JPH04132083A - 半導体論理回路装置 - Google Patents

半導体論理回路装置

Info

Publication number
JPH04132083A
JPH04132083A JP2253137A JP25313790A JPH04132083A JP H04132083 A JPH04132083 A JP H04132083A JP 2253137 A JP2253137 A JP 2253137A JP 25313790 A JP25313790 A JP 25313790A JP H04132083 A JPH04132083 A JP H04132083A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
switch means
inverter
power supply
output
circuit device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2253137A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2796644B2 (ja
Inventor
Kumiko Fujimori
久美子 藤森
Hiroshi Shinohara
尋史 篠原
Norimasa Matsumoto
松本 憲昌
Shuichi Kato
周一 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2253137A priority Critical patent/JP2796644B2/ja
Priority to US07/760,997 priority patent/US5280201A/en
Priority to DE4131075A priority patent/DE4131075A1/de
Publication of JPH04132083A publication Critical patent/JPH04132083A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2796644B2 publication Critical patent/JP2796644B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/356104Bistable circuits using complementary field-effect transistors
    • H03K3/356165Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the feedback circuit
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/356104Bistable circuits using complementary field-effect transistors
    • H03K3/356113Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit
    • H03K3/356147Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit using pass gates

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、半導体論理回路装置に関し、特に、過去の
入力データを保持することができ、かつスイッチ手段に
よって保持データの変更が可能な半導体論理回路装置に
関する。
[従来の技術] 第5A図は、過去の入力データを保持することができ、
かつスイッチ手段によって保持データの変肩が可能な、
従来の半導体論理回路装置(以下、単に論理回路装置と
称する)を示す回路図であり、特に、レシオラッチ回路
を構成している例を示している。第5A図において、論
理回路装置は、インバータ回路1aおよび1bを備え、
特にインバータ回路1bは、P型の電界効果トランジス
タ(以下、FET)lcと、N型のFET1dとから構
成される。インバータ1aの入力端子とインバータ1b
の出力端子とはノード2aに接続され、インバータ1b
の入力端子とインバータ1aの出力端子とはノード2b
に接続されている。N型のFET3の一端はノード2a
に接続されており、かつその他端はデータ入力端子5に
接続されている。このFET3のゲートには、制御端子
6を介して制御信号が与えられる。また、ノード2bは
データ出力端子7に接続されている。
次に、第5A図に示した従来の論理回路装置の動作につ
いて説明する。まず、第5A図において、論理回路装置
が、たとえば[0]保持状態から[1コ保持状態に変化
するときの動作について説明する。この場合、FET3
のゲートに制御信号[1]か与えられると、このFET
3は導通状態となり、データ入力端子5とノード2aと
が電気的に接続される。ここで、制御信号として[1]
が与えられる前におけるノード2aの値が[0]であり
、入力端子5から入力された入力データの値が[1コで
あるから、インバータ1aが反転するまでは、ノード2
bの値は[1]であり、FET1dはオン状態にある。
したがって、FET3とFET1dとのレシオに応じて
、ノード2aの電位は上昇し続ける。しかしこのノード
2aの電位は、FET3がN型であり、FET1dがオ
ン状態にあるので、電源電位からFET3のしきい値v
th分だけ低い電位よりもさらに低い電位までしか上昇
しない。そしてノード2aの電位が、インバータ1aの
論理しきい値を超えるまで上昇すると、インバータ1a
は反転し、FET1dはオフ状態となり、FET1cは
オン状態となる。
この結果、ノード2aの電位は電源電位にまで上昇する
。その後、制御信号が[1]から[0]に変化して、F
ET3が非導通状態になると、ノード2aおよび2bは
、FET3のゲートに与えられる制御信号の変化直前の
状態におけるそれぞれの値を保持し、データ出力端子7
は、FET3が次に導通状態になるまでの間、ノード2
bの値を出力し続ける。
次に、第5B図は、従来の論理回路装置の他の例を示す
回路図であり、特にレシオレスラッチ回路を構成してい
る例を示している。第5B図において、インバータ1a
の入力端子と、N型FET3aの一端と、P型FET3
bの一端とがノード2aに接続され、インバータ1bの
入力端子と、インバータ1aの出力端子とはノード2b
に接続され、さらにP型FET3bの他端と、インバー
タ1bの出力端子とが互いに接続されている。N型FE
T3aの他端は、データ入力端子5に接続されている。
このFET3aおよび3bのゲートには、制御端子6を
介して制御信号が印加されている。また、ノード2bは
、データ出力端子7に接続されている。
次に、第5B図に示した従来の論理回路装置の動作につ
いて説明する。第5B図において、論理回路装置が、た
とえば[0]保持状態から[1コ保持状態に変化すると
きの動作について説明する。
この場合、FET3aおよび3bに制御信号[1]が与
えられると、FET3aは導通状態、3bは非導通状態
となり、データ入力端子5とノード2aとが電気的に接
続される一方で、ノード2aとインバータ1bの出力と
は電気的に非接続となる。
ここで、制御信号として[1コが与えられる前における
ノード2aの値が[0コであり、データ入力端子5から
入力された入力データの値が[1コであるから、ノード
2aの電位は上昇し続ける。
しかしこのノード2aの電位は、FET3aがN型なの
で、電源電位からFET3aのしきい値Vth分だけ低
い電位にまでしか上昇しない。そして、ノード2aの電
位がインバータ1aの論理しきい値を超えるまで上昇し
、インバータ1aが反転したとしても、前述のようにF
ET3bが非導通状態にあるので、ノード2aの電位は
やはり電源電位よりFET3aのしきい値vth分だけ
低い電位以上には上昇しない。その後、制御信号が[1
コから[0コに変化して、FET3aが非導通状態、3
bが導通状態になると、ノード2aおよび2bは、制御
信号の変化直前の状態におけるそれぞれの値を保持し、
データ出力端子7は、FET3が次に導通状態になるま
での間、ノード2bの値を出力し続ける。
次に、第5C図は、従来の論理回路装置のさらに他の例
を示す回路図であり、特にレシオラッチ回路を構成して
いる例を示している。第5C図に示した回路が第5A図
に示した回路と異なる部分は、N型FET3aの一端お
よび他端とP型FETabの一端および他端とが互いに
接続され、これらFET3aおよび3bのゲートには、
制御端子6aおよび6bから、相補的信号がそれぞれ与
えられるという点である。
次に、第5C図に示した従来の論理回路装置の動作につ
いて説明する。第5C図において、論理回路装置が、た
とえば[0]保持状態から[1コ保持状態に変化すると
きの動作について説明する。
この場合、FET3a、3bに制御信号入力端子6a、
6bから、それぞれ、制御信号[1]。
[0コが与えられると、FET3a、3bがともに導通
状態となり、データ入力端子5とノード2aとが電気的
に接続される。この動作については、第5A図の論理回
路装置と同様である。そして、インバータ1aが反転す
るまで、FET1dはオン状態であるけれども、FET
3bがP型なので、ノード2aの電位は、電源電位より
やや低い電位にまで上昇する。そして、ノード2aの電
位が、インバータ1aの論理しきい値を超えるまで上昇
すると、インバータ1aが反転し、FET1dがオフし
かっFET1cがオンすることによって、ノード2aの
電位が電源電位まで上昇する点は、第5A図の論理回路
装置の場合と同じである。その後、制御信号が[1コか
ら[0]に変化した際の動作も第5A図の回路と同様で
ある。
次に、第5D図は、従来の論理回路装置のさらに他の例
を示す回路図であり、特に、レシオレスラッチ回路を構
成している例を示している。第5D図に示した論理回路
装置が第5B図に示した論理回路装置と異なる部分は、
N型FET3aの一端および他端とP型FET3cの一
端および他端とが互いに接続されると同時に、P型FE
Tabの一端および他端とN型FET3dの一端および
