JPH0412452Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は金属等の導電性材料の劣化や欠陥を検
出する装置に係り、特に給電端子と電位差測定用
端子との配列に改良を加えた、材料劣化測定装置
に関する。

〔従来の技術〕

金属等の導電性材料の劣化や割れ等の欠陥を非
破壊方式で検査・測定する方法の一つとして電気
抵抗法がある。この方法は被検査体に通電するこ
とにより、被検査体に亀裂、腐食、減肉などの劣
化や欠陥があつたり、もしくはクリープ等により
材料の組織に変化が生じた場合には、材料の電気
抵抗値が変化するためこの材料に於ける電気の流
れに変化が生じることを利用して測定、検査する
方法である。即ち、材料の抵抗の変化を、一定の
間隔をもつて配置した端子間の電圧降下として測
定することにより測定、検査するよう構成してい
る。

第６図は従来型のプローブの構成を示す。プロ
ーブ１の先端部には中央部に電位差測定用端子３
を配置しかつ両側部には給電用端子２を配置し、
各端子を一列に配置した構成となつている。

〔考案が解決しようとする問題点〕

この各端子を一列に配置した構成については以
下に示すような問題点が指摘されておりその解決
が望まれている。

(a) 被検査体の劣化の方向が未知の場合には、こ
の被検査体に対してプローブの方向を変えて何
度も繰り返して計測する必要があり作業能率が
極めて低い。

(b) 何度もプローブの方向を変えて繰り返して計
測する際には、その都度端子に対する押圧力に
差異が生じることは避けられず、このため計測
誤差大きく、計測精度を高くすることができな
い。

(c) 被検査体における欠陥や劣化の方向が被検査
体の表面から確認できる場合であつても、被検
査体表面と内面ではその位置、方向が相違して
いることが多く、従つて表面の状況を基準にし
た計測方向が最大の電位差を生じるとは限ら
ず、このため欠陥や劣化の程度を見誤る虞れが
ある。

(d) 更に上述のように欠陥や劣化の方向が判明し
ている場合であつても検査方法は以下にその一
例を示すようにきわめて煩雑であり作業能率は
低いものである。

即ち、 (イ) 給電端子を亀裂の方向と直角な方向に、この
亀裂を跨ぐように配置する。

(ロ) 測定端子を、その２点が亀裂に近接位置する
ように配置する。

(ハ) (ロ)の状態で電位差Ａを読む。

(ニ) 測定端子を最初の位置から180度回転させて
再度この端子を被計測体に当てる。

(ホ) (ニ)の状態で電位差Ｂを読む。

(ヘ) ＡとＢを比較してその差が２％以内となるま
で繰り返して測定装置のオフセツトつまみを調
節する。

(ト) 測定端子の一方を亀裂から１mm以内として、
亀裂を跨がない電位差V₁を読む。

(チ) 亀裂を跨いで測定端子を当て、その電位差
V₂を読む。

(リ) 亀裂の深さｄを次式により算出する。

ｄ＝〔V₂／V₁−１〕×測定端子間距離／２ 以上のように従来技術には種々の問題がありそ
の解決が望まれている。

〔問題点を解決するための手段〕

本考案は上述の問題点を除去すべく構成したも
のであり、プローブ先端に対して複数組の給電端
子と電位差測定用端子とを放射状に配置した構成
とした材料検査装置である。

〔作用〕

本考案は上述の如くプローブ先端に対して複数
組の給電端子と電位差測定用端子とを放射状に配
置した構成となつているため、各端子を被計測体
に一旦配置したならば、そのままの状態で各端子
を順次切り換え走査することにより、所望の角度
で給電端子と電位差測定用端子とを一直線上に位
置した状態で測定を行うことが可能となる。

〔実施例〕

以下本考案の実施例を図面に基づいて具体的に
説明する。

第１図ないし第３図において、プローブ１の下
面、つまり被検査体に対する対向面に対しては中
心部に複数本の電位差測定用端子３を、このプロ
ーブ下面の中心部を中心とする仮想円上に位置す
るよう配置する。この電位差測定用端子３を配置
した仮想円と同心円であり、かつこの仮想円の外
周に位置する別の仮想円上には複数本の給電端子
２が配置してある。またこれら電位差測定用端子
３と給電端子２とは、所定の２本の端子同士が、
二つの仮想円の所定の直径上に位置するよう各々
配列してあり、２本の電位差測定用端子３と２本
の給電端子２の合計４本の端子により１つの組を
構成している。従つてこれらの端子の組が前記仮
想円の中心を中心として放射状に配置されること
になる。

以上の様に構成したプローブ１からは各端子
２，３からのリード線４が出ており、これらリー
ド線４は切り換え回路５に接続し、更にこの回路
５は定電流電源６、微小デジタル電圧計７に接続
している。８は記憶と指令信号を発する制御箱で
あり、制御回路９を以て切り換え回路５に接続し
ている。１０はこの制御箱の出力端である。

この構成において、上記各仮想円の所定の直径
上に位置する各給電用端子２（例えば給電用端子
２ａ，２ｂ）及び電位差測定用端子３（例えば電
位差測定用端子３ａ，３ｂ）の組を選択し、これ
ら各端子に於ける電位差は微小デジタル電圧計７
で計測された後制御箱８に送信され記憶される。
続いて制御箱８からは制御回路９を通じて切り換
え回路５に対して指令信号が送られ、例えば給電
用端子２ｃ，２ｄ、電位差測定用端子３ｃ，３ｄ
などの別の端子の組に於ける電位差の計測モード
が選択される。この状態で、上述と同様の方法に
より電位差が測定され、その測定値が制御箱８に
入力される。この様にして所定の端子の組を順次
切り換え走査して各組の端子の電位差を測定する
ことによりプローブ１自体は被検査体１１に対し
て固定的に配置した状態で、この被検査体に対す
る検査位置を順次変更して検査がおこなわれる。
制御箱８はこのように走査された各端子の組の電
位差が入力され、このデータに基づいて演算し、
被検査体１１の亀裂、腐食、減肉などの劣化や欠
陥を正確かつ短時間に把握する。この結果は出力
端１０を介して所定の表示装置に送られ、プリン
トアウト、CRTによる画像表示などの手段によ
り表示される。

第４図、第５図は別の実施例を示す。この実施
例においては、電位差測定用端子３が同心円状の
２つ仮想円上に配置してある。つまりこの実施例
の場合は所定の半径上に位置する端子の組は４本
の電位差測定用端子３と２本の給電用端子２とか
ら成る。この構成は、特に未知の欠陥や劣化を発
見、測定する場合に効果的である。つまりこの場
合には検査面積が広くなるので、このような大型
のプローブとすれば一回の測定で広い範囲をカバ
ーすることが可能となり、作業の効率を向上させ
ることができる。

〔効果〕

本考案は以上の様に、プローブ先端に対して複
数組の給電端子と電位差測定用端子を、これら端
子を配置した仮想円の直径等、所定の直線上に位
置させる構成となつており、かつプローブを被検
査体に固定的に配置した状態でこれらの端子の組
を選択走査して測定ができるので、測定作業を大
幅に省力化できると共に、測定精度を向上させる
ことが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の第１の実施例を示すプローブ
の斜視図、第２図は第１図に示すプローブの制御
回路図、第３図は第１図に示すプローブの使用状
態を示す断面図、第４図は第２の実施例を示すプ
ローブの斜視図、第５図は第４図に示すプローブ
の底面図、第６図は従来のプローブの斜視図であ
る。 １……プローブ、２……給電用端子、３……電
位差測定用端子、５……切り換え用回路、７……
微小デジタル電圧計、８……制御箱、１１……被
検査体。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 被検査体に対して給電端子と電位差測定用端
   子を配置し、これら端子間の電位差を測定する
   ことにより被検査体に生じた損傷、劣化などを
   発見しかつその程度を測定するものにおいて、
   プローブに対して複数の給電端子と電位差測定
   用端子とを各々環状に配置し、各給電端子と電
   位差測定用端子とは、所定の直線上に位置する
   端子の組をそれぞれ形成するよう配置し、かつ
   所定の組の端子間における電位差を測定し得る
   よう、電位差測定の切り換え回路を形成したこ
   とを特徴とする材料劣化測定装置。 (2) 実用新案登録請求の範囲第１項記載におい
   て、前記複数の給電端子と電位差測定用端子と
   を、同心円を構成する仮想円上に各々配置し、
   各端子の組はこの仮想円の所定の直径上に位置
   するよう構成したことを特徴とする材料劣化測
   定装置。 (3) 実用新案登録請求の範囲第２項記載におい
   て、電位差測定用端子を、同心円を構成する２
   以上の仮想円上に各々配置し、各端子の組にお
   ける電位差測定用端子の配置数を４以上とした
   ことを特徴とする材料劣化測定装置。 (4) 実用新案登録請求の範囲第１項記載におい
   て、前記切り換え回路を制御箱に接続し、各端
   子の組の切り換えをこの制御箱の指令信号によ
   り行うよう構成したことを特徴とする材料劣化
   測定装置。