JPH04128372A - スパッタリング方法および装置 - Google Patents
スパッタリング方法および装置Info
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- JPH04128372A JPH04128372A JP24976690A JP24976690A JPH04128372A JP H04128372 A JPH04128372 A JP H04128372A JP 24976690 A JP24976690 A JP 24976690A JP 24976690 A JP24976690 A JP 24976690A JP H04128372 A JPH04128372 A JP H04128372A
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
及!上玖■飛分互
本発明は、スパッタリング方法および装置に関し、詳し
くは、いわゆるマグネトロンスパッタにおけるターゲッ
トの有効利用に関する。
くは、いわゆるマグネトロンスパッタにおけるターゲッ
トの有効利用に関する。
盗】ツ114
スパッタリングは、他のPVD法、例えば真空蒸着に比
べ得られる膜の特性などの点で優れているが、薄膜が形
成される基板の温度上昇が大きい点、膜の形成速度が遅
い点が大きな問題となっていた。
べ得られる膜の特性などの点で優れているが、薄膜が形
成される基板の温度上昇が大きい点、膜の形成速度が遅
い点が大きな問題となっていた。
これらの問題は、電場と磁場とを直交させるマグネトロ
ン型放電により解決されるに至った。
ン型放電により解決されるに至った。
この方式を利用した高速マグネトロンスパッタリング装
置は、例えば陰極のターゲットの裏面にN極およびS極
の一対の磁極を互いに離間して配設し、ターゲット表面
に発生する磁界とターゲット表面とで交差したトンネル
状路を作り、この中に電子を閉じ込めるようにしたもの
である。
置は、例えば陰極のターゲットの裏面にN極およびS極
の一対の磁極を互いに離間して配設し、ターゲット表面
に発生する磁界とターゲット表面とで交差したトンネル
状路を作り、この中に電子を閉じ込めるようにしたもの
である。
第8図は、このようなマグネトロン法におけるスパッタ
電極の構成例を示す一部切り欠き斜視図である。陰極を
形成するターゲット31の裏面に、磁界発生装置が設け
られている。磁界発生装置はS極をターゲット31面に
向けるS磁石23、と、このS磁石23sをJIIIS
Iffシて囲包しN極をターゲット31面に向けるN磁
石23Nとを有する。
電極の構成例を示す一部切り欠き斜視図である。陰極を
形成するターゲット31の裏面に、磁界発生装置が設け
られている。磁界発生装置はS極をターゲット31面に
向けるS磁石23、と、このS磁石23sをJIIIS
Iffシて囲包しN極をターゲット31面に向けるN磁
石23Nとを有する。
N極からの磁力線33は、ターゲット31面を通過した
のち再びターゲット31面を経てS極に入る。
のち再びターゲット31面を経てS極に入る。
このとき磁力線33とターゲット31面とにより閉ルー
プが形成され、この閉ループがリング状に連なりトンネ
ル状路(閉空間)が形成されて、この中に電子が閉じ込
められる。
プが形成され、この閉ループがリング状に連なりトンネ
ル状路(閉空間)が形成されて、この中に電子が閉じ込
められる。
閉じ込められた電子は、電界と磁界の方向に規制されて
、ターゲット31面上のトンネル状路内を運動し、この
電子がArガス等の雰囲気ガスと衝突して電離し多くの
イオンを生じる。
、ターゲット31面上のトンネル状路内を運動し、この
電子がArガス等の雰囲気ガスと衝突して電離し多くの
イオンを生じる。
このような原理により低温高速スパッタが可能な反面、
電子が移動するターゲットの特定部分のみがスパッタさ
れるという不拘−二〇−ジョンの問題がある。マグネト
ロンスパッタでは、トンネル状路内が均一にスパッタさ
れるという訳ではなく、磁界と電界との向きが直交する
部分が集中的にスパッタされる。第2図には断面図とし
て、この部分(侵刻部31a)が示されているが、集中
的にスパッタされる部分がターゲット31の極く一部で
あることが判る。このような不拘−二ロージョンが起こ
り、侵刻部31aがターゲット31の厚さ方向を貫通し
てしまうと、もはやスパッタリングは続行できなくなり
、ターゲット31の有効利用が図れなくなる。ターゲッ
トは高価なものが多く、このことは工業上重要な問題で