他端とが互いに接続される点であり、さらにFET3a
および3bのゲートに制御端子6aより制御信号が共通
に与えられ、かつFET3cおよび3dのゲートに制御
端子6bより制御信号が共通に与えられ、これら制御端
子6aおよび6bより与えられる信号が互いに相補的関
係にあるという点である。
次に、第5D図に示した従来の論理回路装置の動作につ
いて説明する。第5D図において、論理回路装置が、た
とえば[0]保持状態から[1コ保持状態に変化すると
きの動作について説明する。
この場合、FET3aおよび3bに制御信号入力端子6
aから制御信号[1コが与えられ、かっFET3cおよ
び3dに制御信号入力端子6bから制御信号[0コが与
えられると、FET3aおよび3cは導通状態、3bお
よび3dは非導通状態となり、データ入力端子5とノー
ド2aとが電気的に接続される一方で、ノード2aとイ
ンバータ1bの出力とは電気的に非接続となる。この動
作については、第5B図の論理回路装置の場合と同じで
ある。ノード2aの電位は、FET3bおよび3dが非
導通状態であり、かっFET3bがP型なので、電源電
位にまで上昇する。その後、制御信号が反転した際の動
作も第5B図と同様である。
[発明が解決しようとする課題] 従来の半導体論理・回路装置は以上のように構成されて
いるので、次のような問題点があった。
まず、第5A図の場合、たとえば、[0コ保持状態から
[1コ保持状態に変化するときの動作が、電源電圧が低
いと正常に行なえなくなるという問題点がある。すなわ
ち、FET3が制御信号[1コを受けて導通状態になる
と、インバータ1aが反転するまでは、FET1dはオ
ンしているので、前述のようにFET3とFET1dと
のレシオに応じて、ノード2aの電位は上昇し続ける。
ここで、ノード2aの電位は、FET3がN型でありか
つFET1dがオンしていることから、前述のように電
源電位よりもFET3のしきい値電圧vth分だけ低い
電位よりもさらに低い電位にまでしか上昇しない。この
ようなノード2aにおける電位の電源電圧依存性が、イ
ンバータ1aの論理しきい値の電源電圧依存性よりも大
きいので、電源電圧が低いと、ノード2aの電位がイン
バータ1aの論理しきい値を超えられず、インバータ1
aは反転動作できなくなってしまう。
次に、第5B図の場合、たとえば〔0コ保持状態から[
1コ保持状態に変化する動作中に、または口0]保持状
態が長くなったときに、インバータ1aに貫通電流が流
れてしまうという問題点がある。すなわち、FET3a
およびFET3bに制御信号として[1コが与えられて
、FET3aが導通状態、3bが非導通状態となると、
データ入力端子5から入力された入力データの値は[1
コであるから、ノード2aの電位は上昇し続ける。
そして、FET3aがN型であり、かっFET3bがオ
フしているので、ノード2aの電位は、電源電位よりも
FET3aのしきい値電圧vth分だけ低い電位にまで
しか上昇しない。したがって、ノード2aの値が[0]
から[1コに変化する動作中にインバータ1aに直流貫
通電流が流れてしまうことになる。また、[0]保持状
態が長くなると、ノード2aにおける電位およびインバ
ータ1bの出力がともに接地電位であり、かつFET3
bがP型なので、FET3bが非導通状態になってノー
ド2aの電位が接地電位から浮上りやすくなる。この結
果、ノード2aの電位がFET3bのしきい値電圧の絶
対値すなわち1vthI電位にまで上昇して、FET3
bが導通するまでインバータ1aに貫通電流が流れてし
まう可能性がある。
次に、第5C図において、たとえば[0コ保持状態から
[1コ保持状態に変化するときの動作について考えると
、インバータ1aが反転するまでは、FET1dはオン
状態であるが、FET3bがP型なので、ノード2aの
電位は電源電位よりやや低い電位にまで上昇する。この
ため、第5A図の例に比べて、インバータ1aの反転し
やすさが増している。しかし、第1のスイッチ手段とし
てのFET3aおよび3bがCMO3回路で構成される
ことになることから、制御信号が2種類必要であり、さ
らにこの第1のスイッチ手段がスイッチ手段の群として
構成されるときには、その数が多いほどスイッチ素子数
の増加度は大きくなってしまうという問題点がある。
さらに、第5D図に示した論理回路装置は、上述の第5
A図、第5B図および第5C図のそれぞれに示した論理
回路装置に比べて、動作上の安定性は高い。しかしなが
ら、第5D図の論理回路装置においては、第1および第
2のスイッチ手段としてのFET3aおよび3c、3b
および3dがそれぞれ0M08回路として構成されるこ
とになることから、制御信号が2種類必要となる。加え
て、第1のスイッチ手段がスイッチ手段の群で構成され
たときには、その数が多いほどスイッチ素子数の増加度
は大きくなってしまうという問題点は依然残っている。
それゆえに、この発明の目的は、動作の安定性および動
作速度を向上させた半導体論理回路装置を提供すること
である。
この発明の他の目的は、素子数、制御信号数の減少を図
りながら、消費電流の低減をも図った半導体論理回路装
置を提供することである。
