JPH04127065A - 生化学自動分析装置の洗浄機構 - Google Patents

生化学自動分析装置の洗浄機構

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JPH04127065A
JPH04127065A JP24699390A JP24699390A JPH04127065A JP H04127065 A JPH04127065 A JP H04127065A JP 24699390 A JP24699390 A JP 24699390A JP 24699390 A JP24699390 A JP 24699390A JP H04127065 A JPH04127065 A JP H04127065A
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JP
Japan
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vacuum
reaction
sample
flow path
water
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JP24699390A
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English (en)
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Osamu Ono
修 大野
Hiroyasu Uchida
裕康 内田
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、生化学自動分析装置に係り、真空を利用しサ
ンプルを装置外に排出する流路の洗浄に好適な生化学自
動分析装置の洗浄機構に関する。
〔従来の技術〕
従来の自動分析装置における分析動作を第2図を用いて
説明する。試料容器30中のサンプルは、試料容器30
がラック26上に乗せられていることにより、サンプラ
1を介して移動し、サンプリング機構6の位置まで移動
する。ここでサンプルは、サンプリング機構6の定量分
取機構5により一定量分取され、反応ディスク2上の反
応容器31に吐出される。反応容器31は、反応ディス
ク2の外縁に円周状−列に配置固定されており、回転駆
動機構(図示省略)により反応ディスク2に固定されて
いる反応容器31は恒温水槽(図示省略)に浸った状態
で円周軌道上を移動する。反応容器31は反応ディスク
2が回転することにより試薬吐出機構10の位置に移動
する。試薬吐出機構10には多連分注器16を介して試
薬容器20がつながっており、試薬容器20中の試薬が
多連分注器16により一定量、サンプルの入った反応容
器に吐出される。試薬のサンプルへの混合は、サンプル
項目等の必要に応じて第1試薬、第2試薬が混入される
。反応容器31中のサンプルと試薬の混合液は、反応デ
ィスク2の回転により撹拌機構13により撹拌され、混
電が促進される。これら一連の動作により検体と試薬の
着色反応が行われ、反応ディスク2の回転により、該反
応容器31は光源と吸光光度計15の間の光軸を横切り
、吸光度が測定され、A/Dコンパ−22でデータをデ
ジタル化した後、コンピータ25へ送る。
以後、試料分注と試薬注入の動作、反応ディスク2の回
転動作を一定時間間隔で繰り返す。その間、該反応容器
31は一定時間間隔ごとに吸光光度計15の光軸を横切
るため、反応液の化学反応過程の吸光度変化を断続的に
追跡コンピュータ22に記録される、この吸光度変化を
コンピュータ22でデータ処理することで、試料中の各
種の成分濃度を算出、装置の操作者が操作部25より操
作することで、各種測定結果がプリンタ、CRTより出
力されたり、フロッピディスク(図示省略)に書き込ま
れたりする。
吸光度を測定し終えた反応容器31は、所定の位置で反
応容器洗浄機構14により洗浄される。
該反応容器31が洗浄されているとき、他の反応容器3
1では並行して試料の成分分析が行われているので、反
応容器の洗浄により処理能力が低下することはない。洗
浄を終えた反応容器は次の分析用に供される。第3図に
従来、真空を使用した反応容器31の洗浄機構の廃液吸
引流路系を示す。
53は反応容器で円周状に断面した図である。80は洗
浄用の給水ノズルで図のようにA−Dの位置にある。5
4は廃液吸引ノズルA−C,G、H。
■の位置にある。洗浄の一連の動作を以下説明する。最
初に、測定の終了した反応容器53内サンプルは吸引ノ
ズル54のAで以下に説明する真空流路により吸引され
次に吸水ノズル80のAで給水される。次にBCに位置
で吸引、給水が行なわれ、Gの位置で反応容器53の壁
面に付着している水滴を吸引する。壁面の液を吸引する
ため吸引ノズル54のG先端は反応容器と同形状品であ
る。。
給水ノズル80Dは吸光度測定のセルブランク用水であ
る。セルブランク用水を吸引ノズル54Hで吸引し、5
4Iで反応容器53内の壁面の水滴を吸引する。
次に真空流路にってい説明する。流路はサンプル吸引と
洗浄水吸引の2流路となっていて、トレインパイプも、
サンプルドレインバイブロ4と洗浄水ドレインバイブロ
5とに分かれ、真空ビンもサンプル真空ビン58と洗浄
水真空ビン59とに分かれている。50〜52は個々の
ノズルに配管される流路用の分岐管である。55〜57
.60〜63は真空系の制御用電磁弁である。57は電