ある。また、ターゲットの取替えのための作業時間や、
その後の雰囲気調整あるいはクリーン化(除塵)の問題
も生じ、生産性を著しく損ねてしまう。
電子が移動するターゲットの特定部分のみがスパッタさ
れるという不拘−二〇−ジョンの問題がある。マグネト
ロンスパッタでは、トンネル状路内が均一にスパッタさ
れるという訳ではなく、磁界と電界との向きが直交する
部分が集中的にスパッタされる。第2図には断面図とし
て、この部分(侵刻部31a)が示されているが、集中
的にスパッタされる部分がターゲット31の極く一部で
あることが判る。このような不拘−二ロージョンが起こ
り、侵刻部31aがターゲット31の厚さ方向を貫通し
てしまうと、もはやスパッタリングは続行できなくなり
、ターゲット31の有効利用が図れなくなる。ターゲッ
トは高価なものが多く、このことは工業上重要な問題で
ある。また、ターゲットの取替えのための作業時間や、
その後の雰囲気調整あるいはクリーン化(除塵)の問題
も生じ、生産性を著しく損ねてしまう。
このような不拘−二ロージョンの対策として、ターゲッ
トの裏面に、ターゲットよりも小さい面積をカバーする
磁気装置を設け、これをターゲットに対して偏心させて
回転し、磁界によるトンネル状路の形成位置を時間的に
変化させる方式も知られている。しかし、この方式では
、ある瞬時にスパッタしているのはその時に磁気装置で
カバーされているターゲットの一部の地域のみであり、
そのため付着速度が低下し、また、このような磁気装置
の移動機構は複雑となる。
トの裏面に、ターゲットよりも小さい面積をカバーする
磁気装置を設け、これをターゲットに対して偏心させて
回転し、磁界によるトンネル状路の形成位置を時間的に
変化させる方式も知られている。しかし、この方式では
、ある瞬時にスパッタしているのはその時に磁気装置で
カバーされているターゲットの一部の地域のみであり、
そのため付着速度が低下し、また、このような磁気装置
の移動機構は複雑となる。
が しようとする
本発明は、マグネトロンスパッタリングにおいて、ター
ゲットの不拘−二ロージョンによる弊害を防止し、ター
ゲットの有効利用を可能とするものである。
ゲットの不拘−二ロージョンによる弊害を防止し、ター
ゲットの有効利用を可能とするものである。
見尻立豊處
本発明のスパッタリング方法は、
スパッタ電極に固定されたターゲット裏面に。
N極およびS極の一対の磁極を互いに離間して配設し、
ターゲット表面に発生する磁界とターゲット面とで規定
されるトンネル状路をターゲット面上に形成し、このト
ンネル状路内に電子を閉じ込めるようにしてターゲット
をスパッタするスパッタリング方法において、 ターゲット表面が選択的にスパッタされ侵刻部が形成さ
れたターゲットを、このターゲット上の選択的侵刻部と
異なる位置にトンネル状路を形成すべく磁極を配置した
スパッタ電極に固定し、スパッタすることを特徴とする
。
ターゲット表面に発生する磁界とターゲット面とで規定
されるトンネル状路をターゲット面上に形成し、このト
ンネル状路内に電子を閉じ込めるようにしてターゲット
をスパッタするスパッタリング方法において、 ターゲット表面が選択的にスパッタされ侵刻部が形成さ
れたターゲットを、このターゲット上の選択的侵刻部と
異なる位置にトンネル状路を形成すべく磁極を配置した
スパッタ電極に固定し、スパッタすることを特徴とする
。
これは、例えば、ターゲットを所定時間マグネトロンス
パッタしたのち一旦スパッタを停止し、ターゲットに形
成されるトンネル状路の位置を変更したのち二再度スパ
ッタを行なうことにより実現できる。
パッタしたのち一旦スパッタを停止し、ターゲットに形
成されるトンネル状路の位置を変更したのち二再度スパ
ッタを行なうことにより実現できる。
また、本発明のスパッタリング装置は、ターゲット裏面
にN極およびS極の一対の磁極を互いに離間して配設し
、ターゲット表面に、発生する磁界とターゲット面とで
規定されるトンネル状路をターゲット面上に形成し、こ
のトンネル状路内に電子を閉じ込めるようにしてターゲ
ットをスパッタするスパッタ電極を有するスパッタリン
グ装置において。
にN極およびS極の一対の磁極を互いに離間して配設し
、ターゲット表面に、発生する磁界とターゲット面とで
規定されるトンネル状路をターゲット面上に形成し、こ
のトンネル状路内に電子を閉じ込めるようにしてターゲ
ットをスパッタするスパッタ電極を有するスパッタリン
グ装置において。
互いにターゲットを交換可能なスパッタ電極を少なくと
も2個以上有し、これらスパッタ電極においては、ター
