JPH04124843A - 半導体回路装置 - Google Patents
半導体回路装置Info
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- JPH04124843A JPH04124843A JP2244522A JP24452290A JPH04124843A JP H04124843 A JPH04124843 A JP H04124843A JP 2244522 A JP2244522 A JP 2244522A JP 24452290 A JP24452290 A JP 24452290A JP H04124843 A JPH04124843 A JP H04124843A
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- semiconductor circuit
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- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は例えば自動車電装品に使用される混成集積回路
装置等の半導体回路装置に関するものである。
装置等の半導体回路装置に関するものである。
第4図は従来の半導体回路装置としての混成集積回路装
置の縦断面図であり、第5図は第4図の一部拡大断面図
、第6図は従来の混成集積回路装置の部分破断平面図で
ある。
置の縦断面図であり、第5図は第4図の一部拡大断面図
、第6図は従来の混成集積回路装置の部分破断平面図で
ある。
図中5は例えばアルミナ製の基板であり、基板5は大き
さが基板5より大であるヒートシンク7上にシリコン系
樹脂層6により接着されている。
さが基板5より大であるヒートシンク7上にシリコン系
樹脂層6により接着されている。
図中8は熱可塑性樹脂製パッケージの枠部材であり、枠
部材8の一組の対向側面には夫々例えば黄銅製のリード
(インサートと称する)3.3・・・が平行に挿嵌され
ており、リード3,3・・・の端部はヒートシンク7の
両側の端部に固定されている。
部材8の一組の対向側面には夫々例えば黄銅製のリード
(インサートと称する)3.3・・・が平行に挿嵌され
ており、リード3,3・・・の端部はヒートシンク7の
両側の端部に固定されている。
ヒートシンク7は枠部材8の下面内側に設けられた凹み
に嵌め込まれ、接着されている。
に嵌め込まれ、接着されている。
また枠部材8の上面内側にも凹みが設けられており、こ
こにパッケージのカバー9が嵌め込まれている。
こにパッケージのカバー9が嵌め込まれている。
リード3,3・・・の端部にはアルミニウム(八1)台
2,2・・・がはんだ(4)付けされている。基板5の
両端には図示しない銀とパラジウムとの合金製の導体部
が印刷焼成されでおり、該導体部には前記A1台2.2
・・・と対向するようにしてA1台2,2・・・がはん
だ(4)付けされている。
2,2・・・がはんだ(4)付けされている。基板5の
両端には図示しない銀とパラジウムとの合金製の導体部
が印刷焼成されでおり、該導体部には前記A1台2.2
・・・と対向するようにしてA1台2,2・・・がはん
だ(4)付けされている。
そしてリード3.3・・・にはんだ付けされたA1台2
,2・・・と基板5の導体部にはんだ付けされたA1台
2,2・・・とは、AI製のボンディングパッド1.1
・・・により接続されている。
,2・・・と基板5の導体部にはんだ付けされたA1台
2,2・・・とは、AI製のボンディングパッド1.1
・・・により接続されている。
上述の混成集積回路装置では、基板5の導体部とリード
3,3・・・とをはんだ付は等により直接接続すると、
夫々の熱膨張係数の差により基板5の導体部が剥離する
という問題があるのでこれらは超音波ワイヤボンディン
グにより接続されている。
3,3・・・とをはんだ付は等により直接接続すると、
夫々の熱膨張係数の差により基板5の導体部が剥離する
という問題があるのでこれらは超音波ワイヤボンディン
グにより接続されている。
このときり一部3.3・・・及び基板5の導体部は、ボ
ンディングパッド1,1・・・と直接接続することは材
質が異なるため困難であり、夫々A1台2,2・・・を
してボンディングパッド1.1・・・と接続されている
。
ンディングパッド1,1・・・と直接接続することは材
質が異なるため困難であり、夫々A1台2,2・・・を
してボンディングパッド1.1・・・と接続されている
。
そしてリード3,3・・・に41台2,2・・・をはん
だ付けするときには、41台2,2・・・の表面が平坦
であり清浄であること、はんだ付けの位置が正確である
こと等が要求されており、これらにばらつきがあると品
質が安定しないという問題があった。
だ付けするときには、41台2,2・・・の表面が平坦
であり清浄であること、はんだ付けの位置が正確である
こと等が要求されており、これらにばらつきがあると品
質が安定しないという問題があった。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、例え
ばインサート等のリードの端部にA1台をはんだ付けす
る代わりに、AI!被覆層からなるポンディングパッド
を形成することにより、作業性が向上し、品質が安定す
る、例えば混成集積回路装置等の半導体回路装置を提供
することを目的とする。
ばインサート等のリードの端部にA1台をはんだ付けす
る代わりに、AI!被覆層からなるポンディングパッド
を形成することにより、作業性が向上し、品質が安定す
る、例えば混成集積回路装置等の半導体回路装置を提供
することを目的とする。
本発明に係る半導体回路装置は、リードの端部にi台を
はんだ付けする代わりに、i蒸着又はへlクラッドによ
りホンディングパットとしての1[被覆層を形成したも
のである。
はんだ付けする代わりに、i蒸着又はへlクラッドによ
りホンディングパットとしての1[被覆層を形成したも
のである。
本発明の半導体回路装置にあっては、予め前工程として
、リードにすべき板材の端部にIf蒸着又はA1クラッ
ドによりAl被覆層を形成してからリードを製造するの
で、リードにi台をはんだ付けする場合の作業の煩雑さ
、困難性がない。
、リードにすべき板材の端部にIf蒸着又はA1クラッ
ドによりAl被覆層を形成してからリードを製造するの
で、リードにi台をはんだ付けする場合の作業の煩雑さ
、困難性がない。
以下、本発明をその実施例を示す図面に基づいて具体的
に説明する。
に説明する。
第1図に本発明に係る半導体回路装置としての混成集積
回路装置の縦断面図を示す。
回路装置の縦断面図を示す。
第2図は第1図の一部拡大断面図である。
図中5は例えばアルミナ製の基板であり、基板5は大き
さが基板5より大であるヒートシンク7上にシリコン系
樹脂層6により接着されている。
さが基板5より大であるヒートシンク7上にシリコン系
樹脂層6により接着されている。
図中8は熱可塑性樹脂製パッケージの枠部材であり、枠
部材8の一組の対向側面には夫々例えば黄銅製のリード
(インサートと称する)3,3・・・が平行に挿嵌され
ており、リード3,3・・・の端部はヒートシンク7の
両側の端部に固定されている。
部材8の一組の対向側面には夫々例えば黄銅製のリード
(インサートと称する)3,3・・・が平行に挿嵌され
ており、リード3,3・・・の端部はヒートシンク7の
両側の端部に固定されている。
ヒートシンク7は枠部材8の下面内側に設けられた凹み
に嵌め込まれ、接着されている。
に嵌め込まれ、接着されている。
また枠部材8の上面内側にも凹みが設けられており、こ
こにパッケージのカバー9が嵌め込まれている。
こにパッケージのカバー9が嵌め込まれている。
リード3.3・・・の端部にはAl被覆層からなるポン
ディングパッド10,10・・・が形成されている。
ディングパッド10,10・・・が形成されている。
ホンディングパット10.10・・・の厚みはA1蒸着
により形成した場合3〜5μmであり、iクラッドによ
り形成した場合50〜100 μmである。基板5の両
端には図示しない銀とパラジウムとの合金からなる導体
部が印刷焼成されており、該導体部にはホンディングパ
ット10.10・・・と対向するようにして41台2,
2・・・がはんだ(4)付けされている。
により形成した場合3〜5μmであり、iクラッドによ
り形成した場合50〜100 μmである。基板5の両
端には図示しない銀とパラジウムとの合金からなる導体
部が印刷焼成されており、該導体部にはホンディングパ
ット10.10・・・と対向するようにして41台2,
2・・・がはんだ(4)付けされている。
そしてホンディングパット1010・・・とAβ台2゜
2・・・とはAI製のボンディングパッド1.1・・・
により接続されている。
2・・・とはAI製のボンディングパッド1.1・・・
により接続されている。
第3図は本発明の混成集積回路装置の製造工程を示す平
面図である。まず、第3図(a)に示したように例えば
黄銅製のリード材の一端部に蒸着によりAA蒸着膜を形
成する。次に第3図(blに示したようにリード材の他
端部を固定して打抜きを行い、櫛状の打抜き材を形成す
る。そして第3図(C1に示したようにリード3.3・
・・が枠部材8の対向する1組の側面に夫々挿嵌された
形にモールド成形し、前記他端部を切断する。
面図である。まず、第3図(a)に示したように例えば
黄銅製のリード材の一端部に蒸着によりAA蒸着膜を形
成する。次に第3図(blに示したようにリード材の他
端部を固定して打抜きを行い、櫛状の打抜き材を形成す
る。そして第3図(C1に示したようにリード3.3・
・・が枠部材8の対向する1組の側面に夫々挿嵌された
形にモールド成形し、前記他端部を切断する。
次にヒートシンク7を枠部材8の下面内側の凹みに貼設
してリード3.3・・・をヒートシンク7の両端の上に
固定し、リード3.3・・・のホンディングパット10
.10・・・と基板5の導体部に設けられたi台2,2
・・・とをボンディングパッド1,1・・・により超音
波ワイヤボンディングする。そして、枠部材8の上面内
側の凹みにカバー9を貼設する。
してリード3.3・・・をヒートシンク7の両端の上に
固定し、リード3.3・・・のホンディングパット10
.10・・・と基板5の導体部に設けられたi台2,2
・・・とをボンディングパッド1,1・・・により超音
波ワイヤボンディングする。そして、枠部材8の上面内
側の凹みにカバー9を貼設する。
以上の如くして本発明ではリート3,3・・・の端部に
容易にホンディングパッド10.10・・・を形成する
ことができる。
容易にホンディングパッド10.10・・・を形成する
ことができる。
なお、上述の第3図の説明ではA1蒸着によりポンディ
ングパッドを形成する場合につき説明しているが、何ら
これに限定されるものではなく、リードに被覆Aβ板を
密着させ、熱間圧延する方法(クラッド)を採用するこ
とにしてもよい。
ングパッドを形成する場合につき説明しているが、何ら
これに限定されるものではなく、リードに被覆Aβ板を
密着させ、熱間圧延する方法(クラッド)を採用するこ
とにしてもよい。
さらに本発明の実施例では混成集積回路装置として構成
した場合につき説明しているが、何らこれに限定される
ものではなく、他の半導体回路装置に適用できることは
言うまでもない。
した場合につき説明しているが、何らこれに限定される
ものではなく、他の半導体回路装置に適用できることは
言うまでもない。
以上詳述した如く、本発明の半導体回路装置では、予め
リードにすべき板材の端部にAffi着又はへlクラッ
ドによりへp被覆層を形成してからリードを構成するの
で、リードにへ1台をはんだ付けする場合の作業の煩雑
さ、困難性がなくなり、また安価にホンディングパッド
を設けることがてきる。
リードにすべき板材の端部にAffi着又はへlクラッ
ドによりへp被覆層を形成してからリードを構成するの
で、リードにへ1台をはんだ付けする場合の作業の煩雑
さ、困難性がなくなり、また安価にホンディングパッド
を設けることがてきる。
そして従来のようにはんだ付けの位置がばらつく等の問
題がなくなるので装置の品質が安定する等、本発明は優
れた効果を奏するものである。
題がなくなるので装置の品質が安定する等、本発明は優
れた効果を奏するものである。
第1図は本発明に係る混成集積回路装置の縦断面図、第
2図は第1図の一部拡大断面図、第3図は本発明に係る
混成集積回路装置の製造工程を示す平面図、第4図は従
来の混成集積回路装置の縦断面図、第5図は第4図の一
部拡大断面図、第6図は従来の混成集積回路装置の部分
破断平面図である。 1・・・ボンディングパッド 2・・・i台 3・・・
リード 4・・・はんだ層 5・・・基板 6・・・シ
リコン系樹脂層 7・・・ヒートシンク 8・・・枠部
材 9・・・カバー 10・・・ホンディングパッド なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄10・・・ボ
“ンデンンク″ハ9ヅド 第 を 図 r〜 図
2図は第1図の一部拡大断面図、第3図は本発明に係る
混成集積回路装置の製造工程を示す平面図、第4図は従
来の混成集積回路装置の縦断面図、第5図は第4図の一
部拡大断面図、第6図は従来の混成集積回路装置の部分
破断平面図である。 1・・・ボンディングパッド 2・・・i台 3・・・
リード 4・・・はんだ層 5・・・基板 6・・・シ
リコン系樹脂層 7・・・ヒートシンク 8・・・枠部
材 9・・・カバー 10・・・ホンディングパッド なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄10・・・ボ
“ンデンンク″ハ9ヅド 第 を 図 r〜 図
Claims (1)
- (1)リードの端部にアルミニウム被覆層からなるボン
ディングパッドを設けたことを特徴とする半導体回路装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2244522A JPH04124843A (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | 半導体回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2244522A JPH04124843A (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | 半導体回路装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04124843A true JPH04124843A (ja) | 1992-04-24 |
Family
ID=17119939
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2244522A Pending JPH04124843A (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | 半導体回路装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04124843A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000036511A (ja) * | 1998-07-01 | 2000-02-02 | Motorola Inc | 電子部品の製造方法 |
| US6042442A (en) * | 1996-02-28 | 2000-03-28 | Nec Corporation | Enhancement in bonding strength in field emission electron source |
-
1990
- 1990-09-14 JP JP2244522A patent/JPH04124843A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6042442A (en) * | 1996-02-28 | 2000-03-28 | Nec Corporation | Enhancement in bonding strength in field emission electron source |
| JP2000036511A (ja) * | 1998-07-01 | 2000-02-02 | Motorola Inc | 電子部品の製造方法 |
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