JPH0413647B2 - - Google Patents
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- JPH0413647B2 JPH0413647B2 JP58110751A JP11075183A JPH0413647B2 JP H0413647 B2 JPH0413647 B2 JP H0413647B2 JP 58110751 A JP58110751 A JP 58110751A JP 11075183 A JP11075183 A JP 11075183A JP H0413647 B2 JPH0413647 B2 JP H0413647B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output signal
- output
- display means
- circuit
- voltage
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- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/429—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to measurement of ultraviolet light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/4406—Plural ranges in circuit, e.g. switchable ranges; Adjusting sensitivity selecting gain values
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/4413—Type
- G01J2001/4426—Type with intensity to frequency or voltage to frequency conversion [IFC or VFC]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/4446—Type of detector
- G01J2001/446—Photodiode
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は光測定装置にかかわり、更に特定する
には予め決められた時間内にわたる紫外線の全体
の露光を測定するための積分光度計にかかわる。
には予め決められた時間内にわたる紫外線の全体
の露光を測定するための積分光度計にかかわる。
(従来の技術)
従来においても、多くの光度計が紫外線および
他の型式の電磁エネルギー又は光エネルギーを測
定するために利用されている。積分型の光度計で
は、特定の時間間隔にわたつて受けた全エネルギ
ー量を示す出力を与えている。従来技術での積分
光度計は比較的大型である上に、その使用に際し
ては読出しを達成するのに手動制御を必要として
いる。
他の型式の電磁エネルギー又は光エネルギーを測
定するために利用されている。積分型の光度計で
は、特定の時間間隔にわたつて受けた全エネルギ
ー量を示す出力を与えている。従来技術での積分
光度計は比較的大型である上に、その使用に際し
ては読出しを達成するのに手動制御を必要として
いる。
プリント回路板の製造に関連して、ボード上に
おけるホトレジストを露光させるための紫外光線
に対するそのボードおよびプリント回路原板の露
光には、その露光シーケンス中、特定のホトレジ
ストされたボートにて受けられる全エネルギー量
についての測定の必要性を作り出す。従来におけ
る紫外線光度計はそれ自体、この種の測定には適
していない。
おけるホトレジストを露光させるための紫外光線
に対するそのボードおよびプリント回路原板の露
光には、その露光シーケンス中、特定のホトレジ
ストされたボートにて受けられる全エネルギー量
についての測定の必要性を作り出す。従来におけ
る紫外線光度計はそれ自体、この種の測定には適
していない。
(発明が解決しようとする課題)
ゆえに、本発明の目的は、紫外光源と共に使用
でき、とくに電力の消費量を抑止するようにした
積分光度計を提供するにある。
でき、とくに電力の消費量を抑止するようにした
積分光度計を提供するにある。
(課題を解決するための手段・作用)
本発明のこうした目的は、測光部に当る電磁放
