JPH0412508A - 軟磁性合金膜 - Google Patents
軟磁性合金膜Info
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- JPH0412508A JPH0412508A JP2116256A JP11625690A JPH0412508A JP H0412508 A JPH0412508 A JP H0412508A JP 2116256 A JP2116256 A JP 2116256A JP 11625690 A JP11625690 A JP 11625690A JP H0412508 A JPH0412508 A JP H0412508A
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
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- H01F1/01—Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials
- H01F1/03—Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials characterised by their coercivity
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は、磁気ヘッド等に適した軟磁性合金膜に関す
る。
る。
「従来の技術」
磁気記録の分野においては、記録密度を高めるために磁
気テープ等の記録媒体の高保磁力化か推進されているが
、それに対応する磁気ヘッド用の軟磁性薄膜材料として
飽和磁束密度(B s)の高いものが要求されている。
気テープ等の記録媒体の高保磁力化か推進されているが
、それに対応する磁気ヘッド用の軟磁性薄膜材料として
飽和磁束密度(B s)の高いものが要求されている。
従来の軟磁性材料(膜)としては、N1−Fe(パーマ
ロイ)及びCo基の非晶質膜等がある。
ロイ)及びCo基の非晶質膜等がある。
また最近、Feを主成分とする微細結晶よりなる合金膜
(Fe−N、Fe−C等)において、Feの結晶磁気異
方性の軟磁性に対する悪影響を結晶を微細化することに
より軽減して、高飽和磁束密度でかつ軟磁気特性の優れ
た膜を得た例がある。
(Fe−N、Fe−C等)において、Feの結晶磁気異
方性の軟磁性に対する悪影響を結晶を微細化することに
より軽減して、高飽和磁束密度でかつ軟磁気特性の優れ
た膜を得た例がある。
「発明が解決しようとする課題」
ところで、磁気ヘッドを組み込んだ装置は小型化、軽量
化する傾向があり、移動に伴う振動にさらされたり、悪
環境のもとて使用されたりすることが多くなっている。
化する傾向があり、移動に伴う振動にさらされたり、悪
環境のもとて使用されたりすることが多くなっている。
そこで、磁気ヘッドには、磁気特性がf!!秀であって
磁気テープに対する耐摩耗性が優れていることはもちろ
ん、湿度や腐食性の雰囲気中での耐用性、すなわち耐環
境性や、耐振動性等が高いことが要求されている。その
ため、ギヤツブ形成やケースへの組み込み等をガラス溶
着て行うことが必要となり、磁気ヘットの素材はヘット
の製造工程におけるガラス溶着工程の高温に耐えうる熱
安定性も合わせて要求されてきている。
磁気テープに対する耐摩耗性が優れていることはもちろ
ん、湿度や腐食性の雰囲気中での耐用性、すなわち耐環
境性や、耐振動性等が高いことが要求されている。その
ため、ギヤツブ形成やケースへの組み込み等をガラス溶
着て行うことが必要となり、磁気ヘットの素材はヘット
の製造工程におけるガラス溶着工程の高温に耐えうる熱
安定性も合わせて要求されてきている。
しかしながら、前記従来の軟磁性合金膜において、N
i −F e膜からなるものは、ガラス溶着工程での高
温では、軟磁気特性が劣化してしまうとともに、電気抵
抗が低いという欠点がある。
i −F e膜からなるものは、ガラス溶着工程での高
温では、軟磁気特性が劣化してしまうとともに、電気抵
抗が低いという欠点がある。
また、Co基の非晶質膜では、13000G以上の高い
飽和磁束密度のものも得られているが、従来のアモルフ
ァス合金の飽和磁束密度を高くしようとすると、アモル
ファス形成元素であるTi。
飽和磁束密度のものも得られているが、従来のアモルフ
ァス合金の飽和磁束密度を高くしようとすると、アモル
ファス形成元素であるTi。
Zr、Hf、Nb、Ta、Mo、W等の添加量を少なく
する必要があるが、添加量を少なくすると、アモルファ
ス構造の安定性が低下し、ガラス溶着に必要な温度(約
500℃以上)には耐ええない問題がある。
する必要があるが、添加量を少なくすると、アモルファ
ス構造の安定性が低下し、ガラス溶着に必要な温度(約
500℃以上)には耐ええない問題がある。
飽和磁束密度を約9000G以下に抑えれば、低融点ガ
ラスによる溶着は可能であるが、600℃以上での溶着
は困難であり、耐環境性に優れた中〜高融点ガラスを使
用できない。
ラスによる溶着は可能であるが、600℃以上での溶着
は困難であり、耐環境性に優れた中〜高融点ガラスを使
用できない。
さらに、上述したFeを主成分とする微細結晶からなる
