JPH04124477U - インパルス試験用端末 - Google Patents
インパルス試験用端末Info
- Publication number
- JPH04124477U JPH04124477U JP3811291U JP3811291U JPH04124477U JP H04124477 U JPH04124477 U JP H04124477U JP 3811291 U JP3811291 U JP 3811291U JP 3811291 U JP3811291 U JP 3811291U JP H04124477 U JPH04124477 U JP H04124477U
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- JP
- Japan
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- layer
- resistance
- cable
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- tape
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 ケーブル端部の露出したケーブル絶縁体14
上に、その先端からケーブル半導電層側に至る全長にわ
たつて、1012Ω-cm程度の高抵抗塗料層40を設ける。
その外側に103Ω-cm程度の低抵抗テープ巻層50を設け
る。その内側の第1層51は、高抵抗層40の全面を覆
う。第2層52は、前記第1層51の高さの中央より下
方の位置から始まってケーブル半導電層側に至るまでの
間を覆う。以下第3層、第4層、−−−−と次第に短く
する。 【効果】 高抵抗層40の部分を、塗料により形成する
ので、従来のテープ巻きに比べて大幅に労力が軽減され
る。テープ間に空気の巻き込む恐れもないし、ラップ巻
きによるミクロボイドの発生もない。従来、−2240kV程
度で頭打ちしていた耐電圧特性が、2340kVまで向上し
た。
上に、その先端からケーブル半導電層側に至る全長にわ
たつて、1012Ω-cm程度の高抵抗塗料層40を設ける。
その外側に103Ω-cm程度の低抵抗テープ巻層50を設け
る。その内側の第1層51は、高抵抗層40の全面を覆
う。第2層52は、前記第1層51の高さの中央より下
方の位置から始まってケーブル半導電層側に至るまでの
間を覆う。以下第3層、第4層、−−−−と次第に短く
する。 【効果】 高抵抗層40の部分を、塗料により形成する
ので、従来のテープ巻きに比べて大幅に労力が軽減され
る。テープ間に空気の巻き込む恐れもないし、ラップ巻
きによるミクロボイドの発生もない。従来、−2240kV程
度で頭打ちしていた耐電圧特性が、2340kVまで向上し
た。
Description
【0001】
この考案は、ゴム・プラスチック電力ケーブルの雷インパルス耐電圧試験用の
抵抗端末に関するものである。
【0002】
下記の技術が提案されている(特願平2−78535号参照)。
[その構成]
1)図2のように、ケーブル端部の露出したケーブル絶縁体14上に、その先
端Aからケーブル半導電層16側に至る全長にわたつて、複数層の高抵抗層20
を設ける。
2)その外側に、低抵抗層30を、複数層、次のように設ける。すなわち、
最も内側の第1層31は、前記高抵抗層20の全面を覆い、
その外側の第2層32は、ケーブル絶縁体の先端Aより下方のBの位置から
始まってケーブル半導電層16側に至るまでの間を覆い、
その外側の第3層33は、前記第2層32の先端Bより下方のCの位置から
始まってケーブル半導電層16側に至るまでの間を覆い、
以下同様にして、外側の層の先端D,−−−−が、それぞれ、その内側の層
の先端C,−−−−より下方の位置からから始まってケーブル半導電層16側に
至るまでの間を覆うようにする。
なお、38,39は遮蔽リングである。
【0003】
[その作用]
(1)高抵抗層20と低抵抗層30とにより、半径方向に抵抗のグレーディング
が施され、ケーブル絶縁体14の表面の電気的ストレスが緩和される。
(3)また低抵抗層30は、下方にゆくほど(ケーブル半導電層16に近ずくほ
ど)厚みが増加する(ケーブルと直角方向の断面積が大になる)ので、それに応
じて、抵抗が小さくなり、長さ方向にも抵抗のグレーディングが施される。
このように、半径方向および長さ方向に抵抗のグレーディングが施されること
により、耐インパルス電圧特性が向上することが確認されている。
【0004】
(1)高抵抗層20,低抵抗層30ともにテープを1/2ラップで巻いて形成して
いる。特に高抵抗層20は全長(たとえば7.5m)にわたって5〜6回ほど巻くので
、多くの労力を要した。
(2)特性は、−2240kV程度が限度で、それ以上の特性が得られなかった。
【0005】
図1のように、従来の高抵抗層20の部分を、高抵抗塗料層40とする。
従来の低抵抗層30の部分は、従来どおりテープの巻回層50とする。
【0006】
高抵抗塗料には、カーボンを配合して体積抵抗率を1012〜1012Ω・cmとしたも
のを用いる。
【0007】
低抵抗テープ巻き層50は、カーボンを配合して体積抵抗率を103〜104Ω・cm