射線である紫外線の強さに比例した出力信号を与
えるための検出器、電力消費量を抑止するための
スレツシヨルド手段およびタイマー手段を持つ内
蔵型の積分光度計によつて達成される。
射線である紫外線の強さに比例した出力信号を与
えるための検出器、電力消費量を抑止するための
スレツシヨルド手段およびタイマー手段を持つ内
蔵型の積分光度計によつて達成される。
検出器の出力は、その検出器の出力信号の大き
さに逆比例した周期の交流回路出力信号へと変換
するための電圧周波数変換器へと印加される。そ
して検出器が紫外光線に照らされ、さらにタイマ
の設定時間が経過する間にわたり、変換器のその
交流出力信号により受けた総交番回数をカウント
する機能を有し、該総交番回数を表わす連続のデ
ジタル出力表示を与えるデイスプレイ手段に印加
される。
さに逆比例した周期の交流回路出力信号へと変換
するための電圧周波数変換器へと印加される。そ
して検出器が紫外光線に照らされ、さらにタイマ
の設定時間が経過する間にわたり、変換器のその
交流出力信号により受けた総交番回数をカウント
する機能を有し、該総交番回数を表わす連続のデ
ジタル出力表示を与えるデイスプレイ手段に印加
される。
スレツシヨルド手段には、測光部に当たる紫外
光線の強さが予め決められたスレツシヨルド値以
下にあるとき、その測定回路の動作を抑制するた
めの手段が与えられている。
光線の強さが予め決められたスレツシヨルド値以
下にあるとき、その測定回路の動作を抑制するた
めの手段が与えられている。
タイマ手段には、デイスプレイ手段をリセツト
および起動するスイツチと、デイスプレイ手段を
タイマの設定時間の間前記各手段に電力を供給可
能にするスイツチング素子を含み、スイツチのタ
ーンオン動作時または電圧周波数変換器からの交
流出力信号の最終出力時から所定時間デイスプレ
イ手段への電力を保持するようになつている。
および起動するスイツチと、デイスプレイ手段を
タイマの設定時間の間前記各手段に電力を供給可
能にするスイツチング素子を含み、スイツチのタ
ーンオン動作時または電圧周波数変換器からの交
流出力信号の最終出力時から所定時間デイスプレ
イ手段への電力を保持するようになつている。
(実施例)
本発明の実施例を図面に基づいて説明する。添
付図面に示されている積分光度計電子装置は、2
つの基本部分から成つている。一方は光測定回路
部で、他方は電力消費量を最小限に抑えた電力回
路部である。
付図面に示されている積分光度計電子装置は、2
つの基本部分から成つている。一方は光測定回路
部で、他方は電力消費量を最小限に抑えた電力回
路部である。
まず、光測定回路部を参照するに、そこには接
地されたアノードと、そして演算増幅器の反転入
力に接続されているカソードとを持つ検出器手段
としてのホトダイオードD1が示されている。ホ
トダイオードD1の電流出力は、そのホトダイオ
ードD1に当る紫外線または可視光のような電磁
エネルギーの強さに比例している。
地されたアノードと、そして演算増幅器の反転入
力に接続されているカソードとを持つ検出器手段
としてのホトダイオードD1が示されている。ホ
トダイオードD1の電流出力は、そのホトダイオ
ードD1に当る紫外線または可視光のような電磁
エネルギーの強さに比例している。
この場合、ホトダイオードD1およびホトダイ
オードD1と共に使用される何等かのフイルタの
スペクトル応答特性は、その光度計の好ましき実
施例が主として紫外光源と共に使用するのを意図
しているので、紫外線帯域において最大応答を与
えるように選ばれる。
オードD1と共に使用される何等かのフイルタの
スペクトル応答特性は、その光度計の好ましき実
施例が主として紫外光源と共に使用するのを意図
しているので、紫外線帯域において最大応答を与
えるように選ばれる。
ホトダイオードD1からの電流はオペアンプで
構成される増幅器U2Bによつて増幅され、そし
て入力電流すなわちここでは入力光レベルに比例
した出力電圧を発生する。抵抗器R9,R10か
らなるフイードバツク路での抵抗は非常に高いの
で、増幅器U2Bは非常に高い利得を持つオープ
ン・ループで動作する。
構成される増幅器U2Bによつて増幅され、そし
て入力電流すなわちここでは入力光レベルに比例
した出力電圧を発生する。抵抗器R9,R10か
らなるフイードバツク路での抵抗は非常に高いの
で、増幅器U2Bは非常に高い利得を持つオープ
ン・ループで動作する。
また、この増幅器U2Bは、このモードにおい
て、低い照明レベルに対して動作する。他の動作
範囲はレンジ・スイツチS2を閉じることによつ
て選ばれ、抵抗器R11,R12を通しての非常
に低いインピーダンスの別なフイードバツク路を
与え、その増幅器U2Bの利得をかなり減少させ
る。コンデンサC4およびコンデンサC5はAC
フイードバツクを与え、増幅器U2Bの帯域幅を
実質的に減少させて増幅器U2Bによる雑音の増
幅を最小にする。
て、低い照明レベルに対して動作する。他の動作
範囲はレンジ・スイツチS2を閉じることによつ
て選ばれ、抵抗器R11,R12を通しての非常
に低いインピーダンスの別なフイードバツク路を
与え、その増幅器U2Bの利得をかなり減少させ
る。コンデンサC4およびコンデンサC5はAC
フイードバツクを与え、増幅器U2Bの帯域幅を
実質的に減少させて増幅器U2Bによる雑音の増
幅を最小にする。
増幅器U2Bの電圧出力は、電圧周波数変換器
U4の入力端子に供給される。抵抗器R13と、
コンデンサC6およびコンデンサC7とは、変換
器U4に対するスケール・フアクタおよび安定化
用素子であり、そして製造業者の指示に従つて使
用されている。
U4の入力端子に供給される。抵抗器R13と、
コンデンサC6およびコンデンサC7とは、変換
器U4に対するスケール・フアクタおよび安定化
用素子であり、そして製造業者の指示に従つて使
用されている。
変換器U4の出力は、その周期が入力電圧に逆
比例している方形波である。図示されている回路
において、その出力における1つのパルスは10-3
ジユールの光エネルギーに等価である。その方形
波は、零から始動するカウンタを進めるのに使用
される。各計数すなわち各々の完全な方形波は、
その交番回数がデイスプレイ手段によつて1指標
分づつカウントされ、デイスプレイ手段はカウン
トされた総交番回数を表示する。なお、このデイ
スプレイ手段は、カウンタ手段としてのデイスプ
レイ回路U3と可視表示手段としてのデジタル・
デイスプレイDSIとからなる。
比例している方形波である。図示されている回路
において、その出力における1つのパルスは10-3
ジユールの光エネルギーに等価である。その方形
波は、零から始動するカウンタを進めるのに使用
される。各計数すなわち各々の完全な方形波は、
その交番回数がデイスプレイ手段によつて1指標
分づつカウントされ、デイスプレイ手段はカウン
トされた総交番回数を表示する。なお、このデイ
スプレイ手段は、カウンタ手段としてのデイスプ
レイ回路U3と可視表示手段としてのデジタル・
デイスプレイDSIとからなる。
光度計が極端に低い紫外線の背景レベルを積算
しないように、スレツシヨルド手段U2Aが利用
される。この手段は比較器で構成され、比較器U
2Aは増幅器U2Bの出力を基準電圧と比較す
る。そして、その光度すなわち光レベルを表わす
増幅器U2Bの出力が、予め決められたスレツシ
ヨルド値を越える場合、増幅器U2Bの出力にお
ける電圧は、比較器U2Aの基準電圧を越え、こ
のとき、比較器U2Aはデイスプレイ回路U3の
イネーブル入力(EN)に接続されている出力端
子に出力電圧を発生する。
しないように、スレツシヨルド手段U2Aが利用
される。この手段は比較器で構成され、比較器U
2Aは増幅器U2Bの出力を基準電圧と比較す
る。そして、その光度すなわち光レベルを表わす
増幅器U2Bの出力が、予め決められたスレツシ
ヨルド値を越える場合、増幅器U2Bの出力にお
ける電圧は、比較器U2Aの基準電圧を越え、こ
のとき、比較器U2Aはデイスプレイ回路U3の
イネーブル入力(EN)に接続されている出力端
子に出力電圧を発生する。
このように光レベルがそのスレツシヨルド値以
上であることを示している比較器U2Aからの高
い出力電圧(H信号)をデイスプレイ回路U3の
イネーブル入力が受けると、デジタル・デイスプ
レイDSIは変換器U4の出力ピンからの各方形波
サイクルをカウントする。
上であることを示している比較器U2Aからの高
い出力電圧(H信号)をデイスプレイ回路U3の
イネーブル入力が受けると、デジタル・デイスプ
レイDSIは変換器U4の出力ピンからの各方形波
サイクルをカウントする。
他方、光レベルが周囲紫外光のみを表わす所望
のスレツシヨルド値以下にある場合、デイスプレ
イ回路U3のイネーブル端子ENはL信号を受信
するため、デイスプレイ回路U3に内蔵されたカ
ウンタは、変換器U4から出力される方形波サイ
クルをカウントできない。
のスレツシヨルド値以下にある場合、デイスプレ
イ回路U3のイネーブル端子ENはL信号を受信
するため、デイスプレイ回路U3に内蔵されたカ
ウンタは、変換器U4から出力される方形波サイ
クルをカウントできない。
上述した電力回路部は本回路の電流使用量を最
小にするために使用されている。バツテリ手段と
しての組込みバツテリBT1は、タイミング手段
としてのCMOSのワン・シヨツト回路U1の供
給端子に接続されている。
小にするために使用されている。バツテリ手段と
しての組込みバツテリBT1は、タイミング手段
としてのCMOSのワン・シヨツト回路U1の供
給端子に接続されている。
ワン・シヨツト回路U1は、スイツチ手段に含
まれる瞬時接触スイツチS1が閉じられたときに
作動し、そして端子に出力の低電圧信号を発
生する。この第7ピン(端子)上における低い
信号は、トランジスタQ1のベースに電流を流す
ことからスイツチ手段に含まれるトランジスタQ
1をターン・オンさせ、そして供給電圧VAおよ
び供給電圧VBを上記各手段で構成される光測定
回路に与える。
まれる瞬時接触スイツチS1が閉じられたときに
作動し、そして端子に出力の低電圧信号を発
生する。この第7ピン(端子)上における低い
信号は、トランジスタQ1のベースに電流を流す
ことからスイツチ手段に含まれるトランジスタQ
1をターン・オンさせ、そして供給電圧VAおよ
び供給電圧VBを上記各手段で構成される光測定
回路に与える。
ワン・シヨツト回路U1は、抵抗R2およびコ
ンデンサC2からなるタイミング回路素子を含
み、このタイミング回路素子R2,C2は、再ト
リガー・パルスが受信されなければ、第7ピンの
電圧で約45秒間Lモードのスイツチ状態にそのワ
ン・シヨツトを保持する。
ンデンサC2からなるタイミング回路素子を含
み、このタイミング回路素子R2,C2は、再ト
リガー・パルスが受信されなければ、第7ピンの
電圧で約45秒間Lモードのスイツチ状態にそのワ
ン・シヨツトを保持する。
かくして、瞬時接触スイツチS1を手動操作し
て、トランジスタQ1をオンさせると少なくとも
45秒間にわたつて、その残りの回路に電力を供給
する。もしも、その45秒の間に、変換器U4の出
力信号がワン・シヨツト回路U1のAA端子に入
力すると、再び45秒間電力が供給される。かくし
て、瞬時接触スイツチS1の閉成時またはその変
換器U4の最後のパルス出力発生のいずれかの時
点から、45秒間が経過していない限り、その回路
は給電状態下に置かれる。
て、トランジスタQ1をオンさせると少なくとも
45秒間にわたつて、その残りの回路に電力を供給
する。もしも、その45秒の間に、変換器U4の出
力信号がワン・シヨツト回路U1のAA端子に入
力すると、再び45秒間電力が供給される。かくし
て、瞬時接触スイツチS1の閉成時またはその変
換器U4の最後のパルス出力発生のいずれかの時
点から、45秒間が経過していない限り、その回路
は給電状態下に置かれる。
スレツシヨルド・レベルの光がホトダイオード
D1から除去されてそして変換器U4のパルス出
力が停止すると、電力は45秒後に供給されなくな
る。これは、バツテリBT1の寿命を大いに伸ば
す。測定回路が普通に必要とする電流は約2mA
であるが、バツテリBT1に連続して接続されて
いるCMOSのワン・シヨツト回路U1が必要と
する電流はマイクロ・アンペアの範囲にある。ま
たデジタル・デイスプレイDSIの表示動作に要す
る消費電力は、CMOSのワン・シヨツト回路U
1の動作時における消費電力と比較してきわめて
大きいものであることから、上記構成により本積
分光度計の消費電力の省力化を図るという経済的
な利点を得ることができる。
D1から除去されてそして変換器U4のパルス出
力が停止すると、電力は45秒後に供給されなくな
る。これは、バツテリBT1の寿命を大いに伸ば
す。測定回路が普通に必要とする電流は約2mA
であるが、バツテリBT1に連続して接続されて
いるCMOSのワン・シヨツト回路U1が必要と
する電流はマイクロ・アンペアの範囲にある。ま
たデジタル・デイスプレイDSIの表示動作に要す
る消費電力は、CMOSのワン・シヨツト回路U
1の動作時における消費電力と比較してきわめて
大きいものであることから、上記構成により本積
分光度計の消費電力の省力化を図るという経済的
な利点を得ることができる。
本発明の独特な回路は、特に、プリント回路板
上でのホトレジスト紫外線露光を測定するのに有
用である。この光度計は瞬時接触スイツチS1を
押すことによつてターン・オンされる。
上でのホトレジスト紫外線露光を測定するのに有
用である。この光度計は瞬時接触スイツチS1を
押すことによつてターン・オンされる。
これにより、検出器は紫外線エネルギーの背景
レベルを測定し始めるが、出力のデイスプレイ手
段U3,DS1はこのエネルギーをカウントする
ことができない。その理由は、背景レベルでは比
較器U2Aからの出力電圧が出力されないためデ
イスプレイ手段U3,DSIをイネーブルにするこ
とができないからである。
レベルを測定し始めるが、出力のデイスプレイ手
段U3,DS1はこのエネルギーをカウントする
ことができない。その理由は、背景レベルでは比
較器U2Aからの出力電圧が出力されないためデ
イスプレイ手段U3,DSIをイネーブルにするこ
とができないからである。
紫外線の背景レベルの測定においては、ワン・
シヨツト回路U1はリセツトされず、測定回路へ
の電力はオン状態に維持される。そこで、光度計
は、露出されるべき材料と共に真空フレーム内に
置かれて、図示を省略したコンタクト・プリンタ
(密着印画装置)を介して操作される。
シヨツト回路U1はリセツトされず、測定回路へ
の電力はオン状態に維持される。そこで、光度計
は、露出されるべき材料と共に真空フレーム内に
置かれて、図示を省略したコンタクト・プリンタ
(密着印画装置)を介して操作される。
光度計は、このプリンタによつて加えられる全
エネルギーについて直接的読出しを行い、ワン・
シヨツト回路U1の全時間(45秒)が経過したと
きにターン・オフし、そして紫外線露光に基づい
て出力するパルスが変換器(アナログ−デジタル
回路)U4によつて発生されないときにスイツチ
Q1を遮断する。
エネルギーについて直接的読出しを行い、ワン・
シヨツト回路U1の全時間(45秒)が経過したと
きにターン・オフし、そして紫外線露光に基づい
て出力するパルスが変換器(アナログ−デジタル
回路)U4によつて発生されないときにスイツチ
Q1を遮断する。
紫外線が露出される材料と共に光度計がコンタ
クト・プリンタに挿入されるような応用におい
て、光度計は高温下にさらされるため温度上昇を
伴う。
クト・プリンタに挿入されるような応用におい
て、光度計は高温下にさらされるため温度上昇を
伴う。
このため、本発明に係る他の実施例では、デイ
スプレイ素子に対する破損を避ける理由から、光
度計は液晶デイスプレイ部分を別個に構成してこ
れ以外の回路構成のみをケースに納めてプリンタ
内に組み入れることができるようにする。
スプレイ素子に対する破損を避ける理由から、光
度計は液晶デイスプレイ部分を別個に構成してこ
れ以外の回路構成のみをケースに納めてプリンタ
内に組み入れることができるようにする。
この場合、光度計が照明エネルギーに露光され
ると、プリンタからその光度計が取り外された後
で、光度計ケース上に設けたコネクタによりその
液晶体をデイスプレイ回路に接続することによつ
てカウンタU2の内容を読み出すことができる。
ると、プリンタからその光度計が取り外された後
で、光度計ケース上に設けたコネクタによりその
液晶体をデイスプレイ回路に接続することによつ
てカウンタU2の内容を読み出すことができる。
(発明の効果)
本発明は、スレツシヨルド手段により紫外光線
の露光レベルが所定のスレツシヨルド値を越える
までは紫外線の露光量を積算しないので、周囲の
紫外線の影響を取り除くとともに決められた時間
中に露光すべき材料に照らされる紫外線の正確な
全露光量を測定できる。
の露光レベルが所定のスレツシヨルド値を越える
までは紫外線の露光量を積算しないので、周囲の
紫外線の影響を取り除くとともに決められた時間
中に露光すべき材料に照らされる紫外線の正確な
全露光量を測定できる。
また、所定の時間電圧周波数変換器の出力信号
に変化がなければ、自動的にデイスプレイ手段へ
の電力をカツトするタイマ手段を設けているの
で、装置の電力消費量を少なくすることができ
る。
に変化がなければ、自動的にデイスプレイ手段へ
の電力をカツトするタイマ手段を設けているの
で、装置の電力消費量を少なくすることができ
る。
図面は本発明による積分光度計の概略回路図で
ある。 BT1:バツテリ、C1〜C9:コンデンサ、
CR1〜CR8:ダイオード、D1:ホト・ダイオ
ード、DS1:デジタル・デイスプレイ、Q1:
トランジスタ、R1〜R14:抵抗器、S1,S
2:スイツチ、U1:ワン・シヨツト回路、U2
A:比較器、増幅器、U2B:増幅器U2B、U
3:デイスプレイ回路、U4:変換器。
ある。 BT1:バツテリ、C1〜C9:コンデンサ、
CR1〜CR8:ダイオード、D1:ホト・ダイオ
ード、DS1:デジタル・デイスプレイ、Q1:
トランジスタ、R1〜R14:抵抗器、S1,S
2:スイツチ、U1:ワン・シヨツト回路、U2
A:比較器、増幅器、U2B:増幅器U2B、U
3:デイスプレイ回路、U4:変換器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ケースと、 前記ケース内に設けられていて、測光部に当た
る紫外光線の強さに比例した出力信号を与えるた
めの検出器手段D1,U2Bと、 前記ケース内に設けられていて、検出器手段D
1,U2Bからの出力信号を、該出力信号の電圧
に逆比例した周期の交流回路出力信号へと変換す
るための電圧周波数変換手段U4と、 前記ケース内または別個に設けられかつ前記変
換器手段に接続されるとともに、前記検出器手段
が紫外光線に照らされ、さらにタイマの設定時間
を経過する間に前記変換器手段からの交流出力信
号により受けた総交番回数をカウントし、該総交
番回数を連続的にデジタル出力で積算表示するデ
イスプレイ手段U3,DS1と、 前記検出器手段からの出力信号を入力して基準
の電圧と比較し、所定のスレツシヨルド値を越え
る光度レベルを表す出力電圧があるときに、前記
デイスプレイ手段を作動可能にするスレツシヨル
ド手段U2Aと、 前記デイスプレイ手段をリセツトおよび起動す
るスイツチS1と、前記デイスプレイ手段をタイ
マの設定時間の間前記各手段に電力を供給可能に
するスイツチング素子Q1とを含み、前記スイツ
チのターンオン動作時または前記変換器手段から
の交流出力信号の最終出力時から所定時間前記デ
イスプレイ手段への電力供給を保持するために電
源BT1と前記デイスプレイ手段との間に接続さ
れたタイマ手段U1とを備えていることを特徴と
する、コンパクトで内蔵型の積分光度計。 2 検出器手段は、測光部を構成するホトダイオ
ードとその出力を増幅するオペアンプからなるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の積
分光度計。 3 タイマ手段はワン・シヨツト回路で構成さ
れ、スイツチ手段からのターンオン信号もしくは
変換器手段からの出力信号によりトリガされるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項または第2
項に記載の積分光度計。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/468,279 US4644165A (en) | 1983-02-22 | 1983-02-22 | Integrating photometer |
| US468279 | 1999-12-20 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59154325A JPS59154325A (ja) | 1984-09-03 |
| JPH0413647B2 true JPH0413647B2 (ja) | 1992-03-10 |
Family
ID=23859170
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58110751A Granted JPS59154325A (ja) | 1983-02-22 | 1983-06-20 | 積分光度計 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4644165A (ja) |
| JP (1) | JPS59154325A (ja) |
| DE (1) | DE3327054A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
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-
1983
- 1983-02-22 US US06/468,279 patent/US4644165A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-06-20 JP JP58110751A patent/JPS59154325A/ja active Granted
- 1983-07-27 DE DE19833327054 patent/DE3327054A1/de not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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