[課題を解決するための手段] この発明に係る半導体論理回路装置は、第1の電源電位
を供給する手段と、第2の電源電位を供給する手段と、
所定の導電型の電界効果トランジスタで構成されかつ保
持データを変更するための第1のスイッチ手段と、第1
のスイッチ手段に制御信号を供給する手段と、第1のス
イッチ手段の一端に接続された入力を有するインバータ
と、第1および第2の電源電位供給手段間に設けられ、
インバータの出力および入力にそれぞれ接続された入力
および出力を有するフィードバック手段と、第1のスイ
ッチ手段の他端にデータ入力を供給する手段と、インバ
ータの出力からデータ出力を取り出す手段と、電界効果
トランジスタの導電型に応じて、フィードバック手段の
出力と第1または第2の電源電位供給手段との間に接続
され、フィードバック手段の不能化または能動化を切り
換えるための第1のスイッチ手段とを備える。これら第
1および第2のスイッチ手段は、互いに逆の位相で開閉
される。
この発明の他の局面に従うと、半導体論理回路装置は、
第1の電源電位を供給する手段と、第2の電源電位を供
給する手段と、一端が共通接続された所定の同一導電型
の複数の電界効果トランジスタ群からなり保持データを
変更するための第1のスイッチ手段群と、第1のスイッ
チ手段群に制御信号を供給する手段と、第1のスイッチ
手段群に共通接続された一端に入力が接続されたインバ
ータと、第1および第2の電源電位供給手段間に設けら
れ、インバータの出力および入力にそれぞれ接続された
入力および出力を有するフィードバック手段と、第1の
スイッチ手段群の各々の他端にデータ入力を供給する手
段と、インバータの出力からデータ出力を取り出す手段
と、電界効果トランジスタの導電型に応じて、フィード
バック手段の出力と東1または第2の電源電位供給手段
との間に接続され、フィードバック手段の不能化または
能動化を切り換えるための第2のスイッチ手段とを備え
る。そして第2のスイッチ手段がオン状態のときに第1
のスイッチ手段群はすべてオフ状態であり、かつ第2の
スイッチ手段がオフ状態ときに、第1のスイッチ手段群
のうちの1つだけがオン状態でありかつ残りがすべてオ
フ状態であるように、第1のスイッチ手段群および第2
のスイッチ手段は開閉される。
[作用コ 第2のスイッチ手段を設けることにより、半導体論理回
路装置が[0コ保持状態から[1]保持状態に変化する
ときには、インバータが反転するまでフィードバック手
段によるデータのフィードバックが阻止され、これによ
りインバータの反転を容易にしている。そして、インバ
ータの反転が完了すれば、第2のスイッチ手段の切換に
よってフィードバック手段が効果的となり、インバータ
の入力電位を電源電位まで上昇させることを可能にして
いる。
〔発明の実施例コ 第1図は、この発明の一実施例による半導体論理回路装
置を示す回路図である。第1図において、インバータ回
路1aの入力端子と、N型FET3aの一端と、P型F
ET3bの一端と、P型FET1cの一端とが、ノード
2aに接続され、インバーク1aの出力端子はノード2
bに接続されている。FET1cの他端は電源電位に接
続され、FET3bの他端とFET1dの一端とが接続
され、さらにFET1dの他端は接地電位に接続されて
いる。また、N型FET3aの他端は、データ入力端子
5に接続されている。FET3aおよび3bのゲートに
は、制御信号入力端子6より制御信号が共通に与えられ
、FET1cおよび1dのゲートには、ノード2bから
制御信号が共通に与えられる。このノード2bはデータ
出力端子7に接続されている。
FET1c、ldおよび3bは、ノード2bにおける電
位をデータ入力とし、制御信号入力端子6からの信号を
制御入力とし、かつノード2aにおける電位を出力とす
るフィードバック回路を形成している。ここで、FET
3bは、ノード2aと接地電位との間に、FET1dと
直列に挿入されたスイッチ素子(第2のスイッチ手段)
である。
次に、第1図に示した実施例の動作について説明する。
第1図において、たとえば、論理回路装置が口0]保持
状態からcl]保持状態に変化するときの動作について
考える。FET3aおよび3bに制御信号入力端子6か
ら制御信号[1]が与えられると、FET3aは導通状
態、3bは非導通状態となり、データ入力端子5とノー
ド2aとが電気的に接続される一方で、ノード2aとF
ET1dの出力とは電気的に非接続となる。
制御信号として[1]が与えられる前にノード2aに保
持されている値は[0コであり、データ入力端子5から
入力された入力データの値は[1コであるから、ノード
2aの電位は上昇し続ける。
そして、インバータ1aが反転するまでは、ノード2a
の電位は、FET3aがN型なので、電源電位よりもF
ET3cのしきい値電圧vth分だけ低い電位まで上昇
することができる。このような電位の上昇が可能なのは
、FET1dがオン状態にあってもFET3bがオフし
ているので、FET1c、ldおよび3bからなるフィ
ードバック回路による電位上昇の妨げが存在しないため
である。また、このようなフィードバック回路による電
位上昇の妨げがない結果、ノード2aにおける電位の上
昇速度が速くなる。
