JPH04128848A - 電子写真用感光体並びにその評価方法および製造方法 - Google Patents
電子写真用感光体並びにその評価方法および製造方法Info
- Publication number
- JPH04128848A JPH04128848A JP25096490A JP25096490A JPH04128848A JP H04128848 A JPH04128848 A JP H04128848A JP 25096490 A JP25096490 A JP 25096490A JP 25096490 A JP25096490 A JP 25096490A JP H04128848 A JPH04128848 A JP H04128848A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photoreceptor
- peak intensity
- sensitive body
- surface layer
- atomic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、電子写真方式の複写機、レーザビームプリ
ンタ、ファクンミリなどに用いられるＡ−Ｓｅ系電子写
真用感光体並びにその評価方法おＪび製造方法に関する
。
ンタ、ファクンミリなどに用いられるＡ−Ｓｅ系電子写
真用感光体並びにその評価方法おＪび製造方法に関する
。
ａ ＡＳ２ Ｓｅ３をはじめとするＡｓ−Ｓｅ系合
金、＾−Ｓｅ−Ｔｅ系合金を光導電性材料とするＡｓ−
Ｓｅ系π子写真用感光体は、Ａ７７合金などからなる導
電性刀体上にこれらの合金を真空蒸着して形成した感光
層を備えてなる。そのうち、感光体表面層が高１度のＡ
ｓを含むＡｓ−Ｓｅ系合金からなる感光体は優れた耐刷
性、耐ｍ境性を有し、高速のプリンタ２復写機などに使
用されてきた。
金、＾−Ｓｅ−Ｔｅ系合金を光導電性材料とするＡｓ−
Ｓｅ系π子写真用感光体は、Ａ７７合金などからなる導
電性刀体上にこれらの合金を真空蒸着して形成した感光
層を備えてなる。そのうち、感光体表面層が高１度のＡ
ｓを含むＡｓ−Ｓｅ系合金からなる感光体は優れた耐刷
性、耐ｍ境性を有し、高速のプリンタ２復写機などに使
用されてきた。
しかしながら、高濃度のＡｓを含むＡｓ−Ｓｅ系合金は
誘電率が大きいため、このような合金を表面層とする感
光体は、帯電・保持能力が低く、また、繰り返し使用時
の特性が良くないという欠点を有する。従って、このよ
うな感光体を搭載する電子写真装置においては、例えば
、比較的低い帯電位ても良好な画像が得られるプロセス
としたり、繰り返し使用時の特性変動を補償する回路を
設けたりすることが必要となり、装置が複雑となり、高
価となるという問題があった。
誘電率が大きいため、このような合金を表面層とする感
光体は、帯電・保持能力が低く、また、繰り返し使用時
の特性が良くないという欠点を有する。従って、このよ
うな感光体を搭載する電子写真装置においては、例えば
、比較的低い帯電位ても良好な画像が得られるプロセス
としたり、繰り返し使用時の特性変動を補償する回路を
設けたりすることが必要となり、装置が複雑となり、高
価となるという問題があった。
この問題を解決する方法として、Ａｓ−Ｓｅ系感光層中
に酸素をＡｓ２０３の形態でｌｐｐｍ〜ｌ００ｐｐｆｌ
＋添加することが特開昭５８−１２３５４３号公報によ
り公知である。ところが、この方法では、繰り返し使用
時の特性が悪化する傾向が生じる。また、近年、高濃度
のＡｓを含むへ５−Ｓｅ系合金を表面層とする感光体に
おいては、トナーのクリーニング性を高めるために表面
を研磨することが行われるようになり、このような場合
には、最表面の状態が帯電・保持能力に大きく影響する
ため、上述の方法は効果が少なくなる。
に酸素をＡｓ２０３の形態でｌｐｐｍ〜ｌ００ｐｐｆｌ
＋添加することが特開昭５８−１２３５４３号公報によ
り公知である。ところが、この方法では、繰り返し使用
時の特性が悪化する傾向が生じる。また、近年、高濃度
のＡｓを含むへ５−Ｓｅ系合金を表面層とする感光体に
おいては、トナーのクリーニング性を高めるために表面
を研磨することが行われるようになり、このような場合
には、最表面の状態が帯電・保持能力に大きく影響する
ため、上述の方法は効果が少なくなる。
また、Ｓｅ−Ｔｅ系感光体の場合、感光体表面に特定波
長の光を照射し、最表面のＴｅの酸化度を４０％〜５０
％に制御することにより、帯電・保持能力を高め、繰り
返し使用時の特性を安定化する方法が特開昭６１−２０
０４５号公報により公知である。 しかしながら、Ａｓ
−Ｓｅ系感光体においては、光を照射すると帯電・保持
能力が低下する光疲労を生じるため、この方法は利用で
きない。
長の光を照射し、最表面のＴｅの酸化度を４０％〜５０
％に制御することにより、帯電・保持能力を高め、繰り
返し使用時の特性を安定化する方法が特開昭６１−２０
０４５号公報により公知である。 しかしながら、Ａｓ
−Ｓｅ系感光体においては、光を照射すると帯電・保持
能力が低下する光疲労を生じるため、この方法は利用で
きない。
また、へ５−Ｓｅ系合金からなる感光層上に中間層保護
層を形成する構成の感光体において、中間層の感光層側
にＡｓ２Ｏ，またはその類似体などを形成する方法が、
特開平１ｉ６６６２号公報により公知であるが、このよ
うな中間層１保護層を設けない場合には当然その効果は
得られない。
層を形成する構成の感光体において、中間層の感光層側
にＡｓ２Ｏ，またはその類似体などを形成する方法が、
特開平１ｉ６６６２号公報により公知であるが、このよ
うな中間層１保護層を設けない場合には当然その効果は
得られない。
この発明は、上述の点に言みてなされたものであって、
表面層が高濃度のＡｓを含むＡｓ−Ｓｅ系合金からなり
、耐刷性、耐環境性が良好で、帯電・保持能力に優れ、
繰り返し使用時の特性も良好なＡＳＳｅ系の電子写真用
感光体並びにその評価方法および製造方法を提供するこ
とを解決しようとする課題とする。
表面層が高濃度のＡｓを含むＡｓ−Ｓｅ系合金からなり
、耐刷性、耐環境性が良好で、帯電・保持能力に優れ、
繰り返し使用時の特性も良好なＡＳＳｅ系の電子写真用
感光体並びにその評価方法および製造方法を提供するこ
とを解決しようとする課題とする。
上記課題は、この発明によれば、導電性基体上にＡｓ−
Ｓｅ系合金からなる感光層を備え、かつ、感光体表面層
がＡｓを２０原子％以上４０原子％以下の範囲内て含有
するＡｓ−Ｓｅ系合金からなる電子写真用感光体の表面
層を、Ｘ線光電子分光法（Ｘ Ｐ Ｓ）で分析し、酸素
のピーク強度とＡｓのピーク強度との比を知ることによ
り、感光体の帯電・保持能力繰り返し使用時の特性を評
価できることを見出したこと、そうして、この方法で評
価したとき（酸素のピーク強度）／（Ａｓのピーク強度
）の値が１以上である感光体とすること、より望ましく
はこの値が２以上である感光体とすることによって解決
される。
Ｓｅ系合金からなる感光層を備え、かつ、感光体表面層
がＡｓを２０原子％以上４０原子％以下の範囲内て含有
するＡｓ−Ｓｅ系合金からなる電子写真用感光体の表面
層を、Ｘ線光電子分光法（Ｘ Ｐ Ｓ）で分析し、酸素
のピーク強度とＡｓのピーク強度との比を知ることによ
り、感光体の帯電・保持能力繰り返し使用時の特性を評
価できることを見出したこと、そうして、この方法で評
価したとき（酸素のピーク強度）／（Ａｓのピーク強度
）の値が１以上である感光体とすること、より望ましく
はこの値が２以上である感光体とすることによって解決
される。
このような感光体は、感光体表面層に大気中で所定の高
温で所定時間の加熱する安定化処理を施すことにより得
ることができる。このような加熱安定化処理は温度５０
℃で１０時間以上行うと好適であり、処理時間を２４時
間以上とするとより好適である。
温で所定時間の加熱する安定化処理を施すことにより得
ることができる。このような加熱安定化処理は温度５０
℃で１０時間以上行うと好適であり、処理時間を２４時
間以上とするとより好適である。
感光体表面層を大気中で高温で加熱処理することにより
、表面のＡｓが酸化する。Ａｓ酸化物（ＡＳ２０＋）
の誘電率はＡｓを２０原子％以上４０原子％以下の範
囲内で含むＡｓ−Ｓｅ系合金の誘電率より小さいために
帯電・保持能力が向上し、また、酸化度の大きい部分は
最表面古その極めて近傍の部分（約１００Å以下）に限
られるので、繰り返し使用時の特性は変動が少なく良好
で安定化するまでの時間も短くなる。このような感光体
のうち、感光体表面をＸＰＳで分析し評価したとき、（
酸素のピーク強度）／（Ａｓのピーク強度）の値が１以
上２より好ましくは２以上である感光体は、帯電・保持
能力が優れ、繰り返し使用時の特性も良好である。
、表面のＡｓが酸化する。Ａｓ酸化物（ＡＳ２０＋）
の誘電率はＡｓを２０原子％以上４０原子％以下の範
囲内で含むＡｓ−Ｓｅ系合金の誘電率より小さいために
帯電・保持能力が向上し、また、酸化度の大きい部分は
最表面古その極めて近傍の部分（約１００Å以下）に限
られるので、繰り返し使用時の特性は変動が少なく良好
で安定化するまでの時間も短くなる。このような感光体
のうち、感光体表面をＸＰＳで分析し評価したとき、（
酸素のピーク強度）／（Ａｓのピーク強度）の値が１以
上２より好ましくは２以上である感光体は、帯電・保持
能力が優れ、繰り返し使用時の特性も良好である。
Ａρ金合金ドラム上真空蒸着法て膜厚６０μｍのＡｓ２
Ｓｅ３合金からなる感光層を形成する。蒸着は約１Ｏ−
５Ｔｏｒｒの真空中で、ドラム温度をＡｓ２Ｓｅ３合金
のガラス転移点温度Ｔｇ（約１８０℃）に保ち、蒸発源
温度４００℃で行った。続いて、大気中で温度５０℃で
２４時間加熱する安定化処理を施して実施例１の感光体
を、また、１０時間加熱する安定化処理を施して実施例
２の感光体を作製した。また、仕較のために、加熱安定
化処理を施さない感光体を比較例１および２の感光体と
した。
Ｓｅ３合金からなる感光層を形成する。蒸着は約１Ｏ−
５Ｔｏｒｒの真空中で、ドラム温度をＡｓ２Ｓｅ３合金
のガラス転移点温度Ｔｇ（約１８０℃）に保ち、蒸発源
温度４００℃で行った。続いて、大気中で温度５０℃で
２４時間加熱する安定化処理を施して実施例１の感光体
を、また、１０時間加熱する安定化処理を施して実施例
２の感光体を作製した。また、仕較のために、加熱安定
化処理を施さない感光体を比較例１および２の感光体と
した。
このようにして得られた感光体の表面をＸＰＳで評価し
たときの（酸素（０）のピーク強度）／（Ａｓのピーク
強度）の値を第１表に示す。また、特性の測定結果を同
じく第１表に示す。帯電位の測定はドラムへの流れ込み
電流１１０μＡで行い、繰り返し残留電位は帯電・除電
を２００サイクル繰り返した後の値である。
たときの（酸素（０）のピーク強度）／（Ａｓのピーク
強度）の値を第１表に示す。また、特性の測定結果を同
じく第１表に示す。帯電位の測定はドラムへの流れ込み
電流１１０μＡで行い、繰り返し残留電位は帯電・除電
を２００サイクル繰り返した後の値である。
第１表に見られるとおり、○とＡｓのピーク強度の比を
１以上とすることにより帯電・保持能力が改善され、こ
の比を２以上とするとさらに向上することが判る。繰り
返し使用時の特性は実施例、比較例で差はなく良好であ
る。
１以上とすることにより帯電・保持能力が改善され、こ
の比を２以上とするとさらに向上することが判る。繰り
返し使用時の特性は実施例、比較例で差はなく良好であ
る。
第１図ないし第４図は、これらの感光体表面層をＸＰＳ
で分析して得られた＾ｓ、ｏ、Ｓｅの表面深さ方向のピ
ーク強度のプロファイルを示すもので、縦軸はＡｓ、
０． Ｓｅそれぞれのピーク強度の練′和で各元素のピ