合金膜(Fe−N、Fe−C等)は、高温では結晶成長
を起こして軟磁性が劣化する(Fe−Cの場合で400
℃が最高)ため、やはりガラス溶着に適したものとはい
いがたい。
合金膜(Fe−N、Fe−C等)は、高温では結晶成長
を起こして軟磁性が劣化する(Fe−Cの場合で400
℃が最高)ため、やはりガラス溶着に適したものとはい
いがたい。
このような背景から本願発明者らは、特願平12782
20号などにおいて、前記の問題を解決した軟磁性合金
膜を特許出願している。また、平成2年3月14日付で
行った特許出願において前記の問題を解決した軟磁性合
金膜の特許出願をしている。
20号などにおいて、前記の問題を解決した軟磁性合金
膜を特許出願している。また、平成2年3月14日付で
行った特許出願において前記の問題を解決した軟磁性合
金膜の特許出願をしている。
特願平1−278220号明細書において特許出願して
いる軟磁性合金膜の1つは、組成式が、FeaMcCd
で示され、組成比aは原子%て50〜96、Cは2〜3
0、dは0.5〜25、a+c+d= 100なる関係
を満足するものであった。
いる軟磁性合金膜の1つは、組成式が、FeaMcCd
で示され、組成比aは原子%て50〜96、Cは2〜3
0、dは0.5〜25、a+c+d= 100なる関係
を満足するものであった。
また、他の1つは、組成式かFeaTbMcCdで示さ
れ、組成比aは原子%で5θ〜96、bは0.1−1o
、Cは2〜30、dは0.5〜25、a+b+c+d=
100なる関係を満足するものであった。
れ、組成比aは原子%で5θ〜96、bは0.1−1o
、Cは2〜30、dは0.5〜25、a+b+c+d=
100なる関係を満足するものであった。
さらに、平成2年3月14日付けで特許出願している軟
磁性合金膜の1つは、組成式か、FeaCrcMdCe
で示され、組成比aは原子%で50〜95、Cは0.5
〜20、dは2〜25、eは0.5〜25、a+c+d
十e= 100なる関係を満足するものであった。
磁性合金膜の1つは、組成式か、FeaCrcMdCe
で示され、組成比aは原子%で50〜95、Cは0.5
〜20、dは2〜25、eは0.5〜25、a+c+d
十e= 100なる関係を満足するものであった。
さらにまた、他の1つは、組成式が、FeaTbCrc
MdCeで示され、組成比aは原子%で5θ〜95、b
は0.1〜10、Cは0.5〜20、dは2〜25、e
は0.5〜25、a+b+C+d十e=100なる関係
を満足するものであった。
MdCeで示され、組成比aは原子%で5θ〜95、b
は0.1〜10、Cは0.5〜20、dは2〜25、e
は0.5〜25、a+b+C+d十e=100なる関係
を満足するものであった。
これらの特許出願で提供した軟磁性合金膜は、一部組酸
のものは15000G以上の高い飽和磁束密度を有し、
従来の各種材料に比較すると高い熱安定性を備え、通常
の使用環境下では十分な耐食性と耐環境性を有している
か、可能な熱処理温度は700℃程度が上限であり、こ
れ以上の温度では軟磁性か劣化してくる。通常の磁気ヘ
ッドであれば700℃以下でガラス溶着は可能であるが
、複雑な構造のヘット、例えば、消去ヘッドと録再ヘッ
ドが一体化した構造のヘッドでは、消去ヘットと録再ヘ
ッド各々のギャップ形成をガラス溶着で行い、引き続き
両者のヘッドの合体(組み合わせ)をギャップ接合ガラ
スが溶融しない温度でガラス溶着する必要があり、ギャ
ップ接合ガラスに高融点のものを使用する必要がある。
のものは15000G以上の高い飽和磁束密度を有し、
従来の各種材料に比較すると高い熱安定性を備え、通常
の使用環境下では十分な耐食性と耐環境性を有している
か、可能な熱処理温度は700℃程度が上限であり、こ
れ以上の温度では軟磁性か劣化してくる。通常の磁気ヘ
ッドであれば700℃以下でガラス溶着は可能であるが
、複雑な構造のヘット、例えば、消去ヘッドと録再ヘッ
ドが一体化した構造のヘッドでは、消去ヘットと録再ヘ
ッド各々のギャップ形成をガラス溶着で行い、引き続き
両者のヘッドの合体(組み合わせ)をギャップ接合ガラ
スが溶融しない温度でガラス溶着する必要があり、ギャ
ップ接合ガラスに高融点のものを使用する必要がある。
このため、最初のギャップ形成を700℃以上の高温で
行うことが望ましい。従って、さらに耐熱性の高い軟磁
性薄膜が要求されている。
行うことが望ましい。従って、さらに耐熱性の高い軟磁
性薄膜が要求されている。
また、前記特願平1−278220号において出願され
ている軟磁性合金膜においては、電気抵抗が従来の非晶
質膜の半分程度と低く、これにより、高周波での透磁率
が渦電流損失により、低下させられるという問題があっ
た。さらにまた、Feを主成分とするために、悪環境下
で使用された場合に変色あるいは発錆を招くおそれかあ
った。
ている軟磁性合金膜においては、電気抵抗が従来の非晶
質膜の半分程度と低く、これにより、高周波での透磁率
が渦電流損失により、低下させられるという問題があっ
た。さらにまた、Feを主成分とするために、悪環境下
で使用された場合に変色あるいは発錆を招くおそれかあ
った。
本発明は前記課題を解決するためになされたもので、透
磁率が高く、その特性か熱的に安定であるとともに、良
好な耐食性を有する軟磁性合金膜を提供することをこと
を目的とするものである。
磁率が高く、その特性か熱的に安定であるとともに、良
好な耐食性を有する軟磁性合金膜を提供することをこと
を目的とするものである。
「課題を解決するための手段」
請求項1に記載した本発明は前記課題を解決するために
、組成式かFeaXcMeCfで示され、XはA l、
S iのうち、少なくとも一種からなる元素またはその
混合物であり、MはTi、ZrHf、V 、Nb、T
a、Mo、Wのうち少なくとも一種からなる金属元素ま
たはその混合物であり、組成比a、c、e、fは原子%
で、50≦a≦95.0.2≦c≦25.2≦e≦25
.0.5≦f≦25、a+C+e+f=100なる関係
を満足させるとともに、その組織が基本的に平均結晶粒
径が0.08μ友以下の微細な結晶粒からなり、その一
部に元素Mの炭化物の結晶相を含むものである。
、組成式かFeaXcMeCfで示され、XはA l、
S iのうち、少なくとも一種からなる元素またはその
混合物であり、MはTi、ZrHf、V 、Nb、T
a、Mo、Wのうち少なくとも一種からなる金属元素ま
たはその混合物であり、組成比a、c、e、fは原子%
で、50≦a≦95.0.2≦c≦25.2≦e≦25
.0.5≦f≦25、a+C+e+f=100なる関係
を満足させるとともに、その組織が基本的に平均結晶粒
径が0.08μ友以下の微細な結晶粒からなり、その一
部に元素Mの炭化物の結晶相を含むものである。
請求項2に記載した発明は前記課題を解決するために、
組成式がPea X c CrdM e Cfで示され
、XはAl,Siのうち、少なくとも一種からなる元素
またはその混合物であり、Mは Ti。
組成式がPea X c CrdM e Cfで示され
、XはAl,Siのうち、少なくとも一種からなる元素
またはその混合物であり、Mは Ti。
Zr、Hf、V 、Nb、Ta、Mo、Wのうち少なく
ともで種からなる金属元素またはその混合物であり、組
成比a、c、d、e、fは原子%で、50≦a≦95.
02≦c≦25.0.1≦d≦2012≦e≦25.0
5≦f≦25、B+c+d+e+、f= l 00なる
関係を満足させるとともに、その組織が基本的に平均結
晶粒径が0.08μm以下の微細な結晶粒がらなり、そ
の一部に元素Mの炭化物の結晶相を含むものである。
ともで種からなる金属元素またはその混合物であり、組
成比a、c、d、e、fは原子%で、50≦a≦95.
02≦c≦25.0.1≦d≦2012≦e≦25.0
5≦f≦25、B+c+d+e+、f= l 00なる
関係を満足させるとともに、その組織が基本的に平均結
晶粒径が0.08μm以下の微細な結晶粒がらなり、そ
の一部に元素Mの炭化物の結晶相を含むものである。
請求項3に記載した発明は前記課題を解決するために、
組成式がFeaT bX cM eCfで示され、Tは
Co、Niのうち、少なくとも一種からなる金属元素ま
たはその混合物であり、XはAl、Siのうち、少なく
とも一種からなる元素またはその混合物であり、MはT
i、Zr、Hf、V、Nb。
組成式がFeaT bX cM eCfで示され、Tは
Co、Niのうち、少なくとも一種からなる金属元素ま
たはその混合物であり、XはAl、Siのうち、少なく
とも一種からなる元素またはその混合物であり、MはT
i、Zr、Hf、V、Nb。
Ta、Mo、Wのうち少なくとも一種からなる金属元素
またはその混合物であり、組成比a、b c、e、fは
原子%で、50≦a≦95.0.1≦b≦1O102≦
c≦25、2 ≦e≦ 25、0.5≦f≦25、a+
1)−i−c+e+f= 100なる関係を満足させる
とともに、その組織が基本的に平均結晶粒径が008μ
次以下の微細な結晶粒からなり、その一部に元素Mの炭
化物の結晶相を含むものである。
またはその混合物であり、組成比a、b c、e、fは
原子%で、50≦a≦95.0.1≦b≦1O102≦
c≦25、2 ≦e≦ 25、0.5≦f≦25、a+
1)−i−c+e+f= 100なる関係を満足させる
とともに、その組織が基本的に平均結晶粒径が008μ
次以下の微細な結晶粒からなり、その一部に元素Mの炭
化物の結晶相を含むものである。
請求項4に記載した発明は前記課題を解決するために、
組成式がpeaT bX c CrdM eCfで示さ
れ、TはCo、Niのうち、少なくとも一種からなる金
属元素またはその混合物であり、XはAl、Siのうち
、少なくとも一種からなる元素またはその混合物であり
、MはTi、Zr、 HfV 、Nb、Ta、Mo、W
のうち少なくとも一種からなる金属元素またはその混合
物であり、組成比a、b。
組成式がpeaT bX c CrdM eCfで示さ
れ、TはCo、Niのうち、少なくとも一種からなる金
属元素またはその混合物であり、XはAl、Siのうち
、少なくとも一種からなる元素またはその混合物であり
、MはTi、Zr、 HfV 、Nb、Ta、Mo、W
のうち少なくとも一種からなる金属元素またはその混合
物であり、組成比a、b。
c、d、e、fは原子%で、50≦a≦95、o、i≦
b≦l010.2≦c≦25、Ol≦d≦20.2≦e
≦25.0.5≦f≦25、a+b+ c+d+e+f
=100なる関係を満足させるとともに、その組織が基
本的に平均結晶粒径が008μm以下の微細な結晶粒か
らなり、その一部に元素Mの炭化物の結晶相を含むもの
である。
b≦l010.2≦c≦25、Ol≦d≦20.2≦e
≦25.0.5≦f≦25、a+b+ c+d+e+f
=100なる関係を満足させるとともに、その組織が基
本的に平均結晶粒径が008μm以下の微細な結晶粒か
らなり、その一部に元素Mの炭化物の結晶相を含むもの
である。
請求項5に記載した発明は前記課題を解決するために、
請求項蓋ないし4に記載の組織が平均結晶粒径0.08
μm以下の微細な結晶粒と非晶質との混在した組織であ
って、微細結晶粒の一部に元素Mの炭化物の結晶相を含
むものである。
請求項蓋ないし4に記載の組織が平均結晶粒径0.08
μm以下の微細な結晶粒と非晶質との混在した組織であ
って、微細結晶粒の一部に元素Mの炭化物の結晶相を含
むものである。
以下に本発明を更に詳細に説明する。
前記合金膜の生成方法としては、合金膜をスパッタ、蒸
着等の薄膜形成装置により作製する。スパッタ装置とし
ては、RF2極スパッタ、DCスパッタ、マグネトロン
スパッタ、3極スパツタ、イオンビームスパッタ、対向
ターゲット式スパッタ、等の既存のものを使用すること
ができる。
着等の薄膜形成装置により作製する。スパッタ装置とし
ては、RF2極スパッタ、DCスパッタ、マグネトロン
スパッタ、3極スパツタ、イオンビームスパッタ、対向
ターゲット式スパッタ、等の既存のものを使用すること
ができる。
また、Cを膜中に添加する方法としては、ターゲツト板
上にグラファイトのベレットを配置して複合ターゲット
とし、これをスパッタする方法、あるいは、Cを含まな
いターゲット(Fe−X−M系、Fe−X−Cr−M系
、Fe−T−X−M系あるいはFe −T −X −C
r−M系)を用い、Ar等の不活性ガス中にメタン(C
H,)等の炭化水素ガスを混合したガス雰囲気中でスパ
ッタする反応性スパッタ法等を用いることができ、特に
反応性スパッタ法では膜中のCa度の制御か容易である
のて所望のC濃度の優れた膜を得ることかできる。
上にグラファイトのベレットを配置して複合ターゲット
とし、これをスパッタする方法、あるいは、Cを含まな
いターゲット(Fe−X−M系、Fe−X−Cr−M系
、Fe−T−X−M系あるいはFe −T −X −C
r−M系)を用い、Ar等の不活性ガス中にメタン(C
H,)等の炭化水素ガスを混合したガス雰囲気中でスパ
ッタする反応性スパッタ法等を用いることができ、特に
反応性スパッタ法では膜中のCa度の制御か容易である
のて所望のC濃度の優れた膜を得ることかできる。
このようにして作製したままの膜は非晶質相をかなりの
割合て含んたものであり、飽和磁束密度が低く、軟磁気
特性も不十分であるので、400℃以上の熱処理を施す
ことにより微結晶を析出させる。この熱処理は無磁場中
で行っても良好な軟磁気特性が得られるが、静磁場中あ
るいは回転磁場中で行うことにより、優れた磁気特性か
得られる。また、この熱処理は磁気ヘットの製造工程に
おけるガラス溶着工程と兼ねて行うことができる。
割合て含んたものであり、飽和磁束密度が低く、軟磁気
特性も不十分であるので、400℃以上の熱処理を施す
ことにより微結晶を析出させる。この熱処理は無磁場中
で行っても良好な軟磁気特性が得られるが、静磁場中あ
るいは回転磁場中で行うことにより、優れた磁気特性か
得られる。また、この熱処理は磁気ヘットの製造工程に
おけるガラス溶着工程と兼ねて行うことができる。
なお、前記微結晶の析出工程は、完全に行なわれる必要
はなく、微結晶か相当数(好ましくは50%以上)析出
していれば良いので、アモルファス成分が一部残留して
いても差し支えなく、残留したアモルファス成分が特性
向上の障害となることはない。
はなく、微結晶か相当数(好ましくは50%以上)析出
していれば良いので、アモルファス成分が一部残留して
いても差し支えなく、残留したアモルファス成分が特性
向上の障害となることはない。
以下、前記のように成分を限定した理由について述へる
。
。
Feは主成分であり、磁性を担う元素である。
少なくともフェライト(Bs 5000G)以上の飽
和磁束密度を得るためには、a≧50at%が必要であ
る。また、良好な軟磁気特性を得るためには、a≦95
at%でなければならない。
和磁束密度を得るためには、a≧50at%が必要であ
る。また、良好な軟磁気特性を得るためには、a≦95
at%でなければならない。
元素T(即ちCo、Ni)は、磁歪の調整の目的で添加
する元素である。元素Tの添加がない膜では、熱処理温
度が低い場合、もしくは、Siの添加量が少ない場合に
は磁歪が正の値となり、逆に熱処理温度が高い場合、も
しくは、Siの添加量が多い場合には磁歪が負の値とな
る。磁歪が零になる熱処理温度は元素MやCの濃度にも
依存する。しかし、Siの添加量を多くして、熱処理温
度を高くする必要(ガラス溶着温度)がある場合には、
磁歪が負になるので、磁歪を正にする効果のある元素T
(即ちco、Ni)を添加することにより、磁歪を零に
調節することができる。なお、熱処理温度やSiの添加
量が適当な場合には、元素Tの添加は特に必要ではない
。ただし、元素Tの添加量は正の磁歪が+1O−5台以
上まで大きくならないようにb≦l0at%としなくて
はならない。
する元素である。元素Tの添加がない膜では、熱処理温
度が低い場合、もしくは、Siの添加量が少ない場合に
は磁歪が正の値となり、逆に熱処理温度が高い場合、も
しくは、Siの添加量が多い場合には磁歪が負の値とな
る。磁歪が零になる熱処理温度は元素MやCの濃度にも
依存する。しかし、Siの添加量を多くして、熱処理温
度を高くする必要(ガラス溶着温度)がある場合には、
磁歪が負になるので、磁歪を正にする効果のある元素T
(即ちco、Ni)を添加することにより、磁歪を零に
調節することができる。なお、熱処理温度やSiの添加
量が適当な場合には、元素Tの添加は特に必要ではない
。ただし、元素Tの添加量は正の磁歪が+1O−5台以
上まで大きくならないようにb≦l0at%としなくて
はならない。
元素M(即ちT i、 Z r、Hf、V 、N b、
T a、W)は軟磁気特性を良好にするために必要であ
り、また、Cと結合して炭化物の微細結晶を形成する。
T a、W)は軟磁気特性を良好にするために必要であ
り、また、Cと結合して炭化物の微細結晶を形成する。
この炭化物の微粒子がFeを主成分とする結晶の成長を
妨げるはたらきをして、高い耐熱性が得られる。
妨げるはたらきをして、高い耐熱性が得られる。
良好な軟磁気特性を維持するためには、e≧2at%と
する必要がある。しかしながら、多すぎると飽和磁束密
度が低下し、また軟磁気特性の低下を招くので、e≦2
5at%とする必要がある。
する必要がある。しかしながら、多すぎると飽和磁束密
度が低下し、また軟磁気特性の低下を招くので、e≦2
5at%とする必要がある。
Cは軟磁気特性を良好にするために、及び、耐熱性を向
上させるために必要であり、また、Cは元素Mと結合し
て炭化物の微細結晶を形成する。
上させるために必要であり、また、Cは元素Mと結合し
て炭化物の微細結晶を形成する。
良好な軟磁気特性、及び、熱安定性を維持するためには
、f≧0.5at%とする必要がある。しかしながら、
多すぎると飽和磁束密度の低下、及び、軟磁気特性の低
下を招くので、f≦25at%とする必要がある。
、f≧0.5at%とする必要がある。しかしながら、
多すぎると飽和磁束密度の低下、及び、軟磁気特性の低
下を招くので、f≦25at%とする必要がある。
以上説明のFeと元素Tと元素MとCの成分限定理由は
特願平1−278220号の場合とほぼ同様である。
特願平1−278220号の場合とほぼ同様である。
元素X(即ちAl,Si)はFeを主成分とする微細結
晶かもつ結晶磁気異方性エネルギーを低下させて、結晶
の大きさがある程度成長しても軟磁気特性を保つはたら
きをするため、耐熱性を向上させることかできる。
晶かもつ結晶磁気異方性エネルギーを低下させて、結晶
の大きさがある程度成長しても軟磁気特性を保つはたら
きをするため、耐熱性を向上させることかできる。
さらに、電気抵抗を高くして、渦電流損失による高周波
透磁率の低下を改善するはたらきもある。
透磁率の低下を改善するはたらきもある。
上記の効果を発揮するためには、少なくともC20,2
at%とする必要がある。しかしながら、元素Xの含有
量を多くしすぎると飽和磁束密度が低下するので、C≦
25at%とする必要がある。
at%とする必要がある。しかしながら、元素Xの含有
量を多くしすぎると飽和磁束密度が低下するので、C≦
25at%とする必要がある。
Crは耐食性、耐環境性を改善するために添加する元素
である。Crの添加なしでも実用上は十分な耐食性、耐
環境性を得られるが、より厳しい環境下での使用のため
にもCrの添加により耐食性や耐環境性を改善すること
ができる。Crの含有量は耐食性や耐環境性を向上さ仕
るためは、d≧0.1at%としなければならない。し
かしながら、Crの含有量か多すぎると、飽和磁束密度
が低くなりすぎる(フェライト以下になる)ので、d≦
20at%とする必要かある。
である。Crの添加なしでも実用上は十分な耐食性、耐
環境性を得られるが、より厳しい環境下での使用のため
にもCrの添加により耐食性や耐環境性を改善すること
ができる。Crの含有量は耐食性や耐環境性を向上さ仕
るためは、d≧0.1at%としなければならない。し
かしながら、Crの含有量か多すぎると、飽和磁束密度
が低くなりすぎる(フェライト以下になる)ので、d≦
20at%とする必要かある。
元素Mの炭化物の微細結晶は膜中に均一に分散させるこ
とにより、Feの微結晶が熱処理により成長し、粗大化
して軟磁性を損なうことを防止するはたらきがある。つ
まり、Feの結晶粒が成長して大きくなると結晶磁気異
方性の悪影響が大きくなり、軟磁気特性が悪化するが、
元素Mの炭化物の微結晶がFeの粒成長の障壁としては
たらくことにより軟磁気特性の悪化を防止する。
とにより、Feの微結晶が熱処理により成長し、粗大化
して軟磁性を損なうことを防止するはたらきがある。つ
まり、Feの結晶粒が成長して大きくなると結晶磁気異
方性の悪影響が大きくなり、軟磁気特性が悪化するが、
元素Mの炭化物の微結晶がFeの粒成長の障壁としては
たらくことにより軟磁気特性の悪化を防止する。
本発明では、元素X(即ちA 1. S i)の添加に
より、Feを主成分とする結晶側々の結晶磁気異方性エ
ネルギーが低下しており、高温の熱処理によって、ある
程度結晶が大きくなっても軟磁気特性が維持できるとい
う特徴を有する。
より、Feを主成分とする結晶側々の結晶磁気異方性エ
ネルギーが低下しており、高温の熱処理によって、ある
程度結晶が大きくなっても軟磁気特性が維持できるとい
う特徴を有する。
さらに、金属組織が基本的に0.08μm以下の微結晶
からなっているために、非晶質に比べて熱的安定性に優
れており、添加元素を少なくでき、飽和磁束密度を高く
することができる。
からなっているために、非晶質に比べて熱的安定性に優
れており、添加元素を少なくでき、飽和磁束密度を高く
することができる。
「作用 」
上記軟磁性合金膜においては、その組織がFeに富む結
晶を主体とし、飽和磁束密度を低下させる成分の添加が
制限されているから、非晶質状態に比べ鉄原子1個あた
りの磁気モーメント及びキュリー温度が高くなっており
、高い飽和磁束密度が得られる。また、元素M及びCが
含まれているとともに、金属組織が微細な結晶粒からな
っており、結晶磁気異方性による軟磁性への悪影響が軽
減されるので、良好な軟磁気特性が得られる。さらに、
元素Mの炭化物が析出してFeを主成分とする結晶粒の
成長を抑えるので、ガラス溶着工程において加熱されて
し、結晶粒が粗大化することがない。
晶を主体とし、飽和磁束密度を低下させる成分の添加が
制限されているから、非晶質状態に比べ鉄原子1個あた
りの磁気モーメント及びキュリー温度が高くなっており
、高い飽和磁束密度が得られる。また、元素M及びCが
含まれているとともに、金属組織が微細な結晶粒からな
っており、結晶磁気異方性による軟磁性への悪影響が軽
減されるので、良好な軟磁気特性が得られる。さらに、
元素Mの炭化物が析出してFeを主成分とする結晶粒の
成長を抑えるので、ガラス溶着工程において加熱されて
し、結晶粒が粗大化することがない。
さらにまた、Crを特定量添加しているので耐食性が向
上し、耐環境性に優れる。
上し、耐環境性に優れる。
また、元素X(Al、Si)の添加により、電気抵抗が
高くなり、高周波での渦電流損失が低減され、高周波透
磁率が高くなる。
高くなり、高周波での渦電流損失が低減され、高周波透
磁率が高くなる。
「実施例」
(1)成膜
RF2極スパッタ装置を用いて、後記の第1表に示す組
成の合金膜を形成した。
成の合金膜を形成した。
使用しfニターゲットは、Feターゲット上にSl。
Al,Co、Ta、グラファイト等の各種ペレットを適
宜配置して構成した複合ターゲットを用い、Arガス雰
囲気中でスパッタを行って、膜厚5〜6μmの薄膜を形
成した。
宜配置して構成した複合ターゲットを用い、Arガス雰
囲気中でスパッタを行って、膜厚5〜6μmの薄膜を形
成した。
(2)熱処理
成膜後、無磁場中において650℃で20分間保持する
アニールを行った。
アニールを行った。
(3)測定
前記のように製造された合金膜と、スパッタにより成膜
した元素Xを含有しない合金膜(特願平1−27822
0号において特許出願している発明に係る合金膜)につ
いて、無磁場アニール後における飽和磁束密度(B s
)、初透磁率(μ、atlMHz)、保磁力(Hc)、
磁歪定数(λ)と比抵抗(ρ、μΩ・cm)の測定を行
った。以上の結果を第1表に示す。
した元素Xを含有しない合金膜(特願平1−27822
0号において特許出願している発明に係る合金膜)につ
いて、無磁場アニール後における飽和磁束密度(B s
)、初透磁率(μ、atlMHz)、保磁力(Hc)、
磁歪定数(λ)と比抵抗(ρ、μΩ・cm)の測定を行
った。以上の結果を第1表に示す。
第1表で試料lの比較例aは本発明音らが先に特許出願
しているものである。本発明に係る合金膜(b−k)は
いずれもaよりも比抵抗(電気抵抗)が高くなっており
、磁気特性(飽和磁束密度、初透磁率、保磁力、磁歪定
数)もaと同様ないしはそれ以上の値が得られている。
しているものである。本発明に係る合金膜(b−k)は
いずれもaよりも比抵抗(電気抵抗)が高くなっており
、磁気特性(飽和磁束密度、初透磁率、保磁力、磁歪定
数)もaと同様ないしはそれ以上の値が得られている。
前記と同様な方法で作成した合金膜の軟磁気特性の熱安
定性(耐熱性)を特願平1−278220号にて出願済
の合金膜と比較して第2表に示す。
定性(耐熱性)を特願平1−278220号にて出願済
の合金膜と比較して第2表に示す。
以 下 余 白
第2表より比較例にあげた合金膜よりも本発明の合金膜
の方か高い熱安定性を示すことがわかる。
の方か高い熱安定性を示すことがわかる。
また、750℃で熱処理をした比抵抗は比較例の比抵抗
に比べて約3倍の高い値を示した。
に比べて約3倍の高い値を示した。
[発明の効果J
以上説明したように本発明は、Feを主成分とする微細
な結晶粒から主になる軟磁性合金膜であり、飽和磁束密
度を低下させる成分の添加が制限されているので、高い
飽和磁束密度が得られる。
な結晶粒から主になる軟磁性合金膜であり、飽和磁束密
度を低下させる成分の添加が制限されているので、高い
飽和磁束密度が得られる。
このことにより、高い記録特性を有する磁気ヘッドを提
供できる。
供できる。
さらに、従来のアモルファス合金膜とは異なり、無磁場
中で熱処理を行っても高い透磁率を発揮する膜を得るこ
とができ、磁気ヘッド製造時のガラス溶着等の工程を磁
場をかけて熱処理する場合よりも簡略化をなしえる。
中で熱処理を行っても高い透磁率を発揮する膜を得るこ
とができ、磁気ヘッド製造時のガラス溶着等の工程を磁
場をかけて熱処理する場合よりも簡略化をなしえる。
また、元素M(T i、Zr、Hf、V 、Nb、T
a、Mo、W)及びCという軟磁性を良好とする成分が
添加されるとともに、金属組織が微細な結晶粒からなり
、結晶磁気異方性による軟磁性への悪影響が軽減される
ので、良好な軟磁気特性が得られる。
a、Mo、W)及びCという軟磁性を良好とする成分が
添加されるとともに、金属組織が微細な結晶粒からなり
、結晶磁気異方性による軟磁性への悪影響が軽減される
ので、良好な軟磁気特性が得られる。
さらに、微細な結晶粒からなるとともに、添加された元
素MがCと炭化物を形成し、その炭化物が膜中に均一に
分散されていることにより、Feを主成分とする微結晶
が熱処理により成長することを防ぐ働きがある。すなわ
ち、結晶の成長に伴って結晶磁気異方性の悪影響が大き
くなることによる軟磁性の劣化を防ぐ働きかある。
素MがCと炭化物を形成し、その炭化物が膜中に均一に
分散されていることにより、Feを主成分とする微結晶
が熱処理により成長することを防ぐ働きがある。すなわ
ち、結晶の成長に伴って結晶磁気異方性の悪影響が大き
くなることによる軟磁性の劣化を防ぐ働きかある。
また、上記組成に加えて、元素X (A l、S i)
が添加されていることにより、Feを主成分とする結晶
側々の結晶磁気異方性エネルギーが低下して、ある程度
結晶が大きくなっても、軟磁性を維持てき、高温での熱
処理に耐えうる。このことにより、溶着ガラスとして信
頼性の高い中〜高融点ガラスを用いることができるとも
に、多段階のガラス溶着を必要とする複雑な構造の磁気
ヘッドの加工プロセスにおける熱履歴にも耐えることが
できる。
が添加されていることにより、Feを主成分とする結晶
側々の結晶磁気異方性エネルギーが低下して、ある程度
結晶が大きくなっても、軟磁性を維持てき、高温での熱
処理に耐えうる。このことにより、溶着ガラスとして信
頼性の高い中〜高融点ガラスを用いることができるとも
に、多段階のガラス溶着を必要とする複雑な構造の磁気
ヘッドの加工プロセスにおける熱履歴にも耐えることが
できる。
さらに、SiやAtが添加されていることにより、電気
抵抗が高くなり、高周波での渦電流損失が低減され、高
周波での透磁率を高めることができる。
抵抗が高くなり、高周波での渦電流損失が低減され、高
周波での透磁率を高めることができる。
またさらに、元素T(Co,Ni)を加えることにより
、磁歪を調整し、磁気ヘッド製造工程で生しる種々の歪
による軟磁気特性の劣化を防ぐことができるものである
。
、磁歪を調整し、磁気ヘッド製造工程で生しる種々の歪
による軟磁気特性の劣化を防ぐことができるものである
。
また、前記成分にCrを特定量添加することにより、F
e基の合金としては耐食性に優れ、悪環境下にあっても
変色や発錆を生じない特徴がある。
e基の合金としては耐食性に優れ、悪環境下にあっても
変色や発錆を生じない特徴がある。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)組成式がFeaXcMeCfで示され、XはAl
,Siのうち、少なくとも一種からなる元素またはその
混合物であり、MはTi,Zr,Hf,V,Nb,Ta
,Mo,Wのうち少なくとも一種からなる金属元素また
はその混合物であり、組成比a,c,e,fは原子%で 50≦a≦95 0.2≦c≦25 2≦e≦25 0.5≦f≦25 a+c+e+f=100 なる関係を満足させるとともに、その組織が基本的に平
均結晶粒径が0.08μm以下の微細な結晶粒からなり
、その一部に元素Mの炭化物の結晶相を含むことを特徴
とする軟磁性合金膜。 (2)組成式がFeaXcCrdMeCfで示され、X
はAl,Siのうち、少なくとも一種からなる元素また
はその混合物であり、MはTi,Zr,Hf,V,Nb
,Ta,Mo,Wのうち少なくとも一種からなる金属元
素またはその混合物であり、組成比a,c,d,e,f
は原子%で 50≦a≦95 0.2≦c≦25 0.1≦d≦20 2≦e≦25 0.5≦f≦25 a+c+d+e+f=100 なる関係を満足させるとともに、その組織が基本的に平
均結晶粒径が0.08μm以下の微細な結晶粒からなり
、その一部に元素Mの炭化物の結晶相を含むことを特徴
とする軟磁性合金膜。 (3)組成式がFeaTbXcMeCfで示され、Tは
Co,Niのうち、少なくとも一種からなる金属元素ま
たはその混合物であり、XはAl,Siのうち、少なく
とも一種からなる元素またはその混合物であり、MはT
i,Zr,Hr,V,Nb,Ta,Mo,Wのうち少な
くとも一種からなる金属元素またはその混合物であり、
組成比a,b,c,e,fは原子%で、 50≦a≦95 0.1≦b≦10 0.2≦c≦25 2≦e≦25 0.5≦f≦25 a+b+c+e+f=100 なる関係を満足させるとともに、その組織が基本的に平
均結晶粒径が0.08μm以下の微細な結晶粒からなり
、その一部に元素Mの炭化物の結晶相を含むことを特徴
とする軟磁性合金膜。 (4)組成式がFeaTbXcCrdMeCfで示され
、TはCo,Niのうち、少なくとも一種からなる金属
元素またはその混合物であり、XはAl,Siのうち、
少なくとも一種からなる元素またはその混合物であり、
MはTi,Zr,Hf,V,Nb,Ta,Mo,Wのう
ち少なくとも一種からなる金属元素またはその混合物で
あり、組成比a,b,c,d,e,fは原子%で 50≦a≦95 0.1≦b≦10 0.2≦c≦25 0.1≦d≦20 2≦e≦25 0.5≦f≦25 a+b+c+d+e+f=100 なる関係を満足させるとともに、その組織が基本的に平
均結晶粒径が0.08μm以下の微細な結晶粒からなり
、その一部に元素Mの炭化物の結晶相を含むことを特徴
とする軟磁性合金膜。 (5)請求項1ないし4に記載の組織が平均結晶粒径0
.08μm以下の微細な結晶粒と非晶質との混在した組
織であって、微細結晶粒の一部に元素Mの炭化物の結晶
相を含むことを特徴とする軟磁性合金膜。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2116256A JP2771674B2 (ja) | 1990-05-02 | 1990-05-02 | 軟磁性合金膜 |
| KR1019910007037A KR960012244B1 (ko) | 1990-05-02 | 1991-05-01 | 연자성 합금막 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2116256A JP2771674B2 (ja) | 1990-05-02 | 1990-05-02 | 軟磁性合金膜 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0412508A true JPH0412508A (ja) | 1992-01-17 |
| JP2771674B2 JP2771674B2 (ja) | 1998-07-02 |
Family
ID=14682612
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2116256A Expired - Fee Related JP2771674B2 (ja) | 1990-05-02 | 1990-05-02 | 軟磁性合金膜 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2771674B2 (ja) |
| KR (1) | KR960012244B1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08241813A (ja) * | 1995-01-16 | 1996-09-17 | Lg Electron Inc | 磁気ヘッド用軟磁性薄膜材料 |
| US7327639B2 (en) | 2002-03-30 | 2008-02-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Hybrid writing and reading head to record data with high density |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03203308A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-05 | Nec Home Electron Ltd | 磁性薄膜積層体 |
-
1990
- 1990-05-02 JP JP2116256A patent/JP2771674B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-05-01 KR KR1019910007037A patent/KR960012244B1/ko not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03203308A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-05 | Nec Home Electron Ltd | 磁性薄膜積層体 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08241813A (ja) * | 1995-01-16 | 1996-09-17 | Lg Electron Inc | 磁気ヘッド用軟磁性薄膜材料 |
| US7327639B2 (en) | 2002-03-30 | 2008-02-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Hybrid writing and reading head to record data with high density |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR910020755A (ko) | 1991-12-20 |
| JP2771674B2 (ja) | 1998-07-02 |
| KR960012244B1 (ko) | 1996-09-18 |
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