ゲット面上に形成されるトンネル状路の位置が異なるべ
く、異なる配置パターンで磁極が配設されていることを
特徴とする。
も2個以上有し、これらスパッタ電極においては、ター
ゲット面上に形成されるトンネル状路の位置が異なるべ
く、異なる配置パターンで磁極が配設されていることを
特徴とする。
スー1−匠
第1〜4図は、角形のスパッタリング電極の断面図を示
す、これらにおいては、スパッタリング装置のチャンバ
ー(真空槽)11に対して、スパッタ電極15が絶縁材
13を介して固定されており、スパッタ電極15のバッ
クプレート17にはターゲット31が固定されている。
す、これらにおいては、スパッタリング装置のチャンバ
ー(真空槽)11に対して、スパッタ電極15が絶縁材
13を介して固定されており、スパッタ電極15のバッ
クプレート17にはターゲット31が固定されている。
第1図に示すようにターゲット31の裏面には、ターゲ
ット31にN極を向けるN磁石23.、 S極を向ける
S磁石238およびヨーク21からなる磁界発生装置が
配置されており、N磁石23.から出てターゲット31
を横切り、再びターゲット31を抜けてS磁石238に
入る磁力線33(第8図参照)とターゲット31により
、ターゲット31上にトンネル状路が形成される。
ット31にN極を向けるN磁石23.、 S極を向ける
S磁石238およびヨーク21からなる磁界発生装置が
配置されており、N磁石23.から出てターゲット31
を横切り、再びターゲット31を抜けてS磁石238に
入る磁力線33(第8図参照)とターゲット31により
、ターゲット31上にトンネル状路が形成される。
第1図に示す位置関係で磁石23.、23.が配置され
たスパッタ電極15を用い、表面が平らな板状のターゲ
ット31をスパッタしていくと、スパッタ電極15に印
加される電界とターゲット31上の磁界の向きが直交す
る部分で、ターゲット31が集中的にスパッタされ、タ
ーゲット31に侵刻部が形成される。スパッタを続行す
ると、第2図に示すように侵刻部31aはしだいに深く
なり、やがてはターゲット31を厚さ方向にほぼ貫通す
るに至る深さに達する。
たスパッタ電極15を用い、表面が平らな板状のターゲ
ット31をスパッタしていくと、スパッタ電極15に印
加される電界とターゲット31上の磁界の向きが直交す
る部分で、ターゲット31が集中的にスパッタされ、タ
ーゲット31に侵刻部が形成される。スパッタを続行す
ると、第2図に示すように侵刻部31aはしだいに深く
なり、やがてはターゲット31を厚さ方向にほぼ貫通す
るに至る深さに達する。
そこで従来は、この時点でスパッタリングを停止し、タ
ーゲット31をバックプレート17ごとスパッタ電極1
5から外し、表面が平らな新たなターゲットが固定され
たバックプレートをスパッタ電極15に固定しく第1図
の状態となる)、スパッタリングを再開していた。取り
外したバックプレート17上のターゲット31は、剥し
て廃棄あるいは再生利用していた。
ーゲット31をバックプレート17ごとスパッタ電極1
5から外し、表面が平らな新たなターゲットが固定され
たバックプレートをスパッタ電極15に固定しく第1図
の状態となる)、スパッタリングを再開していた。取り
外したバックプレート17上のターゲット31は、剥し
て廃棄あるいは再生利用していた。
しかしこの方法では、ターゲット面積の極く一部しかス
パッタリングに利用していないことになり、経済的に不
利な方法である。
パッタリングに利用していないことになり、経済的に不
利な方法である。
そこで本発明では、第2図の如く一部が集中的に深くス
パッタされたターゲット31を、第3図に示したように
、第1図および第2図とは異なる磁石23N’ t 2
3g’の配置パターンを有するスパッタ電極15に固定
する。第3図に示したスパッタ電極15では、N磁石2
3N′が中心に寄ってお九J、ターゲット31の侵刻部
31aとは異なる位置に、トンネル状路が形成される。
パッタされたターゲット31を、第3図に示したように
、第1図および第2図とは異なる磁石23N’ t 2
3g’の配置パターンを有するスパッタ電極15に固定
する。第3図に示したスパッタ電極15では、N磁石2
3N′が中心に寄ってお九J、ターゲット31の侵刻部
31aとは異なる位置に、トンネル状路が形成される。
第3図の状態でスパッタを再開すると、第4図に示すよ
うに侵刻部31aより中心側が集中的にスパッタされて
侵刻部31bを形成し、侵刻部31aは殆どスパッタさ
れない、よって、新たな侵刻部31bの深さが、ターゲ