ーク強度を除した比（％）１例えば、Ａｓの場合は（Ａ
ｓのピーク強度■Ａｓ）／（Ａｓのピーク強度■。＋○
のピーク強度■。−＋−Ｓｅのピーク強度■、８）を示
し、横軸は表面層の表面層の最表面からの深さを示し、
それぞれ第１図は実施例１第２図は実施例２．第３図は
比較例１．第４図は比較例２についての線図を示す。な
お、各元素のピークは、結合エネルギー＾ｓ３ｄ約４Ｓ
ｅＶ、 Ｄｉｓ約５３ＳｅＶ、 Ｓｅ３ｃｌ約５Ｓｅν
で与えられる。
で分析して得られた＾ｓ、ｏ、Ｓｅの表面深さ方向のピ
ーク強度のプロファイルを示すもので、縦軸はＡｓ、
０． Ｓｅそれぞれのピーク強度の練′和で各元素のピ
ーク強度を除した比（％）１例えば、Ａｓの場合は（Ａ
ｓのピーク強度■Ａｓ）／（Ａｓのピーク強度■。＋○
のピーク強度■。−＋−Ｓｅのピーク強度■、８）を示
し、横軸は表面層の表面層の最表面からの深さを示し、
それぞれ第１図は実施例１第２図は実施例２．第３図は
比較例１．第４図は比較例２についての線図を示す。な
お、各元素のピークは、結合エネルギー＾ｓ３ｄ約４Ｓ
ｅＶ、 Ｄｉｓ約５３ＳｅＶ、 Ｓｅ３ｃｌ約５Ｓｅν
で与えられる。
第１図ないし第４図から、Ｓｅはほぼ一定値でほとんど
酸化されず、はとんどの酸素は＾Ｓと結合していること
が判る。酸素のピーク強度がＡｓのピーク強度に比べて
大きいということは、大まかにいえば、Ａｓの酸化度が
５０％以上であることを示しているといえる。なおまた
、表面層の深さは表面層を５０００人工ンチンクしたと
きのスパッタ速度から換算したものである。
酸化されず、はとんどの酸素は＾Ｓと結合していること
が判る。酸素のピーク強度がＡｓのピーク強度に比べて
大きいということは、大まかにいえば、Ａｓの酸化度が
５０％以上であることを示しているといえる。なおまた
、表面層の深さは表面層を５０００人工ンチンクしたと
きのスパッタ速度から換算したものである。
この発明によれば、感光体表面がＡｓを２０原子％以上
４０原子％以下の範囲内で含有するＡｓ−Ｓｅ系合金か
らなるＡｓ−Ｓｅ系電子写真用感光体の表面層を大気中
で所定の高温で所定時間加熱処理することにより表面の
＾Ｓを酸化させ、ｘＰＳによりこの最表面を分析したと
きの（酸素のピーク強度）／（Ａｓのピーク強度）の値
を１以上、より望ましくは２以上とすることにより、耐
刷性、耐環境性が良好で、帯電・保持特性に優れ、繰り
返し使用時の特性も良好な電子写真用感光体を得ること
ができる。
４０原子％以下の範囲内で含有するＡｓ−Ｓｅ系合金か
らなるＡｓ−Ｓｅ系電子写真用感光体の表面層を大気中
で所定の高温で所定時間加熱処理することにより表面の
＾Ｓを酸化させ、ｘＰＳによりこの最表面を分析したと
きの（酸素のピーク強度）／（Ａｓのピーク強度）の値
を１以上、より望ましくは２以上とすることにより、耐
刷性、耐環境性が良好で、帯電・保持特性に優れ、繰り
返し使用時の特性も良好な電子写真用感光体を得ること
ができる。
第１図ないし第４図はこの発明の実施例、比較例の各感
光体表面をＸＰＳて分析したときのＡｓ。 ０、Ｓｅ各元素のＡｓ３ｄ、 Ｏｌｓ、 Ｓｅ３ｄの
各ピーク強度の総和に対する個々のピーク強度の比と感
光体表面からの深さとの関係を示す線図で、それぞれ第
１図は実施例１．第２図は実施例２．第３図は比較例１
．第４図は比較例２に関する線図である。７．）第１図 第 図
光体表面をＸＰＳて分析したときのＡｓ。 ０、Ｓｅ各元素のＡｓ３ｄ、 Ｏｌｓ、 Ｓｅ３ｄの
各ピーク強度の総和に対する個々のピーク強度の比と感
光体表面からの深さとの関係を示す線図で、それぞれ第
１図は実施例１．第２図は実施例２．第３図は比較例１
．第４図は比較例２に関する線図である。７．）第１図 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）導電性基体上にＡｓ−Ｓｅ系合金からなる感光層を
備え、かつ、感光体表面層がＡｓが２０原子％以上４０
原子％以下の範囲内の組成からなる電子写真用感光体の
評価方法において、前記感光体表面層をＸ線光電子分光
法（ＸＰＳ）で分析し、酸素のピーク強度とＡｓのピー
ク強度との比により感光体の帯電・保持能力を評価する
ことを特徴とする電子写真用感光体の評価方法。 ２）導電性基体上にＡｓ−Ｓｅ系合金からなる感光層を
備え、かつ、感光体表面層がＡｓが２０原子％以上４０
原子％以下の範囲内の組成からなる電子写真用感光体に
おいて、請求項１記載の評価方法で評価したとき、（酸
素のピーク強度）／（Ａｓのピーク強度）の値が１以上
であることを特徴とする電子写真用感光体。 ３）導電性基体上にＡｓ−Ｓｅ系合金からなる感光層を
備え、かつ、感光体表面層がＡｓが２０原子％以上４０
原子％以下の範囲内の組成からなる電子写真用感光体に
おいて、請求項１記載の評価方法で評価したとき、（酸
素のピーク強度）／（Ａｓのピーク強度）の値が２以上
であることを特徴とする電子写真用感光体。 ４）導電性基体上にＡｓ−Ｓｅ系合金からなる感光層を
備え、かつ、感光体表面層がＡｓが２０原子％以上４０
原子％以下の範囲内の組成からなる電子写真用感光体の
製造方法において、感光体表面層を大気中で所定の高温
で所定時間加熱する工程を含むことを特徴とする電子写
真用感光体の製造方法。 ５）温度５０℃、加熱時間１０時間以上であることを特
徴とする請求項４記載の電子写真用感光体の製造方法。 ６）温度５０℃、加熱時間２４時間以上であることを特
徴とする請求項４記載の電子写真用感光体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25096490A JPH04128848A (ja) | 1990-09-20 | 1990-09-20 | 電子写真用感光体並びにその評価方法および製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25096490A JPH04128848A (ja) | 1990-09-20 | 1990-09-20 | 電子写真用感光体並びにその評価方法および製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04128848A true JPH04128848A (ja) | 1992-04-30 |
Family
ID=17215641
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25096490A Pending JPH04128848A (ja) | 1990-09-20 | 1990-09-20 | 電子写真用感光体並びにその評価方法および製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04128848A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0826983A1 (en) * | 1996-09-03 | 1998-03-04 | Noranda Inc. | Multilayer plate for x-ray imaging and method of producing same |
-
1990
- 1990-09-20 JP JP25096490A patent/JPH04128848A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0826983A1 (en) * | 1996-09-03 | 1998-03-04 | Noranda Inc. | Multilayer plate for x-ray imaging and method of producing same |
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