そして、ノード2aの電位がインバータ1aの論理しき
い値を超えるまで上昇すると、インバータ1aが反転し
、FET1cがオンするので、ノード2aの電位はさら
に電源電位まで上昇し、インバータ1aに直流貫通電流
が流れることはなくなる。
その後、制御信号が[1]から[0コに変化して、FE
T3aが非導通状態、3bが導通状態になると、ノード
2aおよび2bは、制御信号の変化直前におけるそれぞ
れの値を保持し、データ出力端子7は、FET3aが次
に導通状態になるまでの期間中、ノード2bに保持され
ている値を出力し続ける。
次に、論理回路装置が[1]保持状態から[0]保持状
態に変化する場合の動作について説明する。
このとき、初期状態ではノード2bの値は[0]なので
、フィードバック回路のFET1cがオンしている。こ
のため、データ入力端子5にo■が印加されると、ノー
ド2aの電位は、FET3aのオン抵抗とFET1cの
オン抵抗との比で決まる電位まで下がる。ここで、FE
T3aはN型なので、FET1cのオン抵抗を小さくす
れば、この電位は0■に近い値にまで下げることができ
、確実にインバータ1aを反転させることができる。
したがって、第1図のフィードバック回路において、ノ
ード2aと電源電位との間に、FET1cと直列にスイ
ッチ素子を設ける必要はない。
なお、上述の実施例では、FET3aおよび3bは、ト
ランジスタの導電型が、それぞれN型。
P型であったが、第2A図のように、FET3aの導電
型をP型にし、FET3bの導電型をN型にして、FE
T3bを、電源電位とノード2aとの間に、FETI 
cと直列に挿入し、がっ第1図の実施例の場合の制御信
号を反転した制御信号を与えるようにすれば同じ効果が
得られる。
また、第1図に示した実施例では、FET3aおよび3
bは、トランジスタの導電型が、それぞれN型、P型で
あったが、第2B図のように、FET3bの導電型をN
型にし、FET3aに与えられる制御信号と相補的関係
にある制御信号をこのFET3bに与えるようにすれば
、同じ効果が得られる。
さらに、第2A図に示した実施例では、FET3aおよ
び3bは、トランジスタの導電型が、それぞれ、P型、
N型であったが、第2C図に示すように、FET3bの
導電型もP型にし、FET3aに与えられる制御信号と
相補的関係にある制御信号をこのFET3bに与えるよ
うにすれば同じ効果が得られる。
次に、第3図は、この発明による半導体論理回路装置を
、シングルビット線のセンスラッチ回路に適用した実施
例を示す回路図である。第3図において、たとえば複数
のメモリセル8はそれぞれ、ワード線9と、シングルビ
ット線10aないし10dとを備えている。そして、デ
ータ入力端子5aないし5dは、それぞれ、シングルビ
ット線10aないし10dに接続されている。FET3
aないし3dの一端は共通接続されたノード2aを形成
し、他端はそれぞれデータ入力端子5aないし5dに接
続されている。FET3aないし3dにはデコーダ11
の出力が制御信号として与えられる。このデコーダ11
は、アドレス入力信号12aおよび12bに対応した制
御信号群を出力するが、その際、制御信号入力端子6か
らFET3eに与えられる制御信号がデコーダ11の制
御信号ともなっており、FET3eが非導通状態になる
ような制御信号であれば、デコーダ11はFET3aな
いし3dのうちの1つだけが導通しかつ他のFETはす
べて非導通状態になるような制御信号を出力する。これ
により、複数のメモリセル8のいずれか1つのデータが
データ入力としてノード2aに与えられることになる。
逆に、FET3eが導通状態になるような制御信号であ
れば、デコーダ11は、FET3aないし3dのすべて
が非導通状態になるような制御信号を出力する。
この結果、ノード2aおよび2bは、それぞれにおける
データを保持することになる。
なお、第4図は、このようなメモリセル8の一例として
のFIFO回路を示す回路図であるが、メモリセル8と
しては、そのほかに、ROMのメモリセル回路、マルチ
ボートメモリのメモリセル回路等も用いることができる
[発明の効果コ 以上のように、この発明によれば、第1の電源電位を供
給する手段と、第2の電源電位を供給する手段と、所定
の導電型の電界効果トランジスタで構成され保持データ
を変更する第1のスイッチ手段と、第1のスイッチ手段
に制御信号を供給する手段と、第1のスイッチ手段の一
端に入力が接続されたインバータと、第1および第2の
電源電位供給手段間に設けられ、インバータの出力およ
び入力にそれぞれ接続された入力および出力を有するフ
ィードバック手段と、第1のスイッチ手段の他端にデー
タ入力を供給する手段と、インバータの出力からデータ
出力を取り出す手段とを備えた半導体論理回路装置にお
いて、第1のスイッチ手段の電界効果トランジスタの導
電型に応じて、フィードバック手段の出力と第1または
第2の電源電位供給手段との間に接続され、フィードバ
ック手段の不能化または能動化を切り換えるための第2
のスイッチ手段を設け、第1および第2のスイッチ手段
を互いに逆の位相で開閉するように構成したので、動作
の安定性および動作速度の向上が図られた半導体論理回
