
第5図(a)、 (b)、 (C1に対応する試験用ス
クリーン2Aの高輝度部分の形状は長方形であり、第5
図(d)に対応する試験用スクリーン2Aの高輝度部分
の形状は円形である。
第5図(a)は、パッケージ4内の撮像用素子5か正し
く固定されている場合であり、第6図(alのビデオ信
号は、輝度の異なる試験部分Sの左端で急峻な立ち上が
りを示し、この場合には、補正用演算処理装置lOによ
り矢印Hて示されるように望ましい試験箇所Pに補正さ
れる。しかし、第5図(bl、 (C)は、第5図(a
lの場合の試験用スクリーン2Aの高輝度部分の形状は
同じであるが、パッケージ4内の撮像用素子5が正しく
固定されずに位置ズレを生じている場合であり、この場
合の高輝度部分の先頭の情報を含むビデオ信号は、第6
図(bl、 (C)に示すように、試験部分Sの左端で
の立ち上がりが得られないだけでなく、充分に急峻な立
ち上がりも得られない。また、第6図(dlの場合も同
様であり、第5図(bl〜(d)の場合には、補正用演
算処理装置10により矢印Hで示されるように望ましい
試験箇所Pには補正できない。
第5図(elは、試験用スクリーン2Aの高輝度部分の
形状は長方形であるが、はじめから傾きをもたせており
、高輝度部分の先頭の情報を含むビデオ信号は、第6図
(e)に示すように、輝度の異なる試験部分Sの左端で
急峻な立ち上がりを示し、補正用演算処理装置IOによ
り矢印Hて示されるように望ましい試験箇所Pに補正さ
れる。また、第5図(f)(第6図(f))の場合も同
様に、望ましい試験箇所Pに補正される。
このように、試験用スクリーン2Aの高輝度部分の形状
を、第5図(e)、げ)に対応する形状とすることによ
り、試験用スクリーン2Aの高輝度部分を小さくしても
補正用演算処理装置1oで試験箇所を望ましい試験箇所
Pに補正することかでき、試験精度をより向上させるこ
とができる。
なお、この実施例では、補正用演算処理装置10を独立
した装置としているが、同一の機能を有することかでき
れば独立の装置でなくてもよい。
また、試験用スクリーン2Aは高輝度部分と輝度を低く
抑えたその他の部分とから構成されるものとしたが、カ
ラー用撮像装置1aからのビデオ信号がこの実施例と同
様に得られれば、これに限定されるものではない。
〔発明の効果〕
請求項(1)記載のカラー用撮像装置の試験装置は、カ
ラー用撮像装置の試験箇所およびその近傍に対応する試
験用スクリーンの部分を高輝度とし、その他の部分を低
輝度としたことにより、カラー用撮像装置上の試験箇所
およびその近傍以外の部分の信号の振幅が小さく抑えら
れ、CCD構造等のカラー用撮像装置固有の電荷転送構
造の影響を軽減し、試験の精度を高めることかできる。
請求項(2)記載のカラー用撮像装置の試験装置は、請
求項(1)記載の構成に加え、補正用演算処理装置を設
けたことにより、試験用スクリーンの高輝度部分とその
他の部分とを識別し、高輝度部分の内部に対応する部分
をカラー用撮像装置の試験箇所とするように、撮像用素
子の位置ずれを補正することができ、試験の精度をより
高めることができる。
請求項(3)記載のカラー用撮像装置の試験装置は、請
求項(1)または請求項(2)記載の構成において、試
験用スクリーンの高輝度部分の形状を、試験箇所が高輝
度部分の中央に対応する位置になるようにしたことによ
り、試験用スクリーンの高輝度部分を小さくしても試験
箇所を望ましい試験箇所にすることができ、試験精度を
さらにより高めることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例のカラー用撮像装置の試験
装置の構成図、第2図は同実施例におけるカラー用撮像
装置上の結像および試験部分のビデオ信号を示す図、第
3図および第4図は補正用演算処理装置の働きを説明す
るための図、第5図および第6図は試験用スクリーンの
高輝度部分の形状を説明するための図、第7図は従来例
のカラー用撮像装置の試験装置の構成図および部分図、
第8図はカラー用撮像装置の色ムラ不良の原因の1つを
説明するための図、第9図はCCD構造等のカラー用撮
像装置固有の特性の影響による試験誤差を説明するため
の図、第10図はカラー用撮像装置のパッケージと撮像
用素子との位置関係がずれたときの影響を説明するため
の図である。 la・・・カラー用撮像装置、lb・・・光学機構、2
A・・・試験用スクリーン、10・・・補正用演算処理
装置第 図 10XA正J!’l;llj膨詣置 第 図 (b) (d) 第 図 (b) 第 図 (a) 第 図 第 図 第 図 (b) (c) 第 図 第 図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試験用スクリーンを光学機構を介してカラー用撮
    像装置の撮像用素子の表面に結像させるカラー用撮像装
    置の試験装置であって、 前記カラー用撮像装置の試験箇所およびその近傍に対応
    する前記試験用スクリーンの部分を高輝度とし、その他
    の部分を低輝度としたことを特徴とするカラー用撮像装
    置の試験装置。
  2. (2)カラー用撮像装置の出力信号を入力とし、試験用
    スクリーンの高輝度部分とその他の部分とを識別し、前
    記高輝度部分の内部に対応する部分をカラー用撮像装置
    の試験箇所とするように、撮像用素子の位置ずれを補正
    する補正用演算処理装置を設けた請求項(1)記載のカ
    ラー用撮像装置の試験装置。
  3. (3)試験用スクリーンの高輝度部分の形状を、試験箇
    所が前記高輝度部分の中央に対応する位置になるように
    した請求項(1)または請求項(2)記載のカラー用撮
    像装置の試験装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6767519B2 (en) 2000-03-15 2004-07-27 Hitachi, Ltd. Chemical decontamination liquid decomposing system having catalyst tower and catalyst tower therefor

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US6767519B2 (en) 2000-03-15 2004-07-27 Hitachi, Ltd. Chemical decontamination liquid decomposing system having catalyst tower and catalyst tower therefor
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