JPH0241863Y2 - - Google Patents
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- JPH0241863Y2 JPH0241863Y2 JP1983067885U JP6788583U JPH0241863Y2 JP H0241863 Y2 JPH0241863 Y2 JP H0241863Y2 JP 1983067885 U JP1983067885 U JP 1983067885U JP 6788583 U JP6788583 U JP 6788583U JP H0241863 Y2 JPH0241863 Y2 JP H0241863Y2
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- brazing material
- storage container
- opening
- package
- semiconductor
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Description
【考案の詳細な説明】
産業上の利用分野
本考案は半導体素子収納容器に関するものであ
る。
る。
従来例の構成とその問題点
半導体装置は近年ますます高密度、高集積化、
さらにはチツプサイズの大面積化が進み、その機
能も複雑化している。それに伴い耐熱性の低い半
導体素子や、チツプサイズが大きくなり取り扱い
上Au−Si共晶によるダイスボンデイングが難し
い素子などについては、導伝性樹脂やAgペース
ト等のロウ材によるダイスボンデイングがなされ
ている。
さらにはチツプサイズの大面積化が進み、その機
能も複雑化している。それに伴い耐熱性の低い半
導体素子や、チツプサイズが大きくなり取り扱い
上Au−Si共晶によるダイスボンデイングが難し
い素子などについては、導伝性樹脂やAgペース
ト等のロウ材によるダイスボンデイングがなされ
ている。
ところが、従来の収納容器ではロウ材のはみ出
し等が生じる。例えばセラミツクパツケージを例
に以下に説明する。第1図において、1はセラミ
ツクパツケージ本体、2は半導体素子、3はダイ
スボンデイング用ロウ材、4は金属細線、5はパ
ツケージ内部リード、6は半導体素子電極であ
る。このようなセラミツクパツケージは、例えば
第1図中の破線で示した如く薄いセラミツクシー
ト上に所定の配線を印刷したのち重ね合わせて焼
成し造られた多層構造となつている。
し等が生じる。例えばセラミツクパツケージを例
に以下に説明する。第1図において、1はセラミ
ツクパツケージ本体、2は半導体素子、3はダイ
スボンデイング用ロウ材、4は金属細線、5はパ
ツケージ内部リード、6は半導体素子電極であ
る。このようなセラミツクパツケージは、例えば
第1図中の破線で示した如く薄いセラミツクシー
ト上に所定の配線を印刷したのち重ね合わせて焼
成し造られた多層構造となつている。
このようなパツケージにおけるダイスボンデイ
ングを第2図を用いて以下に説明する。第2図A
は、ダイアタツチ部7にロウ材3、半導体素子2
を順次載置し、半導体素子2を矢印の方向に加圧
することによつてボンデイングされる様子を示し
たものである。加圧によつてはみ出されたロウ材
3は、第2図Bの如く半導体素子周辺で盛り上が
り、パツケージ内部リード5あるいは素子電極6
に接触して不良の原因となつていた。
ングを第2図を用いて以下に説明する。第2図A
は、ダイアタツチ部7にロウ材3、半導体素子2
を順次載置し、半導体素子2を矢印の方向に加圧
することによつてボンデイングされる様子を示し
たものである。加圧によつてはみ出されたロウ材
3は、第2図Bの如く半導体素子周辺で盛り上が
り、パツケージ内部リード5あるいは素子電極6
に接触して不良の原因となつていた。
また第2図では1パツケージ1素子で構成して
いるが、1パツケージに多品種の複数素子を収納
する例えばライセンサの場合には、素子サイズ、
素子厚が異なつても素子の表面は合致させなけれ
ばならない。そこで、これら素子に対して密着性
を保ち、ロウ材による接触不良を防止するために
は接着に用いるロウ材量および加圧力のコントロ
ールが必須となつていた。
いるが、1パツケージに多品種の複数素子を収納
する例えばライセンサの場合には、素子サイズ、
素子厚が異なつても素子の表面は合致させなけれ
ばならない。そこで、これら素子に対して密着性
を保ち、ロウ材による接触不良を防止するために
は接着に用いるロウ材量および加圧力のコントロ
ールが必須となつていた。
考案の目的
本考案は、上記従来例の問題点であるはみ出し
ロウ材による接触不良を防止し、かつロウ材量お
よび加圧力コントロールを不用としダイスボンデ
イング時の作業性向上をはかり得る半導体素子収
納容器を提供することを目的とする。
ロウ材による接触不良を防止し、かつロウ材量お
よび加圧力コントロールを不用としダイスボンデ
イング時の作業性向上をはかり得る半導体素子収
納容器を提供することを目的とする。
考案の構成
本考案の半導体収納容器は多層構造から成り、
下層であるダイアタツチ層に接する中間層の開口
部を上層の開口部よりも大きく形成することによ
り、ダイスボンデイング時にはみ出したるロウ材
を収容するロウ材収容部を収納容器凹部の内壁部
に有する構成から成る。ロウ材収容部は水平方向
に充分なスペースを有し、いかなる素子に対して
もダイスボンデイング時にはみ出したるロウ材を
収容し、盛り上がりロウ材による素子電極、パツ
ケージ内部リードとの接触不良防止を図つたこと
を特徴とする半導体素子収納容器を提供するもの
である。
下層であるダイアタツチ層に接する中間層の開口
部を上層の開口部よりも大きく形成することによ
り、ダイスボンデイング時にはみ出したるロウ材
を収容するロウ材収容部を収納容器凹部の内壁部
に有する構成から成る。ロウ材収容部は水平方向
に充分なスペースを有し、いかなる素子に対して
もダイスボンデイング時にはみ出したるロウ材を
収容し、盛り上がりロウ材による素子電極、パツ
ケージ内部リードとの接触不良防止を図つたこと
を特徴とする半導体素子収納容器を提供するもの
である。
実施例の説明
本考案の一実施例として多層構造より成るセラ
ミツクパツケージの場合を第3図に示す。1a,