路装置を得ることができ、さらには素子数、制御信号数
の減少を図りながら半導体論理回路装置の消費電流量の
低減をも図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例による半導体論理回路装
置を示す回路図である。 第2A図は、この発明の他の実施例による半導体論理回
路装置を示す回路図である。 第2B図は、この発明のさらに他の実施例による半導体
論理回路装置を示す回路図である。 第2C図は、この発明のさらに他の実施例による半導体
論理回路装置を示す回路図である。 第3図は、この発明による半導体論理回路装置をシング
ルビット線のセンスラッチ回路に適用した実施例を示す
回路図である。 第4図は、第3図のメモリセル回路の一例を示す回路図
である。 第5A図は、従来の半導体論理回路装置の一例を示す回
路図である。 第5B図は、従来の半導体論理回路装置の他の例を示す
回路図である。 第5C図は、従来の半導体論理回路装置のさらに他の例
を示す回路図である。 第5D図は、従来の半導体論理回路装置のさらに他の例
を示す回路図である。 図において、1a、1bはインバータ回路、2a、2b
はノード、lc、ld、3,3a、3b。 3c、3d、3eはFET、5,5a、5b、5c、5
dはデータ入力端子、6a、6bは制御信号入力端子、
7はデータ出力端子、8はメモリセル回路、9はワード
線、10a、10b、10c。 10dはシングルビット線、11はデコーダ、12a、
12bはアドレス入力信号を示す。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 第払図 2a 、2b:ノード 5:テ一りλ力顛1ト ロ:纏りqspa号人1’)11n+ 7:うζダ出m1lrjr (ばか2名) 第2B図 第田図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)保持データの変更が可能な半導体論理回路装置で
    あって、 第1の電源電位を供給する手段と、 第2の電源電位を供給する手段と、 所定の導電型の電界効果トランジスタで構成され、前記
    保持データを変更するための第1のスイッチ手段と、 前記第1のスイッチ手段に制御信号を供給する手段と、 前記第1のスイッチ手段の一端に入力が接続されたイン
    バータと、 前記第1および第2の電源電位供給手段間に設けられ、
    前記インバータの出力および入力にそれぞれ接続された
    入力および出力を有するフィードバック手段と、 前記第1のスイッチ手段の他端にデータ入力を供給する
    手段と、前記インバータの出力からデータ出力を取り出
    す手段と、 前記電界効果トランジスタの導電型に応じて、前記フィ
    ードバック手段の出力と前記第1または第2の電源電位
    供給手段との間に接続され、前記フィードバック手段の
    不能化または能動化を切り換えるための第2のスイッチ
    手段とを備え、前記第1および第2のスイッチ手段は、
    互いに逆の位相で開閉される、半導体論理回路装置。
  2. (2)保持データの変更が可能な半導体論理回路装置で
    あって、 第1の電源電位を供給する手段と、 第2の電源電位を供給する手段と、 一端が共通接続された所定の同一導電型の複数の電界効
    果トランジスタ群からなる、前記保持データを変更する
    ための第1のスイッチ手段群と、前記第1のスイッチ手
    段群に制御信号を供給する手段と、 前記第1のスイッチ手段群の共通接続された一端に入力
    が接続されたインバータと、 前記第1および第2の電源電位供給手段間に設けられ、
    前記インバータの出力および入力にそれぞれ接続された
    入力および出力を有するフィードバック手段と、 前記第1のスイッチ手段群の各々の他端にデータ入力を
    供給する手段と、 前記インバータの出力からデータ出力を取り出す手段と
    、 前記電界効果トランジスタの導電型に応じて、前記フィ
    ードバック手段の出力と前記第1または第2の電源電位
    供給手段との間に接続され、前記フィードバック手段の
    不能化または能動化を切り換えるための第2のスイッチ
    手段とを備え、前記第2のスイッチ手段がオン状態のと
    きに前記第1のスイッチ手段群はすべてオフ状態であり
    、かつ前記第2のスイッチ手段がオフ状態のときに前記
    第1のスイッチ手段群のうちの1つだけがオン状態であ
    りかつ残りがすべてオフ状態であるように前記第1のス
    イッチ手段群および第2のスイッチ手段は開閉される、
    半導体論理回路装置。
JP2253137A 1990-09-20 1990-09-20 半導体論理回路装置 Expired - Fee Related JP2796644B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2253137A JP2796644B2 (ja) 1990-09-20 1990-09-20 半導体論理回路装置
