JPH04124826A - 半導体製造装置 - Google Patents

半導体製造装置

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JPH04124826A
JPH04124826A JP24461690A JP24461690A JPH04124826A JP H04124826 A JPH04124826 A JP H04124826A JP 24461690 A JP24461690 A JP 24461690A JP 24461690 A JP24461690 A JP 24461690A JP H04124826 A JPH04124826 A JP H04124826A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
etching
liquid supply
impeller
etchant
Prior art date
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Pending
Application number
JP24461690A
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English (en)
Inventor
Toshihiro Otake
大竹 俊弘
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 半導体製造装置、特にウェーハの片面をウェット・エツ
チングする装置の構造に関し、処理面にエツチングむら
を生じないウェット・エツチング装置を提供することを
目的とし、[1]  ウェーハ1の径より大なる径で上
方に開口する処理槽11と、該処理槽11内にエツチン
グ液2を供給する給液手段15と、回転軸13aとその
上部の周囲に取り付けられた羽根13bとを含んで該処
理槽11内の該エツチング液2中で水平に回転する羽根
車13とを有し、該回転軸13aはその細心に沿って該
エツチング液2の流通を可能とする中心孔13aaを備
えているように構成する。
[21前記の[1] において、前記羽根車13はその
回転軸13aの下部の周囲に補助羽根13cを備えてお
り、前記エツチング液2の液流により該羽根車13が回
転するように前記給液手段15の給液口15aが該補助
羽根13cに対向してその近傍に配置されているように
構成する。
[産業上の利用分野] 本発明は、半導体製造装置、特にウェーハの片面をウェ
ット・エツチングする装置の構造に関する。
半導体装置の製造工程にあっては、ウェーハの表面側に
素子を形成した後、そのウェーハを所望の厚さに仕上げ
るためにウェーハ背面側を研削し、次にその研削等で生
じたダメージ層をウェット・エツチングにより除去し、
その後各々のチップに分割する。その結果、ウェット・
エツチングの処理面にエツチングむら(特に凸部)があ
ると、後のチップボンディング等に支障を来すことにな
る。
従って処理面にエツチングむらを生しないウニ・ット・
エツチング装置が望まれている。
〔従来の技術] 従来のウェーハ片面ウェット・エツチング装置の例を第
2図を参照しながら説明する。第2図は従来のウェット
・エツチング装置の例を示す模式断面図である。図中、
1は被処理物のウエーノ\、2はエツチング液、16は
ウェーハ・チャック、21は処理槽、22は外槽、25
は給液手段である。
ウェーハ1の上面側には素子が形成されているため、そ
の表面は保護膜(図示は省略)に覆われている。ウェー
ハ・チャック16は真空源(図示は省略)に連通ずると
共に水平動・上下動・回転の機能を備えた搬送ロボット
(図示は省略)に固着されている。給液手段25はケミ
カルポンプ、配管等からなり、処理槽21と外槽22に
連通してエツチング液を循環させる。処理槽21は逆円
錐状をなしており、開口面の径は処理するウェーハlの
径より大きい。エツチング液2は給液手段25により処
理槽21にその底部側から供給され、オーバフローして
外槽22に溜まる。
この装置によりウェーハ1の下面のみをエンチングする
には、ウェーハ1をウェーハ・チャック16に真空吸着
し、処理槽21の上方からその下面がエツチング液2に
接触するまで下降して回転する。
〔発明が解決しようとする課題] ところが、このようなウェット・エツチング装置により
ウェーハの下面をエツチングすると、発生した反応ガス
の気泡がウェーハ中心部に滞留してエツチングを阻害す
るため、ウェーハ下面に凸状のエツチングむらを生じて
後工程のチップ・ボンディング等に支障を来す、という
問題があった。
本発明は、このような問題を解決して、処理面にエツチ
ングむらを生じないウェット・エツチング装置を提供す
ることを目的とする。
〔課題を解決するだめの手段〕
この目的は、本発明によれば、[1]  ウェーハlの
径より大なる径で上方に開口する処理槽11と、該処理
槽11内にエツチング液2を供給する給液手段15と、
回転軸13aとその上部の周囲に取り付けられた羽根1
3bとを含んで該処理槽11内の該エツチング液2中で
水平に回転する羽根車13とを有し、該回転軸13aは
その軸心に沿って該エツチング液2の流通を可能とする
中心孔13aaを備えていることを特徴とする半導体製
造装置とすることで、[21前記の[11において、前
記羽根車13はその回転軸13aの下部の周囲に補助羽
根13cを備えており、前記エツチング液2の液流によ
り該羽根車13が回転するように前記給液手段15の給
液口15aが該補助羽根13cに対向してその近傍に配
置されているように構成することで、達成される。
[作用] 従来の装置では、ウェーハ下面に付着した反応ガスの気
泡は、ウェーハの周辺部と中間部についてはオーバフロ
ーするエツチング液と共に排除されるが、ウェーハ中心
部についてはエツチング液が殆ど動かないため、滞留す
ることになる。
これに対して本発明の装置では、ウエーノ\近傍のエツ
チング液が羽根の回転により処理槽の周辺部へ向けて強
制的に移動するため、ウェーハの周辺部と中間部の反応
ガスの気泡は速やかに排除されると共に、この液の移動
によってウェーハ中心部直下が負圧となって回転軸の中
心孔からエツチング液が吸引されるため、ウェーハ中心
部でもエツチング液の処理槽周辺部に向かう流れを常に
生じ、反応ガスの気泡は停滞することなく、逐次オーバ
フローするエツチング液と共に排除される。
[実施例〕 本発明に基づくウェット・エツチング装置の一実施例を
第1図を参照しながら説明する。
(b)は羽根車(斜視図)である。図中、1は被処理物
のウェーハ、2はエツチング液、11は処理槽、12は
外槽、13は羽根車、14は軸受板、15は給液手段、
16はウェーハ・チャックである。
ウェーハ1の上面側には素子が形成されているため、表
面は保護膜(図示は省略)に覆われている。保護膜とし
てはスピンコードしたフォトレジストや粘着フィルム等
が使用される。処理槽11は上部が逆円錐状をなして開
口面の径は処理するウェーハ1の径より大きく、下部が
円筒状をなしている。羽根車13は(b)図のように回
転軸13aと、その上部の周囲に放射状に固着された複
数個の円弧状の羽根13bと、その下部の周囲に放射状
に固着された複数個の平板状の補助羽根13cからなっ
ており、回転軸13aにはその軸心に沿って中心孔13
aaが貫通している。軸受板14は中央部で羽根車13
を支持し、その周囲には透孔を有している。給液手段1
5はケミカルポンプ、配管等からなり、ポンプの入口側
は外槽12に連通し、出口側はその先端の給液口15a
が処理槽11内にあって羽根車13の補助羽根13cに
その近傍で対峙している。ウェーハ・チャック16は真
空源(図示は省略)に連通ずると共に水平動・上下動・
回転の機能を備えた搬送ロボント(図示は省略)に固着
されている。
エツチング液2は給液手段15により給液口15aから
処理槽11の下部に吐出され、軸受板14に設けられた
透孔を経て処理槽11の上部に入り、オーバフローして
外槽12に溜まる。給液口15aから吐出されたエツチ
ング液2が補助羽根13cに当たって羽根車13が回転
し、その羽根13bがエツチング液2を処理槽11の周
辺部へ移動させる。羽根車13の回転に伴って、一部の
エツチング液2が回転軸13aの中心孔13aa内を上
昇する。
この装置によりウェーハ1の下面のみをエツチングする
には、ウェーハ1をウェーハ・チャック16に真空吸着
し、処理槽21の上方からその下面がエツチング液2に
接触するまで下降して回転する。
本発明者は、本装置を用いて6インチ径のシリコンウェ
ーハの下面を、硝酸と弗酸の混液により、ウェーハの回
転数: 100r、p、m、 、羽根車の回転数:約5
Or、p、m、 (但しウェーハとは逆方向)の条件で
エツチングを行った結果、エツチングむら(高さ0.2
μm以上の小凸部)は全く認められなかった。
本発明は以上の実施例に限定されることなく、更に種々
変形して実施出来る。
(発明の効果〕 以上説明したように、本発明によれば、ウェーハの片面
をエツチングする際の処理面にエツチングむらを生じな
いウェット・エツチング装置を提供することが出来、半
導体装置等製造の合理化に寄与するところ大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例のウエソト グ装置の模式図、 第2図は従来のウェット を示す模式断面図、である。 図中、1はウェーハ、 2はエツチング液、 IL 21は処理槽、 13は羽根車、 ・エツチング装置の例 ・エンチン 13aは回転軸、 13aaは中心孔、 13bは羽根、 13cは補助羽根、 15、25は給液手段、 15aは給液口、である。 (0)要害I3構ガ父しク ()斤屑汀囚)(シ)羽オ
艮車(太」ネ見図) 第41明の大力色イ列のウェット玉ゾチンク′装置の!
斡六図下

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 [1]ウェーハ(1)の下面にエッチング液(2)を接
    触せしめて該ウェーハ(1)の下面をエッチングする半
    導体製造装置であって、 該ウェーハ(1)の径より大なる径で上方に開口する処
    理槽(11)と、 該処理槽(11)内に該エッチング液(2)を供給する
    給液手段(15)と、 回転軸(13a)とその上部の周囲に取り付けられた羽
    根(13b)とを含んで該処理槽(11)内の該エッチ
    ング液(2)中で水平に回転する羽根車(13)とを有
    し、 該回転軸(13a)はその軸心に沿って該エッチング液
    (2)の流通を可能とする中心孔(13aa)を備えて
    いることを特徴とする半導体製造装置。 [2]前記羽根車(13)はその回転軸(13a)の下
    部の周囲に補助羽根(13c)を備えており、前記エッ
    チング液(2)の液流により該羽根車(13)が回転す
    るように前記給液手段(15)の給液口(15a)が該
    補助羽根(13c)に対向してその近傍に配置されてい
    ることを特徴とする請求項1記載の半導体製造装置。
JP24461690A 1990-09-14 1990-09-14 半導体製造装置 Pending JPH04124826A (ja)

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JP24461690A JPH04124826A (ja) 1990-09-14 1990-09-14 半導体製造装置

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