ット31の厚さ方向を貫通するに至る直前までスパッタ
を続行し、ターゲット31を有効に利用できる。上記操
作をさらに繰り返し、ターゲット31のより広い面積を
スパッタすることもできる。
うに侵刻部31aより中心側が集中的にスパッタされて
侵刻部31bを形成し、侵刻部31aは殆どスパッタさ
れない、よって、新たな侵刻部31bの深さが、ターゲ
ット31の厚さ方向を貫通するに至る直前までスパッタ
を続行し、ターゲット31を有効に利用できる。上記操
作をさらに繰り返し、ターゲット31のより広い面積を
スパッタすることもできる。
上記のように、部分的に侵刻されたターゲット31を、
異なる磁石配置パターンのスパッタ電極で再スパツタす
る方法としては、以下の2つが代表的である3 ■ 同一のスパッタ電極を用い、その磁界発生装置の磁
石の配置パターンを変更する。
異なる磁石配置パターンのスパッタ電極で再スパツタす
る方法としては、以下の2つが代表的である3 ■ 同一のスパッタ電極を用い、その磁界発生装置の磁
石の配置パターンを変更する。
■ 異なる磁石の配置パターンを有する他のスパッタ電
極に、ターゲットを固定し直してスパッタする。
極に、ターゲットを固定し直してスパッタする。
上記■の場合は、同一のスパッタ電極および装置を用い
て本発明を実施できる。第1図に示したスパッタ電極1
5であれば、ターゲット31を固定したままバックプレ
ート17を外し、異なった磁石23N、 23Sの配置
パターンを有する磁界発生装置と交換し、再びバックプ
レート17を固定し、スパッタを再開する。この場合に
、第1図に示したスパッタ電極15ではチャンバー11
内を大気に開放して作業する必要があるが、スパッタ電
極の構造を工夫することにより、チャンバー11内を大
気に開放することなく、磁石23N。
て本発明を実施できる。第1図に示したスパッタ電極1
5であれば、ターゲット31を固定したままバックプレ
ート17を外し、異なった磁石23N、 23Sの配置
パターンを有する磁界発生装置と交換し、再びバックプ
レート17を固定し、スパッタを再開する。この場合に
、第1図に示したスパッタ電極15ではチャンバー11
内を大気に開放して作業する必要があるが、スパッタ電
極の構造を工夫することにより、チャンバー11内を大
気に開放することなく、磁石23N。
23、の配置の変更(磁界発生装置の交換)をすること
も可能である。なお、磁石配置の変更によりスパッタ速
度が変化する場合があっても、スパッタ時間、スパッタ
電力等のスパッタ条件の調整で対応することができる。
も可能である。なお、磁石配置の変更によりスパッタ速
度が変化する場合があっても、スパッタ時間、スパッタ
電力等のスパッタ条件の調整で対応することができる。
上記■の場合は、バックプレート17ごとターゲット3
1を移し替えるだけですむので、作業性が良好である。
1を移し替えるだけですむので、作業性が良好である。
この場合は、2台以上のスパッタ装置を稼動している場
合は、それぞれのスパッタ装置間でターゲットを交換可
能とし、かつ、磁石配置を変更しておくことにより、1
つのターゲットを順次それぞれの装置でスパッタして、
ターゲットを有効に利用できる。また、バッチ型スパッ
タリング装置にしろ、あるいはインラインタイプ等の連
続型スパッタリング装置にしろ、1つの装置内に複数の
スパッタ電極を有する場合は、同一装置内でターゲット
を交換することもできる。これらの場合、交換されるタ
ーゲットの素材は同一でも異なってもよい。
合は、それぞれのスパッタ装置間でターゲットを交換可
能とし、かつ、磁石配置を変更しておくことにより、1
つのターゲットを順次それぞれの装置でスパッタして、
ターゲットを有効に利用できる。また、バッチ型スパッ
タリング装置にしろ、あるいはインラインタイプ等の連
続型スパッタリング装置にしろ、1つの装置内に複数の
スパッタ電極を有する場合は、同一装置内でターゲット
を交換することもできる。これらの場合、交換されるタ
ーゲットの素材は同一でも異なってもよい。
第5図および第6図は、SnO,を5wt%含むITO
ターゲット(5インチX20インチ、厚さ174インチ
の角型)を用い、スパッタした場合に生じる侵刻部の中
心からの位置と深さとを示すグラフである。第5図に示
すように、第1段のスパッタリングにおいては、中心か
ら30〜35鳳−の部分が集中的にスパッタされて侵刻
部31aを形成した。このターゲットについて、より中
心側に磁石が配置されたスパッタ電極に固定し直しく第
1図と第3図のスパッタ電極15の磁石配置を参照)、
再度スパッタしたにの第2段のスパッタリングでは、第
6図に示すように、中心から15〜20mmの距離が主
としてスパッタされて侵刻部31bを形成し、第1段の
スパッタリングにおける侵刻部31aの最深部近傍は殆
どスパッタされなかった。
ターゲット(5インチX20インチ、厚さ174インチ
の角型)を用い、スパッタした場合に生じる侵刻部の中
心からの位置と深さとを示すグラフである。第5図に示
すように、第1段のスパッタリングにおいては、中心か
ら30〜35鳳−の部分が集中的にスパッタされて侵刻
部31aを形成した。このターゲットについて、より中
心側に磁石が配置されたスパッタ電極に固定し直しく第
1図と第3図のスパッタ電極15の磁石配置を参照)、
再度スパッタしたにの第2段のスパッタリングでは、第
6図に示すように、中心から15〜20mmの距離が主
としてスパッタされて侵刻部31bを形成し、第1段の
スパッタリングにおける侵刻部31aの最深部近傍は殆
どスパッタされなかった。
第7図は、本発明で用いられるスパッタリング装置の一
例を示す上面図である。チャンバー11には、スパッタ
雰囲気ガス導入系49および排気系47が設けられてお
り、スパッタ雰囲気が調整される。チャンバー11内に
は1回転軸43を中心として回転する立型多面体の基板
ホルダ41が設けられており、この外側に設けられた2
つのスパッタ電極15.15から、ターゲット31,3
iが基板45にスパッタされる。2つのスパッタ電極1
5゜15は同一形状のターゲットを固定でき、かつ。
例を示す上面図である。チャンバー11には、スパッタ
雰囲気ガス導入系49および排気系47が設けられてお
り、スパッタ雰囲気が調整される。チャンバー11内に
は1回転軸43を中心として回転する立型多面体の基板
ホルダ41が設けられており、この外側に設けられた2
つのスパッタ電極15.15から、ターゲット31,3
iが基板45にスパッタされる。2つのスパッタ電極1
5゜15は同一形状のターゲットを固定でき、かつ。
内部の磁石配置は、第1図および第3図に示したように
異なる。よって、所定時間スパッタ後に、2つのスパッ
タ電極15.15間でターゲット31.31を交換する
ことにより、ターゲットを有効に利用できる。なお、2
つのターゲット31゜31は同一の物質でもよく、S
i O,とITOのように異なる物質でもよい。
異なる。よって、所定時間スパッタ後に、2つのスパッ
タ電極15.15間でターゲット31.31を交換する
ことにより、ターゲットを有効に利用できる。なお、2
つのターゲット31゜31は同一の物質でもよく、S
i O,とITOのように異なる物質でもよい。
第1〜4図は、ターゲットとスパッタ電極との関係を示
す断面図である。 第5.6図は、ターゲットの消耗のされ方を示すグラフ
である。 第7図は、本発明で用いられる装置の実施例を示す上面
図である。 第8図は、スパッタ電極におけるターゲットと磁石との
関係を示す説明図である。 11・・・チャンバー 13・・・絶縁材15・・
・スパッタ電極 17・・・バックプレート21・・
・ヨーク 23N・・・N磁石23s・・・S
磁石 31・・・ターゲット31a、31b・・
・侵刻部 33・・・磁力線41・・・基板ホルダ
43・・・回転軸45・・・基板 47・・・排気系 49・・・スパッタガス導入系 51・・・スパッタ電源
す断面図である。 第5.6図は、ターゲットの消耗のされ方を示すグラフ
である。 第7図は、本発明で用いられる装置の実施例を示す上面
図である。 第8図は、スパッタ電極におけるターゲットと磁石との
関係を示す説明図である。 11・・・チャンバー 13・・・絶縁材15・・
・スパッタ電極 17・・・バックプレート21・・
・ヨーク 23N・・・N磁石23s・・・S
磁石 31・・・ターゲット31a、31b・・
・侵刻部 33・・・磁力線41・・・基板ホルダ
43・・・回転軸45・・・基板 47・・・排気系 49・・・スパッタガス導入系 51・・・スパッタ電源
Claims (5)
- 1.スパッタ電極に固定されたターゲット裏面に、N極
およびS極の一対の磁極を互いに離間して配設し、ター
ゲット表面に発生する磁界とターゲット面とで規定され
るトンネル状路をターゲット面上に形成し、このトンネ
ル状路内に電子を閉じ込めるようにしてターゲットをス
パッタするスパッタリング方法において、 ターゲット表面が選択的にスパッタされ侵 刻部が形成されたターゲットを、このターゲット上の選
択的侵刻部と異なる位置にトンネル状路を形成すべく磁
極を配置したスパッタ電極に固定し、スパッタすること
を特徴とするスパッタリング方法。 - 2.スパッタ電極に固定されたターゲット裏面に、N極
およびS極の一対の磁極を互いに離間して配設し、ター
ゲット表面に発生する磁界とターゲット面とで規定され
るトンネル状路をターゲット面上に形成し、このトンネ
ル状路内に電子を閉じ込めるようにしてターゲットをス
パッタするスパッタリング方法において、 ターゲットを所定時間スパッタしたのち一 旦スパッタを停止し、ターゲット面上に形成されるトン
ネル状路の位置を変更したのち、再度スパッタを行なう
ことを特徴とするスパッタリング方法。 - 3.スパッタ電極内の磁極の配置パターンを変えること
により、ターゲット面上に形成されるトンネル状路の位
置を変更する請求項2記載のスパッタリング方法。 - 4.ターゲットをスパッタ電極から取り外し、異なる配
置パターンで磁極が配設された他のスパッタ電極にター
ゲットを固定することにより、ターゲット面上に形成さ
れるトンネル状路の位置を変更する請求項2記載のスパ
ッタリング方法。 - 5.ターゲット裏面にN極およびS極の一対の磁極を互
いに離間して配設し、ターゲット表面に発生する磁界と
ターゲット面とで規定されるトンネル状路をターゲット
面上に形成し、このトンネル状路内に電子を閉じ込める
ようにしてターゲットをスパッタするスパッタ電極を有
するスパッタリング装置において、 互いにターゲットを交換可能なスパッタ電 極を少なくとも2個以上有し、これらスパッタ電極にお
いては、ターゲット面上に形成されるトンネル状路の位
置が異なるべく、異なる配置パターンで磁極が配設され
ていることを特徴とするスパッタリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24976690A JPH04128372A (ja) | 1990-09-18 | 1990-09-18 | スパッタリング方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24976690A JPH04128372A (ja) | 1990-09-18 | 1990-09-18 | スパッタリング方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04128372A true JPH04128372A (ja) | 1992-04-28 |
Family
ID=17197911
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24976690A Pending JPH04128372A (ja) | 1990-09-18 | 1990-09-18 | スパッタリング方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04128372A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6160880A (ja) * | 1984-08-29 | 1986-03-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | スパッタリング装置 |
| JPS61295369A (ja) * | 1985-06-25 | 1986-12-26 | Nec Corp | スパツタリング装置 |
| JPS63290275A (ja) * | 1987-05-23 | 1988-11-28 | Tokin Corp | マグネトロンスパッタリング装置 |
-
1990
- 1990-09-18 JP JP24976690A patent/JPH04128372A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6160880A (ja) * | 1984-08-29 | 1986-03-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | スパッタリング装置 |
| JPS61295369A (ja) * | 1985-06-25 | 1986-12-26 | Nec Corp | スパツタリング装置 |
| JPS63290275A (ja) * | 1987-05-23 | 1988-11-28 | Tokin Corp | マグネトロンスパッタリング装置 |
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