としたテープにより形成する。
その内側の第1層51は、前記高抵抗塗料層40の全面を覆う。
その外側の第2層は、第1層51の高さの中央より下方の位置から始まってケ
ーブル半導電層16側に至るまでの間を覆う。
その外側の第3層53は、第2層52の先端より下方の位置から始まってケー
ブル半導電層側に至るまでの間を覆う。
以下同様にして、外側の層の先端がその内側の層の先端より下方の位置から始
まってケーブル半導電層側に至るまでの間を覆うようにする。
【0008】
低抵抗テープ巻き層は端末の下部の50だけでもよいが、上部にも、符号60
で示すように設けると一段と特性が向上する。
これは、低抵抗テープ巻き層50と対称に形成する。テープの種類、層の数、
各層61,62,63,−−−−の長さは、下部の低抵抗テープ巻き層50と同
じである。
【0009】
塗料の塗布により形成できるので、労力が軽減される。またテープによる空気
の巻き込みやラップ巻きによるミクロボイドの生成がないから、電気特性が向上
する。
【0010】
275kV 1x1000mm2CVケーブルの試験用に、次の終端を製作した。
ケーブル絶縁体14の口出し長さは7500mm。
高抵抗塗料層40は、カーボンを配合して体積抵抗率を1010〜1012Ω・cmとし
た塗料(たとえば商品名アクレタンなど)を、厚さ数十μm程度に塗布して形成
した。
【0011】
[実施の一例]
低抵抗テープ巻き層50には、カーボンを配合して体積抵抗率を103〜104Ω・c
mとした両面半導電性クロロプレン糊引きテープを用い、次の4層を設けた。
第1層51は高抵抗塗料層40上の全長。
第2層52は16から2000mm。
第3層53は16から1000mm。
第4層54は16から500mm。
また、上部分にも低抵抗テープ巻き層60を設けた。これは、低抵抗テープ巻
き層50と対称に形成した。テープの種類、層の数、各層61,62,63,−
−−−の長さは、低抵抗テープ巻き層50と同じである。
また、遮蔽リング38,39を従来同様に設けた。
【0012】
以上の端末で、2340kV以上の雷インパルス耐電圧特性を有することが解った。
【0013】
(1)従来、露出したケーブル絶縁体の全長にわたって、複数層のテープ巻きに
より形成していた高抵抗層の部分を、塗料により形成するので、大幅に労力が軽
減される。
(2)従来、−2240kV程度で頭打ちしていた耐電圧特性が、2340kVまで向上する
ことができた。
【図1】本考案の実施例の模型的説明図。
【図2】従来技術の模型的説明図。
14 ケーブル絶縁体
16 ケーブル半導電層
18 ケーブル遮蔽層
20 高抵抗層
30 低抵抗層
38,39 遮蔽リング
40 高抵抗塗料層
50,60 低抵抗テープ巻き層
51,61 第1層
52,62 第2層
53,63 第3層
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)考案者 田島 賢次
東京都江東区木場一丁目5番1号 藤倉電
線株式会社内
(72)考案者 渡辺 利広
東京都江東区木場一丁目5番1号 藤倉電
線株式会社内
(72)考案者 大坂 義信
東京都江東区木場一丁目5番1号 藤倉電
線株式会社内
Claims (1)
- 【請求項1】 ケーブル端部の露出したケーブル絶縁体
上に、その先端からケーブル半導電層側に至る全長にわ
たつて、高抵抗塗料層を設け、その外側に、低抵抗テー
プ巻層を、複数層設けた、インパルス試験用端末。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3811291U JP2542341Y2 (ja) | 1991-04-25 | 1991-04-25 | インパルス試験用端末 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3811291U JP2542341Y2 (ja) | 1991-04-25 | 1991-04-25 | インパルス試験用端末 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04124477U true JPH04124477U (ja) | 1992-11-12 |
| JP2542341Y2 JP2542341Y2 (ja) | 1997-07-23 |
Family
ID=31919711
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3811291U Expired - Lifetime JP2542341Y2 (ja) | 1991-04-25 | 1991-04-25 | インパルス試験用端末 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2542341Y2 (ja) |
-
1991
- 1991-04-25 JP JP3811291U patent/JP2542341Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2542341Y2 (ja) | 1997-07-23 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |