JPH04133626U - Automatic feeding device for chip-shaped workpieces - Google Patents
Automatic feeding device for chip-shaped workpiecesInfo
- Publication number
- JPH04133626U JPH04133626U JP4830591U JP4830591U JPH04133626U JP H04133626 U JPH04133626 U JP H04133626U JP 4830591 U JP4830591 U JP 4830591U JP 4830591 U JP4830591 U JP 4830591U JP H04133626 U JPH04133626 U JP H04133626U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip
- supply
- supplied
- discharge gate
- chip resistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000007664 blowing Methods 0.000 claims description 7
- 239000000835 fiber Substances 0.000 abstract description 17
- 238000005336 cracking Methods 0.000 abstract 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 5
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 241000282994 Cervidae Species 0.000 description 1
- 241000257465 Echinoidea Species 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 150000001721 carbon Chemical class 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000013589 supplement Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Discharge Of Articles From Conveyors (AREA)
- Branching, Merging, And Special Transfer Between Conveyors (AREA)
- Specific Conveyance Elements (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 チップ状ワークであるチップ状抵抗器を検査
等のために供給する際、供給トラブルの原因となるチッ
プ状抵抗器を自動的に排出して作業能率を向上させ、構
成を簡素化してコストアップを防止した自動供給装置を
提供する。
【構成】 チップ状抵抗器Rを連続的に移送し、間歇回
転する円盤1の収納溝3に順次供給する供給路5を設け
る。収納溝3と供給路5において、欠け、形状不良、割
れ等により供給トラブルの原因となるチップ状抵抗器R
を検出するファイバセンサ11、13を設ける。供給路
5における円盤1側寄り位置の側壁の一部を構成し、フ
ァイバセンサ11、13による検出結果をもとに開閉す
る排出ゲート9を設ける。開いた排出ゲート9位置から
供給トラブルの原因となるチップ状抵抗器Rをエアの噴
出により排出するエア噴出管14、15を設ける。
(57) [Summary] [Purpose] When supplying chip-shaped resistors, which are chip-shaped workpieces, for inspection, etc., the work efficiency is improved by automatically discharging the chip-shaped resistors that cause supply troubles. To provide an automatic feeding device whose configuration is simplified and cost increases are prevented. [Structure] A supply path 5 is provided to continuously transfer the chip resistor R and sequentially supply it to the storage groove 3 of the disc 1 which rotates intermittently. In the storage groove 3 and the supply path 5, the chip resistor R may cause supply troubles due to chipping, poor shape, cracking, etc.
Fiber sensors 11 and 13 are provided to detect. A discharge gate 9 is provided, which forms part of the side wall of the supply path 5 at a position closer to the disk 1 and opens and closes based on the detection results from the fiber sensors 11 and 13. Air ejection pipes 14 and 15 are provided to eject the chip resistor R, which causes supply trouble, from the open ejection gate 9 position by ejecting air.
Description
【0001】0001
本考案は、チップ状電子部品(例えば、チップ状抵抗器、チップ状コンデンサ )等のチップ状ワークを円盤の収納溝等の被供給部へ供給するためのチップ状ワ ークの自動供給装置に関する。 The present invention is suitable for chip-shaped electronic components (e.g., chip-shaped resistors, chip-shaped capacitors, etc.) ) to supply chip-shaped workpieces such as Regarding the automatic feeder of the ark.
【0002】0002
従来、この種のチップ状ワークの供給装置としては、例えば、特開昭64−3 8320号公報、実開平1−109016号公報に記載されているような構成が 知られている。 Conventionally, as a supply device for this type of chip-like work, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 64-3 The configurations described in 8320 Publication and Utility Model Application Publication No. 1-109016 are Are known.
【0003】 この従来のチップ状ワークの供給装置の概略について説明すると、チップ状ワ ークが直線状の供給路に連続的に供給されると、第1および第2のストッパの働 きにより先頭のチップ状ワークを円盤の収納溝に対向させて解放する。この解放 したチップ状ワークをエアの噴出、若しくは真空装置による吸引により収納溝に 供給する。このようにして、チップ状ワークを円盤の収納溝に順次供給すること ができる。そして、例えば、前工程で割れたチップ状ワークが供給路内に供給さ れると、この分割片とその次のチップ状ワークの前側部が共に円盤の収納溝に挿 入され、チップ状ワークの後側部は供給路内に残される。すなわち、分割片の次 のチップ状ワークは円盤の収納溝と供給路に跨った状態となる。この状態で円盤 を回転させると、収納溝と供給路に跨っているチップ状ワークが破壊されること は勿論のこと、円盤や供給路等を損傷するおそれがある。このような供給トラブ ルはチップ状ワークの割れの場合に限らず、寸法、形状の不良の場合にも生ずる 。そこで、このような供給トラブルを回避するため、センサによりチップ状ワー クの供給状態を検出し、円盤の回転を停止している。0003 To give an overview of this conventional chip-shaped work supply device, When the arc is continuously supplied to the linear supply path, the first and second stoppers act. Then, the leading chip-like workpiece is released facing the storage groove of the disc. this release The chip-like workpiece is placed in the storage groove by blowing air or suction by a vacuum device. supply In this way, the chip-shaped workpieces are sequentially supplied to the storage groove of the disk. I can do it. For example, if a chip-like workpiece broken in the previous process is fed into the supply channel, When the split piece and the front side of the next chip-like workpiece are both inserted into the storage groove of the disk. The rear side of the chip-shaped workpiece is left in the supply channel. That is, the next segment The chip-shaped workpiece is in a state spanning the storage groove of the disk and the supply path. In this state the disc If the machine is rotated, the chip-like workpiece that spans the storage groove and supply path will be destroyed. Of course, there is a risk of damaging the disk, supply path, etc. Supply trouble like this This phenomenon occurs not only when chip-shaped workpieces crack, but also when there are defects in size or shape. . Therefore, in order to avoid such supply troubles, sensors are used to The supply status of the disc is detected and the rotation of the disc is stopped.