磁弁用分岐管である。66は真空ポンプであり、真空バ
ッファ用の真空タンク69に接続されている。67は真
空度検知用検知器である。真空タンク69内の構造は、
内部が3室に分かれている。
1室70には吸引ノズル54系に配管されているノズル
があり、2室71には真空検知67に接続されるセンサ
74が取付されている。センサ74の位置は、万一、霧
状の排液、戎は流路の故障により液が溜っても支障無い
高さとしている。1室70と2室71に分けるため、下
部が切断されている仕切が設けられている。3室72に
は真空ポンプ66に接続されるノズルがある。2室71
と3室72に分けるためここにも仕切があるが、万一で
も1室71,2室72に溜った液が入り込まぬようセン
サ74よりも高い位置に小径の穴が明けられたものであ
る。
真空系の一連の動作をサンプル吸引側にて説明する。動
作としては洗浄水側流路も同じ動作を行なう。
真空ポンプ66が動作し、電磁弁62が閉じた状態で真
空タンク内の真空度が約−600rrnHg程度に保た
れている時に、洗浄機構14が反応容器31に下降と同
時に電磁弁55.62が開けられサンプルの吸引が行な
われ一担、サンプル真空ビンに溜められる。直後に電磁
弁55.60が閉められ、次に給水ノズル80から図示
していない給水機構により、約700μQ程度の洗浄液
が入れられる。終了後再度電磁弁55.60が開けられ
ここでも一担、サンプル真空ビン58に洗浄液が溜めら
れる。更に電磁弁55.60が閉められると、電磁弁6
0が開けられ、サンプル真空ビン58に溜められたサン
プル及び洗浄液がサンプルトレインバイブロ4を通り、
装置外に排出される。ここまでが終了した時点で洗浄機
構]4が反応容器31上に上陸する。
これら一連の動作が繰り返し行なわれる。
以上従来の自動分析装置の洗浄機構はこのようになって
いた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来技術の問題点を以下に述べる。
自動分析装置が大形化になるに従い、処理能力も多くな
り、信頼性についてもこれに追従しなければならないが
、洗浄機構のシステムに大きな問題があった。それは、
反応容器内そのものの洗浄方法には間厘無いが、真空を
利用した洗浄流路の洗浄においては配慮がされていなか
った。廃液の流れが一方的であり、汚れが蓄積されるの
みで、この流路を洗浄するシステムが組み込まれていな
かった。
大型の自動分析装置の場合、処理能力が600検体/時
にもなると真空流路内の汚れ、詰りか必定となり、装置
の信頼性が低下することとなる。
本発明の目的は、前記した従来技術の問題点を除去し、
大形分析装置においても、流路内に汚れ、詰りか無く信
頼性が高い、生化学自動分析装置の洗浄機構を提供する
ことにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために、真空流路系の真空バッファ
用真空タンクにマニュアル用の分岐管を設け、メンテナ
ンス時外部洗浄水を分岐管から真空流路の逆方向に流す
システムを装置に内蔵したものである。
〔作用〕
上記したように、真空流路系の真空バッファ用真空タン
クにマニュアル用の分岐管を設ける。メンテナンス時、
真空ポンプの電源を切り、真空タンク内の2室と3室を
遮蔽し、真空流路系の電磁弁を開けた状態で真空タンク
のマニュアル用分岐管に外部洗浄水を接続し通水する。
これにより、真空流路系の接続チューブ、真空タンク、
電磁弁。
サンプル真空ビン、洗浄水真空ビン、分岐管は洗浄水が
流れ洗浄されて、サンプルドレイン管、洗浄水トレイン
管、吸引ノズルより排出される。反応容器は予め、反応
ディスクより取外しておけば反応槽内に洗浄水が吐出さ
れ、反応槽オーバーフロ一部より排出される。後に反応
槽の水交換を行なえば、反応吸光度測定上問題となる反
応槽水の汚れについては問題にならない。
これらにより、従来不可能であった真空系の洗浄が可能
となり、装置の大幅な信頼性向上が可能となる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。第1
図は本発明の洗浄機構の真空系流路である。この洗浄機
構の動作としては公知のものであるが本発明の構成とし
ては真空タンク90の流路系が大きく異なる点である。
真空タンク90の構造について説明する。内部は3室に
分かれている。1室70には吸引ノズル54系に配管さ
れるノズルがある。従来このノズルは1本でノズルと電
磁弁62.63との間に分岐管が設けられていたが、汚
れ、詰りの可能性が有るため本発明においてはノズルを
2本設は直接電磁弁62.63に接続することとする。
また従来1室70,2室71内に溜ったトレインは真空
タンク90全体を装置外に取外したまま付随して流路配
管を取外した後に排出しなければ困餐でメンテナンスに
非常に時間を費やすため本発明においては1室70の前
面にトレインニップル91と栓92を設は通常の装置運
転時にはチューブ76にて接続し真空洩れの無いように
する。2室71上部には3室72と接続されるようにニ
ップルを設はチューブ75にて接続する。1室70と2
室71に分けるため、下部が切断されている仕切板を設
ける。2室71と3室72とは完全に仕切る仕切板を設
ける。3室72には2室71との接続用のニップルと真
空検知67に接続されたセンサ74を取付する。センサ
74の位置は、2室71より、万一、霧状の排液、戒は
流路の故障により液が混入し溜っても一時的には支障な
い高さとする。また3室72には、真空ポンプ66に接
続されるニップルを設ける。
以上のように構成されている。
次に本発明により真空系の流路洗浄方法のシステムを説
明する。
真空ポンプ66の電源を切り、真空タンク90の2室7
1と3室72の接続チューブ75を図示してい力いピン
チコック等で締め3室72.真空検知67、真空ポンプ
66内に洗浄液が入り込まないようにする。
真空タンク90前面の栓92からチューブ7Gを取外し
て、真空系の流路を大気開放にする。
次に図示していない外部給水ポンプからチューブ76に
接続し、真空流路系の電磁弁55〜57゜60〜63を
開けた状態で通水する。これにより、真空タンク90内
1室70,2室72、真空流路系の接続チューブ、電磁
弁55〜57.60〜63゜サンプル真空ビン58.洗
浄水真空ピン592分岐管50〜52.吸引ノズル54
は洗浄水が流れ洗浄されて、サンプルドレイン管64.
洗浄水トレイン管65.吸引ノズル54より排呂される
。
反応容器53は予め、反応ディスクより取外しておけば
反応槽内に洗浄水が吐出され、反応槽オーバーフロ一部
より排出される。
本発明によれば、従来不可能であった真空系の洗浄が可
能となり、装置の著しい信頼性向上が可能となり、また
、多項目、多検体を処理する大形自動分析装置に適した
洗浄機構となる。
〔発明の効果〕
以上の説明で明らかなように、本発明によれば洗浄機構
の真空系を洗浄する機能を内蔵したことにより、従来問
題の多発した電磁弁、流路の詰り、汚れが無くなり、大
形自動分析装置の信頼性が著し2く向上する。また従来
、電磁弁、流路が汚れると各部品を交換していたが、こ
れが無くなり装置のランニングコストも大幅な低減が出
来、付随して装置の停止時間も大幅な低減が出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す洗浄機構の真空系流路
の構成図、第2図は従来技術の装置全体構成図、第3図
は従来技術の洗浄機構の真空系流路の構成図である。 2・・・反応ディスク、6・・サンプリング機構、14
・・・洗浄機構、26・・・ラック、30・・・試薬容
器、31・・・反応容器、50〜52・・・分岐管、5
4・・・吸引ノズル、55〜57.60〜63・・・電
磁弁、58・・・サンプル真空ビン、59・・・洗浄水
真空ビン、64・・・サンプルドレインパイプ、65・
・・洗浄水トレインパイプ、66・・・真空ポンプ、6
7・・真空検知、69・・・真空タンク、74・・・セ
ンサ、75・・・チューブ、76・・・チューブ、8o
・・・給水ノズル、9o・・・真空タンク、91・・・
ニップル、92・・・栓。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、試料と試薬とを化学反応させる反応容器に試料を分
    注する試料サンプリング機構、試薬を注入する試薬注入
    機構、反応容器内の反応液の吸光度を測定する吸光光度
    計、反応容器を外周縁に保持する反応ディスク、反応デ
    ィスクを回転させる回転駆動機構、反応容器内のサンプ
    ルと試薬とが混合しそれを一定温度に保ち化学反応させ
    るための恒温水槽、一定時間内において化学反応が終了
    し吸光度が測定された反応容器内のサンプルを装置外に
    排出し反応容器内を洗浄する洗浄機構、またそれに付随
    する流路とより成る生化学自動分析装置において、連続
    的に繰り返し使用する反応容器の洗浄機構で、主に、真
    空を利用しサンプルを吸引する流路系の真空バッファ用
    タンクにマニュアル用の分岐路を設け、メンテナンス時
    外部洗浄水を分岐管から真空吸引流路の逆方向に流すシ
    ステムにすることを特徴とした生化学自動分析装置の洗
    浄機構。
JP24699390A 1990-09-19 1990-09-19 生化学自動分析装置の洗浄機構 Pending JPH04127065A (ja)

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JP (1) JPH04127065A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8870298B2 (en) 2011-11-30 2014-10-28 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Brake control device
US9114793B2 (en) 2011-11-30 2015-08-25 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Brake control device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8870298B2 (en) 2011-11-30 2014-10-28 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Brake control device
US9114793B2 (en) 2011-11-30 2015-08-25 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Brake control device

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