US07/760,997 US5280201A (en) 1990-09-20 1991-09-17 Semiconductor logic circuit apparatus
DE4131075A DE4131075A1 (de) 1990-09-20 1991-09-18 Halbleiter-logikschaltungsvorrichtung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2253137A JP2796644B2 (ja) 1990-09-20 1990-09-20 半導体論理回路装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04132083A true JPH04132083A (ja) 1992-05-06
JP2796644B2 JP2796644B2 (ja) 1998-09-10

Family

ID=17247026

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2253137A Expired - Fee Related JP2796644B2 (ja) 1990-09-20 1990-09-20 半導体論理回路装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5280201A (ja)
JP (1) JP2796644B2 (ja)
DE (1) DE4131075A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011192373A (ja) * 2010-03-11 2011-09-29 Soi Tec Silicon On Insulator Technologies メモリ用ナノセンス増幅器
JP2012089223A (ja) * 2010-09-23 2012-05-10 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05144273A (ja) * 1991-11-18 1993-06-11 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
US5319252A (en) * 1992-11-05 1994-06-07 Xilinx, Inc. Load programmable output buffer
US5463338A (en) * 1993-06-07 1995-10-31 Vlsi Technology, Inc. Dual latch clocked LSSD and method
US5491444A (en) * 1993-12-28 1996-02-13 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Fuse circuit with feedback disconnect
US5892220A (en) * 1997-08-05 1999-04-06 Lucent Technologies Inc. Linearized feedback element for two-beam smart pixel receivers
US6269020B1 (en) 1998-02-26 2001-07-31 Altera Corporation FIFO configuration cell
DE69933600T2 (de) * 1998-02-26 2007-08-23 Altera Corp., San Jose Kompakte, niederspannungs- und störungsunempfindliche Speicherzelle
US6127849A (en) * 1998-08-11 2000-10-03 Texas Instruments Incorporated Simultaneous bi-directional input/output (I/O) circuit
US6882200B2 (en) * 2001-07-23 2005-04-19 Intel Corporation Controlling signal states and leakage current during a sleep mode
JP2003188361A (ja) * 2001-12-20 2003-07-04 Mitsubishi Electric Corp ゲートアレイ構造の半導体集積回路
JP4492928B2 (ja) * 2003-12-08 2010-06-30 ルネサスエレクトロニクス株式会社 データ伝送装置
US9536593B1 (en) * 2016-05-23 2017-01-03 Qualcomm Incorporated Low power receiver with wide input voltage range

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52155927A (en) * 1976-06-21 1977-12-24 Toshiba Corp Mos random access memory