【0004】0004
上記従来のチップ状ワーク供給装置では、供給路と円盤の収納溝の接続部で発 生した供給トラブルをセンサにより検出するようにしているので、円盤の回転を 停止することにより円盤、供給路等の損傷を未然に防止することはできる。しか しながら、供給トラブルの原因となった不良のチップ状ワークは装置を停止させ 、供給路等を分解してピンセット等の手作業で排出しなければならず、その作業 は面倒であるばかりでなく、非能率的である。 In the above-mentioned conventional chip-like workpiece supply device, the air is generated at the connection between the supply path and the storage groove of the disk. Since the sensor detects any supply trouble that occurs, the rotation of the disk is By stopping, damage to the disk, supply path, etc. can be prevented. deer However, the defective chip-like workpiece that caused the supply trouble caused the equipment to stop. , the supply channel etc. must be disassembled and discharged manually using tweezers, etc., and that work is time-consuming. is not only troublesome, but also inefficient.
【0005】 本考案は、上記のような従来例の問題を解決するものであり、供給路と被供給 部との接続部で発生する供給トラブルの原因となっている割れや欠けの生じたチ ップ状ワーク、形状等が不良で不完全に供給されたチップ状ワーク等を自動的に 排出するようにして作業能率の向上を図ることができ、また、構成を簡素化して コストアップにならないようにしたチップ状ワークの自動供給装置を提供するこ とを目的とするものである。[0005] This invention solves the problems of the conventional example as mentioned above, and it If the chip has cracks or chips that are causing supply troubles that occur at the connection with the Automatically removes chip-like workpieces and chip-like workpieces that are incompletely supplied due to defective shapes, etc. You can improve work efficiency by discharging it, and you can also simplify the configuration. To provide an automatic supply device for chip-shaped workpieces that does not increase costs. The purpose is to
【0006】[0006]
上記目的を達成するための本考案の技術的解決手段は、チップ状ワークを被供 給部に対して直線状で連続的に供給するための供給路と、この供給路における上 記被供給部側寄り位置の側壁の一部を構成し、開閉可能に設けられた排出ゲート と、チップ状ワークの上記被供給部に対する供給状態の良、不良および上記被供 給部に供給されたチップ状ワークの欠けの有無を検出し得る検出手段と、上記供 給路内を移送されるチップ状ワークの割れの有無を検出し得る検出手段と、上記 検出手段による検出結果をもとに駆動され、上記排出ゲートを開放する駆動装置 と、上記排出ゲートの開放に伴い、開放された排出ゲート位置のチップ状ワーク 、若しくは排出ゲート位置および上記被供給部のチップ状ワークをエアの噴出に より排出する排出手段とを備えたものである。 The technical solution of the present invention to achieve the above purpose is to provide a chip-like workpiece. A supply path for supplying linearly and continuously to the feed section, and an upper A discharge gate that forms part of the side wall near the supplied section and is openable and closable. and whether the supply condition of the chip-shaped workpiece is good or bad to the above-mentioned part to be supplied, and the above-mentioned part to be supplied is a detection means capable of detecting the presence or absence of chipping in the chip-like workpiece supplied to the supplying section; a detection means capable of detecting the presence or absence of cracks in a chip-like workpiece being transported in a feed path; A drive device that is driven based on the detection result by the detection means and opens the discharge gate. With the opening of the above discharge gate, the chip-like workpiece at the position of the discharge gate opened , or place the chip-like workpiece at the discharge gate position and the above-mentioned supplied part into the air jet. It is equipped with a discharge means for discharging more water.
【0007】[0007]
したがって、本考案によれば、供給路を直線状で連続的に移送されたチップ状 ワークは、被供給部に順次供給される。そして、検出手段によりチップ状ワーク の被供給部に対する供給状態の不良、若しくは被供給部に供給されたチップ状ワ ークの欠け、若しくは供給路内を移送されるチップ状ワークの割れが検出される と、駆動装置により排出ゲートを開放して供給トラブルの原因となるチップ状ワ ークを排出手段によるエアの噴出により強制的に排出することができる。このよ うに、供給トラブルの原因となる割れや欠けの生じたチップ状ワーク、形状等が 不良で不完全に供給されたチップ状ワーク等を自動的に排出することができる。 また、供給路の側壁の一部を排出ゲートにより開放し、エアの噴出により供給ト ラブルの原因となるチップ状ワークを排出するようにしているので、構成を簡素 化することができる。 Therefore, according to the present invention, the supply path is provided with chips that are continuously transferred in a straight line. The workpieces are sequentially supplied to the supplied section. Then, the chip-shaped workpiece is detected by the detection means. The condition of the supply to the supplied part is poor, or the chipped wire supplied to the supplied part is Chips in the workpiece or cracks in the chip-like workpiece being transported in the supply path are detected. Then, the drive device opens the discharge gate and removes chipped wax, which can cause supply troubles. The arc can be forcibly discharged by blowing out air from the discharge means. This way Sea urchins, chip-like workpieces with cracks or chips, shapes, etc. that can cause supply problems. It is possible to automatically discharge defective and incompletely supplied chip-like workpieces. In addition, a part of the side wall of the supply channel is opened with a discharge gate, and the supply is discharged by a jet of air. The structure is simplified because chip-shaped workpieces that can cause problems are ejected. can be converted into
【0008】[0008]
以下、本考案の一実施例について図面を参照しながら説明する。 まず、本考案実施例で自動供給するチップ状ワークであるチップ状抵抗器につ いて説明する。図6(a)はチップ状抵抗器の平面図である。図6(a)に示す ように、チップ状抵抗器Rはセラミック等からなる基板の外面に抵抗体となる炭 素皮膜が形成され、この炭素皮膜に所望の溝が形成されて抵抗値が調整されてい る。炭素皮膜がガラス等からなるコート層R1により保護され、両端部に電極R 2がめっき等により形成され、コート層R1の表面側に抵抗値が印刷等により表 示されている。このチップ状抵抗器Rは製造に際し、形状不良となったり、製造 、移送等の工程で図6(b)に示すように割れたり、図6(c)に示すように一 部が欠けたりすることがあり、このようなチップ状抵抗器Rが良好なチップ状抵 抗器Rに混入していると供給トラブルを生じるため、供給に際し、自動的に排出 する必要がある。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. First, let's talk about the chip resistor, which is a chip work that is automatically supplied in the embodiment of the present invention. I will explain. FIG. 6(a) is a plan view of the chip resistor. Shown in Figure 6(a) As shown in the figure, the chip resistor R has carbon as a resistor on the outer surface of a substrate made of ceramic or the like. A bare film is formed, and desired grooves are formed in this carbon film to adjust the resistance value. Ru. The carbon film is protected by a coating layer R1 made of glass or the like, and electrodes R are provided at both ends. 2 is formed by plating etc., and the resistance value is displayed by printing etc. on the surface side of the coating layer R1. It is shown. During manufacturing, this chip resistor R may have a defective shape or During the transportation process, it may crack as shown in Figure 6(b), or it may crack as shown in Figure 6(c). The chip resistor R is not a good chip resistor. If it is mixed in the resistor R, it will cause supply trouble, so it will be automatically discharged when supplying. There is a need to.
【0009】 次に、本考案の自動供給装置について説明する。 図1ないし図5は本考案の一実施例におけるチップ状ワークの自動供給装置を 示し、図1は要部の一部切欠き平面図、図2は要部の一部切欠き側面図、図3は 図1のA−A矢視図、図4(a)、(b)はそれぞれ欠けたチップ状ワークの排 出動作説明用の一部切欠き平面図、図5(a)、(b)はそれぞれ割れたチップ 状ワークの排出動作説明用の一部切欠き平面図である。[0009] Next, the automatic feeding device of the present invention will be explained. Figures 1 to 5 show an automatic supply device for chip-shaped workpieces according to an embodiment of the present invention. Fig. 1 is a partially cutaway plan view of the main part, Fig. 2 is a partially cutaway side view of the main part, and Fig. 3 is a partially cutaway side view of the main part. The A-A arrow view in Fig. 1, and Figs. 4(a) and (b) show the removal of chipped chip-like workpieces, respectively. A partially cutaway plan view for explaining the ejecting operation, Figures 5(a) and (b) are each a broken chip. FIG. 3 is a partially cutaway plan view for explaining the ejection operation of a shaped workpiece.
【0010】 図1ないし図3に示すように、円盤1が垂直方向の回転軸(図示省略)を中心 として回転可能に支持されている。円盤1は外周上部に環状の突出部2が形成さ れ、この突出部2に等間隔で被供給部である多数の収納溝3が形成され、各収納 溝3の底部中央部に垂直方向の吸引穴4が形成されている。円盤1は駆動装置( 図示省略)により矢印X方向に間歇回転される。0010 As shown in Figures 1 to 3, the disk 1 is centered around a vertical rotation axis (not shown). It is rotatably supported. The disk 1 has an annular protrusion 2 formed on the upper outer periphery. A large number of storage grooves 3, which are supplied portions, are formed at equal intervals in this protruding portion 2, and each storage groove 3 is formed at equal intervals. A vertical suction hole 4 is formed in the center of the bottom of the groove 3. Disk 1 is a drive device ( (not shown) intermittently rotates in the direction of arrow X.
【0011】 円盤1の各収納溝3にチップ状抵抗器Rを順次供給するためにチップ状抵抗器 Rを直線状に移送する供給路5が設けられている。すなわち、一対の案内部材6 、7および上面板8により囲まれた供給路5が形成されている。この供給路5に は直進フィーダ(図示省略)によりチップ状抵抗器Rが連続的に供給される。供 給路5における円盤1側寄り位置の側壁の一部が排出ゲート9により構成され、 この排出ゲート9はソレノイド(図示省略)の駆動により伝達機構(図示省略) を介して図1の実線位置に閉じ、図1の鎖線位置に開くようになっている。排出 ゲート9はチップ状抵抗器Rの長さよりやや幅広になるように設定されている。[0011] In order to sequentially supply the chip resistors R to each storage groove 3 of the disk 1, A supply path 5 for linearly transporting R is provided. That is, the pair of guide members 6 , 7 and a top plate 8, a supply path 5 is formed. In this supply route 5 The chip resistor R is continuously supplied by a linear feeder (not shown). Supplement A part of the side wall of the supply path 5 at a position closer to the disc 1 side is constituted by a discharge gate 9, This discharge gate 9 is operated by a transmission mechanism (not shown) driven by a solenoid (not shown). The opening is closed at the solid line position in FIG. 1 and opened at the chain line position in FIG. discharge The gate 9 is set to be slightly wider than the length of the chip resistor R.
【0012】 円盤1側において、ストッパ10が設けられ、このストッパ10により供給路 5から収納溝3に供給されたチップ状抵抗器Rを所定の位置に位置決めすること ができる。収納溝3に収納されたチップ状抵抗器Rは円盤1の回転に伴い、供給 路5に対してやや回転方向下流側に移送されると、吸引穴4を介して吸引装置( 図示省略)により吸引されて収納溝3内に保持される。0012 A stopper 10 is provided on the side of the disk 1, and this stopper 10 closes the supply path. positioning the chip resistor R supplied from 5 to the storage groove 3 at a predetermined position; I can do it. The chip resistor R stored in the storage groove 3 is supplied as the disk 1 rotates. When the passage 5 is transferred slightly downstream in the rotational direction, the suction device ( (not shown) and held in the storage groove 3.
【0013】 ストッパ10の先端部上方にはこのストッパ10と、供給溝3に良好に供給さ れたチップ状抵抗器Rとの両方に跨がるように位置するファイバセンサ11が設 けられ、ファイバセンサ11の後端は投、受光器(図示省略)に対向されている 。そして、投光器からファイバセンサ11を介して投光し、反射光を光ファイバ センサ11を介して受光器で受光する。このとき、ストッパ10とチップ状抵抗 器Rの両方から反射すると、収納溝3に対するチップ状抵抗器Rの供給状態が良 好であり、ストッパ10のみから反射すると、収納溝3に対するチップ抵抗器R の供給状態が不良であり、若しくは収納溝3に供給されたチップ状抵抗器Rが欠 けていることを検出することができる。上面板7には供給路5に対応して穴12 が形成され、穴12の上方にはファイバセンサ13が設けられ、ファイバセンサ 13の後端は投、受光器(図示省略)に対向されている。これら穴12とファイ バセンサ13はチップ状抵抗器Rの移送方向において、排出ゲート9に対して直 前に位置するチップ状抵抗器Rとその手前のチップ状抵抗器Rが正常である場合 にそれらに跨がるような位置に設定されている。そして、投光器からファイバセ ンサ13を介して投光し、反射光をファイバセンサ13を介して受光器で受光す る。このとき、前後に続くチップ状抵抗器Rの両方から反射すると、排出ゲート の直前に位置するチップ状抵抗器Rに割れがなく、1つのチップ状抵抗器Rのみ から反射すると、排出ゲート9の直前に位置するチップ状抵抗器Rに割れがある ことを検出することができる。[0013] Above the tip of the stopper 10, there is a stopper 10 and a hole that can be properly supplied to the supply groove 3. A fiber sensor 11 is installed so as to straddle both the chip resistor R and the chip resistor R. The rear end of the fiber sensor 11 faces the emitter and receiver (not shown). . Then, the light is emitted from the light emitter via the fiber sensor 11, and the reflected light is sent to the optical fiber. The light is received by a light receiver via the sensor 11. At this time, the stopper 10 and the chip resistor If the reflection from both resistors R indicates that the supply condition of the chip resistor R to the storage groove 3 is good, If it is reflected only from the stopper 10, the chip resistor R against the storage groove 3 supply condition is poor, or the chip resistor R supplied to the storage groove 3 is missing. It is possible to detect that the The top plate 7 has holes 12 corresponding to the supply passages 5. is formed, and a fiber sensor 13 is provided above the hole 12. The rear end of 13 faces an emitter and a light receiver (not shown). These holes 12 and The base sensor 13 is directly connected to the discharge gate 9 in the transfer direction of the chip resistor R. When the chip resistor R located in front and the chip resistor R in front of it are normal It is set in such a position that it straddles them. Then, connect the fiber from the emitter. The light is emitted through the fiber sensor 13, and the reflected light is received by the light receiver through the fiber sensor 13. Ru. At this time, if it is reflected from both the chip resistors R that follow before and after, the discharge gate There is no crack in the chip resistor R located right in front of the chip resistor R, and there is only one chip resistor R. There is a crack in the chip resistor R located just before the discharge gate 9. can be detected.
【0014】 円盤1上には収納溝3に対して供給されるチップ状抵抗器Rに向かってエアを 噴出するためのエア噴出管14が設けられ、案内部材6上には排出ゲート9に位 置するチップ状抵抗器Rに対し、側方より排出ゲート9側へ向かってエアを噴出 するためのエア噴出管15が設けられている。各エア噴出管14、15の他端は コンプレッサ(図示省略)に連通されている。上記排出ゲート9を開閉するソレ ノイドとコンプレッサはファイバセンサ11、13等を用いた検出手段の検出結 果をもとに駆動されるようになっている。[0014] On the disk 1, air is directed toward the chip resistor R supplied to the storage groove 3. An air ejection pipe 14 is provided for ejecting air, and an air ejection pipe 14 is provided on the guide member 6 and positioned at the discharge gate 9. Air is ejected from the side toward the discharge gate 9 side against the chip resistor R that is placed. An air jet pipe 15 is provided for this purpose. The other end of each air jet pipe 14, 15 is It is connected to a compressor (not shown). The sole that opens and closes the above discharge gate 9 The noid and the compressor are detected by a detection means using fiber sensors 11, 13, etc. It is designed to be driven by results.
【0015】 以上の構成において、以下、その動作について説明する。 図1、図2に示すように、直進フィーダによりチップ状抵抗器Rを供給路5内 に連続的に供給し、供給路5内で直線状に移送する。一方、円盤1を間歇回転さ せてその任意の収納溝3を供給路5に対向させて停止させる。これにより、先頭 のチップ状抵抗器Rが後方のチップ状抵抗器Rにより押されて収納溝3に収納さ れ、ストッパ10に当接して位置規制される。位置規制後、円盤1を間歇回転さ せ、次の収納溝3を供給路5に対向させると、この収納溝3に上記と同様にチッ プ状抵抗器Rが収納され、先の収納溝3内のチップ状抵抗器Rは吸引穴4を介し て吸引装置により収納溝3内に保持される。この間、ファイバセンサ11等を用 いた検出手段によりチップ状抵抗器Rの収納溝3に対する供給状態が良好であり 、チップ状抵抗器Rに欠けがないことを検出し、また、ファイバセンサ13等を 用いた検出手段によりチップ状抵抗器Rに割れがないことを検出すると、上記動 作を繰返してチップ状抵抗器Rを順次、円盤1の収納溝3に供給し、加工、検査 等のために移送することができる。[0015] The operation of the above configuration will be described below. As shown in FIGS. 1 and 2, the chip resistor R is placed in the supply path 5 by a linear feeder. is continuously supplied and transported linearly within the supply path 5. Meanwhile, disk 1 is rotated intermittently. Then, the arbitrary storage groove 3 is stopped facing the supply path 5. This will cause the first The chip resistor R is pushed by the rear chip resistor R and stored in the storage groove 3. Then, it comes into contact with the stopper 10 and its position is regulated. After regulating the position, rotate disk 1 intermittently. When the next storage groove 3 is placed opposite the supply path 5, a chip is inserted into this storage groove 3 in the same way as above. The chip resistor R in the storage groove 3 is inserted through the suction hole 4. and is held in the storage groove 3 by a suction device. During this time, use the fiber sensor 11, etc. The detection means detected indicates that the supply condition of the chip resistor R to the storage groove 3 is good. , detects that there is no chipping in the chip resistor R, and also detects the fiber sensor 13 etc. When the detection means used detects that there is no crack in the chip resistor R, the above operation is performed. By repeating the process, chip resistors R are sequentially supplied to the storage groove 3 of the disk 1, processed and inspected. It can be transported for etc.
【0016】 今、図4(a)に示すように、収納溝3に供給されたチップ状抵抗器Rが欠け ているとすると、これをファイバセンサ11等を用いた検出手段により検出し、 直進フィーダの駆動を停止させ(エアによるチップ状抵抗器Rの供給補助手段を 用いている場合には、この供給補助手段の駆動をも停止させる。)、ソレノイド の駆動により図4(b)に示すように、排出ゲート9を開く。これと共に、コン プレッサを駆動させ、エア噴出管14、15からそれぞれエアを噴出させる。こ れに伴い、まず、排出ゲート9に位置するチップ状抵抗器Rを供給路5における 側壁の開放部から外部へ排出し、続いて欠けているチップ状抵抗器Rを収納溝3 から供給路5へ後退させ、供給路5における側壁の開放部から外部へ強制的に排 出する。したがって、供給トラブルの原因になるのを未然に防止することができ る。[0016] Now, as shown in FIG. 4(a), the chip resistor R supplied to the storage groove 3 is chipped. If so, this is detected by a detection means using a fiber sensor 11 or the like, Stop the drive of the linear feeder (use air to assist in supplying the chip resistor R) If used, the drive of this supply auxiliary means is also stopped. ),solenoid As shown in FIG. 4(b), the discharge gate 9 is opened. Along with this, The presser is driven to blow out air from the air blowing pipes 14 and 15, respectively. child Accordingly, first, the chip resistor R located at the discharge gate 9 is connected to the supply path 5. Eject the chip resistor R to the outside through the open part of the side wall, and then put the chip resistor R into the storage groove 3. from the supply path 5 and forcibly discharged to the outside from the open part of the side wall in the supply path 5. put out Therefore, it is possible to prevent supply problems from occurring. Ru.
【0017】 また、図5(a)に示すように、供給路5に供給されたチップ状抵抗器Rが割 れているとすると、これをファイバセンサ13等を用いた検出手段により検出し 、割れたチップ状抵抗器Rが排出ゲート9の位置に移送されると、直進フィーダ の駆動を停止させ(エアによるチップ状抵抗器Rの供給補助手段を用いている場 合には、この供給補助手段の駆動をも停止させる。)、ソレノイドの駆動により 図5(b)に示すように、排出ゲート9を開く。これと共に、コンプレッサを駆 動させ、エア噴出管15からエアを噴出させる。これに伴い、排出ゲート9に位 置する割れているチップ状抵抗器Rを供給路5における側壁の開放部から外部へ 強制的に排出する。したがって、供給トラブルの原因になるのを未然に防止する ことができる。なお、エア噴出管14と15を一つのバルブで開閉制御している 場合には、エア噴出管14、15からのエアの噴出により収納溝3内のチップ状 抵抗器Rを斜め方向に後退させて側壁の開放部から外部へ排出することができる 。[0017] In addition, as shown in FIG. 5(a), the chip resistor R supplied to the supply path 5 If this is the case, this is detected by a detection means using a fiber sensor 13 or the like. , when the broken chip resistor R is transferred to the position of the discharge gate 9, the linear feeder (If using an auxiliary means for supplying the chip resistor R using air) In this case, the drive of this supply auxiliary means is also stopped. ), by driving a solenoid. As shown in FIG. 5(b), the discharge gate 9 is opened. Along with this, the compressor is to blow out air from the air blowing pipe 15. Along with this, the position at discharge gate 9 has been increased. Place the cracked chip resistor R to the outside through the open part of the side wall of the supply path 5. Forcibly eject. Therefore, prevent supply problems from occurring. be able to. Note that the opening and closing of the air jet pipes 14 and 15 is controlled by one valve. In such a case, air jets from the air jet pipes 14 and 15 may cause chips inside the storage groove 3 to The resistor R can be moved back diagonally and discharged to the outside through the opening in the side wall. .
【0018】 また、形状等の不良なチップ状抵抗器Rが混入して円盤1の収納溝3に入り切 らず、一部が供給路5側に残った場合にも、図4(a)、(b)の場合と同様に このチップ状抵抗器Rをファイバセンサ11等を用いた検出手段により検出する と、直進フィーダ等の駆動を停止し、排出ゲート11等を開き、エア噴出管14 、15からエアを噴出させ、排出ゲート9の位置のチップ状抵抗器Rおよび供給 トラブルの原因となっているチップ状抵抗器Rを供給路5における側壁の開放部 から外部へ強制的に排出する。したがって、供給トラブルの原因になるのを未然 に防止することができる。[0018] Also, if a chip resistor R with a defective shape etc. gets mixed in and ends up in the storage groove 3 of the disk 1, 4(a) and 4(b), even if a portion remains on the supply path 5 side. This chip-shaped resistor R is detected by a detection means using a fiber sensor 11 or the like. Then, the drive of the linear feeder etc. is stopped, the discharge gate 11 etc. is opened, and the air jet pipe 14 is opened. , 15, and the chip resistor R at the position of the discharge gate 9 and the supply. Remove the chip resistor R that is causing the trouble from the open part of the side wall of the supply path 5. be forcibly discharged to the outside. Therefore, we can prevent supply problems from occurring. can be prevented.
【0019】 なお、上記実施例では、被供給部として円盤1の外周に等間隔に形成した収納 溝3が奥壁を有しない場合について説明したが、奥壁を有する場合にも実施する ことができ、この場合にはストッパ10は不要となる。また、円盤1に収納溝3 を形成した場合に限らず、直線状に移送する場合にも適用することができる。本 考案は、この他、その基本的技術思想を逸脱しない範囲で種々設計変更すること ができる。[0019] In the above embodiment, storage units formed at equal intervals on the outer periphery of the disk 1 serve as the supplied parts. Although the case where groove 3 does not have a back wall has been explained, it is also carried out when it has a back wall. In this case, the stopper 10 is not required. In addition, there is a storage groove 3 in the disc 1. It can be applied not only to the case of forming a line but also to the case of transferring it in a straight line. Book The invention may be subject to various other design changes without departing from its basic technical concept. I can do it.
【0020】[0020]
以上説明したように本考案によれば、供給路を直線状で連続的に移送されたチ ップ状ワークは、被供給部に順次供給される。そして、検出手段によりチップ状 ワークの被供給部に対する供給状態の不良、若しくは被供給部に供給されたチッ プ状ワークの欠け、若しくは供給路内を移送されるチップ状ワークの割れが検出 されると、駆動装置により排出ゲートを開放して供給トラブルの原因となるチッ プ状ワークを排出手段によるエアの噴出により強制的に排出することができる。 このように、供給トラブルの原因となる割れや欠けの生じたチップ状ワーク、形 状等が不良で不完全に供給されたチップ状ワーク等を自動的に排出することがで き、したがって、作業能率の向上を図ることができる。また、供給路の側壁の一 部を排出ゲートにより開放し、エアの噴出により供給トラブルの原因となるチッ プ状ワークを排出するようにしているので、構成を簡素化することができ、した がって、コストアップにならないようにすることができる。 As explained above, according to the present invention, the supply channel is continuously transported in a straight line. The cup-shaped works are sequentially supplied to the supplied section. Then, the detection means detects the chip shape. The supply condition of the workpiece to the supplied part is poor, or the chip supplied to the supplied part Detects chipping of chip-shaped workpieces or cracks of chip-shaped workpieces transported in the supply path. If this happens, the drive device will open the discharge gate to remove the chip that can cause supply troubles. The workpiece can be forcibly discharged by blowing out air from the discharge means. In this way, chip-shaped workpieces and shapes with cracks or chips that cause supply problems are It is possible to automatically eject chip-shaped workpieces etc. that have been supplied incompletely due to poor condition. Therefore, it is possible to improve work efficiency. Also, one of the side walls of the supply channel The section is opened by the discharge gate to prevent air from blowing out and causing supply troubles. The configuration can be simplified and the Therefore, it is possible to prevent the cost from increasing.
【図1】本発明の一実施例におけるチップ状ワークの自
動供給装置を示す要部の一部切欠き平面図FIG. 1 is a partially cutaway plan view of the main parts of an automatic supply device for chip-shaped workpieces according to an embodiment of the present invention.
【図2】同自動供給装置を示す要部の一部切欠き側面図[Figure 2] Partially cutaway side view of the main parts of the automatic feeding device
【図3】同自動供給装置を示し、図1のA−A矢視図[Fig. 3] Showing the automatic feeding device, a view taken along the line A-A in Fig. 1.
【図4】(a)同自動供給装置の動作説明用で、欠けた
チップ状ワークが供給された状態の一部切欠き平面図
(b)同自動供給装置の動作説明用で、欠けたチップ状
ワークを排出する状態の一部切欠き平面図[Figure 4] (a) A partially cutaway plan view for explaining the operation of the automatic feeding device, showing a chipped chip-like work being fed; (b) A partially cutaway plan view for explaining the operation of the automatic feeding device, showing a chipped chip. Partially cutaway plan view of a state in which a shaped workpiece is being discharged
【図5】(a)同自動供給装置の動作説明用で、割れた
チップ状ワークが移送された状態の一部切欠き平面図
(b)同自動供給装置の動作説明用で、割れたチップ状
ワークを排出する状態の一部切欠き平面図[Figure 5] (a) A partially cutaway plan view for explaining the operation of the automatic feeding device, showing a broken chip-like work being transferred; (b) A partially cutaway plan view for explaining the operation of the automatic feeding device, showing broken chips. Partially cutaway plan view of a state in which a shaped workpiece is being discharged
【図6】(a)チップ状ワークであるチップ状抵抗器を
示す平面図(b)割れたチップ状抵抗器を示す平面図
(c)欠けたチップ状抵抗器を示す平面図FIG. 6: (a) Plan view showing a chip resistor as a chip work (b) Plan view showing a broken chip resistor (c) Plan view showing a chipped resistor chip
1 円盤 3 収納溝 4 吸引穴 5 供給路 9 排出ゲート 10 ストッパ 11 ファイバセンサ 13 ファイバセンサ 14 エア噴出管 15 エア噴出管 R チップ状抵抗器(チップ状ワーク) 1 disk 3 Storage groove 4 Suction hole 5 Supply route 9 Discharge gate 10 Stopper 11 Fiber sensor 13 Fiber sensor 14 Air jet pipe 15 Air jet pipe R Chip resistor (chip work)
フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G01R 31/00 7808−2G H05K 13/02 8509−4E Continuing from the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Internal reference number FI Technical display location G01R 31/00 7808-2G H05K 13/02 8509-4E
Claims (1)
状で連続的に供給するための供給路と、この供給路にお
ける上記被供給部側寄り位置の側壁の一部を構成し、開
閉可能に設けられた排出ゲートと、チップ状ワークの上
記被供給部に対する供給状態の良、不良および上記被供
給部に供給されたチップ状ワークの欠けの有無を検出し
得る検出手段と、上記供給路内を移送されるチップ状ワ
ークの割れの有無を検出し得る検出手段と、上記検出手
段による検出結果をもとに駆動され、上記排出ゲートを
開放する駆動装置と、上記排出ゲートの開放に伴い、開
放された排出ゲート位置のチップ状ワーク、若しくは排
出ゲート位置および上記被供給部のチップ状ワークをエ
アの噴出により排出する排出手段とを備えたチップ状ワ
ークの自動供給装置。1. A supply path for continuously supplying a chip-shaped work to a supplied part in a straight line, and a part of a side wall of this supply passage at a position closer to the supplied part, and an opening/closing mechanism. a detection means capable of detecting whether the chip-shaped work is being supplied to the supplied portion in good or bad condition and whether or not the chip-shaped work supplied to the supplied portion is chipped; a detection means capable of detecting the presence or absence of cracks in a chip-like workpiece being transferred in a path; a drive device driven to open the discharge gate based on a detection result by the detection means; and a drive device configured to open the discharge gate. Accordingly, there is provided an automatic chip-like workpiece feeding device comprising a chip-like workpiece at an open discharge gate position, or a discharge means for discharging the chip-like workpiece at the discharge gate position and the supplied portion by blowing out air.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991048305U JPH0746386Y2 (en) | 1991-05-29 | 1991-05-29 | Automatic chip feeder |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991048305U JPH0746386Y2 (en) | 1991-05-29 | 1991-05-29 | Automatic chip feeder |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04133626U true JPH04133626U (en) | 1992-12-11 |
| JPH0746386Y2 JPH0746386Y2 (en) | 1995-10-25 |
Family
ID=31926862
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991048305U Expired - Lifetime JPH0746386Y2 (en) | 1991-05-29 | 1991-05-29 | Automatic chip feeder |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0746386Y2 (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002302244A (en) * | 2001-04-05 | 2002-10-18 | Nitto Kogyo Co Ltd | One chip separating/carrying device |
| JP2006304174A (en) * | 2005-04-25 | 2006-11-02 | Yamatake Corp | Sensor amplifier |
| CN115497864A (en) * | 2021-06-18 | 2022-12-20 | 稳懋半导体股份有限公司 | Test system, method for testing light emitting element and method for moving light emitting element |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6912620B2 (en) * | 2015-07-15 | 2021-08-04 | 株式会社Fuji | Inspection equipment |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55114786A (en) * | 1979-02-28 | 1980-09-04 | Nifco Inc | Device for fitting lace on edge of glass window |
| JPH02270717A (en) * | 1989-04-12 | 1990-11-05 | Nitto Kogyo Co Ltd | Automatic chip separation and feed device |
-
1991
- 1991-05-29 JP JP1991048305U patent/JPH0746386Y2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55114786A (en) * | 1979-02-28 | 1980-09-04 | Nifco Inc | Device for fitting lace on edge of glass window |
| JPH02270717A (en) * | 1989-04-12 | 1990-11-05 | Nitto Kogyo Co Ltd | Automatic chip separation and feed device |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002302244A (en) * | 2001-04-05 | 2002-10-18 | Nitto Kogyo Co Ltd | One chip separating/carrying device |
| JP2006304174A (en) * | 2005-04-25 | 2006-11-02 | Yamatake Corp | Sensor amplifier |
| CN115497864A (en) * | 2021-06-18 | 2022-12-20 | 稳懋半导体股份有限公司 | Test system, method for testing light emitting element and method for moving light emitting element |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0746386Y2 (en) | 1995-10-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100854993B1 (en) | Work conveyance system | |
| TWI460101B (en) | Workpiece insertion mechanism and workpiece insertion method | |
| TWI337598B (en) | ||
| JPH04133626U (en) | Automatic feeding device for chip-shaped workpieces | |
| WO2007141976A1 (en) | Work transporting apparatus and electronic component transporting apparatus | |
| JP3613531B2 (en) | Chip automatic separation and transfer device | |
| JP2007314278A (en) | Work transfer device and electronic component transfer device | |
| JP4151041B2 (en) | Eliminating means for trouble chips in a single chip separating and conveying device | |
| JP2004115273A (en) | Chip automatic separation and conveyance device | |
| JPH02156651A (en) | Wafer handling device | |
| JP2004010301A (en) | Work carrier device and work carrying method | |
| KR100379052B1 (en) | Apparatus for automatically feeding works | |
| JP3817926B2 (en) | Automatic separation and supply device for chip parts | |
| JPH07231197A (en) | Electronic part mounting method and its device | |
| JP2000317406A (en) | Automatic removing device for abnormal parts of parts feeder | |
| JPH05235596A (en) | Electronic component mounter | |
| JP2004010262A (en) | Chip separating transfer device | |
| JP3679363B2 (en) | Tablet inspection / storage device | |
| JPH0885623A (en) | Parts feeder | |
| JP2003194724A (en) | Apparatus and method for visual inspection of work | |
| KR100228580B1 (en) | Bad battery discharge device | |
| JPH07149422A (en) | Chip separating carrying device | |
| JPH08108921A (en) | Parts supply device | |
| JP2596839Y2 (en) | Print contact device for inspection cylinder of sheet-fed print inspection device | |
| JPH11255325A (en) | Tip transporting device with obverse-reverse surface alignment |