1b,1c,1dは積層されたセラミツクシート
である。下層のダイアタツチ層1aに接する2層
目の中間層1bの開口部8aは、3層目の1cの
開口部8bよりも大きく開口されており、素子加
圧によつてはみ出したロウ材3は前記セラミツク
シートの開口差によつてできた凹部9に収容され
る。
ミツクパツケージの場合を第3図に示す。1a,
1b,1c,1dは積層されたセラミツクシート
である。下層のダイアタツチ層1aに接する2層
目の中間層1bの開口部8aは、3層目の1cの
開口部8bよりも大きく開口されており、素子加
圧によつてはみ出したロウ材3は前記セラミツク
シートの開口差によつてできた凹部9に収容され
る。
なお、本実施例の説明には素子収納容器の断面
構成図を記載し、前記開口部についても断面図で
の表示となつているが、開口差によつてできる凹
部は平面より観て半導体素子周辺の連通した四辺
に限らない。
構成図を記載し、前記開口部についても断面図で
の表示となつているが、開口差によつてできる凹
部は平面より観て半導体素子周辺の連通した四辺
に限らない。
考案の効果
本考案の半導体素子収納容器によると、はみ出
しロウ材による半導体素子電極、パツケージ内部
リードへの接触不良を防止することができるた
め、素子サイズ、素子厚にかかわらず、微妙なロ
ウ材量のコントロールや接着時の加圧力のコント
ロール等の管理を必要とせずに作業性よくダイス
ボンデイングを行なうことができる。
しロウ材による半導体素子電極、パツケージ内部
リードへの接触不良を防止することができるた
め、素子サイズ、素子厚にかかわらず、微妙なロ
ウ材量のコントロールや接着時の加圧力のコント
ロール等の管理を必要とせずに作業性よくダイス
ボンデイングを行なうことができる。
また、本実施例では1パツケージ1素子で構成
したものを記載しているが、1パツケージに多品
種の複数素子を収納する例えばライセンサのよう
な場合においても、たとえ素子サイズ、素子厚が
異なつていたとしても、素子の体積差をロウ材量
がカバーし、はみ出しロウ材量の多少にかからわ
ずはみ出しロウ材収容凹部が吸収するため素子表
面を同一面共通加圧によつて合致させることが容
易である。
したものを記載しているが、1パツケージに多品
種の複数素子を収納する例えばライセンサのよう
な場合においても、たとえ素子サイズ、素子厚が
異なつていたとしても、素子の体積差をロウ材量
がカバーし、はみ出しロウ材量の多少にかからわ
ずはみ出しロウ材収容凹部が吸収するため素子表
面を同一面共通加圧によつて合致させることが容
易である。
さらに、本実施例ではセラミツクシートを積層
したセラミツクパツケージについて説明している
が、セラミツクシートに限らず、例えばプリント
基板に用いる樹脂シートのように加工上多層構造
が得られるものであれば、本考案の目的は達せら
れ本効果が得られることは言うまでもない。
したセラミツクパツケージについて説明している
が、セラミツクシートに限らず、例えばプリント
基板に用いる樹脂シートのように加工上多層構造
が得られるものであれば、本考案の目的は達せら
れ本効果が得られることは言うまでもない。
第1図は従来の半導体素子収納容器による半導
体素子の概略構成断面図、第2図A,Bは従来の
半導体素子収納容器を用いたダイスボンデイング
状態を示す構成断面図、第3図は本考案の一実施
例である半導体素子収納容器を用いたダイスボン
デイング状態を示す構成断面図である。 1……セラミツクパツケージ、1a,1b,1
c,1d……セラミツクシート、2……半導体素
子、3……ロウ材、7……ダイアタツチ部、8
a,8b……開口部、9……はみ出しロウ材収容
凹部。
体素子の概略構成断面図、第2図A,Bは従来の
半導体素子収納容器を用いたダイスボンデイング
状態を示す構成断面図、第3図は本考案の一実施
例である半導体素子収納容器を用いたダイスボン
デイング状態を示す構成断面図である。 1……セラミツクパツケージ、1a,1b,1
c,1d……セラミツクシート、2……半導体素
子、3……ロウ材、7……ダイアタツチ部、8
a,8b……開口部、9……はみ出しロウ材収容
凹部。
Claims (1)
- 半導体素子収納部が凹状で多層構造から成り、
ダイアタツチ層に接する中間層の開口部を上層の
開口部よりも大きく形成することにより、ダイス
ボンデイング時にはみ出した余分のロウ材を収容
するロウ材収容部を有する構成からなることを特
徴とする半導体素子収納容器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1983067885U JPS59173336U (ja) | 1983-05-06 | 1983-05-06 | 半導体素子収納容器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1983067885U JPS59173336U (ja) | 1983-05-06 | 1983-05-06 | 半導体素子収納容器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59173336U JPS59173336U (ja) | 1984-11-19 |
| JPH0241863Y2 true JPH0241863Y2 (ja) | 1990-11-08 |
Family
ID=30198069
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1983067885U Granted JPS59173336U (ja) | 1983-05-06 | 1983-05-06 | 半導体素子収納容器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59173336U (ja) |
-
1983
- 1983-05-06 JP JP1983067885U patent/JPS59173336U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59173336U (ja) | 1984-11-19 |
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