JPS63193715A (ja) * 1987-02-06 1988-08-11 Mitsubishi Electric Corp ラツチ回路

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4554467A (en) * 1983-06-22 1985-11-19 Motorola, Inc. CMOS Flip-flop
JPS6030215A (ja) * 1983-07-28 1985-02-15 Toshiba Corp Cmos論理回路
US4733111A (en) * 1985-07-17 1988-03-22 CSELT--Centro Studi e Laboratori Telecomunicazioni S.p.A. Sequential-logic basic element in CMOS technology operating by a single clock signal
JPH0279297A (ja) * 1988-09-14 1990-03-19 Sharp Corp シフトレジスタ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52155927A (en) * 1976-06-21 1977-12-24 Toshiba Corp Mos random access memory
JPS63193715A (ja) * 1987-02-06 1988-08-11 Mitsubishi Electric Corp ラツチ回路

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011192373A (ja) * 2010-03-11 2011-09-29 Soi Tec Silicon On Insulator Technologies メモリ用ナノセンス増幅器
JP2012089223A (ja) * 2010-09-23 2012-05-10 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE4131075C2 (ja) 1993-07-08
DE4131075A1 (de) 1992-03-26
JP2796644B2 (ja) 1998-09-10
US5280201A (en) 1994-01-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04132083A (ja) 半導体論理回路装置
GB1463382A (en) Semiconductor data stores including binery signal regenerating circuits
JPS62203416A (ja) 特にマイクロプロセツサの周辺装置用の、mos技術の論理回路のためのパワ−オンリセツテイング回路
US7606096B2 (en) Semiconductor integrated circuit device
US4644185A (en) Self clocking CMOS latch
JP3742335B2 (ja) 入出力バッファ回路
JPS6077520A (ja) ドライバ回路の制御回路
US5055705A (en) Selecting one of a plurality of voltages without overlap
US4712022A (en) Multiple input OR-AND circuit for FET logic
EP0225924B1 (en) Electronic memory element with a lambda transistor
JPH05102312A (ja) 半導体集積回路
JPH04306725A (ja) 半導体装置
JP2936474B2 (ja) 半導体集積回路装置
JPH04328397A (ja) 定電位発生用半導体装置
JP3620975B2 (ja) 半導体装置
JPH04278291A (ja) メモリセル回路
JPH0349216B2 (ja)
JPH03192595A (ja) メモリセルとメモリ集積回路
KR100330084B1 (ko) 반도체집적회로장치
JPS63169118A (ja) 雑音除去回路
KR100459946B1 (ko) 플래그셀데이터의안정화출력장치
KR100280403B1 (ko) 센스증폭기
WO2004044919A1 (en) Storage circuit having single-ended write circuitry
JP2944618B1 (ja) 電流制御回路
KR0168831B1 (ko) 메모리 장치

Legal Events

Date Code Title Description
S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080703

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees